DE3240643C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf die galvanische Erzeugung von Lei
terplattenbeschichtungen und leitenden Lochwandbeschichtungen auf
bzw. in Leiterplatten mit Bohrungen.
Zur galvanischen Erzeugung von Leiterbahnbeschichtungen und leiten
den Lochwandbeschichtungen auf bzw. in Leiterplatten arbeitet man
üblicherweise mit Kupferbädern der Zusammensetzung:
- 15-25 g/l Cu als +2wertige Ionen,
- 160-220 g/l Schwefelsäure,
- 30-80 g/l Chloridioden.
Solche Kupferbäder sind der Gattung nach den schwefelsauren Glanz
kupferbädern zuzuordnen (DE-OS 31 16 743). Von schwefelsauren Glanz
kupferbädern, die bekanntlich Einebner enthalten, ist allgemein be
kannt, daß sie bei mölichst niedrigen Temperaturen bis 25°C opti
mal arbeiten. Daraus resultiert die herrschende Lehre, auch bei der
galvanischen Erzeugung von Leiterbahnen und leitenden Lochwandbe
schichtungen bei Raumtemperatur zu erarbeiten. Zwar kommt man so zu
Ergebnissen, die in bezug auf die Metallverteilung auf den Leiterbah
nen bzw. Lochwänden und der Bruchdehnung den Anforderungen genü
gen, aber die erforderliche Zeit überschreitet bei weitem die Forde
rung der Praxis. Arbeitet man mit zu kleinen Expositionszeiten, so ge
nügen die Metallverteilungen auf den Leiterbahnen und insbesondere
auf den Bohrlochwandungen nicht den Anforderungen.
Es ist bekannt (DE-OS 27 46 938, DE-OS 30 12 168) dem Kupferbad Po
lyglykol bzw. nichtionogene Netzmittel und organische Thioverbindun
gen mit wasserlöslich machenden Gruppen zuzusetzen. Auch mit der
artigen Kupferbädern wird bei Raumtemperatur gearbeitet, wobei die
erforderlichen Expositionszeiten nicht den Ansprüchen der Praxis ge
nügen. Insbesondere beobachtet man unregelmäßige Metallverteilungen
zwischen Leiterbahnen und Bohrlochwandungen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Expositionszeit zur Auf
bringung der galvanischen Kupferschicht für Leiterbahn und Bohrloch
wandung entscheidend zu verkürzen, ohne daß die Metallverteilungen
auf den Leiterbahnen und in den Bohrlochwandungen eine störende Be
einträchtigung erfahren.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist Gegenstand der Erfindung die Verwen
dung eines im Zusammenhang mit der Erzeugung von Glanzkupfernie
derschlag bei der Leiterplattenbeschichtung bekannten Kupferbades
- 10-50 g/l Cu als +2wertige Ionen,
- 20-220 g/l Schwefelsäure,
- 1-220 mg/l Chloridionen
sowie mit Polyglykol bzw. nichtionogenen Netzmitteln und organischen
Thioverbindungen mit wasserlöslich machenden Gruppen für die galva
nische Erzeugung von leitenden Lochwandbeschichtungen bei Bohrungen
aufweisenden Leiterplatten mit der Maßgabe, daß das Kupferbad frei
von Einebnern ist, und mit der weiteren Maßgabe, daß mit einer Tem
peratur von über 30°C, vorzugsweise von etwa 40°C, gearbeitet so
wie die Stromdichte im Bereich von 5 bis 15 A/dm2 gehalten wird.
Es entspricht der Erfahrung, daß bei Erhöhung der Temperatur eine
höhere Stromdichte und damit ein schnelleres Schichtdickenwachstum
erreicht werden kann. Völlig überraschend ist aber, daß duch Erhö
hung der Temperatur eine genügend gute Schichtdickenverteilung -
Bohrlochwand zu Leiterbahn - erzielt werden kann. Darüber hinaus
erhält man überraschenderweise eine hohe Duktilität der elektrolytisch
abgeschiedenen Kupferschicht.
Durch die Erhöhung der Temperatur und damit Erhöhung der mittleren
Stromdichte bei genügend guter Schichtdickenverteilung wird die Expo
sisitionszeit entschieden reduziert. Das wird im folgenden anhand von
Ausführungsbeispielen erläutert.
Eine Leiterplatte aus Epoxid-Glasfaser verstärkt ist gebohrt und - in
einem gängigen chemischen Prozeß durchkontaktiert - wird in einem
Bad folgender Zusammensetzung nach dem Tenting-Verfahren galvani
siert:
- 80 g/l Kupfersulfat
- 200 g/l Schwefelsäure
- 50 g/l Chlorid
- 2 g/l Polyglykol (mittlere Molmasse 12 000)
- 10 mg/l N,N Diäthyl-dithiocarbamin-säure (ω-sulforopyl)-ester Natriumsalz
Bei einer Temperatur von 20°C, nach 20 min bei einer Stromdichte
von 7,5 A/dm2 wurde ein Schichtdickenverhältnis Lochwand zu Ober
fläche von 0,75 : 1 ermittelt. Galvanisiert man bei 40°C unter an
sonsten gleichen Bedingungen, so wird ein Schichtdickenverhältnis von
0,92 : 1 erzielt.
Eine Leiterplatte aus Epoxid-Glasfaser verstärkt ist gebohrt und - in
einem gängigen chemischen Prozeß durchkontaktiert - wird in einem
Bad folgender Zusammensetzung nach dem Tenting-Verfahren galvani
siert:
- 100 g/l CuSO4 · 5 H2O
- 180 g/l H2SO4
- 80 mg/l Chlorid
- 1 g/l Polyglykol (mittlere Molmasse 9000)
- 8 mg/l eines Umsetzungsproduktes von 1-Methyl-1 Phenyl-Thioharnstoff + Acetylthioharnstoff mit Propansulton
Bei einer Temperatur von 20°C und einer Stromdichte von 7,5 A/dm2
ist die Leiterplatte in den Bereichen hoher Stromdichte matt und ex
trem grob-kristallin (Anbrennungen). Galvanisiert man die gleiche
Platte bei 40°C, so ist die abgeschiedene Kupferschicht gleichmäßig
glänzend.
Aus den vorhergehenden Beispielen ist ersichtlich, daß bei einem ge
eigneten Glanzbildnersystem allein durch Erhöhung der Temperatur von
20°C auf 40°C die anwendbare Stromdichte auf 7,5 A/dm2 steigt. Da
mit ist es möglich, im Sinne der Erfindung die Herstellungszeit einer
Kupferschicht von ca. 30 µm in der Leiterplattenfertigung von einer
Stunde auf ca. 20 min zu reduzieren.
Claims (2)
- Verwendung eines im Zusammenhang mit der Erzeugung von Glanzkup ferniederschlägen bei der Leiterplattenbeschichtung bekannten Kupfer bades mit
- 10-50 g/l Cu als +2wertige Ionen,
- 20-220 g/l Schwefelsäure,
- 1-220 mg/l Chloridionen
- sowie mit Polyglykol bzw. nichtionogenen Netzmitteln und organischen Thioverbindungen mit wasserlöslich machenden Gruppen für die galva nische Erzeugung von leitenden Lochwandbeschichtungen bei Bohrungen aufweisenden Leiterplatten mit der Maßgabe, daß das Kupferbad frei von Einebnern ist, und mit der weiteren Maßgabe, daß mit einer Temperatur von über 30°C, vorzugsweise von etwa 40°C, gearbeitet sowie die Stromdichte im Bereich von 5 bis 15 A/dm2 gehalten wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19823240643 DE3240643A1 (de) | 1982-11-04 | 1982-11-04 | Erzeugung von leiterbahnbeschichtungen und leitenden lochwandbeschichtungen auf bzw. in leiterplatten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19823240643 DE3240643A1 (de) | 1982-11-04 | 1982-11-04 | Erzeugung von leiterbahnbeschichtungen und leitenden lochwandbeschichtungen auf bzw. in leiterplatten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE3240643A1 DE3240643A1 (de) | 1984-05-30 |
DE3240643C2 true DE3240643C2 (de) | 1988-01-07 |
Family
ID=6177231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19823240643 Granted DE3240643A1 (de) | 1982-11-04 | 1982-11-04 | Erzeugung von leiterbahnbeschichtungen und leitenden lochwandbeschichtungen auf bzw. in leiterplatten |
Country Status (1)
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DE (1) | DE3240643A1 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1982
- 1982-11-04 DE DE19823240643 patent/DE3240643A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
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DE3240643A1 (de) | 1984-05-30 |
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