DE3220560A1 - Fotoelektrischer kodierer - Google Patents

Fotoelektrischer kodierer

Info

Publication number
DE3220560A1
DE3220560A1 DE19823220560 DE3220560A DE3220560A1 DE 3220560 A1 DE3220560 A1 DE 3220560A1 DE 19823220560 DE19823220560 DE 19823220560 DE 3220560 A DE3220560 A DE 3220560A DE 3220560 A1 DE3220560 A1 DE 3220560A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
scale
light receiving
photoelectric encoder
translucent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19823220560
Other languages
English (en)
Other versions
DE3220560C2 (de
Inventor
Yoshihiko Kawasaki Kanagawa Kabaya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP56084083A external-priority patent/JPS6032125B2/ja
Priority claimed from JP56084084A external-priority patent/JPS6032126B2/ja
Priority claimed from JP56084082A external-priority patent/JPS6014287B2/ja
Application filed by Mitutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitutoyo Manufacturing Co Ltd
Publication of DE3220560A1 publication Critical patent/DE3220560A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3220560C2 publication Critical patent/DE3220560C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
    • G01D5/34707Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
    • G01D5/34715Scale reading or illumination devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/22Analogue/digital converters pattern-reading type
    • H03M1/24Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip
    • H03M1/28Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding
    • H03M1/30Analogue/digital converters pattern-reading type using relatively movable reader and disc or strip with non-weighted coding incremental

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Description

Fotoelektrischer Kodierer Beschreibung
Die vorliegende Erfindung betrifft einen fotoelektrischen Kodierer, und insbesondere eine Verbesserung in einem solchen fotoelektrischen Kodierer, der physikalische Größen durch Helligkeitsänderungen ermittelt, die durch Bewegung von zwei optischen Gittern relativ zueinander erhalten werden.
Herkömmliche fotoclektrische Kodierer haben einen solchen Aufbau, daß von einer Lichtquelle abgegebene Lichtstrahlen durch eine-Linse auf eins der optischen Gitter falten; die Strahlen, welche das optische Gitter passiert haben, verlaufen anschließend durch das andere optische Gitter und erreichen schließlich über eine Linse, die auf der anderen Seite angeordnet ist, ein Lichtempfangselement.
Eine notwendige Bedingung ist also, daß die Strahlen von der Lichtquelle zwei optische Gitter passieren müssen, wodurch sich eine Mischung von komplexen, gebrochenen bzw. gebeugten Strahlen ergibt; außerdem werden diese Strahlen 0 aufgrund von Reflexionen und Strahlenbrechung an der Oberfläche des Glases, welches als Basiselement für das optische Gitter dient, sowie aufgrund von Absorption in dem Glas gedämpft. Die von dem Lichtempfangselement erhaltenen Signale sind also zwangsläufig sehr schwach und enthalten einen starken Rauschanteil, so daß die weitere Verarbeitung mühsam und umständlich ist. Außerdem tragen die Lichtquelle, die Linse und das Lichtempfangselement zwangsläufig dazu bei, daß ein solcher Kodierer relativ groß ist.
Es sind auch mit Reflexion arbeitende fotoelektrische Kodierer vorgeschlagen worden, bei denen die Lichtstrahlen schräg zwischen den beiden optischen Gittern einfallen.
Bei diesen Kodierern tritt jedoch ein starker Lichtverlust auf, und zwar durch Beugungserscheinungen, Streuung, Reflexion und andere Effekte; außerdem führen die schräge Befestigung der Lichtquelle und des Lichtempfangselementes zu einer sehr komplexen Konstruktion des Kodierers. die ebenfalls viel Raum einnimmt.
Zur Vermeidung der oben beschriebenen Nachteile der herkömmlichen Kodierer hat die Anmelderin bereits einen fotoelektrischen Kodierer vorgeschlagen, bei dem in einem der optischen Gitter ein Halbleiter-Basiselement in regelmäßigen Abständen mit schmalen, streifenförmigen, leitenden (im Gegensatz zu dem halbleitenden Basiselement) Halbleiter-Schichten vorgesehen ist; auf diese Schichten· fallen die Strahlen, die das andere optische Gitter passiert häben, wodurch Ausgangssignale von dem Halbleiter-Basiselement und den Halbleiter-Schichten erhalten werden.
Zur Verbesserung des kompakten Aufbaus dieses Kodierers und seines Wirkungsgrades ist dabei vorgeschlagen worden, auf die Linse auf der Seite ües Bildempfangselömentes zu verzichten, so daß die Strahlen von der Lichtquelle nur eins der optischen Gitter passieren müssen; dadurch wird der Zwischenraum zwischen dem zweiten optischen Gitter und dem Lichtempfangselement nicht mehr erforderlich.
Weiterhin ist ein fotoelektrischer Kodierer vorgeschlagen worden, bei dem die gesamte Oberfläche der Lichtempfangselemente mit einem transparenten, leitenden Material beschichtet ist, um die verschiedenen Ausgangssignale zusammenzustellen; dadurch läßt sich der Widerstand der Schlitze verringern oder gar zu Null machen, wodurch sich eine relevante Verbesserung der Hochfrequenz-Kennlinie der Ausgangssignale von den schlitzförmigen Lichtempfangselementen ergibt, die aus dem Halbleiter-Basiselement und den Halbleiter-Schichten bestehen.
Ein weiterer fotoelektrischer Kodierer weist eine kontinuierlich flache Halbleiter-Schicht auf, die mit Schlitzen aus einem lichtundurchlässigen Film versehen ist, wodurch die Hochfrequenz-Kennlinie verbessert und die Herstellung vereinfacht werden.
Weiterhin ist ein fotoelektrischer Kodierer vorgeschlagen worden, bei dem das Halbleiter-Basiselement und die Halbleiter-Schicht aus einem MOS-Halbleiter hergestellt sind; die Schlitze mit dem lichtundurchlässigen Film werden durch einen Metallbereich in dem MOS-Halbleiter gebildet.
Trotz dieser Verbesserung haben die Skalen dieser fotoelektrischen Kodierer nicht den gewünschten kompakten Aufbau; beispielsweise wird bei einer Skala, die aus einem MOS-Halbleiter hergestellt wird, ein Silizium-Kristall verwendet, das relativ kostspielig ist; dieses Material kann nicht in einer langgestreckten Form ausgebildet iverden, so daß sich schwierige Probleme unter wirtschaftlichen und technischen Gesichtspunkten ergeben. Dies gilt insbesondere dann, wenn der gleiche Gedanke bei der Hauptskala angewandt wird.
Im allgemeinen haben mit Reflexion arbeitende fotoelektrische Kodierer eine kompaktere Konstruktion als mit Transmission arbeitende fotoelektrische Kodierer. Bei einem Kodierer mit Reflexion müssen die Lichtstrahlen schräg einfallen, damit sie auf eine Reflexion-Skala fallen können. Dadurch ergeben sich verschiedene Nachteile: Der Lichtverlust ist aufgrund von Beugung, Streuung, Reflexion und ähnlichen Effekten groß; weiterhin sind der lichtemittierende Bereich und der Lichtempfangsbereich schräg angebracht, wodurch sich eine komplizierte Konstruktion ergibt.
Es ist deshalb das wesentliche Ziel der vorliegenden Erfindung, einen fotoelektrischen Kodierer zu schaffen, der
einen sehr kompakten Aufbau und eine verringerte Zahl von Einzelteilen hat.
Weiterhin soll ein fotoelektrischer Kodierer vorgeschlagen werden, der sogar in langgestreckter Form leicht und mit geringen Kosten hergestellt werden kann.
Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, einen fotoelektrischen Kodierer zu schaffen, der einen kompakten Aufbau und eine verbesserte Hochfrequenz-Kennlinie hat.
Ein solcher fotoelektrischer Kodierer sollte sehr dünn und extrem unempfindlich gegenüber Störungen und Fehlern sein, die durch Schwingungen bzw. Vibrationen verursacht werden könnten.
Und es ist schließlich noch ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, einen mit Reflexion arbeitenden fotoelektrischen Kodierer vorzuschlagen, der nur geringe Lichtverluste hat und keine schräg angebrachte Lichtquelle benötigt.
Zur Erreichung einer der oben beschriebenen Zielsetzungen schlägt die vorliegen.de Erfindung einen fotoelektrischen Kodierer zur Ermittlung von physikalischen Größen aus Helligkeitsänderungen durch Verschiebung einer ersten und einer zweiten Skala, die jeweils mit einem optischen Gitter versehen sind, relativ zueinander vor, bei dem das Gitter in einer der Skalen so aufgebaut ist, daß eine erste Materialschicht für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtabschirmenden, leitenden Material hergestellt ist, eine PN-Halbleiterschicht für die Umwandlung des Lichtes in einen elektrischen Strom bzw. in eine elektrische Spannung und eine zweite Miller ialsch icht für die A!) leitung von Signalen, die aus einem lichtdurchlässigen, leitenden Material hergestellt sind, in der beschriebenen Reihenfolge
auf ein lichtdurchlässiges Basiselement laminiert sind, wodurch ein schmaler, streifenförmiger Lichtempfangsbereich entsteht; mehrerer solcher so ausgebildeter, schmaler, :'. streifenförmiger Lichtempfangsbereiche sind in regelmäßigen Abständen angeordnet; die Lichtempfangsbereiche dienen als Lichtabschirmschlitze gegen das Licht von dem lichtdurchlässigen Basiselement; die Zwischenräume zwischen den Lichtempfangsbereichen sind als Lichtübertragungsschlitze ausgebildet.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist bei einem fotoelektrischen Kodierer mit dem oben beschriebenen Aufbau die Hohe des Lichtempfangsbereiches von der Oberfläche des lichtdurchlässigen.Basiselementes gleich maximal einer Hälfte der Breite des Lichtübertragungsschlitzes.
Die PN-Halbleiterschicht wird zweckmäßigerweise aus einem amorphen Halbleiter hergestellt.
Bei einem fotoelektrischen Kodierer mit einem solchen Aufbau kann die Halbleiterschicht durch eine P-i-N-Struktur gebildet werden.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform eines fotoelektrischen Kodierers der angegebenen Gattung ist die erste Skala so. ausgebildet, daß schmale, streifenförmige reflektierende Bereiche und nicht-reflektierende Bereiche abwechselnd auf einem Basiselement angeordnet sind; die zweite Skala ist so aufgebaut, daß auf einem lichtdurchlässigen Basiselement eine erste Materialschicht für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtabschirmenden leitenden Material hergestellt ist, eine PN-Halbleiterschicht für die Umwandlung des Lichtes in einen elektrischen Strom und eine zweite Materialschicht für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtdurchlässigen, leitenden Material hergestellt ist, in der beschriebenen Reihenfolge laminiert sind, um
einen schmalen, streifenförmigen Lichtempfangsbereicli zu bilden; mehrerer solcher schmaler, streifenförmiger Lichtempfangsbereiche sind in regelmäßigen Abständen angeordnet; die Lichtempfangsbereiche dienen als Lichtabschirmschlitze gegen das Licht' von dem lichtdurchlässigen Basiselement; die Zwischenräume zwischen den Lichtempfangsbereichen sind als Lichtübertragungsschlitze ausgebildet; die erste und die zweite Skala sind so angeordnet, daß der lichtreflektierende Bereich und der Lichtempfangsbereich einander zugewandt sind; das Licht von der Lichtquelle kann durch die Lichtübertragungsschlitze der zweiten Skala durchgelassen und auf die reflektierenden Bereiche der ersten Skala gerichtet werden.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist bei einem foto^ elektrischen Kodierer mit diesem Aufbau die zweite Skala relativ zu der ersten Skala beweglich.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist bei einem fotoelektrischen Kodierer der angegebenen Gaccung die erste Skala so aufgebaut, daß' schmale, streifenförmige reflek·^ tierende Bereiche und nicht-reflektierende Bereiche abwechselnd auf einem Basiselement angeordnet sind; die zweite Skala ist so aufgebaut, daß auf einem lichtdurchlässigen Basiselement eine e^cte Materialschicht für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtabschirmenden, leitenden 5 Material hergestellt ist, eine PN-Halbleiterschicht für die Umwandlung des Lichtes in einen elektrischen Strom bzw. eine elektrische Spannung und eine zweite Materialschieht für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtdurchlässigen, leitenden Material hergestellt ist, in der beschriebenen Reihenfolge laminiert sind, um einen schmalen, streifenförmigen Lichtempfangsbereich zu bilden; mehrerer solcher schmaler, streif enförmiger Lichtempfangsbereiche sind in regelmäßigen Abständen angeordnet; die Lichtempfangsbereiche dienen als Lichtabschirmschlitze gegen das Licht
3 2 2 O b b U
- r- k%
von dem oben erwähnten lichtdurchlässigen Basiselement; die Lichtempfangsbereiche dienen als Lichtabschirmschlitze; die· Zwischenräume zwischen den Lichtempfangsbereichen sind als Lichtübertragungsschlitze ausgebildet; eine Lichtquelle ist durch das lichtübertragende Material auf der den Lichtempfangsbereichen gegenüberliegenden Seite angeordnet; ein Reflektor dient dazu, das Licht- von dieser Lichtquelle zu reflektieren und es durch das lichtdurchlässige Basiselement auf die der Lichtquelle gegenüberliegende Seite zu richten; die erste und die zweite Skala sind so angeordnet, daß der lichtreflektierende Bereich und der Lichtempfangsbereich einander zugewandt sind; das Licht von der Lichtquelle kann durch die Lichtübertragungsschlitze der zweiten Skala durchgelassen und auf die reflektierenden Bereiche der ersten Skala gerichtet werden.
Bei einem fotoelektrischen Kodierer mit diesem Aufbau wird der Reflektor zweckmäßigerweise durch einen konkaven Spiegel gebildet, der an der Rückseite der Lichtquelle angeordnet ist.
Zweckmäßigerweise enthält ein solcher fotoelektrischer Kodierer eine Substanz zur Verbesserung des Brechungsindex zwischen dem lichtdurchlässigen Basiselement der zweiten Skala, der Lichtquelle und dem Reflektor.
Die Lichtquelle kann mit einem lichtdurchlässigen Feststoff beschichtet sein; auf dem äußeren Umfang des lichtdurchlässigen Feststoffs ist ein lichtreflektierender Film ausgebildet.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beiliegenden, schematisehen Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen
- se-
Fig. 1 eine Draufsicht auf eine Skala bzw. Maßeinteilung für eine Ausführungsform eines fotoelektrischen Kodierers nach der vorliegenden Erfindung,
Fig- 2 im vergrößerten Maßstab einen Schnitt
längs der Linie II-II von Figur 1,
Fig. 3 eine Seitenansicht durch das Prinzip
der Benutzung des fotoelektrischen Kodierers nach dieser Ausführungsform, und
Fig. 4 eine Seitenansicht durch eine weitere Ausführungsform des fotoelektrischen Kodierers nach der vorliegenden Erfindung.
Die Skala bzw. die Maßeinteilung bzw. die Gitterplatte S nach dieser Ausführungsform ist so aufgebaut, daß beispielsweise auf einem lichtdurchlässigen Basisteil 1 eine erste Materialschicht 2 für die Ableitung von Signalen, die aus einem Licht abschirmenden, leitenden Material, wie beispielsweise einem Metall film, hergestellt ist, eine PN-Halbleiterschicht 3 für die Umwandlung des Lichtes in elektrische Signale, und eine zweite Materialschicht 4 für die Ableitung von Signalen, die aus einem transparenten, aus lichtdurchlässigen, leitenden Materialien, wie beispielsweise 1^0.,, SnO^, Si oder einem Gemisch dieser Materialien, hergestellten Film besteht, in der beschriebenen Reihenfolge laminiert sind, wodurch ein Lichtempfangsbereich 5 entsteht; mehrere dieser so ausgebildeten Lichtempfangsbereiche 5 sind in regelmäßigen räumlichen Abständen, also mit vorgegebener Teilung, angeordnet.
Wie man in Figur 3 erkennen kann, ist die Skala 3, d.h., die zweite Skala bzw. das zweite Gitter, so angeordnet, daß ihre Lichtempfangsbereiche 5 den reflektierenden Be-
reichen 6 der ReflexLons-Hauptskala M zugewandt sind; sie werden in der Weise eingesetzt, daß Licht von einer Lichtquelle 8 von der Rückseite der Skala S über eine Linse 7 auf die Reflexions-Hauptskala bzw. das Hauptgitter M fällt.
Die Zwischenräume zwischen, den jeweiligen lichtreflektierenden Bereichen 6 des Hauptgitters M sind als nicht-reflektierende Bereiche ausgebildet, die aus den lichtdurchlässigen oder lichtabsorbierenden Bereichen bestehen.
Im einzelnen dienen die zxveiten Materialschichten 4 für die Ableitung der Signale der Lichtempfangsbereiche 5 dazu, die Strahlen gegen die Lichtquelle 8 abzuschirmen, wodurch die Lichtempfangsbereiche 5 also die Funktion von Lichtabschirm-Schlitzen haben; die Zwischenräume zwischen den jeweiligen Lichtempfangsbereichen 5 dienen als Lichtübertragungsschlitze, so daß die Strahlen von der Lichtquelle 8 über das lichtdurchlässige Basiselement 1 auf das Refelxions-Hauptgitter M fallen können.
Die an den reflektierenden Bereichen 6 des Reflexions-Hauptgitters M reflektierten Strahlen verlaufen durch die ersten Materialschichten 2 für die Ableitung der Signale der Lichtempfangsbereiche 5 und erreichen die PN-HaIb-1eiterschichten 3, wo die Strahlen in diesen Halbleitern in elektrische Ausgangssignale umgewandelt werden. Die elek-5 irischen Ausgangssignale in den Halbleiterschichten 3 werden über die Ausgänge 9 und 10 abgeführt.
Mit anderen Worten dient also das Gitter bzw. die Skala S als Index-bzw. Markierungs-Fühler, in den eine Index-Skala und Lichtempfangselemente integriert sind.
Im folgenden soll ein Verfahren zur Herstellung der oben erwähnten Skala S beschrieben werden.
-mr-
Für diese Skala wird als lichtdurchlässiges Basiselement
1 eine Glasplatte verwendet; diese Glasplatte, wird in einem Vakuum-Metallisierungsgerät angebracht und bei einem Unterdruck von 5x10 Torr auf eine Temperatur im Bereich von 150° C bis 200° C erwärmt; von einer Wolfram-Pl?tte bzw. -Schale wird Cr verdampft, wodurch ein Cr-FiIm mit einer Dicke von 2000 bis 3000 Ä* als erste Materialschicht
2 für die Ableitung von Signalen durch Aufdampfen auf der Glasplatte abgelagert wird.
Anschließend wird diese Glasplatte, die mit dem Cr-FiIm versehen ist, in einer Plasma-Kammer auf eine Temperatur von 300° C erwärmt; Ar-Gas, das 10 % SiH4 enthält, wird durch EU-Gas auf das zehnfache verdünnt und in die Plasma-Kammer eingeführt, in der ein Film 11 aus amorphem, N-leitendera Silizium (N-a-Si) und ein Film 12 aus P-leitendem amorphem Silizium (P~a-Si) durch eine Hochfrequenz-Glimmentladung bei einem Druck von 0,1 bis 2 Torr auf die oben erwähnte erste Materialschicht 2 für die Ableitung von Signalen laminiert werden; dadurch wird eine PN-Halbleiterschicht 3 mit einer Dicke von näherungsweise 1 μπι ausgebildet.
Der Film 11 aus dem N-leitenden amorphen Silizium wird abgetrennt ,indem eine sehr kleine Menge PH, in der Anfangsstufe der Abscheidung in das reagierende Gas gemischt wird; der Film 12 aus dem P-leitenden amorphen Silizium wird abgetrennt, indem*über eine Reaktion PH3 in B2H^ umgewandelt wird. In- diesem Fall kann der PN-Halbleiter 3 durch ein thermisches Zersetzungsverfahren, eine Ablagerung durch Zerstäuben oder eine ähnliche Technik ausgebildet werden.
Anschließend wird das Basiselement 4 mit der so ausgebildeten PN-Halbleiterschicht 3 in einem Vakuum-Ablagerungstank abgeordnet, der auf eine Temperatur von 150° C er-■ wärmt ist; In^O, das sich in einem Aluminiumoxid-Tiegel
-yf-Ab
befindet, wird auf dem Basiselement 1 durch ein Elektronenstrahl-Ablagerungsverfahren ausgebildet, so daß ein Ii^O, l-'ilm mit einer Dicke von 1000 % entsteht; dadurch wird auf der oben erwähnten PN-Halbleiterschicht 3 eine zweite Materialschicht 4 für die Ableitung von Signalen hergestellt.
Anschließend wird auf die zweite Materialschicht 4 für die Ableitung von Signalen ein Photoresist bzw. eine lichtunempfindliche Deckmasse mit einer Dicke von 2 μπι durch ein Schleuder-Beschichtungsverfahren (spin coating) aufgebracht und getrocknet. Ein Bereich 9, der einen Ausgang bildet, wird gegen das Licht durch eine Maske abgeschirmt; dann erfolgt eine Belichtung mit UV-Strahlen und eine Entwicklung der. belichteten Bereiche. Anschließend wird die lichtunempfindliche Deckmasse auf dem Bereich 9, der den Ausgang bildet, entfernt.
Anschließend werden die z\\/eite Materialschicht 4 für die Ableitung von Signalen und die PiN-Halbleiterschicht 3 von dem Bereich 9, der den Ausgang bildet, durch ein geeignetes Verfahren, beispielsweise durch chemisches Ätzen, Plasmaätzen oder eine ähnliche Technik, entfernt, wodurch die erste Materialschicht 2 für die Ableitung von Signalen freigelegt wird.
In ähnlicher Weise werden Bereiche außer Kalk der lichtdurchlässigen Schlitze 13 zwischen den Lichtempfangsbereichen 5 mit dem Photoresist bzw. der lichtunempfindlichen Deckmasse beschichtet; die erste und die zweite Materialschicht 2, 4 für die Ableitung von Signalen sowie die PN-Halbleiterschicht 3, deren Lage den lichtdurchlässigen Schlitzen 13 entspricht, werden durch Plasmaätzen oder ein ähnliches Verfahren entfernt, um dadurch das lichtdurchlässige Basiselemcnt 1 freizulegen.
Wenn die Breite des lichtdurchlässigen Schlitzes 13 mehr als doppelt so groß wie die Höhe des Lichtempfangsbereiches 5 von der Oberfläche des lichtdurchlässigen Basiselementes 1 gemacht wird, dann kann dies zweckmußLgerweisc zur Feststellung der Helligkeit verwendet werden.
Anschließend werden Zuführdrähte für die Abnahme des elektrischen Stroms von der ersten und zweiten Materialschicht 2 und 4 an den oben erwähnten Ausgängen 9 und 10 mittels eines leitenden Klebstoffes befestigt; anschließend wird ein Silikön-bzw. Silizium-Lack in einer dünnen Schicht auf die gesamte PN-Halbleiterschicht aufgebracht und getrocknet; dieser Lack dient zum Schutz der PN-Halbleiterschicht. Damit ist die Herstellung des Kodierers beendet.
Bei der oben beschriebenen Ausführungsform fallen die Strahlen von der Lichtquelle 8 senkrecht durch die Linse 9 auf die Skala bzw. das Gitter S; die Lichtquelle kann jedoch auch schräg angeordnet werden, solange die Strahlen durch die Skala S auf die Hauptskala M fallen.
Dadurch ergibt sich nämlich der Vorteil, daß sich die Größe der Skala in Richtung ihrer Breite weiter verringert.
Unter Bezugnahme auf Figur 4 soll nun eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben werden. Hierbei werden die gleichen Bezugszeichen wie bei der oben erläuterten, ersten Ausführungsform verwendet, um gleiche oder ähnliche Teile zu kennzeichnen, so daß diese Bezugszeichen nicht nochmals erläutert werden sollen.
Bei dieser Ausführungsform ist die Skala bzw. das Gitter S mit einer Lichtquelle 14 auf der den Lichtempfangsbereichen 5 durch das lichtdurchlässige Basiselement 1 und einem Reflektor 15 gegenüberliegenden Seite versehen, wodurch das Licht von der Lichtquelle 14 über das lichtdurchlässige
- IZ Basiso lenient 1 zur anderen Seiten gestrahlt wird.
Der Reflektor 15 wird auf folgende Weise hergestellt: Ein lichtreflektierender Film, der aus einem abgelagerten Metallfilm oder einem ähnlichen Material besteht, ist auf dem äußeren Umfang eines im wesentlichen halbkugelförmigen, transparenten Harzes 16 vorgesehen, der einstückig auf dem lichtdurchlässigen Basiselement 1 auf der Seite der Lichtquelle 14 ausgebildet ist.
Der transparente Harz 16 besteht aus einem lichtdurchlässigen Material, dessen Brechungsindex gleich dem Brechungsindex des oben erwähnten, lichtdurchlässigen Basiselementes 1 ist; dieses Harz wird um die Lichtquelle gestreckt, wodurch der Brechungsindex des Lichtes von der Lichtquelle 14 auf dem Strahlengang von der Lichtquelle 14 zu dem lichtdurchlässigen Basiselement 1 verbessert wird.
Der wesentliche Vorteil dieser Ausführungsform liegt darin, daß nur zwei Skalen bzw. Gitter einen Kodierer bilden, weil die Lichtquelle 14 auf der Tndexskala S selbst angebracht und die beiden Elemente einstückig durch den transparenten Harz 16 gebildet bzw. gegossen werden; ein weiterer Nachteil liegt darin, daß Fehler und Störungen, die sonst durch Schwingungen bzw. Vibrationen verursacht werden können, nicht auftreten, weil die Lichtquelle und die Indexskala S einstückig ausgebildet sind.

Claims (11)

Patentansprüche
1. Fotoelektrischer kodierer zur Ermittlung von physikalischen Größen aus Helligkeitsänderungen durch Verschiebung einer ersten und einer zweiten Skala, die jeweils mit einem optischen Gitter versehen sind, relativ zueinander, dadurch gekennzeichnet, daß das Gitter in einer der Skalen CS, M) so aufgebaut ist, daß ein erste Materialschicht (2) zur Ableitung von Signalen, die aus einem Licht abschirmenden leitenden Material hergestellt ist, eine PN-Halbleiterschicht (3) zur Umwandlung des Lichtes in Elektrizität und eine, zweite Materialschicht (4) für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtdurchlässigen, leitenden Material hergestellt ist, in der beschriebenen Reihenfolge auf ein lichtdurchlässiges Basiselement (1) laminiert sind, wo-
TELEFON (Οβθ) 32 28Θ2
TELEX OS-SSSSO
TELEGRAMME MONAPAT
. TELEKOPIERER
: : ■ :i;. · . ; 322Ö560
r- 2 -
durch ein schmaler, streifenförmiger Lichtempfangsbereich (5) entsteht, und daß mehrere solcher schmaler, streifenförmiger Lichtempfangsbereiche (5) in regelmäßigen Abständen gegen das Licht von dem lichtdurchlässigen Basiselement (1) angeordnet sind, wobei die Lichtempfangsbereiche (5) als Lichtabschirmschlitze dienen und die Zwischenräume zwischen den Lichtempfangsbereichen (5) als Lichtübertragungsschlitze ausgebildet sind.
2. Fotoelektrischer Kodierer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Höhe des Lichtempfangsbereiches (5) von der Oberfläche des lichtdurchlässigen Basiselementes (1) gleich einer Hälfte oder weniger der Breite des Lichtübertragungsschlitzes gemacht wird.
3. Fotoelektrischer Kodierer nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die PN-Halbleiterschicht (3) aus einem amorphen Halbleiter hergestellt ist.
4. Fotoelektrischer Kodierer nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterschicht (3) aus einem Halbleiter mit P-i-N-Struktur hergestellt ist.
5. Fotoelektrischer Kodierer zur Ermittlung von physikalischen Größen aus Helligkeitsänderungen durch Verschiebung einer ersten und einer zweiten Skala, die jeweils mit einem optischen Gitter versehen sind, relativ zueinander, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Skala in der Weise aufgebaut ist, daß schmale, streifenförmige,reflektierende Bereiche (5) und nicht reflektierende Bereiche abwechselnd auf einem Basiselement (1) angeordnet sind, daß die zweite Skala so aufgebaut ist, daß auf einem lichtdurchlässigen Basiselement (1) eine erste Material-
schicht (2) für die Ableitung von Signalen, die aus einem Licht abschirmenden,· leitenden Material hergestellt ist, eine PN-Halbleiterschicht (3) für die Umwandlung des Lichtes in Elektrizität bzw. elektrischen Strom und eine zweite Materialschicht (4) für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtdurchlässigen, leitenden Material hergestellt ist, in der beschriebenen Reihenfolge laminiert sind, um einen schmalen, streifenförmigen Lichtempfangsbereich (5) zu bilden, daß mehrere, schmale, streifenförmige Lichtempfangsbereiche (5), die so ausgebildet sind, ih regelmäßigen Abständen angeordnet sind, und daß die Lichtemp-* fangsbereiche (5) als Lichtabschirmschlitze gegen das Licht von dem lichtdurchlässigen Basiselement (1) dienen, während die Zwischenräume zwischen den Lichtempfangsbereichen (5) als Lichtübertragungsschlitze ausgebildet sind, daß die erste und die zweite Skala in der Weise angeordnet ;sind, daß der lichtreflektierende Bereich und der Lichtempfangsbereich (5) einander zugeivandt sind, und daß das Licht von der Lichtquelle durch die Lichtübertragungs-0 schlitze der zweiten Skala durchgelassen und auf die reflektierenden Bereiche der erstem Skala gerichtet werden kann.
6. Fotoelektrischer Kodierer nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß dio zweite Skala relativ zu der ersten Skala beweglich ist.
7.' Fotoelektrischer Kodierer zur Ermittlung einer physikalischen Größe aus Helligkeitsänderungen durch Bewegung einer ersten und zweiten Skala, die jeweils mit einem optischen Gitter versehen sind, relativ zueinander, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Skala so aufgebaut ist, daß schmale, streifenförmige, reflektierende Bereiche und nicht-reflektierende Bereiche abwechselnd auf einem
ßasiselement (1) angeordnet sind, daß die zweite Skala so aufgebaut ist, daß auf einem lichtdurchlässigen Basiselement (1) eine erste Materialschicht (20 für die Ableitung von Signalen, die aus einem Licht abschirmenden, leitenden Material hergestellt ist, eine PN-Halbleiterschicht für die Umwandlung des Lichtes in elektrischen Strom und eine zweite Materialschicht (4) für die Ableitung von Signalen, die aus einem lichtdurchlässigen, leitenden Material hergestellt ist, in der beschriebenen Reihenfolge laminiert sind, um einen schmalen, streifenförmigen Lichtempfangsbereich (5) zu bilden, daß mehrere solcher schmaler, streifenförmiger Lichtempfangsbereiche (5) in regelmäßigen Abständen angeordnet sind, daß die Lichtempfangsbereiche als Lichtabschirmschlitze gegen das Licht von dem lichtdurchlässigen Basiselemerit (1) dienen, während die Zwischenräume zwischen den Lichtempfangsbereichen (5) als Lichtübertragungsschlitze ausgebildet sind, daß eine Lichtquelle durch das lichtdurchlässige Material auf der den Lichtempfangsbereichen (5) gegenüberliegenden Seite angeordnet ist, daß ein Reflektor (15) vorgesehen ist, der das Licht von der Lichtquelle reflektiert und das Licht über das lichtdurchlässige Basiselement (1) zu der der Lichtquelle gegenüberliegenden Seite richtet, daß die erste und die zweite Skala so angeordnet sind, daß der lichtreflektierende Bereich und der Lichtempfangsbereich (5) einander zugewandt sind, und daß das Licht von der Lichtquelle durch die Lichtübertragungsschlitze der zweiten Skala durchgelassen und auf die reflektierenden Bereiche der ersten Skala gerichtet werden kann.
8.Fotoelektrischer Kodierer nach Anspruch 7, dadurch ge-,i· kennzeichnet, daß als Reflektor (15) ein konkaver Spiegel verwendet wird, der auf der Rückseite der Lichtquelle angeordnet ist.
9. Fotoelektrischer Kodierer nach einem der Ansprüche 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Substanz zur Verbesserung des Brechungsindex zwischen dem lichtdurchlässigen Basiselement CD der zweiten Skala, der Lichtquelle und dem Reflektor (15) angeordnet ist.
10.Fotoelektrischer Kodierer nach"Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Substanz zur Verbesserung des Brechungsindex zwischen dem lichtdurchlässigen Basiselemente (1) der zweiten Skala, der Lichtquelle und dem Reflektor (15) angeordnet ist.
11. Fotoelektrischer Kodierer nach einem der Ansprüche bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle mit einem lichtdurchlässigen Feststoff beschichtet ist, und daß auf dem äußeren Umfang des lichtdurchlässigen Fest-.-stoffes ein Licht reflektierender Film ausgebildet ist.
DE19823220560 1981-06-01 1982-06-01 Fotoelektrischer kodierer Granted DE3220560A1 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56084083A JPS6032125B2 (ja) 1981-06-01 1981-06-01 光電型エンコ−ダ
JP56084084A JPS6032126B2 (ja) 1981-06-01 1981-06-01 光電型エンコ−ダ
JP56084082A JPS6014287B2 (ja) 1981-06-01 1981-06-01 光電型エンコ−ダのスケ−ル

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3220560A1 true DE3220560A1 (de) 1982-12-16
DE3220560C2 DE3220560C2 (de) 1990-02-01

Family

ID=27304437

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19823220560 Granted DE3220560A1 (de) 1981-06-01 1982-06-01 Fotoelektrischer kodierer

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4499374A (de)
DE (1) DE3220560A1 (de)
GB (1) GB2099993B (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3605141A1 (de) * 1986-02-18 1987-08-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Digitaler positionsgeber
DE3790038T1 (de) * 1986-03-14 1988-03-31
DE19843155B4 (de) * 1997-09-26 2012-02-02 Mitutoyo Corp. Optische Verschiebungsmeßeinrichtung
EP2693166A1 (de) 2012-07-31 2014-02-05 SICK STEGMANN GmbH Sende- und Empfangseinheit und Drehgeber mit einer solchen

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4584471A (en) * 1983-10-19 1986-04-22 The Perkin-Elmer Corporation Active translation sensor
CH669457A5 (de) * 1986-02-18 1989-03-15 Mettler Instrumente Ag
US4952799A (en) * 1989-03-10 1990-08-28 Hewlett-Packard Company Reflective shaft angle encoder
JPH0656304B2 (ja) * 1989-09-05 1994-07-27 株式会社ミツトヨ 光電型エンコーダ
AT394111B (de) * 1989-09-12 1992-02-10 Rieder Heinz Inkrementales messsystem
DE9006491U1 (de) * 1990-06-08 1991-10-10 Siemens AG, 80333 München Beleuchtungseinheit für einen beweglichen Maßstab, insbesondere die Geberscheibe eines Winkellagegebers
US5155355A (en) * 1991-04-25 1992-10-13 Mitutoyo Corporation Photoelectric encoder having a grating substrate with integral light emitting elements
DE69320716T3 (de) * 1992-06-30 2011-05-19 Canon K.K. Gerät zur Detektion von Verschiebungsinformation
JP2690680B2 (ja) * 1993-11-26 1997-12-10 株式会社ミツトヨ 光電式エンコーダ
DE19524725C1 (de) * 1995-07-07 1996-07-11 Zeiss Carl Jena Gmbh Fotoelektrischer Kodierer zum Abtasten optischer Strukturen
JP3631551B2 (ja) * 1996-01-23 2005-03-23 株式会社ミツトヨ 光学式エンコーダ
JP2000321018A (ja) 1999-05-12 2000-11-24 Mitsutoyo Corp 光学式変位検出装置
US6279248B1 (en) 1999-09-22 2001-08-28 Central Purchasing, Inc. Digital measuring system having a multi-row encoder disk
US6512222B2 (en) 2000-02-03 2003-01-28 Mitutoyo Corporation Displacement measuring apparatus
DE10022619A1 (de) * 2000-04-28 2001-12-06 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Abtasteinheit für eine optische Positionsmesseinrichtung
JP2002228491A (ja) * 2001-02-05 2002-08-14 Mitsutoyo Corp 光学式エンコーダ用発光光源装置
JP3622960B2 (ja) * 2002-02-20 2005-02-23 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ 投影型エンコーダ
US7242466B2 (en) * 2004-03-31 2007-07-10 Microsoft Corporation Remote pointing system, device, and methods for identifying absolute position and relative movement on an encoded surface by remote optical method
US7048198B2 (en) * 2004-04-22 2006-05-23 Microsoft Corporation Coded pattern for an optical device and a prepared surface
RU2007119938A (ru) * 2004-12-09 2009-01-20 Хрд Корп. (Us) Катализатор и способ преобразования парафиновых углеводородов с низким молекулярным весом в алкены
EP1722200B1 (de) * 2005-05-13 2008-02-13 FAGOR, S.Coop Optoelektronische Messeinrichtung
JP2010256080A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Mitsutoyo Corp 光電式エンコーダ及びその動作制御方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3600588A (en) * 1968-12-13 1971-08-17 Nat Res Dev Photoelectric optical grating
GB1311275A (en) * 1969-06-04 1973-03-28 Ferranti Ltd Measuring apparatus employing optical gratings

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3600588A (en) * 1968-12-13 1971-08-17 Nat Res Dev Photoelectric optical grating
GB1311275A (en) * 1969-06-04 1973-03-28 Ferranti Ltd Measuring apparatus employing optical gratings

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3605141A1 (de) * 1986-02-18 1987-08-20 Messerschmitt Boelkow Blohm Digitaler positionsgeber
US4769546A (en) * 1986-02-18 1988-09-06 Messerschmitt-Bolkow-Blohm Gmbh Digital position transmitter
DE3790038T1 (de) * 1986-03-14 1988-03-31
DE19843155B4 (de) * 1997-09-26 2012-02-02 Mitutoyo Corp. Optische Verschiebungsmeßeinrichtung
EP2693166A1 (de) 2012-07-31 2014-02-05 SICK STEGMANN GmbH Sende- und Empfangseinheit und Drehgeber mit einer solchen
EP2693166B1 (de) * 2012-07-31 2015-09-09 SICK STEGMANN GmbH Sende- und Empfangseinheit und Drehgeber mit einer solchen
US9488499B2 (en) 2012-07-31 2016-11-08 Sick Stegmann Gmbh Transmission and reception unit on a transparent circuit board for a rotative encoder

Also Published As

Publication number Publication date
DE3220560C2 (de) 1990-02-01
GB2099993B (en) 1985-11-27
US4499374A (en) 1985-02-12
GB2099993A (en) 1982-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3220560A1 (de) Fotoelektrischer kodierer
DE102006039071B4 (de) Optisches Filter und Verfahren zu seiner Herstellung
DE10138562A1 (de) Optische Auslenkungsmessvorrichtung
DE2238413A1 (de) Elektrooptische anzeigevorrichtung fuer differentiale bewegungen und positionen
DE1962099C3 (de) Optisches Indexgitter und Verfahren zu dessen Herstellung
DE2741226B2 (de) Festkörper-Farbbildaufnahmeeinrichtung
DE102017102152B4 (de) Abtastoptik-Lichtleitkodierer
DE1764639B1 (de) Integriertes elektrooptisches Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
DE3111746A1 (de) Photoelektrischer wandler
DE2508585A1 (de) Einrichtung zum speichern der energie von einfallender elektromagnetischer strahlung, insbesondere von sonnenstrahlung
DE3210614A1 (de) Fotoelektrische verschiebungsmessvorrichtung
DE4441717C2 (de) Photoelektrischer Codierer
DE3003467A1 (de) Lichtmessvorrichtung mit einem strahlteiler in einem optischen abbildungssystem
DE2803203A1 (de) Phototransistor
DE2025476A1 (de) Photodiode
DE202011003479U1 (de) Strukturierte Siliziumschicht für ein optoelektronisches Bauelement und optoelektronisches Bauelement
DE3209043C2 (de) Fotoelektrische Bewegungs-Meßeinrichtung
EP1683203A1 (de) Strahlungsdetektierendes optoelektronisches bauelement
DE112013005039B4 (de) Optischer Sensor
DE2049507C3 (de) Lichtempfindliche Halbleiteranordnung
EP0039020A2 (de) Lichtempfindliche Halbleiterbauelemente
DE3031685A1 (de) Optische messvorrichtung.
DE10328873B4 (de) Codierer vom Projektionstyp
DE4091517C2 (de) Photoelektrische Codiereinrichtung
DE6926306U (de) Hochselektives elektromagnetisches strahlungsmessgeraet.

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee