DE3151743C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3151743C2
DE3151743C2 DE3151743A DE3151743A DE3151743C2 DE 3151743 C2 DE3151743 C2 DE 3151743C2 DE 3151743 A DE3151743 A DE 3151743A DE 3151743 A DE3151743 A DE 3151743A DE 3151743 C2 DE3151743 C2 DE 3151743C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit
measuring
storage
sensor
output signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE3151743A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3151743A1 (de
Inventor
Kazuo Minami-Ashigara Kanagawa Jp Shiota
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Publication of DE3151743A1 publication Critical patent/DE3151743A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3151743C2 publication Critical patent/DE3151743C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/02Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation
    • G01D3/022Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for altering or correcting the law of variation having an ideal characteristic, map or correction data stored in a digital memory

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Technology Law (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf Meßgerät der im Oberbe­ griff des Patentanspruchs 1 genannten Art.
Im Falle einer Fühlerreihe für Lichtnachweis ist eine Schaltung zur Korrektur der Änderungen im Verstärkungs­ faktor (Änderungen der Empfindlichkeit) und zur Änderung der Basisablage (Änderungen des Dunkelstromes) erforder­ lich, um geringe Lichtmengen mit hoher Präzision zu mes­ sen. Bei dieser Art von Schaltung sind die mit den ein­ zelnen Fühlerelemeten verbundenen Verstärker mit Ab­ gleichwiderständen ausgerüstet, durch die ein Abgleich unabhängig für jedes einzelne Fühlerelemet durchgeführt werden kann. Unter dem Begriff "einzelnes Fühlerelement" ist im folgenden in einigen Fällen die einzelne Elemen­ teneinheit oder in anderen Fällen auch die Schaltung zu verstehen, die aus einem einzelnen Element und einem da­ ran angeschlossenen Verstärker besteht. In der genannten Schaltung wird der Verstärkungsfaktor eingestellt, um Va­ riationen in der Empfindlichkeit und Lichtmenge für die einzelnen Elemente zu korrigieren. Die Einstellung der Basislinie wird durchgeführt, um Dunkelstromänderungen unter den einzelnen Fühlerelementen sowie Basisablagen der Verstärker selbst zu korrigieren. Je nachdem, was von der Meßschaltung veranlaßt wird, werden die Ausgangssi­ gnale der Verstärker in die nächste Stufe der Signalverarbeitungsschaltung entweder über einen Multi­ plexer (Schalteinrichtung) oder direkt weitergeleitet.
In Systemen dieser Art ist es erforderlich, zwei Ab­ gleichwiderstände für jeden einzelnen Fühler vorzusehen, nämlich einen zum Abgleich des Verstärkungsfaktors und einen zum Abgleich der Basisablage. Dies ist mit folgen­ den Nachteilen verbunden:
  • 1. hohe Kosten;
  • 2. eine große Baugröße der Schaltung; und
  • 3. eine mühsame Justierung.
In anderen Systemen werden die Ausgangssignale der ver­ schiedenen Elemente zunächst einem Multiplexer und von dort einem Verstärker zugeführt. Wenngleich dieses System die obengenannten Nachteile nicht aufweist, hat es fol­ gende Mängel:
  • 1. Eine Messung mit hoher Präzision ist nicht möglich, da keine Korrektur der Empfindlichkeitsschwankungen und Dunkelstromschwankungen über die verschiedenen Elemente vorgenommen werden kann; und
  • 2. die Messung kleiner Ströme ist schwierig, da der Leckstrom od. dgl. des Multiplexers einen direkten Ein­ fluß auf das Fühlerausgangssignal aufweist.
Bei einem solchen, aus Electronics, 19. Januar 1978, Sei­ ten 113 bis 119 bekannten System kann anstelle einer Korrektur mit Hilfe eines Widerstandsnetzwerkes auch eine mit Software programmierte Korrektur vorgenommen werden, deren Art jedoch nicht näher angegeben ist.
Aus der US-PS 37 50 155 ist ein Meßgerät mit einer Viel­ zahl von Temperaturfühlern als Fühlerelemente bekannt, die jeweils im Rückkopplungspfad eines Verstärkers ange­ ordnet sind. Neben diesen, jeweils mit einem Temperatur­ fühler versehenen Verstärkern ist ein weiterer Verstärker vorgesehen, der einen bestimmten Rückkopplungswiderstand anstelle eines Temperaturfühlers aufweist. Alle Verstär­ ker erhalten an ihrem Eingang die Ausgangsspannung einer Bezugsspannungsquelle. Die Ausgänge aller Verstärker sind mit Eingängen einer Multiplexerschaltung verbunden, deren Ausgang über eine Übertragungsleitung mit einer zentralen Verarbeitungseinrichtung verbunden ist. In dieser zentra­ len Verarbeitungseinrichtung befindet sich eine Linearisierungsschaltung, die ebenfalls über Software programmiert ist, wozu eine Aufsuchtabelle benutzt wird. Mit Hilfe des nur den Rückkopplungswiderstand anstelle eines Temperaturfühlers aufweisenden Verstärkers wird das Ausgangssignal der Bezugsspannungsquelle an die zentrale Verarbeitungseinrichtung übertragen und dort mit einem bestimmten Sollwert verglichen, um einen entsprechenden Fehlerfaktor zu ermitteln. Mit Hilfe dieses Fehlerfaktors werden dann in der Aufsuchtabelle Korrekturwerte aufge­ sucht und zur Korrektur der Ausgangssignale der anderen Verstärker benutzt.
Aus der DD-PS 1 41 081 ist eine Schaltungsanordnung zur Fehlerkorrektur bei einer Analogsignalübertragung be­ kannt, bei der ein Synchronimpuls mit einem bestimmten Potential und einem feststehenden Spannungswert sender­ seitig erzeugt wird, der dann empfängerseitig zur Deco­ dierung und zur Korrektur der übertragenen Analogsignale dient. Bei dieser bekannten Schaltungsanordnung findet aber allein eine Korrektur der übertragenen Analogsignale hinsichtlich von während ihrer Übertragung bzw. Codierung aufgetretenen Fehlern statt, nicht dagegen von Fehlern, die bei der Messung und Anfangsverstärkung der Analogsi­ gnale entstehen können.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Meßgerät mit Vielelementenfühler zu schaffen, das für Hochpräzi­ sionsmessungen geeignet ist, ohne daß Abgleichwiderstände für den Verstärkungsfaktor und für die Basislinienablage beim Verstärker eines jeden einzelnen Fühlerelementes vorgesehen sein müssen.
Bei einem Meßgerät der genannten Art ist diese Aufgabe durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs angegebenen Merkmale gelöst.
In dem Meßgerät mit Vielelementenfühler gemäß der Erfindung sind keine Abgleichwiderstände für den Verstärkungsfaktor und für die Basislinienablage für jeden Verstärker eines einzelnen Fühlerelementes vorgesehen. Statt dessen werden die Ausgangssignale der Verstärker ohne Verstärkungsfaktorkorrektur und ohne Basisablagekorrektur sequentiell durch einen Multiplexer oder dergleichen auf die nachfolgende Meß­ stufe geschaltet, und der Verstärker der nachfolgenden Stufe, der das Ausgangssignal des Multiplexers empfängt, ist hinsichtlich seines Verstärkungsfaktors und seiner Basislinie einstellbar. Die Einstellung des Verstärkungs­ faktors und der Basislinie dieses Verstärkers werden entsprechend jedem einzelnen Element (einschließlich seines Verstärkers) des Fühlers, welches Element durch den Multiplexer ausgewählt worden ist, eingestellt. Auf diese Weise wird die zuvor genannte Korrektur durchgeführt. Da die Messung in der Re­ gel mit hoher Geschwindigkeit durchgeführt werden muß, ist es ebenfalls erforderlich, die Verstärkungsfaktor- und Basislinieneinstellung des Verstärkers mit hoher Geschwindigkeit durchzuführen. Hierzu wird die Änderung des Verstärkungsfaktors und der Basisablage für die ein­ zelnen Elemente in einem Speicher vorweg gespeichert und der Verstärkungsfaktor sowie die Basisablage des Ver­ stärkers werden von außen auf der Grundlage der ge­ speicherten Werte gesteuert. Das System eignet sich be­ sonders, wenn ein Mikrocomputer verwendet wird, um die Steuerung auszuführen.
Zwar erfordert das Meßgerät mit Vielelementenfühler ge­ mäß der Erfindung einen Speicher, um die Verstärkungs­ faktoren und Basisablagewerte für die einzelnen Elemente des Fühlers zu speichern, es sind jedoch keine Abgleich­ widerstände für den Verstärkungsfaktor und die Basis­ linieneinstellung der einzelnen Fühlerelemente erfor­ derlich. Wenn folglich die Anzahl der einzelnen Elemente groß ist, sind die Gesamtkosten der Schaltung gering und da darüber hinaus die Einstellung für Basisablage und Verstärkungsfaktor separat für jedes Fühlerelement vorgenommen werden, kann eine hohe Meßgenauigkeit er­ reicht werden.
Die Erfindung wird im folgenden anhand des in der Figur schematisch dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.
Die Figur zeigt ein Blockschaltbild des wesentlichen Teiles eines Meßgerätes mit Vielelementenfühler gemäß der Erfindung.
In der Figur kennzeichnen die Symbole 1-1, 1-2, . . . 1-n die einzelnen Elemente eines Photodetektors 1. An diese Elemente 1-1, . . . , 1-n sind Verstärker 2-1, 2-2, . . . , 2-n angeschlossen, die mit Festwiderständen 3-1, 3-2, . . . , 3-n zur Strom-Spannungs-Wandlung ausge­ rüstet sind. Die Ausgangssignale der Verstärker 2-1, . . . 2-n werden alle einer Schalteinrichtung, beispielsweise einem Multiplexer 4 zugeführt, der durch eine Schalt­ steuerschaltung 4 A gesteuert wird. Das Ausgangssignal des Multiplexers 4 enthält Verstärkungsfaktor- und Basisablageänderungen.
Der Ausgangsanschluß des Multiplexers 4 ist an einen Eingangsanschluß einer Addierschaltung 5 angeschlossen. Der andere Eingang der Addierschaltung 5 ist an den Ausgangsanschluß einer Generatorschaltung 6 zur Erzeu­ gung einer Basisablagekorrekturspannung angeschlos­ sen. Der Ausgangsanschluß der Addierschaltung 5 ist mit einem Verstärker 8 mit variabler Verstärkung ver­ bunden, dessen Verstärkung elektrisch durch eine Ver­ stärkersteuerschaltung 7 gesteuert wird. Das Ausgangs­ signal des Multiplexers 4 wird hinsichtlich seiner Basislinie durch die Addierschaltung 5 und danach hin­ sichtlich seines Verstärkungs- oder Proportionalitäts­ faktors durch den Verstärker 8 mit variabler Verstär­ kung eingestellt.
Die Steuerung der Addierschaltung 5 (der Generator­ schaltung 6 zur Erzeugung einer Basisablagekorrektur­ spannung) und des Verstärkers 8 mit variabler Ver­ stärkung wird in der unten beschriebenen Art und Weise durch eine Meßschaltung oder Meßeinheit 9, eine Speichereinheit 10 und ei­ ne Basisablagesteuereinheit 11 durchgeführt.
Zunächst werden die Ausgangssignale der einzelnen Ele­ mente 1-1, 1-2, . . ., 1-n, die zu einer Zeit entstehen, in der der Photodetektor 1 nicht dem Licht ausgesetzt ist, sequentiell durch den Multiplexer 4 abgefragt und an die Meßeinheit 9 weitergeleitet, wo sie gemessen wer­ den. Das von der Meßeinheit 9 zu dieser Zeit erzeugte Ausgangssignal ist repräsentativ für die Gesamtänderung in der Basisablage, die durch Änderungen des Dunkel­ stromes des Photodetektors 1 und der Ablagewerte der Verstärker 2-1, 2-2, . . . , 2-n hervorgerufen wird. Das Ausgangssignal der Meßeinheit 9 für jedes einzelne Füh­ lerelement wird in der Speichereinheit 10 gespeichert. Danach wird der Photodetektor 1 gleichförmig Licht aus­ gesetzt, wobei keine Meßprobe vorhanden ist, und die Ausgangssignale der Fühlerelemente 1-1, 1-2, . . . , 1-n werden sequentiell durch den Multiplexer 4 abgefragt und an die Meßeinheit 9 zur Messung weitergeleitet. Das Ausgangssignal der Meßeinheit 9 zu dieser Zeit ist re­ präsentativ für die gesamten Schwankungen des Verstär­ kungsfaktors, die auf die Empfindlichkeitsunterschiede der einzelnen Fühlerelemente 1-1, 1-2, . . . , 1-n und die Unterschiede der Festwertwiderstände 3-1, 3-2, . . . , 3-n zurückzuführen sind. Das Ausgangssignal der Meßein­ heit 9 für jedes einzelne Fühlerelement wird in der Speichereinheit 10 gespeichert.
Die Speichereinheit 10 ist an die Steuereinheit 11 zur Proportionalitäts- und Basisablagesteuerung angeschlos­ sen. Die Proportionalitäts- und Basisablagesteuerung 11 ist an die Schaltsteuerschaltung 4 A angeschlossen, von der sie ein Signal erhält, das identisch dem Schalt­ steuersignal ist, das die Schaltsteuerschaltung 4 A dem Multiplexer 4 zuführt. Die Proportionalitäts- und Basis­ ablagesteuerung 11 verwendet dieses Signal, um aus dem Speicher 10 den Verstärkungsfaktor und den Ablagewert für die einzelnen Fühlerelemente, deren Ausgangssignal gerade gemessen werden soll, auszulesen. Der auf diese Weise ausgelesene Basisablagewert wird von der Pro­ portionalitäts- und Ablagewertsteuerung 11 zu dem Span­ nungsgenerator 6 für die Ablagekompensation geleitet, der eine Spannung zur Korrektur des Ablage- oder Null­ punktwertes erzeugt. Das heißt, der Generator 6 erzeugt eine Spannung vom selben Absolutwert, jedoch von umgekehrter Polarität, wie der Basislinienablagewert. Dieses Span­ nungssignal für die Basisablage wird der Addierschaltung 5 zugeführt, wo es dem Ausgangssignal des Fühlerelemen­ tes hinzuaddiert wird, wodurch dessen Basisablage korri­ giert wird. Andererseits wird der Proportionalitäts- oder Verstärkungsfaktor, der aus der Speichereinheit 10 ausgelesen wird, von der Proportionalitäts-Ablage­ steuerung 11 zu der Verstärkersteuerung 7 geführt, durch die der Verstärkungs- oder Proportionalitätsfaktor des Ausgangssignales des Fühlerelementes auf einen speziellen Wert auf der Basis des (ausgelesenen) Ver­ stärkungsfaktors eingestellt wird. Auf diese Weise wird der Ausgangswert des Fühlerelementes auf einen Wert kor­ rigiert, der frei von Fehlern ist, die auf Schwankungen in der Basisablage, der Empfindlichkeit oder derglei­ chen zurückzuführen sind. Das Meßgerät mit Vielelementen­ fühler ermöglicht so eine Messung mit hoher Genauigkeit. Sofern die Baugruppen in der oben beschriebenen Schaltung betroffen sind, kann beispiels­ weise ein gewöhnlicher Digital/Analog-Wandler als Ge­ nerator 6 für das Basisablagekompensationssignal ver­ wendet werden. Ein multiplizierender Digital/Analog- Wandler kann für den Verstärker 8 mit variablem Ver­ stärkungsfaktor und ein Analog-Digital-Wandler für die Meßeinheit 9 eingesetzt werden. Ein Mikrocomputer kann die Speichereinheit 10 und die Proportionalitätsfaktor- und Ablagesteuerung 11 darstellen. Folglich kann die Schaltung relativ einfach ohne Spezialbauteile aufgebaut werden.
Aus der vorangehenden Beschreibung geht hervor, daß bei einem Meßgerät mit Vielelementenfühler zwar eine Speichereinheit zur Speicherung der Verstärkungsfaktoren und Basisablagewerte der einzelnen Fühlerelemente erforderlich ist, jedoch keine Verstärkungsfaktor- und Basisablageeinstell­ mittel für jedes einzelne Element vorzusehen sind. Wenn folglich der Fühler aus einer Vielzahl von Elementen be­ steht, sind die Gesamtkosten geringer als bei Schaltun­ gen nach dem Stande der Technik. Die Kosten dieses Meß­ gerätes sind etwa die gleichen wie bei einem konventionellen Meßgerät, wenn die Zahl der einzelnen Fühlerelemente etwa bei 10 liegt, während die Kosten progressiv geringer werden als beim konventionel­ len Meßgerät, wenn die Zahl der Fühlerelemente ansteigt. Da des weiteren die Zahl der Abgleichwiderstände, die eine Justierung erfordern, geringer ist, ist weniger Ab­ gleicharbeit erforderlich. In einer Vorrichtung mit 16 Fühlerelementen beträgt die Zeit für den Abgleich einer konventionellen Vorrichtung etwa 10 Minuten, wobei davon ausgegangen ist, daß etwa 30 Sekunden für einen Abgleichwiderstand erforderlich sind. Bei dem hier beschriebenen Meßgerät beträgt andererseits die erforderli­ che Zeit etwa 1 Sekunde, wobei geringfügige Schwankungen auftreten können, die von der verwendeten Folge abhängen. Da des weiteren die Zahl der platzbeanspruchenden Ab­ gleichwiderstände geringer ist, ist das Meßgerät kleiner. Im Falle der Ver­ wendung eines Mikrocomputers zur Steuerung bestehen wei­ tere Vorteile darin, daß es einfach ist, viele Funktio­ nen der Elemente oder der Schaltungen zu ermitteln und daß die Einstellung vor der eigentlichen Messung ein­ fach ist, da die Folge zur Messung und Speicherung des Proportionalitätsfaktors und Ablagewertes leicht automa­ tisiert werden kann, so daß es möglich ist, konsistente Messungen frei von Zeitdrift oder Temperaturdrift durch­ zuführen. Eine besonders wirksame Anwendung liegt in der Hochpräzisionsmessung bei einem Dreifarbendichteausgleich sowie in der Dreifarbenanaly­ se der Punktdichte eines Farbnegatives.

Claims (1)

  1. Meßgerät mit Vielelementenfühler, das einen aus einer Vielzahl von als Lichtnachweisfühler ausgebildeten Füh­ lerelementen bestehenden Fühler (1), eine Meßschaltung (9) zum unabhängigen Messen des Ausgangssignals, des Ab­ lagewertes und des Verstärkungsfaktors eines jeden Füh­ lerelementes und eine Schalteinrichtung (4) zum sequen­ tiellen Verbinden der Fühlerelemente mit der Meßschaltung (9) aufweist, um die Ausgangssignale eines jeden Fühler­ elementes unabhängig voneinander abzufragen, dadurch ge­ kennzeichnet, daß es einen Speicher (10) zum getrennten Speichern des Ablagewertes und des Verstärkungsfaktors für jedes einzelne Fühlerelement aufweist, daß eine durch die Schalteinrichtung (4) geschaltete Ausleseschaltung (11) zum Auslesen des gespeicherten Ablagewertes und des Verstärkungsfaktors für jedes der Fühlerelemente vorge­ sehen ist, daß eine Ablage-Korrekturschaltung (6) zwi­ schen der Schalteinrichtung (4) und der Meßschaltung (9) vorgesehen ist, um die Ablage des Ausgangssignales des jeweiligen Fühlerelementes aufgrund des durch die Ausle­ seschaltung (11) ausgelesenen Ablagewertes zu korrigie­ ren, daß eine Verstärkungsfaktor-Korrekturschaltung (7, 8) zwischen der Schalteinrichtung (4) und der Meßschal­ tung (9) vorgesehen ist, um das Ausgangssignal des jewei­ ligen Fühlerelementes auf einen speziellen Wert aufgrund des durch die Ausleseschaltung (11) ausgelesenen Verstär­ kungsfaktors zu korrigieren, und daß beim Messen und Speichern des Ablagewertes keines der Fühlerelemente mit Licht beaufschlagt ist, während beim Messen und Speichern des Verstärkungsfaktors alle Fühlerelemente mit Licht gleicher Intensität beaufschlagt sind.
DE19813151743 1980-12-29 1981-12-29 Messgeraet mit vielelementenfuehler Granted DE3151743A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55185418A JPS57111421A (en) 1980-12-29 1980-12-29 Measuring device of multielement sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3151743A1 DE3151743A1 (de) 1982-08-12
DE3151743C2 true DE3151743C2 (de) 1990-03-08

Family

ID=16170434

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19813151743 Granted DE3151743A1 (de) 1980-12-29 1981-12-29 Messgeraet mit vielelementenfuehler

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4473797A (de)
JP (1) JPS57111421A (de)
DE (1) DE3151743A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4405607A1 (de) * 1994-02-22 1995-08-24 Hey Tec Regelungstechn Gmbh Schaltungseinrichtung zur Erfassung und Umsetzung einer Mehrzahl physikalischer Meßgrößen
DE19643771A1 (de) * 1996-03-29 1997-10-02 Mitsubishi Electric Corp Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Signalen für einen Kodierer
DE19638677A1 (de) * 1996-09-20 1998-04-02 Fer Fahrzeugelektrik Gmbh Schaltungsanordnung zur Erzeugung mehrerer Analogsignale
DE19719633A1 (de) * 1997-05-09 1998-11-12 Daimler Benz Ag Meßwertaufbereitungssystem

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2537272B1 (fr) * 1982-12-03 1986-04-04 Solomat Sa Appareil de mesure multi-sondes
US4567466A (en) * 1982-12-08 1986-01-28 Honeywell Inc. Sensor communication system
US4660075A (en) * 1983-10-28 1987-04-21 Canon Kabushiki Kaisha Color information detecting device
JPS60110006A (ja) * 1983-11-18 1985-06-15 Ohkura Electric Co Ltd 多重レンジ調節計
US4685074A (en) * 1984-11-13 1987-08-04 Electronic Instrumentation And Technology Film area computer
DE3443176C1 (de) * 1984-11-27 1990-11-15 Angewandte Digital Elektronik Gmbh, 2051 Brunstorf Verfahren zur Kalibrierung eines elektronischen Positionsgebers
ATE83326T1 (de) * 1985-03-27 1992-12-15 Siemens Ag Signalverarbeitungsgeraet mit pegelanpassungsschaltung.
US4866607A (en) * 1985-05-06 1989-09-12 Halliburton Company Self-contained downhole gauge system
US4709234A (en) * 1985-05-06 1987-11-24 Halliburton Company Power-conserving self-contained downhole gauge system
US4725950A (en) * 1985-06-19 1988-02-16 Syntrak, Inc. Marine seismic signal processor with D.C. offset compensation method
US4755951A (en) * 1986-03-03 1988-07-05 Tektronix, Inc. Method and apparatus for digitizing a waveform
US4700174A (en) * 1986-05-12 1987-10-13 Westinghouse Electric Corp. Analog signal processor
DE3701978A1 (de) * 1987-01-23 1988-08-04 Amselec Electronic Gmbh Mehrkanal-signalaufbereitungsvorrichtung fuer eine messeinrichtung
WO1989008819A1 (en) * 1988-03-15 1989-09-21 Divetronic Ag Process and device for compensating errors of measurement
EP0369489A3 (de) * 1988-11-18 1991-11-27 Omron Corporation Steuerungssystem für Sensoren
US5151866A (en) * 1990-03-30 1992-09-29 The Dow Chemical Company High speed power analyzer
US5153837A (en) * 1990-10-09 1992-10-06 Sleuth Inc. Utility consumption monitoring and control system
US5095453A (en) * 1990-11-13 1992-03-10 Johnson Service Company Sensor monitoring arrangement with error correction
US5125260A (en) * 1990-11-14 1992-06-30 General Electric Company Calibrator and calibration method for computationally compensating for phase mismatch in sound intensity probes
US5235526A (en) * 1990-11-27 1993-08-10 Solomat Limited Multi-probed sonde including microprocessor
US5319965A (en) * 1992-03-02 1994-06-14 Halliburton Company Multiple channel pressure recorder
US5277495A (en) * 1992-04-24 1994-01-11 Halliburton Company Temperature to frequency converter
DE4302184A1 (de) * 1993-01-27 1994-07-28 Teves Gmbh Alfred Schaltung zur Verstärkung des Ausgangssignals eines Sensors
US6973399B1 (en) 1999-03-30 2005-12-06 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Method and circuit for correcting periodic signals of an incremental position measuring system
AU4200300A (en) * 1999-04-06 2000-10-23 Thornton Associates, Inc. Multiplexing sensor signals
US6688119B2 (en) 2000-12-22 2004-02-10 General Electric Company Methods and apparatus for increasing appliance measuring system accuracy
JP2002298279A (ja) * 2001-01-26 2002-10-11 Texas Instruments Inc 状態応答検出システムおよび方法
US6687642B2 (en) * 2001-01-26 2004-02-03 Texas Instruments Incorporated Condition responsive sense system and method
DE10117000A1 (de) * 2001-04-05 2002-11-21 Frey Juergen Verfahren zum automatischen Erkennen der Empfindlichkeit von Sensoren
US20050099163A1 (en) * 2003-11-08 2005-05-12 Andigilog, Inc. Temperature manager
US7857510B2 (en) * 2003-11-08 2010-12-28 Carl F Liepold Temperature sensing circuit
DE502006001069D1 (de) * 2006-04-20 2008-08-21 Festo Ag & Co Kg Sensoranordnung mit Sensor und Signalverarbeitungseinrichtung
US8197123B2 (en) * 2007-10-29 2012-06-12 Smiths Medical Asd, Inc. Thermistor circuit calibration
JP5510998B2 (ja) * 2009-11-13 2014-06-04 株式会社ジャパンディスプレイ センサ装置、センサ素子の駆動方法、入力機能付き表示装置および電子機器
US8384559B2 (en) 2010-04-13 2013-02-26 Silicon Laboratories Inc. Sensor device with flexible interface and updatable information store
US9000910B2 (en) * 2010-06-25 2015-04-07 Industrial Scientific Corporation Multi-sense environmental monitoring device and method
CN109565516A (zh) 2016-04-19 2019-04-02 工业科技有限公司 工作人员安全系统
US10533965B2 (en) 2016-04-19 2020-01-14 Industrial Scientific Corporation Combustible gas sensing element with cantilever support
US11246187B2 (en) 2019-05-30 2022-02-08 Industrial Scientific Corporation Worker safety system with scan mode

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2753547A (en) * 1954-03-02 1956-07-03 Applied Science Corp Of Prince Compensated data transmission
US2866605A (en) * 1957-06-07 1958-12-30 John T Picone Machine for crushing stone and the like
US3258538A (en) * 1962-06-20 1966-06-28 Systems Engineering Lab Inc Electronic multiplexer with signal offset means for high speed communication of low level signals
US3750155A (en) * 1971-08-03 1973-07-31 Johnson Service Co Temperature monitoring circuit
DD141081A1 (de) * 1978-06-12 1980-04-09 Rainer Goersch Schaltungsanordnung zur fehlerkorrektur bei einer analogsignaluebertragung
US4399515A (en) * 1981-03-31 1983-08-16 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Self-correcting electronically scanned pressure sensor

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4405607A1 (de) * 1994-02-22 1995-08-24 Hey Tec Regelungstechn Gmbh Schaltungseinrichtung zur Erfassung und Umsetzung einer Mehrzahl physikalischer Meßgrößen
DE19643771A1 (de) * 1996-03-29 1997-10-02 Mitsubishi Electric Corp Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Signalen für einen Kodierer
DE19643771C2 (de) * 1996-03-29 2000-04-06 Mitsubishi Electric Corp Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Signalen für einen Kodierer
DE19638677A1 (de) * 1996-09-20 1998-04-02 Fer Fahrzeugelektrik Gmbh Schaltungsanordnung zur Erzeugung mehrerer Analogsignale
DE19638677B4 (de) * 1996-09-20 2004-02-05 Fer Fahrzeugelektrik Gmbh Schaltungsanordnung und Verfahren zur Erzeugung mehrerer Analogsignale
DE19719633A1 (de) * 1997-05-09 1998-11-12 Daimler Benz Ag Meßwertaufbereitungssystem
DE19719633C2 (de) * 1997-05-09 2000-03-30 Daimler Chrysler Ag Meßwertaufbereitungssystem

Also Published As

Publication number Publication date
US4473797A (en) 1984-09-25
JPS57111421A (en) 1982-07-10
DE3151743A1 (de) 1982-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3151743C2 (de)
EP0221251B1 (de) Verfahren zur Fehlerkompensation für Messwertaufnehmer mit nicht linearen Kennlinien, sowie Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE2917237C2 (de)
EP0169414A2 (de) Verfahren zur Temperaturkompensation und Messschaltung hierfür
DE2746360A1 (de) Messystem zum elektrischen bestimmen der temperatur
DE3634051A1 (de) Verfahren zur ermittlung der stellung des abgriffes eines widerstandsferngebers
DE3116690A1 (de) Messfuehler
DE69530715T2 (de) Messvorrichtung für eine elektrische Grösse
DE3101994C2 (de) Verfahren zur Messung eines elektrischen Widerstands und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1698249C3 (de) Schaltung zur Kompensation der Grundlinienneigung des Thermogramms bei zwei gegenpolig in Reihe geschalteten Thermoelementen eines Differential-Thernioanalysators E.I. du Pont de Nemours and Co
DE2541750B2 (de) Schaltungsanordnung zur codierung der empfindlichkeit eines messwertumformers
DE3213016A1 (de) Hochaufloesende elektronische waage
DD206176A3 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zur temperaturmessung
DE2435908B2 (de) Photometer
DE2353812C3 (de) Temperaturmeßschaltung
DE1671439A1 (de) Anordnung zur Messung der Stromstaerke an den einzelnen Elektroden von Elektrolysezellen
DE3306460A1 (de) Elektrisches feuchtemessgeraet
DE3634053A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zur messung der widerstandswerte zweier in reihe geschalteter sensorwiderstaende
DE2203306C2 (de) Schaltungsanordnung zur Nullpunktsverschiebung von Meßspannungen
DE3709736C2 (de) Verfahren und Anordnung zum Abgleich von Widerständen einer Kraftmeßdosen-Waage
DE976765C (de) Vorrichtung zum Eichen von Spannungs- oder Strommessern
DE2424545A1 (de) Einrichtung zur bestimmung der farbkomponenten und der farbkoordinaten
DE2445550A1 (de) Brenngasfuehler
DE3611680A1 (de) Verfahren zur messumformung
DE2339145C3 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition