DE3148809C2 - Keramische Trägerplatte für feinlinige elektrische Schaltungen und Verfahren zu deren Herstellung - Google Patents
Keramische Trägerplatte für feinlinige elektrische Schaltungen und Verfahren zu deren HerstellungInfo
- Publication number
- DE3148809C2 DE3148809C2 DE3148809A DE3148809A DE3148809C2 DE 3148809 C2 DE3148809 C2 DE 3148809C2 DE 3148809 A DE3148809 A DE 3148809A DE 3148809 A DE3148809 A DE 3148809A DE 3148809 C2 DE3148809 C2 DE 3148809C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- base layer
- plate
- layer
- ceramic
- fine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
- C04B35/10—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on aluminium oxide
- C04B35/111—Fine ceramics
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
- C04B41/50—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with inorganic materials
- C04B41/5025—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with inorganic materials with ceramic materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/80—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone of only ceramics
- C04B41/81—Coating or impregnation
- C04B41/85—Coating or impregnation with inorganic materials
- C04B41/87—Ceramics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24479—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
- Y10T428/24521—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness with component conforming to contour of nonplanar surface
- Y10T428/24545—Containing metal or metal compound
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24479—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
- Y10T428/24612—Composite web or sheet
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24942—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24942—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
- Y10T428/2495—Thickness [relative or absolute]
- Y10T428/24967—Absolute thicknesses specified
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24942—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
- Y10T428/2495—Thickness [relative or absolute]
- Y10T428/24967—Absolute thicknesses specified
- Y10T428/24975—No layer or component greater than 5 mils thick
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/25—Web or sheet containing structurally defined element or component and including a second component containing structurally defined particles
- Y10T428/256—Heavy metal or aluminum or compound thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/25—Web or sheet containing structurally defined element or component and including a second component containing structurally defined particles
- Y10T428/256—Heavy metal or aluminum or compound thereof
- Y10T428/257—Iron oxide or aluminum oxide
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/26—Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
- Y10T428/263—Coating layer not in excess of 5 mils thick or equivalent
- Y10T428/264—Up to 3 mils
- Y10T428/265—1 mil or less
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/31—Surface property or characteristic of web, sheet or block
Abstract
Eine gesinterte monolithische Keramikträgerplatte für eine feinlinige elektrische Schaltung umfaßt eine Grundschicht, die mindestens 90 Gew.% kristallines Aluminiumoxid oder Berylliumoxid enthält, und eine dünne obere Schicht, die mindestens 90 Gew.% aus demselben kristallinen Material enthält, wie die Grundschicht, jedoch mit einer durchschnittlichen Korngröße, die kleiner als diejenige des kristallinen Materials der Grundschicht ist. Die obere Schicht hat eine unregelmäßige Berührungsfläche mit der Grundschicht, jedoch eine ebene obere Oberfläche mit minimalen Oberflächen-Unregelmäßigkeiten zur verbesserten Aufnahme einer auf diese Schicht aufzubringenden feinlinigen Schaltung. Eine solche Trägerplatte wird dadurch hergestellt, daß zuerst eine Keramikplatte aus Aluminiumoxid- oder Berylliumoxid-Keramik zu einer Grundschicht geformt und gebrannt wird und dann eine Beschichtung mit feinkörnigem Aluminiumoxid oder Beryllium oxid, je nach dem Material der Platte, vorgenommen und dann diese Platte gebrannt wird.
Description
20
2. Trägerplatte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Grundschicht (12) eine glasige Phase
enthält.
3. Trägerplatte nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die durchschnittliche Korngröße des
kristallinen Materials der oberen Schicht (14) nicht mehr als die Hälfte derjenigen des kristallinen Materials
der Grundschicht (12) beträgt.
4. Trägerplatte nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die durchschnittliche Korngröße des
kristallinen Materials der Grundschicht (12) etwa 6 bis 8 μπι und die durchschnittliche Korngröße des
kristallinen Materials der oberen Schicht zwischen 2,5 und 3,5 μπι beträgt.
5. Trägerplatte nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke der oberen Schicht zwischen
0,005 und 0,025 mm beträgt.
6. Trägerplatte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede Schicht (12, 14) mindestens
95 Gew.-% des kristallinen Materials enthält.
7. Trägerplatte nach Ansprach 1, dadurch gekennzeichnet, daß das kristalline Material Aluminiumoxid
ist.
8. Verfahren zum Herstellen einer gesinterten, aus zwei Schichten zusammengesetzten Keramikträgerplatte für eine feinlinige elektrische Schaltung nach
einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß eine Keramikrohmasse hergestellt wird, die
als keramische Bestandteile mindestens 90 Gew.-% kristallinen Materials enthält, das aus der Gruppe
ausgewählt ist, die Aluminiumoxid und Berylliumoxid enthält, daß diese Rohmasse zu einer Platte
geformt wird, daß die Platte mit der Sinterungstemperatur zu einer gesinterten Platte gebrannt wird,
daß dann eine Oberfläche der Platte mit einer dünnen Schicht aus Keramik beschicht wird, die mindestens
90 Gew.-% partikelförmiges kristallines Material enthält, von dem der größte Teil das gleiche ist,
wie das, das in der Rohmasse zum Bilden der Platte verwendet wurde, dessen durchschnittliche Partikelgröße
jedoch kleiner als diejenige des kristallinen Materials ist, das für die Rohmasse der Platte verwendet
wurde, und daß die Platte schließlich zum Sintern der aufgebrachten Beschichtung gebrannt
wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Rohmasse zum Bilden der Platte
Glasbildner enthält.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Rohmasse zum Bilden der Platte
und der Beschichtung mindestens 95% des kristallinen Materials enthält
11. Verfahren nach Ansprach 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die durchschnittliche Partikelgröße des kristallinen Materials der Beschichtung nicht mehr
als die Hälfte derjenigen des kristallinen Materials der Rohmasse für die Platte beträgt
12. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das kristalline Material Aluminiumoxid ist
13. Verfahren nach Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß die Rohmasse durch Trockenpressen zu einer Platte geformt wird.
14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet daß die Rohmasse vor dem Trockenpressen
sprühgetrocknet wird.
Die Erfindung betrifft keramische Tragplatten für feinlinige elektrische Schaltungen und ein Verfahren zu
deren Herstellung nach dem Oberbegriff des Patentan-Spruches 1. In der Keramikindustrie werden keramische
Trägerplatten zum Anbringen von Halbleitern oder dergleichen und zum Drucken, Ablagern durch Aufdampfen
oder sonstigen Aufbringen elektrischer Schaltungen verwendet. Da die Technik der Elektronik fortschreitet,
besteht ein steigender Bedarf an besseren elektrischen Schaltungen. Dies macht es erforderlich,
daß die Leiter schmaler sind und damit eine kleinere Fläche dafür benötigt wird. Derartige feinlinige Schaltungen
machen es erforderlich, daß die Plattenoberfläehe, auf die die Schaltung aufgebracht wird, besonders
eben ausgebildet ist, d. h. nur minimale Oberflächenfehler, wie Narben oder Lücken, aufweist.
Keramische Trägerplatten für einen solchen Zweck werden üblicherweise aus Aluminiumoxidkeramik hergestellt,
obwohl dann, wenn eine sehr hohe thermische Leitfähigkeit erwünscht ist, Berylliumoxid trotz höherer
Kosten verwendet werden kann. Diese Keramik ist jedoch sehr hart und aus diesem Grunde ist ein Polieren
der Oberfläche schwierig und kostspielig. Obwohl Polieren eine Glätte erzeugt, beseitigt es nicht unbedingt
Oberflächenfehler, wie relativ tiefe Narben, die Schwierigkeiten beim Erzeugen einer guten feinlini&en Schaltung
bewirken. Die übliche Lösung dieses Problems der Oberflächenfehler besteht darin, eine dünne Glasur, beispielsweise
ein Glas, auf die Oberfläche der Keramik aufzubringen. Jedoch ergibt das Aufbringen einer Glasur
zahlreiche unerwünschte Eigenschaften, wie eine Abnahme der Adhäsion, der thermischen Leitfähigkeit,
der chemischen Widerstandsfähigkeit und der elektrisehen Isolation zwischen benachbarten Leiterbahnen
der Schaltung. Dies ist der Fall, weil Glas im Vergleich zu Aluminiumoxid- oder Berylliumoxid-Keramik in all
diesen Beziehungen minderwertiger ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine keramische Trägerplatte für feinlinige elektrische Schaltungen
sowie ein Verfahren zu deren Herstellung zu schaffen, wobei die sonst bei solchen keramischen Trägerplatten
leicht auftretenden Oberflächenfehler beseitigt bzw. ausgefüllt sind.
Diese Aufgabe wird durch die in den Ansprüchen 1 und 8 angegebene Erfindung gelöst.
Die obere Oberfläche einer solchen Tragplatte, auf die das Schaltungsmuster aufgebracht wird, hat alle ge-
wünschten Eigenschaften von Aluminiumoxid oder Berylliumoxid
und ist darüber hinaus im wesentlichen eben,, d. h. hat minimale Oberflächenfehler, wobei die
obere Schicht der Struktur ein Ausfüllen vier Oberflächennarben
oder -lücken der Grundschicht bewirkt, um die gewünschte eingeebnete und fehleitreie Oberfläche
zu schaffen.
Zur Herstellung einer solchen Trägerplatte wird gemäß der Erfindung zuerst eine Platte aus Aluminiumoxid-
oder Berylliurnoxid-Keramik geformt und gesintert,
die in der fertigen Struktur als Grundschicht dient, und dann wird mindestens eine der einander abgewandten
Oberflächen der Platte mit einer dünnen Schicht der Keramik beschichtet, die als obere Schicht der Tragplatte
dienL Dann wird die Tragplatte noch einmal erhitzt, um die obere Schicht zu sintern. Das Aluminiumoxid
oder Berylliumoxid, das in der dünnen Beschichtung verwendet wird, die die obere Schicht bildet, ist von
kleinerer Durchschnitts-Partikelgröße, vorzugsweise nicht größer als die Hälfte der Partikelgröße des Aluminiumoxids,
das in der Rohmasse zum Bilden der Platte verwendet wird, nämlich der Grundschicht. Dadurch ist
sichergestellt, daß die Beschichtung ihre gewünschte Funktion des Ausfüllens der Oberflächennarben oder
-lücken in der Platte ausübt, um die gewünschte, im wesentlichen ebene und fehlerfreie Oberfläche zu schaffen.
Dabei ist auch sichergestellt, daß die endgültige, nach dem Brennen entstandene Korngröße des Aluminiumoxids
in der oberen Schicht kleiner als diejenige nach dem Brennen im kristallinen Material in der
Grundschicht ist. Da die Partikelgröße der Keramik der Beschichtung so klein ist, ist die keramische Masse reaktionsfreudiger
und kann aus diesem Grunde bei einer geringeren Temperatur zu einer gesinterten Struktur
gebrannt werden, wodurch die Größe des Kornwachstums während des Brennens reduziert wird.
Ein bevorzugtes Verfahren zum Herstellen einer Trägerplatte, die als Grundschicht dienen soll, umfaßt folgende
Verfahrensschritte:
1. Mischen einer Rohmasse in Form eines wässerigen Schlickers, der zusätzlich zu den keramischen Bestandteilen
eine kleine Menge Wachs oder einen ähnlichen organischen Binder enthält;
2. Sprühtrocknen der Masse;
3. Trockenpressen der sprühgetrockneten Masse in gewünschte Platten und dann
4. Brennen der Platten zum Ausbrennen oder Verdampfen des organischen Binders und zum Sintern
der Keramik.
Dieses Verfahren zum Herstellen der Platten ist aus verschiedenen Gründen vorteilhaft gegenüber anderen
Verfahren, beispielsweise den Verfahren, bei denen die Platten von einem gegossenen Strang abgeschnitten
werden, der aus der Rohmasse gebildet worden ist. Der Hauptvorteil des Sprühtrocknungs-Trockenpreß-Verfahrens
besteht darin, daß es größere Freiheit in der Wahl der Plattendicke und der Plattengestalt mit minimalem
Abfallverlust gestattet. Der übliche Nachteil des Sprühtrocknungs-Trockenpreß-Verfahrens ist der, daß
die so hergestellten Platten Oberflächen haben, die durch ein regelmäßiges oder unregelmäßiges Muster
von Oberflächenfehlern gekennzeichnet sind. Dieser Nachteil wird jedoch durch das erfindungsgemäße Ver
fahren auf ein Mindestmaß herabgesetzt.
Ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgem&ßeii
keramischen Trägerplatte ist in der Zeichnung dargestellt In dieser Zeichnung zeigt
F i g. 1 eine vergrößerte Teildraufsicht auf eine erfindungsgemäß hergestellte keramische Trägerplatte mit
einer feinlinigen elektrischen Schaltung, wie sie typischerweise auf eine Trägerplatte aufgebracht wird, und
F i g. 2 einen Querschnitt längs der Linie 2-2 in F i g.!, aus dem vergrößert, jedoch nicht im genauen Maßstab
die Grundschicht und die obere Schicht sowie die Berührungsfläche zwischen beiden Schichten ersichtlich
ίο ist
Bei dem nachstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel enthält die Grundschicht eine glasige Phase; aus
diesem Grunde enthält das keramische Gemenge zur Bildung der Grundschicht einen geringen Anteil Kieselerde
sowie einen geringen Anteil eines Erdalkalioxids, Talkum oder dergleichen.
Die Rohmasse zum Herstellen der Platte besteht aus:
Bestandteile
Gew.-%
Aluminiumoxid 96,6
Kieselerde 2,3
Magnesiumoxid 0,8
sonstige (Kalziumoxid, Eisenoxid, o. dgl.) 0,3
Das Aluminiumoxid wird Alpha-Aluminiumoxid verwendet Die Rohmasse wird angemengt und in einer
Kugelmühle zerkleinert, bis die gewünschte durchschnittliche Partikelgröße des Aluminiumoxids bei etwa
3 bis 5 μπι liegt, bei einem Gesamtbereich der Partikelgröße
von 0, 5 μπι bis 20 μπι. Während oder nach dem
Zerkleinern in der Kugelmühle wird aus den keramischen Bestandteilen ein wässeriger Schlicker gebildet,
der einen geringen Anteil Wachs oder einen ähnlichen organischen Binder enthält. Wie jedem Fachmann bekannt
ist, wird dies am besten durch Einbringen einer wässerigen Wachs-Emulsion in den keramischen Schlikker
bewirkt. Dabei wird die Menge der Wachs-Emulsion so gewählt, daß 4 bis 8% Wachs in der Trockenmasse
des Gesamtgemenges enthalten sind. Ein derartiger Schlicker wird dann in einem üblichen Sprühtrocknungsvorgang
sprühgetrocknet. Ein solcher Vorgang umfaßt kurz gesagt das Versprühen des Schlickers vom
oberen Ende eines Turmes, in dem sich Warmluft derart aufwärts bewegt, daß das Wasser aus den Tröpfchen
verdunstet. Das Produkt, das sich am Boden des Turmes ansammelt, besteht aus winzigen, im wesentlichen sphärischen
Tropfen aus mit Wachs gebundener Keramikmasse, deren Größe von etwa 0,06 bis 0,2 mm variiert.
Die Platten werden durch Trockenpressen der sprühgetrockneten Masse in Metallformen hergestellt, die jeweils
eine Matrize und eine Patrize aufweisen. Wenn die Platte Löcher aufweisen soll, weist eine der Formhälften
Stifte auf, denen öffnungen in der anderen Formhälfte zugeordnet sind. Der beim Trockenpressen der Platten
aufgewandte Druck liegt in der Größenordnung von 70 N/mm2 bis 105 N/mm2. Es ist klar, daß während des
sich anschließenden Brennvorgangs, bei dem der organische Binder verdampft oder ausgebrannt wird und bei
dem die Keramik gesintert wird, ein gewisses Schrumpfen in allen Dimensionen, im allgemeinen um 15%, eintritt.
„:> daß die aus der Rohmasse trockengepreßten
Platten entsprechend größe sind, als die fertiggebrannten Platten sein sollen. Beim Ausführungsbeispiel liegt
die Dicke der Grundschicht und damit die Dicke der gebrannten Platte in der Größenordnung von 0,6 bis
6 mm.
Die aus der Rohmasse geformten Platten werden als nächstes gebrannt, um den organischen Binder auszubrennen
oder zu verdampfen und die Keramik zu sintern. Wie jedem Fachmann bekannt ist, ist die bevorzugte
Brenntemperatur von der genauen Zusammensetzung der Keramik abhängig. Für Aluminiumoxid-Keramik
beträgt die Brenntemperatur 1575°C bis 1675°C, wobei die beste Brenntemperatur für die Aluminium-Keramik,
deren Zusammensetzung vorher beschrieben wurde, zu etwa 16400C bei fünfstündigem Durchglühen
ermittelt wurde. Das Brennen erfolgt unter normalen atmosphärischen Bedingungen, d. h. in einer oxidierenden
Atmosphäre.
Während der letzten Abschnitte des Brennvorgangs, in denen die Keramik sintert, erfolgt ein Zusammenwirken
zwischen dem Silicium und dem Magnesiumoxid und einer geringen Menge des Aluminiumoxids, um eine
glasige Phase zu bilden, wobei ein Wachsen der Korngröße des kristallinen Aluminiumoxids erfolgt; die endgültige
Durchschnittskorngröße des kristallinen Aluminiumoxids liegt nach dem Brennen zwischen 6 bis 8 μιτι.
Die Rohmasse für die Beschichtung, die auf die Platte aufgebracht und dann zur Bildung der oberen Schicht
gebrannt wird, sollte etwa 90 Gew.-%, vorzugsweise mehr als 95 Gew.-% Aluminiumoxid enthalten, und der
Rest sollte im wesentlichen alles Silicium und andere Glasbildner, wie Erdalkalioxide, Talkum oder dergleichen
enthalten, die mit Silicium zur Bildung von Glas reagieren. Obwohl es wünschenswert ist, daß ein geringe
Menge an glasiger Phase in der oberen Schicht zumindest an ihrer Berührungsfläche mit der Grundschicht
vorhanden ist, ist das Einbringen von Glasbildnern in die Rohmasse für die Beschichtung nicht immer
erforderlich, da dann, wenn die Platte, auf die die Beschichtung aufgebracht wird, selbst eine glasige Phase
enthält, das an der Berührungsschicht vorhandene Glas ausreichend sein und während des Brennens der Beschichtung
ausreichend wandern kann, um eine glasige Phase für die obere Schicht an der Berührungsfläche zu
schaffen. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel, bei dem die Rohmasse zur Bildung der Platte Glasbildner in
einer Menge von mindestens etwa 2 Gew.-% enthält, was es nicht erforderlich, der Rohmasse für die Beschichtung
mehr als 1 Gew.-% Glasbildner hinzuzufügen.
Nachstehend ist die Zusammensetzung einer Rohmasse für die Beschichtung angegeben, die auf die Oberfläche
der Platte aufgebracht und dann zur Bildung der oberen Schicht gebrannt wird.
Bestandteile
Gew.-°/o
Aluminiumoxid 99,4
Kieselerde 0,23
Kieselerde 0,23
Magnesiumoxid 0,27
sonstige (Kalziümoxid, Eisenoxid, o. dgl.) 0,1
Als Aluminiumoxid wurde für die Rohmasse der Beschichtung
Alpha-Aluminiumoxid gewählt, das infolge seiner kleinen Partikelgröße hochreaktionsfreudig ist
Die Rohmasse wird gemischt, und die Partikelgröße wird durch Mahlen in einer Kugelmühle verringert, so
daß die durchschnittliche Partikelgröße der Masse und infolgedessen des darin enthaltenen Aluminiumoxids
kleiner und nicht mehr als halb so groß als die gewünschte durchschnittliche Partikelgröße des Aluminiumoxids
in der Rohmasse ist, die zum Bilden der Platte verwendet wurde. Bei dem Ausführungsbeispiel liegt
die durchschnittliche Partikelgröße des Aluminiumoxids in der Rohmasse der Beschichtung nach dem Behandeln
in der Kugelmühle in der Größenordnung von 1 bis 1,5 μιτι, bei einem Gesamtbereich der Partikelgröße von
0,1 bis ΙΟμπι. Während oder nach dem Zerkleinern in
der Kugelmühle wird aus den keramischen Bestandteilen ein Schlicker gebildet. Obwohl als Flüssigkeit Wasser
verwendet werden kann, wurde als Flüssigkeit ein
ίο organisches Verdünnungsmittel benutzt, das eine geringe
Menge gelöstes organisches Harz enthält, das eine gute Haftung des Schlickers an der Keramikplatten erbringt,
auf die dieser aufgebracht wird. Ein Gemisch von etwa 40 Gew.-% Butylcarbitol, 40% Methyläthylketon
und 20% Alpha-Terpineol wurde als organisches Bindemittel
verwendet. Das organische Harz war ein Acrylharz, das in einer Menge von etwa 3 Gew.-% des Schlikkers
vorhanden war.
Wenn Wasser als Verdünnungsmittel verwendet wird, sollte es ebenfalls einen geringen Anteil eines Binders, beispielsweise Polyvinyl-Alkohol, oder eines im Wasser emulgierbaren Wachses enthalten. Der bevorzugte Gehalt an festen Keramikstoffen im Schlicker ist von der Stärke der oberen Schicht abhängig, die ihrerseits die Dicke vorschreibt, die für die aufzubringende Beschichtung verwendet wird. Beim Ausführungsbeispiel liegt die Dicke der oberen Schicht nach dem Brennen zwischen 0,005 bis 0,025 mm, im Durchschnitt beträgt sie 0,012 mm. Die Dicke der gebrannten oberen Schicht ist im allgemeinen etwa 50% der Dicke der Beschichtung vor dem Brennen, nachdem das Verdünnungsmittel verdunstet ist; infolgedessen liegt die Dicke der Beschichtung vor dem Brennen beim Ausführungsbeispiel in der Größenordnung von 0,01 bis 0,05, im Mittel 0,025 mm.
Wenn Wasser als Verdünnungsmittel verwendet wird, sollte es ebenfalls einen geringen Anteil eines Binders, beispielsweise Polyvinyl-Alkohol, oder eines im Wasser emulgierbaren Wachses enthalten. Der bevorzugte Gehalt an festen Keramikstoffen im Schlicker ist von der Stärke der oberen Schicht abhängig, die ihrerseits die Dicke vorschreibt, die für die aufzubringende Beschichtung verwendet wird. Beim Ausführungsbeispiel liegt die Dicke der oberen Schicht nach dem Brennen zwischen 0,005 bis 0,025 mm, im Durchschnitt beträgt sie 0,012 mm. Die Dicke der gebrannten oberen Schicht ist im allgemeinen etwa 50% der Dicke der Beschichtung vor dem Brennen, nachdem das Verdünnungsmittel verdunstet ist; infolgedessen liegt die Dicke der Beschichtung vor dem Brennen beim Ausführungsbeispiel in der Größenordnung von 0,01 bis 0,05, im Mittel 0,025 mm.
Ein Schlicker, der einen Feststoffanteil von 40 bis 50 Gew.-% hatte, wurde als sehr zufriedenstellend befunden.
Die Beschichtung der Oberfläche der Platte wird durch Sprühen oder ein anderes Aufbringen des Schlikkers
auf diese bewirkt, wonach dem Verdünnungsmittel die Möglichkeit gegeben wird zu verdunsten.
Die Platte mit der in der vorbeschriebenen Weise aufgebrachten Beschichtung wird gebrannt, um den organischen
Binder auszubrennen oder zu verdampfen und um die sich ergebende dünne obere Schicht mit der
Grundschicht zusammenzusintern. Wie beim Brennen der Platte, so hängt auch hier die genaue Brenntemperatur
und die Behandlung von der genauen Zusammensetzung der Keramik der oberen Schicht ab. Für das vorbeschriebene
Keramikgemenge zum Bilden der oberen Schicht wurde eine Brenntemperatur von 25000C bis
15600C mit einem vier- bis sechsstündigen Durchglühen
bei dieser Temperatur verwendet Das Brennen wurde in normaler, d.h. oxidierender Atmosphäre durchgeführt
Während des Brennens der oberen Schicht erfolgt ein gewisses Kornwachstum des Aluminiumoxids; wenn die
Rohmasse für die obere Schicht einen Glasbildner enthält, wirkt dieser mit einem kleinen Teil des Aluminiumoxids
zur Bildung der glasigen Phase zusammen. Nach dem Brennen betrug die durchschnittliche Korngröße
des kristallinen Aluminiumoxids in der oberen Schicht weniger als bzw. nicht mehr als die Hälfte der durchschnittlichen
Korngröße des kristallinen Materials in der Grundschicht Bei den Versuchen, die mit den vorbeschriebenen
Zusammensetzungen und den vorerwähnten Verfahrensschritten durchgeführt wurden, lag
die endgültige durchschnittliche Kristallgröße des kri-
7 8
stallinen Aluminiumoxids in der oberen Schicht zwi- '
sehen 2,5 bis 3,5 μιη, also unterhalb der Hälfte der durchschnittlichen
Korngröße des kristallinen Materials in
der Grundschicht, die zwischen 6 bis 8 μΐπ beträgt.
der Grundschicht, die zwischen 6 bis 8 μΐπ beträgt.
Während des abschließenden Brennvorgangs, bei 5
dem die obere Schicht gesintert wird, bildet die obere :
Schicht eine zusammengesetzte Struktur mit der
Grundschicht und füllt die Oberflächennarben und -lükken der Grundschicht derart aus, daß eine relativ ebene
obere Oberfläche der oberen Schicht entsteht, die fast io
frei von Oberflächenfehlern ist, die sonst Schwierigkeiten beim Herstellen eines guten feinlinigen Schaltungsmusters auf der Trägerplatte ergeben wurden.
Grundschicht und füllt die Oberflächennarben und -lükken der Grundschicht derart aus, daß eine relativ ebene
obere Oberfläche der oberen Schicht entsteht, die fast io
frei von Oberflächenfehlern ist, die sonst Schwierigkeiten beim Herstellen eines guten feinlinigen Schaltungsmusters auf der Trägerplatte ergeben wurden.
Fig. 1 zeigt ein typisches feiniiniges Schaltungsmuster,
das später auf die Trägerplatte aufgebracht wurde. 15
Die dünnen Linien 2 aus leitendem Material wurden auf r'~
die relativ ebene Oberfläche der Trägerplatte durch
Drucken aufgebracht. Man kann aber auch eine dünne :,
Filmbeschichtung, photolithographische Techniken ;··
oder dergleichen verwenden. Bei dem in der Zeichnung 20 ;};
dargestellten Beispiel weist die Trägerplatte eine Vielzahl von öffnungen 4 auf, die der Aufnahme von elektrischen
Leitungsdrähten dienen, die elektrisch mit den die J-.
öffnungen 4 umgebenden Bereichen 6 des Schaltungs- \i
musters verbunden sind. 25 ζ
Fig.2 zeigt die unregelmäßige Berührungsfläche S
zwischen der Grundschicht 12 und der oberen Schicht |j
14, während die obere Oberfläche 16 der oberen Schicht *:
14 relativ eben und frei von Oberflächenfehlern ist. ^
Wegen der fehlerfreien Oberfläche der Zwei-Schich- 30 J
ten-Trägerplatte ist das Aufbringen von feinlinigen ]i,
Schaltungsmus'ern erleichtert, wobei gleichzeitig eine f"
erhöhte Sicherheit gegen Kurzschlüsse oder Unterbre- ':
chungen garantiert ist. γ
35 :,
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
40 Il
W 45
50
55
60
65
Claims (1)
1. Gesinterte, aus zwei Schichten zusammengesetzte Keramikträgerplatte für feinlinige elektrische
Schaltungen, gekennzeichnet durch eine dickere Grundschicht (12) und eine dünnere obere
Schicht (14) mit einer weitgehend ebenen oberen Oberfläche (16) und einer unregelmäßigen Berührungsfläche
(10) mit der Grundschicht die beide mindestens etwa 9OGew.-°/o kristallines Material
enthalten, wobei das kristalline Material der Grundschicht aus der Gruppe stammt die Aluminiumoxid
oder BeryMiumoxid enthält und das kristalline Material der oberen Schicht (14) im wesentlichen das gleiehe
ist wie das der Grundschicht (12), jedoch eine durchschnittliche Korngröße hat die kleiner als diejenige
des kristallinen Materials der Grundschicht
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/216,397 US4340635A (en) | 1980-12-15 | 1980-12-15 | Ceramic substrate for fine-line electrical circuitry |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3148809A1 DE3148809A1 (de) | 1982-10-21 |
DE3148809C2 true DE3148809C2 (de) | 1984-09-13 |
Family
ID=22806910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3148809A Expired DE3148809C2 (de) | 1980-12-15 | 1981-12-10 | Keramische Trägerplatte für feinlinige elektrische Schaltungen und Verfahren zu deren Herstellung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4340635A (de) |
JP (1) | JPS57118079A (de) |
CA (1) | CA1165459A (de) |
DE (1) | DE3148809C2 (de) |
FR (1) | FR2496385B1 (de) |
GB (1) | GB2094176B (de) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2123316B (en) * | 1982-07-14 | 1985-10-23 | Atomic Energy Authority Uk | Substrates for electronic devices |
JPS59101896A (ja) * | 1982-12-02 | 1984-06-12 | 日立化成工業株式会社 | セラミツク多層回路基板の製造法 |
US4537827A (en) * | 1983-02-07 | 1985-08-27 | Hughes Aircraft Company | Optically flat semiconductor baseplate structure |
FR2556503B1 (fr) * | 1983-12-08 | 1986-12-12 | Eurofarad | Substrat d'interconnexion en alumine pour composant electronique |
DE3407443A1 (de) * | 1984-02-29 | 1985-08-29 | Buchtal Gmbh Keramische Betriebe, 8472 Schwarzenfeld | Plattenfoermiges verbundelement |
JPS6114187A (ja) * | 1984-06-27 | 1986-01-22 | 日本特殊陶業株式会社 | 補強板状焼結体 |
DE3500998A1 (de) * | 1985-01-14 | 1986-07-17 | INTERATOM GmbH, 5060 Bergisch Gladbach | Verfahren zur oberflaechenverfestigung von formkoerpern aus keramischer faser |
JPS62142396A (ja) * | 1985-12-17 | 1987-06-25 | アルプス電気株式会社 | 薄膜回路基板 |
US4786342A (en) * | 1986-11-10 | 1988-11-22 | Coors Porcelain Company | Method for producing cast tape finish on a dry-pressed substrate |
GB9519888D0 (en) * | 1995-09-29 | 1995-11-29 | Atomic Energy Authority Uk | Electrically isolating coating layers |
US5948193A (en) * | 1997-06-30 | 1999-09-07 | International Business Machines Corporation | Process for fabricating a multilayer ceramic substrate from thin greensheet |
US6258191B1 (en) | 1998-09-16 | 2001-07-10 | International Business Machines Corporation | Method and materials for increasing the strength of crystalline ceramic |
JP4902020B2 (ja) * | 2009-07-31 | 2012-03-21 | 京セラ株式会社 | 発光素子搭載用セラミックス基体 |
EP3919460A4 (de) * | 2019-01-30 | 2022-11-30 | Kyocera Corporation | Wärmebeständiges element |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1079405A (en) * | 1963-08-12 | 1967-08-16 | Minnesota Mining & Mfg | Glazed alumina substrates |
FR1530711A (fr) * | 1967-05-30 | 1968-06-28 | Minnesota Mining & Mfg | Substrat réfractaire entièrement céramique pour circuits électriques miniatures |
US3764444A (en) * | 1971-05-17 | 1973-10-09 | Owens Illinois Inc | Glass ceramic and process therefor |
DE2128374A1 (de) * | 1971-06-08 | 1973-01-04 | Leiber Carl Otto Dr Dipl Phys | Substrat fuer elektronische anwendungen |
-
1980
- 1980-12-15 US US06/216,397 patent/US4340635A/en not_active Expired - Fee Related
-
1981
- 1981-11-30 CA CA000391151A patent/CA1165459A/en not_active Expired
- 1981-12-04 JP JP56195516A patent/JPS57118079A/ja active Granted
- 1981-12-09 GB GB8137088A patent/GB2094176B/en not_active Expired
- 1981-12-10 DE DE3148809A patent/DE3148809C2/de not_active Expired
- 1981-12-14 FR FR8123278A patent/FR2496385B1/fr not_active Expired
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
NICHTS-ERMITTELT |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6122630B2 (de) | 1986-06-02 |
DE3148809A1 (de) | 1982-10-21 |
GB2094176A (en) | 1982-09-15 |
JPS57118079A (en) | 1982-07-22 |
CA1165459A (en) | 1984-04-10 |
FR2496385A1 (de) | 1982-06-18 |
FR2496385B1 (de) | 1986-04-04 |
US4340635A (en) | 1982-07-20 |
GB2094176B (en) | 1984-09-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3148809C2 (de) | Keramische Trägerplatte für feinlinige elektrische Schaltungen und Verfahren zu deren Herstellung | |
EP0016307B1 (de) | Verfahren zur Herstellung einer mehrschichtigen glaskeramischen Struktur mit innen liegenden Versorgungsleitungen auf Kupferbasis | |
DE3738343C2 (de) | ||
DE3612084C2 (de) | ||
DE2901172A1 (de) | Verfahren zum herstellen von mehrschichtigen gesinterten glaskeramiksubstraten mit aus gold, silber oder kupfer bestehenden leitungsmustern und dadurch hergestellte substrate | |
DE2264943B2 (de) | Mehrlagiger Schaltungsaufbau und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE10042909A1 (de) | Mehrlagiges Keramiksubstrat und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE10141910B4 (de) | Glaskeramiksinterprodukt und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE2364242C2 (de) | Keramikplatten und ihre Verwendung | |
DE2745581A1 (de) | Verfahren zum herstellen mehrschichtiger keramischer substrate | |
DE2451236C2 (de) | Verfahren zum Herstellen keramischer Substrate | |
DE3701973A1 (de) | Produkt aus gesintertem glaspulver | |
DE3428559A1 (de) | Flexible, glasbeschichtete substrate sowie verfahren zu ihrer herstellung | |
DE2445087A1 (de) | Fuer die herstellung eines kondensators geeigneter keramikkoerper und verfahren zu seiner herstellung | |
EP0750597B1 (de) | Verfahren zur herstellung von keramischen verbundkörpern | |
DE3428259A1 (de) | Keramische vielschichtverdrahtungsplatte | |
DE2445086C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines für die Herstellung eines Kondensators geeigneten Keramikkörpers | |
EP0026376A3 (de) | Verfahren zur Herstellung von integrierten Halbleiterschaltungen, insbesondere CCD-Schaltungen mit selbstjustierten, nichtüberlappenden Poly-Silizium-Elektroden | |
DE2459176A1 (de) | Keramische stoffzusammensetzungen mit hohem tonerdegehalt und einem gehalt an mgo-al tief 2 o tief 3 -sio tief 2 oder cao-al tief 2 o tief 3 -sio tief 2 -glas | |
DE102004047007B4 (de) | Verfahren für das Herstellen eines Keramiksubstrats für elektronische Dünnschicht-Bauelemente | |
DE2459177A1 (de) | Keramische stoffzusammensetzung mit hohem tonerdegehalt zur herstellung von gesinterten, keramischen gegenstaenden | |
DE2301277A1 (de) | Verfahren zum herstellen mehrschichtiger verbindungskonstruktionen, z.b. fuer integrierte halbleiterschaltkreise | |
DE2016919C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines isolierenden Keramik-Körpers mit verbesserter Oberflächenglätte | |
DE4416245C1 (de) | Verfahren zur Herstellung von PZT-Schichten aus niedrig sinterndem PZT-Pulver | |
DE102015223950A1 (de) | Substrat für eine Sensoranordnung für ein Widerstandsthermometer, Sensoranordnung, Widerstandsthermometer und Verfahren zur Herstellung eines solchen Substrats |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |