DE3116072A1 - Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor - Google Patents

Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor

Info

Publication number
DE3116072A1
DE3116072A1 DE19813116072 DE3116072A DE3116072A1 DE 3116072 A1 DE3116072 A1 DE 3116072A1 DE 19813116072 DE19813116072 DE 19813116072 DE 3116072 A DE3116072 A DE 3116072A DE 3116072 A1 DE3116072 A1 DE 3116072A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
capacitance
circuit arrangement
charge amplifier
switch
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19813116072
Other languages
English (en)
Inventor
Lothar Dipl.-Ing. 8551 Röttenbach Koob
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Analogic Corp
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19813116072 priority Critical patent/DE3116072A1/de
Priority to JP57057945A priority patent/JPS57179771A/ja
Priority to US06/370,834 priority patent/US4454423A/en
Publication of DE3116072A1 publication Critical patent/DE3116072A1/de
Priority to JP091465U priority patent/JPH072985U/ja
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/185Measuring radiation intensity with ionisation chamber arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT Unser Zeichen Berlin und München VPA 81 P 5007 DE
Schaltungsanordnung für einen Strahlendetektor
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung für einen Strahlendetektor zur Umwandlung von Strahlung 'in entsprechende elektrische Signale, bei der dem Strahlendetektor eine Integratorschaltung für das Detektor-Ausgangssignal mit einer Kapazität nachgeschaltet ist, die das Ausgangssignal des Strahlendetektors unmittelbar integriert.
Eine Schaltungsanordnung dieser Art ist in der Patentanmeldung P 30 01 131.5 beschrieben. Diese Schaltungsanordnung kann bei einem Computertomographen angewendet werden, bei dem mehrere Detektoren zur Messung der Röntgenstrahlung vorgesehen sind, die einen Patienten durchdrungen hat. Bei der genannten Schaltungsanordnung wird nach dem Ende des Integrationsintervalle s die an der Kapazität aufgebaute Spannung über eine Impedanzstufe dem Eingang eines nachgeschalteten Verstärkers zugeführt. Nachdem die Spannung durch die Impedanzstufe abgefragt und verarbeitet worden ist, wird die Kapazität mit Hilfe eines parallel geschalteten Schalters entladen und steht dann für die nächste Integration zur Verfügung.
Bei Detektoren mit hoher Vorspannung, z.B. Xenondetektoren, die in einer mit Xenongas gefüllten Kammer zwei Elektroden aufweisen, an denen eine Hochspannung liegt und zwischen denen ein von der empfangenen Strahlungsintensität abhängiger Strom fließt, kann eine aufgebaute Spannung bis zum maximal möglichen Verarbeitungs-
Tp 5 Ler / 17.02.1981
- » - VPA 81 P 3007 DE
pegel, beispielsweise für einen Multiplexer oder A/D-Wandler, zugelassen werden. Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, diesen Vorteil zur Reduzierung des Schaltungsaufwandes auszunutzen.
Diese Aufgabe ist c-rfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zwischen der Kapazität und einem nachgeschalteten Ladungsverstärker ein Schalter zum Übertragen der Ladung der Kapazität auf don Ladungsverstärker angeordnet ist.
Bei der erfindungsg'jmäßen Schaltungsanordnung wird im Gegensatz zu der eingangs beschriebenen bekannten Schaltungsanordnung nicht die Spannung an der Kapazität über eine Impedanzstufe, die in diesem Fall als Schaltmittel dient, abgefragt, sondern die Kapazität wird in einen nachgeschalteten Ladungsverstärker über einen Schalter entladen. Es kann somit ein besonderer, parallel zur Kapazität liegender Entladeschalter entfallen.
Der Ladungsverstärker, der mit einer Kapazität bestückt ist, kann einen Entladeschalter für seine Entladung nach der Auswertung des jeweiligen Meßwertes aufweisen.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert.
In der Zeichnung ist ein Detektor 1 dargestellt, der beispielsweise aus einer unter Druck mit Xenon gefüllten Zelle mit zwei Elektroden besteht und an einer Hochspannungsquelle 8 angeschlossen ist. Parallel zur Reihenschaltung aus dem Detektor 1 und der Hochspannungsquelle 8 liegt eine Kapazität 2, die während eines vorbestimmten Intervalles eine Ladung sammelt, die von der empfangenen Strahlungsintensität abhängt.
Ol I U U /
- y - VPA 81 P 5007 DE
Nach Ablauf des Integrationsintervalles wird ein elektronischer Schalter 9 geschlossen, der die in der Kapazität 2 aufgebaute Ladung einem mit einer Kapazität 10 beschalteten Ladungsverstärker 11 zuführt. Das Ausgangssignal des Ladungsverstärkers 11 entspricht dabei bei vorgegebenem Integrationsintervall der empfangenen Strahlungsintensität und beim Schließen des Schalters 9 wird die Kapazität 2 entladen und steht
somit für eine neue Integration zur Verfügung. Nach
der Auswertung des jeweiligen Meßwertes wird die Kapazität 10 des Ladungsverstärkers 11 über einen elektronischen Schalter 12 entladen.
Aus der Zeichnung ergibt sich, daß auf einen Ladungsverstärker nacheinander mehrere Meßkanäle zur Auswertung aufgeschaltet werden können. Die Kapazität eines weiteren Meßkanales ist dabei mit 2a und der zugeordnete Schalter mit 9a bezeichnet.
1 Figur
2 Patentansprüche

Claims (2)

-K- VPA 81 P 5007 DE Patentansprüche
1. Schaltungsanordnung für einen Strahlendetektor (1) zur Umwandlung von Strahlung in entsprechende elektrisehe Signale, bei der dem Strahlendetektor (1) eine Integratorschaltung für das Detektor-Ausgangssignal mit einer Kapazität (2) nachgeschaltet ist, die das Ausgangssignal des Strahlendetektors (1) unmittelbar integriert, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Kapazität (2) und einem nachgeschalteten Ladungsverstärker (11) ein Schalter (9) zum Übertragen der Ladung der Kapazität (2) auf den Ladungsverstärker (11) angeordnet ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Ladungsverstärker (11) einen Entladeschalter (12) für seine Entladung nach der Auswertung des jeweiligen Meßwertes aufweist.
DE19813116072 1981-04-22 1981-04-22 Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor Ceased DE3116072A1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813116072 DE3116072A1 (de) 1981-04-22 1981-04-22 Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor
JP57057945A JPS57179771A (en) 1981-04-22 1982-04-07 Circuit device for radiation detector
US06/370,834 US4454423A (en) 1981-04-22 1982-04-22 Circuit arrangement for a radiation detector
JP091465U JPH072985U (ja) 1981-04-22 1991-10-11 放射線検出器用回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813116072 DE3116072A1 (de) 1981-04-22 1981-04-22 Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3116072A1 true DE3116072A1 (de) 1982-11-11

Family

ID=6130631

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19813116072 Ceased DE3116072A1 (de) 1981-04-22 1981-04-22 Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4454423A (de)
JP (2) JPS57179771A (de)
DE (1) DE3116072A1 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4621204A (en) * 1984-07-26 1986-11-04 Miles Laboratories, Inc. Sensor integrator system
JPH0672900B2 (ja) * 1984-09-04 1994-09-14 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 多点電流測定装置
JPH0738545B2 (ja) * 1988-05-12 1995-04-26 株式会社村田製作所 電荷発生型検知素子の信号処理回路
US4968890A (en) * 1988-07-18 1990-11-06 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Charged particle beam-dosimeter
EP0498213B1 (de) * 1991-02-07 1997-08-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Röntgenstrahl-Computer-Tomograph mit Bilddatenerfassungsschaltung zur Ausführung von Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung
US5477050A (en) * 1994-06-16 1995-12-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Radiation sensor dosimetry circuit
US5574396A (en) * 1994-10-13 1996-11-12 The Foxboro Company Micro-power vortex isolator circuit
DE19654853A1 (de) * 1996-05-23 1997-11-27 Ziegler Horst Steuerschaltung zur Registrierung der Betätigung einer optischen Taste
JP3699973B1 (ja) * 2004-12-28 2005-09-28 株式会社日立製作所 核医学診断装置
EP3836400A1 (de) * 2019-12-13 2021-06-16 ams International AG Ladungsempfindliche verstärkerschaltung für sensor-frontend

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1095407B (de) * 1959-06-20 1960-12-22 Physikalisch Tech Werkstaetten Geraet zum Messen ionisierender Strahlen
US4134018A (en) * 1976-07-06 1979-01-09 Siemens Aktiengesellschaft Tomographic apparatus for producing transverse layer images
DE2616652B2 (de) * 1975-04-16 1980-12-11 C.G.R.-Mev, Paris Anordnung zur Kontrolle der von einer Strahlungsquelle gelieferten Strahlendosis
DE2926902A1 (de) * 1979-07-03 1981-01-22 Siemens Ag Dosismesseinrichtung
DE3001131A1 (de) * 1980-01-14 1981-07-16 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor
DE3112016A1 (de) * 1981-03-26 1982-10-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Roentgendiagnostikeinrichtung zur untersuchung mehrerer schichten eines aufnahmeobjektes

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3268824A (en) * 1963-04-15 1966-08-23 Beckman Instruments Inc Pulse code modulation reception system
US3508540A (en) * 1967-02-14 1970-04-28 Us Navy Apparatus for direct measurement of skin conductance
JPS4510462Y1 (de) * 1967-03-15 1970-05-13
JPS5168270A (ja) * 1974-12-10 1976-06-12 Fujitsu Ltd Piikudenatsukei
FR2314699A1 (fr) * 1975-06-19 1977-01-14 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'analyse pour tomographie a rayons x par transmission
US4117332A (en) * 1976-02-26 1978-09-26 Varian Associates, Inc. Circuit for linearizing the response of an electron capture detector
JPS53148372A (en) * 1977-05-31 1978-12-23 Ricoh Co Ltd Integrating circuit

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1095407B (de) * 1959-06-20 1960-12-22 Physikalisch Tech Werkstaetten Geraet zum Messen ionisierender Strahlen
DE2616652B2 (de) * 1975-04-16 1980-12-11 C.G.R.-Mev, Paris Anordnung zur Kontrolle der von einer Strahlungsquelle gelieferten Strahlendosis
US4134018A (en) * 1976-07-06 1979-01-09 Siemens Aktiengesellschaft Tomographic apparatus for producing transverse layer images
DE2926902A1 (de) * 1979-07-03 1981-01-22 Siemens Ag Dosismesseinrichtung
DE3001131A1 (de) * 1980-01-14 1981-07-16 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor
DE3112016A1 (de) * 1981-03-26 1982-10-14 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Roentgendiagnostikeinrichtung zur untersuchung mehrerer schichten eines aufnahmeobjektes

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Elektronik, 1966, H. 7, S. 231 und 232 *
Regelungstechnische Praxis und Prozeß-Rechentech- nik, H. 3, 1971, S. M 24 *
Tietze/Schenk "Halbleiter-Schaltungstechnik", 3. Aufl. 1974, S. 238-243 *

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57179771A (en) 1982-11-05
US4454423A (en) 1984-06-12
JPH072985U (ja) 1995-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3544187A1 (de) Kapazitaetsmessschaltung
DE4113033A1 (de) Integrierbare leitfaehigkeitsmessvorrichtung
DE3116072A1 (de) Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor
DE2153754B2 (de)
EP1671142B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum messen einzelner zellenspannungen in einem zellenstapel eines energiespeichers
EP0154033A1 (de) Prüfverfahren für Gleichstromquellen wie Akkumulatoren, Batterien oder dgl. und Prüfgerät
DE3214299A1 (de) Geraet zur bestimmung eines fluoreszierenden gases
EP0543053A1 (de) Schaltungsanordnung für eine Vorrichtung zur Messung der Stärke des Stroms einer elektrische Ladungen enthaltenden Flüssigkeit
EP0376024A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Bauteiltoleranzen bei der Verarbeitung von Signalen
DE112019006320T5 (de) Sensor-anordnung und verfahren zur dunkelzählungsauslöschung
DE10001340A1 (de) Verfahren zur Meßfehlerkompensation bei der Stromerfassung in einem Energiespeicher
EP0743528A2 (de) Vorrichtung zum Messen der Netzspannung fuer Schienenfahrzeuge
DE1950196A1 (de) Sauerstoff-Messfuehler
DE2418395B2 (de) Schaltungsanordnung zur verarbeitung von ausgangssignalen eines fotoelektrischen wandlers eines photometers
EP0209711A1 (de) Messeinrichtung zum Messen des Verformungsvermögens von roten Blutkörperchen
DE2707153C3 (de) Einrichtung zur Untersuchung von in einer Flüssikeit suspendierten Teilchen nach ihrer Größe
DE2845728A1 (de) Einrichtung zur verstaerkung einer impulsspannung mit driftkorrektur
DE3001131A1 (de) Schaltungsanordnung fuer einen strahlendetektor
DE2760460C2 (de)
DE19626492C2 (de) Schaltungsanordnung zum Erfassen zeitlicher Änderungen des an einer SO-Schnittstelle von einem Teilnehmerendgerät aus einer Stromversorgungseinrichtung entnommenen Stroms
DE2462252C3 (de) Anordnung mit einem Hochspannungsmeßkondensator
DE1938076C3 (de) Einrichtung zur Überprüfung des Ladezustandes von Akkumulatoren
DE2140387C3 (de)
DE2430907C3 (de) Schaltungsanordnung zum Feststellen von Änderungen der Impedanz biologischer Objekte
DE2357195C3 (de) Verfahren zur Prüfung des Teilungsverhältnisses eines Hochspannungsteilers und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens

Legal Events

Date Code Title Description
8120 Willingness to grant licences paragraph 23
8110 Request for examination paragraph 44
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: ANALOGIC CORP., PEABODY, MASS., US

8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: WALLACH, C., DIPL.-ING. KOCH, G., DIPL.-ING. HAIBA

8131 Rejection