DE3109644A1 - Programmierbare ablaufsteuerung - Google Patents
Programmierbare ablaufsteuerungInfo
- Publication number
- DE3109644A1 DE3109644A1 DE19813109644 DE3109644A DE3109644A1 DE 3109644 A1 DE3109644 A1 DE 3109644A1 DE 19813109644 DE19813109644 DE 19813109644 DE 3109644 A DE3109644 A DE 3109644A DE 3109644 A1 DE3109644 A1 DE 3109644A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test
- sequence control
- delay time
- sequence
- comparison
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
- G05B19/0428—Safety, monitoring
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
- G05B19/0426—Programming the control sequence
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/20—Pc systems
- G05B2219/23—Pc programming
- G05B2219/23454—Execute program in fast mode, real system has no time to respond
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
- Programmierbare Ablaufsteuerung
- Stand der Technik Die Erfindung geht aus von einer programmierbaren Ablaufsteuerung nach der Gattung des Hauptanspruchs. Eine solche Ablaufsteuerung ist z.B. aus der DE-OS 2 812 242 bekannt, bei der während des Programmablaufs an einer Stelle eine Verzögerungszeit wirksam ist, die im Vergleich zu den unterschiedlichen-Durchlaufzeiten von Ablaufwegen so lang ist, daß die Gesamtdurchlaufzeit im wesentlich konstant ist. Eine solche konstante Gesamtdurchlaufzeit ist wichtig, um auch bei Programmänderungen und Sprüngen zwischen Teilprogrammen in einem festen Zeittakt arbeiten zu können.
- Diese Hinzufügung einer relativ langen Verzögerungszeit hat jedoch den Nachteil, daß die Prüfzeiten bei der Prüfung der Schaltkreise nach der Herstellung unangenehm lang werden.
- Vorteile der Erfindung Die erfindungsgemäße Ablaufsteuerung mit den kennzeichnenden Merkmalen des Hauptanspruchs hat demgegenüber den Vorteil, daß bei Anlegen eines Prüfsignals während der Tests diese Verzögerungszeit überbrückbar ist, so daß sich schnelle Prüfzeiten ergeben.
- Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen der im Hauptanspruch angegebenen Ablaufsteuerung möglich. Ist die Ablaufsteuerung als Mikrorechner ausgebildet, so ist das Prüfsignal vorteilhaft an einem Testpin anlegbar, wobei dem die Verzögerungszeit bewirkenden Programmteil ein Entscheidungsprogrammteil vorgeschaltet ist, durch das in Abhängigkeit des Vorhandenseins eines Testpinsignals der Verzögerungszeit-Programmteil überbrückbar ist.
- Weiterhin ist es besonders vorteilhaft, zum Prüfen zwei Ablaufsteuerungen parallel mit einer Prüfsteuerung zu beaufschlagen, wobei eine der Ablaufsteuerungen bereits geprüft ist und als sogenannte Master-Steuerung wirkt. Eine vorzugsweise aus Antivalenzgattern bestehende Vergleichsanordnung prüft, ob beide Ablaufsteuerungen dieselben Ausgangssignale abgeben. Dieser Vergleich.-kann natürlich auch durch ein Vergleichsprogramm in der Prüfsteuerung erfolgen.
- Zeichnung Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigen Figur 1 ein Flußdiagramm zur Erläuterung der Wirkungsweise und Figur 2 ein Blockschaltbild des Ausführungsbeispiels mit zwei parallel geschalteten Ablaufsteuerungen.
- Beschreibung der Ausführungsbeispiele In dem in Figur 1 dargestellten Flußdiagramm stellt der Programmteil 10 die Summe aller Programmablaufwege der Ablaufsteuerung dar; Es kann sich hierbei um Unterprogramme, Nebenprogramme, Programmschleifen usw. handeln, wie dies im angegebenen Stand der Technik näher ausgeführt wird.
- Danach wird im Programmteil 11 abgefragt, ob ein-Prüfsignal an einem Testpin anliegt. Ein solcher Testpin kann z.B.
- eine Eingangsklemme eines Mikrorechners sein, es kann sich jedoch auch - z.B. bei einer diskreten Schaltung einer Ablaufsteuerung - um den Steueranschluß eines Umschalters handeln. Liegt ein solches Prüfsignal nicht vor, was gewöhnlich der Fall ist, so wird die durch das Programmteil 12 vorgegebene Verzögerungszeit wirksam.
- Diese Verzögerungszeit ist lang im Vergleich zur Durchlaufzeit aller Ablaufwege 10 der Ablaufsteuerung. Ist diese Summe der Durchlaufzeiten z.B. lms, so sollte die Verzögerungszeit etwa 20 ms betragen. Tritt dann z.B, eine Verdoppelung der Summe der Durchlaufzeiten der Ablaufwege 10 auf, so ergibt sich für die Gesamtiurchlaufzeit lediglich eine Abweichung von 5 %. Sie bleibt dadurch im wesentlichen konstant. Soll nun die Ablaufsteuerung nach ihrer Fertigung geprüft werden, so wird ein Prüfsignal an den Testpin gelegt. Im Programm wird dadurch das Programmteil 12 mit der Zeitverzögerung übersprungen und direkt zum Programmteil 10 zurückgekehrt. Bei einem Prüfprogramm von vielen tausend Zyklen macht sich diese zeitliche Verkürzung deutlich bemerkbar.
- Die in Figur 2 dargestellte Schaltungsausführung zeigt zwei vorzugsweise als Mikrorechner ausgebildete Ablaufsteuerungen 13, 14, die parallel über jeweils n-Eingänge mit einem Prüfprogramm beaufschlagt werden, das in einer vorzugsweise als Test-Mikrorechner ausgebildeten Steuerung 15 erzeugt wird. Die jeweils n-Eingänge der Ablaufsteuerung 13, 14 sind dabei über Dioden 16 bis 19 entkoppelt, von denen zur Vereinfachung nur vier dargestellt sind. Die Prüfsteuerung 15 ist weiterhin mit je einem Testpin 20, 21 der Ablaufsteuerungen 13, 14 verbunden. Diese Testpins 20, 21 sind jeweils-über einen Widerstand 22, 23 mit der Versorgungsspannung verbunden. Sich entsprechende Ausgänge der Ablaufsteuerungen 13, 14 sind mit Antivalenzgattern (exklusive Or) 24, 25 verbunden, deren Ausgänge einem ODER-Gatter 26 zugeführt sind. Der Ausgang des ODER-Gatters 26 ist mit dem Setzeingang S eines Flipflops 27 verbunden, dessen Ausgang eine z.B. als Leuchtdiode ausgebildete Kontrolleinrichtung 28 steuert. Über eine Klemme 29 ist das Flipflop 27 rücksetzbar.
- Die geprüfte (Master-)Ablaufsteuerung 13 sowie die zu prüfende (Slave-)Ablaufsteuerung 14 werden simultan mit einem Prüfprgramm durch die Prüfsteuerung 15 beaufschlagt.
- Diese gibt gleichzeitig O-Signale auf die Prüfpins 20, 21, wodurch programmgesteuert in den beiden Ablaufsteuerungen 13, 14 die Verzögerungszeit durch Überspringen des Programmteils 12 überbrückt wird. Liegt ke-in Fehler vor, so müssen die Ablaufsteuerungen 13, 14 gleichartige Ausgangssignalfolgen erzeugen, die durch die Antivalenzgatter 24, 25 geprüft werden. Sollten an zweisic-h entsprechenden Ausgängen der Ablaufsteuerungen 13, 14 unterschiedliche Signale erzeugt werden, so wird am- entsprechenden Antvalenzgatter 24 bzw. 25 ausgangsseitig ein 1-Signal erzeugt, durch das über das ODER-Gatter 26 das Flipflop 27 gesetzt wird. Die Kontrolleinrichtung 28 zeigt dann einen Fehler an. Für einen erneuten Prüfzyklus muß dann das Flipflop 27 über die Klemme 29 wieder rückgesetzt werden.
- Anstelle der Anordnung 24 bis 27 kann die Überprüfung der Ausgänge der Ablaufsteuerungen 13, 14 auch durch ein Zusatzprogramm in der Prüfsteuerung 15 erfolgen.
- Dieses Prüfprogramm muß die entsprechenden Funktionen aufweisen. Die Ausgänge der Ablaufsteuerungen 13, 14 sind in diesem Fall mit der Prüfsteuerung 15 verbunden.
- Leerseite
Claims (5)
- Ansprüche Programmierbare Ablaufsteuerung, bei der während des Ablaufs an einer Stelle eine Verzögerungszeit wirksam ist, die im Vergleich zu den unterschiedlichen Durchlaufzeiten von Ablaufwegen so lang ist, daß die Gesamtdurchlaufzeit im wesentlichen konstant ist, dadurch gekennzeichnet, daß zur Verkürzung von Prüfzeiten durch ein Prüfsignal die Verzögerungszeit überbrückbar ist.
- 2. Pro-grammierbare Ablaufsteuerung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Prüfsignal an einem Testpin (20 bzw. 21) der als Mikrorechner ausgebildeten Ablaufsteuerung (13 bzw. 14) anlegbar ist und daß dem die Verzögerungszeit bewirkenden Programmteil (12) ein Entscheidungsprogrammteil (11) vorgeschaltet ist, durch das in Abhängigkeit des Vorhandenseins eines Prüfsignals der Verzögerungszeit-Programmteil (12) überbrückbar ist.
- 3. Programmierbare Ablaufsteuerung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zum Prüfen zwei (Master und Slave-)Ablaufsteuerungen (13, 14) parallel durch eine Prüfsteuerung (15) beaufschlagbar sind und daß eine Vergleichsanordnung (24 bis 27) mit den Ausgängen der Ablaufsteuerungen (13, 14) verbunden ist.
- 4. Programmierbare Ablaufsteuerung nach-Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsanordnung (24 bis 27) aus einer Gatterschaltung, vorzugsweise Antivalenzgattern (24, 25) besteht.
- 5. Programmierbare Ablaufsteuerung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsanordnung durch ein Vergleichsprogramm in der Prüfsteuerung (15) realisiert ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813109644 DE3109644A1 (de) | 1981-03-13 | 1981-03-13 | Programmierbare ablaufsteuerung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19813109644 DE3109644A1 (de) | 1981-03-13 | 1981-03-13 | Programmierbare ablaufsteuerung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3109644A1 true DE3109644A1 (de) | 1982-09-23 |
DE3109644C2 DE3109644C2 (de) | 1989-10-19 |
Family
ID=6127136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19813109644 Granted DE3109644A1 (de) | 1981-03-13 | 1981-03-13 | Programmierbare ablaufsteuerung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3109644A1 (de) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2812242A1 (de) * | 1978-03-21 | 1979-10-04 | Bosch Gmbh Robert | Programmierbare ablaufsteuerung |
-
1981
- 1981-03-13 DE DE19813109644 patent/DE3109644A1/de active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2812242A1 (de) * | 1978-03-21 | 1979-10-04 | Bosch Gmbh Robert | Programmierbare ablaufsteuerung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3109644C2 (de) | 1989-10-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2723707C2 (de) | Schaltung zur Erzeugung nicht-überlappender Taktimpuls-Züge | |
DE3225455A1 (de) | Verfahren zum sicheren betrieb eines redundanten steuersystems und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE2639323A1 (de) | System zur fehleranalysierung bei gedruckten schaltungsplatinen | |
DE68925994T2 (de) | Programmgesteurte In-circuit-Prüfung von Analogdigitalwandlern | |
DE3702408C2 (de) | ||
DE10138556C1 (de) | Verfahren zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern einer Schaltung und entsprechende Testvorrichtung | |
DE4215740A1 (de) | Testvorrichtung fuer analog/digital-wandler | |
DE19536226C2 (de) | Testbare Schaltungsanordnung mit mehreren identischen Schaltungsblöcken | |
DE102014014309B4 (de) | Verfahren zum Testen eines Signalpfades | |
DE19512131A1 (de) | Halbleiter-Testgerät | |
DE69027545T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Frequenzwechsel | |
DE19734486C2 (de) | Photomasken-Prüfgerät und Verfahren zum Prüfen von Photomasken | |
EP1430320B1 (de) | Elektronischer baustein und verfahren zu dessen qualifizierungsmessung | |
DE3109644A1 (de) | Programmierbare ablaufsteuerung | |
DE112006003430T5 (de) | Prüfvorrichtung und Stiftelektronikkarte | |
DE102009000477A1 (de) | Frequenzeigenschaftsmessvorrichtung | |
DE19755666B4 (de) | Integrierte Schaltung mit eingebauten Digital-Analog-Wandler | |
DE3638256A1 (de) | Schaltung zur erzeugung kuenstlicher fehler fuer eine datenverarbeitungsanlage | |
DE10392393T5 (de) | Halbleiterprüfvorrichtung und Zeitmessverfahren hierfür | |
DE602005005084T2 (de) | Testfähige integrierte schaltung | |
DE10040050A1 (de) | Prümodul | |
EP1075663B1 (de) | Verfahren zum testen einer integrierten schaltungsanordnung und integrierte schaltungsanordnung hierfür | |
EP0656590B1 (de) | Messvorrichtung zum Testen der Verbindungen zwischen wenigstens zwei Baugruppen | |
DE3230208C2 (de) | ||
DE4400101C1 (de) | I¶D¶¶D¶-Testvorrichtung für CMOS-ICs |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |