DE3042650A1 - Verfahren und vorrichtung zum herstellen von optischen massstaeben und massstab hergestellt nach dem verfahren - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum herstellen von optischen massstaeben und massstab hergestellt nach dem verfahren

Info

Publication number
DE3042650A1
DE3042650A1 DE19803042650 DE3042650A DE3042650A1 DE 3042650 A1 DE3042650 A1 DE 3042650A1 DE 19803042650 DE19803042650 DE 19803042650 DE 3042650 A DE3042650 A DE 3042650A DE 3042650 A1 DE3042650 A1 DE 3042650A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
coating
laser
substrate
electron beam
scale
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19803042650
Other languages
English (en)
Inventor
Peter A. Dr. Maienfeld Fink
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Elesta AG
Original Assignee
Elesta AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elesta AG filed Critical Elesta AG
Publication of DE3042650A1 publication Critical patent/DE3042650A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D13/00Component parts of indicators for measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D13/02Scales; Dials
    • G01D13/04Construction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/02Rulers with scales or marks for direct reading
    • G01B3/04Rulers with scales or marks for direct reading rigid
    • GPHYSICS
    • G12INSTRUMENT DETAILS
    • G12BCONSTRUCTIONAL DETAILS OF INSTRUMENTS, OR COMPARABLE DETAILS OF OTHER APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G12B11/00Indicating elements; Illumination thereof
    • G12B11/02Scales; Dials
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41MPRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M5/00Duplicating or marking methods; Sheet materials for use therein
    • B41M5/24Ablative recording, e.g. by burning marks; Spark recording
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41MPRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
    • B41M5/00Duplicating or marking methods; Sheet materials for use therein
    • B41M5/26Thermography ; Marking by high energetic means, e.g. laser otherwise than by burning, and characterised by the material used

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Description

  • Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen von optischen
  • Maßstäben und Maßstab hergestellt nach dem Verfahren.
  • Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen von optischen Massstäben und Massstab hergestellt nach dem Verfahren Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Herstellen von optischen Massstäben.
  • Optische Massstäbe werden vielfach zur Steuerung von erkzeugmaschinen verwendet. Bei einem bekannten Verfahren zur Herstellung von optischen Massstäben wird das in der Regel aus Glas bestehende, durchsichtige Substrat mit einer säureresistenten Schicht bedeckt. Die einzelnen Teilstriche werden dann in diese Schicht eingeritzt, worauf dann durch Aetzen der eigentliche Messtrich auf der Glasoberfläche gebildet wird. Dieses Verfahren hat unter anderem den Nachteil, dass beim Ritzen feine Späne entstehen, die unter Umständen auf dem Teilstrich liegen bleiben und damit ein Aetzen verhindern.
  • Wenn es gelingt, einen solchen Massstab von hoher Genauigkeit und mit praktisch fehlerfreien Teilstrichen zu erzeugen, kann dieser als Original zur Herstellung von weiteren Massstäben auf optischem Wege dienen. Bei soqenannten Kontaktverfahren wird der Originalmassstab auf ein weiteres Substrat, das eine lichtempfindliche Schicht aufweist, aufgelegt, worauf dann die Belichtung erfolgt und somit das Strichmuster auf das Substrat fotografisch übertragen wird. Durch die anschliessenden Entwicklungsvorgänge wird dann ein Massstab erzeugt, der eine Kopie des Originals darstellt.
  • Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Verfahren zur Herstellung eines optischen Massstabes zu schaffen, durch welches ein Massstab mit sauberen und genauen Teilstrichen rationell erzeugbar ist.
  • Gemäss der Erfindung wird dies dadurch erreicht, dass auf ein Substrat eine Beschichtung aufgetragen wird und dass dann mittels eines Laser- oder Elektronenstrahls eine Markierung durch lokales Verdampfen oder Umwandeln der Schicht erzeugt wird. Die Verwendung eines Laser- oder Elektronenstrahls hat den Vorteil, dass das Beschichtungsmaterial in der Gegend der Markierung verdampft und somit keine störenden Späne oder dergleichen übrig bleiben. Bei der Verwendung einer geeigneten Beschichtung kann nachher die Markierung durch Aetzen auf die Substratoberfläche direkt übertragen werden. Es kann aber auch eine optisch wirksame Schicht verwendet werden, z. B. eine lichtundurchlässige Schicht, so dass die Strichmarkierungen dann als lichtdurchlässige Stellen erscheinen. In diesem Falle ist der Massstab grundsätzlich ohne weitere Fertigungsvorgänge verwendbar. Statt einer lichtundurchlässigen Beschichtung ist es auch möglich., eine lichtstreuende oder eine polarisierende Beschichtung zu verwenden. Es ist dann lediglich darauf zu achten, dass bei der Verwendung des Massstabes das optische Abtastorgan entsprechend ausgebildet ist, um die Markierungen festzustellen.
  • Vorteilhaft wird die Beschichtung aus Wismut und Selen im Mischungsverhältnis zwischen 2,5 zu 1 und 3,5 zu 1 aufgedampft. Bei einer solchen Beschichtung liegt die Verdampfungstemperatur sehr günstig, so dass ein Laser mit relativ kleiner Leistung Anwendung finden kann. Die bei der Verdampfung entstehende Wärme ist dabei so gering, dass die Genauigkeit des Massstabes dadurch nicht beeinträchtigt wird. Auch können hohe Herstellungsgeschwindigkeiten erzielt werden.
  • Der zur Herstellung des Massstabes verwendete Laser- oder Elektronenstrahl ist vorteilhaft fokussiert. Dies ist beispielsweise zur Erzielung der notwendigen Energiedichte im Bereich der zu bearheitenden Beschichtung von Vorteil.
  • Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens, welche gekennzeichnet ist durch eine Einrichtung zur Erzeugung eines Laser- oder Elektronenstrahls, dessen optische Achse praktisch senkrecht auf die Beschichtung des Substrats gerichtet ist, eine Fokussiereinrichtung, und einer Vorschubvorrichtung zur Erzeugung einer Relativbewegung zwischen dem eine Beschichtung aufweisenden Substrat und der optischen Achse. Mit einer solchen Vorrichtung lässt sich ein optischer Massstab auf verhältnismässig einfache Weise herstellen.
  • Es ist möglich, dass die Vorschubvorrichtung aus optischen Mitteln besteht, mit welchen die optische Achse relativ zum Substrat verschoben wird. Dies hat den Vorteil, dass keine oder nur kleine mechanische Bewegungen notwendig sind.
  • Zweckmässigerweise weist die Vorschubvorrichtung einen Schlitten zur Aufnahme des.beschichteten Substrats auf und ist über eine Kugelrollspindel von einem Motor antreibbar, Bei dieser Ausgestaltung kann die Einrichtung zur Erzeugung eines Laser- oder Elektronenstrahls stationär bleiben, was für die Erzielung hoher Präzision von Vorteil ist.
  • Die Fokussiereinrichtung weist vorteilhaft eine Zylinderlinse auf. Dies hat den Vorteil, dass bei der Herstellung der Markierung keine Bewegungen ausgeführt werden müssen, wie dies beispielsweise bei der Herstellung eines Teilstriches mit einer Nadel bei herkömmlichen Verfahren der Fall ist. Auch dies trägt zur Erhöhung der Präzision bei, denn die ganze Vorrichtung bleibt bei der Herstellung erschütterungsfrei.
  • Gemäss einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist ein Ouervorschub vorgesehen, mit welchem eine weitere, zur ersten Relativbewegung quer gerichtete Relativbewegung zwischen dem beschichteten Substrat und der optischen Achse erzeugbar ist.
  • Diese Ausbildung ist zweckmässig, wenn aus irgendwelchen Gründen keine Zylinderlinse zur Herstellung eines Teilstriches verwendet werden kann. Da aber keine starken mechanischen Einwirkungen auf das Substrat erfolgen, wie dies das Wegkratzen einer Schicht durch eine Nadel darstellt, werden dennoch Vorteile gegenüber dem herkömmlichen Verfahren erzielt.
  • Es können aber auch Mittel zur Ablenkung des Laser- oder Elektronenstrahls quer zur ersten Relativbewegung vorgesehen werden. Als solche Mittel kommen Spiegel bzw. elektro- oder elektronenoptische Mittel in Frage, wobei letztere besonders vorteilhaft sind, weil dann keinerlei mechanische Bewegungen notwendig sind.
  • Mit Vorteil wird eine Anzahl von Einrichtungen zur Erzeugung eines Laser- oder Elektronenstrahls längs des Substrats angeordnet. Auf diese Weise ist es möglich, an mehreren Stellen des Massstabes gleichzeitig Markierungen anzubringen, so dass die Herstellungsgeschwindigkeit erheblich erhöht wird.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf die Zeichnung beschrieben. Es zeigt: Fig. 1 ein erstes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zum Herstellen von optischen Massstäben, wobei eine Zylinderlinse verwendet wird, um einen im Querschnitt strichförmigen Strahl zu erzeugen, Fig. 2 ein zweites Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zur Herstellung von optischen Massstäben, bei welcher zur Herstellung eines Teilstrichs der Laserstrahl verschoben wird, Fig. 3 ein drittes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zur Herstellung von optischen Massstäben, bei welcher ein Spiegel bewegt wird, um eine Auslenkung des Laserstrahls zu bewirken, Fig. 4 einen mit dem erfindungsgemässen Verfahren hergestellten optischen Massstab und Fig. 5 einen Querschnitt durch den Massstab von Figur 4, wobei noch ein mit dem Massstab luftdicht verbundene Abdeckung vorgesehen ist.
  • Die in Figur 1 dargestellte Vorrichtung zum Herstellen von optischen Massstäben besitzt einen Laser 11, der über ein optisches System einen Laserstrahl 13 auf ein Substrat 15, z.B. aus Glas, lenkt, das an der Oberfläche eine Beschichtung 16 aufweist. Das Substrat 15 ist auf einem Schlitten 17 befestigt, der mit einem Schrittschaltmotor 19 und einer Kugelrollspindel 21 auf einer Führung 23 in Längsrichtung des Massstabs verschoben werden kann. Das optische System besteht aus einer Kollimatorlinse 25, einer Zylinderlinse 27, einem Spiegel 29 und einer Fokussierlinse 31. Durch die Zylinderlinse 27 wird ein Lichtstrahl erzeugt, der nach der Fokussierung durch die Linse 13 einen strichförmigen Querschnitt besitzt. Beim Einschalten des Lasers 11 wird daher durch den Laserstrahl eine strichförmige Markierung durch lokales Verdampfen oder Umwandeln der auf dem Substrat 15 angebrachten Schicht 16 erzeugt. Nach der Erzeugung eines Striches macht der Schrittschaltmotor 19 einen Schritt, so dass über die Spindel 21 der Schlitten 17 um den Teilabstand zwischen zwei Strichen bewegt wird. In solcher Weise wird ein Teilstrich nach dem andern auf dem Substrat 15 erzeugt und eine optischer Massstab hergestellt, wie er beispielsweise in Figur 4 dargestellt ist, wo auch die als Teilstriche ausgebildeten Markierungen 14 ersichtlich sind.
  • Die Markierungen 14 können sich, wie in Figur 5 gezeigt wird, in einem Hohlraum 18 des Massstabes befinden. Zu diesem Zweck ist auf dem Substrat 15 ein Deckel 20, z.B. durch Kleben, luftdicht angebracht. Durch diesen Deckel 20 wird ein Verschmutzen oder Verstauben der Teilstriche 14 vermieden. Der Deckel 20 kann sich bereits bei der Herstellung der Teilstriche auf dem Substrat 15 befinden, in welchem Falle der Laserstrahl 13 entweder durch den Deckel 20 oder das Substrat 15 hindurch auf die Schicht 16 gelenkt wird, um durch lokales Verdampfen oder Umwandeln dieser Schicht eine Markierung 14 zu erzeugen.
  • Je nach der Art der Schicht 16 stellt der entfernte Teil 14 der Schicht die entgültige Markierung dar oder ermöglicht die Ausbildung einer Markierung durch eine nachfolgende Behandlung, z.B. Aetzen. Wenn ein Aetzen vorgesehen wird, wird die Beschichtung 16 säurefest ausgeführt.
  • Bei der in Figur 5 dargestellten Ausführungsform des Massstabes besteht die Schicht 16 vorteilhaft aus einer optisch undurchsichtigen Schicht aus Wismut und Selen. Die beiden Stoffe Wismut und Selen werden vorteilhaft gleichzeitig als amorphe Schicht in einem Mischungsverhältnis zwischen 2,5 zu 1 und 3,5 zu 1 aufgedampft. Bei einer solchen Schicht liegt die Verdampfungstemperatur sehr günstig, so dass ein Laser mit relativ kleiner Leistung Anwendung finden kann und durch die bei der Verdampfung entstehenden Wärme die Genauigkeit des Massstabes nicht beeinträchtigt wird.
  • Die Vorrichtung von Figur 2 ist ähnlich aufgehaut wie jene von Figur 1, wobei aber Mittel vorgesehen sind, um einen Teil des optischen Systems seitlich zu verschieben. Es findet somit nicht nur eine Relativbewegung zwischen dem eine Beschichtung aufweisenden Substrat und der optischen Achse in Längsrichtung des Massstabes statt, sondern auch eine quergerichtete Relativbewegung zwischen dem beschichteten Substrat und der optischen Achse. Währenddem die erstgenannte Relativbewegung durch einen in Figur 1 dargestellten Vorschubmechanismus bestehend aus Schrittschaltmotor 19 und Spindel 21 erzeugt wird, erfolgt die zweitgenannte Relativbewegung, namlich die Querbewegung zur Erzeugung eines Striches 14, durch einen Motor 33, der über eine Spindel 35 die Linse 31 und gegebenenfalls auch den Spiegel 29 verschiebt. Bei genügend grossem Spiegel 29 ist jedoch dessen Bewegung nicht notwendig.
  • Bei einer weiteren Ausführungsform der Vorrichtung, die in Figur 3 gezeigt ist, wird die Querbewegung der optischen Achse 30 durch die Bewegung des Spiegels 29 erreicht. Zu diesem Zweck wirkt der Motor 33 mit der Spindel 35 auf den Spiegel 29, der dann um die Achse 37 verschwenkt wird.
  • Es ist dem Fachmann ersichtlich, dass verschiedene Modifikationen durchgeführt werden können, ohne vom Erfindungsgedanken abzuweichen. So kann beispielsweise bei der Vorrichtung von Figur 1 der Spiegel 29 entfallen, wenn der Laser 11 senkrecht angeordnet wird. Dasselbe trifft auch für die Vorrichtung gemäss Figur 2 zu, wenn der Laser 11 entweder einen genügend breiten Strahl erzeugt oder zusammen mit der Linse 31 durch den Quervorschub 33, 35 bewegbar angeordnet wird.

Claims (16)

  1. Patentansprüche Verfahren zum Herstellen von optischen Massstäben, dadurch gekennzeichnet, dass auf ein Substrat (15) eine Beschichtung aufgetragen wird und dass dann mittels eines Laser-oder Elektronenstrahls (13) eine Markierung (14) durch lokales Verdampfen oder Umwandeln der Beschichtung (16) erzeugt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung aus Wismut und Selen im Mischungsverhält nis zwischen 2,5 zu 1 und 3,5 zu 1 aufgedampft wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung (16) optisch wirksam ist.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung (16) lichtundurchlcissig ist.
  5. 5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung (16) lichtstreuend ist.
  6. 6. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung (16) polarisierend ist.
  7. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser- oder Elektronenstrahl (13) fokussiert ist.
  8. 8. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (11) zur Erzeugung eines Laser- oder Elektronenstrahls (13), dessen optische Achse (30) praktisch senkrecht auf die Beschichtung (16) des Substrats (15) gerichtet ist, eine Fokussiereinrichtung (31) und eine Vorschubvorrichtung (17,19,21) zur Erzeugung einer Relativbewegung zwischen dem eine Beschichtung (16) aufweisenden Substrat (15) und der optischen Achse (30).
  9. 9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorschubvorrichtung aus optischen Mitteln besteht, mit welchen die optische Achse verschoben wird.
  10. 10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorschubvorrichtung einen Schlitten (17) zur Aufnahme des beschichteten Substrats (15) aufweist und über eine I£ugelrollssindel (21) mit einem Motor (19) antreibbar ist.
  11. 11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Fokussiereinrichtung eine Zylinderlinse (27) aufweist.
  12. 12. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass ein Quervorschub (33, 35) vorgesehen ist, mit welchem eine weitere, zur ersten Relativbewegung quer gerichtete Relativbewegung zwischen dem beschichteten Substrat (15) und der optischen Achse (30) erzeugbar ist.
  13. 13. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, gekennzeichnet durch Mittel (33, 35) zur Ablenkung des Laser- oder Elektronenstrahls quer zur ersten Relativbewegung.
  14. 14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass eine Anzahl von Einrichtungen (11) zur Erzeugung eines Laser- oder Elektronenstrahls längs des Substrats angeordnet ist.
  15. 15. Massstab hergestellt nach dem Verfahren nach Anspruch 1.
  16. 16. Massstab nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass sich die Markierungen (14) in einem Hohlraum (18) im Innern des Massstabes befinden.
DE19803042650 1979-11-16 1980-11-12 Verfahren und vorrichtung zum herstellen von optischen massstaeben und massstab hergestellt nach dem verfahren Ceased DE3042650A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH1023579A CH643941A5 (en) 1979-11-16 1979-11-16 Method and device for producing optical scales, and scale produced according to the method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3042650A1 true DE3042650A1 (de) 1981-05-27

Family

ID=4360931

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19803042650 Ceased DE3042650A1 (de) 1979-11-16 1980-11-12 Verfahren und vorrichtung zum herstellen von optischen massstaeben und massstab hergestellt nach dem verfahren

Country Status (2)

Country Link
CH (1) CH643941A5 (de)
DE (1) DE3042650A1 (de)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3416013A1 (de) * 1984-04-30 1985-11-07 Volker Dipl.-Ing. 3548 Arolsen Meywald Verfahren und vorrichtung zur herstellung von laengenmessgeraeten
DE3620233A1 (de) * 1986-06-16 1987-12-17 Schroeder Michael Verfahren zur kennzeichnung von im heissen zustand befindlicher werkstuecke
DE4008398A1 (de) * 1990-03-16 1991-09-19 Messer Griesheim Gmbh Verfahren zum beschriften oder markieren
DE4022745A1 (de) * 1990-07-18 1992-01-23 Hans Lang Gmbh & Co Kg Ing Verfahren zum anbringen von konfigurationen, wie schriften, bildern o. dgl., auf der rueckseite eines spiegels
DE4413575A1 (de) * 1993-04-19 1994-10-20 Olympus Optical Co Verfahren zur Herstellung eines optischen Elements
DE19608937A1 (de) * 1995-03-10 1996-09-12 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren zum Herstellen eines Markierungsträgers
DE10258522A1 (de) * 2002-12-14 2004-07-01 Volkswagen Ag Verfahren zum Markieren einer Verbundglasscheibe und Verbundglasscheibe mit Markierung
EP1469969A2 (de) 2002-01-18 2004-10-27 Renishaw plc Lasermarkierung
WO2005017949A2 (en) * 2003-08-19 2005-02-24 Nawotec Gmbh Method for high-resolution processing of thin layers with electron beams
EP1719972A1 (de) * 2005-05-02 2006-11-08 Cordis Corporation Verfahren zur Erfassung von Probendeformationen und System zur Kennzeichnung der Proben
US7148447B2 (en) 2001-03-29 2006-12-12 Gsi Group Corporation Method and apparatus for laser marking by ablation
US7723639B2 (en) 2001-11-15 2010-05-25 Renishaw Plc Substrate treatment device and method and encoder scale treated by this method
US7786403B2 (en) 2003-08-28 2010-08-31 Nawo Tec Gmbh Method for high-resolution processing of thin layers using electron beams
DE102010026773A1 (de) * 2010-07-10 2012-01-12 Gm Global Technology Operations Llc (N.D.Ges.D. Staates Delaware) Skalenelement für ein Anzeigeinstrument, Kombiinstrument und Fahrzeug mit einem Skalenelement
DE112006002720B4 (de) * 2005-10-11 2014-11-20 Gsi Group Corp. Optische Messskala und laserbasierte Erstellungsmethode dafür

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1574687A1 (de) * 1968-02-06 1970-07-16 Bosch Gmbh Robert Aufzeichnungstraeger zur Aufzeichnung von Informationen durch modulierte Lichtstrahlen
AT284483B (de) * 1967-08-10 1970-09-10 Wenczler & Heidenhain Geätzte Meßteilung und Verfahren zu deren Herstellung
US3807037A (en) * 1972-11-30 1974-04-30 Us Army Pocketable direct current electroluminescent display device addressed by mos and mnos circuitry

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT284483B (de) * 1967-08-10 1970-09-10 Wenczler & Heidenhain Geätzte Meßteilung und Verfahren zu deren Herstellung
DE1574687A1 (de) * 1968-02-06 1970-07-16 Bosch Gmbh Robert Aufzeichnungstraeger zur Aufzeichnung von Informationen durch modulierte Lichtstrahlen
US3807037A (en) * 1972-11-30 1974-04-30 Us Army Pocketable direct current electroluminescent display device addressed by mos and mnos circuitry

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3416013A1 (de) * 1984-04-30 1985-11-07 Volker Dipl.-Ing. 3548 Arolsen Meywald Verfahren und vorrichtung zur herstellung von laengenmessgeraeten
DE3620233A1 (de) * 1986-06-16 1987-12-17 Schroeder Michael Verfahren zur kennzeichnung von im heissen zustand befindlicher werkstuecke
DE4008398A1 (de) * 1990-03-16 1991-09-19 Messer Griesheim Gmbh Verfahren zum beschriften oder markieren
DE4022745A1 (de) * 1990-07-18 1992-01-23 Hans Lang Gmbh & Co Kg Ing Verfahren zum anbringen von konfigurationen, wie schriften, bildern o. dgl., auf der rueckseite eines spiegels
US5843321A (en) * 1993-04-19 1998-12-01 Olympus Optical Company, Ltd. Method of manufacturing optical element
DE4413575A1 (de) * 1993-04-19 1994-10-20 Olympus Optical Co Verfahren zur Herstellung eines optischen Elements
DE4413575B4 (de) * 1993-04-19 2005-09-29 Olympus Corporation Verfahren zur Herstellung eines optischen Elements
DE19608937C2 (de) * 1995-03-10 1998-01-15 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren zum Herstellen eines Markierungsträgers
DE19608937A1 (de) * 1995-03-10 1996-09-12 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren zum Herstellen eines Markierungsträgers
US7148447B2 (en) 2001-03-29 2006-12-12 Gsi Group Corporation Method and apparatus for laser marking by ablation
US7723639B2 (en) 2001-11-15 2010-05-25 Renishaw Plc Substrate treatment device and method and encoder scale treated by this method
US10982334B2 (en) 2001-11-15 2021-04-20 Renishaw Plc Substrate treatment device and method and encoder scale treated by this method
US8466943B2 (en) 2002-01-18 2013-06-18 Renishaw Plc Laser marking
US8987633B2 (en) 2002-01-18 2015-03-24 Renishaw Plc Laser marking
EP1469969A2 (de) 2002-01-18 2004-10-27 Renishaw plc Lasermarkierung
CN1314511C (zh) * 2002-01-18 2007-05-09 瑞尼斯豪公司 用于度量刻度尺的激光标记的方法、设备及度量刻度尺
EP1469969B1 (de) * 2002-01-18 2011-08-17 Renishaw plc Lasermarkierung
DE10258522A1 (de) * 2002-12-14 2004-07-01 Volkswagen Ag Verfahren zum Markieren einer Verbundglasscheibe und Verbundglasscheibe mit Markierung
DE10258522B4 (de) * 2002-12-14 2014-11-13 Volkswagen Ag Verfahren zum Markieren einer Verbundglasscheibe und Verbundglasscheibe mit Markierung
WO2005017949A2 (en) * 2003-08-19 2005-02-24 Nawotec Gmbh Method for high-resolution processing of thin layers with electron beams
WO2005017949A3 (en) * 2003-08-19 2005-07-14 Nawotec Gmbh Method for high-resolution processing of thin layers with electron beams
US7786403B2 (en) 2003-08-28 2010-08-31 Nawo Tec Gmbh Method for high-resolution processing of thin layers using electron beams
EP1719972A1 (de) * 2005-05-02 2006-11-08 Cordis Corporation Verfahren zur Erfassung von Probendeformationen und System zur Kennzeichnung der Proben
DE112006002720B4 (de) * 2005-10-11 2014-11-20 Gsi Group Corp. Optische Messskala und laserbasierte Erstellungsmethode dafür
US8931428B2 (en) 2010-07-10 2015-01-13 GM Global Technology Operations LLC Scale element for a display instrument, instrument cluster and vehicle with a scale element
DE102010026773A1 (de) * 2010-07-10 2012-01-12 Gm Global Technology Operations Llc (N.D.Ges.D. Staates Delaware) Skalenelement für ein Anzeigeinstrument, Kombiinstrument und Fahrzeug mit einem Skalenelement

Also Published As

Publication number Publication date
CH643941A5 (en) 1984-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3332838C2 (de) Lasergraviervorrichtung
DE2246152C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum gegenseitigen Ausrichten von Halbleiterplättchen und Masken
DE3042650A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum herstellen von optischen massstaeben und massstab hergestellt nach dem verfahren
DE60307322T2 (de) Verfahren und anordnung zum bestrahlen einer schicht mittels eines lichtpunkts
EP0173849B1 (de) Laserstrahl-Lithograph
DE2121098C3 (de) Lichtsetzeinrichtung
DE3207467C2 (de)
DE1960959A1 (de) Verfahren zur Herstellung von polymeren Druckplatten
DE2536263A1 (de) Anordnung zum orten von teilen, zum ausrichten von masken und zum feststellen der richtigen ausrichtung einer maske
DE2845603A1 (de) Verfahren und einrichtung zum projektionskopieren
WO2002044771A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung eines koppelgitters für einen wellenleiter
DE2439987A1 (de) Verfahren zum ausrichten von objekten durch elektrooptische vorrichtungen
DE69724331T2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Düsenkörpers und Arbeitsgerät
EP0019721A1 (de) Optische Projektionseinrichtung zum Ausrichten eines Projektionsbildes auf einer Oberfläche
EP0746800B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur photomechanischen herstellung strukturierter oberflächen, insbesondere zum belichten von offsetdruckplatten
DE3910048C2 (de)
DE2820482C2 (de) Vorrichtung zum Scharfeinstellen eines optischen Auslesesystems
DE3734438A1 (de) Verfahren zur herstellung eines reflexionshologramms
DE2411508C2 (de) Vorrichtung zum Erzeugen von Masken für Mikroschaltkreise
DE3242002C2 (de)
DE1765145A1 (de) Verfahren zum Bearbeiten duenner Schichten mit Laserstrahlen
DE2018725A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstel-IHBf Hugn§sMtirc-r§rr8o"!; Culver City, Calif. (V.St.A.)
DE3933065A1 (de) Laser-abtastvorrichtung zum passiven facettenabtasten
WO2005031465A2 (de) Immersions-lithographie-verfahren und vorrichtung zum belichten eines substrats
DE4127919A1 (de) Lichtaufzeichnungsvorrichtung mit im durchmesser veraenderbaren aufzeichnungspunkten

Legal Events

Date Code Title Description
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: SCHWABE, H., DIPL.-ING. SANDMAIR, K., DIPL.-CHEM.

8110 Request for examination paragraph 44
8131 Rejection