DE3003717A1 - Verfahren zum herstellen von grossflaechigem silicium - Google Patents

Verfahren zum herstellen von grossflaechigem silicium

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DE3003717A1
DE3003717A1 DE19803003717 DE3003717A DE3003717A1 DE 3003717 A1 DE3003717 A1 DE 3003717A1 DE 19803003717 DE19803003717 DE 19803003717 DE 3003717 A DE3003717 A DE 3003717A DE 3003717 A1 DE3003717 A1 DE 3003717A1
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silicon
inert gas
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DE19803003717
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Dr.phil.nat. Konrad 8011 Vaterstetten Reuschel
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Siemens AG
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Siemens AG
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/36Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method characterised by the seed, e.g. its crystallographic orientation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/005Simultaneous pulling of more than one crystal

Description

  • Verfahren zum Herstellen -ngroßflächiaem Silicium.
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von großflächigem Silicium, bei dem dendritische Keimkristalle in eine Schmelze eingetaucht werden und aus der anschließend unterkühlten Schmelze die Keimkristalle mit einer solchen Geschwindigkeit gezogen werden, daß sich zwischen den sich an den Keimkristallen bildenden Dendriten Schwimmhäute ausbilden.
  • Zur Herstellung von Solarzellen aus Silicium, die die direkte Umwandlung von Sonnenenergie in elektrische Energie ermöglichen, wird aus wirtschaftlichen Gründen als Ausgangsmaterial möglichst großflächiges, kostengünstig zu gewinnendes Silicium benötigt. Will man aus Gründen des Wirkungsgrades von einkristallinem Silicium ausgehen, so ist man bei nach herkömmlichen Verfahren, wie Tiegelzieh- oder Zonenschmelzverfahren, hergestelltem Silicium Jedoch auf Scheibendurchmesser in der Größenordnung von 15 cm beschränkt.
  • Aus der DE-PS 12 46 683 ist nun ein Verfahren zur Herstellung eines langgestreckten Körpers aus einem Halbleitermaterial, welches in der kuoischen Diamantgitterstruktur kristallisiert, bekannt, bei dem der langgestreckte Körper aus mindestens zwei parallelen, langgestreckten, dendritischen Kristallen besteht, die durch einen dünnen Stegteil, der sich entlang der Länge des Körpers zwischen den dendritischen Kristallen erstreckt, kristallographisch zu einem einheitlichen Körper verbunden sind. Bei diesem Verfahren wird das Halbleitermaterial zunächst aufgeschmolzen und ein dendritischer Kristallkeim für eine Zeit, die nötig ist, um ihn mit dem geschmolzenen Material zu benetzen, mit der Oberfläche der Schmelze in Berührung gebracht. In einem zweiten Schritt wird mindestens der Teil der Schmelze, der mit dem Kristallkeim in Berührung steht, unterkühlt und mit so niedriger Ziehgeschwindigkeit gearbeitet, daß am Keim mindestens zwei Dendrite parallel zueinander und senkrecht zur Oberfläche der Schmelze wachsen und daß sich stegartig zwischen diesen Dendriten Material der Schmelze in ebener, einkristalliner Schicht verfestigt. Diese ebene Schicht wird auch als "Schwimmhaut" oder "web" bezeichnet.
  • Nach dem aus der DE-PS 12 46 683 bekannten Verfahren können Halbleiterkörper mit Längen von einigen Metern hergestellt werden. Die Breite dieser Halbleiterkörper ist begrenzt. Sie beträgt wenige cm. Meist liegt sie zwischen 20 und 40 mm,vorwiegend bei 25 mm. Dies liegt u. a. daran, daß sich bei größeren Breiten keimbildende Verunreinigungen wie z. B. Siliciummonoxid störend bemerkbar machen.
  • Die Erfindung macht sich diese Erkenntnisse zunutze und löst die gestellte Aufgabe der Herstellung von großflächigem, kostengünstigem Silicium dadurch, daß zwei oder mehr-dendritische, parallele Zwillingsebenen aufweisende Keimkristalle verwendet werden, daß die Keimkristalle in einer Reihe senkrecht zur Oberfläche der Schmelze und parallel zueinander in einem Kristallhalter gehaltert werden und daß die Keimkristalle im Keimkristallhalter so justiert werden, daß sie die gleiche kristallographische Orientierung aufweisen. Auf diese Weise gelingt es, plattenförmiges Silicium mit mehr als einem Meter Länge und mehr als 75 mm Breite herzustellen.
  • Es liegt im Rahmen der Erfindung, daß drei bis zehn Keimkristalle verwendet werden, daß der Abstand zwischen zwei Keimkristallen 0,5 bis 7,5 cm beträgt, daß eine Ziehgeschwindigkeit von 0,6 bis 10 cm/min eingestellt wird, daß die Keimkristalle mit einer F11ß-Ebene senkrecht zur Oberfläche der Schmelze und mit einer 1:21'1 -Ebene parallel zur Oberfläche der Schmelze orientiert werden, daß der Ziehraum mit einer Inertgasmenge gespült wird und daß die Spülmenge so eingestellt wird, daß mindestens pro Minute das Volumen des durchströmenden Spülgases dem des Ziehraumes entspricht.
  • Erfindungsgemäß kann der Ziehvorgang auch unter Inertgas vorgenommen werden, wobei das Inertgas unter Uberdruck steht, und der Überdruck 10-200, vorzugsweise 50 Torr beträgt.
  • Das nach dem erfindungsgemäßen Verfahren erhaltene Silicium kann in vorteilhafter Weise zur Herstellung von großflächigen Solarzellen verwendet werden, da eine mechanische Behandlung des Siliciums weitgehend entfällt und die eine größere Dicke als die Schwimmhäute aufweisenden Dendriten die Stabilität der hergestellten Siliciumfläche wirksam verstärken.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren wird im folgenden anhand zweier Figuren näher erläutert Die Figuren zeigen schematisch den Ziehvorgang in unterschiedlichen Verfahrensstadien.
  • Eine zur Durchführung des Verfahrens verwendete Kristallziehapparatur ist aus Gründen der Übersichtlichkeit nicht dargestellt. Es kann bei entsprechender Änderung des Keimkristallhalters und der Form des Schmelztiegels beispielsweise die in der DE-PS 12 46 683 verwendete Kristallziehapparatur zur Anwendung kommen. Um keimbildende Verunreinigungen in der Schmelze zu vermeiden, sollte der Ziehraum ständig mit Inertgas gespült werden, wobei vorteilhafterweise das Gas von unten in den Ziehraum einströmt und diesen oberhalb des Schmelztiegels verläßt. Die Spülmenge des Gases ist variabel; vorteilhaft ist es, sie so zu wählen, daß sie dabei pro Minute mindestens dem Volumen des Ziehraumes entspricht und einen Uberdruck von etwa 10-200 Torr aufweist.
  • Zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens werden zunächst die Keimkristalle 4 in den z. B. aus Edelstahl oder Tantal hergestellten Keimkristallhalter 3 orientiert eingesetzt und Justiert. Die Keimkristalle 4 können beispielsweise durch Zersägen eines vorher gezüchteten langen Dendriten gewonnen werden. Sie werden - wie in der Fig. 1 dargestellt - kammformig in einer Reihe im Keimkristallbalter 3 in der Weise angeordnet, daß sie parallel zueinander und senkrecht zur Oberfläche der Schmelze 1 stehen. Dabei werden sie so justiert, daß sie die gleiche kristallographische Orientierung aufweisen. Der Abstand zwischen zwei benachbarten Keimkristallen muß nicht gleich sein, er beträgt vorteilhafterweise 0,5 bis 7,5 cm. Die so angeordneten Keimkristalle 4 werden durch Absenken des Keimkristallhalters 3 mit ihren Enden in die in einem beispielsweise aus Quarz bestehenden Schmelztiegel 2 befindliche und auf eine Temperatur etwas oberhalb des Schmelzpunktes von Silicium erhitzte Siliciumschmelze 1 getaucht.
  • Nachdem die Kristallkeime 4 ausreichend mit dem geschmolzenen Material benetzt sind, wird durch rasche Unterkühlung der Schmelze 1 das Wachstum der dendritischen Keime eingeleitet. Sobald sich die Keimkristalle 4 an der Stelle, an der sie in die Schmelze 1 eintauchen, knopfartig verdicken, werden sie durch Anheben des Keimkristallhalters 3 mit einer Ziehgeschwindigkeit, die vorzugsweise im Bereich zwischen 0,6 und 10 cm/min gewählt wird, aus der Schmelze 1 gezogen. Durch rechtzeitiges Einleiten des Ziehvorgangs ist zu vermeiden, daß die sich an den Enden der einzelnen Keime 4 aus- bildenden knopfartigen Verdickungen 5 sich gegenseitig berühren.
  • Wie aus der Fig. 2 ersichtlich, bilden sich beim Ziehvorgang an dem zum benachbarten Keim 4 hin bzw. von ihm wegorientierten schmalen Enden der knopfartigen Verdickungen 5 abwärtsgerichtete Dendritenpaare 6 und 7, wobei der Bereich zwischen Jedem der benachbarten Dendriten mit einer Schwimmhaut 8 ausgefüllt ist.
  • Das so hergestellte, im wesentlichen plattenförmige Silicium kann Längen von einem oder mehreren Metern haben. Es eignet sich direkt, d. h., ohne weitere Zerteilung, als Ausgangsmaterial für die Solarzellenherstellung. Dabei ist ein besonderer Vorteil, daß die Dendriten 6, 7, die in der Regel eine Dicke von 0,5 bis 2 mm aufweisen, für eine erhebliche Stabilität der Siliciumfläche sorgen. Die Dicke der Schwimmhaut kann durch Variation der Ziehgeschwindigkeit zwischen 10 und 700/um variiert werden. Vorteilhafterweise wird sie im Bereich zwischen 150 und 450/um gewählt. Dabei ist auch eine gute Ausnutzung des eingesetzten Siliciums gegeben.
  • Beispiel: In einer ständig mit Argon, das einen Überdruck von 50 Torr aufweist, gespUlten Tiegelziehapparatur wird die Siliciumschmelze 15 Minuten lang etwa 10OOC über den Schmelzpunkt von 1420°C erhitzt und dann auf eine Temperatur wenige Grad über den Schmelzpunkt abgekühlt.
  • Fünf dendritische, parallele Zwillingsebenen aufweisende Keimkristalle werden kammförmig senkrecht zur Oberfläche der Schmelze und parallel zueinander im Keimkristallhalter mit 17 mm Abstand angeordnet und so Justiert, daß die Keime die gleiche kristallographische Orientierung aufweisen, wobei eine parallel zu den Zwillingsebenen liegende P Ebene senkrecht zu der Oberfläche der Schmelze und eine zu der E111j Ebene senkrecht stehende 21 -Ebene parallel zu der Oberfläche der Schmelze liegen. Die Enden der Kristallkeime werden in die Siliciumschmelze eingetaucht, so daß sie etwa 1 Minute lang vom flüssigen Silicium benetzt werden. Anschließend wird die Temperatur der Schmelze 0 innerhalb weniger Sekunden um etwa 10 C erniedrigt.
  • Sobald an der Stelle, an der die Keime in die Schmelze eintauchen, knopfartige Verdickungen sichtbar werden wird der Antrieb der Ziehvorrichtung eingeschaltet, die Ziehgeschwindigkeit beträgt dabei etwa 2,5 cm/min. An den zum Nachbarkristall hin gerichteten Enden der knopfartigen Verdickungen bilden sich abwärtsgerichtete Dendritenpaare. Der Bereich zwischen Jedem der benachbarten Dendriten ist mit einer Schwimmhaut ausgefüllt. Das auf diese Weise hergestellte in etwa plattenförmige Silicium ist etwa 78 mm breit und 1 m lang. Die Breite der Dendriten beträgt etwa 2,3 mm, die Dendritendicke 1,2 mm und die Dicke der Schwimmhaut etwa 300/um.
  • 10 Patentansprüche 2 Figuren

Claims (10)

  1. Patentansprüche 1. Verfahren zum Herstellen von großflächigem Silicium, bei dem dendritische Keimkristalle in eine Schmelze eingetaucht werden und aus der anschließend unterkühlten Schmelze die Keimkristalle mit einer solchen Geschwindigkeit gezogen werden, daß sich zwischen den sich an den Keimkristallen bildenden Dendriten Schwimmhäute ausbilden, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , daß zwei oder mehr dendritische, parallele Zwillingsebenen aufweisende Keimkristalle verwendet werden, daß die Keimkristalle in einer Reihe senkrecht zur Oberfläche der Schmelze und parallel zueinander in einem Keimkristallhalter gehaltert werden und daß die Keimkristalle im Keimkristallhalter so Justiert werden, daß sie die gleiche kristallographische Orientierung aufweisen.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z ei c h ne t , daß 3 bis 10 Keimkristalle verwendet werden.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß der Abstand zwischen zwei Keimkristallen 0,5 bis 7,5 cm beträgt.
  4. 4. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 3, da du r c h g e k e n n z e i c h n e t daß eine Ziehgeschwindigkeit von 0,6 bis 10 cm/min eingestellt wird.
  5. 5. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 4, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß die Keimkristalle mit einer rJ11?1-Ebene senkrecht zur Oberfläche der Schmelze und mit einer 02110 -Ebene parallel zur Oberfläche der Schmelze orientiert werden.
  6. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß der Ziehraum mit einer Inertgasmenge gespült wird.
  7. 7. Verfahren nach Anspruch 6, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß die Spülgasmenge so eingestellt wird, daß mindestens pro Minute das Volumen des durchströmenden Spülgases dem des Ziehraums entspricht.
  8. 8. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß der Ziehvorgang unter Inertgas vorgenommen wird, wobei das Inertgas unter Ueberdruck steht.
  9. 9. Verfahren nach Anspruch 8, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , daß das Inertgas einen Überdruck von 10-200, vorzugsweise 50 Torr aufweist.
  10. 10. Verwendung des nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 9 erhaltenen Siliciums zur Herstellung von groB-flächigen Solarzellen.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4617084A (en) * 1983-07-29 1986-10-14 Commissariat A L'energie Atomique Process for the production of metallic or semimetallic shaped elements
US4659421A (en) * 1981-10-02 1987-04-21 Energy Materials Corporation System for growth of single crystal materials with extreme uniformity in their structural and electrical properties

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US4659421A (en) * 1981-10-02 1987-04-21 Energy Materials Corporation System for growth of single crystal materials with extreme uniformity in their structural and electrical properties
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