DE2945377A1 - Verfahren zur untersuchung von mustern - Google Patents

Verfahren zur untersuchung von mustern

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Description

Kudan Sanzen Building, 2-5-9, Kudanminami,
Chiyoda-ku,
Tokio / Japan
Verfahren zur Untersuchung von Mustern
Die Erfindung betrifft allgemein ein Musterunterscheidungs-Verfahren und bezieht sich mehr im einzelnen auf ein Verfahren zur Musterunterscheidung, das mit einer automatischen Revisionsfunktion ausgestattet ist, die eine Unterscheidung mit hoher Genauigkeit ermöglicht.
Herkömmliche Musterunterscheidungs-Systeme führen bekanntlich Untersuchungen von Mustern (Untersuchungsgegenständen) durch, wie allgemein in Figur 1 dargestellt, wobei ein zu untersuchender Gegenstand 1 mit einem allgemein stetigen Licht von einer Lichtquelle 3 bestrahlt wird, die von einer stabilisierten Energiequelle 2 mit Energie versorgt wird, und eine Kamera. 4 wie zum Beispiel eine Fernsehkamera das Bild des untersuchten Gegenstandes 1 auffängt, das photoelektrisch in ein entsprechendes Signal verwandelt und von der Kamera 4 zu einem Musterunterscheidungs-System 5 gesandt wird, um das Muster des Gegenstandes 1 zu unterscheiden. Bei solchen herkömmlichen Musterunterscheidungs-Systemen sind jedoch Veränderungen der Eingangsdaten zu dem Musterunterscheidungs-System 5 mit dem Fortschreiten der Zeit unvermeidlich, obwohl der untersuchte Gegenstand
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der gleiche (der gleiche Typ) ist. Anders ausgedrückt ist, obwohl Energie von der stabilisierten Energiequelle 2 an die Lichtquelle 3 geliefert wird, das abgestrahlte Licht von der Lichtquelle 3 nicht immer konstant, und außerdem zeigt die Kamera 4 einige Veränderungen in ihrem Videosignal unter dem Einfluß von Drift, Umgebungstemperatüränderungen und dgl. . Dementsprechend werden die Entscheidungen durch das Musterunterscheidungs-System 5 ebenfalls unvermeidlich durch derartige Veränderungen beeinflußt, und das Fehlentscheidungsverhältnis für die Unterscheidung nimmt zu.
Indessen wird bemerkt, daß solche normalen Umgebungstemperaturänderungen oder Kameradrifts ziemlich allmählich mit der Zeit fortschreiten, so daß, falls es sich um lange Zeitspannen handelt, die Änderungen in der Differenz zwischen dem untersuchten Gegenstand und dem Normalgegenstand aufgrund solcher Änderungen oder Drift nicht vernachlässigt werden können, aber für sehr kurze Zeitspannen, oder falls eine fortlaufende Unterscheidung der untersuchten Gegenstände durchgeführt wird, kann, da die oben erwähnten Änderungen der Differenz sehr klein sind, diese Differenz als Folge von Änderungen mit der Zeit angesehen werden.
Daher ist - in Anerkennung dieses Punktes - ein Gegenstand der Erfindung die Schaffung eines Musterunterscheidungs-Verfahrens, das mit einer automatischen Revisionsfunktion ausgestattet ist, welche eine Zunahme des Fehlentscheidungsverhältnisses bei dem Musterunterscheidungs-System vermeidet, indem solche Änderungen in dem Ausgangsvideosignal von einer Kamera, die durch Umgebungstemperatüränderungen und andere Änderungen beeinflußt sind, absorbiert werden.
Entsprechend einem Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zur Unterscheidung von Mustern geschaffen, welches entscheidet, daß ein zu untersuchender Gegenstand von dem gleichen
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Typ ist, wenn die Differenz zwischen den Daten des untersuchten Gegenstandes und früher gespeicherten Daten eines Normalgegenstandes innerhalb eines vorbestimmten Wertes liegt, welches Verfahren dadurch gekennzeichnet ist, daß die Differenz zwischen den Daten des zu untersuchenden Gegenstandes und den früher gespeicherten Daten des Normalgegenstandes mit einem vorbestimmten Schwellenwert verglichen wird, und daß die gespeicherten Daten des Normalgegenstandes durch die Daten des untersuchten Gegenstandes revidiert werden, wenn die genannte Differenz kleiner ist als der Schwellenwert.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beschrieben. Es zeigt:
Figur 1 ein schematisches Blockdiagramm, das ein Beispiel eines herkömmlichen Musterunterscheidungs-Systems zeigt τ
Figuren 2 und 3 Flußdiagramme, die zur Erläuterung der Erfindung verwendet werden.
Einzelheiten eines Beispiels für die Erfindung werden nachfolgend anhand des Flußdiagramms in Figur 2 beschrieben. Wenn die Verarbeitung von Daten in dem Musterunterscheidungs-System 5 durch einen Startbefehl begonnen wird, wird die Aufnahme von Daten von der Kamera 4 gestartet, welche Daten einem zu untersuchenden Gegenstand entsprechen, und als nächster Schritt wird die Differenz zwischen solchen aufgenommenen Daten und den Daten eines anwendbaren sehr nahekommenden Normalgegenstandes kalkuliert, die vorher gespeichert worden sind, und wenn die Differenz zwischen den gespeicherten Daten und den aufgenommenen Daten größer ist als ein vorbestimmter Wert oder ein bestimmter Schwellenwert A, wird ein Nichtübereinstimmungssignal abgegeben. Wenn
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andererseits die Differenz zwischen den gespeicherten Daten des anwendbaren Normalgegenstandes und den aufgenommenen Daten kleiner ist als der Schwellenwert A, wird ein Übereinstimmungssignal abgegeben. Als weiterer Schritt wird eine Untersuchung vorgenommen, ob die Differenz zwischen den gespeicherten Daten und den aufgenommenen Daten kleiner ist als ein gesondert vorbestimmter Wert oder Schwellenwert B oder nicht, und wenn die Differenz innerhalb des Schwellenwertes B liegt, wird die anwendbare gespeicherte Information bzw. werden die gespeicherten Daten durch den aufgenommenen Dateninhalt revidiert. In der gleichen Hinsicht wird, wenn die Differenz zwischen den gespeicherten Daten und den aufgenommenen Daten größer ist als der Schwellenwert B, keine Revision der gespeicherten Daten vorgenommen.
Durch das Musterunterscheidungsverfahren der Erfindung, das mit den oben erwähnten Funktionen ausgestattet ist, ist es trotz Auftreten von Änderungen in der Umgebungstemperatur oder von Kameradrift und dgl., die zu dem Zeitablauf in Beziehung stehen, deshalb, weil diese Änderungen der Differenzen aus diesen Gründen in kurzen Zeitspannen sehr klein sind, durch Festlegen des Schwellenwertes B auf einen geeigneten Wert möglich, solche Änderungen von Differenzen zu absorbieren, und die Musterunterscheidung kann mit großer Zuverlässigkeit durchgeführt werden.
Figur 3 stellt ein Flußdiagramm dar, um ein anderes Beispiel für die Erfindung zu erläutern; in diesem Fall wird, wenn die Differenz zwischen den aufgenommenen Daten und den gespeicherten Daten eines verwendbaren Normalgegenstandes, wie anhand von Figur 2 erläutert, kleiner ist als der Schwellenwert A, das Übereinstimmungssignal abgegeben, und es wird eine weitere Prüfungsfunktion vorgenommen, um diese Differenz mit dem Durchschnitt χ einer vorbestimmten Anzahl vergangener Daten mit dem Schwellenwert B zu vergleichen, der in
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Übereinstimmung mit der so berechneten Differenz χ verstellt wird, um die anwendbaren Speicherdaten zu revidieren. Auf diese Weise wird die Zuverlässigkeit der Entscheidung weiter erhöht.
Es leuchtet ein, daß viele Modifikationen und Variationen von einem Fachmann vorgenommen werden könnten, ohne von dem Gedanken oder Rahmen der Erfindung abzuweichen, so daß diese nur durch die Ansprüche bestimmt werden sollten.
Der Patentanwalt
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Claims (2)

  1. Kudan Sanzen Building, 2-5-9, Kudanminami,
    Chiyoda-ku,
    Tokio / Japan
    Ansprüche:
    Verfahren zur Untersuchung von Mustern, welches entscheidet, daß ein zu untersuchender Gegenstand von dem gleichen Typ ist, wenn die Differenz zwischen den Daten des untersuchten Gegenstandes und früher gespeicherten Daten eines Normalgegenstandes innerhalb eines vorbestimmten Wertes liegt, dadurch gekennzeichnet , daß die Differenz zwischen den Daten des zu untersuchenden Gegenstandes und den früher gespeicherten Daten des Normal gegenstandes mit einem vorbestimmten Schwellenwert verglichen wird, und daß die gespeicherten Daten des Normalgegen standes durch die Daten des untersuchten Gegenstandes revidiert werden, wenn die Differenz kleiner ist als der Schwellenwert.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein anderer Schwellenwert verwendet wird, um zu entscheiden, ob eine Revision der bereits als Normalgegenstand gespeicherten Daten vorzunehmen ist oder nicht, anhand der Ergebnisse vergangener Entscheidungen.
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    ORIGINAL INSPECTED
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3141017A1 (de) * 1980-10-15 1982-06-09 Omron Tateisi Electronics Co., Kyoto Identifikationseinrichtung
EP0128288A1 (de) * 1983-06-08 1984-12-19 International Business Machines Corporation Verfahren und System zur selbstanpassbaren Einzelworterkennung
EP0202404A1 (de) * 1985-04-19 1986-11-26 Siemens Aktiengesellschaft System zur Erkennung einzeln gesprochener Wörter
EP0403983A2 (de) * 1989-06-19 1990-12-27 Nippon Conlux Co., Ltd. Vorrichtung und Verfahren zum Überprüfen eines papierartigen Stückes
DE4110649A1 (de) * 1991-04-02 1992-10-22 Telefonbau & Normalzeit Gmbh Fernsehueberwachungsanlage
DE19603766A1 (de) * 1996-02-02 1997-08-07 Christian Gieselmann Verfahren zum Erkennen gerichteter Bewegungen sowie Alarmanlage zur Durchführung des Verfahrens
US6356650B1 (en) 1997-05-07 2002-03-12 Siemens Ag Method for computer-adaptation of a reference data set on the basis of at least one input data set
EP0781439B2 (de) † 1994-09-09 2010-03-24 MEI, Inc. Vorrichtung zum prüfen von wertgegenständen und verfahren zum kalibrieren einer solchen vorrichtung

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5785180A (en) * 1980-11-17 1982-05-27 Fujitsu Ltd Graphic form recognizing method and its device
DE3138710A1 (de) * 1981-09-29 1983-04-21 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur verringerung der rate falscher zurueckweisungen in einem sicherheits- und schluesselsystem, das persoenliche merkmale der zutrittsuchenden zur verifikation verwendet
JPS5975357A (ja) * 1982-10-22 1984-04-28 Hitachi Ltd 画像処理装置
SE8304117L (sv) * 1983-07-22 1985-01-23 Tord Wadell Forfarande och anordning for beroringsfri identifiering och strukturbeskrivning av virke
JPS60149508U (ja) * 1984-03-15 1985-10-04 トヨタ車体株式会社 クリツプを有する係止構造
JPS61155843A (ja) * 1984-12-28 1986-07-15 Toshiba Corp 放射線検査装置
US4760604A (en) * 1985-02-15 1988-07-26 Nestor, Inc. Parallel, multi-unit, adaptive, nonlinear pattern class separator and identifier
US5054093A (en) * 1985-09-12 1991-10-01 Cooper Leon N Parallel, multi-unit, adaptive, nonlinear pattern class separator and identifier
US5077807A (en) * 1985-10-10 1991-12-31 Palantir Corp. Preprocessing means for use in a pattern classification system
US5060277A (en) * 1985-10-10 1991-10-22 Palantir Corporation Pattern classification means using feature vector regions preconstructed from reference data
US4773099A (en) * 1985-10-10 1988-09-20 The Palantir Corporation Pattern classification means for use in a pattern recognition system
EP0247163B1 (de) * 1985-11-27 1992-02-05 Trustees Of Boston University System zur musterkodierung
JP2517036B2 (ja) * 1985-11-27 1996-07-24 ザ・トラステイ−ズ・オブ・ボストン・ユニバ−シテイ パタ―ン認識システム及び方法
JPS6410381A (en) * 1987-07-03 1989-01-13 Hitachi Ltd Document input system
US5072452A (en) * 1987-10-30 1991-12-10 International Business Machines Corporation Automatic determination of labels and Markov word models in a speech recognition system
US5103485A (en) * 1988-03-29 1992-04-07 Canon Kabushiki Kaisha Pattern information reading apparatus
US5210797A (en) * 1989-10-30 1993-05-11 Kokusan Kinzoku Kogyo Kabushiki Kaisha Adaptive dictionary for a fingerprint recognizer
GB8926739D0 (en) * 1989-11-27 1990-01-17 De La Rue Syst Improvements relating to verification or authentication processing
KR950000493B1 (ko) * 1990-01-10 1995-01-24 가부시키가이샤 도시바 반도체펠렛의 검출방법
US5052043A (en) * 1990-05-07 1991-09-24 Eastman Kodak Company Neural network with back propagation controlled through an output confidence measure
US5201395A (en) * 1990-09-27 1993-04-13 Oki Electric Industry Co., Ltd. Bill examination device
JP3088171B2 (ja) * 1991-02-12 2000-09-18 三菱電機株式会社 自己組織型パタ−ン分類システム及び分類方法
AT397049B (de) * 1991-12-05 1994-01-25 Maximilian Kriegl Vorrichtung zum abtrennen von teilchenartigem material
JP3252381B2 (ja) * 1992-09-08 2002-02-04 ソニー株式会社 パターン認識装置
FR2712080B1 (fr) * 1993-11-04 1995-12-08 Cogema Méthode de contrôle de l'état de surface d'une face d'un solide et dispositif associé.
US5544260A (en) * 1994-07-12 1996-08-06 International Business Machines Corporation Silent training by error correction for on-line handwritting recognition systems
US5971128A (en) * 1994-09-09 1999-10-26 Mars, Incorporated Apparatus for validating items of value, and method of calibrating such apparatus
DE19604241C2 (de) * 1995-02-09 1999-09-30 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Vorrichtung zum Prüfen der Druckgüte
US7305122B2 (en) * 2002-08-13 2007-12-04 Lockheed Martin Corporation Method and computer program product for identifying and correcting systematic noise in a pattern recognition system
US20040042650A1 (en) * 2002-08-30 2004-03-04 Lockheed Martin Corporation Binary optical neural network classifiers for pattern recognition
JP2005128956A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Pentax Corp 被写体判定プログラム及びデジタルカメラ
GB0402421D0 (en) * 2004-02-04 2004-03-10 Ashbourn Julian M D Automatic performance calibration (APC) for biometric devices
US7412842B2 (en) 2004-04-27 2008-08-19 Emerson Climate Technologies, Inc. Compressor diagnostic and protection system
US7275377B2 (en) 2004-08-11 2007-10-02 Lawrence Kates Method and apparatus for monitoring refrigerant-cycle systems
US8590325B2 (en) 2006-07-19 2013-11-26 Emerson Climate Technologies, Inc. Protection and diagnostic module for a refrigeration system
US20080216494A1 (en) 2006-09-07 2008-09-11 Pham Hung M Compressor data module
JP4893278B2 (ja) * 2006-12-01 2012-03-07 日本電気株式会社 証紙識別システム及び証紙識別方法
US20090037142A1 (en) 2007-07-30 2009-02-05 Lawrence Kates Portable method and apparatus for monitoring refrigerant-cycle systems
US9140728B2 (en) 2007-11-02 2015-09-22 Emerson Climate Technologies, Inc. Compressor sensor module
JP5640574B2 (ja) * 2010-09-01 2014-12-17 ヤマハ株式会社 端末装置
US9285802B2 (en) 2011-02-28 2016-03-15 Emerson Electric Co. Residential solutions HVAC monitoring and diagnosis
US8964338B2 (en) 2012-01-11 2015-02-24 Emerson Climate Technologies, Inc. System and method for compressor motor protection
US9310439B2 (en) 2012-09-25 2016-04-12 Emerson Climate Technologies, Inc. Compressor having a control and diagnostic module
US9551504B2 (en) 2013-03-15 2017-01-24 Emerson Electric Co. HVAC system remote monitoring and diagnosis
AU2014229103B2 (en) 2013-03-15 2016-12-08 Emerson Electric Co. HVAC system remote monitoring and diagnosis
US9803902B2 (en) 2013-03-15 2017-10-31 Emerson Climate Technologies, Inc. System for refrigerant charge verification using two condenser coil temperatures
EP2981772B1 (de) 2013-04-05 2022-01-12 Emerson Climate Technologies, Inc. Wärmepumpensystem mit kühlmittelladungsdiagnostik

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3623015A (en) * 1969-09-29 1971-11-23 Sanders Associates Inc Statistical pattern recognition system with continual update of acceptance zone limits
DE1574932A1 (de) * 1962-10-30 1973-04-19 Ibm Verfahren und vorrichtung zur automatischen zeichenerkennung

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3191149A (en) * 1962-01-15 1965-06-22 Ibm Specimen identification apparatus with means for altering stored specimen reference functions
GB1006418A (en) * 1963-04-29 1965-09-29 Ibm Adaptive recognition system
US3333248A (en) * 1963-12-20 1967-07-25 Ibm Self-adaptive systems
US3457552A (en) * 1966-10-24 1969-07-22 Hughes Aircraft Co Adaptive self-organizing pattern recognizing system
GB1206404A (en) * 1966-12-30 1970-09-23 Emi Ltd Improvements relating to pattern recognition devices
US3581281A (en) * 1967-03-28 1971-05-25 Cornell Aeronautical Labor Inc Pattern recognition computer
US3548202A (en) * 1968-11-29 1970-12-15 Ibm Adaptive logic system for unsupervised learning
CH534927A (de) * 1970-12-07 1973-03-15 Ibm Verfahren zur maschinellen Erkennung von Zeichen
US4201977A (en) * 1975-09-18 1980-05-06 Hajime Industries, Ltd. Data processing and storage system using filtering and sampling techniques
US4040010A (en) * 1975-11-06 1977-08-02 Stanford Research Institute Identification by handwriting verification

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1574932A1 (de) * 1962-10-30 1973-04-19 Ibm Verfahren und vorrichtung zur automatischen zeichenerkennung
US3623015A (en) * 1969-09-29 1971-11-23 Sanders Associates Inc Statistical pattern recognition system with continual update of acceptance zone limits

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3141017A1 (de) * 1980-10-15 1982-06-09 Omron Tateisi Electronics Co., Kyoto Identifikationseinrichtung
EP0128288A1 (de) * 1983-06-08 1984-12-19 International Business Machines Corporation Verfahren und System zur selbstanpassbaren Einzelworterkennung
US4618984A (en) * 1983-06-08 1986-10-21 International Business Machines Corporation Adaptive automatic discrete utterance recognition
EP0202404A1 (de) * 1985-04-19 1986-11-26 Siemens Aktiengesellschaft System zur Erkennung einzeln gesprochener Wörter
EP0403983A2 (de) * 1989-06-19 1990-12-27 Nippon Conlux Co., Ltd. Vorrichtung und Verfahren zum Überprüfen eines papierartigen Stückes
EP0403983A3 (de) * 1989-06-19 1991-05-29 Nippon Conlux Co., Ltd. Vorrichtung und Verfahren zum Überprüfen eines papierartigen Stückes
DE4110649A1 (de) * 1991-04-02 1992-10-22 Telefonbau & Normalzeit Gmbh Fernsehueberwachungsanlage
EP0781439B2 (de) † 1994-09-09 2010-03-24 MEI, Inc. Vorrichtung zum prüfen von wertgegenständen und verfahren zum kalibrieren einer solchen vorrichtung
DE19603766A1 (de) * 1996-02-02 1997-08-07 Christian Gieselmann Verfahren zum Erkennen gerichteter Bewegungen sowie Alarmanlage zur Durchführung des Verfahrens
US6356650B1 (en) 1997-05-07 2002-03-12 Siemens Ag Method for computer-adaptation of a reference data set on the basis of at least one input data set

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5819109B2 (ja) 1983-04-16
DE2945377C2 (de) 1987-11-26
FR2443103B1 (fr) 1987-02-20
GB2035645B (en) 1983-01-19
FR2443103A1 (fr) 1980-06-27
US4451929A (en) 1984-05-29
GB2035645A (en) 1980-06-18
JPS5566068A (en) 1980-05-19

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