DE2932994C2 - Halbleiter-Mikrowellenoszillator - Google Patents
Halbleiter-MikrowellenoszillatorInfo
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- H03B9/12—Generation of oscillations using transit-time effects using solid state devices, e.g. Gunn-effect devices
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- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen Halbleiter-Mikrowellenoszillator
mit einem Hohlraumresonator gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs.
Eine der Hauptschwierigkeiten bei einem im Mikrowellen- oder Millimeterbereich arbeitenden Gerät unter
Verwendung eines Halbleiter-Oszillators, z. B. einer Gunn-Diode und einer IMPATT-Diode, besteht in der
Stabilisierung der Oszillatorfrequenz des Mikrowellen-Halbleiteroszillators mit einfachen Mitteln. Eine aus der
US-PS 40 08 446 bekannte Maßnahme besteht darin, einen Halbleiteroszillator mit einem dielektrischen Hohlraumresonator
mit großer Dielektrizitätskonstante elektromagnetisch zusammenzukoppeln, um dadurch
einen hohen Gütefaktor f<?-Faktor) sowie eine hohe
Stabilität zu erzielen (hohe Stabilität bedeutet hier, daß die Resonanzfrequenz des dielektrischen Hohlraumresonators
einen niedrigen Temperaturkoeffizienten besitzt).
Bei dieser herkömmlichen Auslegung arbeitet der dielektrische Hohlraumresonator im Grenzwellenhohlraum
eines ersten rechteckigen Wellenleiters, und ein zweiter rechteckiger Hohlleiter oder ein Koaxialleiter
sind neben dem Grenzwellenhohlraum angeordnet. Außerdem ist ein Halbleiteroszillatorelement an einem von
zwei Plätzen montiert. Einmal ist er an einem Platz montiert, an welchem er elektromagnetisch an den dielektrischen
Hohlraumresonator innerhalb des zweiten rechteckigen Hohlleiters oder des Koaxialleiters gekoppelt
ist. Alternativ ist er an einem Platz angeordnet, an welchem der Oszillator elektromagnetisch an den dielektrischen
Hohlraumresonator innerhalb des Grenzwellenhohlraumes des ersten rechteckigen Hohlleiters
gekoppelt ist.
Eine Oszillatorleistung mit einer stabilen Oszillatorfrequenz wird von einer externen Schaltung abgegriffen,
die an den Grenzwellenhohlraum angeschlossen ist.
In beiden Fällen ist der dielektrische Hohlraumresonator im Grenzwellenhohlraum des rechteckigen Hohlleiters
angeordnet. Der Grund für die Anordnung des dielektrischen Hohlraumresonators im Grenzwellenhohlraum
des rechteckigen Hohlleiters ist folgender. Innerhalb des Grenzwellenhohlraums besteht nur ein gedämpftes
elektromagnetisches Feld, d. h .lin mit dem Abstand exponentiell abfallendes elektromagnetisches
Feld. Der dielektrische Hohlraumresonator ist nur ein Resonanzkreisbauteil, das an eine externe Schaltung angekoppelt
werden kann. Der dielektrische Hohlraumresonator besitzt die Eigenschaften eines Bandfilters,
wenn er an einer Stelle angeordnet ist an welcher das abfallende elektromagnetische Feld nicht vollständig
abgebaut ist Durch Anordnung des dielektrischen Hohlraumresonators zwischen dem Halbleiteroszillatorelement
und der externen Schaltung kann aus dieser eine elektromagnetische Spannung mit einer Oszillatorfrequenz
abgegriffen werden, die fast ausschließlich durch den dielektrischen Hohlraumresonator gesieuert
wird.
ίο Ein Ausführungsbeispiel der herkömmlichen Auslegungen
eines Halbleiter-Mikrowellenoszillators ist in F i g. 1 a und F i g. 1 b gezeigt F i g. 1 a ist eine Vorderansicht
eines Halbleiter-Mikrowellenoszillators und Fi g. 1 ein Querschnitt längs der Linie A-A der Fi g. la.
Ein bogenförmiger Leiter 5 ist an einer Stelle innerhalb eines Grenzwellenhohlraumes 4 eines rechtwinkligen
Hohlleiters senkrecht zu den //-Ebenen des rechteckigen
Hohlleiters angeordnet An einem Ort zwischen dem säulenförmigen Leiter 5 und der //-Ebene befindet
sich ein Halbleiteroszillatorelement 1. Ein scheibenförmiger dielektrischer Hohlraumresonator mit großer Dielektrizitätskonstante
und einem hohen Q-Faktor ist an einem Träger 6 so angeordnet daß die Frontfläche der
Scheibe parallel zur £-Ebene steht Bei dieser Auslegung sind das Halbleiteroszillatorelement 1 und der dielektrische
Hohlraumresonator 2 miteinander elektromagnetisch gekoppelt und eine Oszillatorspznnung mit
einer stabilen Oszillatorfrequenz wird an einem Ausgang 3 abgegriffen, an welchen ein rechteckiger Hohlleiter
angeschlossen ist Der dielektrische Hohlraumresonator 2 sollte eine hohe Stabilität der Oszillatorfrequenz
des Halbleiter-Mikrowellenoszillators selbst bei einer Eigenschwankung der Oszilatorfrequenz des
Halbleiteroszillatorelements erbringen.
Bei dieser herkömmlichen Auslegung ist der dielektrische Hohlraumresonator in dem Grenzwellenhohlraum
angeordnet, und daher müssen sowohl der dielektrische Hohlraumresonator 2 als auch das Halbleiteroszillatorelement
1 entfernt vom Ausgang angeordnet sein, und außerdem muß das Halbleiteroszillatorelement entfernt
von der Kurzschlußebene angeordnet sein. Wenn beispielsweise ein Grenzwellenhohlrauin ausgebildet ist,
dessen Breite die Hälfte der langen Seite der rechteckigen öffnung des rechteckigen Hohlleiters beträgt muß
ein Abstand von etwa AgIl zwischen dem Halbleiteroszillatorelement
1 und der widerstandsmäßig abgeschlossenen und kurzgeschlossenen Ebene gewahrt werden,
worin Ag eine Leiterwellenlänge im rechteckigen Hohlleiter ist. Durch diese Distanzierung wird der gesamte
Oszillator so groß wie etwa Ag. Auf der anderen Seite besteht eine Einschränkung die längere Seite der Rechtecköffnung
zu verkürzen, um auch das Gerät zu verkleinern, da ein effektiver reiner (^-Faktor infolge der Wirkung
der nahen Wand des dielektrischen Hohlraumresonators abnimmt, wenn die längere Seite um weniger
als die Hälfte der ursprünglichen Länge verkürzt wird und ein Grenzwellenhohlraum gebildet wird.
Wenn andererseits eine Koaxialleitung zur Montage eines Teiles des Halbleiteroszillators verwendet wird,
um den Abstand zwischen dem Halbleiteroszillatorelement 1 und der widerstandsmäßig abgeschlossenen und
kurzgeschlossenen Ebene zu verkürzen, dann wird die Größe des Montageteils in axialer Richtung der Koaxialleitung
infolge der Montageauslegung groß. Es ist auch schwierig, den dielektrischen Hohlraumresonator
und seinen Träger im engen und tiefen Grenzwellenhohlraum genau einzubauen.
Ein weiterer Halbleiter-Mikrowellenoszillator ist aus
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 1978, VoL MTT 26, No. 3, S. 147 bekannt Dieser
weist einen Hohlraumresonator einschließlich eines Kopplungsfenstei s zur Ankopplung an eine externe
Schaltung und ein Halbleiterosziilatordement auf, das in eine an einer Innenwand des Hohlraumresonators
ausgeformte Ausnehmung eingebauc ist Die Ausnehmung besitzt eine Öffnung, die hinreichend kleiner ist
als die Innenabmessung des Hohlraumresonators.
Die AufRabe der Erfindung besteht darin, einen HaIbleiter-Mikrowellenoszillator
zu schaffen, dessen Oszillatorfrequenz dadurch stabilisiert wird, daß ein Halbleiteroszillator
elektromagnetisch mit einem dielektrischen Hohlraumresonator mit einer großen Dielektrizitätskonstante
und einem hohen Q-Faktor zusammengekoppelt wird.
Diese Aufgabe wird bei einem Oszillator gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs erfindungsgemäß
durch die im kennzeichnenden Teil angegebenen Merkmale gelöst.
Eine spezielle Ausführung der Erfindung kann wie folgt zusammengefaßt werden: Es wird ein kompakter
Halbleiter-Mikrowellenoszillator zur Erzeugung einer Schwingung mit einer in hohem Maße stabilisierten Frequenz
mit einem Hohlraumresonator geschaffen, in welchem ein Kopplungsschlitz zur Ankopplung an eine externe
Schaltung ausgeformt ein Halbleiteroszillatorelement und ein dielektrischer Hohlraumresonator mit einer
hohen Dielektrizitätskonstante und einem hohen Q-Faktor vorhanden ist Das Halbleiteroszillatorelement
ist in einer Ausnehmung eingebaut, die auf einer Innenseitenwand des Hohlraumresonators ausgeformt ist und
eine im Vergleich zur Innenabmessung des Hohlraumresonators genügend kleine Öffnung besitzt. Der dielektrische
Resonator ist im Hohlraumresonator so angeordnet, daß er der Öffnung der Ausnehmung benachbart
und dieser zugekehrt ist
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend näher erläutert. Die Zeichnungen zeigen
Fig. la eine Vorderansicht eines herkömmlichen Halbleiter-Mikrowellenoszillators mit einem dielektrischen
Hohlraumresonator;
Fig. Ib einen Querschnitt längs der Linie A-A der
Fig. la;
Fig.2a einen Seitenriß eines Halbletter-Mikrowellenoszillators
nach einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig.2b einen Querschnitt längs der Linie A-A der
F ig. 2a;
Fig.3a eine Vorderansicht eines Halbleitermikrowellenoszillators
nach einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig.3b einen Querschnitt längs der Linie A-A der
F ig. 3a;
F i g. 3c einen Querschnitt längs der Linie B-3 der F i g. 3a;
Fig.4a und 4b eine Vorderansicht und einen Seitenriß
des Halbleiter-Mikrowellenoszillators der F i g. 3 mit Angabe der Abmessungen seiner Hauptteile;
Fig.5 eine klassische Darstellung der Magnetlinien
mit einem Schemabild einer elektromagnetischen Kopplung zwischen drei Schaltbauteilen der Fig.3,
nämlich dem Halbleiteroszillator, dem dielektrischen Hohlraumresonator und der externen Schaltung;
Fig. 6 ein Ersatzschaltbild des Halbleiter-Mikrowellenoszillators
der F i g. 5 und
F i g. 7 eine Seitenansicht eines gefertigten Exemplars des zweiten Ausführungsbeispiels der Erfindung.
Der Halbleiter-Mikrowellenoszillator umfaßt einen Hohlraumresonator mit einem Kopplungsschlitz zur
Ankopplung einer externen Schaltung, ein Halbleiteroszillatorelement sowie einen dielektrischen Resonator
mit einer hohen Dielektrizitätskonstante und einem hohen Q-Faktor. Das Halbleiteroszillatorelement ist in eine
Ausnehmung auf der Innenwand des Hohlraumresonators eingebaut und hat eine Öffnung, die hinreichend
kleiner ist als die Innenabmessung des Hohlraumresonators. Der dielektrische Resonator ist im Hohlraumresonator
so angeordnet daß er neben der Öffnung der Ausnehmung und dieser zugekehrt liegt Der erfindungsgemäße
Halbleiter-Mikrowellenoszillator kann eine Mikrowellenspannung erzeugen, deren Frequenz
durch Verwendung eines Hohlraumresonators von einfachem Aufbau stabilisiert ist ohne einen Grenzwellenhohlraum
zu bilden. Daher wird die Fertigung des Oszillators einfach und außerdem kann der Oszillator mit
kleinen Abmessungen ausgelegt sein, wodurch er auch leicht an Gewicht wird.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind nachstehend anhand der Zeichnungen näher erläutert F i g. 2a
zeigt einen Seitenriß eines ersten Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen Halbleiter-Mikrowellenoszillators,
und F i g. 2b ist ein Querschnitt längs der Linie A-A der Fig. 2a. Eine Ausnehmung 9 mit einer Öffnung 11,
die hinreichend kleiner ist als die Innenabmessung eines Hohlraumresonators 8 ist an einer bestimmten Stelle an
der Innenwand des Hohlraumresonators 8 ausgeformt.
Dieser besitzt ein Kopplungsfenster 7 zur Ankopplung an eine externe Schaltung. Die Ausnehmung 9 ist ein
enger, mit Ausnahme an der Öffnung 11 von leitenden Wänden umschlossener Raum, in welchem ein Halbleiteroszillatorelement
10 angeordnet ist. Ein scheibenförmiger dielektrischer Resonator 12 mit einer hohen Dielektrizitätskonstante
und einem hohen Q-Faktor ist vor der Öffnung 11 der Ausnehmung 9 und dieser zugekehrt
angeordnet, so daß der dielektrische Resonator 12 mit dem Halbleiteroszillatorelement 10 elektromagnetisch
gekoppelt ist. Eine Oszillatorspannung mit einer stabilisierten Oszillatorfrequenz, welche durch eine Resonanzfrequenz
des dielektrischen Resonators bestimmt wird, wird durch das Kopplungsfenster 7 von
einer externen Schaltung abgegriffen. Obwohl die Form des Hohlraumresonators 8 in den F i g. 2a und 2b aus
Gründen der Einfachheit als Kugel dargestellt ist, können für dieses Ausführungsbeispiel der Erfindung auch
andere Formen für den Hohlraumresonator 8 verwendet werden. Auch die Öffnung 11 kann anders ausgeformt
sein als der in den F i g. 2a und 2b gezeigte Schlitz, soweit ihre Abmessung genügend klein ist gegenüber
dem Innendurchmesser des Hohlraumresonators 8, und der dielektrische Resonator 12 durch die Öffnung 11
elektromagnetisch mit dem Halbleiteroszillator gekoppelt bleibt. Der Hohlraumresonator 8 kann auch eine
Einstellvorrichtung 13 für die Oszillatorfrequenz bzw. eine Absorptionsvorrichtung 14 für elektromagnetische
Wellen aus Ferrit umfassen. Die Einstellvorrichtung 13 für die Oszillatorfrequenz dient zur Frequenzfeineinstellung.
Die elektromagnetische Absorptionsvorrichtung 14 ist mindestens an einer Stelle an den Innenwänden
des Kopplungsfensters 7, des Hohlraumresonators 8 und der Ausnehmung 9 angeordnet. Sie verhindert ein
unerwünschtes Überspringen der speziellen Oszillatorfrequenzen des Halbleiteroszillatorelements 10 und verhindert
auch die nachteilige Erscheinung, daß beim Anschluß einer Spannungsquelle an das Halbleiteroszillatorelement
10 möglicherweise keine Schwingung ange-
regt wird.
Der Oszillator funktioniert wie folgt. Die an der Innenwand
des Hohlraumresonators 8 ausgeformte Ausnehmung 9 dient zur Konzentration elektromagnetischer
Energie des Halbleiteroszillatorelements 10 in dem engen Raum, der durch leitende Seitenwände umschlossen
wird, wodurch eine betriebssichere Schwingung gewährleistet ist. Der dielektrische Resonator 12
mit einer hohen Dielektrizitätskonstanten und einem hohen Q-Faktor bewirken ebenfalls eine Bündelung der
elektromagnetischen Energie in einem engen Raum. Daher ist es leicht, den dielektrischen Resonator 12 dadurch
elektromagnetisch an das Halbleiteroszillatorelement 10 anzukoppeln, daß die Scheibenstirnfläche des
dielektrischen Resonators 12 vor der öffnung 11 der
Ausnehmung 9 und der öffnung ! 1 zugekehrt angeordnet
wird. Ein Grund für diese Anordnung des dielektrischen Resonators 12, bei welcher die Stirnfläche seiner
Scheibe der öffnung 11 der Ausnehmung 9 zugekehrt ist, kann wie folgt dargestellt werden.
Die die Grundschwingung Hq\o(oist ein von der Dikke
des scheibenförmigen dielektrischen Resonators 12 abhängiger Parameter) des scheibenförmigen dielektrischen
Resonators 12 induzierenden magnetischen Kraftlinien einer externen hochfrequenten Quelle
(Hochfrequenz bedeutet im folgenden eine Frequenz im Mikrowellen- und Millimeterbereich) verlaufenden fast
senkrecht zur Stirnfläche der Scheibe, mit Ausnahme an deren Umfang. Andererseits bildet sich an der öffnung
11 der Ausnehmung 9 eine Magnetwand aus (mit Magnetwand
wird eine Wand bezeichnet, an welcher η ■ E=O und η χ W=O erfüllt sind, worin fein Vektor
eines hochfrequenten elektrischen Feldes, Hein Vektor
eines hochfrequenten Magnetfeldes und η ein Einheits-Normalvektor der Wand ist).
Somit bildet das durch das Halbleiteroszillatorelement 10 induzierte hochfrequente Magnetfeld magnetische
Kraftlinien, welche fast senkrecht zur Öffnungsfläche der Ausnehmung 9 stehen, wobei die Richtung
der magnetischen Kraftlinien gleich ist der Richtung eines hochfrequenten Magnetfeldes zur Induktion der
Grundschwingung Woiri in dem dielektrischen Resonator
12. Daher wird die Grundschwingung Hm<>
in den dielektrischen Resonator 12 induziert und damit dieser elektromagnetisch
an das Halbleiteroszillatorelement 10 angekoppelt.
Die Größe des Hohlraumresonators 8 kann so gewählt werden, daß seine Resonanzfrequenz im Nutzfrequenzbereich
liegt. Vorzugsweise soll jedoch seine Größe so klein wie möglich ausgelegt werden (die Untergrenze
liegt bei /i/4, entsprechend dem Nutzfrequenzbereich), am eine Resonanzfrequenz zu erhalten, die höher
ist als die in diesem Frequenzbereich, da diese Verringerung der Abmessungen des Hohlraumresonators 8 eine
sehr kompakte Form des Oszillatorgehäuses ergeben. Die Verringerung der Abmessungen des Hohlraumresonators
8 läßt sich ohne weiteres durchführen, da die Auswirkung der naheliegenden Wand des dielektrischen
Resonators 12 durch die Auslegung verringert wird, in welcher die Stirnfläche der Scheibe des dielektrischen
Resonators 12 der öffnung 11 der Ausnehmung 9 zugekehrt ist.
im Ausführungsbeispiel der Fig.2a und 2b ist nur
eine Ausnehmung 9, ein Halbleiteroszillatorelement 10, ein dielektrischer Resonator 12 und ein Kopplungsfenster
7 zum Anschluß an die externe Schaltung vorgesehen. Um jedoch die Ausgangsleistung zu erhöhen, können
auch andere Anordnungen verwendet werden, bei welchen mehrere Halbleiteroszillatorelemente in eine
Ausnehmung eingebaut sind oder mehrere Halbleiteroszillatorelemente in mehreren Ausnehmungen angeordnet
sind. Um die Stabilität der Oszillatorfrequenz zu verbessern, können mehrere scheibenförmige dielektrische
Resonatoren neben und einer Ausnehmung zugekehrt angeordnet sein.
Für die Beschreibung der Erfindung bedingt der Ausdruck »der dielektrische Resonator von hoher Stabilitat«
nicht unbedingt, daß der Temperaturkoeffizient der Resonanzfrequenz des dielektrischen Resonators annähernd
Null ist. Er bedeutet jedoch, daß der Temperaturkoeffizient der Oszillatorfrequenz des gesamten Halbleiter-Mikrowellenoszillators
einschließlich des dielektrischen Resonators annähernd Null ist. Das heißt, daß der Temperaturkoeffizient der Resonanzfrequenz des
dielektrischen Resonators einen kleinen positiven Wert besitzt. Außerdem bedeutet der Ausdruck »Stabilität«
eine gute Wiederholbarkeit der Resonanzfrequenz und eine hohe Stabilität der Resonanzfrequenz über die
Zeit.
Die F i g. 3a, 3b und 3c zeigen ein zweites Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Halbleiter-Mikrowellenoszillators.
F i g. 3a ist eine Vorderansicht des Halbleiter-Mikrowellenoszillators, Fig.3b ein Querschnitt
längs der Linie A-A der F i g. 3a und F i g. 3c ein Querschnitt längs der Linie B-B der F i g. 3a.
Die F i g. 4a und 4b zeigen eine Vorderansicht und einen Seitenriß des Halbleiter-Mikrowellenoszillators
der F i g. 3 mit den Abmessungen seiner Hauptteile. Eine Seitenwand in axialer Richtung eines Hohlraumresonators
15 eines recheckigen Hohlleiters ist durch eine leitende Wand 151 kurzgeschlossen. In einem Mittelteil
der leitenden Wand 151 ist eine Ausnehmung 16 mit einem Schlitz von der Fläche a' ■ b' (worin a', b' die
Längenabmessungen der langen und der kurzen Seite sind) sowie einer Tiefe von c' ausgeformt. Der Ausnehmung
16 ist so gestaltet, daß die lange Seite des Schlitzes parallel zur f/-Ebene des rechtwinkligen Hohlleiters
verläuft. Ein Halbleiteroszillator 17 ist in der Ausnehmung 16 so angeordnet, daß seine Achse parallel zur
kurzen Seite des Schlitzes liegt.
Die Abmessung a'der langen Seite der schlitzförmigen öffnung ist gleich oder beinahe gleich der halben
Breite eines rechtwinkligen Hohlleiters. Die Abmessung ö'ist gleich oder annähernd gleich der Baugruppenhöhe
des Halbleiteroszillatorelements 17. Somit ist die Fläche (a' ■ b')des Schlitzes hinreichend klein gegenüber einer
Fläche (a ■ b) der widerstandsmäßig abgeschlossenen und kurzgeschlossenen Ebene 151, die eine Innenwandflache
des Hohlraumresonators 15 des rechteckigen Hohlleiters bildet- Beispielsweis? b??r?.gs" die Abmessungen
im Falle eines nach den Normen der Electronic Industries Association of Japan (EJ-A-J.) mit WR-!20
angegebenen rechteckigen Hohlleiters: a —19,05 mm und 6=9,525 mm. Bei diesem Ausführungsbeispiel betragen
jedoch die Abmessungen a'=9,0 mm und i'=3,0mm, und daher ist das Verhältnis
(a' ■ b')/(a ■ b)=: 1/7. Die Tiefe c'der Ausnehmung 16 ist
so gewählt, daß das Halbleiteroszillatorelement 17 innerhalb gewisser Grenzen mil genügend Raum eingebaut
werden kann. Der Wert c' muß im wesentlichen eine Ungleichheitsbeziehung erfüllen: Agl%<c'<Agl4.
Daher kann der Halbleiteroszillator 17 durch Verwendung der vorstehend erwähnten Auslegung in die enge
Ausnehmung 16 eingebaut werden. Dies ist im Falle der herkömmlichen Auslegung nach F i g. 1 nicht möglicht
Wie nachstehend näher erläutert wird, läßt sich die
Wie nachstehend näher erläutert wird, läßt sich die
Länge a' der langen Seite des Schlitzes sowie ein Abstand d experimentell bestimmen, welcher die Lage des
Halbleiteroszillatorelements 17 in der Ausnehmung 16 angibt. In den Fig. 3a—3b sowie 4a—4b ist gezeigt, daß
das Halbleiteroszillatorelement 17 im Mittelpunkt des Hohlraumresonators 15 bei Sicht auf einen Querschnitt
senkrecht zur axialen Richtung des rechtwinkligen Hohlleiters angeordnet ist. Diese Lage ist jedoch nicht
absolut wichtig, obwohl die Abmessungen verschiedener Teile verändert werden müssen, wenn die Lage des
Halbleiteroszillatorelements 17 etwas verändert wird.
Andererseits sind leitende Bleche 19 und 20 auf der anderen Seite des Hohlraumresonators 15 des rechtekkigen
Hohlleiters vorgesehen, nämlich an der Seite gegenüber der kurzgeschlossenen Ebene 151 in axialer
Richtung des Hohlleiters. Ein induktives Fenster 18 ist zwischen den leitenden Blechen 19 und 20 ausgeformt
Ein Träger für einen dielektrischen Resonator 22 ist mit seinem einen Ende an dem einen Blech 19 durch Kleber
befestigt (der Träger 21 ist in F i g. 4b nicht gezeigt). Der Träger 21 muß eine niedrige Dielektrizitätskonstante
und einen geringen dielektrischen Verlust im Hochfrequenzbereich aufweisen. Außerdem muß er einen kleinen
Wärmedehnungskoeffizienten besitzen. Ein bevorzugter Werkstoff für den Träger 21 ist Quarzglas. Der
dielektrische Resonator 22 ist an der gegenüberliegenden Spitze des Trägers 21 durch Klebstoffe befestigt. An
der Ausgangsseite des Fensters 18 ist ein rechteckiger Hohlleiter 23 zum Anschluß an eine externe Schaltung
vorgesehen.
Die Länge des Hohlraumresonators 15 des rechteckigen Hohlleiters ist so gewählt, daß sie in axialer Richtung
etwa/i£-'4 beträgt, wobei sowohl die Verkleinerung
der Abmessungen des Halbleiter-Mikrowellenoszillators als auch die Wirkung der naheliegenden Wand des
dielektrischen Resonators 22 berücksichtigt wurden. Doch kann die Länge dg/4 noch weiter verkürzt werden,
da sie einiges Spiel für den Wandnäheneffekt läßt Natürlich kann der Hohlraumresonator 15 verlängert werden,
wenn die geringe Größe des Halbleiter-Mikrowellenoszillators keine Rolle spielt Nach dem zweiten Ausführungsbeispiel
der Erfindung beträgt die Gesamtabmessung des Halbleiter-Mikrowellenoszillators etwa
XgIl oder weniger. Außerdem kann die Ausnehmung
auch an seiner Seitenwand der Ε-Ebene anstelle an der Kurzschlußebene 151 des Hohlraumresonators 15 ausgeformt
sein. Dies würde eine weitere Herabsetzung der Gesamtgröße des Mikrowellenoszillators ermöglichen.
Die Fläche des Fensters 18 beeinflußt die Größe der elektromagnetischen Kopplung der externen Schaltung
23 an den dielektrischen Resonator 22. Eine elektrisch
leitende Schraube 25 zur Feinabstimmung der Frequenz ist neben dem Fenster angeordnet und ragt durch die
//-Ebene hindurch. Durch Veränderung der Einführungstieie
der leitenden Schraube 25 kann auch die Größe der elektromagnetischen Kopplung des dielektrischen
Resonators 22 an das Halbleiteroszillatorelement 17 und außerdem die Größe der elektromagnetischen
Kopplung der externen Schaltung 23 an den dielektrischen Resonator 22 zusätzlich zur Feinabstimmung
der Oszillatorfrequenz verändert werden.
Bei dem zweiten Ausführungsbeispiel beträgt die Länge des Hohlraumresonators 15 des rechteckigen
Hohlleiters in axialer Richtung etwa Ägl4, und daher weist der Hohlraumresonator 15 keine Resonanzfrequenz
im Oszillatorfrequenzbereich dieses Halbleiter-Mikrowellenoszillators auf. Daher erregt das Halbleiteroszillatorelement
17 nur den dielektrischen Resonator 22, und kein anderer Teil des Resonanzkreises außer
dem dielektrischen Resonator 22 wird beaufschlagt. Somit wird eine hochstabile Schwingung erzielt. Um die
Stabilität der Schwingung noch weiter zu verbessern, ist eine Absorptionsvorrichtung 24 für elektromagnetische
Wellen an der Innenwand der Ausnehmung 16 vorgesehen. Die Absorptionsvorrichtung 24 für elektromagnetische
Wellen verhindert ein unerwünschtes Überspringen der speziellen Oszillatorfrequenz des Halbleiteroszillatorelements
10 und verhindert ebenso die unerwünschte Erscheinung, daß bei einem Anschluß einer
Spannungsquelle an das Halbleiteroszillatorelement 17 möglicherweise keine Schwingung erzeugt wird.
An der schlitzförmigen Öffnung bildet sich ebenso wie im Faiie des ersten Ausführungsbeispieis eine Magnetwand.
Eine Grundschwingung H wird in den scheibenförmigen dielektrischen Resonator 22 induziert, der
neben der Öffnung angeordnet und dieser zugekehrt ist.
Daher ist der dielektrische Resonator 22 elektromagnetisch an das Halbleiteroszillatorelement 17 gekoppelt.
F i g. 5 zeigt den Zustand der gegenseitigen elektromagnetischen Ankopplung durch die magnetischen
Kraftlinien im Mikrowellenbereich zwischen dem HaIbleiteroszillatorelement
17, dem dielektrischen Resonator 22 und der externen Schaltung 23.
Aus der bisherigen Erläuterung geht hervor, daß eine elektrische Ersatzschaltung des Mikrowellenoszillators
nach dem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung nach der Darstellung der F i g. 6 ausgeführt sein kann. In
der Ersatzschaltung bezeichnet Yd einen Scheinleitwert des Halbleiteroszillatorelements 17 in Betrieb, und Yd
besitzt eine negative Leitwertkomponente. Ym bezeichnet einen durch die geometrischen Abmessungen der
Ausnehmung 16, in welcher das Halbleiteroszillatorelement 17 montiert ist, bestimmten Blindleitwert. DR bezeichnet
einen in Reihe geschalteten Resonanzkreis mit einem hohen (^-Faktor, welcher dem dielektrischen Resonator
22 entspricht. Die gegenseitige Ankopplung zwischen dem Halbleiteroszillator 17 und dem dielektrischen
Resonator 22 wird durch einen Koppiungsbeiwert K1, und die gegenseitige Ankopplung zwischen
dem dielektrischen Resonator 22 und der externen Schaltung 23 durch einen Kopplungsbeiwert K 2 ausgedrückt.
Z5 zeigt die Lastimpedanz der externen Schaltung 23.
Wie F i g. 4 zeigt, können, falls das Halbieiteroszillatorelement 17 und der dielektrische Resonator 22 festgelegt
sind, die Größe a'der langen Seite des Schlitzes, der Abstand c/des Halbleiteroszillators 17 von der Innenfläche
der Vertiefung 16, die Abstände (x, y\) des dielektrischen Resonators 22 vom Haibieiterosziiiatorelemeni
17, der Abstand y> des Induktionsschlitzes von der Leiterplatte
19 und die Abmessungen W] und W2 durch
wiederholte Experimente gewonnen werden, die so durchgeführt werden, daß ein Endstabilitätsfaktor der
Oszillatorfrequenz über der Temperatur Afr, diese über
der Last AfL sowie eine Oszillatorspannung P0 als Sollwert gewonnen wird. Unter dem Gesichtspunkt der Gü-
te und anhand der F i g. 6 betrachtet heißt dies, daß der über der Temperatur Ah der Oszillatorfrequenz aufgetragene
Stabilitätsfaktor hauptsächlich von der Temperaturkurve des Halbleiteroszillatorelements 17 und des
dielektrischen Resonators 22 sowie vom Kopplungsbeiwert K1 zwischen Oszillatorelement 17 und Resonator
22 abhängt Der Stabilitätsfaktor über der Last AfL des
Oszillators hängt hauptsächlich vom Kopplungsbeiwert K 2 zwischen dem dielektrischen Resonator 22 und der
ίο
externen Schaltung 23 ab.
Andererseits hängt die Oszillatorspannung von beiden Kopplungsbeiwerten K 1 und K 2 ab. Der Stabilitätsfaktor
über der Temperatur AiV kann durch die Größe der Frequenzverschiebung bei einer Temperaturänderung
gemessen werden, beispielsweise von —20° C bis +400C. Und der Stabilitätsfaktor über der Last dfL
kann durch die Größe der Frequenzverschiebung gemessen werden, wenn sich die Phase der externen Last
von 0 bis 360° ändert, indem das Stehwellenverhältnis gegenüber der externen Last auf einem konstanten
Wert, beispielsweise 1,5 gehalten wird. Um den besten Stabilitätsfaktor über der Temperatur Δ(τ bei Verwendung
eines gewünschten Halbleiteroszillatorelements zu erreichen, müssen die vorstehend beschriebenen Experimente
durch Austausch verschiedener dielektrischer Resonatoren mit verschiedenen Temperaturkoeffizienten
nacheinander durchgeführt werden. Ein tatsächlich durchgemessenes Muster des erfindungsgemäßen
Ausführungsbeispiels zeigt folgende Werte:
Rechteckiger Hohlleiter
Halbleiteroszillatorelement
Halbleiteroszillatorelement
Betriebsspannung
Strom
Nennfrequenz
Ausgangsleistung
Dielektrischer Resonator:
Scheibendurchmesser
Spezielle Dielektrizitäts-
~~ konstante '
Q unbelastet
Spezielle Dielektrizitäts-
~~ konstante '
Q unbelastet
Temperaturabhängigkeit der
Resonanzfrequenz
Resonanzfrequenz
Daten der Ausgangsfrequenz des Halbleiter-Mikrowellenoszillators
Ausgangsfrequenz f0 11 660 GHz
Ausgangsleistung Po 10 mW
_ Stabilitätsfaktor über der
Temperturz/Λ- 340KHz
Stabilitätsfaktor über der
280KHz
Bezüglich einer Kopplungsvorrichtung an die externe Schaltung sei bemerkt, daß der rechteckige Hohlleiter
bei dem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung als eine Ausgangsübertragungsleistung dient Jedoch können
sowohl koaxiale Übertragungsleitungen als auch eine Mikrowellenstreifenleitung verwendet werden.
Ausführungsbeispjele, welche koaxiale und Streifenleitungen
verwenden, werden nachstehend näher beschrieben.
Die durch das Halbleiteroszillatorelement erzeugte elektromagnetische Energie wird im engen Raum der
Ausnehmung konzentriert, und die Magnetwand wird an der öffnung der Ausnehmung ausgeformt Es ist daher
leicht, den dielektrischen Resonator elektromagnetisch an das Halbleiteroszillatorelement dadurch anzukoppeln,
daß die Frontfläche der Scheibe des dielektrischen Resonators mit einer hohen dielektrischen Konsiante
und einem hohen (?-Faktor neben der öffnung
der Ausnehmung und dieser zugekehrt angeordnet wird. Diese starke Kopplung trägt viel zur guten Stabilisierung
der Oszillatorfrequenz bei. Außerdem ist die Schwingungsfrequenz des Halbleiter-Mikrowellenoszillators
frei von der Eigenfrequenz des Hohlraumresonators, und daher kann ein Hohlraumresonator von einfachem
Aufbau verwendet werden. Beispielsweise werden für die Ausführungsbeispiele der Erfindung ge-
wohnliche rechteckige Hohlleiter als Hohlraumresonatoren
verwendet und erbringen so eine vereinfachte Herstellung des Halbleiter-Mikrowellenoszillators.
Ein Beispiel zur Vereinfachung des Aufbaus des Halbleiter-Mikrowellenoszillators
zeigt Fig.9. Ein Halblei-
ter-Mikrowellenoszillator der Fig.9 umfaßt die
flanschförmigen oder distanzstückförmigen Teile 35,37,
38 und 39. Zuerst werden sie einzeln gefertigt. Nach Anordnung eines Halbleiteroszillators im Teil 36 und
Einbau eines dielektrischen Resonators im Teil 37 mit
Hilfe eines Trägers werden sie mit Bolzen 40 zusammengebaut, um den Halbleiter-Mikrowellenoszillator
zu bilden. Der erfindungsgemäße Halbleiter-Mikrowellenoszillator bedarf keines Grenzwellenbereiches, und
daher bereitet es keine Schwierigkeit, den dielektri-
sehen Resonator genau an der vorbestimmten Stelle im
Hohlraumresonator anzuordnen.
WRJ120 Da die Schwingungsfrequenz des Mikrowellenoszilla-
Gunn Diode tors fast frei von der Eigenfrequenz des Hohlraumreso-7,5
V nators ist, kann ein Hohlraumresonator von kleineren
15OmA 25 Abmessungen verwendet werden, als ein Hohlraumre-
12,0GHz sonator mit einer Resonanzfrequenz im Schwingungs-
mW frequenzbereich des Mikrowellenoszillators. Eine Ver
ringerung der Größe ist außerdem durch äußerst nahe Anordnung des dielektrischen Resonators an der Öff-
nung der Ausnehmung möglich, da der Effekt der naheliegenden Wand des dielektrischen Resonators infolge
des Vorhandenseins der Ausnehmung vermindert wird. Eine Abnahme des unbelasteten (^-Faktors des dielektrischen
Resonator» wird dadurch vermieden, daß
die Frontfläche der Scheibe des dielektrischen Resonators nahe an der öffnung der Ausnehmung angeordnet
wird. Es braucht jetzt nur der Effekt der naheliegenden
Wand durch die andere Oberfläche der Scheibe gegenüber der öffnung der Ausnehmung beachtet zu werden,
um die Stabilität der Oszillatorfrequenz des Halbleiter-Mikrowellenoszillators
zu verbessern.
Ein Anwendungsgebiet des erfindungsgemäßen Halbleiter-Mikrowellenoszillators ist ein Überlagerungsoszillator
für einen SHF-UKW-Umsetzer für ei-
nen SHF-Fernsehempfanger. In diesem Fall liegt die
Oszillatorfrequenz des Halbleiter-Mikrowellenoszillators im Bereich von 11 —12GHz. Mit der Erfindung
wird ein kompakter Halbleiter-Mikrowellenoszillator in Leichtbauweise geschaffen, der leicht herzustellen ist.
Hierzu 6 Blatt Zeichnungen
5 mm
37,6
4000
4000
dfIbT
= +4,1 ppm/°C 55
60
65
Claims (1)
- Patentanspruch:Halbleiter-Mikrowellenoszillator mit einem Hohlraumresonator, der ein Kopplungsfenster zur Ankopplung an eine externe Schaltung aufweist, und einem Halbleiteroszillatorelement das in eine an einer Innenwand des Hohlraumresonators ausgeformte Ausnehmung eingebaut ist, die eine öffnung besitzt, die hinreichend kleiner ist als die Innenabmessung des Hohlraumresonators, dadurch gekennzeichnet, einen scheibenförmigen dielektrischen Resonator (12), der im Hohlraumresonator (8) vor der öffnung (11) der Ausnehmung (9) angeordnet ist und mit einer Scheibenstirnfläche der Ausnehmung (9) zugekehrt liegt
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19792932994 DE2932994C2 (de) | 1979-08-14 | 1979-08-14 | Halbleiter-Mikrowellenoszillator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19792932994 DE2932994C2 (de) | 1979-08-14 | 1979-08-14 | Halbleiter-Mikrowellenoszillator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2932994A1 DE2932994A1 (de) | 1981-02-26 |
| DE2932994C2 true DE2932994C2 (de) | 1985-05-30 |
Family
ID=6078476
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19792932994 Expired DE2932994C2 (de) | 1979-08-14 | 1979-08-14 | Halbleiter-Mikrowellenoszillator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE2932994C2 (de) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3866144A (en) * | 1972-11-09 | 1975-02-11 | Yoshihiko Sawayama | Microwave oscillator |
| US4008446A (en) * | 1974-08-01 | 1977-02-15 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Microwave oscillation device whose oscillation frequency is controlled at the resonance frequency of a dielectric resonator |
| JPS5269547A (en) * | 1975-12-08 | 1977-06-09 | Toshiba Corp | Microwave oscillation equipment |
| JPS5297658A (en) * | 1976-02-13 | 1977-08-16 | Toshiba Corp | Microwave oscillation unit |
-
1979
- 1979-08-14 DE DE19792932994 patent/DE2932994C2/de not_active Expired
Patent Citations (4)
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Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| DE-Z.: AEÜ, Bd.32, H.12, 1978, S.465-472 * |
| US-Z.: IEEE Transactions, MTT-26, No.3, 1978, S.147-155 * |
| US-Z.: IEEE Transactions, MTT-27, No.7, 1979, S.633-638 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2932994A1 (de) | 1981-02-26 |
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