DE2927126A1 - Photodiode - Google Patents

Photodiode

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DE2927126A1
DE2927126A1 DE19792927126 DE2927126A DE2927126A1 DE 2927126 A1 DE2927126 A1 DE 2927126A1 DE 19792927126 DE19792927126 DE 19792927126 DE 2927126 A DE2927126 A DE 2927126A DE 2927126 A1 DE2927126 A1 DE 2927126A1
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Standard Elektrik Lorenz AG
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Description

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Photodiode
Die Erfindung betrifft Photodioden, wie sie ζ.B. als Empfänger in der optischen Nachrichtentechnik verwend.et werden.
Prinzipielle Probleme und AuGführurigsformen .von Photodioden sind in zahlreichen Veröffentlichungen beschrieben (z.B. H. Melchior:„Sensitive high speed photodetector« for the demodulation of visible and near infrared light"; J. .Luminescence 7 (1973) 39CMlIU,.-S. Metz: „Eigenschaften und Entwicklungstendenzen schneller Photodetektoren für die optische Nachrichtenübertragung"; V, KTZ, Bd. 29 (1976) H. 2, S 127-133).
Photodioden sind in Sperriehtung betriebene Halbleiterbauelemente mit einem pn übergang oder einem Halbleiter-Metall-Übergang. Die Wellenlänge, bei der die Dioden Strahlung absorbieren ist kleiner oder gleich der Wellenlänge, die der Bandlücke des verwendeten Halbleitergrundmaterials entspricht. Von der Bandlücke hängen aber nicht nur die absorbierbaren Wellenlängen ab sondern z.B. auch der Dunkelstrom, welcher das Empfängerrauschen der Diode erheblich beeinflußt.Je größer die Bandlücke, desto kleiner ist im allgemeinen der Dunkelßtrom. Wegen der beiden soeben angeführten Abhängigkeiten bemüht man sich, das verwendete Halbleitergruridmaterial jeweils so zu wählen, daü seine Bandlücke gleich oder geringfügig kleiner ist als die Energie der zu empfangenden Quanten.
Die s.Zt. für die Erprobung in der optischen Nachrichtenübertragung benutzten Glasfasern besitzen Dämpfungsminima bei Wellenlängen um 1,2 um und um 1,6 um. Halbleiter, die bei diesen Wellenlängen gut absorbieren, besitzen jedoch eine
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kleine Bandlüeke, damit tiohen thermischen Dunkelstrom unddadurch starkes Diodenrauschen-
Als Halbleitergi'uridmaterial für Dioden mit guter Sperrcharakteristik, d.h.. Durchbrüchen erst bei hohen Sperrspannungen und -geringem Dunkelstrom, al-so niedrigem Empfängeirausehen wird hauptsächlich Si verwendet.
Die Aufgabe besteht nun darin, eine Photodiode mit einem pnübergang oder einem Metali-HalbleiterÜbergang mit Sperrcharakteristik als Diodenzone, so auszubilden, daß Materialien mit guten Empfängereigenschaften, wie sie von Dioden nach dem fäfrande der Technik bekannt sind, unabhängig von der Wellenlänge der su absorbierenden Strahlung gewählt bzw. beibehalten werden können, wobei ein solches Material.z.B. Si ist.
Die Lösung der Aufgabe ist durch das Kennzeichen des Hauptanspruchs gegeben, nach dem z.B. auf eine Si-Diode mit pn- oder Metall-Halbleiterubergang eine weitere Schicht eines stark absorbierendai Halbleitergrundmaterials aufgebracht, und so eine erfindungsgemäße Diode erhalten wird.. Welches Halbleitergrundmaterial als stark absorbierend in;. Präge kommt j hängt dabei von. der Wellenlänge der zu empfangenden Strahlung ab und ist Tabellen, und Schaubildern der umfangreichen Literatur leicht entnehmbar.
Er-fi ndungsgemäJäe Dioden besitzen sahireiche Vorteile. Eine guttangsgemäße Diode, z.B. eine Si-Diode kann durch Aufbringt»! der' stark absorbierenden Kalbleiterschicht einfach an. jede zu empfangende Wellenlänge angepaßt werden. Dies ermöglicht die einfache-Herstellung von optimal empfindlichen Dioden für vorgegebene Wellenlängentereiche. Da die Schichten, die
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clen pn-übergang bilden, und die die Dunkelströme am maßgeblichsten beeinflussen, aus Halbleitergrundmaterial mit guten Gleiehrichtereigenschaften bestehen, müssen an die Qualität der Absorptionsschicht keine so hohen Anforderungen mehr gestellt werden. Die Absorptionsschicht kann daher auch einfach polykristallin oder' amorph aufgebracht werden.
Die erfindungsgemäßen Photodiod.en können auch in monolithisch« Sc ImIt kr ei π en integpiert werden. Solche -Schaltkreise, oft ICs genannt, bestehen üblicherweise aus Si oder Ga As1 beides Materialien, aus denen bekanntlicherweise gattungsgemäße Dioden hergestellt werden. Durc-h Aufbringen von entsprechend absorbierenden Halbleitern können in den integrierten Schaltkreisen die Wellenlängen festgelegt werden, die optimal empfangen werden sollen.
Weiterhin können als absorbierende Halbleitergrundmaterialien solche verwendet werden von denen sich direkt gar keine pn— Übergänge herstellen lassen und die daher teilweise für gattungsgemäße Photodioden ausscheiden.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen und anhand einer Figur näher erläutert.
Die Figur zeigt ein Auaf ührurigsbeispiel einer erfindungsgemäßen Photodiode.
Zur Herstellung der in der· Figur dargestellten Photodiode wird auf ein η Si-Substrat p-ii epitaktiseh in einer Schichtdicke von 5-100 ρ aufgebracht. Auf diese Schicht wird die Schicht des stai'k absorbierenden Halbleitergrundßaterials z.h. durch Gasphasenepitaxie aufgebracht, in diesem Fall
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p-Ge. Die Dicke-der. Germaniumsehicht hängt von der zu ab-_ öorbierenden Wellenlänge ab. Bei 1,2 um Wellenlänge-wird sie mit ca. " 1,5- lim Dicke aufgebracht, bei 1,5 pliellealänge mit ca. 10 um Dicke. Abschließend wird die Diodeauf die übliche Mesaform geätzt.
Zur ο lim s eh en Kontaktierung werden auf beiden Seiten. Au-Ti Kontakte aufgedampft. Auf der Seite des η -Si wird jedoch . ein „Fenster" 1 freigelassen, durch das die Strahlung S in die Diode eindringt.. In der Fertigung wird eine große Anzahl von Einheiten parallel auf, einem genreinsjamen Grundmaterial aufgebaut",- wobei diese Vielfachanordnung in der anglo-amerikanischen Literatur mit „wafer" bezeichnet wird. Nach dem Zerteilen des Wafers in die einzelnen Dioden werden diese auf einen Sockel aus Gold aufgesetzt, welcher eine Bohrung 2 aufweist, welche ebenfalls dazu vorgesehen ist, die Strahlung auf die Diode durchzulassen.. Bei den erwähnten Wellenlängen von 1,2 mn oder 1,5 um ist Si durchlässig. Dies bedeutet, daß die zu absorbierende Strahlung durch die Si-Diodenzone unbehindert dringt und erst- im Germanium absorbiert wird. - -
Die Halbleitergrundmaterialien der einseinen Schichten können entweder Elementhalbleiter, wie z.B. Ge oder Si, oder Verbindungshalbleiter, wie z.B. Ga As, In P, CdS oder Cu In Seps oder Legierungshalbleiter wie Ga1-," In As1-. F oder andere sein. Das Halbleiterg'rundmaterial der Diodenzone sollte in möglichst guter kristalliner Form vorliegen, da dies geringe Fehlströme und damit niedriges Diodenrauschen gewährleistet. Die Absorptionsschicht kann dagegen von geringerer Kristall-Qualität, ja sogar polykristallin oder amorph aufgebracht sein. "
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Statt des pn- Übergangs in der biodensone kann auch ein Metall-Halbleiter-Übergang, z.B. Au auf p-Si verwendet werden.
Die Diode in der beschriebenen Ausführungsform ist für Bestrahlung durch die Diodenzone vorgesehen. Bei Anwendung eines Fensters i'n der Kontaktschicht auf der Absorptionsschieht kann natürlich auch in die Absorptionsschicht eingestrahlt werden, was von Vorteil sein kann, wenn bereits das Halbleitergrundmaterial der Diodenzone absoi^biert. Einstrahlung von der Seite in die Absorptionsschicht ist besonders dann vorteilhaft, wenn sehr lange Wellenlängen empfangen werden sollen, bei denen in gängigen Halbleitern nur noch sehr schwache Absorption stattfindet. Durch die seitliche Einstrahlung ist die wirksame Absorptionslänge gleich der seitlichen Ausdehnung der Absorptionsschicht und nicht gleich der Schichtdicke und kann daher sehr groß gemacht werden, ohne daß die Driftzeit der Ladungsträger von der Absorptionsschicht in die Diodenzone zunimmt.
Zur Anpassung der Gitterkonstanten der Halbleitergrundmaterialien von Ddodenzone und Absorptionsschicht können Zwischenschichten vorgesehen sein, z.B. Ge-Si Zwischenschichten. Die Absorptionsschicht kann bei Verwendung von Si in der Diodenzone z.B. auch eine Ge-Si-Legierung sein, um damit eine Wellenlängenanpassung, welche geringere Dunkelströme zur Folge hat, und eine Verkleinerung der Gitterfehlanpassung in einem Schritt zu erreichen.
Der Halbleiter der Absorptionsschicht sollte nur so hoch dotiert sein, daß das beim Anlegen der Sperrspannung entstehende Feld soweit in die Absorptionsschicht hineingreift, daß der größte'Teil des einfallenden Lichts im Bereich des elektrischen Feldes absorbiert wird. Durch Aufbringen eines hochdotierten Bereichs auf die schwächer
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dotierte Äbsorptionsschicht ist es möglich, den Feldverlauf so zu steuern, daß die Ladungsträger in der gesamten Absorptionsschicht Sättigungsdriftgeschwindigkeit.- erreichen.■■ Dies ist vor allem für -Dioden mit schnellen Schaltzeiten wichtig. Die Maßnahmen sind von Avalanche-Photodioden her bekannt una z.B. in dem Artikel von L.J.M. Bollen et al.'nDie Avalanche-Fotodiode, Philips techn-. Rdseh. 36S 220-226/ 1976, 77,-Nr- 7" ausführlich beschrieben. .""
Statt nur eines Halbleitergrundmaterials als Absorptionsschicht können auf die .Diodenzone auch verschiedene Halbleitergrundmaterialien mit unterschiedlichen Bandlücken nebeneinander aufgebracht sein, um mit einer Diode rnehreie Wellenlängen empfangen zu können. Das Aufbringen erfolgt z.B..
durch "Gasphasenepitaxie-, indem jeweils -die Teile der DiodenzoBC-durch Masken abgedeckt werden, auf denen das betreffende Halbleitergrundmaterial nicht aufwachsen soll. Bei einer
Einstrahlung von der Seite werden Streifen vorgesehen, an
deren Enden eingestrahlt wird, ■■""-... - - -.
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ΛΟ
L e e r s e i t e

Claims (1)

  1. STANDARD ELEKTKIK LORENZ
    AKTiEMGESELLSCHAFT
    Stuttgart
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    Photodiode
    Patentansprüche:
    j) Photodiode mit einem pn-übergang oder einem Metall-HalbleiterÜbergang mit Sperrcharakteristik als Diodenzone, dadurch gekennzeichnet, daß das verwendete Halbleitergrundmaterial für das Erzielen einer guten Sperrcharak~ teristik und geringer Dunkelströme geeignet ist und für die Diodenzone verwendet wird, daß auf die Diodenzone eine Absorptionsschieht aus im Bereich der vorgesehenen Arbeitswellenlänge der Photodiode stark absorbierendem Halbleitergrundmaterial aufgebracht ist, daß dabei das: Halbleitergrundmaterial dieser Absorptionsschicht von dem der Diodenzone verschieden, aber vom gleichen Leitfähigkeitstyp ist, wie der Halbleiter der Diodensone auf_ den die Absorptionsschicht aufgebracht ist.
    2) Photodiode nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleitergrundmaterial Diodenzone Si oder Ga As oder In P ist.
    3) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleitergrundmaterial der Absorptionsschicht, eine Bandlüeke besitzt, die
    Dr.: J/Sam - ./
    27,6.1979 ■ .-■"-■ ■■ ."
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    kleiner oder gleich der Energie der Quanten der zu empfangenden Strahlung ist.
    4) Photodiode nach einem der Anspräche 1 bis 3,
    dadurch gekennzeichnet, daß das flalbleitergrundmaterial der Absorptionsschicht Germanium oder Ga1 vIn As1 _ P oder Ga. In As oder Ga., , Al As1 „Sb oder GaAs1-Sb oder CuInSe^ist
    5) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
    dadurch gekennzeichnet j daß die Halbleitergrundmaterialien von Absorptionsschicht und Diodenzone in ihren Gitterkonstanten möglichst genau aneinander angepaßt sind.
    6) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 5*
    dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung von Si und Ge die Gitterkün3tanten durch Si-Ge- übergarigsschichten aneinander angepaßt sind.
    7) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
    dadurch gekennzeichnet, daß die Diode für Einstrahlung durch die Diodenzone verwendet wird.
    8) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
    dadurch gekennzeichnet, daß die Diode für Einstrahlung durch die Absorptionsschicht verwendet wird.
    9) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
    dadurch gekennzeichnet, daß die Diode für Einstrahlung von der Seite verwendet wird,
    10) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die HalLleitergrundmaterialien Elementhalbleiter oder Verbindungshalbleiter oder Legierungen -solcher Halbleiter sind.
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    SAD ORiGiMAj5,
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    11) Photodiode nach einem der Ansprüche l bis 10,
    d ad u r c h g e k e η η ζ e Ichnet,. d aß die Pia 1 b 1 e i t er 3 c 1ι i c ht ο η einkristallin sind.. . -
    12) Photodiode nach einem der Ansprüche .1 bis Ii3 .- - dadurch gekennzeichnet, daß die Absorpt.ioriüßchlcht polykristallin oder"amorph ist. :
    13) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Abuorptionsschicht so dotiert ist, daß das durch die angelegte Sperrspannung in der Diode aufgebaute Feld soweit in die ..Absorptionsschicht hineingreift j daß der größte- Teil"des einfallenden Lichts im Bereich des elektrischen Feldes absorbiert wird.
    Ik) Photodiode nach Anspruch .3 3, .. ·
    dadurch gekennzeichnet, daß auf der. Absorptionsschicht ein hochdotierter Bereich mit dem Halbleiter.der~Absorptionsschicht gleichen Leitfähigkeitstyps aufgebracht ist.
    15) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis lh3_ dadurch gekennzeichnet, daß die Absorptionsschicht aus mehreren nebeneinander aufgebrachten Halbleitergrundma-. terialien mit unterschiedlichen Barid'lücken besteht.
    Ib) Photodiode nach einem der Ansprüche 1 bis 15,
    - dadurch gekennzeichnet, daß die Diode in einem integrierten Sehaltkreis verwendet wird.
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    BAD ORIGINAL
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