DE2052140A1 - Photodetektor mit Heteroubergang, welcher im Durchbruchbetrieb arbeiten kann - Google Patents
Photodetektor mit Heteroubergang, welcher im Durchbruchbetrieb arbeiten kannInfo
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Description
DR. MÖLLER-BOR6 Dl PL-PHYS. DR. MANITZ DIPL-CHEM. DR. DEUFEL
DIPL-ING. FINSTERWALD Dl PL-I NG. GRÄMKO W 2052140 P MENT ANW KIT E
23. Oktober 1970
Ve/Sv - C 2254
COHPAGHIE GENERALE D'ELECTKICITE
54, rue la Boetie, laris C,
Frankreich
Photodetector mit Heteroübergang,
weiche!· iiii Durchbruchbetrieb arbeiten kann
Die Erfindung betrifft eine Halbleiteranordnung mit Heterof.UOr^cJi0-3ur
Verx/enduiir; als Photodetektor.
Einerseits sind Halbleiter-Photodetektoren bekannt, welche
einen p/n uberjcng aufweisen, wie die Ciliciumphotodioden,
andererseits erfüllen die Halbleiter mit Hot eroüb organe;
-- wie die Transistoren - die Funktion der Photodetektoren nicht. In den Halbleiter-Pliotodetektoren mit einem p/n Überfjciirj
kann dieser übergang entweder im ITo rmalbe trieb oder im
Durchbruchbc;trieb arbeiten. Der Wirkungsgrad dos im Durchbruchbetrieb
arbeitenden Photodetektors ist wesentlich höher als derjenige des Photodotektors, welcher im Normalbetrieb
arbeitet, während die übrigen Verhältnisse gleich sind.Es
bleibt ein Nachteil, welcher allen Photodetektoren gemeinsam ist, in welchen das Halbleitermaterial homogen ist: die
Frequenz und die Breite des nutzbaren Durchlaßbereiches sind beide eine Funktion der Breite des verbotenen Bandes im Diagramm
der Energiebänder für das betrachtete Halbleitermaterial,
109818/1501
BAD
-2- 2052H0
In der Praxis wird häufig eine !Frequenz benötigt, Vielehe sich
von derjenigen leicht unterscheidet, welche dem Material immanent
ist und insbesondere einen- vergrößerten Durchlaßbereich aufweist.
Beispielsweise entspricht für einen Detektor mit einen p/n übergang
aus Silicium die Anwendungsfrequenz, für welche der Wirkungsgrad
maximal ist, einer Wellenlänge von O,Cyu mit einer
Bandbreite von 0,4-5 "bis 1*1 Mt wobei B = 0,65/1 ist, wenn B
die Bandbreite bezeichnet, ausgedrückt in Wellenlängen.
Dieser Nachteil bringt offensichtlich besondere Einschränkungen
mit sich. Um auch diesen Nachteil zu überwinden, schafft die Erfindung einen Photodetektor, xvelcher im Inneren eines Ilalbleiter-
" körpers einen HeteroÜbergang zwischen zwei Halbleitermaterialien
aufweist, in welchem das der festzustellenden Strahlung ausgesetzte
Material, das sogenannte erste Material, ein Haterial ist, bei welchem die Breite des verbotenen Bandes dor Twellenlängo dieser
Strahlung angepaßt ist und bei weldtem die Breite des verbotenen
Bandes des zweiten Materials unterhalb der Breite des verbotenen Bandes des ersten Materials ist, dadurch gekennzeichnet, daß
dieser Körper aufiarjdem HeteroÜbergang mindestens einen zweiten
Übergang aufweist, welcher als Durchbruchübergang bezeichnet
wird, der in dom ersten Halbleitermaterial angeordnet ist und daß eine elektrische Versorgungseinrichtung zur inversen Polarisation
dieses zweiten Übergangs und dazu vorgesehen ist, diesen im Durchbruchbetrieb arbeiten zu lassen.
Zur Materialauswahl ist folgendes zu bemerken: das als erstes Material bezeichnete Material, welches direkt die Strahlung aufnimmt,
ist so ausgewählt, daß es eine Breite des verbotenen Bandes aufweist, welche unterhalb der Breite des verbotenen Bandes
des zweiten Materials liegt, tatsächlich ist es vorteilhaft, daß für die Wellenlänge der Arbeitsstrahlung die Absorption im ersten
. Material in der Weise mäßig ist, daß ein hinreichender Quanteneffekt zustandekommt. Wird hingegen die Breite des verbotenen
Bandes des zweiten Materials geringer gewählt, so ist dieses für die betrachtete Strahlung hochabsorbierend und bildet quasi
eine Sperre für die übertragung.
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-5-_ 2052 UO
vjei.se nuß men in einer ZuG&jnjüciißetrv-nQ·, r,u welcher
clic rzwoi IIntorialieii Silicuu und Germanium gehören, in BeviuLtS'.dii,
·1ι:.β einereeite ßiliciuüi ein verbot"ones B:.iid nit
einer Briito von ctn.'c. 1,1 eV und andererseits Germanium
oi.r, verboteiicG Icjid nit einer Breite von etwr. 0,72 eV c.vfi:oirt,
ijiliciuji dazu aun.ühleii, das erste Ilatcrial darsu-
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-4- 2052U0
Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise raihcnd der
Zeichnung be:jehrieben; in dieser zeigt:
Fig. 1 einen Querschnitt der erfindungsgemlißen Hiotodetelitorstruktur,
Fig. 2 ein Diagramm der Verteilung eines elektrischen Feldes
als Funktion der Abszisse in der Halbleitorstruktur,
wobei die Abszisse voi.i Auftroffen der Photonen audgezählt
ist und
Fig. 3 das Diagramm der Spektralcharakteristik für eine Struktur
mit SiIicium-Germanium-Hetero-übergang.
Die Fig. 1 stellt den Querschnitt der erfindimgsgemäßen Silicium-Gcrmanium-IIetcro-Übergangsstruktur
dar. Gemäß der Fig. 1 wird euf einem Substrat aus Silicium vom Typ Γ eine Schicht F aus
Germanium aufgebracht, welche durch Epitaxie-Wachstum erhalten wird, die mit 2 bezeichnet ist. Darüberhinaus wird von der
Fläche aus, welche derjenigen Fläche gqpnüberliegt, welche die Expitaxialschicht erhalten hat, in dem Substrat 1 eine
diffundierte Schicht vomTyp H+ hergestellt, welche mit 3 bezeichnet
ist und welche eine geringe Stärke rufweist. Die Iler-)
stellung einer solchen Struktur wirft keine besonderen Schwierigkeiten auf: die Erreichung einer Germrjiium-Epitaxialschicht in
einer Dampfphase, welche unterhalb, und zwar einerseits der Fusionstemperatur und andererseits de::jenigen der großen Verbreitung
der Verunreinigungen für Silicium liegt. Man kenn für
das Substrat ein Silicium vom Typ Γ mit einem spezifischem Widerstand von 10 Ohm. cm wählen. In eine:: vorteilhaften Ausführungsform
wird auf das Substrat eine Germoniumschicht vom Typ Γ mit einem spezifischen Viderstrmd von 10 Olim cm ruf gebracht. Die
dünne Schicht vom Typ IJ auf der Fläche des Substrats, welche
der Epitaxialschicht gegenüberliegt, kann entweder drrch Diffusion
ort er durch vorherige Legierung ode:.1 noch vorteilhafter nach d..T
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Ö*D ORIGINAL
Epito.xir.1 schicht aufgebrächt worden. Schließlich wird die
äußere Fläche 5 der Germaniumschicht 2 dotiert (beispielsweise mit l)iffusol) , und der Durchbrucliübergairj ist bei 3
dargestellt. Das -Auf treffen der i-liotonen erfolgt durch die
äußere Flache der dünnen Schicht" 3 auf dow Silicium, wobei
die auftreffende Strahlung beispielsweise das silicium entlang
dor Pd.ch.tung des i'feils 4 schläft. Die liii ersten Haberial
durch die Ausdehnung der Zone der Raumladung betroffene Stärke dos übergänge 6, welcher im Durchbruch arbeitet, ist
bei W dargestellt.
Schließlich sind bei 10 und 11 die Anschlüsse dargestellt,
Vielehe die invertierte Polarisation des DurchbruchübergEings
ermöglichen. Hit dem Anschluß 10 ist die positive Klemme einer Spanmmgsquelle 12 verbunden, deren negative Klemme
mit dem Anschluß 11 verbunden ist.
Die Fig. 2 stellt das Diagramm der elektrischen Feldverteilung als Funktion der Abszisse :: in der Ileteroübergangsstrukbur dar,
wobei die Abszisse von der Aufbroffläche aus gewählt wird. Hierbei
werden drei verschiedene Teile unterschieden: ein Teil 7>
wo das elektrische Feld in der Schicht H+ anwuchsb, datin ein
Teil 8, vio das elekbrische Feld abnimmt und welcher der Zone
der Iis.iuuladurjjj dor Dichbe W im ersben IlrbtiLal enbüpricht und
schließlich ijL zweiben Naterial, welches so &«wählt isb, daß
es ä'i-'i SbxTihlunc intensiv i.b/jorbiert, ein Teil 9>
wo das elektrische Feld sehr schwach ist" und quasi als Hull angesehen
werden kenn.
Die B'Lg. 3 gibb das Diagramm des spektralen Verhalbens der Heteroübergang;;--Zusammensebzurig
im. Das dem Silicium eigene spektrale Verholten ist in der sehr dünnen durchgezogenen Linie dargestellt,
deren Maximum bei λ1 » 0,8 η liegt. Das den Germanium
eigene Verhalten ist durch die durchgezogene Linie mittlerer
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G -
Starke dargestellt, deren Haximum im Bereich von X?. = 1,6>u
liegt. Schließlich, liefert das spektrale Verhalten de::* Anordnung,
welche aus der Si-Ge-Zusarumensetzung gemäß der Erfindung
besteht, ein spektrales Verhalten gemäß der gestrichelten Linie.
Ein größerei' Vorteil der erfindungsgeuäßen Zusammensetzung
geht aus dor Prüfung dor Fig. J hervox1. Er besteht in der
spektakulären Erweiterung dos nutzbaren Durchiaßbereiehes.
Die weiboren Hauptvorbeile der erfindungsgemäßen Zusammensetzung
sind ihre große A-nsprecuonipfindlichkeit, ihre starke
Ausbeute selbst für eine Wellenlänge im Bereich von 1,06, eine
Wellenlänge, die jedoch nahe an dom Schwellwerk für Silicium
Iiogt.
Es läßt sich festsbellen, daß in der betrachboton Struktur
dao Germanium die Rolle des Strahlungsabsorptionsmaterialc
ßl^iclb. In orsbor Iläherung sjjielb os eher eine· Rolle der
passiven Unterstützung als cine RoIIj dor Ilitwirkung beim
Betrieb.
Der wesentlich höhere Dunkolsbrom in den p/n übergängen beim
Germanium gegenüber den p/n Übergängen beim Silicium liefert
kein störendes Element, da, wie aus dor Fig. 2 ersichtlich isb, das elektrische Feld im zweiten Ilr.terial vernachlässig ■
bar isb.
Jedenfalls läßt sich oin Stabilisierungeoffekt der Multiplikation
als Funktion der Spannung erreichen, welcher aus der -Tatsache resultierb, daß oin elektrisches Feld im Germanium
vorhanden isb. Die Wirkungsweise ist jedenfalls mit derjenigen der Diode von Read verwandt.
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2052H0
Er. int si ι bojiicrkcn, daß die orfinclm:i[jG£oiiiäße Struktur nocli
in den Fell anwendbar int, in welchgh der zweite
"Uflcher f-iln iXvrclibruchiib erlang böseicheet uird, im norrrlcn
Betrieb arbeitet. In dieseia Betricb3fp.ll ist es drain yot'/m-
^ie];:-:i, doü JIc toroübcrjjrJQL rai^ einer Entferirciirj rjiziiordnr.n,
i:.;.lchc - vom zweiten "überfalle; au ο cesählt _ leicht uiitorliolb
dor AußdchiK-jiG bleibt, welche die Zone, der Bauriladune de.?
r.icoiton ubc:c:;an! ;b rmd.cht.
BAD
ORIGINAL
1 0 9 8 1 8 / 1 f) 0 Ί
Claims (2)
1.jPhotodetektor,welcher im Inneren eines Halbleiterkörpers
^-—"einen HeteroÜbergang zwischen zwei Halbleitermaterialien
aufweist, in welchem das der festzustellenden Strahlung ausgesetzte Material, das sogenannte erste Material, ein
Material ist, bei welchem die Breite des verbotenen Bandes der Wellenlänge dieser Strahlung angepaßt ist und bei
welchem die Breite des verbotenen Bandes des zweiten Materials unterhalb der Breite des verbotenen Bandes des ersten
Materials ist, dadurch gekennzeichnet, daß
* dieser Körper außerdem HeteroÜbergang mindestens einen zweiten
Übergang aufweist, welcherals Durchbruchübergang bezeichnet
wird, der in dem ersten Halbleitermaterial angeordnet ist und daß eine elektrische Versorgungseinrichtung
zur inversen Polarisation dieses zweiten Übergangs und dazu vorgesehen ist, diesen im Durchbruchbetrieb arbeiten zu
lassen.
2. Photodetektor nach Anspruch 1, dadurch gekcnnzeich
net, daß das erste Halbleitermaterial Silicium und das zweite Material Germanium ist.
7j. Photodetektor nach Anspruch 1, dadurch gekenn zeich
net, daß der Durchbruchübergang auf einer Entfernung von
HeteroÜbergang angeordnet ist, Vielehe zwischen drei Viertel und vier Drittel der Entfernung der Ausdehnung der Raumladung
liegt, welche durch den zweiten Übergsng erzeugt wird, wenn dieser im Durchbruchbetrieb £o?beitet.
109818/ 1BU 1
BAD ORIGINAL
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE3047188A1 (de) * | 1980-03-31 | 1981-11-19 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corp., Tokyo | Optoelektronischer schalter |
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