DE2855074C2 - Oberflächenpotential-Meßeinrichtung - Google Patents
Oberflächenpotential-MeßeinrichtungInfo
- Publication number
- DE2855074C2 DE2855074C2 DE2855074A DE2855074A DE2855074C2 DE 2855074 C2 DE2855074 C2 DE 2855074C2 DE 2855074 A DE2855074 A DE 2855074A DE 2855074 A DE2855074 A DE 2855074A DE 2855074 C2 DE2855074 C2 DE 2855074C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- voltage
- measuring
- measuring device
- potential
- surface potential
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/50—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
- G03G15/5033—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor
- G03G15/5037—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor the characteristics being an electrical parameter, e.g. voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/12—Measuring electrostatic fields or voltage-potential
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/24—Arrangements for measuring quantities of charge
Description
Die Erfindung betrifft eine Oberflächenpotential-Meßeinrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs
1.
Aus der CH-PS 1 68 775 ist eine derartige Oberflächenpotential-Meßeinrichtung bekannt bei der die die Meßelektrode periodisch abschirmende, als Zerhackerflügel ausgebildete Abschirmvorrichtung auf Massepotential liegt Mit dieser bekannten Oberflächenpotential-Meßeinrichtung läßt sich zwar der Betrag des jeweils gemessenen Oberflächenpotentialwerts relativ genau ermitteln, jedoch bereitet es Schwierigkeiten, die Polarität d. h. das Vorzeichen des gemessenen Potentials festzustellen. Diese zusätzliche Polaritätsermittlung ist jedoch insbesondere dann wichtig, wenn das zu messende Oberfiächenpotential sowohl positiv als auch negativ sein kann, wie es beispielsweise bei dem photoempfindlichen trommeiförmigen Aufzeichnungsmaterial eines elektrophotographischen Geräts der Fall ist.
Aus der CH-PS 1 68 775 ist eine derartige Oberflächenpotential-Meßeinrichtung bekannt bei der die die Meßelektrode periodisch abschirmende, als Zerhackerflügel ausgebildete Abschirmvorrichtung auf Massepotential liegt Mit dieser bekannten Oberflächenpotential-Meßeinrichtung läßt sich zwar der Betrag des jeweils gemessenen Oberflächenpotentialwerts relativ genau ermitteln, jedoch bereitet es Schwierigkeiten, die Polarität d. h. das Vorzeichen des gemessenen Potentials festzustellen. Diese zusätzliche Polaritätsermittlung ist jedoch insbesondere dann wichtig, wenn das zu messende Oberfiächenpotential sowohl positiv als auch negativ sein kann, wie es beispielsweise bei dem photoempfindlichen trommeiförmigen Aufzeichnungsmaterial eines elektrophotographischen Geräts der Fall ist.
In diesem Zusammenhang wurde bereits erwogen, zusätzlich die Zeitintervalle der tatsächlichen Abschirmung
der Meßelektrode zu berücksichtigen und die Polaritätsermittlung in Abhängigkeit hiervon auszuführen.
Zwar läßt sich hiermit die jeweilige Polarität effektiv ermitteln, jedoch ist für dieses Meßverfahren relativ
großer schaltungstechnischer Aufwand erforderlich.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Oberflächenpotential-Meßeinrichtung gemäß dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1 derart auszugestalten, daß sie bei einfachem Aufbau eine exakte Ermittlung
nicht nur des Betrags, sondern auch der Polarität des zu messenden Oberflächenpotentials ermöglicht.
Diese Aufgabe wird mit den im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 genannten Merkmalen gelöst.
Damit ist es bei einfachem Aufbau möglich, das zu
Damit ist es bei einfachem Aufbau möglich, das zu
so messende Potential nicht nur betragsmäßig, sondern auch hinsichtlich seiner Polarität exakt zu erfassen.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
So ermöglicht beispielsweise die Ausgestaltung der Meßeinrichtung nach den Patentansprüchen 2 bis 4 in einfacher Weise die Anlegung der Vorspannung an das feststehende Gehäuse, über das diese Vorspannung dann beispielsweise über entsprechende, bereits aus Lagerungsgründen erforderliche Lager auf die sich drehende Abschirmvorrichtung übertragbar ist. Zusätzlich bietet die Ausgestaltung der Meßeinrichtung nach den Patentansprüchen 5 bis 7 die Abgabe eines Ausgangssignals, das bei einem Obeiflächenpotentialwert von 0 Volt ebenfalls bei 0 liegt und bei positiver Polarität positives Vorzeichen bzw. bei negativer Polarität negatives Vorzeichen annimmt. Insbesondere vorteilhaft erweist sich die Verwendung der erfindungsgemäßen Oberflächenpotential-Meßeinrichtung bei einem Bilder-
So ermöglicht beispielsweise die Ausgestaltung der Meßeinrichtung nach den Patentansprüchen 2 bis 4 in einfacher Weise die Anlegung der Vorspannung an das feststehende Gehäuse, über das diese Vorspannung dann beispielsweise über entsprechende, bereits aus Lagerungsgründen erforderliche Lager auf die sich drehende Abschirmvorrichtung übertragbar ist. Zusätzlich bietet die Ausgestaltung der Meßeinrichtung nach den Patentansprüchen 5 bis 7 die Abgabe eines Ausgangssignals, das bei einem Obeiflächenpotentialwert von 0 Volt ebenfalls bei 0 liegt und bei positiver Polarität positives Vorzeichen bzw. bei negativer Polarität negatives Vorzeichen annimmt. Insbesondere vorteilhaft erweist sich die Verwendung der erfindungsgemäßen Oberflächenpotential-Meßeinrichtung bei einem Bilder-
3 4
zeugungsgerät wie es im Anspruch 13 näher angegeben Primärladers 22 erfolgt aa der Belichtungsstation eine
ist Bei einem derartigen Bilderzeugungsgerät ist die Schlitz-Bildbelichtung der Trommel 11.
Überwachung des Potentials des Aufzeichnungsmateri- Zugleich damit wird die Trommel Ii einer Entladung
als sowohl hinsichtlich des Potentialbetrags als auch hin- durch Wechselstrom oder mit zur Polarität der Primärsichtlich des Potentialvorzeichens äußerst nützlich, um 5 ladung entgegengesetzter (wie beispielsweise negatibeispielsweise Alterungserscheinunge;i des Aufzeich- ver) Polarität mittels eines Entladers 23 unterzogen, wonungsmaterials zuverlässig zu erfassen. Hierbei kann nach an der Trommel eine Gesamtflächenbelichtung
gemäß dem Patentanspruch 14 das Ausgangssignal der mittels einer Totalbelichtungslampe 24 erfolgt so daß
Meßeinrichtung unmittelbar zu Steuerung des Bilder- auf der Trommel 11 ein elektrostatisches Ladungsbild
zeugungsgeräts herangezogen werden und beispiels- io mit hohem Kontrast ausgebildet ist Das elektrostatiweise eine entsprechende Nachregelung der Korona- sehe Bild an der photoempfindlichen Trommel 11 wird
entladungseinrichtungen und/oder der Entwicklungs- mittels einer Entwicklungseinheit 25 als Tonerbild sichtvorspannung steuern. bar gemacht
rungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung 15 den Übertragungs- oder Bildempfangs-Papierblätter
näher erläutert Es zeigt 27-1 oder 27-2 aus einer Kassette 26-1 oder 26-2 dem
graphischen Kopiergeräts, bei dem die beschriebene eines ersten Satzes von Registrierwalzen 29-1 oder 29-2
führungsbeispiels der Meßeinrichtung, zur photoempfindlichen Trommel 11 hin transportiert
schaltung zur Oberflächenpotential-Messung, mel 11 auf das Bildempfangspapier 27 bei dessen Durch-
führungsbeispiels der Meßeinrichtung, portband 32 geführt durch das es zwischen ein Paar von
führungsbeispiels, dem Bildempfangspapier durch Druck und Wärme fixie-
tential-Messung, lage 34 ausgegeben. Nach der Bildübertragung wird die
F i g. 9 eine perspektivische Ansicht eines käfigförmi- Trommel 11 an ihrer Oberfläche mittels einer Reinigen Zerhackers, gungsvorrichtung 35 mit einem federnden Abstreifer
flächenpotential V> und dem Spitzenwert eines Aus- schriebenen Bilderzeugungszyklus bei unterschiedli-
gangssignals einer Meßelektrode bei einer Vorspan- chen Zeitpunkten wird mittels eines Sensors 11b zur
nung Vb von 150 V, optischen Erfassung eines Taktorts einer Taktscheibe
tungsschaltung für eine ermittelte Spannung, 40 Trommeltaktimpuls DCK erzeugt
bestimmten Stellen der in Fig. 11 gezeigten Schaltung 11 bezeichnet Die Meßeinrichtung 50 ist an der Ent-
und wicklungseinheit 25 angebracht.
erschaltung. graphischen Kopiergeräts geeignete Oberflächenpo-
phischen Kopiergeräts, bei dem die beschriebene Ober- F i g. 2 gezeigt, während in F i g. 3 eine Meßschaltung
flächenpotential-Meßeinrichtung anwendbar ist. gezeigt ist. Mit 101 ist ein Dreh-Zerhackerflügel be-
terial. Die Trommel 11 ist drehbar an einer Achse 12 dient, um damit das auf dem Oberflächenpotential der
angebracht und beginnt bei Empfang eines Kopierbe- Meß-Fläche 102 beruhende elektrostatische Feld in ei-
fehls in Pfeilrichtung zu drehen. 55 nen Wechselstrom bzw. eine Wechselspannung umzu-
Ab einer bestimmten Drehlage der Trommel 11 wird setzen und hierdurch eine Spannung in der Meßelektroeine auf eine Vorlagenträger-Glasplatte 14 aufgelegte de 103 zu influenzieren. Mit 108 ist eine Gleichstrom-Vorlage mittels einer Beleuchtungslampe 16 beleuchtet quelle als Vorspanneinrichtung zum Anlegen einer vordie als eine Einheit mit einem ersten Abtast-Spiegel 15 bestimmten Vorspannung an den Zerhackerflügel 101
ausgebildet ist; das von der Vorlage reflektierte Licht 60 bezeichnet. Mit 110 ist eine Drehwelle des Zerhackerwird mittels des ersten Abtast-Spiegels 15 und eines flügels 101 bezeichnet die mit einer nicht gezeigten Anzweiten Abtast-Spiegels 17 abgetastet. Der erste und triebsvorrichtung wie einem Motor verbunden ist. In
der zweite Abtastspiegel 15 und 17 werden mit einem der Meßelektrode 103 wird ein mit hoher Impedanz
Geschwindigkeitsverhältnis von 1 : '/2 bewegt. Das Re- belastbares Wechselspannungssignal erzeugt, das auf
flektionslichtbild wird über das Objektiv 18, einen drit- 65 dem Potentialunterschied zwischen der Meß-Fläche 102
ten Spiegel 19 und einen vierten Spiegel 20 an einer und dem Zerhacker beruht.
schaltung 116 zur Impedanzwandlung in ein Signal niedriger
impedanz umgesetzt und verstärkt. Die Verstärkerschaltung 116 ist unter Verwendung eines Feldeffekttransistors
(FET) oder dergleichen aufgebaut; ihr Ausgangssignal wird mittels einer Gleichrichterdiode
105 gleichgerichtet. Das gleichgerichtete Ausgangssignal wird über einen Kondensator 113 und einen Verstärker
106 mit hoher Eingangsimpedanz geglättet. An einen Anschluß 111 wird in invertierter Form diejenige
am Ausgang 107 des Verstärkers 106 abgegebene Span- to nung angelegt, die auftritt, wenn das Potential der Meß-Fläche
102 gleich 0 V ist. Ein Rechenverstärker 112 addiert
das geglättete Ausgangssignal und das am Anschluß 111 anliegende Ausgangssignal, so daß die an
einem Ausgangsanschluß 114 auftretende Ausgangsspannung gleich 0 V ist, wenn das Potential der Meß-Fläche
gleich 0 V ist Das heißt, der Rechenverstärker 112 subtrahiert die einem Ausgangswert der Vorspannung
Vb entsprechende Spannung von dem gleichgerichteten und geglätteten Ausgangssignal.
Die an den Anschluß 111 angelegte Spannung kann
beispielsweise mittels einer in F i g. 4 gezeigten Schaltung gewonnen werden. 122 bezeichnet eine Stromquelle
als Vorspanneinrichtung bzw. Gleichstromquelle 108, während 121 einen Schleifer bezeichnet, mit dem eine
Vorspannung Vb über die Drehwelle 110 an den Zerhakkerflügel
101 angelegt wird. Die Vorspannung Vb wird mit einem vorbestimmten Verhältnis durch Teiler-Widerstände
RH und Ä12 geteilt und in einem durch
Widerstände R 13 und R 14 bestimmten Verhältnis mittels
eines Rechenverstärkers 123 invertiert und verstärkt
Die Widerstandswerte der Widerstände RH, R 12,
R 13 und R 14 werden so gewählt, daß die erzielte Spannung
gleich dem invertierten Wert der Spannung ist, die an dem Anschluß 107 auftritt wenn die Spannung an der
Meß-Fmche 102 gleich 0 V ist Wenn das Potential der Meßfläche gleich OV ist, wird die Ausgangsspannung
am Ausgangsanschluß 114 zu OV. Hierdurch wird eine Unterscheidung zwischen positivem und negativem Potential
der Meß-Fläche ermöglicht
Nunmehr wird zur Beschreibung des Meßsignalverlaufs für das Oberflächenpotential auf F i g. 5 Bezug genommen.
In F i g. 5 stellt die Abszisse das Potential der Meß-Fläche dar, während die Ordinate das gemessene
Potential darstellt Wenn gemäß dem Stand der Technik der drehbare Zerhacker auf Massepotential (Nullpunkt)
liegt, ruft ein Oberfiächenpotential, das ein und denselben
Absolutwert bzw. die gleiche Größe hat jedoch hinsichtlich der Polarität verschieden ist, dieselbe Spannung
hervor, so daß es unmöglich ist, zwischen den Polaritäten zu unterscheiden. Wenn jedoch an den Zerhakker
die Vorspannung VB angelegt ist, wird der Nullpunkt
der in der Meßelektrode 103 influenzierten Spannung auf den Punkt O' verschoben. Da hierbei die Vorspannung
VB auf einen Wert gewählt ist, der gleich dem oder
größer als ein Maximalwert Vmax des gemessenen Oberflächenpotentials Vp ist, ist das Oberflächenpotential
Vp immer kleiner als die Vorspannung Vb. Daher wird es möglich, das Oberflächenpotential mittels einer
Spannung zu erfassen, die unterschiedlich ist, wenn das
Oberflächenpotential Vp unterschiedliche Vorzeichen, jedoch gleiche Größe hat Die Vorspannung Ve hat hierbei
einen positiven Wert; falls sie jedoch einen negativen Wert hat, ist die Messung dadurch möglich, daß eine
Vorspannung· Ve gewählt wird, die gleich dem oder kleiner
als der Minimalwert Vmin des Oberflächenpotentials ist
Ferner werden das Ausgangssignal des Verstärkers 106 mit hoher Eingangsimpedanz und das Ausgangssignal
am Anschluß 111 addiert. Dies ergibt eine Parallelverschiebung
der Linie X-X in die Lage X'-X'. Das heißt, wenn das Oberflächenpotential Vp gleich dem
Massepotential ist, wird die am Anschluß 107 abgegebene Spannung, nämlich die dem Ausgangswert der Vorspannung
entsprechende Spannung subtrahiert. Mit diesem Aufbau ist es möglich, ein positives Oberflächenpotential
als positiven Wert und ein negatives Oberflächenpotential als negativen Wert zu erfassen. Das heißt,
ein Oberflächenpotential, das einen Unterschied in der Polarität aufweist, wird mittels eines Meßwerts gemessen,
der unterschiedliche Polarität hat Daher wird beispielsweise dann, wenn das Potential der Meß-Fläche
dem Potential eines Punkts s entspricht, an dem Anschluß 114 eine Gleichspannung + Va abgegeben. Wenn
ferner das Potential der Meß-Fläche dem Potential eines Punkts b entspricht, wird am Anschluß 114 eine
Gleichspannung — Vb abgegeben.
Nachstehend wird ein zweites Ausführungsbeispiel der Meßeinrichtung beschrieben. Fig.6 zeigt eine
Querschnittsansicht, die die lagemäßige Beziehung zwischen einer Oberflächenpotential-Meßeinrichtung 50'
und der Trommel 11 zeigt. In F i g. 7 ist eine Schnittseitenansicht
der Meßeinrichtung 50' und in F i g. 8 eine Oberflächenpotential-Detektorschaltung dargestellt,
während F i g. 9 eine perspektivische Ansicht eines käfigförmigen Zerhackers 153 zeigt, der eine Abschirmung
zwischen der Meß-Fläche und der Meßelektrode bildet
In den F i g. 6,7 und 8 bezeichnet 152 einen aus Messing
oder Aluminium geformten leitenden Außenzylinder. Der Außenzylinder 152 hat ein Oberflichenladungs-Detektorfenster
bzw. -Meßfenster 165. Mit 155 ist ein Sensor-Motor als Antriebsvorrichtung für den
Drehantrieb des Zerhackers 153 bezeichnet, welcher leitend und zylindrisch ist und Meßfenster 164 aufweist.
154 bezeichnet eine Oberflächenpotential-Meßelektrode, während 156 eine Vorverstärker-Druckplatine bezeichnet,
die eine Detektorschaltung zur Erfassung des Ausgangssignals der Meßeiektrode 154 bildet.
Die Meßeinrichtung 50' ist in einem Abstand von 2 mm von der Trommeloberfläche 1 angebracht die die
Meß-Fläche darstellt; dabei ist das Ladungs-Meßfenster 165 der Trommeloberfläche gegenübergesetzt, während
die Vorverstärker-Druckplatine 156 zum Verstärken der mittels der Meßelektrode 154 erfaßten Spannung
innerhalb der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung 50' angeordnet und mit dieser zusammen als Einheit
ausgebildet ist Wenn der Sensor-Motor 155 läuft, erfoigi über das Potential Meßfenster 164 durch die Ladung
auf der Trommeloberfläche eine Induktion an der Meßelektrode 154. Im Zerhacker 153 sind in gleichen
Abständen vier derartige Potential-Meßfenster 164 ausgebildet Die Influenzierung durch die Ladung an der
Meßelektrode 154 erfolgt aufgrund der Drehung des Zerhackers 153 zur Bildung der periodischen Abschirmung
zwischen der Trommeloberfläche und der Meßelektrode 154 in gleichförmigen Intervallen; diese Ladungsinduktion
ergibt eine Wechselspannung gernäß der Darstellung in Fig. 10-1. Die Periode T dieser
Wechselspannung ist
Γ = 1 (Sensor-Motor-Drehzahl χ 4)
Die Amplitude Vp-p dieser Spannung ist proportional
zu der Differenz zwischen dem Trommel- bzw. Oberflä-
chenpotential Vp und der Vorspannung Vb, die eine Potential-Bezugsspannung
am Außenzylinder 152, dem Zerhacker 153 und der Druckplatine 156 bildet. Daher
wird die Wechselspannung zu Null, wenn V>./>
= Ve gilt. Die auf der Druckplatine 156 angebrachte Innenschal 5
tung wird mittels einer Sensor-Spannungsquelle SVcc betrieben, die der Vorspannung Vb bzw. einer Vorspannungsquelle
140 vorgeschaltet ist; ein Flächen-Feldeffekttransistor Qu der eine Impedanzumsetzung bzw.
-Wandlung der mittels der Meßelektrode 154 erfaßten Wechselspannungssignals bewirkt, nimmt ein schwaches
bzw. kleines Wechselspannungssignal über seinen hohen Gate-Eingangswiderstand auf und setzt es in ein
Signal niedriger Impedanz um. Mit R 3 und A4 sind
Schutzwiderstände bezeichnet,
Fig. 10-2 zeigt den Zusammenhang zwischen dem Trommel- bzw. Oberflächenpotential Vp mit der Vorspannung
Vb als Parameter und dem Spitzenwert des Ausgangssignals des Vorverstärkers. Das Ausgangssignal
des Vorverstärkers ist so beschaffen, daß der Unterschied zwischen dem Trommelpotential Vp und der
Vorspannung Vg zuverlässig erfaßt wird. Falls sich das
Trommelpotential Vp innerhalb des Bereichs Vp £ Vb
oder des Bereichs Vp S V8 ändert, hat die Meßwechselspannung
eine monoton ansteigende oder monoton abfallende Charakteristik, in Abhängigkeit von dem Trommelpotential
Vp, so daß daher die Notwendigkeit entfällt, zur Bestimmung der Polarität zusätzlich eine Synchron-Gleichrichter-Schaltung
vorzusehen. Wenn in Fig. 10-2 die Vorspannung VB gleich 150 V ist und das
Trommel- bzw. Oberflächenpotential Vp im Bereich von V><
150 V liegt, steigt die Meßspannung im Bereich von — π V bis +150 V monoton an, so daß die Bestimmung
des Größenzusammenhangs in positiver und negativer Richtung ermöglicht ist. Der maximale Wert von
Vp im positiven Bereich ist jedoch 150 V, während durch
die Sättigungsspannung der an der Druckplatine 156 angebrachten Schaltung der Wert — η V begrenzt ist
Gemäß der vorstehenden Beschreibung wird eine vorbestimmte positive oder negative Vorspannung an
das Meßeinrichtungs-Gehäuse und die in der Meßeinrichtung
enthaltene Innenschaltung in der Weise angelegt, daß die Vorspannung in einem Bereich verändert
wird, der entweder größer oder kleiner als die Potentialspannung ist; dadurch wird die Bestimmung der Polaritat
des Potentials an der Meß-Fläche ermöglicht Dieser Aufbau schaltet nicht nur die Notwendigkeit einer zusätzlich
vorzusehenden Synchronjsier-Gleichrichter-Schaltung oder dergleichen aus, sondern macht es auch
möglich, Schwankungen des Meßpotentials zu verhindem, die sich sonst aus Störungen ergeben würden, die
die Innenschaltung der Meßeinrichtung beeinträchtigen.
Zur Beschreibung der Verarbeitung der an einem Anschluß
/1 abgegebenen Wechselspannung wird nun auf die Schaltung gemäß Fig. 11 und die Kurven gemäß
Fig. 12 Bezug genommen. Die mittels der Meßeinrichtung 50' erfaßte Wechselspannungs-Kurvenform wird
von dem Anschluß/1 an einen Koppelkondensator C3
angelegt und mittels eines Verstärkers Q 6 zu einem verstärkten Wechselspannungssignal mit +12V als
Mittelwert wechselstrommäßig verstärkt Mit VR 6 ist ein veränderbarer Widerstand zur Einstellung der Detektor-
oder Meßverstärkung bezeichnet
Danach wird nur die positive Komponente der Wechselspannung
mit +12 V als Mittelwert linear mittels einer Linear-Gleichrichter-Schaltung aus einem Rechenverstärker
Q 7, Dioden D 3 und D 4 und einem Widerstand R 20 verstärkt. Wenn die Eingangsspannung an
dem invertierenden Eingangsanschluß des Rechenverstärkers Q 7 positiv in bezug auf die Eingangsspannung
an dem nicht invertierenden Eingangsanschluß desselben ist, wird der Verbindungspunkt A negativ, so daß
die Dioae ü$ sperrt. Während die Diode D3 durchschaltet.
Da der negative bzw. invertierende Eingangsanschluß des Rechenverstärkers Q 7 durch das Durchschalten
der Diode D 3 zu +12 V wird, nimmt der Ausgang
(Punkt B) die Spannung +12V an. Wenn ferner die Eingangsspannung an den invertierenden Eingangsanschluß des Rechenverstärkers Q 7 negativ in bezug
auf die Eingangsspannung an dem nicht invertierenden Eingangsanschluß desselben ist, wird der Punkt A positiv,
wodurch die Diode D 4 durchschaltet, während die Diode D 3 sperrt, so daß die Verstärkung zu
— Ä20/Ä19 wird und daher eine lineare Verstärkung
und Gleichrichtung erfolgt. Die Verwendung einer derartigen Linear-Gleichrichter-Schaltung führt zu einer
verbesserten Linearität der Gleichspannungs-Regenerier-Charakteristik
für das Oberflächenpotential der Trommel und zu einer zufriedenstellenden Temperatur-Kompensation.
Das gleichgerichtete Signal wird über einen Pufferverstärker mit einem Rechenverstärker Q 8 geführt und
mittels eines Glättungs-Kondensators C6 geglättet. Das Signal wird ferner mittels eines Pufferverstärkers
Q 9 verstärkt Das Ausgangssignal aus diesem Pufferverstärker Q 9 wird über einen Spannungsfolger Q13
an einen Potentialeinstellungs-Prüfanschluß /5 ausgegeben. Der Zusammenhang zwischen dem Ausgangssignal
am Anschluß /5, nämlich dem integrierten Ausgangssignal, und dem Oberflächenpotential der Trommel
ist gemäß der Darstellung in F i g. 12A symmetrisch zur Vorspannung Vb- An den invertierenden Eingangsanschluß eines Additions-Verstärkers QiO wird über
den Anschluß /2 eine sich durch Teilung der Vorspannung Vb mittels der Widerstände R 8 und R 9 ergebende
Spannung Vcomp angelegt, die bei diesem Ausführungsbeispiel +1 V (bei der Bezugsspannung +12 V) ist Diese
Spannung Vcomp zur Sensorvorspannungs-Kompensation wird dabei mittels eines Rechenverstärkers Q14
invertiert bzw. umgepolt und ergibt (bei der Bezugsspannung +12 V) ein Eingangssignal von —1 V an dem
Additions-Verstärker QlO. Das Ausgangssignal des
Verstärkers 10 hat eine Charakteristik gemäß der Darstellung in Fig. 12B. Durch das Multiplizieren mittels
der Vorspannung Vb bzw. durch die Proportionalität zu
dieser dient die Kompensationsspannung Vcomp dazu, eine Pegelverschiebung und ein Ausschalten irgendeiner
Versetzung in der Weise herbeizuführen, daß das in seiner Gleichspannung regenerierte Meßausgangssignal
OV (in bezug auf +12 V) ist wenn das Oberflächenpotential
der Trommel gleich 0 V ist, um die positive oder negative Polarität des Potentials zu bestimmen.
Ferner bewirkt eine Änderung der Vorspannung Vb eine Versetzung der Änderung der in seiner Gleichspannung
regenerierten Meßausgangssignals. Das heißt, durch Hinzufügen einer aus der an das Meßeinrichtungs-Gehäuse
angelegten Vorspannung mit Widerständen geteilten Spannung zu dem hinsichtlich der
Gleichspannung regenerierten Meßausgangssignal der Meßeinrichtung wird eine Änderung der Vorspannung
versetzt, was eine stabile Messung ermöglicht Hierbei besteht keine Einschränkung auf die käfigförmige Meßvorrichtung
bei diesem Ausführungsbeispiel; vielmehr ist irgendeine beliebige Meßvorrichtung verwendbar,
bei welcher das Potential einer Meß-Fläche als Wech-
|; 9
"i selspannungssignal abgegeben wird und dieses hinsicht-
[': lieh der Gleichspannung regeneriert wird. Das am An-
lieh der Gleichspag g
Schluß J 4 abgegebene Signal kann mittels einer Steuer-Schaltung
gemäß der Darstellung in F i g. 13 zur Steuerung eines Kopiergeräts oder dergleichen herangezo-
!, gen werden.
§ Das vom Anschluß /4 angelegte Signal wird mittels
eines an einen Anschluß /6 angelegten Abfragesignals in einer bekannten Abfrage/Halte-Schaltung SHC gespeichert
und das derart gespeicherte Signal mittels ei- ίο
ner Verarbeitungs- oder Rechenschaltung CC zu einem Steuersignal verarbeitet, um so einen Primärlader
HVTi, einen Wechselspannungs-Entlader HVT2 und eine Entwicklungseinheit bzw. eine Entwicklungsvorspannung
DBIAS zu steuern.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung kann bei der Meßeinrichtung mittels einer sehr einfachen Vorrichtung
zum Anlegen der Vorspannung Vb an den Zerhakker das Oberflächenpotential einer Meß-Fläche durch
dessen Umsetzen in einen Wechselstrom bzw. eine Wechselspannung gemessen und zwischen positivem
und negativem Oberflächenpotential unterschieden werden.
Bei positiver Vorspannung Vb kann mit der Meßeinrichtung
kein positives Potential gemessen werden, das größer als die Vorspannung ist Es ist daher ersichtlich,
daß die Vorspannung Vb gleich dem zu messenden maximalen Potential Vmax oder größer sein muß. Dies gilt
auch für negatives Vorspannungspotential.
30
Hierzu 7 Blatt Zeichnungen
35
40
45
50
55
60
65
Claims (14)
- Patentansprüche:ί. Oberflächenpotential-Meßeinrichtung mit einer Meßelektrode zum Messen des zwischen positiven und negativen Werten variierenden Potentials einer Oberfläche und mit einer Abschinnvorrichtung, die die Meßelektrode periodisch derart abschirmt, daß in der Meßelektrode eine Wechselspannung influenziertwird, gekennzeichnet durch eine Vorspanneinrichtung (108; 122; 140) zum Anlegen einer Vorspannung (Vb) an die Abschirmvorrichtung (101; 153), deren Wert gleich dem oder größer als der Maximalwert des zu messenden Oberflächenpotentials oder gleich dem oder kleiner als der Minimalwert des zu messenden Oberflächenpotentials ist
- 2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmvorrichtung (153) in Form eines Hohlzylinders ausgebildet und die Meßelektrode (154) in dem Hohlraum der Abschirmvorrichtung angeordnet ist
- 3. Meßeinrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch ein Gehäuse (152), das die Abschirmvorrichtung (153) umgibt
- 4. Meßeinrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorspannung (Vb) an das Gehäuse (152) angelegt ist
- 5. Meßeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Gleichrichteranordnung (105; Q 7, D3, DA) zum Gleichrichten der in der Meßelektrode (103; 154) influenzierten Wechselspannung.
- 6. Meßeinrichtung nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch Recheneinrichtung (112; QlO), die vom Ausgangssignal der Gleichrichteranordnung (105; Q 7, D 3, D 4) eine Spannung (Vcomp) subtrahiert, die dem durch die Vorspannung (Vb) hervorgerufenen Ausgangswert entspricht.
- 7. Meßeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Recheneinrichtung (112; Q10) eine Ausgabeeinrichtung (123; Rg, R9) zur Abgabe der dem Ausgangswert entsprechenden Spannung (Vcomp) aufweist.
- 8. Meßeinrichtung nach Ansprüche oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die dem Ausgangswert entsprechende Spannung (Vcomp) aus einer durch Spannungsteilung der Vorspannung (Vb) erhaltenen Spannung gewonnen wird.
- 9. Meßeinrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 8, gekennzeichnet durch eine Glättungseinrichtung (113; Q) zum Glätten des Ausgangssignals der Gleichrichteranordnung (105; Q7,D3,D 4).
- 10. Meßeinrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Gleichrichteranordnung eine Schaltung (Q7, D3, DA) für lineare Gleichrichtung aufweist
- 11. Meßeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Impedanzwandlervorrichtung (116; Qi) zum Umsetzen der in der Meßelektrode (103; 154) influenzierten Wechselspannung in ein Signal niedriger Impedanz.
- 12. Meßeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßelektrode (103; 154) in einem elektrostatischen Aufzeichnungsgerät in der Nähe eines Aufzeichnungsmaterials (11) angeordnet ist.
- 13. Verwendung der Oberflächenpotential-Meßeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12 beieinem Bilderzeugungsgerät mit einer Mehrzahl von Bearbeitungsvorrichtungen zum Ausführen unterschiedlicher Arbeitsvorgänge für das Ausbilden eines Bilds auf einem photoempfindlichen Aufzeichnungsmaterial, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßeinrichtung das Oberflächenpotential des Aufzeichnungsmaterials (11) ermittelt
- 14. Verwendung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal der Meßeinrichtung zur Steuerung des Bilderzeugungsgeräts dient
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP784078A JPS5486378A (en) | 1977-12-21 | 1977-12-21 | Surface electrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2855074A1 DE2855074A1 (de) | 1979-07-05 |
DE2855074C2 true DE2855074C2 (de) | 1985-09-12 |
Family
ID=11676796
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2855074A Expired DE2855074C2 (de) | 1977-12-21 | 1978-12-20 | Oberflächenpotential-Meßeinrichtung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4613228A (de) |
DE (1) | DE2855074C2 (de) |
GB (1) | GB2012058B (de) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0070054B1 (de) * | 1981-07-10 | 1987-02-25 | Agfa-Gevaert N.V. | Verfahren und Vorrichtung für die Bestimmung von dynamischen Oberflächenpotentialen einer Lösung |
IL69055A0 (en) * | 1982-06-28 | 1983-10-31 | Coulter Systems Corp | Electrostatic field control method and apparatus |
DE3232671A1 (de) * | 1982-09-02 | 1984-03-08 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anordnung und verfahren zur spannungsmessung an einem vergrabenen messobjekt |
US4529940A (en) * | 1982-12-13 | 1985-07-16 | The Simco Company, Inc. | Panoramic electrostatic field sensor |
US4569583A (en) * | 1984-06-14 | 1986-02-11 | Burroughs Corporation | Electrostatic charge probe for electrophotographic apparatus |
US5101159A (en) * | 1990-05-18 | 1992-03-31 | Trek, Inc. | Electrostatic pin hole detector |
US6469513B1 (en) | 1992-11-12 | 2002-10-22 | Quality Engineering Associates, Inc. | Automated stationary/portable test system for applying a current signal to a dielectric material being tested |
US5929640A (en) * | 1992-11-12 | 1999-07-27 | Quality Engineering Associates | Automated stationary/portable test system for photoconductive drums |
GB2272976B (en) * | 1992-11-30 | 1996-06-05 | Stewart Hughes Ltd | A sensor |
JP2822876B2 (ja) * | 1994-03-07 | 1998-11-11 | 日本電気株式会社 | 表面電位センサ |
FI101179B (sv) * | 1995-05-26 | 1998-04-30 | Tr Tech Int Oy | Mätsystem och förfarande för mätning av elektrostatisk laddning samt u tnyttjande av mätsystemet |
US5952820A (en) * | 1996-02-16 | 1999-09-14 | Thrasher; M. D. | Foreign voltage detector |
JP3555518B2 (ja) * | 1999-09-16 | 2004-08-18 | 株式会社村田製作所 | 電位センサおよびそれを用いた電子機器 |
WO2012139650A1 (de) * | 2011-04-14 | 2012-10-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur berührungslosen bestimmung eines elektrischen potentials eines objekts, stromzange sowie verfahren |
DE102012024591A1 (de) * | 2012-12-17 | 2014-06-18 | Ulrike Rüdiger-Ludwig | Messvorrichtung |
USD769139S1 (en) | 2015-12-10 | 2016-10-18 | Power Solutions, Inc. | Probe |
US10466280B1 (en) | 2018-04-13 | 2019-11-05 | Power Solutions, Inc. | Enhanced circuit and method for detecting hazardous foreign voltages on conductors |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH168775A (de) * | 1932-07-25 | 1934-04-30 | Frei Hans | Einrichtung zum Messen elektrischer Spannungen. |
US3013203A (en) * | 1958-07-01 | 1961-12-12 | Xerox Corp | Xerographic electrometer apparatus |
US3321307A (en) * | 1963-07-15 | 1967-05-23 | Eastman Kodak Co | Exposure control in xerographic printing |
US3729675A (en) * | 1970-02-13 | 1973-04-24 | R Vosteen | High level non-contacting dynamic voltage follower for voltage measurement of electrostatically charged surfaces |
US3944354A (en) * | 1974-09-06 | 1976-03-16 | Eastman Kodak Company | Voltage measurement apparatus |
US3998538A (en) * | 1975-02-24 | 1976-12-21 | Xerox Corporation | Electrometer apparatus for reproduction machines |
US4106869A (en) * | 1976-11-26 | 1978-08-15 | Xerox Corporation | Distance compensated electrostatic voltmeter |
US4063154A (en) * | 1976-11-26 | 1977-12-13 | Xerox Corporation | D. C. electrometer |
US4100484A (en) * | 1976-11-26 | 1978-07-11 | Xerox Corporation | D.C. Electrometer |
US4127806A (en) * | 1977-04-01 | 1978-11-28 | Xerox Corporation | Shielded electrometer whose output is used to control width of pulses fed back to the shield and associated battery test circuitry |
-
1978
- 1978-12-15 GB GB7848686A patent/GB2012058B/en not_active Expired
- 1978-12-20 DE DE2855074A patent/DE2855074C2/de not_active Expired
-
1984
- 1984-07-17 US US06/631,643 patent/US4613228A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2012058B (en) | 1982-06-09 |
DE2855074A1 (de) | 1979-07-05 |
GB2012058A (en) | 1979-07-18 |
US4613228A (en) | 1986-09-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2855074C2 (de) | Oberflächenpotential-Meßeinrichtung | |
DE10151703B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen der Beschaffenheit einer Tonerteilchenschicht in einem Drucker oder Kopierer | |
DE3015859C2 (de) | ||
DE2916945C2 (de) | Vorrichtung zur Einstellung eines elektrophotographischen Kopiergerätes | |
DE2941665C2 (de) | ||
DE2411855C3 (de) | Einrichtung zum Steuern des Potentials der Entwicklerelektrode | |
DE102007009070A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen eines elektrischen Potentials sowie von elektrischen Ladungen ein einem Drucker oder Kopierer | |
DE2830461A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur steuerung der ausbildung elektrophotographischer bilder | |
DE3512060A1 (de) | Bilderzeugungsgeraet | |
DE2952672A1 (de) | Elektrotatographisches kopiergeraet | |
DE102012103336B4 (de) | Verfahren zum Betreiben eines Digitaldruckers und Ermittlung der Tonerkonzentration sowie zugehöriger Digitaldrucker | |
DE69820136T2 (de) | Nachweis für toneraufbrauch in einem adaptiven elektrophotographischen drucksystem | |
DE19602635C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Bildes | |
DE2558453C3 (de) | Vorrichtung zur Entwicklung eines elektrostatischen Ladungsbildes | |
DE1296414B (de) | Vorrichtung zum Feststellen von Wandstaerkeaenderungen oder Fehlern von metallischen Gegenstaenden | |
DE19730729B4 (de) | Farbbilderzeugungsgerät und zugehöriges Farbbilderzeugungsverfahren | |
DE3728493C2 (de) | ||
DE2422866B2 (de) | Photoelektrischer Detektor zur Lagebestimmung eines Körpers | |
DE3837528C2 (de) | Elektrofotografisches Kopiergerät | |
DE19643611B4 (de) | Verfahren zum Bestimmen eines Einfärbungsgrades von in Druck- und Kopiereinrichtungen erzeugten, betonerten Bereichen | |
EP0475941B1 (de) | Anordnung zum erfassen der strahlungsenergie von lichtemittierenden halbleiterelementen sowie deren verwendung in einer elektrofotografischen druckeinrichtung | |
DE4232232C2 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Aufbringung von Toner-Bildern auf ein lichtempfindliches Medium | |
DE3129733A1 (de) | Einrichtung fuer magnetometer zum kompensieren des magnetischen erdfeldes | |
DE4336690C2 (de) | Vorrichtung zum Messen von elektrischen Potentialunterschieden an elektrografischen Aufzeichnungsmaterialien | |
DE102006058579A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Verarbeiten eines Messsignals zum Erfassen einer Eigenschaft einer Tonermarke |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition |