DE2754748C3 - Verfahren zum Herstellen einer supraleitfähigen Nb3Sn-Schicht auf einer Nioboberfläche tür Hochfrequenzanwendungen - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer supraleitfähigen Nb3Sn-Schicht auf einer Nioboberfläche tür HochfrequenzanwendungenInfo
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Description
W_
2,68
mit
W = ρ -0,0584- 1 -—lüg wird, wobei N die Dickenwachstumsge
schwindigkeit der Nb3Sn-Schicht in cm/sec, W die Abdampfgeschwindigkeit des Zinns von der Oberfläche
der Zinnquelle in g/sec · cm2, Γ die absolute Temperatur in K, ρ den Sättigungsdampfdruck von
Zinn in Torr bei der Temperatur T, Msn das
Molekulargewicht von Zinn und C den Rückdiffusionskoeffizienten bedeuten, und daß die Nioboberfläche
und die Zinnquelle bis zum Erreichen der gewünschten Schichtdicke auf eine Temperatur von
1000 bis 1100°C erhitzt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Nioboberfläche vor dem
Aufbringen der Nb3Sn-Schicht einer Entgasungsglühung im Ultrahochvakuum unterzogen wird.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer supraleitfähigen NbjSn-Schicht auf einer Nioboberfläche
für Hochfrequenzanwendungen, wobei die Nioboberfläche zusammen mit einer Zinnquelle in einer
evakuierten Reaktionskammer erhitzt wird und dabei Zinn in die Nioboberfläche eindiffundiert.
Supraleitfähige Einrichtungen zum Betrieb mit hochfrequenten elektromagnetischen Feldern mit Frequenzen
von etwa 10 MHz und mehr können in der Technik vielfältige Anwendung finden. Sie können
insbesondere als Resonatoren und Separatoren für Teilchenbeschleuniger oder als Hochfrequenzresonatoren
zu anderen Zwecken, beispielsweise als Frequenznormale, eingesetzt werden und dabei insbesondere als
Hohlraumresonatoren oder als Resonatorwendeln ausgebildet sein. Supraleitende Hohlraumresonatoren
werden etwa im Frequenzbereich 1 bis 15 GHz, supraleitende Resonatorwendeln im Bereich um
MHz betrieben. Als Supraleitermaterialien für solche Resonatoren werden neben Blei insbesondere
Niob und die intermetallische Verbindung Nb3Sn, letztere in Form einer Schicht auf einer Niobunterlage,
verwendet Neben einer hohen Güte Qo und einer hohen kritischen magnetischen Flußdichte B"/ hat Nb3Sn
insbesondere den Vorteil, daß seine kritische Temperatur erheblich höher als die des Niobs ist Nb3Sn besitzt
daher einmal eine höhere thermische Stabilität als Niob und erlaubt zum anderen auch höhere Betriebstemperatüren
als dieses, insbesondere einen Betrieb bei der Temperatur des siedenden flüssigen Heliums von 4,2 K,
die für Hochfrequenzanwendungen von Niob bereits zu hoch ist.
Zum Herstellen solcher supraleitfähigen Nb3Sn-Schichten
auf Nioboberflächen sind bereits verschiedene Verfahren bekannt So ist bereits versucht worden,
auf Niobresonatoren dünne Schutzschichten von Nb3Sn aufzubringen, indem zunächst Zinn auf den Niobresonator
aufgedampft und dieser dann wärmebehandelt wurde (vgl. »Siemens-Forschungs- und Entwicklungsberichte«
3 [1974], Seiten 90 bis 99). Bei einem solchen Verfahren tritt jedoch die Schwierigkeit auf, daß das
aufgedampfte Zinn zu Beginn der Wärmebehandlung schmilzt und beispielsweise bei der Innenbeschichtung
von Hohlraumresonatoren leicht an der Innenfläche entlang zur tiefsten Stelle des Hohlraumes laufen kann,
noch bevor genügend Zinn zur Bildung der gewünschten NbjSn-Schicht in die Nioboberfläche eindiffundiert
ist.
Ferner sind zwei Verfahren zum Herstellen von NbjSn-Schichten auf Nioboberflächen bekannt, die zur
Herstellung verhältnismäßig dicker Nb^n-Schichten mit einer Dicke zwischen 0,5 und etwa 15 μηι dienen. Bei
dem einen Verfahren werden die mit einer Nb3Sn-
j5 Schicht zu versehenden Niobteile in einem auf etwa
10 ' Torr evakuierten Reaktionsgefäß bei einer Temperatur von etwa 10500C mehrere Stunden lang
einer Zinndampfatmosphäre ausgesetzt, aus welcher das Zinn unter Bildung der gewünschten Nb]Sn-Schicht
in die Nioboberfläche eindiffundiert. Bei hinreichend langen Erhitzungszeiten von etwa 50 Stunden und mehr
lassen sich dabei an der Oberfläche der Niobteile NbjSn-Schichten mit einer Schichtdicke bis zu etlichen
μιη erhalten (DE-OS 24 28 867).
4ö Bei dem anderen bekannten Verfahren wird in einer
evakuierbaren Reaktionskammer ein gegenüber dem restlichen Kammervolumen abgegrenzter, eine Zinnquelle
und die mit der NbjSn-Schicht zu versehende Nioboberfläche enthallender Reaktionsbereich gebildet
■jo und gegenüber dem restlichen Kammervolumen soweit
abgedichtet, daß beim Evakuieren der Reaktionskammer
innerhalb des Reaktionsbereiches vorhandene bzw. auftretende Gase zwar aus diesem abgesaugt werden,
jedoch beim späteren Erhitzen der Zinndampfdruck
γ, innerhalb des Reaktionsbereiches gegenüber dem
Zinndampfdruck in der restlichen Kammer erhöht bleibt. Unter ständigem Abpumpen der Reaktionskammer
wird dann der Reaktionsbereich auf eine Temperatur zwischen 930 und etwa 14000C aufgeheizt und so
mi lange auf dieser Temperatur gehalten, bis auf der Nioboberfläche eine NbjSn-Schicht mit einer Dicke
zwischen 0,5 und 5 μηι gebildet ist.
Gemäß diesem aus der DE-OS 25 32 570 bekannten Verfahren kann beispielsweise eine Nb3Sn-Schicht mit
h1) einer Dicke von 1 bis 1,5 μιη im Verlauf von 3,5 Stunden
hergestellt werden, d. h. es ergibt sich daraus eine Dickenwachstumsgeschwindigkeit zwischen etwa 0,29
und 0,43 μιη pro Stunde. Bei diesem bekannten
Verfahren sind jedoch die erzeugten Nb3Sn-Schichten
verhältnismäßig dick. Bei Schichten mit derartigen Dicken besteht jedoch die Schwierigkeit, daß die in
ihnen bei HF-Anwendungen entstehende Verlustwärme auf einem entsprechend langen Weg in das Niob, dessen
Wärmeleitfähigkeit bekanntlich größer als die des Nb3Sn ist, und von dort in das bei Betrieb der
Einrichtung mit der Nioboberfläche in Berührung stehende Kühlmittel abgeleitet wird. Eine so dicke
Nb3Sn-Schicht bedarf also zur Verbesserung ihrer Eigenschaften in der Regel einer weiteren Oberflächenbehandlung,
bei der die Nb3Sn-Schicht in einer wäßrigen Ammoniaklösung an ihrer Oberfläche anodisch
oxidiert und die so gebildete, etwa 0,1 μπι dicke Oxidschicht anschließend in Flußsäure abgelöst wird. 15 mit
Wie in der DE-OS 24 28 867 erläutert ist, kann diese Oberflächenbehandlung auch mehrfach wiederholt
werden.
Aufgabe der Erfindung ist es, bei dem eingangs erwähnten Verfahren die Nb3Sn-Schicht von vornherein
sehr dünn auszubilden, so daß die guten Oberflächeneigenschaften des Niobsubstrates auf die Nb3Sn-Oberfläche
übertragen werden und eine nachträgliche Oberflächenbehandlung, bei der ein Teil der Nb3Sn-Schicht
wieder abgetragen wird, nicht mehr erforderlich ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zum Erzeugen einer etwa 0,1 bis 0,4 μπι dicken
Nb3Sn-Schicht der Zinndampfdruck derart eingestellt wird, daß die Dickenwachstumsgeschwindigkeit der
Nb3Sn-Schicht wenigstens 0,05 μπι pro Stunde und
höchstens 0,3 μπι pro Stunde beträgt.
Mit dieser Dickenwachstumsgeschwindigkeit wird erreicht, daß sich auf der Nioboberfläche eine
gleichmäßige NbjSn-Schicht bildet. Bei niedrigerer r> Wachstumsgeschwindigkeit, also bei zu niedrigem
Zinndampfdruck, kommt es dagegen offenbar aufgrund von Keimbildungsschwierigkeiten nur zur Bildung von
NbjSn-Inseln auf der Nioboberfläche und nicht zu einer
gleichmäßigen Schichtbildung. Bei Einhaltung der to erwähnten Mindestwachstumsgeschwindigkeit von
0,05 μπι pro Stunde entsteht dagegen eine gleichförmig ausgebildete NbjSn-Schicht, die aufgrund ihrer geringen
Dicke an ihrer Oberfläche praktisch die Oberflächeneigenschaften der Niobunterlage abbildet und bei 4r>
entsprechend guten Oberflächeneigenschaften der Niobunterlage, d.h. entsprechender Glätte der Nioboberfläche,
über entsprechend gute Oberflächeneigenschaften verfügt. Werden hingegen eine höhere
Dickenwachstumsgeschwindigkeit als 0,3 μηι pro Stun- «
de eingestellt, so läßt sich die Schichtdicke praktisch nicht mehr regulieren, und es kommt leicht zum
Wachstum von Türmchen und Dendriten.
Die Mindestdicke der gebildeten NbjSn-Schicht von 0.1 μηι ist ferner mindestens so groß wie die Ti
Eindringtiefe des Hochfrequenzfeldes in die Supraleiteroberfläche, die bei den hier üblicherweise angewandten
Frequenzen etwas weniger als 0,1 μιη beträgt.
Wäre nämlich die Schichtdicke der Nb)Sn-Schicht dünner als die Eindringtiefe der hochfrequenten t>
<> elektromagnetischen Felder und Ströme, so würde insbesondere die Güte und die kritische magnetische
Flußdichte der Oberfläche nicht durch die Nb3Sn-Schicht
sondern durch die darunterliegende Niobschicht bestimmt. Gegenüber den bekannten dickeren Schich- bi
ten haben die nach dem anmeldungsgemäßen Verfahren erzeugten sehr dünnen NbjSn-Schichten den weiteren /V
Vorteil, daß in der NbjSn-Schicht entstehende Verlustwärme
auf noch kürzerem Weg über das Niob an ein Kühlmittel abgegeben werden kann. Bei größeren
Schichtdicken als von etwa 0,4 μηι ist hingegen eine
ausreichend schnelle Ableitung der Verlustwärme nicht mehr gewährleistet
Als besonders günstig bei der Herstellung der supraleitenden Nb3Sn-Schicht hat es sich erwiesen, das
Flächenverhältnis von Nioboberfläche FNb zur Oberfläche
Fsn der Zinnquelle gemäß der Formel
FNh C W
2,68 N
W = ρ -0,0584
zu wählen, wobei TV die Dickenwachstumsgeschwindigkeit
der Nb3Sn-Schicht in cm/sec, W die Abdampfgeschwindigkeit
des Zinns von der Oberfläche der Zinnquelle in g/sec · cm2, Tdie absolute Temperatur in
K, ρ den Sättigungsdampfdruck von Zinn in Torr bei der Temperatur T, MSn das Molekulargewicht von Zinn und
C den RückdifFusionskoeffizienten bedeuten, und dabei
die Nioboberfläche und die Zinnquelle bis zum Erreichen der gewünschten Schichtdicke auf eine
Temperatur von 1000 bis 11000C zu erhitzen. Der
letztgenannte Temperaturbereich ist für die Bildung der Nb3Sn-Schicht besonders günstig. Anzumerken ist, daß
während der Reaktion in der Reaktionskammer der Sättigungsdampfdruck des Zinns nicht erreicht wird.
Vielmehr wird das angebotene Zinn sofort von der Nioboberfläche aufgenommen.
Die Nioboberfläche selbst kann vor dem Aufbringen der Nb3Sn-Schicht vorteilhaft einer Entgasungsglühung
im Ultrahochvakuum unterzogen werden. Bei einer solchen Entgasungsglühung, die vorteilhaft bei einer
Temperatur von etwa 20000C und einem Restgasdruck
von weniger als 10'" bar vorgenommen wird, wird einerseits die Nioboberfläche von gasförmigen Verunreinigungen
gereinigt. Außerdem erfolgt zumindest bei feinkörniger Nioboberfläche ein Kornwachstum durch
Rekristallisation.
Zur weiteren Glättung der Nioboberfläche kann diese nach der Entgasungsglühung und vor dem Beschichtungsvorgang
vorteilhalt gemäß dem in der DE-PS 20 27 156 beschriebenen Verfahren anodisch poliert
werden. Mit Hilfe dieses Verfahrens lassen sich beispielsweise Niobschichten von etwa ΙΟΟμπι Dicke
abtragen und spiegelglatte Oberflächen erhalten. Um eine hohe Güte Qn und eine hohe kritische Flußdichte
Bf der NbjSn-Schicht zu gewährleisten, sollte auf
jeden Fall schon die Nioboberfläche möglichst glatt sein, d. h. eine möglichst geringe Rauhtiefe aufweisen.
Im folgenden soll die Erfindung noch näher erläutert
werden.
Die für das Verfahren gemäß der Erfindung wesentliche Dickenwachstumsgeschwindigkeit der
NbsSn-Schicht kann durch das Verhältnis der Nioboberfläche FiMb zur Oberfläche Fsn der Zinnquelle gut
gesteuert werden. Hierfür gilt folgende Beziehung:
Nh1Sn
FNI, = W
Die Bedeutung von N, W und Msn wurde bereits
eriäutert. MNb3Sn ist das Molekulargewicht und Qnbisn ist
das spezifische Gewicht von NbsSn. C ist der
Rückdiffusionskoeffizient; mit ihm wird die Rückdiffusion von Zinnatomen aus dem Dampfraum auf die
Zinnoberfläche berücksichtigt Kehren beispielsweise von q abdampfenden Atomen 0,2 · q wieder auf die
Zinnoberfläche zurück, ist C = 0,8. Im Temperaturbereich zwischen 1000 und 11000C ist für die hier in Frage
kommenden Dickenwachstumsgeschwindigkeiten C in guter Näherung etwa gleich 0,6. Setzt man in die
obengenannte Beziehung das Molekulargewicht und das spezifische Gewicht von Nb3Sn und das Molekulargewicht
von Zinn ein, so erhält man
1 r W
2,68 N
2,68 N
Hieraus läßt sich für die gewünschte Dickenwachstumsgeschwindigkeit
N das erforderliche Flächenverhältnis ermitteln. W erhält man dabei, wie bereits
erwähnt, aus der Beziehung
W = ρ 0,0584
wobei ρ aus der Dampfdrucktabelle zu entnehmen ist.
Beispielsweise ist ρ bei 1000°C gleich 1 · ΙΟ"4 Torr, bei
10500C gleich 2,5 · 10-" Torr und bei HOO0C gleich
9 · 10-4Torr.
Als Ausführungsbeispiel soll im folgenden die Erzeugung einer Nb3Sn-Schicht auf der Oberfläche
eines topfförmigen Niobteils für einen üblichen kreiszylinderförmigen Hohlraumresonator vom TE0U-Feldtyp
für eine im x-Band-Bereich liegende Frequenz von 9,5 GHz erläutert werden. Ein solches Niobteil ist
beispielsweise in der Zeitschrift »Cryogenics«, Januar 1976, auf Seite 20 gezeigt.
Das topfförmige Niobteil, dessen Innendurchmesser und Innenhöhe jeweils 41 mm betrugen, wurde aus
Niobvollmaterial herausgedreht. Anschließend wurde das topfförmige Niobteil bei einer Temperatur von
20000C und einem Restgasdruck von weniger als 6 · 10-12 bar 50 Stunden lang geglüht. Dabei wurde der
Gasgehalt des Niobs im Verhältnis von etwa 10:1 verringert. Gleichzeitig fand eine Rekristallisation des
Niobs zu großem Korn mit einer Korngröße in der Größenordnung von 1 cm sowie eine Homogenisierung
des Niobs statt.
Nach der Entgasungsglühung wurde die Innenfläche des topfförmigen Resonatorteils gemäß dem aus der
DE-PS 20 27156 bekannten Verfahren in einem
Elektrolyten aus Schwefelsäure und Flußsäure anodisch poliert, wobei eine etwa 100 μπι dicke Oberflächenschicht
abgetragen und eine sehr glatte Oberfläche erhalten wurde.
Die Beschichtung des Resonatorteils mit NbjSn fand in einer evakuierten Quarzampulle statt Dazu wurden
alle Quarzteile gereinigt und ausgeheizt Das Niobtei! wurde zur Entfernung von Oxid, das sich möglicherweise
an der Luft gebildet hatte, in Flußsäure geätzt und staubfrei unter einer Laminarbox in die Ampulle
eingesetzt. Ebenso wurde hochreines und ausgeheiztes
ίο Zinn verwendet Da die Außenseite des topfförmigen
Niobteils nicht eigens abgedeckt wurde, ist als die für die NbsSn-Beschichtung wesentliche Fläche Fnö die gesamte
Nioboberfläche anzusetzen, die etwa 320 cm2 betrug. Die in einem Quarzschiffchen angeordnete Zinnquelle
hatte eine freie Oberfläche von 2 cm2. Nach dem Einbringen des Niobteils und der Zinnquelle wurde die
Ampulle auf einen Restgasdruck von etwa 10~5 Torr
evakuiert und bei laufender Pumpe abgeschmolzen. Die Ampulle wurde dann in einem Rohrofen !,5 Stunden
lang auf einer Temperatur von 1050° C gehalten.
Entsprechend der vorstehend erwähnten Formel wurde bei einer Dickenwachstumsgeschwindigkeit von etwa
0,2 μιη/h eine etwa 0,3 μπι dicke NbjSn-Schicht
erhalten.
Nach dem Abkühlen wurde das mit der NbsSn-Schicht
beschichtete Niobteil aus der Ampulle herausgenommen und mit einem üblichen Koppelteil aus Niob
zusammengebaut. Ein solches Koppelteil besteht aus einem Deckel mit zwei Koppellöchern mit einem
Durchmesser von jeweils etwa 1,5 mm. wobei sich an der Deckelaußenseite an diese Koppellöcher kaminförmige
Fortsätze zur Einkopplung der Mikrowellenenergie anschließen. Die Koppellöcher dienen auch zum
Evakuieren des Resonatorinnenraums. Der Abdichtung des Innenraums dient eine zwischen dem topfförmigen
Niobteil und dem Koppelteil angeordnete ringförmige Indiumdichtung. Nach dem Zusammenbau wurde das
topfförmige Teil und das Koppelteil mit von unten her in den Resonatorhohlraum mündenden Koppelleitungen
in einen Kryostaten eingebaut, wie dies aus der DE-PS 21 64 529 bekannt ist. Die anschließenden Messungen
ergaber, für die Nb3Sn-Schicht bei einer magnetischen
Induktion von etwa 1 mT eine Güte Qa von etwa 8 ■ 108
bei einer Temperatur von 1,5 K und eine Güte Q0 von
etwa 4 · 108 bei einer Temperatur von 4,2 K. Die kritische magnetische Flußdichte B^ betrug bei 1,5 K
etwa 58 mT.
Bei weiteren ähnlichen Versuchen wurden entsprechende Werte erhalten. Das anmeldungsgemäße Verfahren
liefert demnach auf verhältnismäßig einfache Weise NbaSn-Schichten mit sehr guten Hochfrequenzeigenschaften.
Außer Resonatoren vom TEon-Typ können natürlich mit Hilfe des erfindungsgemäßen
Verfahrens auch andere Resonatoren, beispielsweise solche vom TMoio-Typ oder Resonatorwendeln mit
Nb3Sn-Schichten versehen werden.
Claims (2)
1. Verfahren zum Herstellen einer supraleitfähigen NbsSn-Schicht auf einer Nioboberfläche für
Hochfrequenzanwendungen, wobei die Nioboberfläche zusammen mit einer Zinnquelle in einer
evakuierten Reaktionskamrr.er erhitzt wird und dabei Zinn in die Nioboberfläche eindiffundiert,
dadurch gekennzeichnet, daß zum Erzeugen einer etwa 0,1 bis 0,4 μΐη dicken NbaSn-Schicht
der Zinndampfdruck derart eingestellt wird, daß die Dickenwachstumsgeschwindigkeit der Nb3Sn-Schicht
wenigstens 0,05 μηι pro Stunde und höchstens 0,3 μιη pro Stunde beträgt
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Flächenverhältnis von Nioboberfläche
Fnö zur Oberfläche Fsn der Zinnquelle gemäß
der Formel
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2754748A DE2754748C3 (de) | 1977-12-08 | 1977-12-08 | Verfahren zum Herstellen einer supraleitfähigen Nb3Sn-Schicht auf einer Nioboberfläche tür Hochfrequenzanwendungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2754748A DE2754748C3 (de) | 1977-12-08 | 1977-12-08 | Verfahren zum Herstellen einer supraleitfähigen Nb3Sn-Schicht auf einer Nioboberfläche tür Hochfrequenzanwendungen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2754748A1 DE2754748A1 (de) | 1979-06-13 |
DE2754748B2 DE2754748B2 (de) | 1979-10-11 |
DE2754748C3 true DE2754748C3 (de) | 1980-06-19 |
Family
ID=6025631
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2754748A Expired DE2754748C3 (de) | 1977-12-08 | 1977-12-08 | Verfahren zum Herstellen einer supraleitfähigen Nb3Sn-Schicht auf einer Nioboberfläche tür Hochfrequenzanwendungen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2754748C3 (de) |
-
1977
- 1977-12-08 DE DE2754748A patent/DE2754748C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2754748A1 (de) | 1979-06-13 |
DE2754748B2 (de) | 1979-10-11 |
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