DE2742361C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE2742361C2
DE2742361C2 DE19772742361 DE2742361A DE2742361C2 DE 2742361 C2 DE2742361 C2 DE 2742361C2 DE 19772742361 DE19772742361 DE 19772742361 DE 2742361 A DE2742361 A DE 2742361A DE 2742361 C2 DE2742361 C2 DE 2742361C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
zone
transistor
transistors
collector
semiconductor body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19772742361
Other languages
English (en)
Other versions
DE2742361A1 (de
Inventor
Gerard Orsay Fr Nuzillat
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales SA
Original Assignee
Thomson CSF SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thomson CSF SA filed Critical Thomson CSF SA
Publication of DE2742361A1 publication Critical patent/DE2742361A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2742361C2 publication Critical patent/DE2742361C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/08Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
    • H01L27/082Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including bipolar components only
    • H01L27/0821Combination of lateral and vertical transistors only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/08Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
    • H01L29/0804Emitter regions of bipolar transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/08Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
    • H01L29/0821Collector regions of bipolar transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/72Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
    • H01L29/73Bipolar junction transistors
    • H01L29/735Lateral transistors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft einen bipolaren lateralen Transistor nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein solcher Transistor ist bereits aus der US-PS 39 67 307 bekannt.
In einem lateralen Transistor fließt der Strom vom Emitter zum Kollektor parallel zu der Oberfläche des Substrats, in das er integriert ist.
Solche Transistoren werden gewöhnlich in Digitalschaltungen zusammen mit komplementären Transistoren, sogenannten vertikalen Transistoren, benutzt, in denen der Strom senkrecht zu der Oberfläche des Substrats fließt.
Die lateralen Transistoren sind aus technologischen Gründen praktisch immer PNP-Transistoren, während die vertikalen Transistoren NPN-Transistoren sind. Ein lateraler Transistor hat im allgemeinen zwei P-diffundierte Zonen in einem N-leitenden Substrat.
Nachteilig ist bei diesen Transistoren, daß sie eine sehr geringe Verstärkung haben, weil die in die Basis injizierten freien Ladungsträger den Kollektor nur in einem sehr kleinen Verhältnis erreichen.
Aufgabe der Erfindung ist es, bei einem bipolaren lateralen Transistor der eingangs genannten Art die Verstärkung zu erhöhen.
Diese Aufgabe wird bei dem gattungsgemäßen bipolaren lateralen Transistor durch das kennzeichnende Merkmal des Patentanspruchs 1 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Bei dem erfindungsgemäßen bipolaren lateralen Transistor hat die Elektrode, welche die erste Zone mit der vierten Zone elektrisch verbindet, eine Erhöhung des Kollektorstroms um einen Faktor in der Größenordnung von 5 zur Folge, da der größte Teil der injizierten Ladungsträger den Kollektor erreicht.
Mehrere Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher beschrieben. Es zeigt:
Fig. 1 einen Querschnitt durch einen bekannten bipolaren lateralen Transistor,
Fig. 2 das Ersatzschaltbild des Transistors von Fig. 1,
die Fig. 3 und 4 im Schnitt bzw. in perspektivischer Darstellung ein Ausführungsbeispiel des Transistors nach der Erfindung, und
Fig.5 in perspektivischer Darstellung ein weiteres Ausführungsbeispiel des Transistors nach der Erfindung.
Fig. 1 zeigt einen bipolaren lateralen PNP-Transistor. Er hat einerseits eine erste Zone 2 als Emitter und andererseits eine zweite Zone 3 als Kollektor, die beide P-leitend und in eine dritte Zone 1 als N-leitendes Substrat eindiffundiert sind. Es sei angemerkt, daß solche Strukturen, die normalerweise bei komplementären NPN- Transistoren benutzt werden, gewisse Nachteile aufweisen. Wenn nämlich die Emitter-Basis-Übergangszone durch ein geeignetes Potential entsperrt wird, wird ein Strom in mehreren Hauptrichtungen in die Basis injiziert, nämlich in den Richtungen S L 2, S L 1 und S V , von denen die beiden erstgenannten zu der Oberfläche des Substrats parallel sind, während die letztgenannte zu dieser Oberfläche senkrecht ist. Von diesen drei Richtungen ist aber nur eine Richtung eine Nutzrichtung, nämlich die Richtung S L 2, in der Ladungsträger injiziert werden, die den Kollektor erreichen.
Es handelt sich tatsächlich um einen geringen Anteil des injizierten Stroms. Das Ersatzschaltbild, das in Fig. 2 dargestellt ist, zeigt, daß zu der Emitter-Basis-Übergangszone zwei Dioden S L 1 und D V parallel geschaltet sind. Die Verstärkung eines solchen Transistors ist sehr gering und liegt in der Größenordnung von 0,1.
Das ist ein großer Nachteil, wenn diese Transistoren in integrierten Schaltungen, insbesondere von digitalen Schaltkreisen, enthalten sind, da die Werte "0" und "1" schlecht voneinander unterschieden werden können (Fall der in Kaskade geschalteten lateralen Transistoren).
Der bipolare laterale Transistor nach der Erfindung gestattet, diesen Nachteil zu verringern und bei sonst gleichen Bedingungen den erzielten Kollektorstrom mit einem Faktor in der Größenordnung von 5 zu multiplizieren.
Die Fig. 3 und 4 zeigen im Schnitt bzw. in perspektivischer Darstellung ein Ausführungsbeispiel des Transistors nach der Erfindung.
In die Zone 2 (Emitter) ist eine stark dotierte N⁺-leitende vierte Zone 4 diffundiert. In einer integrierten Schaltung mit komplementären bipolaren Transistoren kann die vierte Zone 4 beispielsweise gleichzeitig mit der N⁺-Zone eines vertikalen N⁺PN-Transistors diffundiert werden, der außerdem in der Schaltung vorgesehen ist.
Die vierte Zone 4 steht erfindungsgemäß in elektrischer Verbindung mit der ersten Zone 2, weil eine Elektrode 5 auf einem Teil der aus den Zonen 2 und 4 bestehenden Anordnung angebracht ist. Die Arbeitsweise kann folgendermaßen verständlich gemacht werden. Nahe der Oberfläche des Substrats liegen die benachbarten Teile der N⁺-leitenden Zone und der P-Zone auf demselben Potential. Mit zunehmender Entfernung von der Elektrode 5 bleibt das Potential der stark dotierten N⁺-leitenden Zone konstant, während das Potential des schwach dotierten P-Gebietes wesentlich sinkt. Daraus ergibt sich eine Sperrung des so gebildeten PN-Überganges. Daraus folgt, daß die von der Elektrode 5 entfernten Gebiete von dieser isoliert sind. Dadurch werden die Ströme S V und S L 1 von Fig. 1 praktisch unterdrückt.
Dieser Erscheinung wird auch auf andere Weise verständlich. In Fig. 4 ist die Gesamtanordnung auf einem P-leitenden Substrat 6 angebracht.
Das Schaltbild der Gesamtanordnung enthält einen PNP- Transistor T, der als Basis denjenigen Teil der N-Zone hat, welcher sich zwischen den Zonen 2 und 3 erstreckt, und als Emitter das P-leitende Gebiet I, das sich zwischen der N⁺-leitenden Zone der N-Zone befindet und sich senkrecht zu der Oberfläche des Substrats erstreckt, in Fig. 1 das Gebiet S L 2, und das Gebiet II hat, welches der andere Teil der P-Zone ist.
Der Emitter dieses Transistors ist mit dem Substrat durch eine Aufeinanderfolge von vertikalen PNP-Transistoren verbunden, die zwischen dem Gebiet II und Masse angeordnet sind und als Emitter aufeinanderfolgende Teile des Gebietes II, als Basis das Gebiet 1 und als Kollektor das Substrat haben. Die Emitter dieser Transistoren T P 1, T Pn sind miteinander durch Widerstände R verbunden, welche Scheiben des hochohmigen P-Gebietes darstellen. Da das Basispotential gleichförmig ist und da das Potential der Emitter an der Oberfläche des Gebietes I fest ist, fließen in diesen Transistoren Ströme, die um so schwächer sind, je weiter sie von dem Gebiet I entfernt sind.
Der Ableitstrom I Sub. (Strom in dem Substrat) ist daher äußerst schwach.
Eine einfache Berechnung zeigt, daß für einen ausreichend starken Strom I C und bei lateralen Abmessungen, die groß gegen die Tiefen der Übergangszonen sind, folgendes Verhältnis gilt:
wobei I C der Kollektorstrom des Transistors, I′ E der Emitterstrom und x′ die Verstärkung in Basisschaltung bei vorhandener N-Zone ist, während I E und x der Strom bzw. die Verstärkung eines Transistors mit derselben Abmessung ohne N-Zone sind und wobei C und A die beiden in Fig. 4 angegebenen Abmessungen sind.
Das Verhältnis kann im Prinzip leicht in der Größenordnung von 5 liegen.
Die Erfindung ist zur Herstellung von lateralen Elementartransistoren anwendbar. Fig. 5 zeigt in persektivischer Darstellung einen solchen Transistor, der auf einem P-leitenden Substrat 6 angebracht ist.
Der Transistor ist von geschlossener Bauart, bei welcher die Zone 3 als P-leitender Kollektor die Zone 2 als P-leitender Emitter umgibt und beide in die N-leitende Basis-Zone 1 diffundiert sind, die beispielsweise auf dem Substrat epitaxial aufgewachsen ist.
Sowohl in die Zone 2 als auch in die Zone 3 ist jeweils eine N⁺-Zone 10 bzw. 11 eindiffundiert. Auf diesen Diffusionen sind Elektroden 12 bzw. 13 angebracht, die eine elektrische Verbindung zwischen den Zonen 2 und 10 bzw. 3 und 11 herstellen.
Die Diffusion einer N⁺-Zone in dem Kollektor vergrößert die Transitfreqenz des Transistors.
Auf diese Weise ist eine einfache Einrichtung geschaffen worden, mittels welcher die Leitungsfähigkeit von digitalen integrierten Schaltungen verbessert werden kann.
In dem Fall, in welchem der Transistor nach der Erfindung in einer integrierten Schaltung mit komplementären bipolaren Transistoren benutzt wird, kann außerdem die N⁺-Zone 4 durch dieselbe Operation wie die N⁺-Zone eines vertikalen N⁺PN-Transistors hergestellt werden. Solche Anordnungen werden in zahlreichen bekannten Digitalschaltungen benutzt.

Claims (5)

1. Bipolarer lateraler Transistor mit einem Halbleiterkörper, mit einer ersten und einer zweiten Zone eines ersten Leitungstyps, die in eine dritte Zone eines zweiten Leitungstyps, der zu dem der ersten entgegengesetzt ist, von ein und derselben Oberfläche des Halbleiterkörpers aus eingeführt sind, wobei die erste, die zweite und die dritte Zone als Emitter- bzw. als Kollektor- bzw. als Basiszone dienen und in die erste Zone eine stark dotierte vierte Zone des zweiten Leitungstyps eingeführt ist, dadurch gekennzeichnet, daß eine elektrische leitende Verbindung zwischen der vierten Zone (4) und der ersten Zone (2) durch eine auf der Halbleiterkörperoberfläche an diesen beiden Zonen (2, 4) angebrachte Elektrode (5; 12) hergestellt ist.
2. Transistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Leitungstyp der P-Leitungstyp ist.
3. Transistor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Zone (3) die erste Zone (2) umgibt.
4. Transistor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß außerdem eine N⁺-leitende fünfte Zone (11) in die zweite Zone (3) diffundiert oder implantiert und eine elektrisch leitende Verbindung zwischen der fünften Zone (11) und der zweiten Zone (3) durch eine auf der Halbleiterkörperoberfläche an diesen beiden Zonen angebrachte Elektrode (13) hergestellt ist.
5. Verwendung von einem oder mehreren der Transistoren nach einem der Ansprüche 1 bis 4 in einer integrierten Halbleiterschaltung.
DE19772742361 1976-09-21 1977-09-20 Bipolarer lateraler transistor Granted DE2742361A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR7628318A FR2365213A1 (fr) 1976-09-21 1976-09-21 Transistor bipolaire lateral et circuits utilisant ce transistor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2742361A1 DE2742361A1 (de) 1978-03-23
DE2742361C2 true DE2742361C2 (de) 1989-03-09

Family

ID=9177896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19772742361 Granted DE2742361A1 (de) 1976-09-21 1977-09-20 Bipolarer lateraler transistor

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPS6028395B2 (de)
DE (1) DE2742361A1 (de)
FR (1) FR2365213A1 (de)
GB (1) GB1593063A (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50105209A (de) * 1974-01-25 1975-08-19
DE2835930C2 (de) * 1978-08-17 1986-07-17 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Monolithisch integrierte Halbleiterschaltungsanordnung mit mindestens einem Lateraltransistor
JPS6165762U (de) * 1984-10-03 1986-05-06
FR2592525B1 (fr) * 1985-12-31 1988-02-12 Radiotechnique Compelec Procede de fabrication d'un transistor lateral integre et circuit integre le comprenant
DE69521210T2 (de) * 1995-12-29 2001-11-22 Co.Ri.M.Me. Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno, Catania Integriertes Elektronikbauteil mit verringerten parasitären Strömen und Verfahren dafür

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3967307A (en) * 1973-07-30 1976-06-29 Signetics Corporation Lateral bipolar transistor for integrated circuits and method for forming the same

Also Published As

Publication number Publication date
FR2365213B1 (de) 1979-01-12
FR2365213A1 (fr) 1978-04-14
DE2742361A1 (de) 1978-03-23
GB1593063A (en) 1981-07-15
JPS5339082A (en) 1978-04-10
JPS6028395B2 (ja) 1985-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2554296C2 (de) Integrierte C MOS-Schaltungsanordnung
DE1279196B (de) Flaechentransistor
DE1260029B (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen auf einem Halbleitereinkristallgrundplaettchen
DE3428067C2 (de) Halbleiter-Überspannungsunterdrücker mit genau vorherbestimmbarer Einsatzspannung und Verfahren zur Herstellung desselben
DE1614844B2 (de) Bistabile, durch impulse steuerbare halbleitervorrichtung
DE3881264T2 (de) Gate-steuerbare bilaterale Halbleiterschaltungsanordnung.
DE1230500B (de) Steuerbares Halbleiterbauelement mit einem Halbleiterkoerper mit der Zonenfolge NN P oder PP N
DE1564218A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Transistoren
DE3526826A1 (de) Statischer induktionstransistor und denselben enthaltenden integrierte schaltung
DE2730373A1 (de) Integrierte halbleiter-logikschaltung
DE2457774A1 (de) Seitlich angeordnete transistorstruktur mit durchschaltbarem kollektor
EP0000863A1 (de) Temperaturkompensierter integrierter Halbleiterwiderstand
DE3022122C2 (de)
DE2615553C3 (de) Schwellenschaltung mit Hysterese
EP0002840A1 (de) Kathodenseitig steuerbarer Thyristor mit einer Anodenzone aus zwei aneinandergrenzenden Bereichen mit unterschiedlicher Leitfähigkeit
DE2742361C2 (de)
DE2054863A1 (de) Spannungsverstärker
DE2515457B2 (de) Differenzverstärker
DE3709124C2 (de) NPN-äquivalente Struktur mit erhöhter Durchschlagspannung
DE2418560A1 (de) Halbleitervorrichtung
DE2513893C2 (de) Transistorverstärker
DE3005367C2 (de)
DE2458735C2 (de) Transistor mit einem hohen Stromverstärkungsfaktor bei kleinen Kollektorströmen
DE2051623A1 (de) Steuerbare raumladungsbegrenzte Impedanzeinnchtung fur integrierte Schaltungen
DE1132662B (de) Flaechentransistor mit zwei ohmschen Steuerelektroden fuer den Emitter-Kollektor-Strom an der Basiszone

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: PRINZ, E., DIPL.-ING. LEISER, G., DIPL.-ING., PAT.

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee