DE2622828B2 - Verfahren zum betreiben von bildfuehlern - Google Patents
Verfahren zum betreiben von bildfuehlernInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 38
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 28
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 10
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 25
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 13
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 230000004313 glare Effects 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/148—Charge coupled imagers
- H01L27/14887—Blooming suppression
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- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/762—Charge transfer devices
- H01L29/765—Charge-coupled devices
- H01L29/768—Charge-coupled devices with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/76866—Surface Channel CCD
- H01L29/76883—Three-Phase CCD
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/50—Control of the SSIS exposure
- H04N25/57—Control of the dynamic range
- H04N25/571—Control of the dynamic range involving a non-linear response
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/713—Transfer or readout registers; Split readout registers or multiple readout registers
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
- H04N25/745—Circuitry for generating timing or clock signals
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/10—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
- H04N3/14—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
- H04N3/15—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation
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Description
u: „„«.Kar»
SSÄ·» 0T des;n Rede
Tvos kann verbessert werden, indem man der sogenannten Integrationszeit die Kapazi-Wf
Her LadungSJeicherelemente an jeder Speichertat d
c LmXelle des Bildfühlers verändert. Das
?er „Srs e indungsgemäßen Verfahrens, dem diese
Prinzip des eriinaug β Patentanspruch i
Erkenntnis zufrU^z2' Ausführungsformen eines
KTÄhE sind in den Unteransprüchen
nach Anspruch 1, dadurch gekennze^daß
dansaAhnsAamme.n von Lad=äjern
und das Entfernen derjenigen d.eser Ladungsträger die über eine erste Anzahl hinausgehen durch
Verwendung einer Speichereinrichtung gegebene
Kapazität erfolgt und durch anschließende Vermin derung der Kapazität dieser Speichereinrichtung
unter "gleichzeitigem Entfernen aller überschussigen
Ladungsträger, die über das verminderte Maß der Kapazität der Speichereinrichtung hinausgehen, ιund
daß zum weiteren Ansammeln von Ladungsträgern und Entfernen derjenigen dieser Ladungsträger, die
über eine zweite Anzahl hinausgehen, wahrend des folgenden Teils der Integrationszeit zunächst ύlie
Kapazität der Speichereinrichtung an jeder Fuhlstel Ie erhöht wird und dann die Kapazität der
Speichereinrichtung auf ein zweites Maß vermindert wird, welches höher als das erste verminderte MaIJ
ist, und diejenigen Ladungsträger entfernt werden die über die auf das zweite Maß verminderte
Kapazität der Speichereinrichtung hinausgehen.
3 Verfahrennach Anspruch 1 zum Betreiben eines
Bildfühlers, der ein Substrat und gegenüber diesem Substrat isolierte Elektroden aufweist, denen wanrend
einer Integrationszeit eine Spannung anlegbar ist um im Substrat nahe den Elektroden Verarmüngszonen
zu schaffen, die als die Speichereinrichtungen zum Ansammeln strahlungsinduzierter Ladungsträger
dienen, dadurch gekennzeichnet, dau der Schritt des Ansammeins von Ladungsträgern
darin besteht, an die Elektroden eine sich mit der
Zeit erhöhende Spannung zu legen, um die Meten der Verarmungszonen im Substrat in entsprechender
Weise zu vergrößern, und daß der Schritt des weiteren Ansammeins von Ladungsträgern dann
besteht, während des folgenden Teils der Integrationszeit an die Elektroden eine Spannung zu legen,
die ebenfalls mit der ZeK ansteigt.
°f ηί Erfindung wird nachstehend an Ausführungsbei-
• ι η »nhand von Zeichnungen näher erläutert.
Spl F ee e t zeTgt einen Schnitt durch einen CCD-Kanal
• 1 rireiohasig gesteuerten Bildfühlgeräts und veran-Xulth
'Kern das Profi, des Flächenpotentia.s
ch, rat während der Integrationszeit;
am F1g 2 zeTgt Wellenformen zur Erläuterung des
Rpiriebs des Geräts nach F i g. 1;
π"ο \ 7eiet den Dunkelstrom als Funktion der an
eine Übertragungselektrode (Übergabeelektrode) ge l^SP!T
gp^4ze!sTdie Wellenform, die verwendet wird, um
die hier behandelte Verbesserung des Betriebs zu
Fi e 5 zeigt eine Potentialgrube unterhalb einer
Ladungsspeicherelektrode während aufeinanderfolgen-Mpn
ZeitDuHcten eines Integrations.ntervalls, wenn
df! ElXode gemäß dem Stand der Technik auf
in einem festen Potential gehalten wird;
Fi ε 6 veranschaulicht die Arbeitsweise unter den
deichen Bedingungen wie in Fig.5, jedoch bei
Verwendung der erfindungsgemäßen Betriebsart;
Fig 7 zeigt in einer graphischen Darstellung die
J5 Szenenhelligkeit unter mehreren angenommenen Um-
Fi e 8 zeigt das Bildausgangssignal (Video-Ausgang),
wie es an aufeinanderfolgenden Stellen längs e.ner Ze.le eines Bildfühlgeräts unter den in F ι g. 7 angenommenen
Bedingungen erhalten wird;
Fie 9 veranschaulicht anhand von Wellenformen,
wie der Aussteuerungsbereich vergrößert werden kann;
F i e 10 zeigt dieselben Variablen wie F ι g. 8, jedoch
für den Fall, daß die Wellenformen nach Fig.9
« verwendet werden;
Fie 11 bis 13 und 17 zeigen andere Wellenformen,
mit deren Verwendung der Aussteuerungsbereich
vergrößert werden kann, wobei die Fig. 13 auch e.ne
Wellenform zeigt, die zur Gammakorrektur herangezo-
r)0 gen werden kann;
Fig 14 zeigt in einer graphischen Darstellung die
Helligkeit als Funktion der Amplitude des ansteuernden Signals für eine Bildröhre;
pig 15 zeigt die Ausgangsgroße einer CCD-Kamera
« einmal im gammakorrigierten Fall und einmal im
unkorrigiertenFall; ,
F i g 16 zeigt einen Schnitt quer zu einem CCD-Kanal eines Bildfühlgeräts sowie bestimmte Profile des
Flächenpotentials am Substrat während der Integra-
Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren zum Betreiben von Bildaufnahmegeräten wie z. B. von
Bildfühlern, die aus ladungsgekoppelten Elementen bestehen. Für den Begriff »ladungsgekoppelte Elemente«
wird nachfolgend auch die aus der angelsächsischen Fachsprache entlehnte und mittlerweile auch hierzulande
gebräuchliche Kurzbezeichnung »CCD« (Charge
onszeu.
Der im oberen Teil der F i g. 1 gezeigte CCD-Bildfühler enthält ein Substrat 10 vom P-Typ und eine Vielzahl
von Elektroden, die gegenüber dem Substrat isoliert und kapazitiv mit ihm gekoppelt sind. Die Figur ist rein
schematisch, d. h., die in der Praxis verwendete und normalerweise aus Siliziumdioxid bestehende Isolierschicht
ist nicht eigens dargestellt, und die Elektrodenstruktur ist nur schematisch gezeigt. Der hier zu
Erläuterungszwecken gewählte Typ des CCD-Geräts ist ein Typ mit Dreiphasensteuerung. In der Praxis können
sich die Elektroden einander überlappen, oder sie können, wie dargestellt, nebeneinander liegen, beispielsweise
mit einer Isolierung in den Lücken zwischen den '■>
Elektroden. Die vorliegende Erfindung ist auch auf zweiphasige oder vier- oder mehrphasige Strukturen
anwendbar, die hier nicht gesondert dargestellt sind. Auch kann das Substrat vom N-Typ statt vom P-Typ
sein, vorausgesetzt, daß Versorgungsspannungen mit ι ο der jeweils passenden Polarität gewählt werden.
Es sei z. B. angenommen, daß die in F i g. 1 gezeigte Struktur einen Teil eines vertikalen Kanals des
bildfühlenden Bereichs der matrixförmigen Anordnung ist, die manchmal auch als Α-Register bezeichnet wird. \*>
Während eines Teils der Betriebszeit, der als »Integrationszeit« bezeichnet, wird und in dem eine Szene auf
der Matrix abgebildet wird, sei eine der Elektroden jeder Stufe (im vorliegenden Beispisl die Φ2-Elektrode)
auf einem festen Spannungspegel gehalten, um unter den betreffenden Elektroden Verarmungszonen zu
schaffen, während die übrigen Elektroden, d. h. die Elektroden Φ\ und Φ3, auf solchen Potentialen gehalten
werden, daß in den Substratzonen unter diesen Elektronen eine geringe Verarmung bzw. leichte
Akkumulation stattfindet. Dies ist bei (a) in F i g. 1 veranschaulicht (alternativ können auch zwei Elektroden
jeder Stufe auf einem zur Bildung tief verarmter Zonen führenden Potential gehalten werden, während
die jeweils dritte Elektrode auf ein solches Potential m gelegt wird, daß in der darunterliegenden Substratzone
schwache Verarmung bzw. leichte Akkumulation herrscht). Die stark verarmten Zonen bilden sogenannte
Potentialgruben im Substrat, d. h. Bereiche an der Substratfläche, von denen Majoritätsträger (Löcher) js
fortgedrängt worden sind und wo sich eine Flächenladung von Minoritätsträgern (Elektronen) ansammeln
kann. Die Bereiche des Substrats mit schwacher Verarmung (bzw. leichter Akkumulation) bilden Potentialschwellen
oder -berge zwischen den Potentialgruben.
Im Betrieb wird ein Strahlungsbild auf den Bildfühler
projiziert, und zwar entweder durch die Elektroden hindurch (wie es schematisch gezeigt ist) oder durch die
Rückseite des Substrats. (Für die vorliegende Beschrei- v>
bung sei angenommen, daß, falls die Belichtung von der Vorderseite her erfolgt, die Elektroden im wesentlichen
strahlungsdurchlässig sind.) In den verschiedenen Potentialgruben sammeln sich Ladungen an, und zwar
entsprechend der Strahlungsintensität, die das Substrat im Bereich nahe den Orten der jeweiligen <?>2-Elektroden,
erreicht. Wie in F i g. 1 (a) dargestellt ist, ist die Strahlungsintensität im Bereich der Elektrode 12 höher
ah im Bereich der Elektrode 14, so daß sich in der Potentialgrube 12a mehr Ladungsträger ansammeln als γ,
in der Potentialgrube 14a. Im dargestellten Beispiel sind die Ladungsträger Elektronen.
Die Fig. 2 zeigt die Wellenformen der verwendeten Steuersignale. Während der Integrationszeit liegt die
<i>2-Spannung auf einem solchen festen Wert, daß h»
Verarmungszonen gebildet werden. Die Φι- unr1 $3-Elektroden liegen ebenfalls auf einer festen Spannung,
die im dargestellten Fall einen solchen Wert hat, daß die unter diesen Elektroden liegenden Substratbereiche
in geringer Akkumulation sind. Eine solche hr>
Betriebsart ist vorteilhaft, um eine sogenannte »Betriebs-Überstrah'iungsregeiung«
zu erhalten. Alternativ können die Φι- und Φ3-Spannungspegel auch etwas
höher (positiver) gemach! werden, so daß die Substratsbereiche unter diesen Elektronen in leichter Verarmung
sind.
Die Integrationszeit kann relativ lang sein, im Falle des kommerziellen Fernsehens etwas unterhalb einer
Sechzigstelsekunde. Nach Ablauf der Integrationszeit werden die im Bildfühler gespeicherten Ladungen in ein
sogenanntes B-Register (Zwischenspeichermatrix) übertragen und von dort, jeweils eine Reihe oder Zeile
gleichzeitig, in ein C-Register übergeben. Die Ladungsübertragung vom Α-Register zum B-Register erfolgt
mit Hilfe der gezeigten Mehrphasenspannungen während des Vertikalrücklaufintervalls, welches in der
Größenordnung von 900 Mikrosekunden liegen kann.
Ein bei Bildfühlern des hier beschriebenen Typs auftretendes Problem sind die sogenannten Dunkeistromdefekte.
Hiermit sind Stellen des Bildfühlers gemeint, an denen auch beim Fehlen erregender
Strahlung eine wesentliche Menge an Ladungsträgers erzeugt wird. Im normalen Betrieb erscheinen solche
Defekte als intensive weiße Punkte oder Flecken im wiedergegebenen Bild. Man nimmt an, daß solche
Defekte die Folge einer thermischen Erzeugung von Ladungsträgern sind. Ungeachtet ihres Ursprungs
wurde jedoch gefunden, daß hervorgerufene Dunkelströme extrem empfindlich gegenüber der Amplitude
des angelegten elektrischen Feldes sind, und diese ist wiederum proportional der während der Integrationszeit an die Elektroden gelegten Spannung. Dies ist in der
graphischen Darstellung nach F i g. 3 veranschaulicht. Bei einer normalen Fühlstelle ändert sich der Dunkelstrom
(mit »normaler Hintergrundstrom« bezeichnet) mit der angelegten Spannung, wie es die durchgezogene
Kurve A zeigt. Bei einem Defekt jedoch ändert sich der Dunkelstrom mit der Spannung so, wie es die
durchgezogene Kurve B zeigt. Man beachte das exponentiell Anwachsen des Dunkelstroms mit der
angelegten Spannung.
Wie bereits erwähnt, ist es bekannt, die Elektroden auf die in F i g. 2 gezeigte Weise zu betreiben, d. h. indem
man während der Integrationszeit einen konstanten Spannungspegel an diejenigen Elektroden (die Φ2-Ε1ε^
troden beim vorliegenden Beispiel) legt, unter denen Ladungssignale gespeichert werden sollen. Mit dieser
Betriebsart wird beim Fehlen eines strahlungsinduzierten Signals eine auf +10 Volt liegende Φ2-ΕΙε^κχ1ε an
einer normalen Speicherstelle bewirken, daß sich ein Ladungspegel ansammelt, wie er bei AA in F i g. 3
gezeigt ist. Eine auf +10VoIt liegende Φ2-Elektrode
hingegen, die sich über einem eine Defektstelle aufweisenden Teil der Oberfläche befindet, wird
hingegen bewirken, daß sich ein Ladungspegel ansammelt, wie er mit der gestrichelten Linie BB in Fig. 3
gezeigt ist.
Gemäß einem Merkmal der Erfindung wird den Speicherelektroden während der Integrationszeit nicht
wie irr: bekannten Fall ein fester Spannungspegel, sondern eine Spannung angelegt, die mit einem
niedrigen Wert beginnt und als Funktion der Zeit in einer solchen Weise ansteigt, daß das Substratpotential
linear mit der Zeit höher wird. Zum Zwecke der Erläuterung ist die Spannung selbst als lineare Rampe
oder Sägezahn dargestellt, in der Praxis kann sie natürlich leicht nichtlinear sein, wobei das Maß dieser
Nichtlinearität durch die jeweilige Dotierung des Substrats vorgeschrieben wird. Eine solche Wellenform
ist in Fig.4 mit der dicker, durchgezogenen Linie 20
dargestellt. Die bisher bekannte Betriebsart ist mit der
dünnen strichpunktierten Linie 22 veranschaulicht. Wenn man eine lineare Sägezahnspannung wie bei 20
verwendet, dann ist die sich an irgendeiner Stelle infolge des Dunkelstroms ansammelnde Ladung proportional
der Fläche unter den durchgezogenen Kurven der r> F i g. 3. Im Falle einer defekten Stelle ist die Fläche unter
der durchgezogenen Kurve B nur etwa gleich einem Drittel der Fläche unter der gestrichelten Linie BB, und
in der Tat wurde empirisch nachgewiesen, daß eine derartige Verbesserung tatsächlich erzielt wird. Ein in
entsprechender Versuch wurde an einem dreiphasig gesteuerten CCD-Bildfühler mit 256 χ 160 Speicherzellen
vorgenommen, wobei die Bereiche zwischen den Potentialgruben während der Integrationszeit in leichter
Verarmung gehalten wurden. Während dieses \r>
Versuchs stellte sich heraus, daß die Auflösung und die Größe der Potentialgruben durch die Verwendung einer
Sägezahnspannung nicht nachteilig beeinflußt wurden. Man konnte eine geringe Abnahme in der Lichtempfindlichkeit
beobachten, die wahrscheinlich auf eine Abnahme der mittleren Größe des Verarmungsbereichs
zurückzuführen ist. Dies sollte jedoch bei Bildfühlern, die eine hohe Trägerdiffusionslänge im Vergleich zur
Größe des Verarmungsgebiets haben, lediglich von untergeordneter Bedeutung sein.
Man erkennt in F i g. 3, daß der normale Hintergrundstrom etwas verringert wird, wenn man die vorstehend
beschriebene Technik anwendet. Anders ausgedrückt heißt dies, daß die Fläche unter der Kurve A etwas
kleiner als die Fläche unter der Kurve AA ist. κι
Man könnte auf den ersten Blick annehmen, daß die eben beschriebene Betriebsart zu einer wesentlichen
Abnahme in der Anzahl der während der Integrationszeit angesammelten Signaiiadungsträger führt. Eine
weitere Analyse anhand der F i g. 5 und 6 zeigt jedoch, daß eine solche merkliche Abnahme nicht stattfindet.
Die Zeiten ίο bis ti in den Fig.5 und 6 stellen
aufeinanderfolgende Zeitpunkte während einer Integrationsperiode dar. Die F i g. 5 zeigt die Verhältnisse beim
Stand der Technik, wo die Potentialgrube während aufeinanderfolgender Perioden gleichbleibende Tiefe
hat, weil die an die Elektrode (nicht dargestellt) zur Erzeugung dieser Potentialgrube angelegte Spannung
auf einem konstanten Wert bleibt. Jedoch sammelt sich während der aufeinanderfolgenden Perioden mehr und
mehr Ladung in dieser gleichbleibend großen Grube an.
Die Fig.6 zeigt die Verhältnisse für den Fall, daß
während der Integrationszeit ein linearer Sägezahn angelegt wird, wie er in Fig.4 gezeigt ist. Zum
Zeitpunkt fo beispielsweise ist die Grube weit weniger 5(1
groß (flacher) als beim Stand der Technik. Da der Betrag des Ladungssignals, welches sich zu diesem Zeitpunkt
angesammelt haben muß, ebenfalls relativ klein ist, läßt er sich in dieser flachen Grube unterbringen. Bei der zu
diesem Zeitpunkt relativ niedrigen Spannung wird auch im Falle eines Defekts kein großer Dunkelstrom
erzeugt, wie man an der Fi g. 3 sieht. Mit fortschreitender Zeit stellen sich immer mehr Ladungsträger ein, die
Grube wird jedoch gleichzeitig auch immer tiefer. Durch richtige Wahl der Steilheit der Sägezahnspan- wi
nung kann somit erreicht werden, daß die Grube stets die angemessene Größe zur Aufnahme der erzeugt
werdenden Ladung hat, und da die höheren Spannungen für einen kleineren Teil der Integrationszeit als beim
Stand der Technik angelegt werden, sind die an hi Defektstellen erzeugten Dunkelströme wesentlich geringer
als beim Stand der Technik.
Wenn ein Bildfleck sehr hell ist. so daß eine Grube überfließt, ergibt sich das Problem des sogenannten
»Überstrahlens«. Wenn sich jedoch die Substratfläche zwischen den Potentialgruben in leichter Akkumulation
(leichter Anreicherung) befindet, dann rekombinieren sich die an der Grube überfließenden überschüssigen
Ladungsträger mit den Majoritätsträgern, die in leicht angereicherten Bereichen vorhanden sind, und werden
auf diese Weise beseitigt. Dieser Vorgang an sich ist die bekannte sogenannte »Betriebs-Überstrahlungsregelung«.
Die Fig. 7 und 8 veranschaulichen ein weiteres Problem, welches während des Betriebs eines CCD-Büdfühlers
in herkömmlicher Weise, d. h. mit den Wellenformen nach Fig. 2 und 3, auftreten kann. Die
Fig. 7 zeigt graphisch für ein angenommenes Bild die Helligkeitsverteilung der Szene längs einer Richtung
einer Matrix, d. h. die Szenenhelligkeit abhängig von der Position in der Szene. Es sei angenommen, daß die
Szenenhelligkeit linear mit der Position höher wird. Bei irgend einer willkürlichen Position X2 befinde sich eine
Unregelmäßigkeit im Helligkeitswert, die als plötzliche Helligkeitsabnahme gezeigt ist.
Es sei nun angenommen, daß die an die Φ2-Elektroden
gelegte Spannung konstant auf irgendeinem Pegel V2 ist.
Ferner sei angenommen, daß eine über dem Wert B\ liegende Szenenhelligkeit ausreicht, eine Potentialgrube
zum Überfahren zu bringen. Das Ergebnis des Betriebs unter diesen Bedingungen ist in F i g. 8 veranschaulicht.
Bei Helligkeitswerten bis B\ ist der Betrag der in einer Potentialgrube angesammelten Ladung proportional
dem Helligkeitswert, und die Video-Ausgangsspannung Vo, die dem Betrieb des angesammelten Ladungssignals
proportional ist, ist somit ebenfalls dem Helligkeitswert proportional. Daher erzeugt der CCD-Biidfühler für alle
Helligkeitswerte zwischen Bo und B\ ein Ausgangssignal
Vo, welches linear proportional zur Helligkeit ist. Wenn jedoch die Helligkeit höher als B\ wird, fließt die
Potentialgrube über. Die überschüssigen Ladungsträger vereinigen sich mit den Majoritätsträgern, die sich unter
den Φι- und Φ3-Elektroden befinden, so daß diese
Ladungsträger verschwinden (vorausgesetzt, daß die Betriebs-Überstrahlungsregelung angewandt wird, wie
es in Fig.2 gezeigt ist). Alternativ können auch Sammelschienen zur Kontrolle der Überstrahlung
(strukturelle Überstrahlungsregelung) verwendet werden, um die Überschüssige Ladung zur Vermeidung
eines Überstrahlens abzuführen.
Der Aussteuerungsbereich des Bildfühlers entsprich) in etwa dem Helligkeitsbereich Bx nach F i g. 8, dei
zwischen den Werten B0 und B\ liegt Zur Vereinfachung
ist der Wert B0 am Ursprung der Kurve dargestellt, ir
Wirklichkeit handelt es sich bei ihm jedoch um der niedrigsten nutzbaren Helligkeitspege!. Dieser ist stet;
größer als 0, und sein tatsächlicher Wert hängt von der Rauscheigenschaften des jeweiligen Bildfühlers ab. (E;
sei hier festgehalten, daß die Abszisse der graphischer Darstellung in Fig. 8 zwar eigentlich ein Längenmal
bzw. eine Entfernung darstellt, jedoch auch gleichzeitig den Helligkeitswert, da sich in dem hier zu Erläuterungs
zwecken gewählten Beispiel die Helligkeit linear mit dei Entfernung ändert.) Oberhalb des Helligkeitswerts Bi
und zwar über den gesamten Bereich By, sind di( Potentialgruben gesättigt (voll mit Ladung), so daß dor
die Video-Ausgangsspannung Vo einen gleichbleibender
Wert Vs hat. Wie man aus Fi g. 8 herleiten kann, kanr
im Helligkeitsbereich von B\ bis B2 kein Detai
wahrgenommen werden. So ist es z. B. nicht möglich, di( in F i g. 7 gezeigte Unregelmäßigkeit 50 zu erkennen.
Der Aussteuerungsbereich des Bildfühlers kann weit verbessert (d. h. erhöht) werden, wenn man gemäß
einem zweiten Merkmal der Erfindung die in Fig. 9 veranschaulichte Betriebsart wählt. Die Φ\- und
<i>3-Spannungen sind hier ähnlich wie die entsprechenden
Spannungen bei der Fig. 2. Die $2-Spannung ist
jedoch anders. Während des größten Teils Ti der Integrationszeit liegt die «^-Spannung auf einem Wert
Vi, und während des übrigen Teils T2 der Integrationszeit hat die <P2-Spannung einen zweiten, höheren Wert
V2. Mit richtiger Wahl der jeweiligen Amplituden Vi und
V2 und der Länge der Perioden 71 und 7^, während
welcher die Spannungen Vi und V2 angelegt werden,
läßt sich der Aussteuerungsbereich stark erweitern.
Dies ist in Fig. 10 veranschaulicht. Die gestrichelte
Linie 52 entspricht der in F i g. 8 gezeigten Kurve. Sie stellt die Amplitude des Video-Ausgangs V0 als Funktion
des Helligkeitswerts für den Fall dar, daß die iVSpannung während der gesamten Integrationszeit
den gleichbleibenden Wert V2 hat. Die gestrichelte Linie
54 zeigt die Video-Ausgangsspannung Vo, die man erhielte, wenn die <J>2-Elektroden für den Teil 71 der
Integrationszeit auf einem gleichbleibenden Wert V, gehalten würde. Die Steilheit der Kurve 54 ist
proportional dem Bruch W(Ti + T2). Das heißt, je
größer der von 71 eingenommene Bruchteil der Integrationszeit ist, desto mehr nähert sich die Steilheit
des rampenförmigen Teils der Kurve 54 an diejenige der Kurve 52 an. Qualitativ betrachtet ist die Steilheit eine
Anzeige für die Anzahl der Ladungsträger, die sich bei einem gegebenen Helligkeitswert während der gesamten
Periode 71 an einer Speächersteüe ansammeln. Diese
Anzahl der bei einem gegebenen Helligkeitswert angesammelten Ladungsträger ist natürlich um so
größer, je größer 71 ist. Bei einem Helligkeitswert By wird während der Teilzeit 71 also irgendeine Ladungsträgermenge
C\ angesammelt (Kurve 54), und während der Gesamtzeit 71 + T2 würde eine größere Anzahl an
Ladungsträgern C2 angesammelt werden.
Wenn man die <i>2-Elektroden mit der Spannung V1
betreibt, dann werden die Potentialgruben beim Helligkeitswert By vollständig angefüllt. Die Video-Ausgangsspannung
ist also bei diesem und bei höheren Helligkeitswerten auf dem Konstanten Spannungswert
Vs, gesättigt, wenn die Spannung Vi in ^-Elektroden angelegt wird (Kurve 54).
Die Kurve 55 zeigt den Video-Ausgang für den Fall, daß die Φτ-ΕΙ^Ιτοάεη für die relativ kurze Zeitspanne
72 auf das Potential V2 gelegt werden. Die Steilheit
dieser Kurve ist proportional zu T2/(71 + T2), und der
Sättigungswert beträgt Vs2. Man erkennt, daß die Sättigung bei diesem speziellen Beispiel nicht erreicht
wird, außer bei extrem starken Helligkeiten (die den Skalenwert überschreiten wurden). Dies ist natürlich nur
ein Beispiel, die Erfindung läßt sich auch in Verbindung mit längeren Zeitspannen anwenden, als sie für T2
angegeben sind (gewünschtenfalls auch mit kürzeren Zeitspannen).
Die durchgezogene Kurve 56 zeigt die Verhältnisse für den Fall, daß die in F i g. 9 dargestellte Wellenform
mit den zwei Pegeln verwendet wird. Die Kurve 56 erhält man durch Addition der Kurve 55 mit der Kurve
54. Für Helligkeitswerte von B0 bis B\ (während der Zeit
71) erhält man eine Ausgangsspannung V0, die
proportional dieser Helligkeit ist. Ein Helligkeitswert, fcr>
der zur Erzeugung eines höher als Vs \ liegenden
Ausgangssignals während der Integrationszeit 71 führen
würde, bewirkt die Sättigung einer Potcntialgrube, und die überschüssige Ladung wird in der bereits beschriebenen
Weise abgeführt. Am Ende der Zeitspanne 71 werden die Potentialgruben durch Änderung der
Spannung von Vi auf V2 tiefer gemacht. Hiermit wird ein
eventuell vorhandenes Überstrahlen sofort beendet. Außerdem wird hiermit ermöglicht, daß sich zusätzliche
Ladungsträger in den Potentialgruben während des relativ kurzen Intervalls T2 ansammeln können. Falls
also eine Potentialgrube an einer bestimmten Stelle wie etwa bei X2 vorher bereits voll war, kann sie nun noch
mehr Ladungsträger aufnehmen, da die Grube tiefer gemacht worden ist. Unter der Voraussetzung, daß die
Szene nicht so hell ist, um diese spezielle Grube während der Zeitspanne T2 zum Überlaufen zu bringen,
wird die insgesamt angesammelte Ladung proportional der tatsächlichen Helligkeit an dieser betreffenden
Stelle sein. So erkennt man in Fig. 10, daß an der Position A2 die kleine Unregelmäßigkeit im Helligkeitswert sichtbar ist. Der Aussteuerungsbereich ist praktisch
vom bisherigen Bereich Βχ = (Bo bis B]) auf
Bx + By = (Bq bis B2) erweitert worden.
Vorstehend wurde die einfachste Form der erfindungsgemäßen
Erweiterung des Aussteuerungsbereichs beschrieben. Eine noch befriedigendere Wirkung läßt
sich beispielsweise dadurch erreichen, daß man mehr als zwei Schritte während der Integrationszeit vorsieht, wie
es in Fig. 11 gezeigt ist. Je mehr man sich der glatten Kurve annähert, die bei 58 in Fig. 13 gezeigt ist, desto
näher kommt man dem Idealfall. Natürlich ist es in vielen Fällen nicht notwendig, eine sich stetig ändernde
Kurve wie in Fig. 13 zu erzeugen. Eine stufenförmige Welle kann völlig ausreichen, insbesondere wenn sie
ausreichend viele Stufen zur Annäherung an eine glatte Kurve enthält.
Es ist auch möglich, die Vorteile verminderter Dunkelströme und eines erweiterten Aussteuerungsbereichs
miteinander zu vereinen. Dies !äßt sich beispielsweise auf die in Fig. 12 veranschaulichte Weise
erreichen. Hier setzt sich die $2-Spannung während der
Integrationszeit aus zwei linearen Rampen oder Sägezähnen zusammen, die verschiedene Steilheiten S]
und 52 aufweisen. Während die in Fig. 12 gezeigte
Wellenform nur zwei solcher Rampen hat, können statt dessen auch drei oder vier oder noch mehr Rampen
fortschreitend größer werdender Steilheit verwendet werden.
In den Fig. 14 und 15 ist ein wiederum anderes Problem veranschaulicht, welches mit den erfindungsgemäßen
Verfahren gelöst werden kann. Bei einer gewöhnlichen Bildröhre ist die Bildhelligkeit nichtlinear
proportional zur Amplitude des die Bildröhre ansteuernden Signals. Es besteht vielmehr eine nichtlineare
Abhängigkeit, wie sie in Fig. 14 gezeigt ist. Die Kurve mit γ — 2 bezeichnet, womit angezeigt werden
soll, daß die Helligkeit des Bildes proportional dem Quadrat der Amplitude des Ansteuersignals ist.
Um die genannte Nichtlinearität auszugleichen, müssen die der Bildröhre angelegten Signale einer
sogenannten Gammakorrektur unterworfen werden. Das heißt, die Bildsignale für höhere Bildhelligkeiten
werden in ihrer Amplitude herabgesetzt, und die Signale für dunklere Bilder werden in ihrer Amplitude erhöht,
und zwar in einer dem Gamma der Bildröhre komplementären Weise, so daß das wiedergegebene
Bild eine Helligkeit hat, die linear-proportional der Helligkeit der aufgenommenen Szene ist.
Ein Aufnahmegerät wie ein CCD-Bildfühler liefert Ausgangssignale, die linear proportional der aufgenom-
709 548/486
menen Szene sind (unter der Annahme, daß das Gerät nicht mit Überstrahlungen betrieben wird). Es ist
möglich, die Gamma-Korrektur des erhaltenen Video-Signals
in derselben Weise durchzuführen, wie es bei Video-Signalen aus herkömmlichen Röhren-Fernsehkameras
wie etwa Vidikons oder Plumbikons geschieht. Wenn man so vorgeht, dann werden die dunkleren Teile
der Szene verstärkt, welche die schwachen Signalen anhaftenden Rauchkomponenten enthalten. Solche
Änderungen bei schwachen Signalen erscheinen nach Verstärkung ausgeprägter als bei den stärkeren
Signalen, die von den helleren Teilen der Szene abgeleitet werden. Leider sind jedoch gewisse Rauschkomponenten
wie z. B. das feste Bildrauschen infolge räumlicher Unregelmäßigkeiten im Hintergrund-Dunkelstrompegel
bei einem von einem CCD-Gerät erzeugten Signal (bei Raumtemperatur) größer als beispielsweise bei einem Signal, welches von einem
Plumbikon erzeugt wird. Wenn man daher zur Gammakorrektur eines CCD-Signals die herkömmlichen
Gammakorrekturmaßnahmen anwendet, was eine Verstärkung der schwachen Signale und eine Dämpfung
der stärkeren Signale bedeutet, dann werden die den schwachen Nutzsignalen anhaftenden Rauschkomponenten
der CCD-Kamera stark angehoben. Dies ist natürlich höchst unerwünscht. (Dieselben Überlegungen
gelten auch für den Fall, daß man bei einem CCD-Bildfühler Maßnahmen anwendet, wie sie herkömmlicherweise
außerhalb einer integrierten Schaltung zur Kompensation des Dynamikbereichs getroffen
werden.)
Gemäß einem anderen Aspekt der Erfindung wird eine Gammakorrektur während der Integrationszeit
innerhalb der integrierten Schaltung (»on chip«) durchgeführt, indem man der ^-Spannung eine
geeignete Wellenform gibt. Eine solche Wellenform ist mit der gestrichelten Kurve 60 in Fig. 13 gezeigt. Die
<2>2-Spannung ändert sich in nichtlinearer Weise, um eine
entsprechende Änderung in der Tiefe der Potentialgruben unterhalb der <P2-Elektroden zu bewirken. Die
Folge ist eine relative Anhebung der schwächeren Signale und eine Dämpfung der stärkeren Signale.
Gleichzeitig wird der Dynamik- oder Aussteuerungsbereich in der bereits beschriebenen Weise erweitert.
Allerdings ist hierbei in Kauf zu nehmen, daß man im Vergleich zu der Betriebsart mit konstanter Integrationsspannung
an den «!^-Elektroden mehr Licht benötigt. Wenn man also mit einer Integrationsspannung
entsprechend der Wellenform 60 arbeitet, muß die Blendenöffnung der Kamera größer sein als beim
Betrieb mit einer konstanten Spannung wie etwa mit V2.
Es können verschiedene Kompromisse geschlossen werden, um einen Ausgleich unter den verschiedenen
vorstehend angesprochenen Zielen zu erreichen. So muß beispielsweise die Kurve 58 nicht bei dem
gezeigten hohen Wert beginnen, sondern kann statt dessen näher an der Kurve 60 liegen. Dies würde die
Lichterfordernisse vermindern. Statt einer Gammakorrektur auf 0,5, mit der die in Fig. 15 gezeigte
Nichtlincarität der Bildröhre exakt kompensiert wird, kann man auch eine teilweise Gammakorrektur in der
integrieiten Struktur selbst durchführen, während man
die restliche Korrektur mittels externer herkömmlicher Gammakorrekturschaltungen vornimmt. Außerdem
kann man eine Kurve wie die Kurve 60 oder eine zwischen den Kurven 60 und 80 liegende Form
simulieren, indem man eine Vielzahl diskreter Stufen (wie in Fig. II) oder eine Vielzahl von Rampen
unterschiedlicher Steilheit (wie in F i g. 12) vorsieht.
Das Prinzip der vorstehend beschriebenen Gammakorrektur in der ladungsgekoppelten Struktur (d. h. »on
chip«) ist besonders für Farbkameras von Bedeutung. Der Grund hierfür liegt in der Notwendigkeit, rote,
blaue und grüne Farbkomponenten über alle Helligkeitspegel richtig zu addieren. Eine solche »on
chip«-Gammakorrektur läßt sich in der bereits erläuterten Weise für jeden der drei den drei verschiedenen
Farben zugeordneten Bildfühler durchführen.
Während die vorstehend beschriebenen Verfahren besonders für den Betrieb von CCD-Bildfühlern
geeignet sind, können sie jedoch auch bei andersartigen Bildfühlern angewendet werden, z. B. bei Geräten mit
Fotodioden und Überstrahlungs-Sammelschienen, bei Geräten mit sogenannten »Ladungsinjektions«-Elementen
und sogar bei Bildaufnahmegeräten vom Röhrentyp wie etwa Silizium-Vidikons. Die Verfahren
sind sowohl bei selbstabtastenden Bildfühlern als auch bei Geräten mit X- Y-Adressierung anwendbar.
Vorstehend wurden verschiedene Ausführungsformen der Erfindung beschrieben, die sich zur Erweiterung
des Aussteuerungsbereichs und zur Gammakorrektur eignen und bei denen die Tiefe der Potentialgru-
be während der Integrationszeit durch Änderung der Spannung geändert wird, die den Elektroden (den
«!^-Elektroden bei den beschriebenen Beispielen)
angelegt werden, unter welchen die Ladungsansammlung stattfindet. Dies ist jedoch nur ein Beispiel, denn die
effektive Tiefe der Potentialgruben kann auch auf andere Weise geändert werden. Eine alternative
Struktur ist in Fig. 16 dargestellt. Diese Figur zeigt
einen quer zur Richtung des Kanals gehenden Schnitt, d. n., der Kanal verlauft senkrecht zur Zeichenebene.
Die Struktur nach Fi g. 16 enthält ein Substrat 80 vom
P-Typ, einen Abfluß (Drain) für Ladungsträger im Substrat, der als Diffusion 82 vom N-Typ gezeigt ist,
sowie Elektroden 84, 86 und 88, die über dem Substrat und diesem gegenüber isoliert angeordnet sind.
Es sei angenommen, daß der Betrieb gemäß der in Fig.9 gezeigten Weise erfolgen soll. In diesem Fall
wird die Elektrode 86 während der gesamten Integrationszeit 71 + T2 auf einem festen Pegel wie etwa V2
gehalten. Während des Teils 71 der Integrationszeit wird die Elektrode 84 auf einem demgegenüber
niedrigeren Pegel gehalten, um eine Überstrahlungsbarriere 89 zu bilden, deren Höhe bei (a) in F i g. 16 gezeigt
ist. Diese Maßnahme hat die Wirkung, daß die effektive Tiefe der Potentialgrube auf das Maß D\ vermindert
wird, wie es in Fig. 16 dargestellt ist. Alle von einer intensiven Bildhelligkeit herrührenden überschüssigen
Ladungsträger fließen über diese Barriere hinüber und gelangen zur Drain-Diffusion 82.
Während des zweiten Teils T2 der Integrationszeit
wird die Spannung Vnn vermindert (d. h. weniger positiv
gemacht), um die Überstrahlungsbarriere 89 wie bei (b) in Fig. 16 gezeigt zu erhöhen und auf diese Weise die
effektive Tiefe der Potentialgrube von D\ auf Eh zu
vergrößern. Der hiermit erhaltene Betrieb ist also im
bo wesentlichen genauso wie er oben in Verbindung mit
F i g. 9 beschrieben wurde, obwohl Φ2 im Falle der
Fig. 16 während der gesamten Integrationszeit auf einem konstanten Pegel gehalten wird.
Es ist natürlich auch möglich, das an die für die
6.1 Übcrstrah'iingsbarriere verantwortliche Elektrode 84
gelegte Potential in irgendeiner anderen der weiter oben beschriebenen Weisen zu ändern, wie sie
beispielsweise in den Fig. 11 bis 13 dargestellt sind.
If
Die in F i g. 16 gezeigte Elektrode 88 hat den Zweck, eine sogenannte »Kanalbegrenzung« zu bilden, d. h.
eine Potentialbarriere 90, welche die Ladung auf den Kanal begrenzt. Zur Bildung einer geeigneten Kanalbegrenzung
kann man statt dessen auch andere Strukturen heranziehen, etwa eine P-Diffusion, die stärker als das
P-Substrat dotiert ist.
Die F i g. 17 veranschaulicht einen wiederum anderen Weg zur Erweiterung des Aussteuerungsbereichs (auch
zur Gammakorrektur anwendbar). Hier liegt während des Abschnitts ίο—1\ der Integrationszeit die '^-Spannung
auf einem Wert Vt, bei dem tiefe Verarmungszonen unter den «^-Elektroden entstehen. Zum Zeitpunkt
t] wird die '/^-Spannung auf einen Wert Vi vermindert.
Wenn in den dadurch kleiner gewordenen Verarmungs- !■>
bereichen irgendwelche überschüssige Ladung vorhanden ist, fließt diese Ladung zu den in Akkumulation oder
Anreicherung befindlichen Bereichen, vorausgesetzt, daß die in Fig.2 veranschaulichte Betriebs-Überstrahlungsregelung
verwendet wird. (Alternativ können auch Sammelschienen zur strukturellen Überstrahlungsregelung
verwendet werden.) Der Effekt ist daher derselbe, wie wenn die Spannung während der Zeitspanne f0—12
auf konstantem Pegel Vi liegen würde. In der Zeitspanne t2— h kehren die $2-Spannungen auf ihren
Anfangswert Vx zurück, und zum Zeitpunkt h geht die
Spannung auf den Wert V2, der höher als Vi ist.
Wiederum kann jeder Ladungsüberschuß, der infolge der verminderten Größe des Verarmungsbereichs
auftreten kann, in die in Akkumulation befindlichen Substratbereiche fließen. Der Effekt ist derselbe, wie
wenn die Spannung während der Zeitspanne i2—ti den
Wert V2 gehabt hätte.
Der übrige Teil des Betriebs erklärt sich von selbst.
Während die Wellenform nach Fig. 17 wesentlich anders aussieht als diejenige nach Fig. 11, ist der
resultierende Betrieb für die beiden verschiedenen Figuren im wesentlichen der gleiche, nur daß bei de
Betriebsweise nach Fig. 17 die Dunkelströme nich vermindert werden, während die Betriebsart nacl
Fig. 11 zu einer wesentlichen Verminderung dei Dunkelströme führt, wie es bereits erwähnt wurde.
Die in Fig. 17 veranschaulichte Technik ist vorste
hend zur Erweiterung des Aussteuerungsbereich! beschrieben worden, sie kann jedoch auch zui
Gammakorrektor herangezogen werden. Eine Gamma korrektur läßt sich erreichen, indem man die Werte füi
Vu V2 und Vj und die Zeiten zum Anlegen diesei
Spannungswerte während der Inlegrationszeit passenc wählt. Das Ziel ist natürlich, eine glatte Kurve zi
simulieren, wie sie bei 60 in F i g. 13 gezeigt ist. Währenc in F i g. 17 nur drei Einbrüche dargestellt sind, kann mar
eine getreuere Simulation erreichen, wenn man noch mehr solcher Einbrüche schafft. Die Dauer dei
einzelnen Zeitspannen wie z.B. t\ — r2 kann in dei
Größenordnung von einer Millisekunde liegen, jedoch ist diese Zeit nicht kritisch.
Während vorstehend spezielle Ausführungsbeispielf der Erfindung beschrieben wurden, sind das Prinzip dei
Erfindung und Ausgestaltungen davon in den Patenten sprächen gekennzeichnet. Wenn dort vom »Entferner
überschüssiger Ladungsträger« die Rede ist, danr bedeutet dies, daß die Ladungsträger woandershin al;
zu den benachbarten Speicherstellen gebracht werden Beispielsweise können die überschüssigen Ladungsträ
ger zu einem Abfluß wie etwa einer gceignei vorgespannten Überstrahlungs-Sammelschiene geleitei
werden. Alternativ können die überschüssigen Ladungsträger (Minoritätsträger) aus mit Majoritätsträgerr
vereinigt werden, so daß sie im wesentlichen neutralisiert werden. Dies kann mittels der sogenannter
Betriebs-Überstrahlungsregelung geschehen, bei der die den Speicherstellen benachbarten Bereiche in Akkumu
lation gehalten werden.
Hierzu 7 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentansprüche:,. Verfahren zum Betreiben eines BiIdIiun.er^. an jeder Fühlstelle eine Speichereinrichtung^entha K. um während einer lntegranonszeitd^Ladunger anzusammeln, die an d.eser Stelle be Erre „ durch Strahlung erzeugt werden, dadI r J^ k e η η ζ e i c h η e t, daß in einem Te. I der Integr ^ tionszeit die Ladungsträger an der Spercheremncn tung jeder Fühlstelle angesammelt werden una diefen gen dieser Ladungsträger entfernt werden, die über eine erste Anzahl hinausgehen, und daß ineinem folgenden Teil der Ιη^"110""6'1/:^ ι Ladungsträger an der Speichereinrichtung jederFühlsJlle gesammelt werden und ig J Ladungsträger entfernt werden, d.e über eine^we.te Anzahl die größer ist als d.e erste Anzan.,
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CA (1) | CA1103346A (de) |
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NL188261C (nl) | 1992-05-06 |
NL7605367A (nl) | 1976-11-23 |
NL188261B (nl) | 1991-12-02 |
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