DE2615966C3 - Fehlermessung in Digital-Systemen - Google Patents

Description

S₁- = N - α, + "Σ" Oj

γ- ι

wobei

15

die Bit-Zahl vom j. Fehler zu dem (j + 1).

Fehler in der Folge und

die Anzahl der Fehler in der Folge,

für jede Folge (i) von Fehlern, in welcher drei aufeinanderfolgende Fehler nicht mehr als (N + 1) Bits überspannen, und Einrichtungen zum Erzeugen der Gesamtsumme

Sr = Σ S,.

20

25

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Ausgleichen der Ungenauigkeiten, die von Fehlern herrühren, die jo innerhalb von N Bits vom Anfang des Bit-Stromes auftreten, indem von St der Betrag N - (A₀ + A\) abgezogen wird, wobei Ao die Anzahl der Bits vom Beginn des Bit-Stroms bis zum ersten Fehler, und A\ die Anzahl der Bits vom ersten Fehler bis zum a zweiten Fehler im Bit-Strom bedeutet

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch Einrichtungen zum Ausgleich der Ungenauigkeiten, die von Fehlern herrühren, welche innerhalb N Bits, vom Ende des Bit-Stroms aus au gerechnet, auftreten, durch Abziehen des Betrages N- (Λ,-ι + A₇ + 1) von der Gesamtsumme Sr,
wobei

A₇-\ die Anzahl von Bits vom vorletzten Fehler bis

zum letzten Fehler und
A_z die Anzahl von Bits vom letzten Fehler zum Ende des Bit-Stroms bedeuten.

4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch Einrichtungen zum Vergleichen der Summe St mit der Gesamtzahl der Proben, und durch Ausgabeeinrichtungen zum Anzeigen des Verhältnisses von Proben, in denen die Fehlerrate 1 in N'im Betrieb überschritten wird.

ähnlichen bekannten Sequenz vergleicht, die am Empfangsende des Übertragungsgliedes erzeugt wird, um es zu ermöglichen, daß ein Vergleich zwischen der empfangenen Sequenz und der Sequenz, die am Empfangsende erzeugt wurde, durchgeführt wird. Vorzugsweise sollte die übertragene Information von statistischer Art sein, aber da statistische Folgen schwer zu korrelieren sind, ist es üblich, sog. pseudo-statistische Folgen zu benutzen. Solche Folgen wiederholen nach einer gewissen Anzahl von Ziffern, welche vorzugsweise sehr groß, aber innerhalb eines Wiederholungszyklus ist, Zahlen von gleicher Mächtigkeit (d. h. mit derselben Anzahl von Binär-Ziffern) mit gleicher Frequenz. Ein geeignetes System für die Fehlererfassung wird in der DE-Patentanmeldung P 24 20 440.8 beschrieben.

Um eine sinnvolle Darstellung der Fehlerverteilung zu schaffen, könnte die Zuverlässigkeit einer Vorrichtung durch die Feststellung ausgedrückt werden, daß eine Fehlerrate von 1 in 1000 während eines gewissen Prozentsatzes der Zeit nicht überschritten wird. Es muß klargemacht werden, daß mit dem Ausdruck »Fehlerverteilung« nicht die Anzahl von Fehlern gemeint ist, die innerhalb einer gewissen Probenmenge von Bits auftritt, sondern die tatsächliche Stellung der Fehler, die innerhalb der Probenmenge auftreten. Das heißt wenn z. B. 10 Fehler in einer Probe von 1000 Bit Länge auftreten, beschäftigt sich die Erfindung damit ob die 10 Fehler gleichmäßig verteilt auftreten, oder in zwei Bündeln von je 5 aufeinanderfolgenden Bits, oder in einem Bündel von 10, usw., da dies der Faktor ist der über Zuverlässigkeit eines Übertragungsgliedes entscheidet.

Die Erfindung hai die Aufgabe, eine Vorrichtung zu schaffen, mit der die Anzahl von Proben vorherbestimmter Bit-Länge ermittelt werden kann, die mehr als ein fehlerhaftes Bit enthalten.

Gemäß der Erfindung wird eine Vorrichtung zum Bestimmen der Anzahl von Proben geschaffen, in welchen die Fehlerrate in einem Bit-Strom 1 aus N übersteigt, wobei N eine vorherbestimmte Probengröße ist, mit einer Einrichtung zum Erfassen des Auftretens eines Fehlers im Bit-Strom, mit einer Einrichtung zum Zählen der Bit-Zahl von jedem Fehler zum nächsten, mit einer Einrichtung zum Auswerten der Summe

Die Erfindung betrifft die Fehlermessung in Digital-Systemen.

Es ist bei Digital-Systemen oft erforderlich, die Zuverlässigkeit von Übertragungsgliedern dadurch zu ermitteln, daß zuerst die Fehler erfaßt werden, und darauf die Fehlerverteilung bestimmt wird. Fehler, die durch ein Übertragungsglied hervorgerufen werden, können erfaßt werden, indem man eine bekannte Sequenz überträgt, und das empfangene mit einer Si = N Ct₁ +

i ι

für jede Folge (i) von Fehlern, in der drei aufeinanderfolgende Fehler nicht mehr als (N + 1) Bits überspannen, wobei in der Summe

a, = die Anzahl der Bits vom j. Fehler zum (J + 1). Fehler in der Folge ist und

m = die Anzahl der Fehler in der Folge,

und eine Einrichtung zum Erzeugen der Gesamtsumme

s,

χ γ

Vorzugsweise ist eine Einrichtung vorgesehen, um Ungenauigkeiten, die von irgendwelchen Fehlern herrühren, die innerhalb von N Bits vom Anfang deb Bit-Stroms auftreten, auszugleichen, indem von St der Betrag N - (A₀ + A\) abgezogen wird, wobei A₀ die Zahl der Bits vom Anfang des Bit-Stroms bis zum ersten

Fehler ist und A\ die Anzahl der Bits vom ersten Fehler bis zum zweiten Fehler im Bit-Strom.

Vorzugsweise wird ebenso eine Einrichtung vorgesehen, um Ungenauigkeiten, die innerhalb von N Bits vom Ende des Bit-Stroms aus auftreten, auszugleichen, indem von der Gesamtsumme Sr der Betrag N — (Az-i + A_z+t) abgezogen wipd, wobei A₂-\ gleich der Anzahl der Bits vom vorletzten Fehler zum letzten Fehler und A_x gleich der Anzahl der Bits vom letzten Fehler zum Ende des Bit-Stroms ist

Vorzugsweise ist die Vorrichtung geeignet, das Verhältnis der Proben, in denen die Fehlerrate 1 in N übersteigt, zu der Gesamtzahl der genommenen Proben zu bilden, indem eine Einrichtung zum Vergleich der Summe S_T mit der Gesamtzahl der Proben und eine Anzeigeeinrichtung zum Anzeigen des Verhältnisses der Proben, in denen die Fehlerrate 1 in N im Betrieb übersteigt, hinzugefügt werden.

Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise mit Bezug auf die Zeichnung näher erläutert In der Zeichnung zeigt die einzige Figur ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Anordnung.

Zuerst sollte erklärt werden, daß die Wahrscheinlichkeit eine Fehlerrate von 1 in 10« zu überschreiten, nicht die gleiche ist wie die Wahrscheinlichkeit, 10 Fehler in ΙΟ⁵ Bits zu aberschreiten. Dieser Punkt kann einfach klargemacht werden mit der Tatsache, daß für eine gegebene Folge, d's nur zwei benachbarte Fehler enthält eine Fehlerrate von 1 in 10⁴ für gewisse Zeitabschnitte überschritten wird, aber, da sie nicht mehr als zwei Fehler enthält, niemals eine Fehierrate von 10 in 10⁵ überschritten wird. So müssen, wenn die Häufigkeit mit der eine Fehlerrate von 1 in 10* überschritten wird, festgestellt werden soll, Proben von der Größe von 10* Bits genommen werden.

Es soll nun die Art und Weise, wie die Proben genommen werden, betrachtet werden. Würden jeweils aneinander angrenzende Proben genommen, so könnte es möglich S3in, daß zwei benachbarte Fehler jeweils in eine Probe fallen, so daß, wenn keine anderen Fehler vorhanden wären, keine Probe mehr als einen Fehler enthält Wenn keine anderen Fehler vorhanden wären, würde es den Anschein haben, daß keine Fehlerrate in irgendeiner Art in einer von den beiden Proben überschritten worden wäre, wogegen tatsächlich alle Fehlerraten bis zu einschließlich 1 in 2 für einige Zeitabschnitte überschritten wurden. Um Vorteile aus der Verteilung zu ziehen, sollten die Proben überlappen und vorzugsweise bei jedem Bit beginnen. Bei der Endanalyse wird eventuell eine genügende Anzahl benachbarter Proben dieselben Ergebnisse wie diese überlappende Art der Probenentnahme ergeben, obwohl die Zeit, die gebraucht wird, um zu einem wahren statistischen Ergebnis zu kommen, sehr viel größer sein wird.

Es sei angenommen, daß ein Interesse besteht, die Anzahl von Proben zu bestimmen, in denen eine Fehlerrate von 1 in N überschritten wird. Wenn au die Anzahl der Bits vom ersten Fehler bis zum zweiten, kleiner ist als N, dann ist die Zahl der verschiedenen Stellungen, die ein imaginäres Abtastfenster (von der Größe einer Probe) einnehmen kann, wenn es beide Fehler enthält, gleich N - a\. Tritt ein dritter Fehler a₂ Bits nach dem zweiten auf und ist a\ + a2 kleiner als N, dann ist die Zahl der Stellungen, die ein mindestens zwei 10

Fehler enthaltendes Fenster annehmen kann, gleich N. Wenn ein weiterer Fehler 33 Bits später auftritt ist die Zahl der Stellungen des Fensters, das mehr als einen Fehler enthält um 02 vergrößert, vorausgesetzt daß ai + a3 kleiner als Nist Für eine Folge (i)mit m Fehlern, bei denen keine drei aufeinanderfolgenden Fehler mehr als N + 1 Bit überspannen, ist die Anzahl der Stellungen, die das mehr als einen Fehler enthaltende Fenster annehmen kann, gegeben durch die Reihe

Si = N — O₁ + a_x + αχ + Ci₃ ... + a_m-2 , das heißt

Die Anzahl der Terme in der obigen Reihe wird von

der Häufigkeit bestimmt mit der a/_ ι + a, kleiner oder gleich N ist Sobald diese Summe N überschreitet muß die Reihe abgebrochen werden, und beim Auftreten zweier weiterer Fehler mit einem Abstand geringer als N — 1 eine neue Reihe begonnen werden.

2-, Gestützt auf diese Rechnung ist es möglich, ohne Abtasten das Zeitverhältnis zu berechnen, indem irgendeine Fehlerrate überschritten wird. Zu diesem Zweck ist es nötig, eine Aufzeichnung der auftretenden Fehlerstellungen zu schaffen und eine gleichzeitige Auswertung der obigen Reihe, wie sie durch die Werte von a bestimmt wird. Die Summen, die durch die wiederholte Benutzung der Reihe erzeugt werden, werden angesammelt und zusammenaddiert, was die Gesamtsumme von Srergibt. Das Verhältnis dieser Zahl

j-, zur Gesamtzahl der effektiv abgetasteten Bits ergibt den Bruchteil der Zeit, bei dem die Fehlerrate von 1 in N überschritten wurde. Dies kann jedoch nur eine Annäherung sein, da die Anfangs- und Endbedingungen der Bit-Folge nicht beachtet wurden. In den meisten

4Ii Fällen wird die Abweichung vom genauen Bruchteil gleich Null oder vernachlässigbar klein sein, aber es ist möglich, Korrekturterme einzuschließen, so daß der genaue erforderliche Bruchteil abgeleitet werden kann. Wenn der erste Fehler in einem Bit-Strom Ao Bits, vom Anfang gezählt auftritt und der zweite Fehler Ai Bits später, wobei Ai kleiner als N ist, wird die Differenz N — Ai nicht notwendigerweise gleich der Häufigkeit sein, mit der die Fehlerrate 1 in N überschritten wurde. Denn, falls A₀ + A\ kleiner als N ist, wird die Anzahl der

V) verschiedenen Stellungen, die ein Abtastfenster von N Bits, das beide Fehler enthält, annehmen könnte, um den Betrag N - (Ao + Ai) vermindert. Klarerweise gibt es, wenn das allererste Bit falsch ist und der nächste Fehler Ai Bits später auftritt, so daß A, kleiner als N ist, ohne

r> Rücksicht auf den tatsächlichen Wert von Ai nur eine Stellung eines N Bit breiten Fensters, das beide Fehler einschließt. Ein analoges Argument ergibt sich für das Ende jeden Bit-Stroms. Auf diese Weise sollten Korrekturterme von dem Wert St abgezogen werden,

w) falls Fehler in der Nähe des Anfangs oder des Endes einer Stichprobe auftreten.

Das Blockschaltbild in der Zeichnung bezieht sich auf eine Einheit zur Ausführung folgender Rechenoperation mit den Fehlerimpulsen, die von einem Fehlerdetektor

ft·) stammen:

G[N -(A₁,+ A₁)] - HlN-(A₁-, +A₂+ I)]

wobei

G = 0, wenn N — (Ao + A\) negativ,

G = 1, wenn N — (A_n + A\) positiv,

H = 0, wenn N — (A,- \ + A_z + 1) negativ,

// = 1, wenn A' — (A_z- \ + A₁ + 1) positiv und

aiie anderen Ausdrücke wie oben definiert.

Es ist zu erkennen, daß die Ausdrücke in den eckigen Klammern, vor denen G und //stehen, Ausgleichsterme für am Anfang und am Ende auftretende Fehler sind und daß klarerweise keine Korrekturen angebracht werden müssen, wenn der zweite Fehler und der vorletzte Fehler nicht innerhalb von Λ/Bits vom Anfang bzw. dem Ende einer Stichprobe auftreten.

Der Schaltkreis wird zuerst unter der Annahme beschrieben, daß ein Bit-Strom oder Durchlauf im Gange ist, und anschließend wird erklärt, wie Korrekturen am Anfang und am Ende jedes Durchlaufes anzubringen sind. Im Verlauf eines Durchlaufes wird ein Zähler 10 von jedem Fehler neu gesetzt und zählt die Anzahl von Bits bis einschließlich dem nächsten Fehler. Nach einer gewissen Verzögerungszeit, die durch einen Verzögerungskreis 16 bewirkt wird, wird dieses Zählergebnis einem Speicher 12 eingegeben, während das vorher in dem Speicher 12 befindliche Zählergebnis in einen Speicher 14 übertragen wird. Die in den Speichern 12 und 14 gespeicherten Daten werden im folgenden mit M\ bzw. M₂ bezeichnet Es ist zu verstehen, daß nach Eintreffen eines Fehlersignals in den Speicher 12 ein Zählergebnis eingegeben wird, das der Bit-Zahl seit dem vorhergehenden Fehler entspricht, und daß in den Speicher 14 die Bit-Zahl vom vorhergehenden Fehler zu dem davorliegenden gelangt.

Ein Kreis 18 mit der Aufschrift »N ERFASSEN« umfaßt eine Reihe von Gattern, die jeweils erkennen können, wenn ein vorbestimmtes Zählergebnis, das im Wert gleich N ist, durch den Zähler 10 erreicht wird. Der Wert von N, welcher in der Tat die Größe des Probenfensters darstellt, kann durch einen Block 20 mit der Aufschrift »//AUSWÄHLEN« ausgewählt werden, welcher ein Schalter ist, der so angeordnet ist, daß er den Ausgang eines der Gatter, die im Block 18 enthalten sind, auswählen kann.

Bei irgendeiner Fehlerfolge, bei welcher keine drei aufeinanderfolgenden Fehler mehr als N + \ Bits überspannen, wird die Gesamtzahl der einen Fehler enthaltenden Fenster, wie vorher erklärt durch

N- a, + a, + a₂... + a_m-₂

angegeben. Beim kontinuierlichen Ausrechnen dieser Summe wird der erste Fehler nicht beachtet da zwei Fehler innerhalb eines Fensters gebraucht werden, damit irgendeine Fehlerrate überschritten werden kann. Beim Auftreten des zweiten Fehlers ist die Gesamtzahl der zwei Fehler enthaltenden Fensterstellungen gleich N — a\. Wenn ein weiterer Fehler auftritt, dann wird die Summe um a\ erhöht und bei darauffolgenden Fehlern durch 32, * usw.

Wenn ein Fehler eintritt wird der Ausgang des Zählers 10 die Anzahl der seit dem vorhergehenden Fehler vorhandenen Bits anzeigen. Ist diese Zahl größer als N, so wird die Gesamtzahl der Fehler enthaltenden Fensterstellungen nicht vergrößert Diese Gesamtsumme wird in einem Summenspeicher 40, der durch ein vom Diskriminator 22 erzeugtes Signal getriggert wird, gespeichert Ist ein Fehler weniger als N Bits vom vorhergehenden Fehler entfernt, so gibt der Diskriminator über einen Schalter 42, dessen Funktion weiter unten erklärt wird, einen Impuls an den Summenspeicher 40. Mit diesem und den weiteren in der Folge nachfolgenden Impulsen wächst der Inhalt in dem Summenspeicher

■> 40 entweder um (N - Mi) oder um M₂, je nachdem, ob der Fehler der zweite in der Folge oder ein nachfolgender Fehler ist. Beim Auftreten des zweiten Fehlers in einer Fehlerfolge ist die Summe (M\ + M₂) automatisch größer als N. Auf der anderen Seite ist

ίο wegen der Art, mit der eine Folge definiert ist, d. h. als eine Aufeinanderfolge von Fehlern, bei der keine drei aufeinanderfolgenden Fehler mehr als N + 1 Bits überspannen, beim Auftreten von aufeinanderfolgenden Fehlern (M\ + Mi) immer kleiner oder gleich N. Die

r, Summe (M\ + M₂) wird durch einen Addierkreis 26 errechnet, der mit den Ausgängen der Speicher 12 und 14 verbunden ist. Ein Subtrahierkreis 24, der mit dem Ausgang des Speichers 12 und dem Block 20 verbunden ist, erzeugt den Wert (N - M\). Ein Diskriminator 28 wertet aus, ob (My + M₂) kleiner oder größer als N ist und steuert einen Selektor 30 nach dem Ergebnis dieser Auswertung so an, daß er den Ausgang des Selektors 30 entweder mit dem Wert M₂ oder dem Wert (N- M\) beaufschlagt, je nachdem, ob der Fehler der zweite oder ein folgender Fehler einer Fehlerfolge ist. Dieser Wert wird über den Selektor 32, dessen Funktion weiter unten erklärt wird, an einen Addierkreis 34 weitergegeben, der in einer geschlossenen Schleife mit dem Summenspeicher 40 verbunden ist. Am Ausgang des Addierkreises

jo 34 erscheint die Summe aus dem Wert, der in dem Summenspeicher 40 gespeichert ist und dem Wert, der am Ausgang des Selektors 30 erscheint Der von dem Diskriminator beim Auftreten eines Fehlers in der Folge erzeugte Impuls triggert den Summenspeicher 40 so,

j) daß er seinen Inhalt auf den neuesten Stand bringt

Soweit bisher beschrieben, ist die Schaltung zur Berechnung der Anzahl der Fenster der Breite N die mehr als einen Fehler enthalten, für alle in einem Durchlauf auftretenden Fehlerfolgen geeignet Der Diskriminator 22 triggert nach dem Auftreten des zweiten oder weiteren Fehlers in einer Folge den Summenspeicher 40 so, daß er seinen Inhalt entweder durch N — Mu falls der Fehler der zweite in einer Reihe ist, oder durch M₂, falls der Fehler ein weiterer Fehler ist, auf den neuesten Stand bringt

Das im Speicher 40 enthaltene Summenergebnis kann, wie erklärt wurde, in den Grenzwerten unkorrekt sein als Ergebnis von Fehlern, die am Anfang oder am Ende eines Durchlaufs auftreten. Um diese Endfehler auszugleichen, enthält der Schaltkreis vier zusätzliche Blöcke, nämlich den Schalter 42 und den Selektor 32, die bereits früher angesprochen wurden, und eine Steuereinheit Anfang/Ende 36 und einen Löschgatterblock 38. Wenn beim Beginn eines Durchlaufs der erste Fehler Ao Bits nach dem Beginn und der zweite A\ Bits nach dem ersten auftreten, wobei Ao + A\ kleiner als N ist dann wird die Anzahl der einen Fehler enthaltenden Fenster nicht gleich N - A₁, wie es bei jeder anderen Folge der Fall sein würde, sondern nur Ai sein. Damit

bo ein solches Zählergebnis in den Summenspeicher 40 eingehen kann, findet folgender Ablauf statt Wenn eir Betriebsschalter innerhalb der Steuereinheit 36 zum Starten eines Durchlaufs eingeschaltet wird, werden alle Speicher in der Schaltung, d. k, der Summenspeicher 40 und die Speicher 12 und 14, gelöscht Da dei Summenspeicher 40 mit dem Addierkreis 34 in einei geschlossenen Schleife verbunden ist ist es notwendig die Löschgatter 38 einzuschließen, damit dieses Löscher

stattfinden kann. Der Zähler 10 wird auf Null gesetzt und bereitgemacht, mit dem Zählen zu beginnen, sobald die Fehleranzeigeimpulse von einem (nicht gezeigten) Fehlerdetektor durchgeleitet werden. Wenn der erste Fehlerimpuls ankommt, wird der Inhalt des Zählers 10 bei Ao angelangt sein, und dieser Wert wird in den Speicher 12 übertragen. Der Diskriminator 22 wird jedoch keinen Triggerimpuls an den Summenspeicher 40 abgeben. Wenn ein weiterer Fehler A\ Bits später erfolgt, wird der Wert Aa in den Speicher 14 eingehen und der Zählinhalt A\ wird in den Speicher 12 eingehen. Wenn Ao + A\ kleiner als NkX., wird der Diskriminator 28 den Selektor 30 in der vorher beschriebenen Weise so setzen, daß der Inhalt des Summenspeichers 40 um M₂ erweitert wird, was in diesem Fall gleich Ao ist. Dies ist tatsächlich die korrekte Zahl, die im Summenspeicher 40 gespeichert werden muß. Auf diese Weise wird beim Beginn eines Durchlaufs, vorausgesetzt Ao + A\ ist kleiner als N, der erste Fehler so behandelt, als ob er der zweite Fehler einer Folge statt der erste wäre.

Am Ende eines Durchlaufs wird der vorher erwähnte Schalter in der Steuereinheit 36 umgeschaltet, und das bewirkt, daß ein Signal an den Fehlereingang gegeben wird, um in den Speicher 12 eine Zählmenge zu übertragen, die gleich der Anzahl der Bits vom letzten Fehler bis zum Ende des Durchlaufs ist, und gleichzeitig wird in den Speicher 14 die Anzahl der Bits zwischen den letzten zwei Fehlern übertragen. 1st nun die Summe dieser beiden Mengen M\ + M₂ kleiner als JV, dann wird Von der Summe in dem Summenspeicher 40 der Betrag

[N- (Mx + M₂ + I)]

abgezogen. Die Entscheidung, ob M\ + M₂ größer als N ist, wird immer innerhalb des Diskriminators 28 im Verlauf eines normalen Durchlaufs durchgeführt Weiterhin erzeugt dieser selbe Diskriminator 28 von selbst den Betrag

[N-(Mx + M₂+ 1)].

Der Selektor 32 ist so ausgelegt, daß er bei Beendigung des Durchlaufs für den Fall, daß (Μχ + M₂) kleiner als N ist, den Betrag

N-(Mx+ M₂+ 1),

ίο den er vom Diskriminator 28 erhält, an den Addierkreis 34 weitergibt, statt des Ausgangs des Selektors 30. Sobald der Diskriminator entscheidet, daß Μχ + M₂ kleiner als JV ist, läßt er einen Triggerimpuls zu dem Summenspeicher 40 über den Schalter 42 abgehen. Der Schalter 42 wird nun durch die Steuereinheit 36 so angesteuert, daß er an den Summenspeicher 40 diesen Triggerimpuls statt des Ausgangs des Diskriminators 22 weiterleitet. Der Addierkreis 34 ist bereit; durch die Steuereinheit 36 in einen Subtrahierkreis verwandelt (dies kann mit binären Schaltkreisen in bekannter Weise leicht erreicht werden), so daß an dem Ausgang des Addierkreises ein Wert vorhanden ist, der den vorherigen Inhalt des Summenspeichers beim Ende des Durchgangs minus

[N - (Μχ + M₂ + I)]

entspricht, welcher Wert in den Summenspeicher eingegeben wird, um so seinen vorigen Inhalt zu ersetzen.

Der Ausgang des Summenspeichers ist mit einer passenden Ausgabeeinheit verbunden, welche die Anzahl der Fenster, in der die ausgewählte Fehlerrate überschritten wurde, anzeigt. Wenn erwünscht, kann dies als Prozentsatz der Gesamtzahl der Fenster, die tatsächlich das ganze Signal von Fehlerimpulsen abgetastet haben, ausgedrückt werden.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

Patentansprüche:

1. Vorrichtung zur Bestimmung der Anzahl der Proben, in denen die Fehlerrate eines Bit-Stroms 1 in N überschreitet, wobei N eine vorbestimmte Größe der Proben ist, gekennzeichnet durch eine Einrichtung zum Erfassen des Auftretens eines Fehlers im Bit-Strom, Einrichtungen zum Zählen der Bit-Zahl von jedem Fehler zum nächsten, Einrich- ι ο tungen zum Errechnen der Summe