DE2608185A1 - Messeinrichtung fuer impulsstoesse - Google Patents

Messeinrichtung fuer impulsstoesse

Info

Publication number
DE2608185A1
DE2608185A1 DE19762608185 DE2608185A DE2608185A1 DE 2608185 A1 DE2608185 A1 DE 2608185A1 DE 19762608185 DE19762608185 DE 19762608185 DE 2608185 A DE2608185 A DE 2608185A DE 2608185 A1 DE2608185 A1 DE 2608185A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
output
input
measuring range
switch
amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19762608185
Other languages
English (en)
Other versions
DE2608185B2 (de
DE2608185C3 (de
Inventor
Dmitry Alexeewits Gretschinsky
Wiktor Alexandrowits Klotschko
Oleg Nikolaewitsch Nowikow
Wiktor Georgiewitsch Rygalin
Alexandr Sergeewitsch Yakschin
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NII INTROSKOPII
Original Assignee
NII INTROSKOPII
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NII INTROSKOPII filed Critical NII INTROSKOPII
Publication of DE2608185A1 publication Critical patent/DE2608185A1/de
Publication of DE2608185B2 publication Critical patent/DE2608185B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2608185C3 publication Critical patent/DE2608185C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/08—Circuits for altering the measuring range
    • G01R15/09—Autoranging circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

Patentanwälte Dipl.-lng. R. B E E T Z sen. Dipl.-lng. K. LAMPRECHT Dr.-Ing. R. B E E TZ jr.
800U München 22
Steinsdorfstraße 1O
Tel. (O 89) 22 72 O1 / 22 72 44 / 29 5910
Telegr. Allpatent München Telex 522O48
530-25.328P
27. 2. 1976
Nauchno-Issledovatelsky Institut Introskopii, MOSKAU - UdSSR
Meßeinrichtung für Impulsstöße
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Meßeinrichtungen für Parameter von Stoßüberlastungen,und, genauer genommen, auf Meßeinrichtungen für Impulsstöße, insbesondere auf Meßeinrichtungen für den Spitzenwert der Beschleunigung eines Impulsstoßes mit automatischer Wahl des Meßbereiches in Abhängigkeit vom Spitzenwert der Beschleunigung des zu messenden Impulsstoßes.
Es ist eine Meßeinrichtung für Impulsstöße (s. beispielsweise W. S. Pellinez "Messung von Impulsstößen",
550-(P62788/2)-HdSl
603S37/0335
Verlag Standards, Moskau, 1975, S. 209 bis 210) bekannt, die einen Beschleunigungsgeber enthält, der mechanische Schwingungen des Prüflings in an einer mit einem Messer für Impulsstoß-Parameter elektrisch gekoppelten "Verstärkereinheit eintreffende elektrische Signale umformt. Diese Einrichtung mißt den Spitzenwert des Impulsstoßes. Bei der bekannten Einrichtung erfolgt die Umschaltung auf den erforderlichen Meßbereich von Hand mittels eines Umschalters, was die Geschwindigkeit der Beschleunigungsmessung eines Impulsstoßes beträchtlich herabsetzt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Meßeinrichtung für Impulsstöße zu schaffen, bei der eine automatische Wahl des Meßbereiches gewährleistet ist und die Arbeitsgeschwindigkeit der Meßeinrichtung für Impulsstöße erhöht wird.
Dies wird bei einer Meßeinrichtung für Impulsstöße, mit einem Beschleunigungsgeber, der mechanische Schwingungen des Prüflings in elektrische Signale umformt, und in eine Verstärkereinheit einspeist, die mit einem Messer für Impulsstoß-Parameter elektrisch gekoppelt ist, der einen an einen der Eingänge eines Digital-Analog-Umsetzers angeschlossenen Vergleicher und eine Bezugsspannungs-Quelle enthält, die an einen anderen Eingang des Digital-Analog-Umsetzers angeschlossen ist, an dessen dritten Eingang ein Hochfrequenzimpuls-Generator angeschlossen ist, erreicht durch einen Meßbereich-Umschalter zur automatischen Umschaltung des Meßbereiches für die Impulsstoß-Parameter, von dem verbunden sind: ein erster Eingang mit dem Ausgang der Verstärkereinheit, ein zweiter Eingang mit dem Ausgang des Hochfrequemzimpuls-Generators, ein dritter Eingang mit dem Ausgang der Bezugsspannung s-Quelle, ein erster Ausgang mit dem Vergleicher und
609837/033S
ein zweiter Ausgang mit einer Löschsohiene des Digital-Analog-Umsetzers .
Es ist zweckmäßig, daß der Meßbereich-Umschalter für die Impulsstoß-Parameter aufweist: drei Verstärker verschiedener Verstärkung, deren Eingänge als erster Eingang des Meßbereich-Umschalters für die Impulsstoß-Parameter dienen und jeweils einen eigenen, an ihren Ausgang angeschlossenen Schalter aufweisen, einen Operationsverstärker, dessen Eingang am-die Ausgänge der Schalter und dessen Ausgang als erster Ausgang des Meßbereich-Umschalters an den Eingang des Vergleichers angeschlossen sind, eine Reihenschaltung aus: einem Nullorgan, das mit einem ersten Eingang an den Ausgang des Operationsverstärkers und mit einem zweiten Eingang als dritter Eingang des Meßbereich-Umschalters an den Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle angeschlossen ist, einem Impulsformer, und einem ersten UND-Glied, das mit einem zweiten Eingang als zweiter Eingang des Meßbereich-Umschalters an den Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Generators angeschlossen ist; sowie einen monostabilen Multivibrator, dessen Eingang an den Ausgang des ersten UND-Gliedes und dessen Ausgang als zweiter Ausgang des Meßbereich-Umschalters an die Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers angeschlossen ist, ein zweites, mit seinen Eingängen an den Ausgang des ersten UND-Gliedes und an den Ausgang des monostabilen Multivibrators angeschlossenes UND-Glied, einen Binärzähler aus einem ersten Flip-Flop und einem zweiten Flip-Flop, die miteinander verbunden sind und von denen das erste Flip-Flop an den Ausgang des zweiten UND-Gliedes und das zweite Flip-Flop mit einem seiner Ausgänge an den mit dem Verstiärker minimaler Verstärkung gekoppelten Schalter angeschlossen ist, ein erstes NAND-Glied und ein zweites NAND-Glied, die an die Ausgänge des ersten bzw. zwei-
609837/0335
ten Flip-Flops angeschlossen sind, wobei das erste NAND-Glied an den mit dem Verstärker maximaler Verstärkung gekoppelten Schalter und das zweite NAND-Glied an den mit dem Verstärker mittlerer Verstärkung gekoppelten Schalter angeschlossen ist.
Die Einrichtung gemäß der Erfindung gewährleistet die Messung des Spitzenwertes der Beschleunigung eines Impulsstoßes bei automatischer Auswahl des Meßbereiches und erhöht dadurch ihre Arbeitsgeschwindigkeit.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild der Meßeinrichtung für Impulsstöße gemäß der Erfindung;
Fig. 2 ein Blockschaltbild des Meßbereich-Umschalters für die Impulsstoß-Parameter der Einrichtung gemäß der Erfindung;
Fig. 3 ein detailliertes Schaltbild des Meßbereich-Umschalters für die Impulsstoß-Parameter gemäß der Erfindung nach Fig. 2;
Fig. 4 räumlich-zeitliche Diagramme, die die Arbeitsweise der Meßeinrichtung für Impulsstöße nach Fig. 1 erläutern.
Die Meßeinrichtung für Impulsstöße soll gemäß der Erfindung für die Messung eines der Impulsstoß-Parameter, nämlich für die Messung des Spitzenwertes der Beschleunigung des zu messenden Impulsstoßes, beschrieben werden.
Die Meßeinrichtung für Impulsstöße enthält erfindungs-
6038 3 7/0335
gemäß nach FIg. 1 einen für sich gut bekannten Beschleunigungsgeber 1, der mechanische Schwingungen des Prüflings in elektrische Signale umformt und über eine Verstärkereinheit 2 an den ersten Eingang 3 eines Meßbereich-Umschalters 4 für die Impulsstoß-Parameter angeschlossen ist. Der Meßbereich-Umschalter 4 für die Stoßimpuls-Parameter ist mit einem Messer^für die Impulsstoß-Parameter verbunden.
Der Messer 5 für die Impulsstoß-Parameter enthält' einen Vergleicher 6, an dessen ersten Eingang der erste Ausgang 7 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Impulsstoß-Parameter, an den zweiten Eingang der Ausgang eines Digital-Analog-Umsetzers 8 angeschlossen ist, an dessen ersten, zweiten und dritten Eingang jeweils der Ausgang des Vergleichers 6, ein Hochfrequenzimpuls-Generator 9 und eine Bezugsspannungs-Quelle 10 und an dessen Löschschiene der zweite Ausgang 11 des Meßbei'eich-Umschalters 4 für die Impulsstoß-Parameter angeschaltet sind, Die Rechenausgänge des Digital-Analog-Umsetzers 8 sind mit einem Anzeigegerät 12 gekoppelt, das den Meßwert des genannten Impulsstoß-Parameters anzeigt.
Der Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Generators 9 ist an den zweiten Eingang 13 des Meßbereich-Umschalters 4 und der Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle 10 an den dritten Eingang l4 desselben Meßbereich-Umschalters 4 angeschlossen.
Der Meßbereich-Umschalter 4 (Fig. 2) für die Impulsstoß-Parameter enthält seinerseits einen ersten, zweiten und dritten Verstärker 15, l6, 17, deren Eingänge miteinander verbunden und über den Eingang 3 an den Ausgang der Verstärkereinheit 2 angeschlossen sind.
609837/0335
Die Verstärker 15, ΐβ, 17 weisen verschiedene Verstärkungsfaktoren auf, und zwar der Verstärker 15 einen minimalen Verstärkungsfaktor, der Verstärker 17 einen maximalen Verstärkungsfaktor und der Verstärker 16 einen mittleren Verstärkungsfaktor zwischen dem minimalen und maximalen.
Die Ausgänge der Verstärker 15, 16, 17 sind jeweils mit den ersten Eingängen von eigens zugeordneten Schaltern l8, 19 und 20 gekoppelt. Die Ausgänge der Schalter l8, und 20 sind miteinander verbunden und an den Eingang eines Operationsverstärkers 21 angeschlossen, dessen als erster Ausgang 7 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Impulsstoß-Parameter dienender Ausgang an den Eingang des Vergleichers 6 (Pig. 1) angeschlossen ist.
Darüber hinaus enthält der Meßbereich-Umschalter 4 für die Impulsstoß-Parameter eine Reihenschaltung aus einem Nullorgan 22 (Fig. 2), einem Impulsformer 25 und einem ersten UND-Glied 24, wobei der erste Eingang des Nullorgans 22 mit dem Ausgang des Operationsverstärkers 21 und der zweite, als dritter Eingang l4 des Meßbereich-Umschalters für die Impulsstoß-Parameter dienende Eingang mit dem Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle 10 (Fig. 1) verbunden ist. Der zweite, als zweiter Eingang 13 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Impulsstoß-Parameter dienende Eingang des UND-Gliedes 24 (Fig. 2) ist mit dem Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Generators 9 (Fig. 1) und der Ausgang mit dem Eingang eines monostabilen Multivibrators 25 (Fig. 2) und mit dem ersten Eingang eines zweiten UND-Gliedes 26 verbunden. Der als zweiter Ausgang 11 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Impulsstoß-Parameter dienende Ausgang des monostabilen Multivibrators 25 ist mit der Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers 8 (Fig. 1) und mit dem zweiten Eingang des zweiten UND-Gliedes 25 (Fig. 2) verbunden.
609837/0335
Der Meßbereich-Umschalter 4 für die Impulsstoß-Parameter enthält auch einen Binärzähler 27, der aus einem ersten Flip-Flop 28 und einem zweiten Flip-Flop 29 aufgebaut ist, die miteinander verbunden sind und deren erstes Flip-Flop 28 an den Ausgang des zweiten UND-Gliedes 26 und das zweite Flip-Flop 29 mit einem seiner Ausgänge an den Schalter 18 angeschlossen ist, sowie ein erstes NAND-Glied 30 und ein zweites NAND-Glied 31, die an die Ausgänge der Flip-Flops 28 und 29 angeschlossen sind, wobei der Ausgang des NAND-Gliedes 30 an den Schalter 20 und der Ausgang des NAND-Gliedes 31 an den Schalter 19 angeschlossen ist.
Das Funktionsschaltbild des Meßbereich-Umschalters (Fig. 3) für die Impulsstoß-Parameter enthält drei Verstärker 15, 16, 17j die jeweils aus integrierten Schaltungen 32, 33 und 34 aufgebaut sind. Außerdem enthält jeder Verstärker jeweils einen Eingangswiderstand 35, 36 und 37> Vorspannungswiderstände 38, 39 und 40 und Rückkopplungswiderstände 4l, 42 und 43· Die Rückkopplungswiderstände 4l, 42 und 43 liegen zwischen einem Eingang und dem Ausgang der integrierten Schaltungen 32, 33 und 34 der Verstärker 15, l6 und 17. An die Ausgänge der integrierten Schaltungen 32, 33 und ~$k sind die Schalter l8, 19 und angeschlossen, die aus je zwei in Basis- bzw. Kollektorschaltung liegenden Transistoren 44 und 45, 46 und 47, 48 und 49 aufgebaut sind. Die Emitter von Transistoren 44, 46, 48 sind miteinander verbunden und an einen Begrenzungswiderstand 50 des aus einer integrierten Schaltung 51 aufgebauten Operationsverstärkers 21 angeschlossen, wobei der Operationsverstärker 21 auch einen zwischen einem Eingang und dem Ausgang der integrierten Schaltung 51 liegenden Rückkopplungswiderstand 52 und einen Vorspannungswiderstand 53 enthält. Der Ausgang der integrier-
609837/0335
ten Schaltung 5I des Operationsverstärkers 21 ist an den Vergleicher 6 angekoppelt.
Darüber hinaus ist der Ausgang der Schaltung 5I des Operationsverstärkers 21 über einen Begrenzungswiderstand 54 mit dem einen Eingang einer integrierten Schaltung 55 des Nullorgans 22 verbunden, während mit dem anderen Eingang der Schaltung 55 über einen Begrenzungswiderstand 56 die Bezugsspannungs-Quelle 10 gekoppelt ist. Der Ausgang der Schaltung 55 ist mit einem Eingangswiderstand 57 des Impulsformers 25 gekoppelt. Der Impulsformer 23 ist in Gestalt zweier hintereinandergesehalteter Verstärkerstufen aus Transistoren 58, 59 mit Lastwiderständen 60, 6l und Eingangswiderständen 57» 62 aufgebaut. Der Kollektor des Transistors 59 ist mit einem der Eingänge des UND-Gliedes 24 verbunden, mit dessen anderem Eingang der Hochfrequenzimpuls-Generator gekoppelt ist.
Der Ausgang des UND-Gliedes 24 ist mit dem Eingang des Multivibrators 25 verbunden, der aus zwei NAND-Gliedern 63, 64, einem Kondensator 65 und einer durch einen Widerstand 67 überbrückten Diode 66 aufgebaut ist. Einer der Eingänge des NAND-Gliedes 63 ist mit dem Ausgang des NAND-Gliedes 64, der Ausgang des NAND-Gliedes 63 über den Kondensator 65 mit den zusammengeschalteten Eingängen des NAND-Gliedes 64, mit der Diode 66 und mit dem Widerstand 67 gekoppelt. Die zusammengeschalteten Eingänge des NAND-Gliedes 64 sind an die Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers 8 angeschlossen. Außerdem sind die zusammengeschalteten Eingänge des NAND-Gliedes 64 mit einem Eingang des UND-Gliedes 26 verbunden, mit dessen anderem Eingang der Ausgang des UND-Gliedes 24 gekoppelt ist. Der Ausgang des UND-Gliedes 26 ist an den Eingang C des D-Flip-Flops 28 des Binärzählers 27 angeschlossen. Der
BG9837/G335
invertierende Ausgang des D-Flip-Flops 28 ist mit dessen Eingang D und an einen Eingang des NAND-Gliedes J>0 gekoppelt. Der nichtinvertierende Ausgang des D-Flip-Flops 28 ist an den Eingang C des D-Flip-Flops 29 und mit einem Eingang des NAND-Gliedes ^l gekoppelt. Die anderen Eingänge der NAND-Glieder 30 und J>1 sind miteinander und an den Eingang D und den invertierenden Ausgang des D-Flip-Flops 29 gekoppelt, dessen nichtinvertierender Ausgang mit den Basen der Transistoren 44, 45 des Schalters 18 verbunden ist. Die Ausgänge der NAND-Glieder JO, 31 sind mit den Basen der Transistoren 48, 49 und 46, 47 der Schalter 20 bzw. 19 gekoppelt. Die Eingänge R der D-Flip-Flops 28 und 29 sind miteinander und an eine Löschschiene 68 gekoppelt.
Zum besseren Verständnis der Arbeitsweise der erfindungsgemäßeri Meßeinrichtung für Impulsstöße ist Fig. aufgeführt.
Fig. 4 zeigt einen Impulsstoß 69, einen Pegel 70 für Bezugsspannung, einen Pegel Jl für Sättigungsspannung, eine Spannung J2 am Ausgang des Operationsverstärkers 21, ein-Potential 73 am Ausgang des Nullorgans 22, Impulse vom Hochfrequenzimpuls-Generator 9* Impulse 75 am Ausgang des UND-Gliedes 24, ein Potential 76 am Ausgang des monostabilen Multivibrators 25, Impulse 77 am Ausgang des- UND-Gliedes 26, ein Potential 78 am Eingang des Schalters 20, ein Potential 79 am Eingang des Schalters 19, ein Potential 80 am Eingang des Schalters l8, einen Löschimpuls 8l, einen Pegel 82 für Nullpotential.
Die erfindungsgemäße Meßeinrichtung für Impulsstöße arbeitet wie folgt.
609837/0335
Am Anfang wird der aus den Flip-Flops 28 und 29 aufgebaute Binärzähler 27 durch einen an der Schiene 68 (Fig. 3) ankommenden Löschimpuls 8l auf Null eingestellt. Hierbei ist die Spannung am Ausgang des Digital-Analog-Umsetzers 8 (Fig. 1) gleich Null.
Vom Ausgang des am (nicht gezeigten) Prüfling angeordneten Beschleunigungsgebers 1 gelangt ein elektrisches Signal auf die Verstärkereinheit 2. Am Ausgang der Verstärkereinheit 2 bildet sich ein normiertes Signal aus, dessen Form die des Impulsstoßes 69 (Fig. 4) wiederholt. Dieses Signal 69 kommt gleichzeitig an den drei Verstärkern 15, l6 und 17 (Fig. 3) mit verschiedenen Verstärkungsfaktoren an. Die Werte der Ruckkopplungswiderstände 4l, und 43 sind derart gewählt, daß der Verstärker 15 einen minimalen, der Verstärker 17 einen maximalen und der Verstärker 16 einen mittleren Verstärkungsfaktor aufweist. Ein Signal vom Ausgang des NAND-Gliedes 30 öffnet den Schalter 20, und ein Eingangs-Meβsignal trifft vom Ausgang des den größten Verstärkungsfaktor aufweisenden Verstärkers 17 am Eingang des Operationsverstärkers 21 ein.
Ist der Spitzenwert des Eingangssignals höher, gelangen der Verstärker 17 und der Operationsverstärker 21 in die Sättigung, und die Spannung 72 am Ausgang des Operationsverstärkers 21 erreicht den Pegel 71 für Sättigung. Auf die Eingänge des Nullorgans 22 treffen Signale vom Ausgang des Operationsverstärkers 21 und von der Bezugsspannung s-Quelle 10 auf. Der Pegel 70 für Bezugsspannung wird gleich maximalem Spannungswert am Ausgang des Digital-Analog-Umsetzers 8 (Fig. 1) des Messers 5 für die Impulsstoß-Parameter gewählt.
Übertrifft die Spannung 72 (Fig. 4) am Ausgang des Operationsverstärkers 21 (Fig. 3) den Pegel 70 für Bezugsspannung, spricht das Nullorgan 22 an, und an dessen Aus-
609837/0335
gang bildet sich ein positives Potential 73 aus. Dieses Potential gelangt auf die zwei hintereinandergeschalteten Stufen mit den Transistoren 58 und 59 des Impulsformers Bei diesen Stufen wird das Signal verstärkt und ein positiver Impuls geformt, der vom Lastwiderstand 6l des Transistors 59 auf einen der Eingänge des UND-Gliedes 24 gelangt. Gleichzeitig treffen am anderen Eingang dieses UND-Gliedes 24 Impulse 74 vom Hochfrequenzimpuls-Generator ein. Am Ausgang des UND-Gliedes 24 erseheinen Impulse 75.
Der erste Impuls vom Ausgang des UND-Gliedes 24 passiert das UND-Glied 26 und tritt an dessen Ausgang auf. Der erste Impuls 77 gelangt auf den ersten Eingang des Flip-Flops des Binärzählers 27. Hierbei tritt am Ausgang des NAND-Gliedes 30 ein Potential 78 auf, das zum Eingang des Schalters 20 gelangt.
Durch die Hinterflanke des ersten der Impulse 75 wird der monostabile Multivibrator 25 ausgelöst, und an dessen Ausgang bildet sich ein Nullpotential aus. Die Arbeit des aus den zwei NAND-Gliedern 63 und 64, dem Kondensator 65 und der durch den Widerstand 67 überbrückten Diode 66 aufgebauten monostabilen Multivibrators 25 ist weitgehend bekannt.
Der Impuls 76 vom Ausgang des monostabilen Multivibrators 25 trifft auch auf den Eingang des UND-Gliedes 26 und verhindert den Durchgang der Impulse 75 vom Ausgang des UND-Gliedes 24 zum Eingang des BinärZählers 27, bis die Einechwingvorgänge des Operationsverstärkers 21 zu Ende sind.
Nach dem Durchgang des ersten der Impulse 75 vom Ausgang des UND-Gliedes 24 wird der Schalter 20 durch das an dessen Eingang eintreffende Potential 78 gesperrt, während
809837/0336
das am Eingang des Schalters 19 vom Ausgang des NAND-Gliedes 31 ankommende Potential 79 den Schalter 19 öffnet, der den Ausgang des "Verstärkers l6 an den Eingang des Operationsverstärkers 21 anschließt. Der Verstärkungsfaktor des Verstärkers l6 ist kleiner als beim Verstärker 17.
Im Zusammenhang damit, daß der Wert des Signals am Ausgang der Verstärkereinheit 2 nach wie vor groß bleibt, erscheint am Ausgang des UND-Gliedes 26 ein zweiter Impuls 77i nachdem der monostabile Multivibrator 25 in die Ausgangslage zurückgekehrt ist. Dieser Impuls gelangt in den Binärzähler 27, weshalb am Eingang des Schalters 19 das positive Potential 79 und am Eingang des Schalters l8 ein Nullpotential 80 auftritt.
Der Schalter 19 sperrt und der Schalter l8 öffnet, und an den Eingang des Operationsverstärkers 21 wird der Verstärker 15 mit dem kleinsten Verstärkungsfaktor angeschlossen. Hierbei fällt die Spannung 72 am Ausgang des Operationsverstärkers 21 unter den Pegel 70 für Bezugsspannung ab, das Nullorgan 22 spricht an, und das Potential 73 an dessen Ausgang sinkt auf den Ausgangswert ab. Am Ausgang des UND-Gliedes 24 erscheint ein Nullpotential.
Die Spannung 72 am Ausgang des Operationsverstärkers 21 gelangt auf den Vergleicher 6 (Fig. 1), und deren Spitzenwert wird durch den Messer 5 für die Impulsstoß-Parameter gemessen. Zugleich werden über die Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers 8 vom Ausgang des monostabilen Multivibrators 25 (Fig· 3) in den Digital-Analog-Umsetzer 8 (Fig. 1) Löschimpulse eingespeist, so daß mit der Messung
609837/0335
des Spitzenwertes der Beschleunigung des Impulsstoßes nach Abschluß der Wahl des entsprechenden Meßbereiches begonnen wird.
Die Anwendung der erfindungsgemaßen Einrichtung gestattet, die Messung des Spitzenwertes eines Impulsstoßes durch automatische Wahl des Meßbereiches zu beschleunigen und erneute Stoßwirkungen auszuschließen, deren Durchführung bei manueller Wahl der Meßgrenze möglich ist, wo
der Spitzenwert der Beschleunigung des Impulsstoßes von
vornherein nicht bekannt ist. Die Ausführung des Meßbereich-Umschalters erlaubt auch, die Geschwindigkeit durch die
erfindungsgemäße schaltungstechnische Lösung zu steigern.
Der Einsatz der erfindungsgemaßen Einrichtung ermöglicht es, die Meßzeit für die Durchführung von mechanischen Prüfungen auf Schlagfestigkeit bei Prüflingen zu reduzieren, was eine Kostensenkung für die Durchführung derartiger Prüfungen zur Folge hat.
609837/0335

Claims (2)

  1. Patentans prüche
    JMeßeinrichtung für Impulsstöße, mit einem Beschleunigungsgeber, der mechanische Schwingungen des Prüflings in elektrische Signale umformt und in eine Verstärkereinheit einspeist, die mit einem Messer für Impulsstoß-Parameter elektrisch gekoppelt ist, der einen an einen der Eingänge eines Digital-Analog-Umsetzers angeschlossenen Vergleicher und eine Bezugsspannungs-Quelle enthält, die an einen anderen Eingang des Digital-Analog-Umsetzers angeschlossen ist, an dessen dritten Eingang ein Hochfrequenzimpuls-Generator angeschlossen ist,
    gekennzeichnet durch
    einen Meßbereich-Umschalter (4) zur automatischen Umschaltung des Meßbereichs für die Impulsstoß-Parameter, von dem verbunden sind:
    ein erster Eingang (j5) mit dem Ausgang der ■Verstärkereinheit (2),
    ein zweiter Eingang (13) mit dem Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Generators (9) *
    ein dritter Eingang (14) mit dem Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle (10),
    ein erster Ausgang (7) mit dem Vergleicher (6) und
    ein zweiter Ausgang (11) mit einer Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers (8).
    609837/0335
  2. 2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
    daß der Meßbereich-Umschalter (4) für die Impulsstoß-Parameter aufweist:
    drei Verstärker (15, 16, 17) verschiedener Verstärkung, deren Eingänge als erster Eingang (3) des Meßbereich-Umschalters (4) für die Impulsstoß-Parameter dienen und jeweils einen eigenen, an ihren Ausgang angeschlossenen Schalter (18, 19, 20) aufweisen,
    einen Operationsverstärker (21), dessen Eingang an die Ausgänge der Schalter (18, 19* 20) und dessen Ausgang als erster Ausgang (7) des Meßbereich-Umschalters (4) an den Eingang des Vergleichers (6) angeschlossen sind,
    eine Reihenschaltung aus:
    einem Nullorgan (22), das mit einem ersten Eingang an den Ausgang des Operationsverstärkers (21) und mit einem zweiten Eingang als dritter Eingang (14) des Meßbereich-Umschalters (4) an den Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle (10) angeschlossen ist,
    einem Impulsformer (23), und
    einem ersten UND-Glied (24), das mit einem zweiten Eingang als zweiter Eingang (lj5) des Meßbereich-Umschalters (4) an den Ausgang 'des Hochfrequenzimpuls-Generators (9) angeschlossen ist; sowie
    603837/0335
    -Ib-
    einen monostabilen Multivibrator (25), dessen Eingang an den Ausgang des ersten UND-Gliedes (24) und dessen Ausgang als zweiter Ausgang (11) des Meßbereich-Umschalters (4) an die Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers (8) angeschlossen ist,
    ein zweites, mit seinen Eingängen an den Ausgang des ersten UND-Gliedes (24) und an den Ausgang des monostabilen Multivibrators (25) angeschlossenes UND-Glied (26),
    einen Binärzähler (27) aus einem ersten Flip-Flop (28) und einem zweiten Flip-Flop (29), die miteinander verbunden sind und von denen das erste Flip-Flop (28) an den Ausgang des zweiten UND-Gliedes (26) und das zweite Flip-Flop (29) mit einem seiner Ausgänge an den mit dem Verstärker (15) minimaler Verstärkung gekoppelter Schalter (18) angeschlossen ist,
    ein erstes NAND-Glied (30) und ein zweites NAND-Glied (31), die an die Ausgänge des ersten bzw. zweiten Flip-Flops (28, 29) angeschlossen sind, wobei das erste NAND-Glied (30) an den mit dem Verstärker (17) maximaler Verstärkung gekoppelten Schalter (20) und das zweite NAND-Glied (31) an den mit dem Verstärker (16) mittlerer Verstärkung gekoppelten Schalter (19) angeschlossen ist.
    609837/0335
DE2608185A 1975-02-28 1976-02-27 Meßeinrichtung für Stoßimpulse Expired DE2608185C3 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU752109015A SU676933A1 (ru) 1975-02-28 1975-02-28 Цифровое устройство дл измерени импульсных напр жений

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2608185A1 true DE2608185A1 (de) 1976-09-09
DE2608185B2 DE2608185B2 (de) 1978-09-07
DE2608185C3 DE2608185C3 (de) 1979-05-10

Family

ID=20611319

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2608185A Expired DE2608185C3 (de) 1975-02-28 1976-02-27 Meßeinrichtung für Stoßimpulse

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4030339A (de)
DD (1) DD123127A1 (de)
DE (1) DE2608185C3 (de)
DK (1) DK84876A (de)
FR (1) FR2302529A1 (de)
GB (1) GB1495133A (de)
SU (1) SU676933A1 (de)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3425415A (en) * 1966-05-02 1969-02-04 Iit Res Inst Controlled infusion system
US4331026A (en) * 1980-07-14 1982-05-25 The Boeing Company Indenter-type hardness testing apparatus
WO1982000715A1 (en) * 1980-08-22 1982-03-04 V Klyuev Device for measuring dynamic characteristics of objects during impact
FR2494851A1 (fr) * 1980-11-21 1982-05-28 Klochko Viktor Dispositif pour la mesure des caracteristiques dynamiques d'objets soumis a l'action d'un choc
CA1163116A (en) * 1981-02-20 1984-03-06 Donald G. Moorby Wedge tightness measuring device
US4452066A (en) * 1982-04-20 1984-06-05 Klochko Viktor A Device for measuring dynamic characteristics of objects under impact
US4615209A (en) * 1985-01-03 1986-10-07 Change Jr Nicholas D Multi range impulse hammer
US6430520B1 (en) 1999-12-13 2002-08-06 Unisys Corporation Dynamic friction measurement apparatus and method
US8104324B2 (en) 2010-03-02 2012-01-31 Bio-Applications, LLC Intra-extra oral shock-sensing and indicating systems and other shock-sensing and indicating systems
WO2011109533A2 (en) 2010-03-02 2011-09-09 Bio-Applications, L.L.C Intra-extra oral shock-sensing and indicating systems and other shock-sensing and indicating systems
CN115371504B (zh) * 2022-08-31 2024-04-23 南京理工大学 一种轻小型冲击过载测试装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3712122A (en) * 1971-02-08 1973-01-23 Electro Dev Corp Aircraft hard landing indicator
US3838428A (en) * 1973-10-01 1974-09-24 Beaver H Soil impedance log

Also Published As

Publication number Publication date
FR2302529B1 (de) 1980-07-18
DD123127A1 (de) 1976-11-20
DE2608185B2 (de) 1978-09-07
GB1495133A (en) 1977-12-14
DK84876A (da) 1976-08-29
FR2302529A1 (fr) 1976-09-24
DE2608185C3 (de) 1979-05-10
SU676933A1 (ru) 1979-07-30
US4030339A (en) 1977-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2557521C3 (de) Stoß-Meßeinrichtung
DE1547031A1 (de) Schaltungsanordnung zur Erzeugung einer Impulsfolge mit nichtlinearem Impulsabstand und veraenderbarer Periodendauer
DE2608185A1 (de) Messeinrichtung fuer impulsstoesse
EP0268788A2 (de) Verfahren und Einrichtung zur Funktionsprüfung eines Mikrofons
DE2703880C3 (de) Elektrisches Prüfgerät mit akustischer, quantitativer Analoganzeige für Widerstand und Spannung
DE2253015A1 (de) Breitbanddiskriminator
DE2558172B2 (de) Digital Melleinrichtung für Einzel- und Mehrfachstöße zur Spitzenwert-Messung
DE2917788A1 (de) Materialpruefgeraet
DE2928874A1 (de) Schaltung zur rauschunterdrueckung
DE1958906C3 (de) Elektrisches Meßgerät, insbesondere Elektromanometer für direkte Blutdruckmessungen
DE1673919C3 (de) Vorrichtung zum Bestimmen des mechanischen Zustandes von Maschinen
DE19531386A1 (de) Auswerteschaltung für einen Dickfilm-Drucksensor
DE2648440C3 (de) Meßeinrichtung fur Stoßimpuls-Parameter
DE1516242C3 (de) Phasenvergleicheinrichtung
DE1080222B (de) Schaltungsanordnung zur Impulsfrequenzmessung
DE2429246C2 (de) Prüfeinrichtung für hochohmige Widerstände, insbesondere Isolationswiderstände
DE2343550C3 (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung von Parametern der Bauelemente eines komplexen Stromkreises
DE1772423C (de) Schaltkreis für elektronische Musikinstrumente
DE1915833C3 (de) Ultraschall-Impuls-Echogerät zur Bestimmung der Fehlergröße eines Werkstückfehlers
AT335566B (de) Einrichtung zur messung der parameter eines einen komplexen widerstand aufweisenden zweipoles
DE19652077C2 (de) Verfahren und Einrichtung zur Abtastung eines periodischen Signals
DE1523222C (de) Beschleunigungsmesser
DE1917444C (de) Zahlereingangsschaltung mit zwei Eingangsklemmen und einer Angleichung der Breiten von Koinzidenz und Anti koinzidenz Zeitintervallen
DE2649264A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zur messung von nichtlinearen verzerrungen quasilinearer systeme
DE2010373A1 (de) Elektronischer Münzprüfer

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee