DE2608185B2 - Meßeinrichtung für Stoßimpulse - Google Patents
Meßeinrichtung für StoßimpulseInfo
- Publication number
- DE2608185B2 DE2608185B2 DE2608185A DE2608185A DE2608185B2 DE 2608185 B2 DE2608185 B2 DE 2608185B2 DE 2608185 A DE2608185 A DE 2608185A DE 2608185 A DE2608185 A DE 2608185A DE 2608185 B2 DE2608185 B2 DE 2608185B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- output
- input
- measuring range
- switch
- amplifier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/08—Circuits for altering the measuring range
- G01R15/09—Autoranging circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßeinrichtung
für Stoßimpulse nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1, die eine Umschaltung im Hinblick auf die
Spannung, also die Amplitude des Meßsignals, bewirkt.
Es ist eine Meßeinrichtung für Stoßimpulse (s. beispielsweise W. S. Pellinez »Messung von Stoßimpulsen«,
Verlag Standards, Moskau, 1975, S. 209 bis 210) bekanni, die einen Beschleunigungsgeber enthält,
der mechanische Schwingungen des Prüflings in an einer mit einem Messer für Stoßimpuls-Parameter
elektrisch gekoppelten Verstärkereinheit eintreffende elektrische Signale umformt. Diese Einrichtung mißt
den Spitzenwert des Stoßimpulses. Bei der bekannten Einrichtung erfolgt die Umschaltung auf den erforderlichen
Meßbereich von Hand mittels eines Umschalters, was die Geschwindigkeit der Beschleunigungsmessung
eines Stoßimpulses beträchtlich herabsetzt.
Es ist außerdem bereits eine Meßeinrichtung für Stoßimpulse bekannt (»Archiv für Technisches Messen«
[ATM], Lieferung 392, Sept. 1968, Seiten RIlO
bis R 116), bei der eine digitale Auswertung der von
einem Beschleunigungsgeber über einen Verstärker angelieferten Meßgröße vorgenommen wird. Die
Meßbereichsanpassung muß dabei von Hand erfolgen. Außerdem ist für große Meßspannungen eine Übergangsanzeige
vorgesehen. Mit dieser bekannten Meßeinrichtung kann aber ein gewünschter Meßbereich
nicht automatisch ausgewählt werden.
Es ist weiterhin eine Vorrichtung zur Analyse von Impulsamplituden bekannt (DE-OS 2121824), die
einen Impulsgenerator, einen Verstärker und ein Impulsamplituden-Stellglied hat. Damit kann jedoch
nicht schnell der erwünschte Meßbereich bei der Messung eines Stoßimpulses automatisch ausgewählt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine schnell arbeitende Meßeinrichtung für Stoßimpulse zu
schaffen, bei der eine automatische Wahl des Meßbereiches, also eine Umschaltung im Hinblick auf die
Spannung bzw. die Amplitude des Meßsignals, gewährleistet ist.
Die Lösung dieser Aufgabe ist erfindungsgemäß durch die Merkmale des kennzeichnenden Teiles des
Patentanspruches 1 gegeben.
Die Anwendung der erfindungsgemäßen Meßeinrichtung gestattet, die Messung des Spitzenwertes ei-
nes Stoßimpulses durch automatische Wahl des Meßbereiches
zu beschleunigen und erneute Stoßwirkungen auszuschließen, deren Durchführung bei manueller
Wahl der Meßgrenze möglich ist, wo der Spitzenwert der Beschleunigung des Stoßimpulses von
vornherein nicht bekannt ist. Die Ausführung des Meßbereich-Umschalters erlaubt auch, die Geschwindigkeit
durch die erfindungsgemäße schaltungstechnische Lösung zu steigern.
Der Einsatz der erfindungsgemäßen Meßeinrich- ι ο tung ermöglicht es, die Meßzeit für die Durchführung
von mechanischen Prüfungen auf Schlagfestigkeit bei Prüflingen zu reduzieren, was eine Kostensenkung für
die Durchführung derartiger Prüfungen zur FolgeTiat.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung ist durch den Patentanspruch 2 gegeben.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der
Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild der Meßeinrichtung für Stoßimpulse,
Fig. 2 ein Blockschaltbild des Meßbereich-Umschalters für die Stoßimpuls-Parameter,
Fig. 3 ein detailliertes Schaltbild des Meßbereich-Umschalters für die Stoßimpuls-Parameter nach '■>
Fig. 2,
Fig. 4 räumlich-zeitliche Diagramme, die die Arbeitsweise der Meßeinrichtung für Stoßimpulse nach
Fig. 1 erläutern.
Die Meßeinrichtung für Stoßimpulse soll für die Messung eines der Impulsstoß-Parameter, nämlich für
die Messung des Spitzenwertes der Beschleunigung des zu messenden Stoßimpulses, beschrieben werden.
Die Meßeinrichtung für Impulssiöße enthalt nach Fig. 1 einen bekannten Beschleunigungsgeber 1, der j>
mechanische Schwingungen des Prüflings in elektrische Signale umformt und über eine Verstärkereinheit
2 an den ersten Eingang 3 eines Meßbereich-Umschalters 4 für die Stoßimpuls-Parameter angeschlossen
ist. Der Meßbereich-Umschalter 4 für die Stoßimpuls-Parameter ist mit einem Messer 5 für
diese Parameter verbunden.
Der Messer 5 für die Stoßimpuls-Parameter enthält einen Vergleicher 6, an dessen ersten Eingang der erste
Ausgang 7 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Stoßimpuls-Parameter, an den zweiten Eingang der
Ausgang eines Digital-Analog-Umsetzers 8 angeschlossen ist, an dessen ersten, zweiten und dritten
Eingang jeweils der Ausgang des Vergleichers 6, ein Hochfrequenzimpuls-Generator 9 und eine Bezugs- μ
spannungs-Quelle 10 und an dessen Löschschiene der zweite Ausgang 11 des Meßbereich-Umschalters 4 für
die Stoßimpuls-Parameter angeschaltet sind. Die Rechenausgänge des Digital-Analog-Umsetzers 8 sind
mit einem Anzeigerät 12 gekoppelt, das den Meßwert des genannten Stoßimpuls-Parameters anzeigt.
Der Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Gcnerators 9 ist an den zweiten Eingang 13 des Meßbereich-Umschalters
4 und der Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle 10 an den dritten Eingang 14 desselben
Meßbereich-Umschalters 4 angeschlossen.
Der Meßbereich-Umschalter 4 (Fig. 2) für die Stoßimpuls-Parameter enthält seinerseits einen ersten,
zweiten und dritten Verstärker 15,16,17, deren Eingänge miteinander verbunden und über den Eingang
3 an den Ausgang der Verstärkereinheit 2 angeschlossen sind.
Die Verstärker 15, 16, 17 weisen verschiedene Verstärkungsfaktoren auf, und zwar der Verstärker
15 einen minimalen Verstärkungsfaktor, der Verstärker 17 einen maximalen Verstärkungsfaktor und der
Verstärker 16 einen mittleren Verstärkungsfaktor zwischen dem minimalen und maximalen.
Die Ausgänge der Verstärker IS, 16,17 sind jeweils
mit den ersten Eingängen von eigens zugeordneten Schaltern 18,19 und 20 gekoppelt. Die Ausgänge der
Schalter 18, 19 und 20 sind miteinander verbunden und an den Eingang eines Operationsverstärkers 21
angeschlossen, dessen als erster Ausgang 7 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Stoßimpuls-Parameter
dienender Ausgang an den Eingang des Vergleichers 6 (Fig. 1) angeschlossen ist.
Darüber hinaus enthält der Meßbereich-Umschalter 4 für die Stoßimpuls-Parameter eine Reihenschaltung
aus einem Nullinstrument 22 (Fig. 2), einem Impulsformer 23 und einem ersten UND-Glied 24,
wobei der erste Eingang des Nullinstruments 22 mit dem Ausgang des Operationsverstärkers 21 und der
zweite, als dritter Eingang 14 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Stoßimpuls-Parameter dienende
Eingang mit dem Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle 10 (Fig. 1) verbunden ist. Der zweite, als
zweiter Eingang 13 des Meßbereich-Umschalters 4 für die Stoßimpuls-Parameter dienende Eingang des
UND-Gliedes 24 (Fig. 2) ist mit dem Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Generators 9 (Fig. 1) und der
Ausgang mit dem Eingang eines monostabilen Multivibrators 25 (Fig. 2) und mit dem ersten Eingang eines
zweiten UND-Gliedes 26 verbunden. Der als zweiter Ausgang 11 des Meßbereich-Umschalters 4
für die Stoßimpuls-Parameter dienende Ausgang des monostabilen Multivibrators 25 ist mit der Löschschiene
des Digital-Analog-Umsetzers 8 (Fig. 1) und mit dem zweiten Eingang des zweiten UND-Gliedes
25 (Fig. 2) verbunden.
Der Meßbereich-Umschalter 4 für die Stoßimpuls-Parameter enthält auch einen Binärzähler 27, der
aus einem ersten Flip-Flop 28 und einem zweiten Flip-Flop 29 aufgebaut ist, die miteinander verbunden
sind und deren erstes Flip-Flop 28 an den Ausgang des zweiten UND-Gliedes 26 und das zweite Flip-Flop
29 mit einem seiner Ausgänge an den Schalter 18 angeschlossen ist, sowie ein erstes NAND-Glied 30 und
ein zweites NAND-Glied 31, die an die Ausgänge der Flip-Flops 28 und 29 angeschlossen sind, wobei der
Ausgang des NAND-Gliedes 30 an den Schalter 20 und der Ausgang des NAND-Gliedes 31 an den
Schalter 19 angeschlossen ist.
Das Funktionsschaltbild des Meßbereich-Umschalters 4 (Fig. 3) für die Stoßimpuls-Parameter
enthält drei Verstärker 15,16,17, die jeweils aus integrierten
Schaltungen 32, 33 und 34 aufgebaut sind. Außerdem enthält jeder Verstärker jeweils einen
Eingangswiderstand 35, 36 und 37, Vorspannungswiderstände 38, 39 und 40 und Rückkopplungswiderstände
41,42 und 43. Die Rückkopplungswiderstände 41, 42 und 43 liegen zwischen einem Eingang und
dem Ausgang der integrierten Schaltungen 32, 33 und 34 der Verstärker 15, 16 und 17. An die Ausgänge
der integrierten Schaltungen 32, 33 und 34 sind die Schalter 18, 19 und 20 angeschlossen, die aus je zwei
Basis- bzw. Kollektorschaltungen liegenden Transistoren 44 und 45, 46 und 47, 48 und 49 aufgebaut
sind. Die Emitter von Transistoren 44, 46, 48 sind miteinander verbunden und an einen Begrenzungswiderstand
50 des aus einer inteerierten Schaltune 51
aufgebauten Operationsverstärkers 21 angeschlossen, wobei der Operationsverstärker 21 auch einen zwischen
einem Eingang und dem Ausgang der integrierten Schaltung 51 liegenden Rückkopplungswiderstand
53 enthält. Der Ausgang der integrierten Schaltung 51 des Operationsverstärkers 21 ist an den
Vergleicher 6 angekoppelt.
Darüber hinaus ist der Ausgang der Schaltung 51 des Operationsverstärkers 21 über einen Begrenzungswiderstand
54 mit dem einen Eingang einer integrierten Schaltung 55 des Nullinstruments 22 verbunden,
während mit dem anderen Eingang der Schaltung 55 über einen Begrenzungswiderstand 56
die Bezugspannungs-Quelle 10 gekoppelt ist. Der Ausgang der Schaltung 55 ist mit einem Eingangswiderstand
57 des Impulsformers 23 gekoppelt. Der Impulsformer 23 ist in Gestalt zweier hintereinander geschalteter
Verstärkerstufen aus Transistoren 58, 59 mit Lastwiderständen 60, 61 und Eingangswiderständeri
57, 62 aufgebaut. Der Kollektor des Transistors 59 ist mit einem der Eingänge des UND-Gliedes 24
verbunden, mit dessen anderem Eingang der Hochfrequenzimpuls-Generator gekoppelt ist.
Der Ausgang des UND-Gliedes 24 ist mit dem Eingang des Multivibrators 25 verbunden, der aus zwei
NAND-Gliedern 63, 64, einem Kondensator 65 und einer durch einen Widerstand 67 überbrückten Diode
66 aufgebaut ist. Einer der Eingänge des NAND-Gliedes 63 ist mit dem Ausgang des NAND-Gliedes
64, der Ausgang des NAND-Gliedes 63 über den Kondensator 65 mit den zusammengeschalteten Eingängen
des NAND-Gliedes 64, mit der Diode 66 und mit dem Widerstand 67 gekoppelt. Die zusammengeschalteten
Eingänge des NAND-Gliedes 64 sind an die Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers 8 angeschlossen.
Außerdem sind die zusammengeschalteten Eingänge des NAND-Gliedes 64 mit einem Eingang
des UND-Gliedes 26 verbunden, mit dessen anderem Eingang der Ausgang des UND-Gliedes 24
gekoppelt ist. Der Ausgang des UND-Gliedes 26 ist an den Eingang C des D-Flip-Flops 28 des Binärzählers
27 angeschlossen. Der invertierende Ausgang des D-Flip-Flops 28 ist mit dessen EingangD und an einen
Eingang des NAND-Gliedes 30 gekoppelt. Der nichtinvertierende Ausgang des D-Flip-Flops 28 ist
an den Eingang C des D-Flip-Flops 29 und mit einem Eingang des NAND-Gliedes 31 gekoppelt. Die anderen
Eingänge der NAND-Glieder 30 und 31 sind miteinander und an den Eingang D und den invertierenden
Ausgang des D-Flip-Flops 29 gekoppelt, dessen nichtinvertierender Ausgang mit den Basen der Transistoren
44, 45 des Schalters 18 verbunden ist. Die Ausgänge der NAND-Glieder 30,31 sind mit den Basen
der Transistoren 48, 49 und 46, 47 der Schalter 20 bzw. 19 gekoppelt. Die Eingänge R der D-Flip-Flops
28 und 29 sind miteinander und an eine Löschschiene 68 gekoppelt.
Zum besseren Verständnis der Arbeitsweise der erfindungsgemäßen Meßeinrichtung für Stoßinipulse ist
Fig. 4 aufgeführt.
Fig. 4 zeigt einen Stoßimpuls 69, einen Pegel 70 für Bczugsspannung, einen Pegel 71 für Sättigungsspannung, eine Spannung 72 am Ausgang des Operationsverstärkers
21, ein Potential 73 am Ausgang des Nullinslrumcnts 22, Impulse 74 vom Hochfrequcnzimpuls-Gcncrator
9, Impulse 75 am Ausgang des UND-Gliedes 24, ein Potential 76 am Ausgang des monostabilen Multivibrators 25. Impulse 77 am Ausgang
des UND-Gliedes 26, ein Potential 78 am Eingang des Schalters 20, ein Potential 79 am Eingang
des Schalters 19, ein Potential 80 am Eingang des Schalters 18, einen Löschimpuls 81, einen Pegel 82
für Nullpotential.
Diese Meßeinrichtung für Stoßimpulse arbeitet wie folgt.
Am Anfang wird der aus den Flip-Flops 28 und
29 aufgebaute Binärzähler 27 durch einen an der ίο Schiene 68 (Fig. 3) ankommende Löschimpuls 81 auf
Null eingestellt. Hierbei ist die Spannung am Ausgang des Digital-Analog-Umsetzers 8 (Fig. 1) gleich Null.
Vom Ausgang des am (nicht gezeigten) Prüfling angeordneten Beschleunigungsgebers 1 gelangt ein
elektrisches Signal auf die Verstärkereinheit 2. Am Ausgang der Verstärkereinheit 2 bildet sich ein normiertes
Signal aus, dessen Form die des Stoßimpulses 69 (Fig. 4) wiederholt. Dieses Signal 69 kommt
gleichzeitig an den drei Verstärkern 15, 16 und 17 (Fig. 3) mit verschiedenen Verstärkungsfaktoren an.
Die Werte der Rückkopplungswiderstände 41,42 und 43 sind derart gewählt, daß der Verstärker 15 einen
minimalen, der Verstärker 17 einen maximalen und der Verstärker 16 einen mittleren Verstärkungsfaktor
.'5 aufweist. Ein Signal vom Ausgang des NAND-Gliedes
30 öffnet den Schalter 20, und ein Eingangs-Meßsignal
trifft vom Ausgang des den größten Verstärkungsfaktor aufweisenden Verstärkers 17 am Eingang
des Operationsverstärkers 21 ein.
jo Ist der Spitzenwert des Eingangssignals höher, gelangen
der Verstärker 17 und der Operationsverstärker 21 in die Sättigung, und die Spannung 72 am Ausgang
des Operationsverstärkers 21 erreicht den Pege 71 für Sättigung. Auf die Eingänge des Nullinstruj
ments 22 treffen Signal vom Ausgang des Operationsverstärkers 21 und von der Bezugsspannungs-QuelU
10 auf. Der Pegel 70 für Bezugsspannung wird gleicl· maximalem Spannungswert am Ausgang des Digital-Analog-Umsetzers
8 (Fig. 1) des Messers 5 für dit
-ίο Stoßimpuls-Parameter gewählt.
Übertrifft die Spannung 72 (Fig. 4) am Ausgang
des Operationsverstärkers 21 (Fig. 3) den Pegel 7( für Bezugsspannung, spricht das Nullinstrument Vt
an, und an dessen Ausgang bildet sich ein positive; Potential 73 aus. Dieses Potential gelangt auf die zwe
hintereinandergeschalteten Stufen mit den Transisto ren 58 und 59 des Impulsformers 23. Bei diesen Stufer
wird das Signal verstärkt und ein positiver Impuls ge formt, der vom Lastwiderstand 61 des Transistors 5!
auf einen der Eingänge des UND-Gliedes 24 gelangt Gleichzeitig treffen am anderen Eingang diese:
UND-Gliedes 24 Impulse 74 vom Hochfrequenzim puls-Generator 9 ein. Am Ausgang des UND-GIiede:
24 erscheinen Impulse 75.
Der erste Impuls vom Ausgang des UND-Gliede 24 passiert das UND-Glied 26 und tritt an dessei
Ausgang auf. Der erste Impuls 77 gelangt auf den er sten Eingang des Flip-Flops 28 des Binärzählers 27
Hierbei tritt am Ausgang des NAND-Gliedes 30 eii
bo Potential 78 auf, das zum Eingang des Schalters 2(
gelangt.
Durch die Hinterflanke des ersten der Impulse Ii
wird der monostabile Multivibrator 25 ausgelöst, um an dessen Ausgang bildet sich ein Nullpotential aus
t,5 Das Arbeiten des aus den zwei NAND-Gliedern f\.
und 64, dem Kondensator 65 und der durch den Wi dcrstand 67 überbrückten Diode 66 aufgebauten mo
nostabilen Multivibrators 25 ist bekannt.
Der Impuls 76 vom Ausgang des monostabilen Multivibrators 25 trifft auch auf den Eingang des
UND-Gliedes 26 und verhindert den Durchgang der Impulse 75 vom Ausgang des UND-Gliedes 24
zum Eingang des Binärzählers 27, bis die Einschwingvorgänge des Operationsverstärkers 21 zu Ende
sind.
Nach dem Durchgang des ersten der Impulse 75 vom Ausgang des UND-Gliedes 24 wird der Schalter
20 durch das an dessen Eingang eintreffende Potential 78 gesperrt, während das am Eingang des Schalters
19 vom Ausgang des NAND-Gliedes 31 ankommende Potential 79 den Schalter 19 öffnet, der den
Ausgang des Verstärkers 16 an den Eingang des Operationsverstärkers 21 anschließt. Der Verstärkungsfaktor
des Verstärkers 16 ist kleiner als beim Verstärker 17.
Im Zusammenhang damit, daß der Wert des Signals am Ausgang der Verstärkereinheit 2 nach wie vor
groß bleibt, erscheint am Ausgang des UND-Gliedes 26 ein zweiter Impuls 77, nachdem der monostabile
Multivibrator 25 in die Ausgangslage zurückgekehrt ist. Dieser Impuls gelangt in den Binärzähler 27, weshalb
am Eingang des Schalters 19 das positive Potential 79 und am Eingang des Schalters 18 ein Nullpotcntial
80 auftritt.
Der Schalter 19 sperrt und der Schalter 18 öffnet,
r> und an den Eingang des Operationsverstärkers 21
wird der Verstärker 15 mit dem kleinsten Verstärkungsfaktor angeschlossen. Hierbei fällt die Spannung
72 am Ausgang des Operationsverstärkers 21 unter den Pegel 70 für Bezugsspannung ab, das Nullorgan
in 22spricht an, und das Potential 73 an dessen Ausgang
sinkt auf den Ausgangswert ab. Am Ausgang des UND-Gliedes 24 erscheint ein Nullpotential.
Die Spannung 72 am Ausgang des Operationsverstärkers 21 gelangt auf den Vergleichcr 6 (Fig. 1),
ii und deren Spitzenwert wird durch den Messer 5 für
die Stoßimpuls-Parameter gemessen. Zugleich werden über die Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers
8 vom Ausgang des monostabilen Multivibrators 25 (Fig. 3) in den Digital-Analog-Umsetzer 8
(Fig. 1) Löschimpulse eingespeist, so daß mit der Messung des Spitzenwertes der Beschleunigung des
Stoßimpulses nach Abschluß der Wahl des entsprechenden Meßbereiches begonnen wird.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
809 536/337
Claims (2)
1. Meßeinrichtung für Stoßimpulse, mit einem Beschleunigungsgeber, der mechanische Schwingungen
des Prüflings in elektrische Signale umformt und in eine Verstärkereinheit einspeist, die
mit einem Messer für Stoßimpuls-Parameter elektrisch gekoppelt ist, der einen an einen der Eingänge
eines Digital-Analog-Umsetzers ange- ι ο schlossenen Vergleicher und eine Bezugsspannungs-Quelle
enthält, die an einen anderen Eingang des Digital-Analog-Umsetzers angeschlossen
ist, an dessen dritten Eingang ein Hochfrequenzimpuls-Generator angeschlossen ist, gekennzeichnet
durch einen Meßbereich-Umschalter (4) zur automatischen Umschaltung des
Meßbereichs für die Stoßimpuls-Parameter, von dem verbunden sind:
ein erster Eingang (3) mit dem Ausgang der Verstärkereinheit (2),
ein zweiter Eingang (13) mit dem Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Generators (9),
ein dritter Eingang (14) mit dem Ausgang der Bezugsspannungs-Quelle (10),
ein erster Ausgang (7) mit dem Vergieicher (6) und
ein zweiten' Ausgang (11) mit einer Löschschiene des Digital-Analog-Umsetzers (8).
2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch jo
gekennzeichnet, daß der Meßbereich (4) für die Stoßimpuls-Parameter aufweist:
drei Verstärker (15, 16, 17) verschiedenen Verstärkungsgrades, deren Eingänge als erster
Eingang (3) des Meßbereich-Umschalters (4) für J5 die Stoßimpuls-Parameter dienen und jeweils einen
eigenen, an ihren Ausgang angeschlossenen Schalter (18, 19, 20) aufweisen,
einen Operationsverstärker (21), dessen Eingang an die Ausgänge der Sch<er (18, 19, 20)
und dessen Ausgang als erster Ausgang (7) des Meßbereich-Umschalters (4) an den Eingang des
Vergleichers (6) angeschlossen sind,
eine Reihenschaltung aus:
einem Nullinstrument (22), das mit einem ersten Eingang an den Ausgang des Operationsverstärkers
(21) und mit einem zweiten Eingang als dritter Eingang (14) des Meßbereich-Umschalters
(4) an den Ausgang der Bezugspannungs-Quelle (10) angeschlossen ist,
einem Impulsformer (23), und
einem ersten UND-Glied (24), das mit einem zweiten Eingang als zweiter Eingang (13) des
Meßbereich-Umschalters (4) an den Ausgang des Hochfrequenzimpuls-Generators (9) angeschlossen
ist; sowie
einen monostabilen Multivibrator (25), dessen Eingang an den Ausgang des ersten UND-Gliedes
(24) und dessen Ausgang als zweiter Ausgang (11) des Meßbereich-Umschalters (4) an die Lösch- e>o
schiene des Digital-Analog-Umsetzers (8) angeschlossen ist,
ein zweites, mit seinen Eingängen an den Ausgang des ersten UND-Gliedes (24) und an den
Ausgang des monostabilen Multivibrators (25) b5 angeschlossenes UND-Glied (26),
einen Binärzähler (27) aus einem ersten Flip-Flop (28) und einem zweiten Flip-Flop (29), die
miteinander verbunden sind und von denen das erste Flip-Flop (28) an den Ausgang des zweiten
UND-Gliedes (26) und das zweite Flip-Flop (29) mit einem seiner Ausgänge an den mit dem Verstärker
(15) minimaler Verstärkung gekoppelter Schalter (18) angeschlossen ist,
ein erstes NAND-Glied (30) und ein zweites NAND-Glied (31), die an die Ausgänge des ersten
bzw. zweiten Flip-Flops (28, 29) angeschlossen sind, wobei das erste NAND-Glied (30) an den
mit dem Verstärker (17) maximaler Verstärkung gekoppelten Schalter (20) und das zweite
NAND-Glied (31) an den mit dem Verstärker (16) mittlerer Verstärkung gekoppelten Schalter
(19) angeschlossen ist.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU752109015A SU676933A1 (ru) | 1975-02-28 | 1975-02-28 | Цифровое устройство дл измерени импульсных напр жений |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2608185A1 DE2608185A1 (de) | 1976-09-09 |
| DE2608185B2 true DE2608185B2 (de) | 1978-09-07 |
| DE2608185C3 DE2608185C3 (de) | 1979-05-10 |
Family
ID=20611319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2608185A Expired DE2608185C3 (de) | 1975-02-28 | 1976-02-27 | Meßeinrichtung für Stoßimpulse |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4030339A (de) |
| DD (1) | DD123127A1 (de) |
| DE (1) | DE2608185C3 (de) |
| DK (1) | DK84876A (de) |
| FR (1) | FR2302529A1 (de) |
| GB (1) | GB1495133A (de) |
| SU (1) | SU676933A1 (de) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3425415A (en) * | 1966-05-02 | 1969-02-04 | Iit Res Inst | Controlled infusion system |
| US4331026A (en) * | 1980-07-14 | 1982-05-25 | The Boeing Company | Indenter-type hardness testing apparatus |
| DE3050540A1 (en) * | 1980-08-22 | 1982-08-26 | D Grechinsky | Device for measuring dynamic characteristics of objects during impact |
| FR2494851A1 (fr) * | 1980-11-21 | 1982-05-28 | Klochko Viktor | Dispositif pour la mesure des caracteristiques dynamiques d'objets soumis a l'action d'un choc |
| CA1163116A (en) * | 1981-02-20 | 1984-03-06 | Donald G. Moorby | Wedge tightness measuring device |
| US4452066A (en) * | 1982-04-20 | 1984-06-05 | Klochko Viktor A | Device for measuring dynamic characteristics of objects under impact |
| US4615209A (en) * | 1985-01-03 | 1986-10-07 | Change Jr Nicholas D | Multi range impulse hammer |
| US6430520B1 (en) | 1999-12-13 | 2002-08-06 | Unisys Corporation | Dynamic friction measurement apparatus and method |
| US8104324B2 (en) | 2010-03-02 | 2012-01-31 | Bio-Applications, LLC | Intra-extra oral shock-sensing and indicating systems and other shock-sensing and indicating systems |
| US8739599B2 (en) | 2010-03-02 | 2014-06-03 | Bio-Applications, LLC | Intra-extra oral shock-sensing and indicating systems and other shock-sensing and indicating systems |
| CN115371504B (zh) * | 2022-08-31 | 2024-04-23 | 南京理工大学 | 一种轻小型冲击过载测试装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3712122A (en) * | 1971-02-08 | 1973-01-23 | Electro Dev Corp | Aircraft hard landing indicator |
| US3838428A (en) * | 1973-10-01 | 1974-09-24 | Beaver H | Soil impedance log |
-
1975
- 1975-02-28 SU SU752109015A patent/SU676933A1/ru active
-
1976
- 1976-02-17 US US05/658,687 patent/US4030339A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-02-25 DD DD191478A patent/DD123127A1/xx unknown
- 1976-02-25 GB GB7396/76A patent/GB1495133A/en not_active Expired
- 1976-02-25 FR FR7605274A patent/FR2302529A1/fr active Granted
- 1976-02-27 DE DE2608185A patent/DE2608185C3/de not_active Expired
- 1976-02-27 DK DK84876*#A patent/DK84876A/da not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DD123127A1 (de) | 1976-11-20 |
| DE2608185C3 (de) | 1979-05-10 |
| DK84876A (da) | 1976-08-29 |
| FR2302529B1 (de) | 1980-07-18 |
| SU676933A1 (ru) | 1979-07-30 |
| GB1495133A (en) | 1977-12-14 |
| FR2302529A1 (fr) | 1976-09-24 |
| US4030339A (en) | 1977-06-21 |
| DE2608185A1 (de) | 1976-09-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2819516A1 (de) | Kapazitaets-spannungswandler | |
| DE2608185C3 (de) | Meßeinrichtung für Stoßimpulse | |
| DE2557521B2 (de) | Stoß-Meßeinrichtung | |
| DE2161519B2 (de) | 31.05.71 Japan P37625-71 28.09.71 Japan P75622-71 Prüfeinrichtung zur Anzeige von Spannungspegeln | |
| EP0124761B1 (de) | Einrichtung zur Prüfung von elektrische Schaltkreise enthaltenden Prüflingen | |
| DE3783766T2 (de) | Atto-amperemessgeraet. | |
| DE2844121A1 (de) | Verfahren zur messung von kleinen kapazitanzen | |
| DE2917788A1 (de) | Materialpruefgeraet | |
| DE2722581C3 (de) | Schaltungsanordnung zur Signalaufbereitung von Ausgangssignalen eines Feldplattengebers bei Raddrehzahlgebern von Fahrzeugen | |
| DE2602540A1 (de) | Vorrichtung zum messen kleiner frequenzdifferenzen | |
| DE1958906C3 (de) | Elektrisches Meßgerät, insbesondere Elektromanometer für direkte Blutdruckmessungen | |
| DE10203562C1 (de) | Schaltungsanordnung zur Einspeisung von Testsignalen in mindestens eine Verstärkungsschaltung | |
| DE3312739C2 (de) | Anordnung zur Erzeugung eines impulsförmigen Ausgangssignals aus einem Eingangssignal, insbesondere für Prüfeinrichtungen | |
| DE2343550C3 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Messung von Parametern der Bauelemente eines komplexen Stromkreises | |
| DE2648440B2 (de) | Meßeinrichtung für Stoßimpuls-Parameter | |
| DE19948384A1 (de) | Anordnung zum Bestimmen der komplexen Übertragungsfunktion eines Messgerätes | |
| DE19652077C2 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Abtastung eines periodischen Signals | |
| DE1131729B (de) | Unsymmetrischer astabiler Transistor-Multivibrator | |
| AT251657B (de) | Schaltungsanordnung zur Dämpfung ders Amplituden eines Signals vorgegebener zeitlicher Frequenz- und Amplitudenverteilung | |
| DE1516242C3 (de) | Phasenvergleicheinrichtung | |
| DE3016124C2 (de) | Abgleichverfahren für elektronische Schalter | |
| DE2429246C2 (de) | Prüfeinrichtung für hochohmige Widerstände, insbesondere Isolationswiderstände | |
| AT335566B (de) | Einrichtung zur messung der parameter eines einen komplexen widerstand aufweisenden zweipoles | |
| DE2524331C3 (de) | Schaltungsanordnung zum Einstellen des Eingangs eines angeschlossenen logischen Bausteins | |
| DE2123805A1 (de) | Verfahren, das eine Betriebskennlinie einer Meßanordnung abschnittsweise in eine vorgegebene Richtung versetzt, und Anordnungen zur Durchführung des Verfahrens |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |