DE2530750B2 - Geraet zur sichtpruefung von bestueckten leiterplatten auf fehlerfreie bestueckung - Google Patents
Geraet zur sichtpruefung von bestueckten leiterplatten auf fehlerfreie bestueckungInfo
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
- H05K13/0815—Controlling of component placement on the substrate during or after manufacturing
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Gerät zur Sichtprüfung von bestückten Leiterplatten auf fehlerfreie
Bestückung durch Vergleich des Prüflings mit einem Standard.
Vorrichtungen zu diesem Zweck sind schon bekannt. Sie lösen diese Aufgabe auf verschiedene Weise, z. B.
mittels teildurchlässiger Spiegel, wobei das Bild des Standards und des Prüflings gleichzeitig auf eine
Mattscheibe projiziert und verglichen wird. Ein solcher Vergleich ist subjektiv und demzufolge nicht mit der
notwendigen Sicherheit durchzuführen. Weiterhin sind Vorrichtungen zum visuellen Vergleich bekannt, bei
welchen die Bilder des Prüflings und des Standards mittels teils lichtdurchlässiger, teils reflektierender
optischer Mittel überlagert und mittels eines Sektorspiegels abwechselnd sichtbar gemacht werden. Fehler
des Prüflings machen sich durch ein »Blinken« bemerkbar, das jedoch bei kompliziert aufgebauten
Leiterplatten nicht zur sicheren Fehlererkennung ausreicht. Ferner haben alle diese Vorrichtungen den
Nachteil, daß durch die Verwendung von teildurchlässigen Spiegeln das durchfallende Licht (bei bildseitiger
Verspiegelung) eine von der Strahlenneigung abhängige seitliche Versetzung gegenüber dem reflektierten Licht
erfährt. Man hat versucht, diesem Mangel dadurch abzuhelfen, daß man zwei aufeinanderliegende Glasplatten
vorsieht und die Spiegelschicht zwischen diesen anbringt. Man erhält dann symmetrische Verhältnisse,
weil das durchtretende und das reflektierte Licht die gleiche Weglänge durch das Glas zurücklegen müssen.
Aber auch diese Lösung ist für erhöhte Anforderungen noch unbefriedigend, weil nämlich eine Glasplatte in
einem konvergenten Strahlengang Astigmatismus erzeugt.
Es ist das Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Gerät
zur Sichtprüfung von bestückten Leiterplatten auf fehlerfreie Bestückung zu schaffen, welches mit wenigen
Bauelementen auskommt und das eine schnelle, einfache, wenig anstrengende und in jedem Fall sichere
Fehlererkennung ermöglicht. Dies wird dadurch erreicht, daß zwei getrennte Strahlengänge vorgesehen
sind, mit denen nach Art eines Stereoskops der Standard dem einen und der Prüfling dem anderen Auge
des Betrachters dargeboten wird und die abwechselnd freigegeben werden. Jede Nichtübereinstimmung beider
Platten macht sich sofort durch sogenanntes »Blinken« und in der Höhe durch sogenanntes »Springen«
bemerkbar.
Ein Prüfgerät nach der vorliegenden Erfindung besteht beispielsweise aus einer Trägerplatte, dem
sogenannten Wagen, auf den die zu prüfende Leiterplatte and der Standard gelegt sind. Über zwei separate
Strahlengänge, die nur Vollspiegel enthalten, werden dann abwechslungsweise in kurzen Zeitabständen das
Bild des Standards und das Bild des Prüflings dem einen oder anderen Auge des Beobachters dargeboten. Dazu
ist vorteilhaft kurz vor dem beobachtenden Augenpaar eine Schwingblende angebracht, die abwechselnd
jeweils nur ein Bild zur Beobachtung freigibt. Die Schwingungszahl dieser Blende ist regelbar und läßt
sich individuell abstimmen. Durch die abwechselnde Darstellung beider Leiterplatten, des Standards und des
Prüflings, machen sich sofort alle Fehler in der Bestückung bemerkbar, wobei bedingt durch den
stereoskopischen Bildeindruck nicht nur ein »Blinken« der fehlerhaften Stellen erreicht wird, sondern auch
höhenmäßig der Eindruck eines »Sprengens« der fehlerhaften Stellen entsteht. Beides, das »Blinken« und
das »Springen« zusammen, bedingen den Vorteil der vorliegenden Erfindung, da dadurch eine Fehlererkennung
in jedem Fall möglich wird.
Anstelle einer Schwingblende, die wechselweise die Strahlengänge freigibt, ist es auch möglich, durch
Wechselbeleuchtung den gleichen Effekt zu erreichen. In diesem Fall ist eine bzw. sind zwei Lichtquellen
vorgesehen, welche Prüfling und Muster wechselweise mit regelbarer Wechselfrequenz beleuchten. Diese
Lösung setzt aber voraus, daß die Vorrichtung gegen das Außenlicht abgeschirmt ist.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der F i g. 1 und 2 der Zeichnung näher erläutert. Im einzelnen zeigt
F i g. 1 ein Ausführungsbeispiel der Erfindung mit wechsel weiser Freigabe der Strahlengänge,
F i g. 2 ein Ausführungsbeispiel mit Wechselbeleuchtung von Standard und Prüfling.
In F i g. 1 ist mit 1 ein Wagen bezeichnet, der den Standard und den Prüfling trägt. Mit 2 ist die zu
prüfende Leiterplatte bezeichnet, mit 8 der Standard. Beide werden mittels nicht dargestellter Hilfsmittel, z. B.
Justiermarken, Anschläge usw. in optische Übereinstimmung gebracht. Das Bild des Prüflings 2 gelangt über die
Vollspiegel 3 und 4 zum Auge 5 eines Beobachters. Das Bild des Standards 8 wird über die Spiegel 9 und 10, die
wiederum vollverspiegelt sind, dem anderen Auge 11
zugeführt. Es entsteht dabei ein stereoskopischer Bildeindruck. Beide Strahlengänge werden nacheinander
durch eine Schwingblende 7 unterbrochen. Die Schwingungszahl dieser Blende ist durch nicht dargestellte
Mittel regelbar. Durch Einschalten der regelbaren Schwingblende, die abwechselnd die linke und
rechte Leiterplatte zur Betrachtung freigibt, werden jetzt Fehler in der Bestückung durch ein sogenanntes
»Blinken« und »Springen« deutlich erkennbar.
Fig.2 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel der Erfindung. Anstelle der Schwingblende 7 werden hier
zwei Lichtquellen 13 und 14 verwendet. Die Lichtquelle 13 beleuchtet den Standard 8, die Lichtquelle 14 die zu
prüfende Platte 2. Beide Lichtquellen werden abwechselnd mittels eines Momentschalters 12 ein- und
ausgeschaltet. Während die eine Lichtquelle ausgeschaltet ist. befindet sich die zu der betreffenden Lichtquelle
gehörende Leiterplatte im Dunklen und ist dadurch für
das Auge unsichtbar. Die andere Platte ist zur gleichen Zeit beleuchtet und demzufolge für das andere Auge
sichtbar. Auf diese Weise werden ebenso wie bei der Verwendung einer Schwingblende die fehlerhaften
Stellen durch »Blinken« und »Springen« sichtbar. Der Schaller 12 schaltet automatisch, und die Schaltdauer ist
wiederum durch nicht dargestellte Mittel regelbar.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Gerät zur Sichtprüfung von bestückten Leiterplatten auf fehlerfreie Bestückung durch S
Vergleich des Prüflings mit einem Standard, dadurch gekennzeichnet, daß zwei getrennte
Strahlengänge vorgesehen sind, mit denen nach Art eines Stereoskops der Standard dem einen
und der Prüfling dem anderen Auge des Beobachters dargeboten wird und die abwechselnd freigegeben
werden.
2. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur abwechselnden Darbietung von
Standard und Prüfling eine Schwingblende vorgesehen ist.
3. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur abwechselnden Darbietung von
Standard und Prüfling eine Wechselbeleuchtung vorgesehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752530750 DE2530750B2 (de) | 1975-07-10 | 1975-07-10 | Geraet zur sichtpruefung von bestueckten leiterplatten auf fehlerfreie bestueckung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752530750 DE2530750B2 (de) | 1975-07-10 | 1975-07-10 | Geraet zur sichtpruefung von bestueckten leiterplatten auf fehlerfreie bestueckung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2530750A1 DE2530750A1 (de) | 1977-01-13 |
DE2530750B2 true DE2530750B2 (de) | 1977-08-11 |
Family
ID=5951116
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752530750 Ceased DE2530750B2 (de) | 1975-07-10 | 1975-07-10 | Geraet zur sichtpruefung von bestueckten leiterplatten auf fehlerfreie bestueckung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2530750B2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0513570A1 (de) * | 1991-05-15 | 1992-11-19 | GRUNDIG E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig GmbH & Co. KG | Einrichtung zum Prüfen des Vorhandenseins von Setzstiften in einer Leiterplatte beim automatischen Einsetzen der Setzstifte |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4168912A (en) * | 1976-07-19 | 1979-09-25 | Kempf Paul S | Optical comparator |
DE4113606C1 (en) * | 1991-04-23 | 1992-08-27 | Eac Automation-Consulting-Gmbh, 1000 Berlin, De | PCB functional control and monitoring system - feeds test signal to additional thin conductor track formed between PCB connectors as control loop |
-
1975
- 1975-07-10 DE DE19752530750 patent/DE2530750B2/de not_active Ceased
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0513570A1 (de) * | 1991-05-15 | 1992-11-19 | GRUNDIG E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig GmbH & Co. KG | Einrichtung zum Prüfen des Vorhandenseins von Setzstiften in einer Leiterplatte beim automatischen Einsetzen der Setzstifte |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2530750A1 (de) | 1977-01-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8235 | Patent refused |