DE2520293A1 - Vorrichtung zur ansteuerung oder erregung einer wiedergabeanordnung - Google Patents
Vorrichtung zur ansteuerung oder erregung einer wiedergabeanordnungInfo
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Description
PUN 7.550 Va/liJ
AnmeL1·*. :.;.V.; ;;:L
Anmeldung vom«
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"Vorrichtung zur Ansteuenmg oder Erregung einer
Wiedergabeanordnung"·
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Umwandlung eines elektrischen Eingangssignals mit sich schrittweise oder kontinuierlich
ändernder Amplitude in ein oder mehrere elektrische Signale zur Ansteuerung oder Erregung einer oder
mehrerer Wiedergabeanordnungen.
Es sind Wiedergabeanordnungen bekannt, bei denen in Abhängigkeit von einem elektrischen
Eingangssignal ein oder mehrere z.B. in einer küx1-zeren
oder längeren Reihe angebrachte Bildelemente
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PIiN 7550 14.4.75
aufleuchten oder löschen. Derartige Anordnungen werden
meist als Balkon- oder Bandindikatoren bezeichnet.
In der Regel weist das elektrische Eingangssignal eine verhältnismässig nledx^ige Leistung
auf, die zur Erregung der Bildeleniente ungenügend ist. Dann muss eine Anpassung odor Umwandlung
stattfinden.
Weiter ist bei den bekannten Anordnungen, bei denen die Amplitude des Eingangssignals die Information
enthält und die Lage und/oder die Konfiguration des Bildelements oder der Bildelemente,
die angeregt werden müssen, bestimmt, eine verhältnismässig verwickelte elektronische Schaltung erforderlich,
um die gewünschte Umwandlung der Infox"-mation
zu erzielen.
Im allgemeinen ist also ein Wandler erforderlich, wobei im Rahmen der Erfindung unter
einem Wandler eine Vorrichtung zu verstehen ist, bei der beim Zuführen eines elektrischen Eingangssignals eine Umwandlung oder Anpassung des Informationsinhalt und/oder des Spannungs- und/oder
Strompegels erhalten wird und an mindestens einer Ausgangsklemme ein Ausgangssignal zur Verfugung
steht, das nötigenfalls nach weiterer Verstärkung zur Ansteuerung oder Erregung (eines Bildelements)
5098A9/06.S7 ■
PHN 7550 lh.h.75
einer Wiedergabeanordnung geeignet ist.
'Die Erfindung bezweckt insbesondere, für
elektrische Eingangssignale mit sich schrittweise
oder analog ändernder Amplitude einen einfachen und verhältnismässig preiswerten Wansler zur Anwendung
in oder in Verbindung mit Wiedergabeanordnungen zu schaffen, wobei wenigstens der mit der Amplitude
des Eingangssignals gegebene Informationsinhalt
auf ein oder mehrere zum Betrieb von Wiedergabeanordnungen oder Bildelementen zu verwendende Signale
übertragen wird. Als Wiedergabeanordnungen oder Bildelemente kommen z.B. Glühlampen, Gasentladungsröhren,
lichtemittierende Dioden und Flüssigkristalle in Betracht.
Eine Vorrichtung zur Umwandlung eines elektrischen Eingangssignals mit sich schrittweise
oder kontinuierlich ändernder Amplitude in ein oder mehrere zur Ansteuerung oder Erregung einer
oder mehrerer Wiedergabeanordnungen zu verwendende elektrische Signale ist nach der Erfindung dadurch
gekennzeichnet, dass in einem an eine Oberfläche eines Halbleiterkörpers grenzenden Gebiet von einem
ersten Leitfähigkeitstyp mehrere an die Oberfläche
grenzende Oberflächenzonen vom zweiten, dem ersten entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp
vorhanden sind, welche Oberflächenzonen, die nach-
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2520233
PHN 7550 ■\k.k.75
stehend als erste Obcrflächenzonen bezeichnet werden,
mit je einem elektrischen Anschluss zur Verbindung mit einer Wiedergabeanordnung versehen odex1
wenigstens gekoppelt sind, wobei eine gemeinsame Elektrode vorgesehen ist, zu der mindestens eine
in dem Gebiet vom ersten Leitfähigkeitstyp liegende zweite Oberflächenzone vom zweiten Leitfähigkeitstyp
gehört, wobei die Oberfläche mit einer. Isolierschicht versehen ist und eine gemeinsame
Gate-Elektrode zur Beeinflussung einer Oberflächenschicht
des Halbleiterkörpers vorhanden ist wobei ein elektrischer Anschluss für das Eingangssignal
an der gemeinsamen Gate-Elektrode angebi'acht ist und mittels der gemeinsamen Gate-Elektrode mit der
zugehörigen beeinflussbaren Oberflächenschicht ein
mit dem Eingangssignal regelbarer Verbindungsweg vom zweiten Leitfähigkeitstyp zwischen der gemeinsamen
Elektrode und den ersten Oberflächenzonen vom zweiten Leitfähigkeitstyp erhalten wird.
Die Erfindung schafft eine Vorrichtung mit einem einfachen und damit preiswerten Wandler
ohne relativ verwickelte elektronische Schaltungen, die in vielen Fällen direkt einen oder
mehrere Kreise, in denen Wiedergabeanordnungen aufgenommen sind, steuern kann, während für andere
Anwendungen die an den mit je einem elek-
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ρπν 7550
trischeii Anschluss versehenen Oberflächenzonen zur
■Verfügung stehenden Signale nötigenfalls einfach
verstärkt oder als Steuersignale für in den Kreisen mit den Wiedergabeanordnung aufgenommene Schalter
benutzt werden können.
Obgleich, wie nachstehend noch erläutert werden wird, das Oberflächengebiet vom ersten Leit-
fähigkeitstyp als gemeinsame Gate-Elektrode dienen
kann, ist vorzugsweise auf der Isolierschicht eine isolierte gemeinsame Gate-Elektrode vorhanden, die
die beeinflussbare Oberflächenschicht bedeckt.
Die beeinflussbare Oberflächenschicht kann eine dotierte und z.B. eine implantierte Oberflächenschicht
sein, deren Leitfähigkeit gesteuert wird. Vorzugsweise wird aber mit der gemeinsamen
Gater-Elektrode eine Inversionsschicht mit steuerbarer
Ausdehnung in dem Oberflächengebiet vom ersten Leitfähigkeitstyp erzeugt. Eine derartige
Inversionsschicht kann z.B. erhalten werden, wenn die Schwellwertspannung für das Auftreten von Inversion
auf geeignete Weise ortsabhängig ist, z.B. dadurch, dass eine von Stelle zu Stelle verschiedene
Ladungsmenge in die Isolierschicht eingebaut ist. Diese Ladung kann z.B. mit Hilfe von
Ionenimplantation angebracht werden.
Die gewünschte ortsabhängige Schwellwert-
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spannung kann auch auf andere an sich bekannte Weise
erhalten werden, z.B. dadurch, dass eine Isolierschicht veränderlicher Dicke und/oder veränderlicher
Dielektrizitätskonstante zwischen der isolierten Gate-Elektrode und der Halbleiteroberfläche angebracht
wird und/oder dass für die Gate-Elektrode Materialien mit 'verschiedener Austrittsarbeit verwendet
werden und/oder dass, an die Halbleiteroberfläche grenzend, eine Dotierung mit einer ortsabhängigen
Konzentration in dem Halbleiterkörper angebracht wird.
In allen obengenannten Fällen kann die laterale Ausdehnung der mit einer Spannung an der
gemeinsamen Gate-Elektrode erzeugten Inversionsschicht durch Änderung dieser Spannung geändert
werden.
Eine wichtige bevorzugte Ausführungsform der Vorrichtung nach der Erfindung enthält
eine isolierte Gate-iElektrode, die streifenför- ·
mig ist und die zwei in einiger Entfernung voneinander und vorzugsweise in der Nähe der beiden
Enden der streifenförmigen Elektrode liegende
elektrische Anschlüsse zum Anlegen eines Potentialunterschiedes über der Gate-Elektrode aufweist.
Um die infolge des angelegten Potential-
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PUN 7550 1 >i Ji.
Unterschiedes auftretende Verlustleistung in
Gate-Elektrode genügend niedrig zu halten, besteht
die Gate-Elektrode vorzugsweise aus Widerstandsmaterial oder enthält sie wenigstens aus Widerstandsmaterial
bestehende Teile. Z.B. kann eine derartige Gate-Elektrode oder können wenigstens '
Teile dieser Elektrode aus einer dünnen Metallschicht aus Aluminium, Titan oder Nickelchrom
bestehen. Auch kann polykristallines Halbleitermaterial als Widerstandsmaterial verwendet werden.
Vorzugsweise ist der Schichtwiderstand derjenigen Teile der Gate-Elektrode, über denen der
Potentialunterschied wenigstens im wesentlichen angelegt wird, grosser als oder gleich 1-12. .
Praktische Werte für diesen Schichtwiderstand liegen in den meisten Fällen und abhängig von
der gewünschten Geschwindigkeit zwischen 10 und etwa 200 Sl .
Einige Ausführungsformen der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im
folgenden näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch eine erste Ausführungsform
der Vorrichtung nach der Erfindung mit einem Halbleiterkörper in Draufsicht,
Figuren 2 und 3 schematisch Querschnitte durch den Halbleiterkörper nach Fig. 1 längs der
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2520233
PHN 75 1k.k
Linien II-II bzw. IH-III der Fig. 1,
Fig. h schematisch einen Teil einer Draufsicht,
einer zweiten Ausführungsform,
Fig. 5 einen scheinatischen zugehörigen
Querschnitt längs der Linie V-V der Fig. 4S
Fig. 6 schematisch eine dritte AusführuHgsform
der Vorrichtung nach der Erfindung,
Fig. 7 eiiien schematischen Querschnitt
durch den Halbleiterkörper dieser dritten Ausführungsform längs der Linie. VlI-VII der Fig. 6\1
Fi>gs 8 schematisch eine Draufsicht auf
einen Teil einer, weiteren Aus führung sf orni der
Vorrichtung nach der Erfindung;, und
Fig. 9 schematisch eine Draufsicht auf einen Teil einer Weiterbildung der Vorrichtung
nach der Erfindung.
Als erste Ausführungsform wird an Hand
der Figuren 1, 2 und 3 eine Vorrichtung zur Umwandlung
eines von der Eingangssignalquelle 1 herrührenden elektrischen Eingangssignals in ein
oder mehrere elektrische Signale zum Antreiben oder Erregen einer schematisch mit dem Block 2
angegebenen Wiedergabeanordnung beschrieben.
Nach der Erfindung sntnält die Vorrichtung
einen Halbleiterkörper 3j der im 'Forliegenden
Beispiel praktisch völlig einen ersten Leitfähig-
509849/0&5?
_9 _ 252Ü233
PHN 7*5 U.4.
keitstyp aufweist. An eine Oberfläche 5 des HaIbleitergebietes
k vom ersten Leitf ähigkeit.styp grenzen
mehrere Oberflächenzonen 6, 7> 8» 9 und 10 vom
zweiten, dem ersten entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp, die mit je einem elektrischen Anschluss.
11, 12, 13> 14 bzw. 15 versehen sind und die ζχιτ
Herstellung der Verbindung mit .der Wiedergabeanordnung
2 dienen. Diese Oberflächenzonen werden nachstehend als erste Oberflächenzonen bezeichnet.
Weiter ist eine gemeinsame Elektrode 16 vorgesehen, zu der die ebenfalls im Gebiet 4 liegende
zweite Oberflächenzone 17 vom zweiten Leitfähigkeitstyp
gehört. Die Oberfläche 5 ist mit einer Isolierschicht 18 versehen, auf der eine gemeinsame
Gate-Elektrode Λ^ zur Beeinflussung einer unter der Gate-Elektrode liegenden Oberflächenschicht
20 des Halbleiterkörpers 3 angebracht ist. Die Gate-Elektrode 19 ist mit einem elektrischen
Anschluss 21 versehen und das Gebiet h vom ersten Leitfähigkeitstyp weist einen elektrischen Anschluss
22 auf. Im vorliegenden Beispiel überbrückt die Gate-Elektrode 19 den Abstand zwischen der zu der
gemeinsamen Elektrode gehörigen zweiten Zone 17 und"jeder der ersten Oberflächenzonen 6, 7» Sj 9
und 10 und die beeinflussbare Oberflächenzone 20 grenzt an die Zone 17 einerseits und an die Ober-
509849/0657
14.4.75
f lächenzoneri 6-10 andererseits. Auf diese Weise
stellt, wie nachstehend noch erläutert werden \tfird,
die Gate-Elektrode 19 zusammen mit der beeinflussbaren
Oberflächenschicht 20 einen regelbaren elektrischen Verbindungsweg vom zweiten Leitfähigkoitstyp
zwischen der gemeinsamen Elektrode 16 und den ersten Oberflächenzonen "6 - 10 ,her.
Im vorliegenden Beispiel sind die elektrischen Anschlüsse 11-15 über Leiterbahnen 23
und öffnungen Zk in der Isolierschicht 18 direkt mit den Oberflächenzonen 6 - 10 verbunden. Die gemeinsame
Elektrode 16 umfasst ausser der zweiten Oberflächenzone 17 einen elektrischen Anschluss
25 und eine Leiterbahn 26, die diesen Anschluss 25 über eine öffnung 27 in der Isolierschicht 18
mit der zweiten Oberflächenzone 17 verbindet. Die Gate-Elektrode 19 ist streifenförmig und besteht
aus Widerstandsmaterial, z.B. einer dünnen Schicht
aus NiCr, Ti, Ta oder (polykristallinem) Halbleitermaterial.
Auf der Gate-Elektrode 19 liegt eine Isolierschicht 28, in der in der Nähe der beiden Enden
der streifenförmigen Gate-Elektrode Öffnungen
29 angebracht sind. Eine Leiterbahn 30 verbindet
den Anschluss 21 an der Stelle einer der Offnungen 29 mit dem einen Ende der streifenförmigen Gate-Elektrode
19, wobei das andere Ende dieser Gate-
509849/0&57
— 1 I —
1 ·Ί . h .
Elektrode 19 übe3" die andere Öffnung 2() und eine Leiterbahn 30 mit einem zwei ton elektrischer; Anschluss
31 verbunden ist.
Beim Betrieb kann zwischen den Anschlüssen 21 und 31 eine Gleichspannungsquelle 32 eingeschaltet
werden, wodurch über der Widerstandsgate-Elektrode 19 ein Potentiaigefalle auftritt. Mit einer
regelbaren Spannungsquelle 33 zwischen der gemeinsamen Elektrode 16 und dem Gate-Elektrodenanschluss
21 (oder 31) und/oder einer regelbaren Spaainungsquelle
3^1 zwischen der gemeinsamen Elektrode 16
und dem Anschluss 22 des Gebietes h vom ersten Leitfähigkeitstyp kann die Vori'ichtung der*art eingestellt
werden, dass, wenn das Eingangssignal gleich Null ist, an dem einen mit dem Anschluss 21 verbundenen
Ende unter der Gate-Elektrode 19 und in der Oberflächenschicht 20 eine Inv.ers ions schicht vorhanden
ist, deren laterale Ausdehnung derart gering ist, dass keine leitende Verbindung zwischen der
zweiten Oberflächenzone 17 und der ersten Qibevflächenzone
6 hergestellt wird. Bei zunehmender Amplitude des Eingangssignals wird die laterale
Ausdehnung der Inversionsschicht von dem einen zu dem anderen Ende der Gate-Elektx^ode hin zunehmen
und werden nacheinander die ersten Oberflächenzonen 6, 7t 8} 9 und 10 leitend mit der Oberflächen-
509849/0657
14.4.75
zone 17 und also mit der gemeinsamen Elektrode 16
verbunden.
Die ¥iedei-gaboanordnung 2 ist z.B. ein
Balken- oder Bandindikator und· enthält eine Anzahl gesonderter Wiedergabeelemente 35 - 39 j die mit je
einem der Anschlüsse 11-15 und mit einer gemeinsamen Speisequelle 4O verbunden sind» In Abhängigkeit
von der Grosse der Amplitude des Eingangssignals wird dadurch eine mehr oder weniger grosse
Anzahl der Bildelemente 35 - 39 erregt sein.
Der Vollständigkeit halber sei bemerkt, dass bei den in Fig. 1 angegebenen Polaritäten der
verschiedenen Spannungen von der Voraussetzung ausgegangen ist, dass das Gebiet 4 ein n-leitendes
Halbleitergebiet ist, wobei die Oberflächenzonen 6-10 und die Oberflächenzone 17 p-leitend sind.
Diese Leitfähigkeitstypen können untereinander vertauscht werden, wenn auch die Polaritäten der
Quellen 31, 32, 33 und 34 vertauscht werden. ]
Die Eingangssignalquelle 1 kann, wie in Fig. 1 mit gestrichelten Linien angedeutet ist,
auch in dem Kreis zwischen den Anschlüssen 22 und 25 aufgenommen werden. Die Spannungsquelle 34 wird
iann z.B. derart eingestellt, dass beim Fehlen eines Eingangs signal s unter der ganzen Gate-rElektrode
19 eine Inversionsschicht vorhanden ist, während
509849/Ü6S7
PIIN 73
1h.h.75
danach die Spannungsquelle 33 derart eingestellt wird, dass diese Inversionsschicht gerade wieder
verschwunden ist. Beim Zuführen eines Eingangssignals wird dann eine Inversionsschicht mit einer von
der Amplitude des Signals abhängigen Ausdehnung gebildet. In bezug auf die Steuerung der Ausdehnung
der induzierten Inversionsschicht bildet das Gebiet k eine Gate-Elektrode, die der isolierten
Gate-Elektrode 19 äquivalent ist. Beide Elektroden sind durch eine elektrische Sperre von der zu steuernden
Inversionsschicht getrennt, wobei die eine Sperre durch die Isolierschicht 18 und die andere Sperre
durch einen gleichrichtenden Übergang gebildet wird. Weiter kann statt mit einem Spannungsabfall über
der Gate-Elektrode 19 auch mit einem Spannungsabfall
über dem Halbleitergebiet h gearbeitet werden.
Die Wiedergabeanordnung kann z.B. mit Glühlampen, Gasentladungsröhren, einem oder mehreren
Flüssigkristallen oder lichtemittierenden Dioden ausgeführt sein, wobei der Kreis mit der
Speisequelle 40 einfach an die gewählte Wiedergabeanordnung
angepasst werden kann. Wenn lichtemittierende Dioden verwendet werden, können diese gegebenenfalls
in dem Halbleiterkörper 3 integriert sein. Vorzugsweise sind die das Eingangssignal in
ein oder mehrere elektrische Ausgangssignale um-
509849/06.57
-Xk-
7550 .^•75
wandelnde Halbleiteranordnung und die W:i odergabeanordnung(on)
wenigstens zu einer baulichen Einlieit kombiniert, was in Fig. 1 schematisch mit dom mit
gestrichelten Linien angegebenen Block 141 bezeichnet
ist.
Mit Hilfe der Spannungsquelle 33 und/oder der Sparmungsquelle "}k kann die Vorrichtung derart
eingestellt werden, dass, wenn das Eingangssignal Null ist oder wenn das Eingangssignal den negativsten
noch erkennbaren. Wert aufweist, das erste Wiedergabeelenient 35 gerade wohl oder gerade noch
nicht erregt ist. Mit Hilfe der Spannungsquelle 32 kann eine derartige Einstellung erhalten werden,
dass bei dem positivsten Wert des Eingangssignals alle Wiedergabeelemente bis das letzte
Element 39 einschliesslich erregt sind. Dabei kann die Anzahl von Wieder-gabeelementen einfach
an die Anwendung und das dazu benötigte Auflösungsvermögen angepasst werden. In Fig. 1 ist mit. einer
Bruchlinie, die sich zwischen den Oberflächengebieten 9 und 10 erstreckt, dargestellt, dass die Anzahl
mit einem Anschluss versehener Oberflächengebiete verhältnismässig beliebig gewählt und angepasst
werden kann.
Die beschriebene Halbleiteranordnung kann völlig durch in der Halbleitertechnik übliche Ver-
5098^9/0657
C Ο ί. KJ ί. O νί ρ,,
1^ι Ji.
fahren hergestellt werden. Der Halblei tei^körper ^l
ist z.B. ein η-leitendes Siliciumsubstrat mit einem
spezifischen Widerstand λ^οη z.B. 2 - 5-i2-«cm. Durch
Diffusion oder Ionenimplantation können darin pleitende Oberflächenzonen 6 - 10 und 17 angebracht
werden, die sich z.B, bis zu einer Tiefe von 1 bis 2 /um von der Oberfläche 5 her in dem Halbleiterkörper
erstrecken. Die Oberflächonkonzentration dieser Zonen liegt z.B. zwischen 10 und 10
Atomen/cm3 . Die p-leiteiiden Zonen 6-10 weisen
z.B. Abmessungen von etwa 20 χ 25 /um auf„ Die Zone
17 weist z.B. eine Breite von 25 /um auf, wobei die Länge von der Anzahl zu steuernder Wiedergabeanordnungen
und dem gewünschten gegenseitigen Abstand der Zonen 6-10 abhängig ist. Bei
einer Anordnung zur Steuerung von neun Wiedergabeelementen betrug der gegenseitige Abstand der Zonen
6-10 etwa 100 /um und war die Zone 17 etwa 1 mm lang. Der Abstand zwischen den Zonen 6-10 und
der Zone 17 beträgt z.B. etwa 8 /um. Es sei bemerkt, dass statt einer einzigen langgestreckten
zweiten Zone 17 auch eine Anzahl in einer Reihe liegender kleinerer zweiter Zonen 17 verwendet
werden können, die je einer der ersten Zonen 6 - 10 gegenüber liegen .und z.B. über eine Leiterbahn
miteinander verbunden sind. Auch kann
509849/0657
PHN 7550 14.4.75
man mit einer einzigen kleineren zweiten Zone auskommen, obwohl dann dev in der Inversionsschicht
auftretende Reihenwiderstand zwischen einer derartigen kleineren zweiten Zone 17 und jeder der
ex^sten Zonen 6-10 für jede der letzteren Zonen verschieden ist. Die Zone 17 dient vorzugsweise
mindestens als Quelle von Ladungsträgern, die zur
Bildung der Inversionsschicht erforderlich sind;
Die Halbleiterobei'flache kann auf übliche
Weise mit einer Isolierschicht aus z.B. Siliciumoxid und/oder Siliciumnitrid versehen sein, wobei
diese Schicht an der Stelle der Gate-Elektrode vorzugsweise eine geringere Dicke (z.B. etwa 0,1 /um)
als ausserhalb dieses Gebietes aufweist, wo die Dicke z.B. etwa 1 bis 1,5 /um beträgt.
Die Gate-Elektrode 19 ist z.B. etwa 10 ,um breit und etwa 1 mm lang und besteht z.B. aus Aluminium,
Titan, Tantal oder polykristallinem Silicium. Der Schichtwiderstand.der .für. diesejGate-Elektrode verwendete
Schicht liegt vorzugsweise zwischen 10 und etwa 2OO.a2 und-beträgt mindestens iXi , Je höher der
Schichtwiderstand ist, je stärker wird die Verlustleistung
in der. Viderstandselektrode, aber zugleich auch die Geschwindigkeit der Anordnung
abnehmen.
Die "Gate-Elektrode braucht nicht, kann
509849/06 5 7
λ h.k.-/:■>
jedoch mit einer1 Isolierschicht 28 abgedeckt werden,
die je nach dom Tür die Gate-Elektrode verwendeten
Material durch thermische oder anodische Oxidation erhalten werden kann. Auch kann eine Isolierschicht
aus der Dampfphase niedergeschlagen oder durch Zerstäubung angebracht werden.
Bei Anwendung von z.B. polykristallinem
Silicium als Gate-Elektrodenmaterial kann die Gate-Elektrode
auch selbstregistrierend sein. In diesem
Falle wird auf de*1 Halbleiteroberfläche 41 eines
η-leitenden Halbleiterkörpers 4θ (Figuren 4 und 5)
z.B. zunächst eine Isolierschicht 42 aus Siliciumoxid mit einer verhältnismässig grossen Dicke angebracht,
in der eine Anzahl z.B. rechteckiger Gebiete 43 gex\ingerer Dicke gebildet sind. Dann wird
ein Streifen 44 aus vejrhältnismässig hochohmigen, p-leitendem polykristallinem Silicium angebracht
die mit einer Maskierungsschicht 45 aus Siliciumoxid
versehen ist. Danach werden mit Hilfe einer Maske, in der einige in Fig. 4 mit gestrichelten
Linien angegebenen Offnungen 46 mit etwa der Grosse der Gebiete 43 angebracht sind, die unüberzogenen
dünnen Teile der Isolierschicht 42 und die unüberzogenen Teile der Isolierschicht 45 entfernt.
Anschliessend werden Verunreinigungen eindiffundiert oder implantiert, wobei auf einer Seite des
509849/0657
ι h.h.
Streifens Hh eine Anzahl voneinander getrennter pleitender
(zweiter) Oberfläclienzonon 17 und auf
der gegenüberliegenden Seite eine Anzahl p-leltender
(erster) Oberflächenzonen 6--10 gebildet werden. Zu gleicher Zeit werden dann auch die zwischen einander
gegenüber liegenden Oberflächenzonen liegenden
Teile der Gate-Elektrode kk dotiert. Die ersten
Zonen 6-10 können mit je einem elektrischen Anschluss versehen worden und die zweiten Zonen
können mit Hilfe einer Leiterbahn miteinander und mit einer gemeinsamen Elektrode verbunden werden.
Die Gate-Elektrode kk besteht nun aus
einer Anzahl zwischen benachbarten ersten Zonen 6-10 liegender vervhäl tnismässig hochohmiger Teile
im Wechsel mit verhältnismässig niederohmigen Teilen,
die zwischen einander gegenüber liegenden ersten und zweiten p-leitenden Zonen liegen. Ein über der Gate-Elektrode
angelegter Potentiäluntorschied wird nun im wesentlichen über den hochohmigen Teilen der
Gate-^Elektrode auftreten, während auf den niederohmigen
Teilen praktisch kein Potentialunterschied auftreten wird. Dies hat den Vorteil, dass die
Verbindungswege zwischen jeder der ersten Zonen 6 - 10 und der gegenüberliegenden zweiten Zone
17 weniger gleichmässig und genauer definiert von dem nichtleitenden in den leitenden Zustand
509849/0657
"' Z1O Z U L 3 0 j,HN
übergehen und umgekehrt. Auytiordpin vlrd box gleichbleibendem
Poteritiahmterscliiod über der Gate-Elektrode
der Potenlialcratliont in den hochohmigen Teilen
cLuex* derartigen Gate-Elektrode grosser als in
einer homogenen Widerstandsgate-Elektrode sein.
Dadurch, dass das Auftreten eines Potentialgradienten
in der WiderstandseJ ektrode möglichst auf
die zwischen benachbarten ersten Zonen 6-10 liegenden liochohmxgen Teile der Widerstandselektrode
beschränkt wird, wird ein verhältnismässig günstiges
Verhältnis zwischen dem Auflösungsvermögen und der
in der Widerstandselektrode auftretenden Verlustleistung
erhalten. Vorzugsweise beträgt der über einem zwischen zwei benachbarten ersten Zonen liegenden
Teil der gemeinsamen Gate-Elektrode auftretende Potentialunterschied mindestens 0,2 bis 0,3 V,
Der Deutlichkeit halber sei bemerkt, dass wegen des Dickenunterschiedes in der Isolierschicht
42 bei zunehmendem Eingangssignal statt einer wachsenden,
kontinuierlichen Imrersionsschicht, wie im
vorhergehenden Beispiel, nun eine Anzahl voneinander getrennter Inversionsschichten erhalten werden,
die je eine zweite Zone 17 mit einer der ersten Zonen 6 - 10 verbinden.
Der als Inversionsschicht gebildete Teil jedes der Verbindungswege zwischen der gemeinsamen
509849/0 6 57
PIiN 7550 1k .k.75
Elektrode und jeder der ersten Zone 6-10 weist eine
gewisse Breite auf, wobei es im Zusammenhang mit einer
gut definierten Umschaltung wichtig sein kann, dass diese Teile der Verbindungswege praktisch gleichzeitig
über ihre ganze Bx^eite entstehen oder verschwinden.
Zu diesem Zweck ist der über jedem der oberhalb dieser Verbindungswege liegenden Teile
der Gate-Elektrode auftretende Potentialunterschied vorzugsweise beschränkt. Vorzugsweise besteht die
Gate-Elektrode dann aus einer Anzahl niederohmiger Teile, die oberhalb der zu steuernden Verbindungswege
liegen und die über verhältnismässig hochohmige Teile miteinander verbunden, sind. Die niederohmigen
Teile bestehen z.B. aus verhältnismässig hoch dotiertem Halbleitermaterial oder Metall und
die hochohmigen Teile bestehen aus Widerstandsmaterial, wie verhältnismässig niedrig dotiertem
Halbleitermaterial, Titan, Tantal oder Nickelchrom. Die niederohmigen Teile können auch dadurch erhalten
werden, dass die gewünschten Teile einer völlig aus Widerstandsmaterial gebildeten Gate-Elektrode
von einer leitenden Schicht überbrückt werden.
Eine andere günstige Möglichkeit, die die definierte Umschaltung b.egünstigt, besteht darin,
dass die als Inversionsschicht gebildeten Teile
509849/0657
I1IlN 7550
der Verbindungswege statt quex* zu dej: isolierten
Gate-Elekti'ode paa'allel zu dieser Gate-Elektrode
angeordnet werden. Diese Möglichkeit wird im nachstehenden Ausführungsboispiol benutzt, das an Hand
dex" Figuren 6 und 7 beschrieben wird.
Die Figuren 6 und 7 zeigen einen Teil eines Halbleiterkörpers 6θ , der aus einem n-leitenden
Halbleitersubstrat 61 aus z.B. Silicium und einem
p-leitenden Oberflächengobiet 02 bestellt, das z.B.
durch eine isolierte Insel einer integrierten Schaltung gebildet werden kann. Der übrige Teil
dieser integrierten Schaltung, der im Rahmen der Erfindung nicht von wesentlicher Bedeutung ist und
daher nicht im Detail beschrieben wird, kann z.B. einen analogen Verstärker enthalten, der ein vernal
tnismässig kleines Eingangssignal derart verstärkt, dass mit diesem Signal an schld.es send der
Wandler gesteuert werden kann. Auch können die Ausgänge des Wandlers mit Verstärkern z.B. in
Form von Flipflops verbunden sein, um den für die Wiedergabeelemente verfügbaren Strom und/oder die
verfügbare Spannung zu vergrössern.
Das Oberflächengebiet 62 enthält eine An·?-
zahl η-leitender zweiter Oberflächenzonen 63, die
zu der gemeinsamen Elektrode gehören und über eine auf der Isolierschicht 6h liegende Leiterbahn 65
509849/0657
PHN 7550
2520293 14JI.75
mitoinander verbunden sind; Neben jeder der zweiton
Zonen 63 ist eine η-leitende erste Oberflächeiizone
66 angebracht, wobei jede erste Zone 66 mit einer Leiterbahn 67 verbunden ist. Die Lei torbahn eii?67--bilden
die Ausgänge des Wandlers, die mit Wiedergabeelementen 68 einer Wiedergabeanordnung 69 verbunden
wexxien können.
Die ersten und zweiten Oberflächenzonen 63 und 66 sind paarweise angeordnet, wobei die Isolierschicht
6h zwischen jedem dieser· Paare einen dünneren Teil aufweist, der mit einer gegen den
Halbleiterkörper isolierten leitenden Schicht 70
überzogen 1st. In einer Richtung quer zu den Oberflächenzonen 63 und 66 und parallel zu den zwischen
den Paax^en von Oberflächenzonen liegenden steuerbaren
elektrischen Verbindungswegen ist ein Streifen 71 aus Widerstandsmaterial angebracht, der mit
jeder der leitenden Schichten 70 elektrisch verbunden
ist. Der Streifen 71 und die leitenden Schichten 70 bilden zusammen eine isolierte Gate-Elektrode
zur Steuerung von Verbindungswegen zwischen der gemeinsamen Elektrode 63,65 und jeder der ersten
Zonen 66. Diese isolierte Gate-Elektrode, die auch vollständig aus Widerstandsmaterial hergestellt
sein kann, weist an beiden Enden einen elektrischen Anschluss in.Form einer leitenden Schicht 72 bzw.
509849/0657
ViVx ?V,0
73 aiii'.
Die Isolierte Gate-Elektrode besitzt eine
langgestreckte Basis ?1> über der das Po tcntialgcfälle
im wesentlichen auf.ta^itt, und in einer Richtung quer zu dieser Basis auf einer Seite oder beiden
Seiten Ansätze oder Finger, die oberhalb der Teile der Halbleiteroberflächenschicht liegen,
in denen die Verbindungswege oder Kanäle gebildet werden. Bei dieser Konfiguration kann das Verhältnis
zwischen dLev Länge und der Breite der Kanäle
innerhalb weiter Grenzen an den gewünschten Strompegel angepasst wei'den.
Beim Betrieb wird über der isolierten Gate-Elektrode mit Hilfe einer Spannungsquelle 7^
ein Potentialunterschied angelegt. Die gemeinsame Elektrode 63,65 ist mit einem Punkt von Bezugspotential, z.B. Erde, verbunden, was auch für das
Oberflächengebiet 62 zutrifft. Zwischen dieser Elektrode 63,65 und einem der Anschlüsse der Gate-Elektrode
kann noch eine Spannungsquelle 75 zur Einstellung des Wandlers eingeschaltet sein. Weiter
ist die Wiedergabeanordnung 69 mit einer Speisequelle 76 verbunden. Die Eingangssignalquellβ
77 kann z.B. mit der Spannungsquelle 75 in Reihe
angeordnet werden.
Die beschriebenen Ausführungsbeispiele
509849/0657
- 2h -
pun 7550
weisen geineinsam das Merkmal auf, dass eine isolierte
Gate-Elektrode, die wenigstens teilweise aus Widerstandsmaterial bestellt., verwendet wii^d. Eine derartige
Widerstandsgate-Elektrode ist ein geeignetes Hilfsmittel zum Ex-halten einer Inversionsschicht, die
sich in Abhängigkeit von der Amplitude des Eingangssignals über einen mehr oder weniger grossen Teil
der Halbleiteroberfläche ausdehnt. Die kontinuierliche oder aus mehreren getrennten Teilen bestehende
Inversionsschicht bildet eine Art Schiebekoirtakt,
der eine grössere oder kleinere Anzahl 'einer Reihe erster Oberflächenzonen mit der gemeinsamen Elektrode
verbindet. Diese Reihe erster Oberflächenzonen kann, wie in den Beispielen, praktisch auf
einer Geraden- liegen oder gemäss einer ganz anderen
Form, z.B. über den Umfang eines Kreises (oder eines Teiles dieses Umfangs) angeordnet
sein. Dabei kann die ..Vorrichtung ausser, wie in
den Beispielen, als Arbeit sk'ontakt auch als Ruhekontakt verwendet werden, wobei beim Fehlen eines
Eingangssignals alle Ausgänge erregt sind und bei
zunehmendem Eingangssignal eine stets zunehmende '
Anzahl Verbindungen unterbrochen wird.
Statt durch einen Potentialunterschied über einer Widerstandselektrode kann eine auf
geeignete Weise steuerbare Oberflächenschicht
509849/0657
PIIN 75.50
auch auf anderes Iv ei se erhalt on werden. Z.B. krmn dio
füi* die Herstellung einer leitenden Verbindung benötigte
Schwollwortspannung von Stelle zu Stelle verschieden gemacht v/erden. Die Gate-EJ ektrode
im eisten Beispiel kann z.B. durch eine leitende
Schicht ersetzt v.-erden, wobei die Dicke der Isolierschicht
18 von dem Anschluss 21 zu dem Ende mit dem Anschluss 31 hin gleichrnässlg oder schrittweise
zunimmt. Eine weitere Möglichkeit zum Erhalten einer ortisabhängigen Schwellwertspannung ist
das ICinbauen von Ladung in die Isolierschicht 18, z.B. mit Hilfe von Ionenimplantation. Vonn die
Schicht 18 aus einer Doppelschicht aus Siliciumoxid und Siliciumnitrid besteht, kann der an sich
für diese Doppelschichten bekannte Speichereffekt benutzt werden. Mit Hilfe einer geeigneten Spannung
an der auch in diesem Falle leitenden Gate-Elektrode 19 und eines parallel zu dieser Elektrode
verlaufenden Potentialunterschiedes im Halbleitersubstrat h kann Ladung in die Doppelschicht mit einer
in Richtung auf die Gate-Elektrode zu- oder abnehmenden Konzentration eingeschrieben werden.
In den beschriebenen Beispielen wird eine Inversionsschicht induziert. Es. ist jedoch einleuchtend,
dass auch Wandler verwendet werden können, bei denen auf andere Weise, z.B. durch Dotierung,
509849/0657
PHN 7550
2520293 l2fJl·75
eine Oberriachonschxcht vom gleichen Leitfähigkeitstyp
wie die eisten und zweiten Oberflächenzonen unter
der Gate-Elektrode angebracht ist. Mit Hilfe einer Spannung an der Gate-JDlektrode und/oder dem unterliegenden
Halbleitergebiet vom entgegengesetzten Leitfähigkeitst3rp kann die Leitfähigkeit einex* derartigen
Oberflächenschicht auf ähnliche Weise derart gesteuert worden, dass die gewünschten Verbindungen
hergestellt werden.
In den bisher beschriebenen Ausführungsbeispxelen
sind, in Abhängigkeit von dem Eingangssignal, meist mehrere Ausgänge zugleiclier Zeit erregt.
Für bestimmte Anwendungen kann es aber wünschenswert sein, das stets z.B. höchstens ein
Ausgang zugleich erregt ist. Dies kann einfach dui"ch
Zusatz eines zweiten ähnlichen ¥andlers erhalten werden, wie z.B. in Fig. 8 dargestellt ist.
Der Halbleiterkörper 80 ist mit einer gemeinsamen Elektrode versehen, die durch zweite
Oberflächenzonen 81 vom ersten Leitfähigkeitstyp,
die in einem Oberflächengebiet 82 vom entgegengesetzten
Leitfähigkeitstyp angebracht sind, und eine die zweiten Zonen 81 miteinander verbindende Leiterbahn
83 gebildet wird. Weiter enthält das Oberflächengebiet
82 eine Anzahl erster Oberflächenzonen Sk vom ersten Leitfähigkeitstyp, die alle
509849/0857
PIIN 7 "3
mit oilier eigenen Leiterbahn 83 zur Verbindung mit
einer nicht-dargestellten Wiedergabeanordnung verbunden
sind. Die Zonen 84 und die Bahnen 85 bilden die
schematisch mit Klemmern.86 bezeichneten Ausgänge des
Wandlers oder geholfen wenigstens zu diesen Ausgängen
In dem . Oberf lächengebiet 82 sind auch Oberf'lächenz011
en 87 vom ersten Leitfähigkeitstyp vorhanden, die je zu einer Zone 81 sowie zu einer Zone 84 .
gehören. Mit Hilfe einer ersten Widerstandsgate-Elektrode 88 können Verbindungen zwischen Zonen 81
und 87 gesteuert werden, während mit einer zweiten Widerstandsgate-Elektrode 89 die Zonen 87 steuerbar
mit den Zpnen 8k verbunden werden können. Der Wandler besteht also aus zwei Teilen, die je für sich
praktisch dem in den Figuren 6 und 7 gezeigten Wandler gleich sind, wobei die Ausgänge des ersten
Teiles zugleich Eingänge für den zweiten Teil bilden. Die gemeinsamen Zonen oder Verbindungszonen
87 werden in einer Konfiguration, bei der sich die mit den Gate-Elektroden 88 und 89 steuerbaren Oberflächenschichten
im Halbleiterkörper direkt aneinander anschliessen, überflüssig sein.
Der beschriebene Wandler kann wie folgt betrieben werden. Die gemeinsame Elektrode 81, 83
wird z.B. an Erde gelegt und mit dem Oberflächengebiet 82 verbunden, wobei in der letzteren Ver-
509849/0Θ57
-■ 28 -
PIIN 7 *>
bindungsleltung nötigenfalls eine regelbare Span—
nungsquelle 90 zur Einstellung der Vorrichtung aufgenommen
werden kann. Mit Hilfe von Spannungsquellen 91 und 92 wird über.jeder der Widerstandsgate-Elektroden
ein Potentxaluntersclixed angelegt, derart, dass das Potentialgefälle in der einen Gate-Elektrode
in der einen Richtung und in der anderen Gate-Elektrode.in der entgegengesetzten Richtung
verläuft. In Fig. 8 ist das linke Ende der Gate-Elektrode 88 das negativste und das rechte Ende
das positivste Ende. Bei der Gate-Elektrode 89 ist dagegen das linke Ende das positivste und das
rechte Ende das negativste Ende. Die über den beiden Elektroden 88 und 89 angelegten Potentialunterschiede
sind gleich gross und betragen z.B. etwa 12 V. . · -
Auf der linken Sedte der Fig. 8 ist angegeben,
dass die Gate-Elektroden 88 und 89 über je eine Spannungsquelle 93 bzw. 9h mit einer Eingangsklemme
95 bzw. 96 verbunden sind y Zwischen
den Eingangsklemmen 95 und 96 befindet sich ein
Widerstand 97 mit einer an Erde gelegten Mittelanzapfung. Weiter sind diese Klemmen an eine Eingangssignalquelle
98 angeschlossen, so dass die den Elektroden 88 und 89 zugeführten Signale, abgesehen
von einem Phasenunterschied von I8o°j ein-
5098A9/0657
PUN
and or gleich sind.
Bio Spannmi{;ßquolloji 9 1 und 92 liefern jo
eine Spannung, die mindestens gleich dem Untei'schlod
zwischen dem grossten und dem kleinsten Spannungswert
des Eingangssignals ist. Mit Hilfe der Spannungsquellen
90, 93 und 94 wird der Wandler nun
dei'art eingestellt, dass bei der kleinsten oder negativsten Eingangssignalspannung die Spannung
an den beiden Gate-Elektroden 88 und 89 auf dez* Höhe des ersten äusserst links dargestellten Paares
von Oberflächenzonen 81,87 bzw. 84,87 derartig ist, dass zwischen den Zonen jedes dieser Paare eine
Inversionsschicht vorhanden ist. Ausgehend von einer Halbleiterstruktur mit einem p-leitenden Gebiet
82 und η-leitenden Oberflächenzonen 81,84 und 87,
wird bei den angegebenen Polaritäten für die Gate-Elektrode 88 gelten, dass auch alle weiter nach
rechts liegenden Paare von Oberflächenzonen 81,87 durch Inversionsschichten miteinander verbunden
sind. Die Potentialverteilung über die Gate-Elektrode 89 ist dagegen derartig, dass ausschliesslich
zwischen den Zonen 84,87 des äusserst links liegenden Paares eine Inversionsschicht vorhanden ist.
Nur die äusserst linke Klemme 86 ist also leitend mit der gemeinsamen Elektrode 81,83 verbunden.
Je nachdem das Eingangssignal positiver
509849/0657
PlTN 7550
wird, worden im uni.oreii Toi.1 die durch Inversions™
sohl clitcn gebi Ldotori Verbindungen zwischen den Zonen
81 und. 87, voji dein äüssorst linken Paar nach rechts
gehend, nacheinander uuterbroclion werden, während
zu gleicher Zeit im oberen Teil von links nach recht.s nacheinander in einer stets zunehmenden Anzahl
von Paaren von Zonen 8^i und 87 durch. Bildung·
von - lEnvorsionsHchichten Verbindungen hergestellt
werden. Auf diese Weise ist stets nur eine der Klemmen 86 erregt. Eine derartige Vorrichtung kann
z.B1 zux" Ansteuerung zon Zifferrbhren oder zur
Adressierung von Reihen oder Spalten in Matrizen verwendet werden, wie sie z.B. in Wiedergabepaneelen
oder in Speichern vorhanden sind.
Für eine befriedigende Wirkung der obenbeschriebenen Voz'richtung ist es von Bedeutung,
dass wenigstens unter der Gate-Elektrode 89 keine ununterbrochene In\rersionsschicht gebildet werden
kann, weil sonst die Klemmen 86 nicht mehr gegeneinander1 isoliert sind. Dies kann durch Anwendung
einer Isolierschicht erreicht xirerden, die verhältnismässig
dick ist, ausgenommen an den Stellen, an denen Inversionsschichten gebildet werden müssen.
Nötigenfalls können zwischen den aufeinanderfolgenden Paaren von Oberflächenzonen 8^,87 unter
der Gate-Elektrode 89 Kanalunterbrecher, z.B. in
5 09849/0657
Pi in 7550
Fοr'm von Halbleiterzonen 99 vom gleichen Leltfähig-keitstyp
wie, aber mit einer höheren Dotierungskonzentration als das Oberflächengebiet 82, angebracht
werden. Auch kann für diesen Zweck in der· ganzen an
die Halbleiteroberfläche grenzenden Schicht des Oberflächengebietes 82, mit Ausnahme wenigstens
derjenigen Teile., in denen eine Inversionsschicht gebildet werden können muss, eine höhere Dotierungskonzentration
als in dem angrenzenden darunter liegenden
Teil dieses Gebietes 82 angewendet werden.
Der Vollständigkeit halber sei bemerkt, dass durch Einstellung des Ausmasses, in dem sich
die beiden mit den Widerstandselektroden erzeugten Inversionsschichten überlappen, die Anzahl benachbarter
Klemmen 86, die gleichzeitig erregt ist, nach Wahl geregelt werden kann.
Eine weitere Ausführungsform, in der ebenτ
falls zwei Widerstandselektroden Anwendung finden, ist in Fig. 9 dargestellt. Der Halbleiterkörper
weist eine Anzahl erster Oberflächenzonen 101 von einem dem des daran grenzenden Oberflächengebietes
102 entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp auf. Die
η-leitenden ersten Oberflächenzonen 101 weisen je einen elektrischen Anschluss auf, welche Anschlüsse
durch die direkt mit diesen Zonen verbundenen Leiterbahnen 1Ο3 gebildet werden. Die Zonen 10 1
609849/0657
PHN 75
sind langßos I .rockt und liegen je neben einer zugehörigen
ii—leitenden Oberflächonzone 10'i vom gleichen
Leitfähigkeitstyp. Die Zonen 104 bilden die
zweiten Oberflächenzonon der Vorrichtung und sind
miteinander über die Loitex'baim 105 verbunden, die
sich quer au den langgestreckten Zonen 101 und
auf der Höhe der Mitte dieser Zonen erstreckt. Auf beiden einander gegenüber liegenden Seiten der Leiterbahn
105 befindet sich eine karnmartige Widerstandselektrode ähnlicher Form und Ausführung wie
die Elektroden 88 und 89 der Fig. 8, Diese Elektroden
sind daher in Fig. 9 mit den gleichen Bezugsziffern bezeichnet. Auch übrigens ähnelt die Vorrichtung
nach Fig. 9 stark der nach Fig. 8, wobei die letztere Vorrichtung als aus zwei Teilen aufgebaut
betrachtet werden kann, welche Teile miteinander in Reihe liegen, während diese zwei «Teile
in der Vorrichtung nach Fig. '9 parallel geschaltet sind. Die Vorrichtung nach. Fig. 9 wird auf völlig
gleiche Weise wie die nach. Fig« 8 mit Spannungsquellen 90, 9"1, 92, 93 und 9h zur Einstellung dersteuerbaren
Inversions schichten und den Gate-rElektroden
88 und 89 zugeführten Eingangssignalen gleicher Grosse und entgegengesetzter Phase betrieben.
Die Spannungsquellen 90» 93 und 9^ werden in diesem
Falle jedoch derart eingestellt, dass die beiden
S09849/0657
PHX 75 "3
Inversionsschichton keine gegenseitige Uberlcippung
aufweisen, derart, dass stets höchstens die gewünschte Anzahl benachbarter Anschlüsse 1O3>86
nicht mit der gemeinsamen Elektrode 10^!, 105 verbunden
ist, während die in Fig. 9 links davon liegenden Zonen 103 über eine unter der"unteren Elektrode
88 liegende Inversionsschicht mit einei" Zone 10't und somit mit Erde und alle weiter nach rechts
liegenden Zonen 103 über eine unter der oberen Elektrode 89 liegende Inversionsschicht mit Erde
verbunden sind.
Die Anschlüsse 86 sind mit einer Wiedergabeanordnung
verbunden, die eine Anzahl von Wiedergabeelernenten I06 enthält, die je mit der Hauptstrombahn
eines Transistors 107 in Reihe zwischen einer Speiseleitung I08 und Erde angeordnet sind. Die
Steuerelektroden der Transistoren 107 sind über je einen Widerstand 109 mit der Speiseleitung 108
verbunden. Diese Widerstände dienen zum Zuführen des benötigten Steuerstiroms, wenn die Transistoren
107 leitend und die Bildelemente I06 erregt sind.
Über die Anschlüsse 86 werden diese Steuerströme zu Erde abgeführt, mit Ausnahme desjenigen Anschlusses
oder derjenigen Anschlüsse 86, der oder die nicht über eine Inversionsschicht mit einer
Zone 104 und der gemeinsamen Elektrode 105 vertun-
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- 3k -
.V-1KX 7550
den ist oder sind. Nur der oder die mit dem letzteren Anschluss oder den letzteren Anschlüssen 86
verbundene Transistor oder verbundenen Transistoren
ist oder sind dann leitend, so dass nur die damit verbundenen ¥ledergaboelementc aufleuchten. Die
übrigen Wiedergabeelemento sind gelöscht.
Durch Anpassung der Geometrien und der Dotierungskonzentrationen· kann die Vorrichtung
nach der Erfindung besonderen Anfox^derungen für verschiedene Anwendungen angepasst werden. Im Beispiel
nach den Figuren 1 s 2 und, 3 ist e"ln geeigneter
Spannungswert für die Quelle 32 z.B. etwa
10 V. Der Gesamtwiderstandswert der Gate-Elektrode
19 wird, je nach der Länge und der als zulässig
betrachteten -Verlustleistung sowie der für die Vorrichtung gewünschten Geschwindigkeit, von 1
oder einigen kil zu 50 k jQ. oder mehr variieren
können. Die Spannungsquelle 3^<- ist meist überflüssig.
Die Anschlüsse 22 und 25 werden dann unmittelbar miteinander verbunden. Z.B. kann zu diesem
Zweck der pn-Ubergang zwischen der Oberflächenzone 17 und dem Oberflächengebiet k an der Halbleiteroberfläche
5 kurzgeschlossen werden. Für die Einstellspannungsquelle 33 ist meist ein Wert von
1 bis 2 V genügend. Der Spannungswert der Speisequelle kO wird nach oben von der Durchschlagspan-
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■- 35 -
PJiN 7550
nung der pn-TJb ergänze zwischen den Zonen 6 - 10 und
dem Oberflächengebiet h begrenzt und ist weiter von dem verwendeten Typ von Viedergabeelemimten abhängig.
Für Gasentladungsröhren ist z.B. verhältnismässig wenig Strom und oft eine verhältnismässig
hohe Spannung von 60 bis 80 V erforderlich, während dagegen lichtemittierende Dioden meist
mehr Strom erfordern und eine geringere Spannung von 1 oder einigen Y benötigen. Die für Flüssigkristalle
benötigte Spannung liegt meist in dex· Grössenordnung von 20 V.
Es dürfte einleuchten, dass sich die Erfindung nicht auf die beschriebenen Ausführungsformen beschränkt, sondern dass im Rahmen der Erfindung
für" den Fachmann viele Abwandlungen möglich sind. So' können andere Halbleitermaterialien, wie
Germanium oder A B -Verbindungen, verwendet Airerden. Wenn das Eingangssignal dem Oberf lächengeb.iet
zugeführt wird und die Schwellwertspannung ortsabhängig ist durch eingebaute Ladung in die Isolierschicht
und/oder dadurch, dass die Dotierungskonzentration an der Oberfläche des Oberflächengebietes
örtlich verschieden ist, braucht auf der Isolierschicht keine isolierte Gate-Elektrode vorhanden
zu sein. Die beschriebenen Widerstandselektroden können auch durch einen Halbleiterwiderstand,
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0293 1"1^i
z.B. einen dif fundier ten Widerstand, in Vereinigung
mit einer Anzahl an verschiedene Anzapfungen dieaes
Widerstandes angeschlossener leitender Gate-Elekti'oden
ersetzt werden. In den Beispielen sind weiter zwischen den mit- den verschiedenen Ausgängen
verbundenen Oberfläclienzonen gleiche Abstände eingeh
alten, wodurch die Anzahl erregter Ausgänge der
Amplitude des Eingangssignals gerade proportional
zunimmt. Durch Anpassung der Widerstandswerte der
zwischen den aufeinanderfolgenden durch Inversion
zu bildenden Verbindungswegen liegenden Teile der Widerstandsslektrode, Z=B8 durch Anpassung des
gegenseitigen Abstandes der ersten Zonen und/oder örtliche Anpassung des Schichtwiderstandes der
Widerstandselektrode können aucli andere als lineare
Beziehungen zu dem Eingangssignal erhalten
werden * Für den gleichen Zweck kann auch die Geometrie
der Widerstandselektrode 5 gj, die Breite
der Widerstandsschicht 71 des Beispiels nach den Figuren 6 und 7» örtlich, angepasst werden,
Zwischen den ersten Oberflächenzonen und den Anschlüssen derselben, z.B. zwischen den Zonen
84 und den Klemmen 86 des Beispiels nach Fig. 8, können erwünschtenfaXls Schalter zur Steuerung des
Zeitpunktes der Auslesung der Information angeordnet werden. Diese Schalter können z.B. als Feld-
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©ffekttransistoron mit isolierter Gate-Elektrode
ausgeführt werden, wobei die Gate-iJlektroden dieser
Schalter miteinander verbunden sein können. Mit diesen Schaltern können die Ausgange κ.B0 gesperrt
werden, wenn das Eingangssignal von einem bestimmten Wert in einen anderen Wert übergeht,
wobei erst dann ausgelesen wii ., wenn eine genügende
Zeitspanne vergangen ist, damit gesichert ist, dass die an den Ausgängen verfügbare Information
dem veränderten Eingangssignal entspricht.
Die Verbindungen zwischen den ersten Oberflächenzonen und ihren elektrischen Anschlüssen
brauchen nicht immer direkte ohmsehe Verbindungen zu sein. In diesem Verbindungen können z,B,
Schaltungselemente derart aufgenommen sein, dass
dennoch jede erste Oberflächenzone elektrisch mit einem eigenen Anschltiss gekoppelt ist.
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Claims (1)
- γ- 38 -. ■ PHN 751 .J Vorrichtung zur Umland Inng eines elektrischen Eingangssignals mit sich schrittweise oder kontinuierlich ändernder Amplitude in ein oder mehr elektrische Signale zur Ansteuerung oder Erregung einer oder mehrerer liiedergabeanordnungen, dadurch gekennzeichnet, dass in einem an eine Oberfläche eines Halbleiter\körpers grenzenden Gebiet von einem ersten Leitfähigkeitstyp mehrere an die Oberfläche grenzende Oberflächenzonen vom zweiten, dem ersten entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp vorhanden sind, welche Oberflächenzonen (nachstehend als erste Oberflächenzonen bezeichnet) mit je einem elektrischen Anschluss zur Verbindung mit einer Wiedergabeanordnung versehen oder wenigstens mit einem solchen Anschluss gekoppelt sind, wobei eine gemeinsame Elektrode vorgesehen ist, zu der wenigstens eine in dem Gebiet vom ersten Leitfähigkeitstyp liegende zweite Oberflächenzone vom zweiten Leitfähigkeitstyp gehört, wobei die Oberfläche mit einer Isolierschicht versehen und eine gemeinsame Gate-Elektrode zur Beeinflussung einer Oberflächenschicht des Halbleiterkörpers vorhanden ist, wobei ein elektrischer Anschluss für das Eingangssignal an der gemeinsamen Gate-Elektrode angebracht ist und mittels der gemeinsamen Gate-509849/0657PHN 7530Elektrode mit der zugehörigen beeinflussbaren Ober-flächenschicht ein mit dem Eingangssignal regelbarer Verbindungsweg vom zweiten Leitfähigkeitstyp zwischen der gemeinsamen Elektrode und den ersten Oberflächenzonen vom zweiten Leitfähigkeitstyp hergestellt wird.2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Isolierschicht eine oberhalb der beeinflussbaren Oberflächenschicht liegende und diese bedeckende isolierte Elektrode vorhanden ist.3· Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch, gekennzeichnet, dass die isolierte Elektrode die gemeinsame Gate-Elektrode bildet.h. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die isolierte Gate-Elektrode streifenförmig ist oder wenigstens einen streifenförmigen Teil aufweist und mit zwei in" einiger Entfernung voneinander und vorzugsweise in der Nähe der beiden Enden der streifenförmigen Gate-Elektrode (oder des streifenförmigen Teiles dieser Elektrode) liegenden elektrischen Anschlüssen zum Anlegen eines Potentialunterschiedes über dem zwischen diesen Anschlüssen liegenden streifenförmigen Teil der isolierten Gate-Elektrode versehen ist. .509849/0657<ΊυPHN5· Vorrichtung nach Anspruch hs dadurch. ge~ kennzeichnet, dass wenigstens del- streifenförniige Teil dei" isolierton Gate-Elektrode wenigstens örtlich aus Widerstandsmaterial bestellt} 6. Vorrichtung nach Anspruch 5s dadurch gekennzeichnet, dass die isolierte Gate-Elektrode hakenförmig ist und einen streif einförmigen Basisteil besitzt, der wenigstens an einer seiner langen Seiten mit mehreren Ansätzen oder Fingern versehen ist, wobei wenigstens die zwischen benachbarten Fingern liegenden Teile dieses Basisteiles aus Widerstandsmate \1 bestehen.7· Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass der aus dem Widerstandsmaterial bestehende Teil der Gate-Elektrode schachtförmig ist, wobei der Schichtwiderstand dieser Schicht mindestens 1X2. beträgt»8. Vorrichtung *ch Anspruch J5s 6 oder 7> dadurch gekennzeichnets dass der streifenförmige Teil der isolierten Gate-Elektrode wenigstens an der Stelle, an der er aus Widerstandsmaterial besteht, einen .Schichtwiderstand von mindestens 10 -Q- und vorzugsweise höchstens etwa 200 Λ auf-sweist.9· Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,S09849/0657-JiI -PHX 75502520293 li<Ji·75dass in dem regülbaren Verbind.-.mgstveg vom zweiten Leitfähigkeitstyp eine Inversionsschicht mit einer in einer Richtung praktisch parallel i?u der- Oberfläche steuerbaren Ausdehnung aufgenommen ist, wobei die Oberflächenschicht den ersten Leiv.fähigkeitstyp aufweist und die Gate-Elektrode zur Erzeugung und Steuerung dieser Inversionsschicht dient.10. Vorrichtung nach Anspruch 9} dadurch gekennzeichnet, dass die Oberflächenschicht vom ersten Leitfähigkeitstyp eine Anzahl nebeneinander liegender und voneinander getrennter Teile enthält, die sich je an der Oberfläche des Halbleiterkörpez's an eine der mit einem elektrischen Anschluss versehenen oder wenigstens mit einem solchen Anschluss gekoppelten ersten Oberflächenzonen vom zweiten Leitfähigkeitstyp und an die (wenigstens eine der) zu der gemeinsamen Elektrode gehörige^) zweite(n) Oberflächenzone(n) vom zweiten Leitfahxgkeitstyp anschliessen, welche Teile sich dazu eignen, darin Inversioiisschichten zu erzeugen, dio zusammen die Inversionsschicht mit steuerbarer Ausdehnung bilden.11« Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zu der gemeinsamen Elektrode mehrere zweite509849/Q657kz -PHN 7550Oberf lächenzonea vom zwei ton Leltf ähigkoit styp gehören, wobei zwischen jeder dieser zweiten Ofoerflächenzonon und mindestens einer der· ersten Ober— f lächenzoneii vom zv/eiten Leitfähigkeitstyp ein Teil der mittels der Gat-3-Elektrode beeinflussbaren Oberflächenschicht liegtG12c Vorrichtung nach den Ansprüchen 6 und 11, dadurch gekennzeichnet5 dass die ersten und· aweiten Oberflächenzonen paarweise angeordnet sind, wobei der zwischen der ersten tind der zweiten Oberflächenzone jedes Paares liegende Teil des Gebietes vom ersten Leitfähigkeitstyp sich praktisch völlig unter einem Finger der isolierten Gate-Elektrode erstreckt„13= YorrichtTang nach Anspruch 3 oder nach Anspruch 3 und einem oder mehr er si der Ansprüche bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass eine zweite gemeinsame isolierte Gate-Slektrode mit mehreren stigeh-or-igen in einem Gebiet vohi ersten Leitfähigkeitstyp«-liegenden ersten Oberflächenzonen vom sweitsr» Leitfähigkeitstyp und einer, oder Hiehreren zugehörigen, ebenfalls in diesem.Gebiet liegenden zweiten Oberflächsazonen vom aweitan Leit-" fäliigksitstyp vorgesehen ist3 wobei jede der ^u. d&r- ersten isolisr-ten Gate-Elektrode gehörigenS03849/06S7- k3 -Horten Gate-Elektrode gehörigen ersten Zonen oder mit einer gesonderten zu dieser zweiten Gate-Elektrode gehörigen zweiten Zone verbunden ist, "lh. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadui^ch gekennzeichnet, dass die mit einem elektrischen Anschluss versehenen ersten Oberfläclienzonen vom zweiten Leitfähigkeit s typ mit einer Wiedergabeanordnung verbunden sind, die mit dem Halbleiterkörper· zu einer baulichen Einheit zusammengefügt ist.609849/0657Leerseite
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Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL7406728A (nl) * | 1974-05-20 | 1975-11-24 | Philips Nv | Halfgeleiderinrichting voor het digitaliseren van een elektrisch analoog signaal. |
US4858173A (en) * | 1986-01-29 | 1989-08-15 | Digital Equipment Corporation | Apparatus and method for responding to an aborted signal exchange between subsystems in a data processing system |
JP3009438B2 (ja) * | 1989-08-14 | 2000-02-14 | 株式会社日立製作所 | 液晶表示装置 |
JP3431647B2 (ja) * | 1992-10-30 | 2003-07-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置とその作製方法およびメモリ装置の作製方法およびレーザードーピング処理方法 |
DE4438325B4 (de) * | 1994-10-27 | 2008-05-29 | Eads Astrium Gmbh | Verfahren zur Überwachung des Schiffsverkehrs auf See mit Erkennung von Ölverschmutzungen und potentiellen Schiffskollisionen |
DE10162766A1 (de) * | 2001-12-20 | 2003-07-03 | Koninkl Philips Electronics Nv | Schaltungsanordnung zur Spannungsversorgung einer Flüssigkristallanzeigevorrichtung |
EP2869339B1 (de) * | 2013-10-31 | 2016-07-27 | Ampleon Netherlands B.V. | Transistoranordnung |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3244979A (en) * | 1961-03-21 | 1966-04-05 | Philco Corp | Voltage-indicating apparatus employing electroquenchable phosphor layer |
US3309610A (en) * | 1963-05-28 | 1967-03-14 | North American Aviation Inc | Multi-layer solid state meter having electroluminescent indication, breakdown diodes and constant-current controlling elements |
US3378688A (en) * | 1965-02-24 | 1968-04-16 | Fairchild Camera Instr Co | Photosensitive diode array accessed by a metal oxide switch utilizing overlapping and traveling inversion regions |
DE1764911A1 (de) * | 1968-09-02 | 1971-12-02 | Telefunken Patent | Unipolaranordnung |
US3795863A (en) * | 1970-04-20 | 1974-03-05 | Hitachi Ltd | Voltage indicator employing a resistive network and light emitting diodes |
US3667039A (en) * | 1970-06-17 | 1972-05-30 | Nasa | Electricity measurement devices employing liquid crystalline materials |
GB1380427A (en) * | 1970-12-07 | 1975-01-15 | Hitachi Ltd | Apparatus for scanning the signals applied to an array of semiconduc tor devices |
CH527427A (de) * | 1971-02-15 | 1972-08-31 | Bbc Brown Boveri & Cie | Anordnung zur lokalen Änderung der optischen Eigenschaften einer Anzeigeschrift mittels einer Steuerspannung |
JPS5128200A (en) * | 1974-09-02 | 1976-03-09 | Shinetsu Chemical Co | Shirokisannhoriokishiarukirenkyojugotai no seizohoho |
-
1974
- 1974-05-20 NL NL7406729A patent/NL7406729A/xx not_active Application Discontinuation
-
1975
- 1975-05-07 DE DE19752520293 patent/DE2520293A1/de not_active Withdrawn
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AU8117475A (en) | 1976-11-18 |
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