DE2516619A1 - Sonde zur beruehrungslosen messung elektrischer oder magnetischer feldstaerken - Google Patents
Sonde zur beruehrungslosen messung elektrischer oder magnetischer feldstaerkenInfo
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Description
Sonde zur berührungslosen Messung elektrischer oder magnetischer
Feldstärken
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Sonde zur berührungslosen Messung elektrischer oder magnetischer Feldstärken.
Zur rückwirkungsfreien vektoriellen Feldstärkemessung z.B. in Hohlleitern oder Hochspannungsbereichen sind Punktsonden erforderlich.
Bei der Messung hoher Feldstärke in Hochspannungsbereichen soll eine Gefährdung des Meßpersonals vermieden werden.
Die Erfindung hat sich zur Aufgabe gestellt, eine derartige Sonde anzugeben.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird vorgeschlagen, daß die Sonde mindestens einen optischen Wellenleiter aufweist, der im Bereich
der Meßzone aus elektrooptischen! oder magnetooptischem Material besteht.
Bei einem vorteilhaften Ausführungsbeispiel weist die Sonde zwei optische Wellenleiter auf, die parallel zueinander verlaufen, wobei
ein optischer Wellenleiter im Bereich der Meßzone aus elektrooptischem
oder magnetooptischem Material besteht.
Bei einem anderen vorteilhaften Ausführungsbeispiel sind einer oder mehrere optische Wellenleiter mindestens is Bereich der Meßzone
mit einem Substrat verbunden, auf dem ein zusätzliches Superstrat angeordnet ist, wobei im Bereich der Meßzone entweder
der optische Wellenleiter oder das Substrat oder das Superstrat oder aber mehrere dieser Bauteile aus elektrooptischen! oder
magnetooptischem Material bestehen.
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'J-'-' r -: h 4 / 0 b
Die erfindungsgemäße Sonde nutzt die Änderung der optischen Eigenschaften in optischen Wellenleitern durch den Einfluß
elektrischer oder magnetischer Felder aus. Die zu messende Feldstärke erzeugt ein optisches, in einem optischen Wellenleiter
oder auf einem sich frei ausbreitenden Laserstrahl übertragbares Signal, das durch elektrische und magnetische
Störfelder bei der Übertragung nicht mehr verfälscht werden kann.
Die Meßsonde weist außerdem den Vorteil der kleinen Abmessungen integriert-optischer Elemente auf, so daß die Feldstärke punktweise
abgetastet werden kann. Durch fehlende metallische Zuleitungen und Kontakte und die Kleinheit der erfindungsgemäßen
Sonde ist eine Rückwirkung auf das zu messende Feld außerordentlich gering. Außerdem wird bei der Messung hoher Feldstärken
durch die ideale Isolation eine Gefährdung des Meßpersonals vermieden. '
Im folgenden wird die Erfindung anhand der Zeichnung beispielsweise
beschrieben; es zeigen:
Figur 1 eine Draufsicht auf eine erfindungsgemäße Sonde und
Figur 2 einen Querschnitt von Figur 1O
In den Figuren ist mit 1 ©in erster optischer Wellenleiter bezeichnet}
in dem eine Meßwell© der Intensität In in Pfeil-»
richtung verläuft o Diese wird mit einer Wellenleltergalbel aufgeteilt 9 wonach eine Teilwelle In dem optischen Wellenleiter
durch- die eigentliche Meßzone 11 läuftρ in .der sie vom zu
massenden Feld beeinflußt wird? während ©Ine Ke£©renzw@ll©
in dem optischen Wellenleiter- 3 unbeeinflußt TbleiTärfe. Beide
Teilwellen mit den Intensitäten lw miä'1Ώ werden anschließend
mit getrennten optischen Wellenleitern 7p 8 2m einem nicht dargestellten
Fotodetektorpaar geleitet0 In d©m das Bifferenzsignal
gemessen wird« Mit 4, "5 uni 6 sind lopgalstücke für dis einzelnen
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optischen Wellenleiter bezeichnet und mit 10 ein Substrat, auf
dem die optischen Wellenleiter angeordnet sind.
Erfindungsgemäß besteht nun in der Meßzone 11 entweder der optische Wellenleiter 2 selbst oder das Substrat 10 oder ggf.
ein zusätzliches, nicht dargestelltes Superstrat oder aber auch mehrere dieser Bauteile aus elektrooptischem oder magnetooptischem
Material. Im feldfreien Zustand wird die Welle im Wellenleiter 2 geführt. Dazu muß der Brechungsindex n2 >- ng
(n' = Substratindex) sein. Im Feld wird entweder n~ erniedrigt
s ^-
und/oder η vergrößert, so daß ein Teil der geführten Wellen in das Substrat 10, bzw. das nicht dargestellte Superstrat, ausgekoppelt
und damit die Intensität IM erniedrigt wird. Der Meßbereich
der Sonde kann durch den Aufbau, d.h. die Kristallorientierung, die Materialauswahl und die geometrische Dimensionierung
der Strukturen sowie die Orientierung der Sonde im zu messenden Feld und die Wellenlänge des verwendeten Meßlichtes
beeinflußt werden.
Statt der Auskopplung in das Substrat oder Superstrat kann auch die in einem weiteren nicht dargestellten optischen Wellenleiter
übergekoppelte Intensität als Meßsignal dienen. In diesem,Fall endet der optische Wellenleiter 2 hinter der Meßzone,
während direkt vor der Meßzone der weitere nicht dargestellte optische Wellenleiter beginnt und in geringem Abstand
neben, über oder unter dem optischen Wellenleiter 2 verläuft.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn die im optischen Wellenleiter 1 befindliche Eingangsintensität I_ zerhackt wird, um
• Störlichteinflüsse zu vermeiden. Die Differenzmessung eliminiert nicht nur den Einfluß von Intensitätsschwankungen des Eingangssignals I_, sondern auch den Einfluß von Streuverlusten bei der
Übertragung des Ausgangssignals zum Detektor.
Bei einer einfacheren Ausführung kann auch, wenn die Meßverhältnisse
dies zulassen, auf die Gabelschaltung und damit auf
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den Referenzwellenleiter 3 verzichtet werden.
Mit der erfindungsgemäßen Sonde ist es also möglich, elektrische
und magnetische Feldstärken bei minimaler Rückwirkung der Sonde auf das zu messende Feld und bei·idealer Isolierung durch optische
Meßwertübertragung zu messen. Da die Feldstärke zu einer solchen Brechungsindexänderung in der optischen Wellenleitersonde
führt, daß die geführten Lichtwellen in Strahlungs- bzw. Leckwellenmoden gestreut werden, ändert sich die. intensität
der geführten Welle, die als Meßsignal dient.
3 Patentansprüche
2 Figuren
2 Figuren
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609B44/0538
Claims (3)
1. Sonde zur berührungslosen Messung elektrischer oder magneti-"-scher
Feldstärken, gekennzeichnet durch mindestens einen optischen Wellenleiter, der im Bereich der
Meßzone aus elektrooptischem oder magnetooptischem Material besteht.
2. Sonde nach Anspruch 1, dadurch gekenn-z-ei chnet,
daß sie zwei optische Wellenleiter aufweist, die parallel zueinander verlaufen, wobei ein optischer Wellenleiter im
.Bereich der Meßzone aus elektrooptischem oder magneto- ' optischem
Material besteht. . "
3. Sonde nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch g e k e η η -
ζ ei c h η e t , daß die optischen Wellenleiter mindestens
im Bereich der Keßzone auf einem Substrat angeordnet sind, daß ein zusätzliches Superstrat vorhanden ist, und daß im
Bereich der Meßzone entweder der optische Wellenleiter oder das Substrat oder das Superstrat oder aber mehrere dieser Bauteile
aus elektrooptischem oder magnetooptischem Material bestehen.
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US05/860,206 US4147979A (en) | 1975-04-16 | 1977-12-13 | Movable probe carrying optical waveguides with electro-optic or magneto-optic material for measuring electric or magnetic fields |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0067683A1 (de) * | 1981-06-12 | 1982-12-22 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Detektor für elektrische Felder |
DE3133966A1 (de) * | 1981-08-27 | 1983-03-10 | Dornier System Gmbh, 7990 Friedrichshafen | "elektrooptische empfangsantenne" |
CN1052071C (zh) * | 1993-07-07 | 2000-05-03 | 株式会社东金 | 电场传感器 |
CN1052072C (zh) * | 1993-07-07 | 2000-05-03 | 株式会社东金 | 电场传感器 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE417137B (sv) * | 1979-05-31 | 1981-02-23 | Asea Ab | Optiskt metdon for metning av magnetiska och elektriska felt |
JPS59155764A (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-04 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 光電圧計 |
JPS59160770A (ja) * | 1983-03-03 | 1984-09-11 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 光電圧計 |
JPS60257325A (ja) * | 1984-06-05 | 1985-12-19 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 光電圧センサ |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1955403A1 (de) * | 1969-10-30 | 1971-05-06 | Siemens Ag | Messeinrichtung fuer Stroeme in Hochspannungsleitern |
DE2024419A1 (de) * | 1970-05-20 | 1971-12-02 | Battelle Institut E V | Messung elektrischer Felder |
DE2216737A1 (de) * | 1971-04-20 | 1972-11-02 | Usines Balteau S.A.. Beyne-Heusay (Belgien) | Verfahren und Vorrichtung zur Fernmessung eines Hochspannungsstromes |
DE2130046B2 (de) * | 1971-06-11 | 1974-09-12 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Einrichtung zur Messung von Spannungen an Hochspannungsleitern |
DE2261953B2 (de) * | 1972-12-18 | 1979-01-04 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Stromwandler zur Messung von Stromstärken, insbesondere in Hochspannungsleitungen |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2130047C3 (de) * | 1971-06-11 | 1974-11-28 | Siemens Ag, 1000 Berlin Un8 8000 Muenchen | Meßeinrichtung für Ströme |
-
1975
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1976
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1955403A1 (de) * | 1969-10-30 | 1971-05-06 | Siemens Ag | Messeinrichtung fuer Stroeme in Hochspannungsleitern |
DE2024419A1 (de) * | 1970-05-20 | 1971-12-02 | Battelle Institut E V | Messung elektrischer Felder |
DE2216737A1 (de) * | 1971-04-20 | 1972-11-02 | Usines Balteau S.A.. Beyne-Heusay (Belgien) | Verfahren und Vorrichtung zur Fernmessung eines Hochspannungsstromes |
DE2130046B2 (de) * | 1971-06-11 | 1974-09-12 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Einrichtung zur Messung von Spannungen an Hochspannungsleitern |
DE2261953B2 (de) * | 1972-12-18 | 1979-01-04 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Stromwandler zur Messung von Stromstärken, insbesondere in Hochspannungsleitungen |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0067683A1 (de) * | 1981-06-12 | 1982-12-22 | Kabushiki Kaisha Meidensha | Detektor für elektrische Felder |
US4510441A (en) * | 1981-06-12 | 1985-04-09 | Kabushiki Kaishi Meidensha | Electric field detector |
DE3133966A1 (de) * | 1981-08-27 | 1983-03-10 | Dornier System Gmbh, 7990 Friedrichshafen | "elektrooptische empfangsantenne" |
CN1052071C (zh) * | 1993-07-07 | 2000-05-03 | 株式会社东金 | 电场传感器 |
CN1052072C (zh) * | 1993-07-07 | 2000-05-03 | 株式会社东金 | 电场传感器 |
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GB1550881A (en) | 1979-08-22 |
FR2308105A1 (fr) | 1976-11-12 |
DE2516619C2 (de) | 1983-12-01 |
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