DE69430728T2 - Fühler für elektrische felder - Google Patents

Fühler für elektrische felder

Info

Publication number
DE69430728T2
DE69430728T2 DE69430728T DE69430728T DE69430728T2 DE 69430728 T2 DE69430728 T2 DE 69430728T2 DE 69430728 T DE69430728 T DE 69430728T DE 69430728 T DE69430728 T DE 69430728T DE 69430728 T2 DE69430728 T2 DE 69430728T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
optical
electric field
antenna elements
substrate
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69430728T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69430728D1 (de
Inventor
Yuichi Tokano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokin Corp
Original Assignee
Tokin Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP16786193A external-priority patent/JPH0720178A/ja
Priority claimed from JP5167857A external-priority patent/JPH0720177A/ja
Priority claimed from JP6053256A external-priority patent/JPH07239356A/ja
Application filed by Tokin Corp filed Critical Tokin Corp
Publication of DE69430728D1 publication Critical patent/DE69430728D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69430728T2 publication Critical patent/DE69430728T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
    • G01R15/241Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0878Sensors; antennas; probes; detectors
    • G01R29/0885Sensors; antennas; probes; detectors using optical probes, e.g. electro-optical, luminescent, glow discharge, or optical interferometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Description

    Technisches Gebiet
  • Diese Erfindung bezieht sich auf einen Sensor eines elektrischen Feldes zum Messen einer elektrischen Feldintensität einer elektromagnetischen Welle oder Ähnlichem.
  • Hintergrundtechnik
  • Fig. 1 zeigt einen herkömmlichen Sensor eines elektrischen Feldes. Der Sensor eines elektrischen Feldes weist einen Sensorkopf 1 und eine mit dem Sensorkopf 1 verbundene Antenne 2 auf. Der Sensorkopf 1 weist ein Substrat 3 und einen an dem Substrat 3 angebrachten optischen Modulator 4 auf.
  • Der optische Modulator 4 weist einen auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Einfallswellenleiter 5, zwei optische Phasenverschiebungswellenleiter 6, die auf dem Substrat 3 so gebildet sind, dass sie sich von dem optischen Einfallswellenleiter 5 verzweigen, und von denen jeder einen variablen Brechungsindex aufweist, der als Reaktion auf eine daran angelegte elektrische Feldintensität variiert, einen auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Austrittswellenleiter 7 zum Verbinden der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 und zwei auf oder in der Nähe der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 gebildeten Modulationselektroden 8 auf. Der optischen Einfallswellenleiter 5 ist mit einer optischen Einfallsfaser 9 verbunden. Der optische Austrittswellenleiter 7 ist mit einer optischen Austrittsfaser 10 verbunden.
  • Die Antenne 2 weist zwei Stangenantennelelemente 11 auf. Die Stangenantennenelemente 11 sind durch Leitungsdrähte 12 mit den entsprechenden Modulationselektroden 8 verbunden. Die Stangenantennenelemente 11 sind so angeordnet, dass sie in eine Richtung eines elektrischen Feldes weisen, mit anderen Worten, so, dass sie senkrecht zu den optischen Phasenverschiebungswellenleitern 6 stehen. Die Stangenantennenelemente 11 sind durch ein Gehäuse befestigt, das in der Figur nicht dargestellt ist.
  • Bei dem herkömmlichen Sensor eines elektrischen Feldes weisen die Antennenelemente in Richtung des elektrischen Feldes während der Messung. Folglich weist ein Herausziehabschnitt der optischen Faser in eine Richtung der Messung. Dieses resultiert möglicher Weise in der Beschädigung der optischen Faser.
  • Bei dem herkömmlichen Sensor eines elektrischen Feldes muss die Antenne in verschiedene Richtungen während der Messung wegen ihrer strikten Richtwirkung angeordnet werden.
  • Aus dem US-Patent 5 210 407 ist ein Sensor eines elektrischen Feldes nach dem Oberbegriff des Anspruches 1 bekannt, der ein Paar von gegenüberliegenden Platten aufweist, die eine Antennenordnung vom Kondensator-Typ bilden.
  • Gemäß dem bekannten Sensor eines elektrischen Feldes erstrecken sich die zwei Antennenelemente in die gleiche Richtung zueinander, senkrecht zu der Richtung der optischen Phasenverschiebungswellenleiter.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Es ist eine Aufgabe dieser Erfindung, einen Sensor eines elektrischen Feldes Vorzusehen, der eine Beschädigung einer optischen Faser verhindern kann.
  • Diese Aufgabe wird gelöst durch einen Sensor eines elektrischen Feldes mit den Merkmalen des unabhängigen Anspruches 1. Bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnung
  • Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht eines herkömmlichen Sensors eines elektrischen Feldes.
  • Fig. 2 ist eine Draufsicht auf eine Ausführungsform dieser Erfindung.
  • Fig. 3 ist eine perspektivische Ansicht einer anderen Ausführungsform dieser Erfindung.
  • Fig. 4 ist eine Draufsicht auf eine noch andere Ausführungsform dieser Erfindung.
  • Fig. 5 ist eine Draufsicht auf eine weitere Ausführungsform dieser Erfindung.
  • Fig. 6 ist eine Draufsicht eines Sensor eines elektrischen Feldes mit weiteren Antennen.
  • Fig. 7 ist eine Seitenansicht des Sensors in Fig. 6.
  • Fig. 8 ist eine perspektivische Ansicht eines weiteren Sensor mit einer Mehrzahl von Antennen.
  • Ausführungsformen
  • Die Beschreibung wird nun im Einzelnen in Hinblick auf Ausführungsformen dieser Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnung gegeben.
  • Wie in Fig. 3 dargestellt ist, weist ein Sensor eines elektrischen Feldes gemäß dieser Erfindung einen Sensorkopf 1, ein den Sensorkopf 1 aufnehmendes Gehäuse 13 und eine an der Außenseite des Gehäuses 13 angebrachte und mit dem Sensorkopf 1 verbundene Antenne 14 auf. Der Sensorkopf 1 weist ein. Substrat 3 und einen an dem Substrat 3 angebrachten optischen Modulator 4 auf.
  • Der optische Modulator 4 weist einen auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Einfallswellenleiter 5, zwei optische Phasenverschiebungswellenleiter 6, die auf dem Substrat 3 so gebildet sind, dass sie sich von dem optischen Einfallswellenleiter 5 verzweigen, und von denen jeder einen variablen Brechungsindex aufweist, der als Reaktion auf eine daran angelegte elektrische Feldintensität variiert, einen auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Austrittswellenleiter 7 zum Verbinden der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 und zwei auf der oder in der Nähe der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 gebildete Modulationselektroden 8 auf.
  • Der optische Einfallswellenleiter 5 ist mit einer optischen Einfallsfaser 9 verbunden. Die optische Einfallsfaser 3 ist mit einer Lichtquelle 15 verbunden. Zum Beispiel weist die Lichtquelle 15 einen Halbleiterlaser auf. Der optische Austrittswellenleiter 7 ist mit einer optischen Austrittsfaser 10 verbunden. Die optische Austrittsfaser 10 ist mit einem optischen Detektor 16 verbunden.
  • Die Antenne 14 weist zwei Stangenantennenelemente 17 und 18 auf. Die Stangenantennenelemente 17 und 18 erstrecken sich in entgegengesetzte Richtungen, wobei ihre einen Enden an dem Mittelabschnitt des Gehäuses 13 angeordnet sind und sie parallel zu dem optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 angeordnet sind. Die Stangenantennenelemente 17 und 18 sind durch Leitungsdrähte 19 und 20 mit den entsprechenden Modulationselektroden 8 verbunden.
  • Ein Lichtstrahl von der Lichtquelle 15 trifft durch die optische Einfallsfaser 9 auf den optischen Einfallswellenleiter 5 auf und wird durch die zwei optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 in verzweigte Strahlen verzweigt, die wieder in dem optischen Austrittswellenleiter 7 miteinander kombiniert werden. Der Lichtstrahl wird, nachdem er mit dem optischen Austrittswellenleiter 7 kombiniert ist, durch die optische Austrittsfaser 10 zu dem optischen Detektor 16 emittiert. Wenn die Antenne 14 ein Empfangssignal empfängt, liegen die Modulationselektroden 8 vorbestimmte elektrische Felder an die optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 an. In Abhängigkeit der Intensitäten der elektrischen Felder werden die Brechungsindizes der optischen Phasen verschiebungswellenleiter 6 variiert. Dieses resultiert in der Variation der Phasen der Lichtstrahlen, die durch die optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 übertragen werden.
  • Ein spezielleres Beispiel des in Fig. 9 dargestellten Sensors eines elektrischen Feldes wird hier im Folgenden beschrieben, Das Substrat 3 weist eine LiNbO-Platte auf. Der optische Einfallswellenleiter 5, die optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 und der optische Austrittswellenleiter 7 werden durch thermische Diffusion von Ti auf einer Z-Ebene des Substrates 3 gebildet. Die optische Einfallsfaser 9 weist eine optische Konstantpolarisationsfaser auf.
  • Eine andere in Fig. 3 dargestellte Ausführungsform weist ähnliche Komponenten auf, wie sie durch die gleichen Bezugszeichen wie jene bezeichnet sind, die in Zusammenhang mit der Ausführungsform von Fig. 2 beschrieben worden sind. Wie in Fig. 3 dargestellt ist, weist die Antenne 14 zwei Filmantennenelemente 22 und 23 auf, die fest an einer Seitenoberfläche 21 des Gehäuses 13 angebracht sind. Die Filmantennenelemente 22 und 23 erstrecken sich in entgegengesetzte Richtungen, wobei ihre einen Enden an einem Mittelabschnitt des Gehäuses 13 angeordnet sind und sie parallel zu den optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 angeordnet sind. Die Filmantennenelemente 22 und 23 sind durch Leitungsdrähte 24 und 25 mit den entsprechenden Modulationselektroden 8 verbunden.
  • Mit den Sensoren eines elektrischen Feldes gemäß den in den Fig. 2 und 3 dargestellten Ausführungsformen ist es möglich, einen Schaden der optischen Faser zu verhindern, da der herausgezogene Abschnitt der optischen Faser, der mit dem Sensor eines elektrischen Feldes verbunden ist, nicht in die Richtung der Messung weist.
  • Eine noch andere in Fig. 4 dargestellte Ausführungsform weist ähnliche Komponenten auf, die durch die gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind, wie jene, die in Zusammenhang mit der Ausführungsform von Fig. 2 beschrieben wurden. Wie in Fig. 4 dargestellt ist, weist eine Antenne 26 zwei Filmantennenelemente 27 und 28 auf, die auf dem Substrat 3 parallel zu den optischen Phasenverschiebungswellenleitern 6 gebildet sind. Die Filmantennenelemente 27 und 28 sind auf beiden Seiten der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 angeordnet. Die Filmantennenelemente 27 und 28 sind durch Leitungsdrähte 29 und 30 mit den entsprechenden Modulationselektroden verbunden.
  • Wie in Fig. 5 dargestellt ist, können die Filmantennenelemente 27 und 28 auf einer Seite der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 angeordnet sein.
  • Mit dem Sensor eines elektrischen Feldes gemäß den in Fig. 4 und 5 dargestellten Ausführungsformen ist es möglich, einen Schaden an der optischen Faser zu verhindern, da der herausgezogene Abschnitt der optischen Faser, der mit dem Sensor eines elektrischen Feldes verbunden ist, nicht in die Richtung der Messung weist. Der Sensor eines elektrischen Feldes gemäß den Ausführungsformen in den Fig. 4 und 5 ist zum Erzielen einer Verringerung der Größe ausgelegt.
  • Wie in den Fig. 6 und 7 dargestellt ist, weist ein Sensor eines elektrischen Feldes den Sensorkopf 1 das den Sensorkopf 1 aufnehmende Gehäuse 13 und Antennen 31, 32 und 33 auf, die an der Außenseite des Gehäuses 13 angebracht sind und mit dem Sensorkopf 1 verbunden sind.
  • Der Sensorkopf 1 weist ein Substrat 3 Lind eine Mehrzahl von an dem Substrat angebrachten optischen Modulatoren 34, 35 und 36 auf.
  • Jeder der optischen Modulatoren 34, 35 und 36 weist den auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Einfallswellenleiter 5, die zwei optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6, die auf dem Substrat 3 so gebildet sind, dass sie sich von dem optischen Einfallswellenleiter 5 verzweigen, und von denen jeder einen variablen Brechungsindex aufweist, der als Reaktion auf die daran angelegte elektrische Feldintensität variiert, den auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Austrittswellenleiter 7 zum Verbinden der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 und die auf oder in der Nähe der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 gebildeten zwei Modulationselektroden 8 auf.
  • Der optische Einfallswellenleiter 5 ist mit der optischen Einfallsfaser 9 verbunden. Die optische Einfallsfaser 9 ist mit der Lichtquelle 15 verbunden. Der optische Austrittswellenleiter 7 ist mit der optischen Austrittsfaser 10 verbunden. Die optische Austrittsfaser 10 ist mit dem optischen Detektor 16 verbunden.
  • Die Antennen 31, 32 und 33 sind so angeordnet, dass sie senkrecht zueinander sind. Die Antennen 31, 32 und 33 sind durch die Leitungsdrähte mit den Modulationselektroden 8 der optischen Modulatoren 34, 35 bzw. 36 verbunden.
  • Wie in Fig. 8 dargestellt ist, weist jeder der optischen Modulatoren 34, 35 und 36 den auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Einfallswellenleiter 5, die zwei optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6, die auf dem Substrat 3 so gebildet sind, dass sie sich von dem optischen Einfallswellenleiter 5 verzweigen, und von denen jeder einen variablen Brechungsindex aufweist, der als Reaktion auf die daran angelegte elektrische Feldintensität variiert, und den auf dem Substrat 3 gebildeten optischen Austrittswellenleiter 7 zum Verbinden der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 und die auf oder in der Nähe der optischen Phasenverschiebungswellenleiter 6 gebildeten zwei Modulationselektroden auf.
  • Der Sensorkopf 1 weist einen mit der optischen Einfallsfaser 8 verbundenen gemeinsamen optischen Einfallswellenleiter 37, auf dem Substrat 3 so gebildete optische Primärverzweigungswellenleiter 38 und 39, dass sie sich von dem gemeinsamen optischen Einfallswellenleiter 37 verzweigen, auf dem Substrat 3 so gebildete optische Sekundärverzweigungswellenleiter 40 und 41, dass sie sich von dem optischen Primärverzweigungswellenleiter 38 verzweigen, und auf dem Substrat 3 so gebildete optische Tertiärverzweigungswellenleiter 42 und 43, dass sie sich von den optischen Primärverzweigungswellenleiter 39 verzweigen, auf.
  • Der optische Sekundärverzweigungswellenleiter 40 ist mit dem optischen Einfallswellenleiter 5 des optischen Modulators 34 verbunden. Der optische Sekundärverzweigungswellenleiter 41 ist mit dem optischen Einfallswellenleiter 5 des optischen Modulators 35 verbunden. Der optische Tertiärverzweigungswellenleiter 42 ist mit dem optischen Einfallswellenleiter 5 des optischem Modulators 36 verbunden. Der optische Tertiärverzweigungswellenleiter 43 ist durch die optische Austrittsfaser 10 mit dem optischen Detektor 16 verbunden. Der durch den optischen Tertiärverzweigungswellenleiter 43 übertragene Lichtstrahl wird durch die optische Austrittsfaser 10 zu dem optischen Detektor 16 übertragen. Der durch den optischen Tertiärwellenleiter 43 übertragene Lichtstrahl wird als Referenzlichtstrahl zum Überwachen des Lichtstrahles benutzt, der durch die optischen Modulatoren 34, 35 und 36 übertragen wird.
  • Jede der in den Fig. 6 bis 8 dargestellte Ausführungsformen weist eine Mehrzahl von Antennen auf. Es ist daher unnötig, die Orientierung in verschiedene Richtungen während der Messung zu ändern. Zusätzlich ist es möglich, eine Messung unabhängig von der Einfallsrichtung der elektromagnetischen Welle, die zu messen ist, und von der Polarisationskomponente auszuführen.
  • Industrielle Anwendbarkeit
  • Diese Erfindung ist geeignet zur Benutzung in einer Vorrichtung zum Messen einer Intensität eines elektrischen Feldes wie eine elektromagnetische Welle und elektromagnetisches Rauschen.

Claims (6)

1. Sensor eines elektrischen Feldes, mit:
einem Sensorkopf (1) mit einem Substrat (3) und einem an dem Substrat (3) angebrachten optischen. Modulator (4),
wobei der optische Modulator einen auf dem Substrat (3) gebildeten optischen Einfallswellenleiter (5), zwei optische Phasenverschiebungswellenleiter (6, 6), die auf dem Substrat (3) so gebildet sind, dass sie sich von dem optischen Einfallswellenleiter (5) verzweigen, von denen jeder einen variablen Brechungsindex aufweist, der als Reaktion auf eine daran angelegte elektrische Feldintensität variiert, einen auf dem Substrat (3) gebildeten optischen Austrittswellenleiter (7) zum Verbinden der optischen Phasenverschiebungswellenleiter (6, 6) und zwei auf oder in der Nähe der optischen Phasenverschiebungswellenleiter (6, 6) gebildete Modulationselektroden (8, 8) aufweist;
einem den Sensorkopf (1) aufnehmenden Gehäuse (13); und
einer Antenne (14, 26), die zwei Antennenelemente (17, 18, 22, 23, 27, 28) aufweist, die entsprechend mit den zwei Modulationselektroden (8, 8) verbunden sind;
dadurch gekennzeichnet,
dass sich die zwei Antennenelemente (17, 18, 22, 23, 27, 28) in entgegengesetzte Richtungen parallel zu den optischen Phasenverschiebungswellenleitern (6, 6) erstrecken, wobei ihre Enden an einem Mittelabschnitt des Gehäuses angeordnet sind.
2. Sensor eines elektrischen Feldes nach Anspruch 1, bei dem die zwei Antennenelemente Stangenantennenelemente (17, 18) sind, die auf einer Außenseite des Gehäuses (13) angebracht sind.
3. Sensor eines elektrischen Feldes nach Anspruch 1, bei dem die zwei Antennenelemente Filmantennenelemente (22, 23) sind, die auf einer Außenoberfläche (21) des Gehäuses (13) gebildet sind.
4. Sensor eines elektrischen Feldes nach Anspruch 1, bei dem die zwei Antennenelemente Filmantennenelemente (27, 28) sind, die auf dem Substrat (3) gebildet sind.
5. Sensor eines elektrischen Feldes nach Anspruch 4, bei dem die Filmantennenelemente (27, 28) auf gegenüberliegenden Seiten im Bezug auf den optischen Modulator (4) entsprechend vorgesehen sind.
6. Sensor eines elektrischen Feldes nach Anspruch 4, bei dem die Filmantennenelemente (27, 28) auf der gleichen Seite in Bezug auf den optischen Modulator (4) vorgesehen sind.
DE69430728T 1993-07-07 1994-07-07 Fühler für elektrische felder Expired - Fee Related DE69430728T2 (de)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16786193A JPH0720178A (ja) 1993-07-07 1993-07-07 光電界センサ
JP5167857A JPH0720177A (ja) 1993-07-07 1993-07-07 光電界センサ
JP6053256A JPH07239356A (ja) 1994-02-25 1994-02-25 光電界センサ
PCT/JP1994/001110 WO1995002193A1 (fr) 1993-07-07 1994-07-07 Capteur de champs magnetiques

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69430728D1 DE69430728D1 (de) 2002-07-11
DE69430728T2 true DE69430728T2 (de) 2002-12-05

Family

ID=27294891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69430728T Expired - Fee Related DE69430728T2 (de) 1993-07-07 1994-07-07 Fühler für elektrische felder

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5488677A (de)
EP (1) EP0668508B1 (de)
KR (1) KR100220289B1 (de)
CN (1) CN1052071C (de)
CA (1) CA2144075C (de)
DE (1) DE69430728T2 (de)
WO (1) WO1995002193A1 (de)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3432957B2 (ja) * 1995-07-05 2003-08-04 三洋電機株式会社 光変調装置および光ファイバ通信システム
JP3411947B2 (ja) * 1995-08-08 2003-06-03 シャープ株式会社 電波−光変換変調装置及びそれを用いた通信システム
US6252557B1 (en) * 1999-09-30 2001-06-26 Lockheed Martin Corporation Photonics sensor array for wideband reception and processing of electromagnetic signals
US6686800B2 (en) 2001-02-13 2004-02-03 Quantum Applied Science And Research, Inc. Low noise, electric field sensor
US7088175B2 (en) * 2001-02-13 2006-08-08 Quantum Applied Science & Research, Inc. Low noise, electric field sensor
TW583399B (en) * 2002-12-31 2004-04-11 Ind Tech Res Inst An optical sensor for electromagnetic field
US7015011B2 (en) * 2003-04-18 2006-03-21 Electronic Biosciences, Llc Circuit and method to non-invasively detect the electrical potential of a cell or neuron
US6961601B2 (en) * 2003-06-11 2005-11-01 Quantum Applied Science & Research, Inc. Sensor system for measuring biopotentials
WO2005036096A2 (en) * 2003-10-07 2005-04-21 Quantum Applied Science And Research, Inc. Measuring vector components of an electric field
US7173437B2 (en) * 2004-06-10 2007-02-06 Quantum Applied Science And Research, Inc. Garment incorporating embedded physiological sensors
US7245956B2 (en) * 2004-07-15 2007-07-17 Quantum Applied Science & Research, Inc. Unobtrusive measurement system for bioelectric signals
US20060041196A1 (en) * 2004-08-17 2006-02-23 Quasar, Inc. Unobtrusive measurement system for bioelectric signals
JP4751601B2 (ja) * 2004-09-30 2011-08-17 住友大阪セメント株式会社 光変調器
JP4941298B2 (ja) * 2005-06-29 2012-05-30 日本電気株式会社 電界センサ、磁界センサ、電磁界センサ、及びそれらを用いた電磁界測定システム
US7450790B1 (en) * 2005-09-27 2008-11-11 The Regents Of The University Of California Non-electronic radio frequency front-end with immunity to electromagnetic pulse damage
WO2007094944A2 (en) * 2006-02-13 2007-08-23 Battelle Memorial Institute Millimeter and sub-millimeter wave detection
US7486247B2 (en) 2006-02-13 2009-02-03 Optimer Photonics, Inc. Millimeter and sub-millimeter wave detection
US7898464B1 (en) 2006-04-11 2011-03-01 Lockheed Martin Corporation System and method for transmitting signals via photonic excitation of a transmitter array
US20080068182A1 (en) * 2006-09-13 2008-03-20 Brian Watson Sensor for measuring relative conductivity changes in biological tissue
JP5439838B2 (ja) * 2009-02-10 2014-03-12 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 光変調器
JP5487774B2 (ja) * 2009-07-27 2014-05-07 富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 光デバイスおよび光送信機
CN103605006B (zh) * 2013-11-13 2016-08-03 清华大学 一种天线长度可调的光电电场传感器
JP6728596B2 (ja) * 2015-08-21 2020-07-22 セイコーエプソン株式会社 光変調器、光学モジュールおよび画像表示装置
CN106680595B (zh) * 2015-11-11 2019-09-10 北京卫星环境工程研究所 基于集成光波导的双探针电场测量装置
CN106672890B (zh) * 2016-12-13 2018-12-04 北京中科飞龙传感技术有限责任公司 一种灵敏度增强型电场传感器的封装盖板及封装方法
CN108957152B (zh) * 2018-07-02 2021-06-18 昆明理工大学 一种基于波长解调的集成光波导电场传感器系统及其测量方法
CN109768391B (zh) * 2018-12-29 2020-12-15 京信通信技术(广州)有限公司 天线、天线电下倾角的显示系统及其传动机构

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2516619C2 (de) * 1975-04-16 1983-12-01 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zum Messen eines elektrischen oder magnetischen Feldes
US4070621A (en) * 1976-07-23 1978-01-24 The United States Of America As Represented By The Department Of Health, Education And Welfare Antenna with electro-optical modulator
EP0112945B1 (de) * 1982-12-30 1987-05-06 International Business Machines Corporation Mit einer Flüssigkeit gefüllte Anzeigezelle und Verfahren zum Einfüllen und zur Siegelung einer solchen Zelle
JPS59124366U (ja) * 1983-02-10 1984-08-21 横河電機株式会社 光電圧計
JPS59155764A (ja) * 1983-02-24 1984-09-04 Yokogawa Hokushin Electric Corp 光電圧計
US5021731A (en) * 1989-02-21 1991-06-04 Metricor, Inc. Thermo-optical current sensor and thermo-optical current sensing systems
JPH0670653B2 (ja) * 1989-03-31 1994-09-07 日本碍子株式会社 光温度・電気量測定装置
US5008678A (en) * 1990-03-02 1991-04-16 Hughes Aircraft Company Electronically scanning vehicle radar sensor
IT1248820B (it) * 1990-05-25 1995-01-30 Pirelli Cavi Spa Sensore polarimetrico direzionale di campo
JP2619981B2 (ja) * 1990-11-06 1997-06-11 株式会社豊田中央研究所 電磁界強度測定装置
JPH04332878A (ja) * 1991-05-07 1992-11-19 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 電磁界強度測定装置
US5267336A (en) * 1992-05-04 1993-11-30 Srico, Inc. Electro-optical sensor for detecting electric fields
US5402259A (en) * 1993-04-23 1995-03-28 Trw Inc. Linear electroabsorptive modulator and related method of analog modulation of an optical carrier

Also Published As

Publication number Publication date
KR950703153A (ko) 1995-08-23
CA2144075A1 (en) 1995-01-19
EP0668508A4 (de) 1996-09-11
KR100220289B1 (ko) 1999-09-15
DE69430728D1 (de) 2002-07-11
EP0668508A1 (de) 1995-08-23
CN1052071C (zh) 2000-05-03
CA2144075C (en) 2002-01-08
WO1995002193A1 (fr) 1995-01-19
US5488677A (en) 1996-01-30
EP0668508B1 (de) 2002-06-05
CN1111917A (zh) 1995-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69430728T2 (de) Fühler für elektrische felder
DE3609507C2 (de) Faseroptisches Interferometer
DE69427219T2 (de) Fühler für elektrische felder
DE69711517T2 (de) Optischer Stromsensor
DE68911780T2 (de) Nicht-reziproke optische Anordnung.
DE69434204T2 (de) Optischer Magnetfeldfühler
DE69431513T2 (de) Fühler für elektrische felder
DE3625327C1 (de) Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung
DE3434575C1 (de) Ellipsometrische Vorrichtung zur Untersuchung der physikalischen Eigenschaften der Oberflaeche einer Probe
DE69101055T2 (de) Integrierter optischer pockelszellenspannungssensor.
EP0401654B1 (de) Vorrichtung zum Ein- und/oder Auskoppeln von Lichtstrahlen mit einem integriert-optischen Baustein
DE3541027C2 (de)
DE69414750T2 (de) Photodetektor und Verfahren zum Empfangen optischer Signale unbekannter Polarisation
EP0360176B1 (de) Optisches Wellenleitermodul mit Faserankopplung
DE69109535T2 (de) Gerichteter, polarimetrischer Feldsensor.
DE112012004046T5 (de) Vorrichtung zur Detektion einer elektromagnetischen Welle
DE69630186T2 (de) Faseroptischer Magnetfeldsensor
DE2450439C3 (de) Einrichtung zur berührungslosen Messung der Geschwindigkeit
DE69800341T2 (de) Verzweigt interferometrischer elektrooptischer Wellenleitermodulator mit geneigtem Reflektor
DE2852614A1 (de) Optisches messystem
DE2516619C2 (de) Vorrichtung zum Messen eines elektrischen oder magnetischen Feldes
DE69204705T2 (de) Magnetfeldmesseinrichtung.
EP0457024B1 (de) Laserleistungsmessung
DE3829103A1 (de) Optische sensoranordnung
DE3718192A1 (de) Vorrichtung zur messung des abstandes zwischen der vorrichtung und einer messflaeche

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee