DE2440120A1 - Vorrichtung zur wiedergabe der energieverteilung eines aus geladenen teilchen bestehenden strahles - Google Patents
Vorrichtung zur wiedergabe der energieverteilung eines aus geladenen teilchen bestehenden strahlesInfo
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Description
hätentanwälte Liedl, Dr. Pontani, Höth, Zeitler 2440120
B 6874
NlHON DENSHI KABUSHIKI KAISHA 1418, Nakagami-cho, Akishima-shi, Tokyo/ JAPAN
Vorrichtung zur Wiedergabe der Energieverteilung eines aus geladenen Teilchen bestehenden Strahles
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Wiedergabe der Energieverteilung
eines geladenen Teilchenstrahles. /
Bisher hat man bei der Untersuchung von zusammengesetzten Metallen
ein allgemein übliches Meßverfahren angewendet, bei dem man' den
Energieverlust (im folgenden als Plasmaverluet bezeichnet) des Elektronenstrahles
aufgrund der Plasmaschwingung an den Kristallkornr ·
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grenzen gemessen hat. Da der Plasmaverlust in Abhängigkeit der Anteilskomponenten
und der Phase der in Rede stehenden Legierung sich ändert, können die Werte des Plasmaverlustes und der Plasmaverschiebung
gemessen werden. Die Eigenschaften der Legierung ermittelt man, indem die Energie eines Elektronenstrahles, der durch eine
dünne Legierungsfolie als Probe an mehreren Bestrahlungspunkten hindurchgeschicht worden ist, analysiert. Es handelt sich hierbei
um einen Elektronenstrahl mit hoher Geschwindigkeit und gleichförmiger
Energie. Man vergleicht dann die Energieverteilung an jedem Bestrahlungspunkt, von denen jeder beispielsweise entlang einer Linie,
die die Korngrenze schneidet, liegt. Die Energieverteilung an den entsprechenden
Bestrahlungspunkten wurde dann beim bekannten Verfahren auf einer photographischen Platte aufgezeichnet und die Dichteverteilung
wurde Platte für Platte mittels eines Mikrophotometers (Densitometers)
gemessen. Dieses Verfahren erfordert einen hohen Zeitaufwand, da die Mikrophotometrie so oft durchgeführt werden muß, als
Bestrahlungspunkte vorhanden sind. Darüber hinaus gibt die mikrophotometrische Messung nicht genau wieder, wieweit die Energieverteilung
von der Korngrenze entfernt liegt. Ein weiterer Nachteil besteht darin, daß der Vergleich der gesamten Verteilungswellenformen nur
schwer durchgeführt werden kann.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein Wiedergabegerät zu zeigen,
mit dem genau wiedergegeben werden kann, wie weit die Energieverteilung von der Korngrenze entfernt liegt.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Vorrichtung zur Wiedergabe der
Energieverteilung von geladenen Teilchen, enthaltend Bestrahlungsmittel zum Bestrahlen einer Probe mit einem primären Teilchenstrahl,
Ablenkmittel zur Veränderung der Bestrahlungspunkte auf der Probe,
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ein Analysiergerät zum Analysieren der Energie der sekundären geladenen
Teilchen, welche von der Probe ausgesendet werden bzw. zur Analyse des Energieverlustes der primären geladenen Teilchen, welche
durch die Probe hindurchgeschickt worden sind, und Aufzeichnungsmittel, in welchen ein Aufzeichnungspunkt in der XY-Ebene durch
X-Achsen-Steuermittel und Y-Achsen-Steuermittel bestimmt wird, wobei die Steuermittel von einem Ausgangssignal des Analysiergerätes
gesteuert werden. Diese Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß ein Ausgangssignal eines Schrittsignalgenerators die Ablenkmittel
digital ansteuert, wobei das Schrittsignal an die Y-Achse-Steuermittel und ein Ausgangssignal eines Wobbeigenerators, der mit dem Schrittsignalgenerator
synchronisiert ist, den Analysator und die X-Achse-Steuermittel steuert.
Bei dem Energiewiedergabegerät gemäß der Erfindung wird die Messung
des Plasmaverlustes und der Plasmaverschiebung verwendet. Beispielsweise wird der durch eine dünne Legierungsfolie als Probe hindurchgeschickte
Elektronenstrahl an jedem Bestrahlungspunkt analysiert,
wobei der bestrahlende Elektronenstrahl eine gleichförmige Energie aufweist. Das Analysieren erfolgt mittels eines Analysator8,
dessen Ausgang auf dem Bildschirm einer Kathodenstrahlröhre wiedergegeben wird. Die Grundlinie der Energieverteilungekurve auf dem
Bildschirm der Kathodenstrahlröhre wird in Abhängigkeit von der Lage des Bestrahlungspunktes verschoben.
Vorteilhaft ist es bei der Erfindung, daß der Vergleich der gesamten
Verteilungswellenform erleichtert wird.
In den beiliegenden Figuren ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel
der Erfindung dargestellt. Anhand dieser Figuren soll die Erfindung noch näher erläutert werden. Es zeigen:
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Fig. 1 eine schematische Ansicht eines Ausfiihrungsbeispieles gemäß
der Erfindung;
Fig. 2 eine schematische Darstellung, welche zur Erläuterung der
Funktion des in der Fig. 1 dargestellten Ausführungebeispieles dient;
Fig. 3 eine Kurvendarstellung, welche die Bestrahlungspunkte des
E lektronenstrahles nahe der Korngrenze der Probe zeigt
und
Fig. 4 eine schema tische Darstellung der Energieverteilung auf
dem Bildschirm bei einem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1.
Ih der Fig. 1 wird ein Elektronenstrahi 1 von einer Elektronenstrahlquelle
2 erzeugt. Dieser wird mittels Kondensorlinsen 3 und 4 konvergiert und zur Bestrahlung auf eine Probe 5 gerichtet. 6X und 6Y sind
Ablenkspulen, welche zwischen den Kondensorlinsen 3 und 4 angeordnet
sind. Das Magnetfeld, das von diesen Ablenkspulen erzeugt wird, dient zum Ablenken des Elektronenstrahles !,und es wird hierdurch die
Bestrahlungsstelle auf der Probe geändert. Schalter S- und S« sind so
angeordnet, daß sie die Ablenkspulen 6X und 6Y an X- und Y-Signale
eines Sägezahngenerators 7 oder an eine Gleichspannung einer Gleichspannungsquelle
8 und dem Y-Signal eines Schrittgenerators 9 legen. Ferner wird ein Teil der X- und Y-Signale, welche vom Sägezahngenerator
7 ausgehen, in die Ablenkspule 1OX für die X-Achse und die Ablenkspule 1OY für die Y-Achse einer Kathodenstrahlröhre 11 über
Schalter Sg und S4 geliefert, Ein Detektor 12 für sekundäre bzw. reflektierte
Elektronen ist in der Nähe der Probe 5 angeordnet und der
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Ausgang dieses Detektors wird an das Gitter der Kathodenstrahlröhre 11
über einen Verstärker 13 und einen Schalter S,- gelegt. Ein Energieanalysator
14 zum Analysieren der Energie der Elektronen, welche durch die Probe 5 hindorchgetreten sind, ist unter der Probe angeordnet, wobei
dem Analysator ein Spalt 15 und ein zweiter Detektor 16 nachgeordnet sind. Mit 17 ist ein Wobbelgenerator bezeichnet, der ein Sägezahnsignal,
wie es in der Fig. 2a dargestellt ist, erzeugt. Dieses Sägezahnsignal
wird an den Energieanalysator 14 gelegt. Auf diese Weise werden
die Elektronen, welche im Analysator in bestimmte Energieniveaus unterteilt sind, aufeinanderfolgend durch den Spalt 15 hindurchgelassen
und gelangen in den Detektor 16. Ein Teil des Ausganges des Wobbelgenerator
17 wird an die Ablenkspule 1OX für die X-Achse der Kathodenstrahlröhre 11 über den Schalter S« gelegt. Ferner wird der Ausgang
des Detektors 16, nachdem er mittels eines Verstärkers 18 verstärkt
worden ist, an eine Addier schaltung 19 geliefert und zu dem vom Schrittsignalgenerator 9 kommenden Signal addiert. Der addierte Ausgang
der Addier schaltung 10 wird dann an die Ablenkspule 1OY für die Y-Achse der Kathodenstrahlröhre 11 über dem Schalter S4 geliefert.
Vom Schrittsignalgenerator 9 wird ein Schrittsignal, wie es in der Fig. 2b
dargestellt ist, erzeugt, und zwar in seitlicher Übereinstimmung mit
dem Signal, das vom Wobbelgenerator 17 erssugt wird. Wenn der Schalter
S„ in seine Stellung T0 gebracht ist, wird das Schrittsignal in die
Ablenkspule SY geliefert. Der Elektronenstrahl wird dann schrittweise,
wie das durch die Punkte p- „ ρ«, p„ ...... p„ in Fig. 3 dargestellt ist,
Lau Ii
verschoben. In der Fig. 3 seigt die Wellesütai© 0-0' die Korngrenze an.
A und B bedeuten das Korn, das ein Bestaadtail bzw. das Bestandteile
der Legierung sind. Die Liaie P zeigt die Richtung der Bestrahlungspunkte P1, ρ«, p„ . ρ , welche die Korngrenze 0-0' schneidet. Da
die .Schalter S^ - Sg verriegelt sind, wenn sie'an der Schalterstellung T-.
liegen, tastet der Elektronenstrahl 1 die Prob® 5 über eine bestimmte
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Probenfläche ab. Die Sekundärelektronen und dgl. werden vom Detektor
12 erfaßt und in ein elektrisches Signal umgewandelt. Dieses Signal wird vom Verstärker 13 verstärkt und an das Gitter der Kathodenstrahlröhre
11 als Helligkeitsmodulationssignal gelegt. Demgemäß wird ein Rasterbild bzw. Abtastbild der Probe 5 auf dem Bildschirm der Kathodenstrahlröhre
11 wiedergegeben. Der Teil bzw. die Teile des Bildes, an denen eine Messung des Plasmaverlustes erwünscht ist, werden
dann mit geeigneten Steuermitteln ausgewählt und eingestellt (d.h. fokussiert und zentriert).
Wenn andererseits die Schalter S-r S2, S« und S. sich an der Schalterstellung
Tn befinden, wird das vom Schrittsignalgenerator 9 kommende
Signal in die Ablenkspule 6Y geliefert. Das vom Wobbelgenerator 17 kommende Signal wird in die Ablenkspule 1OX der Kathodenstrahlröhre
geliefert. Das von der Addierschaltung 19 kommende Signal wird in die Ablenkspule 1ΘΥ der Kathodenstrahlröhre 11 geliefert. Demgemäß wird
ein Schrittsignal, wie es in der Fig. 2b dargestellt ist, an die Ablenkspule
6Y gelegt und wenn ein konstantes Signal an der Ablenkspule 6X liegt, wird der Elektronenstrahl schrittweise über die Oberfläche der
Probe hin abgelenkt. Beispielsweise bestrahlt der Elektronenstrahl
beim ersten Schritt den Bestrahlungspunkt p- in der Fig. 3, wobei die
Elektronen eimern Energieveriust unterliegen. Dieser Energieverlust
wird im Energieanalysator 14 analysiert und vom Detektor 16 erfaßt.
Das erfaßte Signal wird dann in der Addierschaltung 19 zum Schrittsignal
hinzuaddiert und der addierte Ausgang der Addierschaltung 19 wird an die Ablenkspule 1OY der Kathodenstrahlröhre 11 gelegt. Der
Energieanalysator wird vom Wobbelgenerator 17 über einen festgelegten
Energiebereich hin gewobbelt. Das vom Wobbelgenerator 17 erzeugte Signal wird auch an die Ablenkspule 1OX der Kathodenstrahlröhre 11
gelegt. Hieraus ergibt sich eine Eeergieverteilungswellenform C1, wie
sie in der Fig. 4 dargestellt ist. Diese Energieverteilungewellenform
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erscheint auf dem Bildschirm der Kathodenstrahlröhre 11. Dann wird
der zweite Schritt durchgeführt, wobei der Elektronenstrahl den Punkt p„
in der Fig. 3 bestrahlt. Der gleiche Vorgang wiederholt sich dann wie im Falle bei der Bestrahlung des Punktes p-. Es wird dann eineEnergieverteilungswellenform
C„ auf dem Bildschirm dargestellt. Diese Vorgänge wiederholen sich für alle Punkte von p- - ρ , so daß sich entsprechende
Verteilungskurven C- - C auf dem Bildschirm ergeben,
wie das in der Fig. 4 dargestellt ist. In der Fig. 4 zeigt die Abszisse X die Energie an und auf der Ordinate Y ist die Elektronenstrahlintensität
bzw. -stärke und der Abstand von der Korngrenze dargestellt.
Bei der im vorstehenden beschriebenen Ausführungsform kann die Verschiebung
des Plasmaverlustes in der Nähe der Korngrenze des zusammengesetzten Metalls innerhalb einer äußerst kurzen Zeitdauer gemessen
werden. Ferner kann die Verschiebung als Funktion des Abstandes von der Korngrenze aufgezeichnet werden. Da das Verhältnis der Größe
des Signales, das an die Ablenkspule 6Y vom Schrittsignalgenerator 9 gelegt wird, und die Größe des Signales, welches an die Ablenkspule 1OY
der Kathodenstrahlröhre 11 gelegt worden ist (d.h. die Vergrößerung), genau im voraus bestimmt werden kann, kann man ferner den Abstand
von der Korngrenze genau ermitteln, indem man den Abstand zwischen der Rasterbildvergrößerung und der Grundlinie von C1, C0 ..... C
La
η
mißt. Wie aus der Fig. 4 klar hervorgeht, kann nicht nur die Verschiebung
des Plasmaverlustes, sondern auch die Größenänderung bzw. Ihtensitätsänderung der Verteilungswellenformen miteinander verglichen
werden. Hierdurch wird die Plasmaverlustmessung extrem vereinfacht.
Die Erfindung ist nicht nur auf das im vorstehenden beschriebene bevorzugte
Ausführungsbeispiel beschränkt. Die Anwendungsmöglichkeiten sind äußerst breit. Beispielsweise kann die Erfindung bei einem
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spektroskopischen Analysiergerät verwendet werden, in welchem ein
Elektronenstrahl oder ein Röntgenstrahl oder dgl. eine Probe bestrahlt, wobei charakteristische Röntgenstrahlen in der gleichen Weise wie im
vorstehenden Beispiel sekundär erzeugt werden. Ih diesem Fall wird der Energieanalysator nicht benötigt und kann durch ein Goniometer
ersetzt werden, das mit einem spektroskopischen Kristall oder einem
nicht dispergierenden Festkörperdetektor (S. S. D.) ausgestattet ist.
Ferner kann die Erfindung auch bei der Elektronenspektroskopie für chemische Analysen (E.S.C. A.) oder bei einem Auger-Elektronenanalysator
verwendet werden.
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Claims (1)
- Vorrichtung zur Wiedergabe der Energieverteilung von geladenen Teilchen mit Bestrahlungsmitteta mm Bestrahlen einer Probe mit einem primären Teilchenstrahl, AMenkmittain zum Andern der Beatrahlungspunkte auf der Probe, einem Analysator zum Analysieren der Energie der sekundären geladenen Teilchen, welche von der Probe ausgesendet werden und/oder des Energlsverlustes der prünären geladenen Teilchen, weiche durch dl© Prob® hindurchgegangen sind, und mit einem Aufzeichnungsgerät, to weichem der Aufzeichnungspunkt in der XY-Ebene durch X-Achse-Steuermittel und Y-Achse-Steuermittei, die ¥ora einem Ausgangssignal da® Analysator β angesteuert werden, bestimmt ist, dadurch gekennzeichnet, daß ©in Ausgangssignal eines gSchrittsigxialgenerators (9) die Afolenkmittel digital ansteuert, wobei das Schrittsignal an die Y-Achse-St©u®rmitt@l gelegt ist und ein Ausgangesigaal eines Wobbeigensratore (17)? der mit dem Schrittsignalgenerator syMchronisiert ist, dem Analysator (S.4) und die X-Achse-509813/0757
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Families Citing this family (8)
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---|---|---|---|---|
US3965351A (en) * | 1974-10-30 | 1976-06-22 | The United States Of America As Represented By The United States Energy Research And Development Administration | Differential auger spectrometry |
JPS5780649A (en) * | 1980-11-10 | 1982-05-20 | Hitachi Ltd | Electron ray energy analyzer |
NL8600685A (nl) * | 1986-03-18 | 1987-10-16 | Philips Nv | Apparaat voor energie selectieve afbeelding. |
DE3820549A1 (de) * | 1988-06-16 | 1989-12-21 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und vorrichtung zur untersuchung von membranoberflaechen |
JPH04264243A (ja) * | 1991-02-20 | 1992-09-21 | Jeol Ltd | オージェ像計測におけるピークエネルギーシフト補正法 |
JPH1097836A (ja) * | 1996-09-24 | 1998-04-14 | Hitachi Keisokki Service Kk | 走査形電子顕微鏡 |
DE59806059D1 (de) * | 1997-07-04 | 2002-11-28 | Deutsches Krebsforsch | Verfahren zur detektion eines elementes in einer probe |
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Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3191028A (en) * | 1963-04-22 | 1965-06-22 | Albert V Crewe | Scanning electron microscope |
US3626184A (en) * | 1970-03-05 | 1971-12-07 | Atomic Energy Commission | Detector system for a scanning electron microscope |
US3812288A (en) * | 1972-11-21 | 1974-05-21 | Edax Int Inc | Television display system |
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- 1974-08-21 FR FR7428731A patent/FR2241785B1/fr not_active Expired
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NL180155C (nl) | 1987-01-02 |
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JPS5044889A (de) | 1975-04-22 |
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