DE2425757A1

DE2425757A1 - Testsystem fuer eine datenverarbeitungseinheit

Info

Publication number: DE2425757A1
Application number: DE19742425757
Authority: DE
Inventors: Gilles Bottard; Marcel Rottier
Original assignee: Bull SA
Current assignee: Bull SA
Priority date: 1973-05-28
Filing date: 1974-05-28
Publication date: 1975-01-09
Also published as: IT1012859B; JPS5042759A; GB1460827A; US3988579A; NL7407053A; FR2232255A5

Description

COMPAGIfIE HONEiWELL BULL
94, Avenue Gambetta
PARIS (20) /Frankreich.

Unser Zeichen: H 1005

Testsystem für eine Datenverarbeitungseinheit

Die Erfindung betrifft ein Tes'tsystem für eine Datenverarbeitungsei.iheit, die aus mehreren Funktionseinheiten besteht.

Die große Anzahl von Bauteilen, die in einem Computer verwendet werden, stellt ein schwieriges Problem dar bei dem Suchen und Auffinden der Fehler , die darin auftreten können. Allgemein unterscheidet man zwei Arten von Fehlern, die vorkommen können:. Die "dauernden" Fehler, die in irgendeinem Augenblick nach ihrem Auftreten festgestellt werden, und die vorübergehenden, "unregelmäßigen" Fehler, die mindestens einmal auftreten und verschwinden, wenn die Funktionseinheit oder das Bauteil am Anfang dieser letztgenannten Fehlerart in Betrieb ist.

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Das Aufspüren der Fehler erfolgt im allgmeinen durch Funktionsfehlerdetektoren, die am Ausgang von verschiedenen Funktionseinheiten eines Computers und insbesondere einer Datenverarbeitungseinheit angeordnet
.sind. Die Lokalisierung dieser Detektoren ermöglicht das Auffinden der fehlerhaften Funktionseinheit durch die Informationen, die zu dem zugeordneten Testsystem übertragen werden, welches ein mit einem Bildschirm ausgerüstetes Wartungskonsol aufweisen kann. Durch
eine genauere Annäherung an das Verhalten der fehlerhaften Funktionseinheit, beispielsweise durch ein Testprogramm, kann man nun die Gruppe oder die Gruppen von Bauteilen auffinden, die die Ursache des festgestellten Fehlers sind. Unter den unregelmäßigen Fehlern, die in einer Datenverarbeitungseinhext auftreten können, unterscheidet man hauptsächlich die, die aufgrund von Rauschen oder aufgrund jeder anderen
vorübergehenden Erscheinung, wie etwa mechanische
Schwingungen, auftreten. Unter den Funktionsfehlerdetektoren sind Paritätsprüfungsvorrichtungen die bekanntesten, die eine Kombination -von Bits liefern,
welche bei NichtVorhandensein eines Fehlers einen vorbestimmten Wert hat. Nachdem die Parität der in eine Funktionseinheit eingegebenen Daten und die Parität der derselben Einheit entnommenen Daten geprüft worden sind, ermöglicht der Vergleich dieser beiden Paritäten festzustellen, ob in der betreffenden Funktionseinheit ein Fehler aufgetreten ist. Zum Auswerten der mit Hilfe der Parität ausgeführten Feststellung von Fehlern können verschiedene Verfahren verwendet werden, um danach festzustellen, ob es sich um einen Dauerfehler handelt,und um diesen Fehler auf dem Niveau
einer Funktionseinheit oder eines Bauteils dieser
Einheit aufzufinden. Verschiedene bekannte Verfahren ermöglichen außerdem, einige unregelmäßige Fehler
auf dem Niveau einer Funktionseinheit festzustellen. Zum Beispiel, eine erneute Verarbeitüngsausführung kann

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in einer Funktionseinheit eingeleitet werden, die sich als fehlerhaft erwiesen hat, indem dieselben Daten in die betreffende Einheit zurückgeschickt werden, um festzustellen, ob sich der Fehler erneut einstellt. Wenn noch ein Fehler festgestellt wird, wird der Fehler als Dauerfehler betrachtet und es wird ein Programm begonnen. Wenn dagegen nach der Wiederausführung der Fehler verschwunden ist, wird die Datenverarbeitung in der betreff erden Datenverarbeitungsej.nheit fortgesetzt. Man wird feststellen, daß diese Art des Vorgehens zwar ein Mittel zum Aufsprüren bestimmter unregelmäßiger Fehler darstellt, jedoch kein Mittel, um sie auf dem Niveau des für den Fehler verantwortlichen Bauteils aufzufinden. Andererseits kann die Zeit, die bei der Wiederausführung von bestimmten Verarbeitungen vergangen ist,,in dem Fall von unregelmäßigen Fehlern mit großer Erscheinungsfrequenz groß werden und die Verarbeitungszeit durch mehrere Wiederausführungen verzögern, bevor ein unregelmäßiger Fehler als ausreichend schwer angesehen wird, um die Daten- ■ Verarbeitungseinheit anzuhalten und eine Person zum Beseitigen des Fehlers eingreifen zu lassen. Zur Beseitigung dieser Nachteile bestehen bestimmte Verfahren darin, festzustellen, ob eine Funktionseinheit während eines bestimmten Verarbeitungszyklus in Betrieb ist oder nicht. Wenn in einer in Betrieb befindlichen Funktionseinheit ein Fehler festgestellt wird, wird in herkömmlicher Weise ein Fehlerprogramm ausgeführt. Wenn die Funktionseinheit nicht in Betrieb ist, wird ein Testwort eingegeben, um zu prüfen, ob sie fehlerhaft arbeitet oder nicht. In dem Fall eines Fehlers wird ein Wartezyklus eingeleitet, um erneut Testdaten in diese Funktionseinheit einzugeben und so zu prüfen, ob der Fehler noch vorhanden ist. In dem Fall, in welchem der Fehler noch vorhanden ist, wird das Fehlerprogramm ausgeführt. Wenn die Wiederausführung keinen Fehler angezeigt hat,, wird der Wartezyklus auf-

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gehoben und die Verarbeitung wird fortgesetzt. Auf diese Weise wird, da der Test ausgeführt wird, wenn die Funktionseinheit nicht in Betrieb ist, der Fehler aufgefunden, bevor die Daten durch diese Funktionseinheit verarbeitet werden; das ermöglicht das Aufspüren eines Fehlers, bevor Daten verstümmelt werden. Dieses Verfahren bietet die Vorteile einer Fehlererkennung im voraus, die insbesondere eine Umgestaltung der Stromkreise ermöglichtj bevor in den verschiedenen Funktionseinheiten eine Verarbeitung ausgeführt wird. Man vermeidet auf diese Weise, daß die betreffende Datenverarbeitungseinheit trotz eines fehlerhaften Arbeitens in Betrieb gesetzt wird. Der Nachteil eines solchen Verfahrens besteht darin, daß es nicht das rechtzeitige Erkennen von bestimmten störenden unregelmäßigen Fehlern ermöglicht. Wenn nämlich eine Funktionseinheit vor ihrer Inbetriebnahme geprüft wird, kommt es häufig vor, daß ein unregelmäßiger Fehler erst nach dem Testzyklus dieser Funktionseinheit auftritt, das heißt im Verarbeitungsverlauf. In dem letztgenannten Fall weist ein solches Verfahren dieselben Nachteile wie die weiter oben angegebenen auf. .

Damit vermieden wird, daß die unregelmäßigen Fehler eine auszuführende Verarbeitung zu sehr stören, ist es wichtig, daß sie in jedem Augenblick, d.h. vor der Ausführung der Verarbeitungen, aber auch im Verarbeitungsverlauf festgestellt und sehr schnell aufgefunden werden können.

Ein integriertes Testsystem, wie es beispielsweise in der deutschen Patentanmeldung P 24 12 179.7 "Testsystem für eine Datenverarbeitungseinheit", vom 14· März 1974 vorgeschlagaiist, ermöglicht, sehr schnell auf das Auftreten eines Fehlers im Verlauf der Daten-

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verarbeitung zu reagieren und den Test der betreffenden Datenverarbeitungseinheit zur Fehlererkennung in derselben genausogut bei ihrer Inbetriebsetzung wie in jedem anderen Augenblick auszuführen. Ein Befehl zur Ausführung des Tests kann bei einem solchen System außerdem entweder aus einem anderen Teil des Computers/ der die zu testende Datenverarbeitungseinheit enthält (beispielsweise wie eine andere Datenverarbeitungseinheit) oder aus einer Wartungsstation stammen . In dem Maße , in welchem die Steuerung der Tests automatisch erfolgt, und in dem Maß, wie schnell diese ausgeführt werden können, kann man eine große Anzahl von Fehlern feststellen, deren Auftrittsdauer im Vergleich zu der Ausführungsdauer eines Tests zum genauen Auffinden des Fehlers ausreichend groß ist. Wenn es sich um unregelmäßige Fehler handelt, sind das Erkennen und vor allem das Auffinden schwieriger zu verwirklichen. Ein unregelmäßiger Fehler kann nämlich eine geringe Erscheinungsfrequenz haben, in welchem Fall er nicht die Datenverarbeitungseinheit daran zu hindern braucht, für den Anwender verfügbar zu bleiben, solange das Erscheinen dieses Fehlers nicht erkannt wird. Im Gegensatz dazu kann ein unregelmäßiger Fehler eine große Erscheinungsfrequenz haben, in welchem Fall man nicht zulassen kann, eine Verarbeitung fortzusetzen, die falsche Ergebnisse liefert. Schließlich kann ein unregelmäßiger Fehler zwar sehr kurzzeitig auftreten, dieser Fehler kann jedoch, obwohl er schnell vorübergeht/ die gerade ablaufende Verarbeitung stören und die Ergebnisse verfälschen. In dem letztgenannten Fall muß außerdem die Störung identifiziert werden können. Man kann annehmen , daß ein unregelmäßiger Fehler feststellbar ist und daß seine Lokalisierung möglich ist, wenn die Dauer des Vorhandenseins dieses Fehlers mindestens gleich der Dauer der Testfolge ist, die auszuführen ist, damit die betreffende Funktionseinheit getestet wird.

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Diese Bedingung ist aber nicht ausreichend. Der Augenblick des Auftretens des Fehlers in bezug auf die zum Erkennen und Auffinden des Fehlers ausgeführte Testfolge ist nämlich ebenfalls von Bedeutung. Wenn, beispielsweise, ein vorübergehender Fehler nur am Ende der Testfolge auftritt, ist seine Auftrittsdauer, selbst wenn er erkannt wird, während dieser Testfolge zu kurz, um ausreichende Symptome zu seiner Auffindung zu bestimmen. Wenn ein unregelmäßiger Fehler nach dem Beginn einer Testfolge auftritt und die Ausführung dieser Testfolge bis zum Ende fortgesetzt wird, werden ebenfalls nicht immer alle für die Identifizierung des Fehlers erforderlichen Symptome erfaßt.

Eines der Ziele der Erfindung besteht darin, das sofortige Ablaufenlassen des Tests mindestens einer Funktionseinheit einer Datenverarbeitunjseinheit zu ermöglichen, sobald im Verarbeitungsverlauf dieser Datenverarbeitungseinheit ein Fehler erkannt wird. Ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, die Ausführung von Tests in einer DatenverarbeitungseLrheit zu ermöglichen, bis ein Fehler auftritt.

Ein anderes Ziel der Erfindung ist es, die wiederholte Ausführung des Tests mindestens einer Funktionseinheit einer Datenverarbeitungseinheit zu ermöglichen.

Noch ein weiteres Ziel der Erfindung besteht darin, den Test der verschiedenen Funktionseinheiten einer Datenverarbeitungseinheit in Testfolgen von kurzer Dauer in bezug auf die Auftrittsdauer der vorhersehbaren unregelmäßigen Fehler durchführen zu können, die in lästiger Weise die auszuführenden Datenverarbeitungen stören können.

Gemäß der Erfindung ist das Testsystem für eine Daten-

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Verarbeitungseinheit, die aus η Funktionseinheiten besteht, von denen eine einen permanenten Speicher und dessen Adressierungsschaltung aufweist, wobei das Testsystem durch in einer Zone des permanenten Speichers gespeicherte" Testmikroprogramme und durch mit diesem Speicher verbundene Testschaltungen in die Datenverarbeitungseinheit integriert ist, wobei die Testmikroprogramme so aufgebaut sind, daß die η Funktionseinheiten durch eine Gruppe von durch die Testschaltungen ausgeführten Mikrobefehlen gestestet und alle jedem vorhersehbaren Fehler zugeordneten Symptome erfaßt werden, und wobei die Testschaltungen mit zwei Detektoren zum Erkennen der Fehler in den η Funktionseinheiten im Verlauf des Tests bzw. im Verlauf der Datenverarbeitung versehen sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Testmikroprogramme in der Reihenfolge der Adressierung der Zone Z des permanenten Speichers RO durch die Adressierungsschaltung AD gespeichert sind, damit die η Funktionseinheiten F1... Fn in einer Aufeinanderfolge von η Mikrobefehlsfolgen nacheinander getestet werden, daß-die η Mikrobefehlsfolgen so aufgebaut sind, daß die Fehler in den η Funktionseinheiten durch einen der Detektoren erkannt werden bzw. daß alle für das Auffinden eines Fehlers unter allen vorhersehbaren dauernden bzw. unregelmäßigen Fehlern in den η Funktionseinheiten erforderlichen Symptome S durch die Testschaltungen erfaßt werden, und daß die Testschaltungen außerdem eine mit dem einen Detektor E1 und mit der Adressierungsschaltung AD verbundene erste Schaltung zum Steuern der wiederholten Ausführung von mindestens einer der η Mikrobefehlsfolgen, eine mit dem anderen Detektor E2 und der Adressierungsschaltung AD verbundene zweite Schaltung, mittels welcher mindestens einmal der Test einer fehlerhaften Funktionseinheit der η Funktionseinheiten im Verlauf der Datenverarbeitung ausgelöä;wird, und eine mit dem einen Detektor E1 verbundene dritte

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Entscheidungsschaltung haben, die ein Freigabesignal für die erste Schaltung erzeugt, wenn nicht alle für die Diagnostik erforderlichen FehlerSymptome nach dem Test einer fehlerhaften Funktionseinheit erfaßt sind, und die ein Diagnostikfreigabesignal erzeugt, wenn alle FehlerSymptome in einer fehlerhaften Funktionseinheit erfaßt worden s ind.

Weitere Merkmale und Vorteile ergeben sich aus der folgenden Beschreibung, die lediglich als Beispiel dient und nicht als Einschränkung zu verstehen ist, unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen. Es zeigen:

Fig. 1 ein Prinzipschaltbild eines Testsystems nach der Erfindung für eine Datenverarbeitungseinheit ,

Fig. 2 ein Ablaufdiagramm, welches die prinzipielle Arbeitsweise des Testsystems nach der Erfindung zeigt,

Fig. 3 ein Ablaufdiagramm, welches eine besondere Betriebsart des Testsystems nach der Erfindung zeigt, und

Fig. 4 ein Schema einer Ausführungsform des Testsystems nach der Erfindung, dessen Betriebsart in Fig. 3 gezeigt ist.

Die η Funktionseinheiten F1, ... Fn einer Datenverarbeitungseinheit P1 sind in Fig. 1 zusammen mit ihrem verbesserten Testsystem dargestellt, welches Ziel der Erfindung ist. Diese Funktionseinheiten enthalten insbesondere eine Funktionseinheit F2, die aus einem permanenten Speicher RO und seiner Adressierungsschal-

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tung AD besteht. Der Speicher RO enthält eine Speicher zone für die Betriebsmikroprogr amine der Datenverarbeitungseinheit P1 (in Fig. 1 nicht dargestellt) und eine Speicher zone Z für die Testini kroprogramme, die einen Teil des Testsystems bilden, von welchem eine Verbesserung hier beschrieben wird. Die Zone Z^- des Speichers RO enthält η Teilzonen s1...sn (vgl..Fig. 1), die in der Reihenfolge angeordnet sind ,in da: die normale Adressierung des Speichers RO durch die Adressierungsschaltung AD die Ausführung von η aufeinanderfolgenden Mikrobefehlsfolgen steuert, damit nacheinander die η Funktionseinheiten F1,...Fn getestet werden und damit im Fall des Vorhandenseins eines Fehlers alle die Symptome erfaßt werden, die das Auffinden dieses Fehlers in einer der η Funktionseinheiten ermöglichen. Unter der normalen Adressierung des Speichers RO versteht man die bekannten Einrichtungen, durch welche die Schaltung AD den Speicher RO bei jedem Lesezyklus adressiert, indem sie die Adresse des Wortes, das soeben in dem Speicher gelesen worden ist, am eine Einheit erhöht.Durch den Ausgang des Speichers RO v/erden Testdaten t1,...,tn den betreffenden Funktionseinheiten F1,...,Fn zugeführt. In Fig. 1 nicht dargestellte bekannte Funktionsfehlerdetektoren sind am Ausgang der verschiedenen zu testenden Funktionseinheiten angeordnet, damit Signale e1,...,en im Fall eines Fehlers in den betreffenden Funktionseinheiten F1,...Fn erzeugt werden. Die Signale el,...,en werden einem Detektor E1 zugeführt, der in Testschaltungen T enthalten ist, die zu dem System gehören, auf dessen Verbesserung die Erfindung abzielt. Bei dem Test der Datenverarbeitungseinheit P1 zeigt folglich das Vorhandensein eines der Signale e1,...,en durch den Detektor E1 das Vorhandensein eines Fehlers in einer der Funktionseinheiten F1,...,Fn

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an und ermöglicht durch die Herkunft dieses Signals das Auffinden der fehlerhaften Funktionseinheit. Desgleichen wird während der Datenverarbeitung in der Einheit P1 das,Vorhandensein von fehlerhaften Daten am Ausgang einer der Funktionseinheiten F1,.../Fn durch den entsprechenden Funktionsfehlerdetektor erkannt und eines der Signale e1,...,en wird zu einem in den Testschaltungen T enthaltenen Detektor E2 übertragen. Durch einen Ausgang 10 des Detektors E2 wird einer Schaltung das Vorhandensein eines Fehlers in der Datenverarbeitungseinheit P1 angezeigt. Durch einen Ausgang 11 desselben Detektors wird eine Gruppe von Signalen der Schaltung 2 zugeführt, um anzuzeigen, in welcher Funktionseinheit der Detektor E2 einen Fehler im Verlauf der Datenverarbeitung erkannt hat. Durch einen Ausgang 12 der Schaltung 2, der mit dem Eingang der Adressierungsschaltung AD verbunden ist, wird dem Speicher RO eine Gruppe von Signalen für die Adressierung desselben an der ersten Adresse einer der Zonen s1,...,sn zugeführt, die die Mikrobefehle für den Test der durch den Detektor E2 angezeigten fehlerhaften Funktionseinheit enthalten. Das Vorhandensein eines der Signale e1,...,en, welches durch eine der Funktionseinheiten F1,...,Fn erzeugt worden ist, zeigt durch einen mit einer Schaltung 1 verbundenen Ausgang 13 des Detektors E1 das Vorhandensein eines Fehlers in der mit demselben L'ndex versehenen Funktionseinheit an. Durch einen Ausgang 14 des Detektors E1 wird der Schaltung 1 eine Signalgruppe : zugeführt, die anzeigt, in welcher Funktionseinheit der Detektor E1 einen Fehler im Verlauf des Tests der Datenverarbeitungseinheit P1 erkannt hat. Durch einen mit dem Eingang der Adressierungsschaltung AD verbundenen Ausgang 15 der Schaltung 1 wird eine Signalgruppe dem Speicher RO zur Adressierung desselben an der ersten Adresse der Zone der Zonenanordnung s1,...,sn zugeführt, die die Mikrobefehle für den Test der durch

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den Detektor Et angezeigten fehlerhaften Punktionseinheit enthält. Aufgrund der Mikrobefehle, die in jeder der Zonen si,...,sn enthalten sind, gibt mindestens eine Signalkombination, die aus einer-der getesteten Funktionseinheiten stammt, durch bekannte Einrichtungen, die mindestens eine Speiohereinheit der Gesamtheit von Einheiten P1,·..,Pn zum Eingreifen bringen, die Symptome S an, die das Auffinden eines in einer Punktionseinheit durch den Detektor E1 erkannten Fehlers ermöglichen. In Fig. 1 ist eine Entscheidungsschaltung 3, die mit dem Ausgang 13 des Detektors E1 verbunden ist, so aufgebaut, daß sie anzeigt, ob alle Symptome S/ die für das Auffinden eines Fehlers in der durch den Detektor E1 als fehlerhaft erkannten Funktionseinheit erforderlich sind, zur Verfügung stehen. Durch einen Ausgang 16 der Schaltung 3 wird ein Freigabesignal für die Schaltung 1 abgegeben, wenn nicht alle Symptome S zur Verfügung stehen. Durch einen Ausgang 17 der Schaltung 3 wird, wenn alle Symptome S zur Verfügung stehen, ein Diägnostikfreigabesignal an eine Schaltung 18 abgegeben, die die Symptome S zu einer Diagnostikvorrichtung überträgt, bei welcher es sich um eine mit der Datenverarbeitungseinheit P1 verbundene äußere Einrichtung handeln kann. Als Beispiel zeigt die Fig. 1 außerdem, daß die Detektoren E1 und E2 im Verlauf des Tests der Datenverarbeitungseinheit P1 bzw. im Verlauf der Verarbeitung in dieser Datenverarbeitungseinheit durch zwei Verbindungen des Ausganges des Speichers RO mit den Detektoren E1' und E2 freigegeben werden. Die Steuerung der Schaltung 3 ist in Fig. 1 ebenfalls'lediglich als Beispiel durch eine Verbindung des Ausganges des Speichers RO mit dieser Schaltung 3 angegeben.

Das Ablaufdiagramm in Fig. 2 gibt die Arbeitsweise des in Fig. 1 dargestellten Testsystems an. Durch ein

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Inbetriebsetzen der Datenverarbeitungseinheit P1, was von Hand erfolgen kann, wird der Test der ersten Funktionseinheit F1 durch die in der eingangs genannten Patentanmeldung genannten Einrichtungen automatisch in Gang gesetzt. Der Detektor E1 ermöglicht anzuzeigen, ob im Verlauf des Tests in der Funktionseinheit F1 ein Fehler erkannt worden ist. Wenn ein Fehler erkannt worden ist und wenn der Augenblick des Auftretens dieses Fehlers nicht das Erfassen sämtlicher Symptome zum Auffinden des Fehlers ermöglicht hat, wird durch die Schaltung 1 von Fig. 1 der Befehl zum erneuten Ausführen des Tests der Funktionseinheit F1 gegeben. Wenn dagegen sämtliche Symptome verfügbar sind, ermöglicht die Schaltung 3 das Ausführen einer Diagnostik zum Auffinden des Fehlers in der Funktionseinheit F1. In dem Fall, in welchem im Verlauf des Tests der Funktionseinheit F1 kein Fehler festgestellt worden ist, wird der Test der Funktionseinheit F2 eingeleitet, usw., bis zu dem Test der Funktionseinheit Fn. Wenn der Detektor E1 keinen Fehler in der Funktionseinheit Fn erkennt, wird ein Signal, welches das richtige Arbeiten der Datenverarbeitungseinheit P1 (nicht dargestellt) angibt, durch die Testschaltungen T von Fig. 1 mit Hilfe von in der eingangs genannten Patentanmeldung vorgeschlagenen Einrichtungen erzeugt, welches die Verarbeitung von Daten in der Datenverarbeitungseinheit P1 freigibt. Die bereits erwähnten Funktionsfehlerdetektoren greifen im Verlauf der Verarbeitung von Daten ein, falls in einer der Funktionseinheiten F1,...,Fn Fehler auftreten, damit durch den Detektor E2 in codierter Form die Identität der Funktionseinheit Fj geliefert wird, die den Fehler verursacht hat. Durch bekannte Einrichtungen wird eine Entsprechung zwischen der codierten Identität der Funktionseinheit Fj und der Adresse des Speichers RO hergestellt, an welcher der Anfang der Mikrobefehlsfolge gespeichert ist, d.h. der Zone sj für den Test der Funktionseinheit Fj. Die

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Verbindung des Ausgangs 12 der Schaltung 2 mit dem Eingang der Adressierungsschaltung AD läßt die aus dem Detektor E2 stammende Information hindurchgehen, was der Adressierungsschaltung AD das Steuern der Ausführung der Testfolge der Funktionseinheit Fj ermöglicht. Wenn im Verlauf des Tests der Funktionseinheit Fj der Detektor E1 einen Fehler erkennt und wenn sämtliche FehlerSymptome erfaßt werden, wird die Datenverarbeitungseinheit P1 angehalten und die Diagnostik wird durchgeführt. Wenn der Detektor E1 zwar einen Fehler erkannt hat, aber wenn nicht sämtliche Fehlersymptome erfaßt worden sind, wird der Test der Funktionseinheit Fj erneut durchgeführt. Wenn der Test der Funktionseinheit Fj nicht das Erkennen des zuvor durch den Detektor E2 festgestellten Fehlers ermöglicht, wird der Test der Funktionseinheit Fj erneut durchgeführt, bis der Fehler wieder erscheint und durch den Detektor E1 erkannt wird. Wie zuvor, wird die Diagnostik nur durchgeführt, wenn sämtliche Fehlersymptome verfügbar sind. So kann ein unregelmäßiger Fehler, der ein erstes Mal im Verlauf der Verarbeitung von Daten aufgetreten ist, während der Ausführung eines ersten Testzyklus der durch den Detektor E2 als fehlerhaft erkannten Funktionseinheit Fj verschwinden. Durch die wiederholte Ausführung des Tests der Funktionseinheit Fj, die bei Vorhandensein eines von dem Detektor E2 gelieferten Signals und bei Nichtvorhandensein eines von dem Detektor El gelieferten Signals in Gang gesetzt wird, kann der unregelmäßige Fehler, der zuvor wieder verschwunden ist, durch den Detektor E1 erneut erkannt werden, und die Diagnostik kann unter den bereits beschriebenen Bedingungen ausgeführt werden. Das mit Bezug auf die Fig. 1 und 2 beschriebene Testsystem umfaßt Einrichtungen zum Testen der Datenverarbeitungseinheit P1 durch Testfolgen, die in bezug^auf die Dauer des vollständigen Tests dieser Einheit und unter Berücksichtigung der Anzahl von

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Funktionseinheiten, die in einer Datenverarbeftürigseinheit enthalten sind, verhältnismäßig kurz sind. Auf diese Weise ist die relative Kürze der Ausführung jeder Testfolge, die durch die Erfindung erzielt wird, mit der Kürze des Auftretens der"vorhersehbaren unregelmäßigen Fehler kompatibel, die in lästiger Weise die in der Datenverarbeitungseinheit P1 auszuführenden Verarbeitungen stören können. So ist die Dauer einer der Testfolgen mit der Zeit kompatibel, die erforderlich ist, um sämtliche Symptome (auf dem Niveau der betreffenden Funktionseinheit) zu erfassen, die das Auffinden eines vorübergehenden Fehlers in einer Funktionseinheit der Datenverarbeitungseinheit P1 ermöglichen.

Eine besondere Betriebsart eines Testsystems nach der Erfindung ist in Fig. 3 angegeben. Die Datenverarbeitungseinheit P1, die in diesem Fall zu testen ist, enthält eine Initialisierungsschaltung, die bei dem Inbetriebsetzen der Datenverarbeitungseinheit P1 in Gang gesetzt wird, um sämtliche Speichereinheiten in dieser Datenverarbeitungseinheit wieder auf Null zu setzen, bevor in derselben eine Verarbeitung ausgeführt wird. In der eingangs genannten Patentanmeldung sind die (die Initialisierungsschaltung enthaltenden) Einrichtungen vorgeschlagen, mittels welchen die Datenverarbeitungseinheit P1 von einem Referenzanfangszustand aus getestet wird. Die gemäß der in Fig. 3 ange- ■ gebenen Art getestete Datenverarbeitungseinheit P1 weist eine Funktionseinheit F1 auf, die die logischen Grundschaltungen enthält, mittels welchen die Datenverarbeitungseinheit P1 arbeiten kann. In diesem Fall braucht der Test der anderen Funktionseinheiten F2,.,.,Fn nur in dem Maß ausgeführt zu werden, wie die Funktionseinheit F1 in fehlerfreiem Betriebszustand ist. Wenn in der Funktionseinheit Fj durch den Detektor E2 ein Fehler erkannt wird, geht dem Befehl zur Ausführung des

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Tests dieser Funktionseinheit/ der in Fig. 2 angegeben ist, automatisch der Test der Funktionseinheit F1 voran, wie es in Fig. 3 angegeben ist. Wenn der Test der Funktionseinheit F1 ausgeführt worden ist, ohne daß durch den Detektor E1 irgendein Fehler erkannt worden ist, ermöglicht der in der Zone si in Fig. 1 enthaltene letzte Mikrobefehl das Anfordern der durch den Detektor E2 gegebenen Informationen, die- angeben, ob in einer Funktionseinheit Fj ein Fehler erkannt, worden ist und ob diese Funktionseinheit eine der folgenden Funktionseinheiten ist: F3, F4, ...,Fn, Wenn die Funktionseinheit Fj eine der genannten Funktionseinheiten ist, wird der Test derselben durch den direkten Zugriff auf die entsprechende Folge in der Zone sj des Speichers RO ausgeführt. Wenn die

Funktionseinheit Fj keine der genannten Funktionseinheiten ist, wird der Test der Funktionseinheit F2 durch Zugriff zu der entsprechenden Folge in der Zone s2 des Speichers RO ausgeführt. Wie in Fig. 2 angegeben, wird nach dem Test jeder Funktionseinheit der Test erneut ausgeführt, und zwar entweder in dem Fall, in welchem durch den Detektor E1 ein Fehler festgestellt wird, wenn sämtliche Fehlersymptome nicht zur Verfügung stehen, oder in dem Fall, daß durch den Detektor E2 im Verlauf der unterbrochenen Verarbeitung e.in Fehler festgestellt wird. Fig. 3 zeigt insbesondere, daß der Test der Funktionseinheit Fn entweder sofort nach dem Test der Funktionseinheit F1 auf das Feststellen eines Fehlers durch den Detektor E2 im Verlauf, der Verarbeitung von Daten hin ausgeführt wird oder erst, nachdem sämtliche Funktionseinheiten F1,...Fn-1, die der Funktionseinheit Fn vorangehen, bei der Inbetriebnahme der Datenverarbeitungseinheit P1 getestet worden sind. Wenn der Detektor E1 im Verlauf des Tests der Funktionseinheit Fn keinen Fehler erkennt, nachdem der Detektor E2 dabei einen Fehler festgestellt hat, wird

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der Test der Funktionseinheit Fn nach dem Test der Funktionseinheit F1 erneut durchgeführt- Wenn der Detektor E1 nach der Feststellung eines Fehlers durch den Detektor E2 einen Fehler feststellt und wenn sämtliche Fehlersymptome verfügbar sind, wird die Diagnostik durchgeführt. Wenn nicht sämtliche Fehlersymptome verfügbar sind, wird der Test der Funktionseinheit Fn nach dem Test der Funktionseinheit F1 erneut durchgeführt. Wenn der Detektor E1 in der Funktionseinheit Fn bei der Inbetriebnahme der Datenverarbeitungseinheit P1 keinen Fehler feststellt, nachdem nacheinander die Funktionseinheiten F1, ...Fn-1 getestet worden sind , wird, beispielsweise, durch den .Speicher RO ein Freigabesignal für die Verarbeitung von Daten in der Datenverarbeitungseinheit P1 erzeugt und durch die Testschaltungen T von Fig. 1 übertragen .

In Fig. 4 wird'W; die Funktionseinheit F1 (der Gesamtheit von Funktionseinheiten F1,...Fn), die die logische Grundschaltung der Datenverarbeitungseinheit P1 enthält, durch eine Signalgruppe ti getestet, die aus dem permanenten Speicher RO von Fig. 1 kommt. .Die Ausgänge der Funktionseinheit F1 sind mit einem Funktionsfehlerdetektor f1 verbunden. Desgleichen ist die in Fig. 4 nicht dargestellte Funktionseinheit Fn durch ihre Ausgänge mxt einem Funktionsfehlerdetektor fn verbunden. Wenn eine der Funktionseinheiten F1,...,Fn fehlerhaft arbeitet, gibt der entsprechende Detektor aus der Gesamtheit der Detektoren f1,...,fn an seinem Ausgang ein Fehlersignal (der Gesamtheit der Signale e1,...,en) an eine der Kippschaltungen b1,...,bn ab, die ein in den Detektoren E1 und E2 von Fig. 1 enthaltenes Register R bilden. Das Abfragen der verschiedenen Kippschaltung b1,...,bn ermöglicht auf diese Weise, eine fehlerhaft arbeitende Funktionseinheit zu

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identifizieren. Wenn, beispielsweise, eines der Fehlersignale el,...,en die entsprechende Kippschaltung in den logischen Zustand 1 setzt, wird die fehlerhaft arbeitende Funktionseinheit durch diesen logischen Zustand 1 der Kippschaltung aufgefunden. Der Detektor E1 von Fig» 1 enthält in Fig. 4 außer dem Register R eine übertragungsschaltung 40, die aus einer Gruppe von UND-Schaltungen besteht, welche die aus dem Register R kommende Signalgruppe durch ein Freigabesighal, welches im Verlauf des Tests der Datenverarbeitungseinheit P1 durch den permanenten Speicher RO erzeugt wird, zu einer ODER-Schaltung 41 durchläßt.

Ein Signal an dem Ausgang 13 der ODER-Schaltung 41 zeigt an, daß in einer der Funktionseinheiten F1,...,Fn ein Fehler erzeugt worden ist und daß der Fehler im Verlauf des Tests der Datenverarbeitungseinheit P1 erkannt worden ist. Der Detektor E2 von Fig. 4 enthält außer dem Register R eine übertragungsschaltung 42 analog der Schaltung 40, die durch ein Signal freigegeben wird, welches im Verlauf der Verarbeitung von Daten aus dem permanenten Speicher RO kommt, sofern durch die Detektoren El und E2 kein Fehler festgestellt worden ist. Eine ODER-Schaltung 43, die am Ausgang der übertragungsschaltung 42 angeordnet ist, zeigt durch exn Signal an ihrem Ausgang 10 das Vorhandensein eines Fehlers in. einer in der Verarbeitung von Daten begriffenen Funktionseinheit an. Die Adressierungsschaltung AD des permanenten Speichers RO von Fig. 1 ist in Fig. "'4 mit einem zusätzlichen Eingang 44 dargestellt, der mit einer Schaltung I zum Initialisieren der Datenverarbeitungseinheit P1 verbunden ist. Durch eine manuelle Steuerung CM erzeugt die Schaltung I ein Signal RAZ für das Rückstellen der Schaltung AD auf. Null. Die Mikroprogramme für den Test der verschiedenen Funktionseinheiten Ff,...,Fn sind in einer Zone Z des permanenten Speichers RO ent-

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halten, und zwar beginnend bei der Adresse O, die durch das Rückstellen der Schaltung AD auf Null adressiert wird. Bei dem Inbetriebsetzen der Datenverarbeitungsexnheit P1 wird zunächst ein Initialisierungsprograinm durchgeführt, wie es beispielsweise in der eingangs erwähnten Patentanmeldung vorgeschlagen ist. Das Ausführungsende der Initialisierungsfolge der Datenverarbeitungsexnheit P1 gibt Zugriff zu der ersten Testfolge der Funktionseinheit F1 durch das Adressieren der ersten Adresse der Zone si des in Fig. 1 dargestellten Speichers RO durch die Adressierungsschaltung AD. Wenn durch den Detektor El bei dem Test der Funktionseinheit F1 nach der Inbetriebnahme der Datenverarbeitungsexnheit P1 kein Fehler festgestellt wird/ werden sämtliche den Zonen s1,...,sn von Fig. 1 entsprechenden Testfolgen nacheinander■ausgeführt, sofern der Detektor E1 keinen Fehler feststellt. Wenn bei dem Test der Datenverarbeitungsexnheit P1 durch den Detektor El" ein Fehler festgestellt wird, wird ein Signal an dem Ausgang 13 der ODER-Schaltung 41 an eine Schaltung IN zum Unterbrechen des in der Ausführung begriffenen Mikroprogramms und an die Schaltung 3 abgegeben, die ebenfalls in Fig. 1 dargestellt ist. Der Ausgang 16 der Schaltung 3 zeigt durch ein Signal Sa der Schaltung 1 von Fig. 1 und 4 an, daß nicht sämtliche Fehlersymptome zum Auffinden dieses Fehlers in d^r Funktionseinheit, in welcher der Detektor E1 einen Fehler festgestellt hat, zur Verfügung stehen. Wenn dagegen sämtliche Fehlersymptome zur Verfügung stehen, werden durch ein Signal Sp die Symptome S durch eine Übertragungsschaltung 18 einer Speichereinheit Fk der Datenverarbeitungsexnheit P1 zu einer Diagnostikvorrichtung (hier nicht dargestellt) übertragen, bei welcher es sich beispielsweise um eine mit der Datenverarbeitungsexnheit P1 verbundene Einrichtung handelt. Das Signal Sp wird außerdem einem Eingang 46 einer Stoppschaltung AR der Datenverarbei-

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tungseinheit P1 zugeführt, während die Diagnostik durchgeführt wird- Die Schaltung 1 von Fig. 4 enthält eine UND-Schaltung 45. Einer der Eingänge derselben empfängt das aus dem Ausgang 13 des Detektors E1 kommende Fehlersignal und der andere Eingang empfängt das Signal Sa. Der Ausgang dieser UND-Schaltung 45 ermöglicht das Steuern der Schaltung I durch ein Eingangssignal 47. Bei dem Ausführungsbeispiel, welches in Fig. 4 gemäß der in Fig. 3 dargestellten Betriebsart angegeben ist, steuert das Feststellen eines Fehlers durch den Detektor E1 die Initialisierung der Datenverarbeitungseinheit P1 und die Ausführung des Tests sämtlicher Funktionseinheiten, die in der Reihenfolge der als fehlerhaft erkannten Funktionseinheit vorangehen. Diese Ausführungsart ist keineswegs als Einschränkung zu verstehen und schließt insbesondere nicht eine Ausführungsart aus, die darin besteht, die fehlerhafte Funktionseinheit zu testen, nachdem die Datenverarbeitungseinheit P1 initialisiert und die erste Funktionseinheit F1 getestet worden ist. Die letztgenannte Ausführungsart wird beispielsweise durch einen die Testfolge der Funktionseinheit F1 abschließenden Mikrobefehl verwirklicht, der so aufgebaut ist, daß die fehlerhafte Funktionseinheit (bei welcher es sich nicht um die Funktionseinheit F1 handelt) durch einen Vergleich zwischen dem Inhalt des zu dem Detektor E1 gehörenden Registers R und einer Folge von Daten direkt getestet wird, die die verschiedenen Funktionseinheiten (F2,...,Fn) darstellen, von welchen eine die durch den Detektor E1 als fehlerhaft erkannte Funktionseinheit ist. Die Schaltung 2 von Fig. 1 enthält in Fig. 4 einen Vergleicher Cp. Eine erste Gruppe von Eingängen desselben ist mit dem Ausgang 11 des Detektors E2 verbunden, und eine zweite Gruppe von Eingängen desselben ist mit dem permanenten Speicher RO verbunden. Ein Freigabesignal wird

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durch den Ausgang 10 des Detektors E2 an den Vergleicher Cp abgegeben, wenn während der Verarbeitung von Daten ein Fehler festgestellt wird. Der Ausgang 10 des Detektors E2 ist außerdem mit einem Eingang 48 der Schaltung I sowie mit einem Eingang 49 der Schaltung AR verbunden. Wenn in der Funktionseinheit Fj durch den Detektor E2 ein Fehler festgestellt wird, wird die im Ablauf befindliche Verarbeitung durch die Schaltung AR gestoppt und die Initialisierung der Datenverarbeitungseinheit P1 wird durch das Eingangssignal 48 der Schaltung I gesteuert. Danach wird der Test der Funktionseinheit F1 ausgeführt. Wenn die Funktionseinheit Fj die Funktionseinheit F1 ist und wenn es sich um einen Dauerfehler handelt, so wird derselbe durch den Detektor E1 erkannt. In dem Fall, in welchem die Schaltung 3 an ihrem Ausgang 17 das Signal Sp erzeugt, kann die Diagnostik sofort durchgeführt werden. Die Schaltung 3 kann dagegen das Signal Sa erzeugen, wenn es sich um einen unregelmäßigen Fehler handelt, der vor dem Ende des Tests der Funktionseinheit F1 verschwunden ist. In diesem Fall wird die erneute Ausführung des Tests der Funktionseinheit F1 durch das Eingangssignal 47 der Schaltung I nach der Initialisierung der Datenverarbeitungseinheit P1 in Gang gesetzt. Wenn die Funktionseinheit Fj nicht die Funktionseinheit F1 ist, stellt der Detektor E1 keinen Fehler in der Funktionseinheit F1 fest, und durch einen letzten Mikrobefehl, der in der Zone si des Speichers RO in Fig. 1 enthalten ist, wird mindestens ein Vergleich in dem Vergleicher Cp ausgeführt, um die Funktionseinheit Fj als eine der Funktionseinheiten F2,...,Fn zu identifizieren. Wenn der Detektor E1 während des Tests der Funktionseinheit Fj keinen Fehler feststellt, entspricht folglich der durch den Detektor E2 festgestellte Fehler einer unregelmäßigen Störung. Durch das Vorhandensein eines Fehlersignals an dem Ausgang 10 des Detektors E2 werden die Initialisierung der Da-

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tenverarbeitungseinheit P1 und der Test der Funktionseinheit F1 vor der erneuten Ausführung des Tests der Funktionseinheit Fj durchgeführt. Die Ausführung des Tests der Funktionseinheit Fj wird durch mindestens einen Vergleich der Daten der beiden Gruppen von Eingängen durchgeführt, was ein Signal an dem Ausgang des Vergleichers Cp ergibt, wenn die verglichenen Daten gleich sind. .Der Ausgang des Vergleichers Cp ist mit einer Übertragungsschaltung 50 verbunden, damit das Überführen der ersten Adresse der Zone sj, an der der Speicher RO adressiert werden muß, durch die Schaltung AD zum Testen der Funktionseinheit Fj freigegeben wird. Das Definieren der Symptome, die das Auffinden eines Fehlers ermöglichen, wird beispielsweise so ausgeführt, daß ein Fehler nach dem anderen in einer fehlerfrei arbeitenden Datenverarbeitungseinheit simuliert wird und daß sämtliche Erscheinungen jedes simulierten Fehlers erfaßt werden. Die Gesamtheit der zu simulierenden Fehler wird durch eine statistische Untersuchung festgelegt, die das Anlegen der Liste sämtlicher bei einer Datenverarbeitung störenden vorhersehbaren Fehler einschließlich der unregelmäßigen Fehler ermöglicht. Der Test der Datenverarbeitungseinheit P1 wird durch die Erfindung in eine Anzahl von Testfolgen.zerlegt, die ausreichend groß ist, damit die Dauer jeder Folge mit der minimalen Dauer der störenden unregelmäßigen Fehler kompatibel ist und damit das Erkennen und das Auffinden eines unregelmäßigen Fehlers auf dem Niveau einer Funktionseinheit der Datenverarbeitungseinheit P1 erfolgen.

Damit sämtliche Erscheinungen eines Fehlers in einer Funktionseinheit der Datenverarbeitungseinheit P1 erfaßt werden, werden Mikrobefehle für den Test dieser Funktionseinheit in einer Zeit ausgeführt, die durch ein von dem Speicher RO an die Schaltung 3 abgegebenes

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Signal festgelegt ist. Am Ende der Folge erzeugt die Schaltung 3 ein Signal Sp, wenn ein aus dem Ausgang 13 des Detektors E1 kommendes Fehlersignal während der gesamten Dauer des aus dem Speicher RO stammenden Signals vorhanden ist. Die Schaltung 3 erzeugt ein Signal Sa, wenn das von dem Ausgang 13 des Detektors E1 kommende Signal nicht während der gesamten Dauer des aus dem Speicher RO kommenden Signals vorhanden ist. Eine solche Betriebsweise der Schaltung 3 wird, beispielsweise, durch eine Kippschaltung verwirklicht.

Das Testsystem nach der Erfindung für eine Datenverarbeitungseinheit ermöglicht insbesondere, den Test einer Funktionseinheit der Datertverarbeitungseinheit zur Fehlerfeststellung bei der Verarbeitung von Daten auszuführen. Wenn es sich um einen unregelmäßigen Fehler handelt, der während des Tests verschwindet, ermöglicht der Detektor E2 eine erneute·Ausführung des Tests dieser Funktionseinheit, bis der Fehler wieder erscheint und durch den Detektor E1 festgestellt wird. Wenn der Fehler nicht während einer Zeitspanne vorhanden ist, die zum Erfassen der Symptome S ausreicht, wird der Test der Funktionseinheit durch das Signal Sa erneut ausgeführt, bis der Fehler während der gesamten Dauer des aus dem Speicher RO kommenden Signals vorhanden ist. Durch das Signal Sp kann mn durch die Übertragung der Fehlersymptome S in eine Diagnostikvorrichtung eine Diagnostik durchgeführt werden.

Die obige Beschreibung bezieht sich nur auf eine besondere Ausführungsform der Erfindung, die aber sämtliche Varianten einschließt. Die Erfindung ist bei jeder Datenverarbeitungseinheit, die einen permanenten Mikroprogrammspeicher hat, und insbesondere bei einem Steuergerät für Randeinheiten anwendbar, dessen Test

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durch eine andere Datenverarbeitungseinheit, wie etwa eine Zentraleinheit, gesteuert werden kann, damit das Steuergerät seine eigenen unregelmäßigen Fehler feststellt und auffindet. ·

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Claims

Patentansprüche :

1. Testsystem für eine Datenverarbeitungseinheit/ die aus η Funktionseinheiten besteht, von denen eine einen permanenten Speicher und dessen Adressierungsschaltung aufweist, wobei das Testsystem durch in einer Zone des permanenten Speicheis gespeicherte Testmikroprogramme und durch mit diesem Speicher verbundene Testschaltungen in die Datenverarbeitungseinheit integriert ist, wobei die. Testmikroprogramme so aufgebaut sind, daß die η Funktionseinheiten durch eine Gruppe von durch die Testschaltungen ausgeführten Mikrobefehlen getestet und alle jedem vorhersehbaren Fehler zugeordneten Symptome erfaßt werden, und wobei die Testschaltungen mit zwei Detektoren zum Erkennen der Fehler in den η Funktionseinheiten während des Tests bzw. während der Verarbeitung von Daten versehen sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Testmikroprogramme in der Reihenfolge der Adressierung der Zone (Z) des permanenten Speichers (RO) durch die Adressierungsschaltung (AD) gespeichert sind, damit die η Funktionseinheiten (F1,...Fn) in einer Aufeinanderfolge von η Mikrobefehlsfolgen nacheinander getestet werden, daß die η Mikrobefehlsfolgen so aufgebaut sind, daß die Fehler in den η Funktionseinheiten durch einen (E 1) der Detektoren erkannt werden bzw. daß alle für das Auffinden eines Fehlers unter allen vorhersehbaren dauernden bzw. unregelmäßigen Fehlern in den η Funktionseinheiten erforderlichen Symptome (S) durch die Testschaltungen erfaßt werden, und daß die Testschaltungen außerdem eine mit dem einen Detektor (E1) und mit der Adressierungschaltung (AD) verbundene erste Schaltung zum Steuern der wiederholten Ausführung von mindestens einer der η Mikrobefehlsfolgen, eine mit dem anderen Detektor (E2) und der Adressierungsschal-

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tung (AD) verbundene zweite Schaltung, mittels welcher mindestens einmal der Test einer fehlerhaften Funktionseinheit der η Funktionseinheiten (F1,...,Fn) während der Verarbeitung von Daten ausgelöst wird/ und eine mit dem einen Detektor (E1) verbundene dritte Entscheidungsschaltung haben/ die ein Freigabesignal für die erste Schaltung erzeugt, wenn nicht alle für die Diagnostik erforderlichen Fehlersymptome nach dem Test einer'fehlerhaften Funktionseinheit erfaßt worden sind, und die ein Diagnostikfreigabesignal erzeugt, wenn alle FehlerSymptome in einer fehlerhaften Funktionseinheit erfaßt worden sind.

2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Datenverarbeitungseinheit (P1)' außerdem eine Initialisierungsschaltung für das Rückstellen der Adressierungsschaltung (AD) auf Null enthält, daß die Zone (Z) bei der Adresse Null des Speichers (RO) beginnt, und daß die erste Schaltung (1),die in den Testschaltungen.'. (T) enthalten ist, durch die Initialisierungsschaltung mit der Adressierungsschaltung (AD) verbunden ist.

3. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Datenverarbeitungseinheit (P1) außerdem eine Initialisierungsschaltung für das Rückstellen der Adressierungsschaltung (AD) auf Null enthält, daß die Zone (Z) bei der Adresse Null des Speichers (RO) beginnt, und daß die zweite Schaltung (2), die in den Testschaltungen (T) enthalten ist, durch die Initialisierungsschaltung mit der Adressierungsschaltung (AD) verbunden ist.

4. System nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Schaltung (1) eine UND-Schaltung ist, deren erster Eingang mit einem Ausgang des Detektors (E1)

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verbunden ist, deren zweiter Eingang mit einem Ausgang der dritten Schaltung (3) verbunden ist/ und deren Ausgang mit der Initialisierungsschaltung verbunden ist.

5. System nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Schaltung (2) einen Vergleicher enthält, der eine mit einer Gruppe von Ausgängen des Detektors (E2) verbundene erste Gruppe von Eingängen und eine mit einer Gruppe von Ausgängen des permanenten Speichers (RO) verbundene zweite Gruppe von Eingängen hat, und daß die zweite Schaltung (2) außerdem eine durch den Vergleicher freigegebene Schaltung zum Übertragen einer aus dem Speicher (RO) kommenden Signalgruppe zu den Eingängen der Adressxerungsschaltung (AD) aufweist. . ,

6. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die dritte Schaltung (3) eine Kippschaltung ist, die einen mit einem Ausgang des Speichers (RO) verbundenen ersten Eingang sowie einen mit dem Ausgang des Detektors (E1) verbundenen zweiten Eingang und einen mit einem Eingang der ersten Schaltung (1) verbundenen ersten Ausgang und einen zweiten Ausgang hat, der mit einem Freigabeeingang einer Schaltung zum Übertragen der Fehlersymptome (S) zum Durchführen einer Diagnostik verbunden ist.

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