DE2364263A1 - Halbleitereinrichtungen mit variabler kapazitaet - Google Patents
Halbleitereinrichtungen mit variabler kapazitaetInfo
- Publication number
- DE2364263A1 DE2364263A1 DE2364263A DE2364263A DE2364263A1 DE 2364263 A1 DE2364263 A1 DE 2364263A1 DE 2364263 A DE2364263 A DE 2364263A DE 2364263 A DE2364263 A DE 2364263A DE 2364263 A1 DE2364263 A1 DE 2364263A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- area
- electrode
- capacitor
- electrodes
- channel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 31
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 239000012190 activator Substances 0.000 claims description 6
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 claims 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 claims 1
- 230000003389 potentiating effect Effects 0.000 claims 1
- 108091006146 Channels Proteins 0.000 description 26
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 13
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 210000003128 head Anatomy 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- BHMLFPOTZYRDKA-IRXDYDNUSA-N (2s)-2-[(s)-(2-iodophenoxy)-phenylmethyl]morpholine Chemical group IC1=CC=CC=C1O[C@@H](C=1C=CC=CC=1)[C@H]1OCCNC1 BHMLFPOTZYRDKA-IRXDYDNUSA-N 0.000 description 1
- 108010075750 P-Type Calcium Channels Proteins 0.000 description 1
- 241000242583 Scyphozoa Species 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000013642 negative control Substances 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 230000010181 polygamy Effects 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/86—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable only by variation of the electric current supplied, or only the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched
- H01L29/92—Capacitors with potential-jump barrier or surface barrier
- H01L29/93—Variable capacitance diodes, e.g. varactors
Description
6 Frankfurt/Main 1, 21. Dez. 1973
Telefon (0511)237220 Postschedc-Konfo: 282420 Frankfurt/M.
Bank-Konto: 225/0389 Deutsche Bank AG, Frankfurt/M.
2595-RD-5415
GENERAL ELECTRIC COMPANY
1 River Road SCHEWECTADY, Ν·Υ»/U.S.A.
Halbleitereinrichtungen mit variabler Kapazität
Die Erfindung betrifft Halbleitereinrichtungen für variable Kapazität (CIS) (Leiter-Isolator-Halbleiter) . Gern äß der Verwendung
in diesem Text inplizierfc der Ausdruck "Kapazitätseinrichtung" oder "Einrichtung" gewöhnlich die Zuführung irgendeiner
Spannung zu dem Kondensator und beinhaltet in diesem Sinne eine aktive Schaltungsanordnung und "dynamische Kapazität".
409829/0715
Die folgende Terminologie wird im gesamten Text verwendet und eine Betrachtung der Figur 2 ist in diesem Sinne förderlich.
"Signalspannung" ist eine Hochfrequenzspannung, beispielsweise
mit einer Frequenz von 100 MHzs wie sie später in Form eines
Beispiels in der Beschreibung enthalten ist. Bei den Ausdrücken der Figur 2 stammt die "Signalspannung" von dem Generator 35 und
soll der Kapazität oder Kondensatoreinrichtung zwischen den Elektroden 15 und l6 zugeführt werdenο
"Betriebsspannung". Bezüglich der Anwendung auf die vorliegende
Erfindung bedeutet dieser Ausdruck einfach eine Betriebsgleichspannung oder "Ruhespannung" (Batterie 30 in Figur 2), welcher
die "Signaispannung" überlagert ist« Di© "Betriebsspannung™ wird
ebenfalls zwischen den Elektroden 15 und 16 zugeführt. In der Anwendung auf vorbekannte Einrichtungen kann die "Betriebsspannung"
auch die'rSteuerspannung'f einschließen.
"Steuerspannung'8 . Dies ist eine variable Spannung., welche dazu,
dient s den Wert der Kapazität zu variieren oder/modulieren. In
Figur 2 ist sie durch die Batterie 33 dargestellt, welche symbolisch als variable Batterie gezeigt ist«. Gemäß der Erfindung
ist die Zuführung der"Steuerspannung111-von der Zuführung der
Signalspannung und der Betriebsspannung getrenntβ In Figur 2
wird die Steuerspannung zwischen den Elektroden 22 und 16 zugeführt
β Die Halbleiterei'nrichtungen mi^i /Spännung variierbarer
Kapazität werden allgemein als Varactordioden bezeichnet und ergeben eine spannungsabhängige Kapazität s welche eine Funktion
der zwischen ihren beiden Elektroden zugeführten Spannung ist. Diese Spannungen schließen die Betriebsspannung, die Signalspannung
und die Steuerspannung ein«, Die vorliegende Erfindung ist darauf gerichtet, eine· neuartige Halbleitereinrichtung mit variabler
Kapazität zu schaffen9 bei der die Kapazität im wesentlichen
unabhängig von der Signalspannung und der Betriebsspannung ist und im wesentlichen allein von der Steuerspannung abhängig
ist. Eine solche Abhängigkeit macht die Kapazitätsänderung voraussagbar und weiterhin ist die Kapazitätseinrichtung brauchbar
409829/071S-
für höhere Frequenzbereiche, in denen einige vorbekannte Einrichtungen
nicht verwendet werden konnten.
Es ist -daher eine Aufgabe der Erfindung, verbesserte Einrichtungen
mit variabler Kapazität zu schaffen. .
Ein besseres Verständnis der Erfindung ergibt sich aus der nachfolgenden
Beschreibung im Zusammenhang mit den Abbildungen.
Figur 1 zeigt eine Draufsicht einer Halbleitereinrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung.
Figur 2 zeigt eine Vorderansicht im Schnitt für eine Halbleitereinrichtung nach Figur 1 einschließlich der Vorspannungseinrichtung
und der Auswertungs- oder Verbraucherschaltungen, welche mit den Anschlüssen der Halbleitereinrichtung
verbunden sind.
Figur 3 zeigt eine Kurvenschar für das Potential der Halbleitereinrichtung
nach den Figuren 1 und 2 als Funktion eines Abstandes senkrecht zur Oberfläche des unter der ersten
Elektrode liegenden Halbleiterkörpers. Dabei stellt jede Kurve die Variation des Potentials von einem Maximalwert
an der Oberfläche auf einen Minimalwert in der maximalen Abreicherungstiefe für jeweilige Oberflächenpotentiale
an der Oberfläche dar entsprechend bestimmten Ladungsdichten an derselben»
Figur 4 -zeigt ein Paar von Kurven9 welche jeiieils die Art und
Weise veranschaulichens in der sich die Kapazität zwischen
den Elektroden der Halbleitereinrichtung der Figuren 1 und 2 als Funktion der Betriebsgleichspannung
ändert j welche zwischen, den ersten und zweiten Elektroden
angelegt wird9 und zwar für eine jeweilige zwischen
den zweiten und dritten Elektroden der Einrichtung nach Figur 2 angelegte Steuerspannung.
409829/0715
Figur 5 zeigt eine Draufsicht einer weiteren Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung.
Figur 6 zeigt eine Vorderansicht im Schnitt für die Ausführungsform nach Figur 5 und die Sehaltkreise zum Betrieb derselben.
Figur 7 zeigt eine Schnittansicht für eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung»
Figur 3 zeigt eine weitere Ausführungsform der Erfindung einschließlich
eines Paares von Halbleitereinrichtungens
welche aus Halbleitermaterialien mit verschiedenem Leitfähigkeitstyp
aufgebaut sinä und welch© so verschaltet
- sind9 daß sie geringe Schwankungen der Kapazitäten der»
Einrichtungen mit den an den Elektroden anstehenden · Spannungen kompensieren„ . . '
Es wird nunmehr Bezug genommen auf die Figuren 1 und 2S welche
eine Halbleitereinrichtung 10 mit durch Spannen variierbarer Kapazität gemäß einer Ausführungsfors! der vorliegenden Erfindung
zeigenο Die Einrichtung enthält einen Körper aus Halbleitermaterial,
beispielsweise aus Silizium vom. W-»Typ0 Zweckmäßiger-'weise
kann dieser Körper aus einem Substrat mit Silicium des N-Typs-mit geringem spezifischen Widerstand (W*4"^"'bestehen und
aus einer Schicht 12 mit Silizium dep M-Typs (M) mit ifesentlich
größerem spezifischen Widerstands beispielsifeis© .5 Ohm=onio Die
Schicht 12 xfird epitaxial auf dem Substrat 11 aiafgexiaehsen und
ergibt eine freiliegende Hauptoberfläche oder Oberfläche 13°
ZweekraäMgerweise Iibmu das Substrat 11 ©ine Di©&© von etwa O325hm
(etwa O0OlO Zoll) besitzen und die ©pitaxiale Setsi©ht 12 kann
©ine Dicke von etsra IO Mikron besitzen<. Eine dSna© Schicht 1*5
aus einesi geeigneten■isolierenden Materialfl beispielsweise aus
Siliiiumdiosqrd mit miner Dicke von 1000 tD ist ataf der freiliegenden Hauptoberfläehe 13 der epifeassialen Sehieht vorhandene Ein
leitender Film ©des8 ein© Platte 15 slms einem geeigneten Material 3
beispielsweise MoIvMMn9 ist auf amp .isolierenden Sehieht 14 aus«
gebildet, welche einen Teil der Hauptoberfläche der Schicht 13
überlagert, und bildet eine erste Elektrode der Einrichtung. Ein weiterer Film oder eine Platte 16 eines geeigneten Materials ist
mit der gegenüberliegenden Fläche des Substrats 11 in einem Ohm'sehen Kontakt an dieser Fläche befestigt und bildet die
zweite Elektrode der Einrichtung. Eine solche Platte 16 kann beispielsweise ein Kopfstück oder eine Kopfplatte oder Tragstruktur
darstellens wie sie gewöhnlich für Halbleiterschaltungen
verwendet wird. Ebenso kann beispielsweise die Platte 16 aus
einer Goldschicht bestehen, welche oben auf einem Keramikisolator
ausgebildet ist und einen Teil einer i3Mikrostreifen-Schaltung"
(microstrip circuit) bildet.
Eine Einrichtung zur Erzeugung einer Verarmung oder Abreicherung
in der Halbleiterschicht 12 ist vorgesehen in Form einer Batterie 30 und einer Hochfrequenzdrosssl_31g welche so in Reihe verbunden
sindg daß der negativ© Anschluß dex= Batterie 30 über die Drossel
51 mit der ersten Elektrode 15 und der positive Anschluß der
Batterie 30 mit der.zweiten Elektrode Ιβ verbunden sind«,
Ss wird nunmehr Besag genommen auf dl® Figur 5° Hierbei sei angenommen
β daß die Kapasitätseinrachtung 10 der Figuren 1 und 2 die
bisher beschriebene Einrichtung ist und die ttishep gegebenen
typischen Abmessungen aufweist Cd» Ji0 die M-Sehichfc 12 besitzt
einen spesifisshea Widerstand von 5 Ota-cm- und etwa eine Dicke
von 10 Mikrong die Siliziumdioxydsshicht besitzt eine Dicke von
etwa 1000 2 uswo)o Es wird, weiterhin angenommens daß die Potentialquelle
oder Batterie 30 für die Betriebsspannung ein Potential
von -20 Volt besitzt (ihr negativer Anschluß^ bezogen auf
den positiven Anschluß oder auf die Elektrode 16) und daß der negative Batterieanschluß über die Drossel 31 mit der Elektrode
durch Schließen eines vorgestellten nicht gezeigten Schalters verbunden ist» Die Figur 3 veranschaulicht die Potentialverteilung'
0 (ausgedrückt In Volt) innerhalb der Schicht 12 vom N-Typ und
unterhalb der Elektrode 15, und zwar als eine Funktion oder in
Abhängigkeit von dem Abstand d von der Oberfläche 13 der Schicht 12. Insbesondere zeigt die Kurve 1Il die Potentxalvertexlung in
409829/071S
dem Augenblick der Zuschaltung des Potentials von -20 Volt von der Batterie 30 zur Elektrode 15. Die Kurve 42 zeigt die Potentialverteilung
kurze Zeit danach <>
Nach weiterer Zuführung der Betriebsspannung von »20 Volt wird
der CIS-Kondensator über die Schwellwertspannung hinaus vorgespannt
(d. ho über diejenige Spannung hinaus a bei der in der
Halbleiterschicht erzeugte Minoritätsträger sich an der Oberfläche ansammeln und den Leitfähigkeitstyp des zur Oberfläche
benachbarten Bereichs umkehren)0 Genauer ist diese Schwellwertspannung
als diejenige Spannung definierte bei der die Leitüngs-
und Valenzbänder so gebogen xierä@n0 daß die Potentialdifferenz
zwischen dem Valensband an der Oberfläche und dem Fermiwerfe im
Hauptteil des Körpers gleißh dex5 Potentialdifferens swisehen dem
Leitungsband und dem .Fermiwert im Hauptteil sindo In dem Augen-=
blick des Anlegens der Spannung von °20 Volt an den CIS-Kondensator
wird das. Qberfläcfoenpotontial -IT3S Volt und die Potential=
verteilung" im Verarmung®= oder Abreicherungsbereich (Sperrbe-=
reich) verläuft gemäß der Darstellung in der Kurve 41 von einem
Wert von ml?s5 VoIt1 an der Oberfläche su einem Werfe Null bei d«,s
wobei d^ die Strecke bedeutets in der dis Halbleiterschichfc an
Majoritätsträgerη abgersichert isto Mach einer kurzen Zeitdauer
sammeln sieh an der Oberfläche Minor-ltätsträger a.ns welch© bei=
spielsweise in der Halbleifcerschleht thermisch erzeugt wurdenο
Wenn da,® Ladungsdiehfc© an des3 Oberfläche 2 χ 10 Träger (Löcher)
2
pro em beträgt ΰ dann ändert sich das Potential im Sperrbereich von =8 Volt an der Ober'fläehe auf Mull in einem Abstand d2s welcher gemäß der Darstellung in Kurv® 42 kleiner Ist als der Ab~ stand d^o
pro em beträgt ΰ dann ändert sich das Potential im Sperrbereich von =8 Volt an der Ober'fläehe auf Mull in einem Abstand d2s welcher gemäß der Darstellung in Kurv® 42 kleiner Ist als der Ab~ stand d^o
Es wird erneut Bezug genommen auf die Figur 20 Gemäß der Erfindung
ist angrenzend an" die Hauptoberfläche 13 ein Kanalbereich
mit entgegengesetztem Leitfähigkeitstyp vorgesehene Der Kanal
ist in Kontakt mit dem oberflächennahen Bereich 21 der epitaxialen
Schicht 12s welcher unter der ersten Elektrode 15 liegt, d.h.
es ist eine geringfügige Überlappung zwischen dem Kanalbereich und der Platte 15-vorgesehene Dadurch kommt der Kanalbereich in-
Kontakt oder Eingriff mit einem Oberflächenteil des der Oberfläche
benachbarten Bereichs 21, wenn die Spannungen zur Erzeugung der Abreicherung oder Verarmung zwischen der ersten und
zweiten Elektrode angelegt werden. Der Kanalbereich 20 besitzt eine längliche Gestalt und verläuft ausgehend von dem oberflächennahen
Bereich. Eine dritte Elektrode 22 ist an einem Punkt entfernt oder abgewandt von dem oberflächennahen Bereich vorgesehen.
Wie noch nachstehend beschrieben und erläutert, ist der Kanalbereich so proportioniert und besitzt einen solchen spezifischen
Widerstand, daß er einen hohen Widerstand zwischen dem oberflächennahen Bereich 21 und der dritten Elektrode 22 ergibt. Die
Leitfähigkeit des Kanalbereiches kann auch noch gesteuert werden durch Verwendung eines Bereiches mit relativ großem spezifischen
Widerstand, der durch die Implantation von relativ wenigen Akzeptor-Verunreinigungsatomen gebildet ist. Auf diese Weise
können Widerstände in der Größenordnung von Megohm gebildet werden.
Weiterhin wird gemäß der Erfindung eine Batterie oder Quelle für variable Spannung zwischen der zweiten Elektrode ±6 und der
dritten Elektrode 22 angeschaltete itfobei der negative Anschluß
der Quelle mit der dritten. Elektrode 22 verbunden ist und der positive Anschluß mit der zweiten Elektrode 15 verbunden ist.
Weiterhin ist eine Quelle 35 für ein Hochfrequenzsignal, eine
Impedanz 363 beispielsweise ©ine Induktanz und ein Gleichstromsperrkondensator
37 in der genannten Reihenfolge zwischen die
zweite Elektrode 16 and die erste Elektrode 15 geschaltet. Der
Zweck des Kanalbereiches 20 der Elektrode 22 und der variablen
Spannung' 33 wird noeh unter Bezugnahme auf dx© Figuren 2 und
und später die Figur H eFlauterb e
Das Potential das oberfläehemiahen B©2»eieh@s 2I0 welcher unter
der ersten Elektrode liegt9 wird gesteuert dursh, das an der
dritten Elektrode 22 zugeführt© Potentials da sie mit dem oberflächennahen Bereich durch den Kanalbereich 20 mit hohem Widerstand
verbunden ist. In einer solchen Struktur wird die zwischen der ersten und zweiten Elektrode erscheinende Kapazität durch das
409829/0715
an der dritten Elektrode erscheinende Potential bestimmt. Die über der ersten und zweiten Elektrode erscheinende Kapazität
wird durch die dielektrischen Schichten zwischen den Elektroden bestimmt, d. h. durch die isolierende Schicht zwischen der ersten
Elektrode 15 und der Oberfläche der Halbleiterschicht 12 und durch den Verarmungs- oder Sperrbereich, welcher in dem oberflächennahen
Bereich 21 erzeugt wird. Wenn die zwischen der ersten und zweiten Elektrode liegende Betriebsspannung konstant
ist, d. h. für diesen Zeitpunkt wird angenommen, daß das Ausgangssignal des Generators 35 Null Volt beträgt9 dann würde die Zuführung
eines Potentials zur dritten Elektrode und zu einer Änderung mit geringer Geschwindigkeit von -17»5 Volt auf Null bewirken,
daß sich die zwischen der ersten und zweiten Elektrode erscheinende Kapazität von einem Mindestwert, bestehend aus einer
geringen Sperrkapazität in Reihe mit der dielektrischen Kapasität,
auf einen Maximalwert entsprechend einer großen Sperrkapazität in Reihe mit der konstanten dielektrischen Kapazität ver=
änderte Die Sperrkapazität entsprechend dem Abstand dp liegt
selbstverständlxch zwischen den Extremwerten der Sperrkapazität und damit den Extremwerten der resultierenden Kapazität8 wenn
an der Steuerelektrode 22 ein Vorspannungspotential, von = 8 Volt
zugeführt wird«, Bei dem Zustand mit einer an der Steuerelektrode
zugeführten Spannung Null ist die relativ große Kapazität;, welche,
•durch den kleinen Sperrbereich in Reihe mit dem Dielektrikum des
Isolators erhalten wird 9 die Gleichgewichtskapazität.j,... welche ..man
ohne Vorhandensein einer Steuerelektrode erhalten würde, wenn noch eine ausreichende Zeit zur Verfügung stünde zum Erreichen
eines Gleichgewichtes der Oberfläche mit dem Fermiwert der Hauptmasse
des Halbleiters ο Diese Kapazität wird oft als C . bezeichnets
da dies-, der niedrigste Wert ista welcher In der üblichen
OV-Kurve erhalten wirdρ Er ist jedoch nicht der Minimalwerts
sondern eher der Maximalwert der Kapazität s ifelehen man bei Betrieb
der Steuerelektrode mit negativen Potentialen erhält 0 Höhere Kapazitätswerte können ersielt werden,, wemi die Steuerelektrode
auf positiven Potentialen betrieben wird. Diese Betriebsweise ist im allgemeinen nicht erwünscht infolge der Ladungsinjektion
in den Hauptteil der Einrf,©fot«nga
409828/071S -
Wenn zwischen der ersten und zweiten Elektrode der Einrichtung ein Wechselsignal mit geringer Amplitude und niedriger Frequenz
zugeführt wird bei einem festgelegten Potential auf der dritten Elektrode j dann wird Ladung zyklisch in den oberflächennahen
Bereich über den Widerstandskanalbereich 20 eingegeben und entnommen.
Wenn die Frequenz des Wechselspannungs-Kleinsignals hoch ist im Verhältnis zur Zeitkonstante des Kanalbereichs und der
Sperrkapazität des oberflächennahen Bereiches 21, d. h. der Generator
35 liefert eine Spannung mit relativ niedriger Amplitude
und bei einer relativ hohen Frequenzs dann wird die Vorspannungsquelle 55 vom oberflächennahen Bereich 21 entkoppelt. Daher wird
die Ladung nicht In einem wesentlichen Ausmaße im Zyklus in den oberflächennahen Bereich eingebracht und aus ihm entnommen, und
dies gilt besonders 3 wenn die Frequenz des Wechselspannungs-"
signals mit geringer Äm_plitude sehr groß ist im Verhältnis au-r
vorgenannten Zeitkonstante. Wenn die Zahl der Minoritätsträger
relativ klein istß welche in der- Halbleiterschisht während einer
Periode des Hochfrequenzsignals erzeugt werden·>
dann wird die zwischen der ersten und zweiten Elektrode erscheinende Kapazität
.im wesentlichen konstant sein und sieh nur geringfügig infolge
geringer Änderungen der Kapasitäfc und Betriebsspannung ändern=
Die vorgenannte Isitkonstanfee ist wesentlich kürzer als die ex*-
ford®bliebe Zeife eub. Ansammeln von MinoritätstPägera im ober«
flächennahea Bereich bei Anlegen der angedeuteten Potentiale
zwischen der ©rsfesn und &mtt®n Elektrode in ©iner Strukturs
Vielehe keinen ICaraalfo ©reich und keine dritte Elektrode enthält«
Der Wert der ICapssItät si-jisehen äer ersten und sweiten Elektrode
kann geändert i-i@w&®n auweh Veränderung des aa ά@ΐ? dritten oder
Steuerelektrode süagefühs^se Potentials 0 Dies t'jürd® eine Änderung
d@s Oöepfiäohenpeßentisls des ©be^fläehennahen Bereichs gemäß
der Zsitteonstante öer Steuersehaltung oder des Steuerkreises foe=
wirken einschlieBlich-des Widerstandes das Kanalbereichs und der
Sperrsehichtkapasität des Qbisrfläehenbenachbarten Bereichs« Diese
Zeitkonstant© war© kurs genug8 um ©in® Kapazitätsänderung als
Ergebnis der Steuerspannung su gestatten und di© Forderungen des
Systems z-u erfüllen^ in dem @s ..verwendet werden soll, beispielsweise
sollte hierzu bei Kanalwahlschaltungen für Fernsehen ein
409829/0715
- ίο -
Bruchteil einer Sekunde benötigt werden, um irgendeine bemerkbare
Verzögerung im Ansprechen des Systems auf eine Veränderung der Steuerspannung zu vermeiden« Es wird daher eine Einrichtung vorgesehen
zur Steuerung der Kapazität 8. welche zwischen den ersten
und zweiten Elektroden erscheint8 und swar durch ein unter den
angedeuteten Bedingungen einer dritten Elektrode augeführtes Potentials do ho die Zeitkonstante der Sperrschichtkapazität und
des Widerstandes des Kanalbereiehs wird beträchtlich kleiner ein-=
gestellt als die Zeitkonstante 0 Vielehe benötigt wird zur Erzeu™
gung ausreichender Minoritätsträger in dem oberflächennahen Bea
reich zu einer merkliehen Änderung des Qberfläehenpotentials des
oberflächennahtn Bereiches und ist bed<stat©nd großes? als dl©
Period© des
Es wird nunmehr Bezug genommen auf Figur kg welche mehrer© Kurven
einsehließlioh der Kurven H5 und k6 geigt0 Diese seigen die And©=
rung der Kapazität.C Causgedrückt In Willkürliehen Einheiten) s
weleh© zwischen den-Elektroden 15 und 1(5 gesehen wirdfl als eine
Punktion der Groß© der Betriebsspannung (E3^)0 und zwaz» für meh~
rere angenommen© Wert® d@r Steuersparanung 33 j>
welche zwischen den zweiten und dritten Elektroden angelegt-viirdo Di© Kurve ^5 .zeigt
die Art "und Weise s. In d©r sieh die KapaaltSLt mit der Betriebs-=
spannung ändert B warm dl® Steuerspannung =1705 V beträgto Die
Kurv© Hß geigt di© Art und Weise der Änderung der Kapazität mit
der Betriebsspannung^ wenn die"Steuerspannung =8 Volt beträgt0
Wenn die von der Batterie 50 gelieferte Betriebsspannung auf
■=20 Volt eingestellt wirö und öl© Steui^spannung von der
Qualle 33 auf =17S5 V eingestellt wlrdo dann Ist der nL·
Kapasltätswert durch den Punkt hl auf d©r liiwwm k5 darg©§t©üt ' k ~-3
entsprechend der größten Sperrs©hIehtbr@it©0 Ifenn dl© SfeQUsrspan·0 '-nung
auf =8 ¥olt eingestellt wirdB dann wird die ICapasIfcät durch
den Punkt 48 auf der Kurve 46 dargestellt 0 Mit weiterer Abände-=
rung der Steuerspannung von der Quell© '33 In Richtung des Viertes
Mull erhöht sich dl© Kapazität so lange ΰ bis bei einer Steuerspannung
von nahezu Mull die iCapasItät an ihrem höchsten Wert
ist s welcher dem 61@iehgewishtsw@rt G «- entspricht0- Für eine
min u
Einrichtung s welche aus einer SIlisIum^Hglblelterschicht des
- li -
Leitfähigkeitstyps N mit einer resultierenden Donatoraktivatorkonzentration
von 10 ^ entsprechend einem.spezifischen Widerstand von etwa 5 Ohm-cm, einer Siliziumdioxyd-Isolierschicht mit
einer Dicke von 1000 8, einer ersten Elektrode mit einer Fläche von etwa 0,156 mm (etwa 250 χ 10 Quadratzoll) aufgebaut ist
und bei der ein Betriebspotential von -20 V zwischen der ersten und zweiten Elektrode und eine Steuerspannung von -14 V, bezogen
auf die zweite Elektrode,an der dritten Elektrode angelegt ist,
wird eine Kapazität von 8 pico Farad erhalten. Wenn die Steuerspannung auf -8 Volt geändert wird, dann wird eine Kapazität von
10 pico Parad erhalten. Bei Null Volt nähert sich die Kapazität dem Gleichgewichtswert C . von 20 pico Parad. Es ist oft erwünscht,
den Kapazitätsänderungsberexch der Einrichtung über den Bereich hinaus zu verändern, welcher mit einer gleichförmigen
Konzentration der Verunreinigungen erzielt werden kann. Dies kann erreicht werden durch Erhöhung der Konzentration in der Nähe der
Oberfläche des Halbleiters. Hierdurch wird die Gleichgewichts-Sperrschichttiefe
vermindert und damit Cn^n auf einen Wert erhöht,
welcher nahezu gleich der Isolationskapazität C ist. Wenn eine stärker negative Steuerspannung zugeführt wird, dann wird der
Sperrschxchtbereich auf einen Wert vergrößert, der sich an denjenigen
Wert annähert, welcher bei einer gleichförmigen Konzen-
tration der Verunreinigungen in dem Substrat erhalten wird.
Die Neigung oder Steigung der Kurve bei jeder Kurve der Figur 4
ist gering für Werte der zugeführten Betriebsspannung in der Nähe des Wertes, bei dem eine Umkehrung des Leitfähigkeitstyps im
oberflächennahen Bereich auftritt. Die Steigung vermindert sich mit steigender Betriebsspannung und nähert sich einem Wert Null
für große Werte der' Betriebsspannung. Da die Amplitude der Signalspannung, bezogen auf die gewählte Betriebsspannung, gering ist,
wird nur eine geringfügige Änderung der Kapazität durch Änderungen in der Amplitude dieser Spannung erzeugt. Solche Kapazitätsänderungen
können beseitigt oder kompensiert werden, indem eine Kapazitätseinrichtung parallel geschaltet wird, bei welcher
die Steigung oder Kurve der Kennlinie Kapazität-Betriebsspannung komplementär zur Einrichtung nach Figur 2 ist, welche eine HaIb-
409829/0715
leiterschicht des N-Typs verwendet (d. h. sie steigt mit Verminderung
der Spannung an), wie beispielsweise eine Kapazitätseinrichtung identisch zur Einrichtung nach Figur 2 mit Ausnahme
der Verwendung einer Halbleiterschicht des P-Typs. Eine Kombination von Einrichtungen, in denen dieses Ergebnis erzielt wird,
ist im Zusammenhang mit Figur 8 beschrieben. Diese Struktur beseitigt
oder vermindert wesentlich Signal verserrungsfehle r, welche durch eine Änderung der Kapazität mit der Signalspannung bewirkt
werden. .
Beim Betrieb der Einrichtung .nach Figur 2 in einer Schaltung
bewirkt die Betriebsquelle eine Abreicherung von Majoritätsträgern
aus dem Oberflächen-benachbarten Bereich, welcher
unter der ersten Elektrode liegt. Die Steuerspannung von der
Quelle 33, welche über den Kanalbereich angelegt ist, stellt ein Oberflächenpotentis 1 in dem oberflächen-hen Sperrschichtbereich
und damit eine Kapazität zwischen der ersten und zweiten Elektrode ein, welcher der Steuerspannung entspricht.
Die Hochfrequenzsignalspannungen, weiche in den Kreis mit der ersten und zweiten Elektrode zugeführt werden, besitzen
eine geringe Amplitude im Vergleich mit der zugeführten Betriebsspannung
und eins hohe Frequenz und haben daher keine merkliche Auswirkung auf die Kapazität, welche zwischen der
ersten, und zweiten Elektrode der Einrichtung vorhanden ist.
Die Änderung der Steuerspannung erzeugt eine Änderung in · der .Kapazität wie dies vorstehend im. Zusammenhang mit den
Figuren 3 und 4 beschrieben ist. Für das obige Beispiel könnte eine Einrichtung mit einer zwischen 8 Picofarad unu
20 Picofarad variablen Kapazität beispielsweise in den Hochfrequenz- oder Zwischenfrequeazstafer» von Fernsehempfängern
verwendet werden, bei denen Frequenzen von mehreren Megaherta verwendet werden„ Eine geeignete Zeitkonstante
für ' 'die Schaltung aus Sperrsehietitkap^zität und "Kanalwiderstand
würde beispielsweise mehrere Mikrosekunden betragen. Eine Erzeugungsgeschwindigkeit für Minoritätsträger, welche
den Inversionskanal in Millisekunden auffüllen würde, wäre
dabei klein genug um eine Arbeitsweise der Einrichtung gemäß der zuvor beschriebenen Betriebsweise zu ergeben.
Es wird nunmehr Bezug genommen auf die Figuren 5 und 6, welche eine weitere Ausführungsforrni der vorliegenden Erfindung
ähnlich der Ausführungsform nach Figur 2 zeigen. Die Elemente
der Einrichtung nach den Figuren 5 und 6 welche identisch sind zu den Elementen der Einrichtung nach Figur 2
409829/07U
sind identisch bezeichnet. In der Einrichtung FO der Figuren F und 6 erstreckt sich der Kanalbereich Pl mit dem Leitfähigkeitstyp
P teilweise zu dem oberflächennnhen Bereich 21
weicherunter der ersten Elektrode 15 liegt und ist nicht unmittelbar
in Kontakt mit dem oberflächennahen Bereich. Eine Schicht aus isolierendem Material 52, beispielsweise aus:
Siliciumdioxyd, ist über der freiliegenden Oberfläche der
isolierenden Schicht 14. und dem ersten Film IP aus leitendem
Material vorgeseheö» Ein zweiter leitender Film oder Platte
mit einer schmalen länglichen Form bildet eine vierte Elektrode
und ist über der Schicht 52 der Isolation überlappend zum ersten leitenden "Film W und auch .zur Kgsnte des K??nalbe~
reiches 51 entfernt von $®τ dritten Elektrode 22 vorhanden,,
Der_ zweite Film FS- liegt datier Isolierend über dem oberf läehenmstien
Teil des Bereichs 54 .zwischen dem ofoerf lächenimhen
Bereich 21 und dem fön®!bereich 51 de© Leitfähigkeitstyps P.
Die Spannung zur Erzeugung der Sperrschicht oder Verarmung,
welche von der Quell©" F6"und föber einen Behälter 57 zwischen
der ,vierten Elektrode und d©r sw©it©a Elektrode angelegt worden
ist, kenn den Bereich 54 d©r darunter liegendea HalbX©iterschicht
umkehren um ©in© Widers ta adsmäfäige ¥erbindung zwischen
dem oberflacheanafaan Beroiefe 21 und ύ@τ dritten Elektrode 22
zu erhalten,, Daher ist ein® -Einrichtung vorgesehen um die
Kapazitätssteuerspannung von der.Quelle 33 in gewünschter Weise
einzuschalten und auch aur Erzielung eines erwünschten Kanalwiderstandes zwischen dem oberflächennahen Bereich 21
und der dritte» Elektrode 22 mit Hilfe einer Steuerung der Umkehrung der Leitfähigkeit des Bereichs 54, welcher unter der
vierten Elektrode-53 liegt«, In dieser Abbildung ist such eine
über einen Schalter 57 zwischen die vierte Elektrode 53 und die zweite Elektrode· 16 geschaltete Vorspannungsquelle 56
gezeigt und weiterhin eine verallgemeinerte Impedanz 58 welche beispielsweise eine Induktanz sein kannt die parallel
zu der Kapazität geschaltet ist, welche zwischen der ersten
409829/0715
und zweiten Elektrode erscheint um hierdurch einen abgestimmten Kreis oder Resonpnzkreis zu erhalten. Weiterhin ist eine
Quelle für Ilochf requenzsignale zwischen die erste und zweite
Elektrode über einen Gleichstromsperrkondensator 59 geschaltet.
Das Potential der Quelle 56 wird so eingestellt, daß man in der
Lage ist, einen Umkehrungskanal mit einem vorbestimmten hohen
Widerstand zwischen dem oberflächennahen Bereich 21 und dem Bereich 51 des Leitfähigkeitstyps T bei Anlegen dieser Quelle
zu erhalten. Wenn der Schalter 57 geschlossen wird, ergibt sich ein Hochwiderstandskanal zwischen .der dritten Elektrode 22
und dem oberflächennahen Bereich 21 und die Einrichtung arbeitet
anschließend bei Vorhandensein von Änderungen der Steuerspannung
von der Quelle 33 in gleichartiger Weise wie die Einrichtung nach Figur 2. Die Komponente des Kpna!Widerstandes,
welcher durch den Bereich Pl des P-Typs erhalten wird, kann in gewünschter Weise und mit beliebiger Größe einem Teil des
Gesamtk?na!Widerstandes zwischen der dritten Elektrode und dem
oberflächennahen Bereich 21 gemacht werden. Ebenso kann der
durch die Umkehrung der Leitfähigkeit des Bereichs 54 erhaltene
K?na!widerstand in gewünschter Weise einfach dadurch verändert
werden, daß die von der Quelle 56 gelieferte Gitterspannung verändert wird.
Es wird nunmehr Bezug genommen auf die Figur 7 welche eine Einrichtung
60 ähnlich der Einrichtung 10 der Figur 2 zeigt. Die
Elemente der Einrichtung 60, welche identisch sind mit den Elementen der Einrichtung 10 der Figur 2 sind in identischer
Weise bezeichnet. In der Einrichtung 60 wird auf der Schicht 12 ein Feldeffekttransistor 65 gebildet um den Kanalwiderstand
zwischen dem oberflächennahen Bereich 21 und der dritten Elektrode
22 zu erhalten. Der Feldeffekttransistor 6^ enthält einen
kleinen Source-Bereich 66 des P-Typs welcher in Kontakt mit dem oberflächennahen Bereich 21 ist und ebenso einen Drain-Bereich
67 in Kontakt mit der dritten Elektrode weiterhin ist
409829/0715
eine Gitterelektrode 68 ruf der isolierenden Schicht 14 überlappend
bezüglich des Bereiches für Source und Dr?in vorhanden.
Die Gitterelektrode 68 ist über einen Sehr lter 69 mit dem negativen
Anschluß der Steuersp?nnungsquelle 70 verbunden und der
positive Anschluß derselben ist mit der zweiten Elektrode 16 verbunden. Des Betriebspotentifil_ wird der ersten und zweiten
Elektrode über eine Gleichspsnnungsquelle 30 zugeführt, dexen negative
Anschluß über eine Induktrnz 71 mit der ersten Elektrode und der positive Anschluß mit der zweiten"Elektrode für Einrichtung
verbunden sind.
Eine Quelle 35 für ein Hochfrequenzsignal wird in die SchPltung
eingekoppelt, welche durch die Induktanz 71 und die zwischen der ersten und zweiten Elektrode 15 und 16 erseheinende Induktivität
gebildet ist; dies geschieht mit Hilfe einer weiteren Induktivität 72, welche in den Kreis der Quelle 35 geschaltet
ist und auf die Induktanz 71 gekoppelt ist. Beim Betrieb wird
der Feldeffekttransistor 65 durch das Schließen des Schslters 69
und die Zuführung eines geeigneten Gitterpotentials von der Quelle 70 stromdurchlässig gemacht,, Dp bei erseheint das Potential
ΐ>η der dritten Elektrode pm oberflächennrhen Bereich 21 und
bestimmt die Ks»ppzität, welche über der ersten und zweiten Elektrode
15 und 16'erscheint und dnmit die Ansprechehprakteristik
der angeschlossenen"Sehr lter. Eine Veränderung des Steuerpotehtials 33
ändert die Kapazität- der Einrichtung und damit die Ansprechkurve der angeschlossenen Schaltung. Für eine richtige Arbeitsweise
sollte der Source diffundierte Bereich 66 so klein wie möglich im Vergleich zur Elektrode 15 gemacht werden. Dies verhindert
die zyklische Hin- und Herbewegung einer -merklichen Ladung zwischen
dem Söurce-Bereich 66 und dem oberfläebennshen Bereich 21,
wenn eine Signalspannung zwischen den Elektroden 15 und 16 angelegt
wird. .
Es wird nunmehr Bezug genommen auf Figur 8, welche ein Pp ρ r von
Einrichtungen 75 und 80 ähnlich der Einrichtung 10 nach Figur 2
409*29/0716
zeigt,die in einer bestimmten Schaltungsanordnung miteinander verbunden
sind um die K?p?zitätsänderungen gemäß der zugeführten
Signrlsprnnung zu kompensieren. Die Einrichtung 75 ist identisch
zur Einrichtung IO nach Figur 2 und eine Einrichtung 80 ist identisch zur Einrichtung 10 npch Figur 2 mit Ausnahme der
Verwendung eines Substrates des P-Typs und eine darauf gebildeten epitaxialen Schicht des P-Typs. Die Einrichtung 75 besitzt
eine Kennlinie der Kapazität über der Betriebsspannung ähnlich zur Kennliniekapazität-Betriebsspannung der Einrichtung
10 nach Figur 4. Die Kapazitätsps?nnungskennlinie der Einrichtung
80 ist komplementär zur Kapazitätsp?nnungskennlinie der Einrichtung 75, d.h„ die Kapazität der Einrichtung 80 vermindert
sich bei Erhöhung der Betriebsspannung in positiver Richtung. Die Einrichtung 7F enthält einen Körper ?us Halbleitermaterial
des N-Typs, eine erste Elektrode 15, eine zweite
Elektrode 16* und eine dritte Elektrode 22. Die Einrichtung 80
einschließlich eines Körpers aus Halbleitermaterial des P-Typs
•enthält eine vierte Elektrode 81, eine fünfte Elektrode R2 und eins sechste Elektrode S3 entsprechend jeweils der ersten,
zweiten und .dritten Elektrode der Einrichtung 75 q Die erste
Elektrode Xf? und die vierte Elektrode 81 werden miteinander
und mit einem erstem Ausgangsanschluß 85 für die Kapazität verbunden.
Die zweite und fünfte Elektrode 16 und.82 v/erden kapazitiv
durch einen Kondensator 84 miteinander verbunden, welcher bei hohen Frequenzen eine niedrige Impedanz besitzt und weiterhin
mit einer zweiten Kapazität, welche den Ausgangsanschluß
ergibt, und auch mit ISpsse verbunden ist. Der positive Anschluß
der Batterie 88 ist mit der zweiten Elektrode 16 und Masse verbunden
und ihr negativer Anschluß ist über die Hochfrequenzdrossel 80 mit der ersten Elektrode 15 verbunden und die Batterie
liefert Betriebsspannung an die erste Einrichtung 75. Die Batterie
90 liefert zusammen mit der Batterie 88 Betriebsspannung ?n
die zweite Einrichtung BO und ihr positiver Anschluß ist mit der
zweiten Elektrode IS und Masse ihr negativer Anschluß mit der fünften Elektrode 82 verbunden. Da die Einrichtungen mit Ausnahme
409829/0715
des Leitfähigkeitstyps des IInlbleitermaterifils identisch sind
ist die Spannung der Batterie Π0 normalerweise doppelt so groß
wie die Spannung der Batterie 88 um*pusgeglichene Betriebsspannungen
?n dje Einrichtungen 7F und 80 zu liefern. Eine variable
Sprtnnungsquefle OX ist. zwischen die dritte Elektrode und die
zweite Elektrode geschrltet zur Steuerung des Potentials derselben
und in ähnlicher Vfeise ist eine weitere variable Quelle 92
zwischen die sechste und fünfte Elektrode zur Steuerung des Potenti?Is derselben geschaltet. Die Einrichtungen 75 und 80 sind
so pufgeb?ut, daß sie im wesentlichen ausgeglichene Kapazitäten
liefern und die Betriebsspannungen sind so eingestellt, daß die
Kapazitäten im wesentlichen identisch.sind„ 'Es sei angenommen,
daß die Einrichtung 95 eine Kapazitäis-Spannungskennlinie nach
Figur 4 besitzt und die Einrichtung 80 eine im wesentlichen identische Kennlinie für entsprechende positive Betriebsspannungen besitzt.
Daher wird die geringfügige in der-Einrichtung 75 in einer
Richtung bewirkte Veränderung 'der Kapazität mit der Änderung der Amplitude des über den Anschlüssen 85 und 86 zügeführten Signals
durch eine entsprechende Änderung in ü<sr Einrichtung 80 in entgegengesetzter
Richtung kompensiert. Das Endergebnis besteht darin, daß im wesentlichen keine Änderung der resultierenden Kapazität
auftritt, welche über den Anschlüssen 85 und 86 erscheint. Ein verallgemeinerndes Beispiel zur Veranschaulichung der Größenordnung
der· verschiedenen Zeitperioden oder Zeitkonstanten- der
Elemente der Einrichtung und der Schaltungen für dieselbe und der Betriebspsraraeter ist aufschlußreich. Es sei angenommen, daß
die Einrichtung mit variabler Kapazität als Abstimmkondensator
für die Hochfrequenzstufe eines Fernsehempfängers verwendet werden
soll. Unter der Annahme einer Trägerfrequenz von 100 'Megahertz
wird eine Zeitperiode von 0,0t Mikrosekunden für einen
Zyklus erhalten. Unter'der Annahme,'- daß die Zeitkonstante des
Widerstandes des Kanalbereiches .und der Kapazität über der ersten
und zweiten Elektrode der Einrichtung den tausendsten Teil der Trägerfrequenz oder 10"" Sekunden beträgt und daß die Nennkapazität
der Einrichtung 20 Picofarad ist ergibt einen Widerstand von 5 χ 1O+11 Ohm. Wird angenommen, daß die für die vollständige Umkehrung
der Oberfläche der Ilalbleiterschicht eines isolierten
ClS-Kondensators nach der momentanen Zuführung eine Abreicherung
bewirkenden Spannung erforderliche Zeitdauer hundertmal so
groß ist wie die RC-Zeitkonstante des Kpnp!Widerstandes und der
Kapazität der Einrichtung, dann erhält man eine Zeitperiode von 0,001 Sekunden. Halbleitermaterialien mit dieser letzteren Fähigkeit
sind leicht erhältlich. Der gewünschte Widerstand des Kanslbereiches
kann dadurch erzielt werden, .daß der Kanalbereich des P-Typs mit den erforderlichen geometrischen Abmessungen und
dem erforderlichen spezifischen Widerstand gemäß den Ausführungsformen nach den Figuren 1, 2 und 8 gebildet wird. Selbstverständlich
werden bei einer Benutzung der Umkehrung der Leitfähigkeit
des Kanplbereich.es gemäß den Ausführungsformen nach den Figuren
5, 6 und 7 die Kanalbereiche so konstruiert, daß man den
erwünschten Widerstand gemäß der geometrischen Gestaltung und den zu verwendenden Betriebspotentialen enthalte
409829/071 S
Claims (1)
- - 20 -Pa tentansprücheSpannungsvariabler Kondensator mit Leiter, Isolator, II? 1 b-'leiter und mit Hnlbkondensatorelektroden welche nachstehend als erste und zweite Elektrode bezeichnet sind, wobei der Kondensator geeignet ist zur Verbindung über seine Hpuptelektroden mit einem durch eine Hochfrequenzquelle versorgten Schaltkreis und eine Quelle für Betriebspotential enthält, welche über eine Gleichstrom leitende Verbindung mit den primären Elektroden verbunden ist, wobei die erste Elektrode über einem Teil einer äußeren Oberfläche einer isolierenden Schicht liegt und diese isolierende Schicht über eine Ilpuptaußenoberflache einer Schicht von Halbleitermaterial mit relativ großem spezifischen Widerstand liegt und diese Schicht sich in ein Substrat aus Halbleitermaterial des gleichen Leitfähigkeitstyps fortsetzt, welches jedoch einen relativ geringen spezifischen Widerstand besitzt, und weiterhin das Substrat.einer äußerer Hauptoberfläche besitzt über der die zweite Elektrode liegt, wobei diese Hpuptoberflächen nachstehend als erste und zweite Hpuptoberflachen des zusammengesetzten Halbleiterkörper bezeichnet sind, dadurch gekennzeichnet , daß die Betriebspotent ia !quelle eine Spannung mit ausreichender Amplitude liefert zur Bildung eines Sperrschicht oder Verarmungsbereichs im Innern des zur ersten Hauptoberfläche benachbarten Bereichs des Körpers, welche unter der ersten Elektrode liegt, und zur Bildung einer Inversions- oder Umkehrschicht im Innern dieses Sperrschicht oder Verarmungsbereichs und weiterhin einen Kanal aus Halbleitermaterip. 1 mit entgegengesetztem Leitfähigkeitstyp.besitzt wobei der Kanal in Eingriff mit der isolierenden Schicht ist und sich seitwärts von einem relativ entfernt zur ersten Elektrode gelegenen Punkt in den Sperrschichtbereich hinein erstreckt409829/0715und einen solchen spezifischen Widerstand besitzt, daß die durch den Kanalwiderstand und die Kapazität zwischen Inversionsschicht und Substrat gebildete Zeitkonstante im wesentlichen größer ist als die Periodendauer des Hochfrequenzsignals, eine dritte Elektrode auf der äußeren Oberfläche der isolierenden Schicht angebracht ist und sich durch die isolierende Schicht in den Kanal hinein an einer Stelle in der Nachbarschaft des entfernt gelegenen Punktes erstreckt und weiterhin ein variables Steuerpotenti?l zwischen der dritten und zweiten Elektrode zuführbar ist wobei dieses variable Potential der dritten Elektrode relativ zur zweiten Elektrode die gleichePolarität als das Potential von der ersten Elektrode nach der zweiten Elektrode besitzt, jedoch eine geringere Amplitude aufweist, so daß ein entsprechendes variables Potential im Sperrschichtbereich einstellbar ist und der Kapazitätswert entsprechend variierbar ist und im wesentlichen unabhängig von der Amplitude des Hochfrequenzsignals variierbar ist.2. Kondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennze ichnet , daß die Spannungsamplitude infolge des Hochfrequenzsignals betrachtet zwischen der ersten und zweiten Elektrode klein ist in Bezug auf die Spannungsamplitude infolge der Betriebspotentia!quelle.3. Kondensator nach Anspruch !.oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Zeitkonstante klein ist bezogen auf die Zeitdauer, welche zur vollen Einstellung der Inversion in dem Bereich, welcher benachbart ist zur ersten Ilauptoberfläche beim Vorhandensein einer normalen Minoritätsträgererzeugung in dem Bereich erforderlich ist.409 8 2 9/07154. Kondensator nach einem der-Ansprüche I - 3~, dadurch gekennzeichnet , daß die Leitfähigkeit des Ilrlbleitermsterinls in der Nähe der Oberfläche des zur ersten Oberfläche benpchbprten Bereiches größer ist als die Leitfähigkeit des übrigen Teils dieses zur ersten Oberfläche benpchbprten Bereiches.5. Kondensator nach einem der Ansprüche 1-4, dadurch gekennzeichnet, daß der Kanal in Kontakt mit einem kleinen Teil der umschließenden Oberfläche des zur ersten Oberfläche benachbarten Bereiches ist.6. Kondensator nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet , daß der Kanal einen durch Aktivator erzeugten oberflächenbenächbarten Bereich des entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps besitzt, weil ein Teil dieses Bereiches in Kontakt mit der dritten Elektrode ist.7. Kondensator nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet , daß der durch Aktivator induzierte oberflächenbenachbarte Bereich länglich ist.R. Kondensator nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet , daß der durch Aktivator induzierte oberflächenbenachb?rte Bereich einen seitlichen Abstand von dem zur ersten Hauptoberfläche benachbarten Bereich besitzt und weiterhin ein zweiter Kanalbereich vorhanden ist, welcher im Innern dieses letztgenannten Abstandraumes angeordnet ist, wobei dieser zweite Kanalbereich an sich den gleichen Leitfähigkeitstyp als der zur ersten Hauptoberfläche benachbarte409829/0715Bereich besitzt und noch Einrichtungen zur Zuführung eines Potentials mit pusreichender Amplitude und richtiger Polarität für eine Inversion des Lejtfähigkeitstvps des zweiten Kpnr-1-bereiches zu diesem Bereich vorgesehen sind.0. Kondensator nrch Anspruch R, dadurch g e k e η η zeich.net, daß eine zusätzliche Elektrode vorgesehen ist, welche sich von außerhalb der isolierenden Schicht durch die isolierende Schicht in den zv/eiten Knnal erstreckt, und das Inversionspotentip1 für diesen zweiten Ksnrl zwischen der zusätzlichen Elektrode und der zweiten Elektrode zuführbar ist.10. Kondensator nach Anspruch 8 oder Q, dadurch gekennzeichnet, daß ein zweiter durch Aktivator induzierter oberflächenbenachbarter Bereich des entgegengesetzten Leitfahigkextstyps vorgesehen ist, wobei dieser letzte· re Bereich den zur ersten II? upt oberf lache ben?chb?rten Bereich nach Anspruch t kontnktiert und der zv/eite Knnrl einen seitlichen Abstand beider durch Aktivator induzierten oberf lächenbenRclibPrten Bereiche dp rs teilt.It. Kondensator npch Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet , dpß der durch Aktiv?.tor induzierte oberfiächenbenpchbprte Bereich nach Anspruch 6 mit dem zur ersten Hpuptoberflache benachbarten Bereich nach Anspruch 1 in Kontakt ist.12» Kondensator nach einem der Ansprüche 1 - IX, d s,d u r c h gekennzeichnet , daß er mit einem ähnlichen409829/07 1 5jedoch komplementären..zweiten Kondensator kombiniert ist, welcher ein eigenes Substrat und eine eigene Schicht des vorgenannten entgegengesetzten Leitfähigkeitstvps besitzt und weiterhin einen eigenen IOnrl gemä3 /inspruch I mit einem zu seiner eigenen Schicht entgegengesetzten LeitXähigkeitstvp aufweist, wobei die ej-sten Elektroden der beiden komlementären Kondensrtoren leitend untereinrnder verbunden sind, die zweiten Elektroden der beiden Kondens?toren durch einen Kondensator für das ilochfrequenzsig-nnl untereinrnder gekoppelt sind und durch eine Gleichstromquelle zur Einstellung des richtigen BetriebspotentlcIs für den zweiten Knndensrtor. und ^veiterhin eine getrennte v?ri?ble Steuersprnnung zwischen die zweite und dritte Elektrode des zweiten Kondensrtors geschaltet ist.Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00319324A US3808472A (en) | 1972-12-29 | 1972-12-29 | Variable capacitance semiconductor devices |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2364263A1 true DE2364263A1 (de) | 1974-07-18 |
Family
ID=23241771
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2364263A Pending DE2364263A1 (de) | 1972-12-29 | 1973-12-22 | Halbleitereinrichtungen mit variabler kapazitaet |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3808472A (de) |
JP (1) | JPS49126285A (de) |
DE (1) | DE2364263A1 (de) |
NL (1) | NL7317739A (de) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3890635A (en) * | 1973-12-26 | 1975-06-17 | Gen Electric | Variable capacitance semiconductor devices |
US3890631A (en) * | 1973-12-26 | 1975-06-17 | Gen Electric | Variable capacitance semiconductor devices |
US3909751A (en) * | 1973-12-28 | 1975-09-30 | Hughes Aircraft Co | Microwave switch and shifter including a bistate capacitor |
JPS5516461B2 (de) * | 1974-03-25 | 1980-05-02 | ||
JPS5951141B2 (ja) * | 1977-03-10 | 1984-12-12 | 三洋電機株式会社 | 選局装置 |
JPS57103366A (en) * | 1980-12-18 | 1982-06-26 | Clarion Co Ltd | Variable-capacitance device |
DE3272410D1 (en) * | 1981-02-16 | 1986-09-11 | Fujitsu Ltd | Method of producing mosfet type semiconductor device |
US4510516A (en) * | 1982-02-01 | 1985-04-09 | Bartelink Dirk J | Three-electrode MOS electron device |
US4727406A (en) * | 1982-02-12 | 1988-02-23 | Rockwell International Corporation | Pre-multiplexed detector array |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3612964A (en) * | 1969-01-06 | 1971-10-12 | Mitsubishi Electric Corp | Mis-type variable capacitance semiconductor device |
US3591836A (en) * | 1969-03-04 | 1971-07-06 | North American Rockwell | Field effect conditionally switched capacitor |
US3562608A (en) * | 1969-03-24 | 1971-02-09 | Westinghouse Electric Corp | Variable integrated coupler |
US3633078A (en) * | 1969-10-24 | 1972-01-04 | Hughes Aircraft Co | Stable n-channel tetrode |
US3604990A (en) * | 1970-04-01 | 1971-09-14 | Gen Electric | Smoothly changing voltage-variable capacitor having an extendible pn junction region |
-
1972
- 1972-12-29 US US00319324A patent/US3808472A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-12-22 DE DE2364263A patent/DE2364263A1/de active Pending
- 1973-12-27 NL NL7317739A patent/NL7317739A/xx unknown
- 1973-12-28 JP JP49004620A patent/JPS49126285A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7317739A (de) | 1974-07-02 |
JPS49126285A (de) | 1974-12-03 |
US3808472A (en) | 1974-04-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3513659C2 (de) | ||
DE2107037C3 (de) | ||
DE2833921C2 (de) | ||
DE2833884A1 (de) | Ladungsgekoppelte schaltungsanordnung mit steuerbarer verstaerkung | |
DE2326875A1 (de) | Transversalfrequenzfilteer | |
DE2153828B2 (de) | Oszillatorschaltung mit Feldeffekttransistoren | |
DE10215761A1 (de) | Variables Dämpfungsglied | |
DE1920077C2 (de) | Schaltungsanordnung zum Übertragen von Ladungen | |
DE2424947C2 (de) | Wanderwellen-Feldeffekttransistor | |
DE3005179A1 (de) | Aofw-verzoegerungsleitung mit variabler verzoegerung und damit hergestellter monolithischer, spannungsgeregelter oszillator | |
DE2361810C3 (de) | Signalumwandlungsschaltung | |
DE2364263A1 (de) | Halbleitereinrichtungen mit variabler kapazitaet | |
DE2643704A1 (de) | Transversalfilter mit mindestens einem analogen schieberegister und verfahren zu dessen betrieb | |
DE3844393A1 (de) | Schaltungsanordnung mit geschalteter spule | |
DE102014118471B4 (de) | Verfahren zum Betrieb eines Halbleiterbauelements | |
DE3037131A1 (de) | Obertonkristallschwingschaltung | |
DE1950937C3 (de) | Halbleiterbauelement zur Erzeugung von in der Frequenz steuerbaren Mikrowellen | |
DE3123239A1 (de) | Mos-halbleitervorrichtung | |
EP1057217A1 (de) | Integrierte schaltung mit kapazitiven elementen | |
DE2940954A1 (de) | Verfahren zur herstellung von hochspannungs-mos-transistoren enthaltenden mos-integrierten schaltkreisen sowie schaltungsanordnung zum schalten von leistungsstromkreisen unter verwendung derartiger hochspannungs-mos-transistoren | |
DE3049102A1 (de) | Parametrische vorrichtung zur verarbeitung von akustischen oberflaechenwellen | |
DE2911514A1 (de) | Hf-verstaerkerschaltung | |
DE1260556B (de) | Schaltung zur Realisierung logischer Funktionen und Verfahren zur Abstimmung der Oszillatorfrequenz dieser Schaltung | |
DE2300999A1 (de) | Mikrowellengenerator | |
DE2246972C3 (de) | Abstimmeinrichtung für den UHF- und den VHF-Bereich |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OHJ | Non-payment of the annual fee |