DE2302149A1 - Verfahren und vorrichtung zum detektieren von fehlern - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum detektieren von fehlernInfo
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE105372A SE360235B (xx) | 1972-01-31 | 1972-01-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2302149A1 true DE2302149A1 (de) | 1973-08-09 |
Family
ID=20257525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732302149 Pending DE2302149A1 (de) | 1972-01-31 | 1973-01-17 | Verfahren und vorrichtung zum detektieren von fehlern |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
CA (1) | CA984512A (xx) |
DE (1) | DE2302149A1 (xx) |
FR (1) | FR2170724A5 (xx) |
GB (1) | GB1382006A (xx) |
SE (1) | SE360235B (xx) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19604375A1 (de) * | 1996-02-07 | 1997-08-14 | Martin Kuboschek | Verfahren zur Auswertung von Testantworten zu prüfender digitaler Schaltungen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens |
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1972
- 1972-01-31 SE SE105372A patent/SE360235B/xx unknown
-
1973
- 1973-01-17 DE DE19732302149 patent/DE2302149A1/de active Pending
- 1973-01-26 GB GB400073A patent/GB1382006A/en not_active Expired
- 1973-01-26 CA CA162,159A patent/CA984512A/en not_active Expired
- 1973-01-31 FR FR7303369A patent/FR2170724A5/fr not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19604375A1 (de) * | 1996-02-07 | 1997-08-14 | Martin Kuboschek | Verfahren zur Auswertung von Testantworten zu prüfender digitaler Schaltungen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens |
DE19604375C2 (de) * | 1996-02-07 | 1999-04-29 | Martin Kuboschek | Verfahren zur Auswertung von Testantworten zu prüfender digitaler Schaltungen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE360235B (xx) | 1973-09-17 |
FR2170724A5 (xx) | 1973-09-14 |
CA984512A (en) | 1976-02-24 |
GB1382006A (en) | 1975-01-29 |
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