DE2156617B2 - Einrichtung zur bildkorrelation - Google Patents
Einrichtung zur bildkorrelationInfo
- Publication number
- DE2156617B2 DE2156617B2 DE19712156617 DE2156617A DE2156617B2 DE 2156617 B2 DE2156617 B2 DE 2156617B2 DE 19712156617 DE19712156617 DE 19712156617 DE 2156617 A DE2156617 A DE 2156617A DE 2156617 B2 DE2156617 B2 DE 2156617B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- photoelectric
- grid
- grating
- image
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/40—Optical focusing aids
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
«ies Bekannten vermieden sind und die daher vielseitig
verwendbar sind.
Die Lösung dieser Aufgabe bringt ;ine Einrichtung, JÖie gekennzeichnet ist durch mindestens ein einem Eintrittsobjektiv
nachgeordnetes Gitter als Korrelator und OrtsfrequenzFilter, welches sich in der Nähe der Abbildungsebene
dieses Objektivs befindet, sowie vorzugsweise zwei diesem Gitter nachgeordnete fotoelektrische
Empfänger, deren Ausgangssignale im Hinblick auf eine Anzeige und/oder Erzeugung von den Relativabstand
zwischen Gitter und Abbildungsebene verindernden Steuersignale ausgewertet werden.
Dabei können die Ausgangssignale der fotoelektrischen
Empfänger auf Grund angewendeter physikalischer oder geometrischer Strahlenteilung für die gewählte
Ortsfrequenz im Gegentakt sein.
Mit Vorteil weist die Einrichtung zwischen dem Objektiv
und dem korrelierenden Gitler ein polarisierendes bildaufspaltendes Element als Bildverdoppler und
zwischen dem Gitter und den fotoelektrischen Empfängern einen polarisierenden Teiler auf.
Gemäß einer weiteren Ausführungsform ist zwischen dem Objektiv und dem korrelierenden Gitter ein Dispersionsprisma
als Bildverdoppler und zwischen dem Gitter und den fotoelektrischen Empfängern ein nach
Farben aufspaltender Teiler angeordnet.
Das korrelierende Gitter kann auch aus von Zeile zu Zeile gegenläufigen sägezahnförmigen Prisnv;nreihen
bestehen.
In einer anderen Ausführungsform ist jedem der dem korrelierenden Gitter nachgeordneten fotoelektrischen
Empfänger je eine sammelnde Optik sowie eine Richtungsblende zugeordnet und die fotoelektrischen Empfänger
sind räumlich derart angeordnet, daß sie nur durch diametrale Partien des Objektivs passiert habende
Strahlenanteile erregt werden können.
Die erfindungsgemäße Einrichtung kann auch so ausgebildet sein, daß den fotoelektrischen Empfängern
Mittel nachgeschaltet sind, die eine Variation der Relativlage zwischen Objektiv und Korrelationsgitter im
gewünschten Sinne bewirken.
Mit Vorteil kann das korrelierende Gitter durch in bzw. auf einen Träger gebrachte, in ihrem Querschnitt
dreieckförmige, mit ihren Längskanten zueinander parallelliegende Furchen oder Prismen gebildet sein.
Zum Messen nach verschiedenen Koordinateneinrichtungen kann das korrelierende Gitter durch eine
Vielzahl mit den Kanten ihrer Grundfläche parallel zueinander und nebeneinanderliegender Pyramiden
dargestellt sein. In diesem Falle ist vorzugsweise jeder durch die Pyramidenseiten definierten Gitterrichtung
ein fotoelektrischer Empfänger zugeordnet.
Statt zweier fotoelektrischer Empfänger kann je Koordinate auch nur ein einziger fotoelektrischer Empfänger
vorgesehen sein, der wechselweise den beiden Strahlenteilen zugeordnet wird.
Die Einrichtung ist nachfolgend an Hand von Zeichnungen beispielsweise beschrieben. Es zeigt
F i g. 1 eine neue Einrichtung mit verwendeter polarisierender Strahlenteilung,
F i g. 2 eine Einrichtung mit gerichteten fotoelektrischen Empfängern,
F i g. 3 eine Einrichtung mit einem Speziairaster als Korrelator,
1F i g. 3a die Ausbildung des Gitters nach F i g. 3,
F i g. 4 eine Einrichtung mit Prismengitter,
F i g. 4a die Ausbildung des Gitters nach F i g. 4,
F i ε. 5 eine Einrichtung zum zweidimensionalen Messen,
F i g. 5a die Ausbildung des Gitters nach F i g. 5.
In F i g. 1 ist mit dem Bezugszeichen 1 ein von einem
anzumessenden Objekt (nicht mit dargestellt) herkommendes Lichtbündel bezeichnet, aus dessen optischen
Eigenschaften die Entfernung des Objektes bestimmt werden soll. Beleuchtet wird das Objekt durch allgemein
verwandte Lichtquellen, z. B. Tageslicht oder Kunstlicht. Ein Objektiv 2 bildet das Objekt in die Ebene
eines Gitters 3 ab. Dabei erzeugt ein dem Objektiv 2 zugeordnetes Wollaston-Prisma 4 durch Doppelbrechung
zwei Objektbilder, die in der Ebene des Gitters 3 um eine halbe Gitterkonstante senkrecht zu den Gitterstrichen
gegeneinander versetzt sind. Das Licht je eines Bildes wird nach Filterung durch das Gitter 3 über
einen polarisierenden Teiler 5 je einem fotoelektrischen Empfänger 6,7 zugeführt, deren Ausgangssignale
auf einen Gegentaktverstärker 8 geschaltet sind. Am Ausgang des Verstärkers 8 Hegt ein Meßinstrument 9
zur Anzeige des maximalen Differenzsignals der Empfänger 6, 7.
Da die Objektbilder eine ortsveränderliche Helligkeitsverteilung
aufweisen, erhalten die Empfänger 6, 7 verschiedene Lichtmengen, denn das Gitter 5 filtert als
Ortsfrequenzfilter den seiner Gitterkonstante entsprechenden Frequenzanteil aus der Bildverteilung aus. Die
Erfindung beruht nun darauf, daß dieser Frequenzanteil dann ein Intensitätsmaximum besitzt, wenn der anzumessende
Bildanteil des Objektes in der Ebene des Gitters 3 scharf abgebildet wird. Demnach tritt bei einer
Relativbewegung zwischen Gitter und Bild (evtl. stochastisch durch Bewegungen oder Zittern des Benutzers
des Entfernungsmessers hervorgerufen) bei Scharfeinstellung am Ausgang des Verstärkers 8 ein
zeitveränderliches Signal maximaler Amplitude auf, dessen Frequenz der Geschwindigkeit der Relativbewegung
proportional ist Nach diesem Signal wird über einen Regler 10 und das Objektiv 2 die Abbildungsschärfe optimal geregelt. Die Entfernung kann dann
z. B. an einer dem Regler 10 zugeordneten Skala abgelesen werden.
Durch die Überlagerung der Objektstruktur mit der Struktur des Gitters 3 ergibt sich die Ausfilterung der
der Ortsfrequenz des Gitters entsprechenden Bildstrukturanteile. Dabei werden zusätzliche niederfrequentere
Bildanteile als störender Gleichlichtanteil durchgelassen. Für das um eine halbe Gitterkonstante
versetzte Bild gilt das gleiche, aber mit dem Unterschied, daß nur die der Gitterkonstante entsprechende
Ortsfrequenz gegenüber dem erstgenannten Ortssignal um 180° in der Phase verschoben ist. Durch die anschließende
Differenzbildung der aus den beiden Bildanteilen gewonnenen elektrischen Signale erhält man
also automatisch eine Elimination der gleichphasigen Gleichlichtanteile und eine Addition der gegenphasigen
Signalanteile der ausgefilterten Ortsfrequenz.
Es ist natürlich auch möglich, die polarisierende Aufspaltung der beiden Bildanteile durch Farbaufspaltung
mittels eines Farbdispersionsprismas und eines dichromatischen Teilers an Stelle der Bauelemente 4 bzw. 5
zu ersetzen.
Die in F i g. 2 schematisch dargestellte Ausführungsform weist die in der Anordnung nach F i g. 1 mit Bezugszeichen
1 bis 3 und 6 bis 10 bezifferten Elemente mit gleicher Funktion und Bezeichnung auf. Im Gegensatz
zur letztgenannten Anordnung treffen hier jedoch diametrale Partien 11, 12 des Objektivs 2 passiert habende
Strahlenanteile des Bündels 1 jeweils die ver-
schiedenen Fotoempfänger 6, 7. Dies wird dadurch erreicht, daß jedem der dem korrelierenden Gitter 3
nachgeordneten Fotoelektrischen Empfänger 6, 7 je eine sammelnde Optik 13,14 sowie eine Richtungsblende
15,16 zugeordnet sind und daß die Bauelemente 6,7, 13 bis 16 eine entsprechende räumliche Anordnung in
bezug auf die Hauptachse des Objektivs 2 besitzen. Die achsennahen Anteile des Bündels 1 sind durch eine
Blende 17 von der Meßanordnung ferngehalten und können beispielsweise zur fotografischen Bildauswertung
dienen. Im Falle der Gleichlage von Bild und Gitterebene zeigt das Instrument 9 einen Null-Durchgang
des Differenzsignals an, da die Elemente 6,7 dann gleiche Lichtmengen erhalten. Bei der Verlagerung des
Schnittpunktes der Lichtanteile aus der Gitterebene heraus werden beide Fotoempfänger 6, 7 hingegen unterschiedlich
beaufschlagt. Dies gilt für alle Bildpunkte, die im Bild relativ zueinander fixiert, d. h. »kohärent«
liegen, sich aber gemeinsam zeitlich stochastisch bewegen können.
In Fig.3 ist eine weitere Ausführungsform der
neuen Einrichtung schematisch dargestellt. Sie weist die mit 1, 2,6 bis 10 bezeichneten Elemente der F i g. 1
mit analoger Funktion auf. Das korrelierende Gitter 21 besteht hier jedoch aus von Zeile zu Zeile gegenläufigen
sägezahnförmigen Prismenreihen 22 (s. F i g. 3a). Die Energieaufspaltung zwischen den um eine halbe
Gitterkonstante gegeneinander versetzten Objektbildern wird also nicht über eine Polarisationsoptik erzeugt,
sondern durch die unterschiedliche Lichtablenkung der gegenläufigen Prismen. Das erzeugte Gegen taktsignal
bezüglich der Ortsfrequenz der Objektbilder ist dem mit Anordnung nach F i g. 1 äquivalent.
In F i g. 4 ist eine Abwandlung des in F i g. 3 gezeigten dargestellt. Auch hier weisen gleichlautende Bezugszeichen
auf gleiche Bauteile hin. Das Gitter 25 ist hier jedoch als Furchenraster mit dreieckförmigem
Furchenquerschnitt ausgebildet (s. Fig.4a). Dadurch,
daß die Flanken der Gitterfurchen abwechselnd ungleiche Neigungen aufweisen, wird die Energieaufspaltung
zwischen den um eine halbe Gitterkonstante gegeneinander versetzten Objektbildern durch die unterschiedliche
Lichtablenkung benachbarter Flanken erzeugt. Im Gegensatz zu F i g. 3 erfolgt hier die Aufspaltung quer
zur Furchenrichlung. Die dargestellten Blenden 15', 16' haben in Verbindung mit den Objektiven 13', 14' hier
die Aufgabe, die Empfangsrichtungen der fotoelektrisehen
Empfänger 6,7 eindeutig zu definieren.
In F i g. 5 schließlich ist eine neue Einrichtung dargestellt,
welche die Messung nach zwei Koordinateneinrichtungen erlaubt. Wie dargestellt, ist hier im vom Objekt
herkommenden Lichtbündel 1 dem Objektiv 2 ein Raster nachgeschaltet, welches auf einem Träger 26
eine Vielzahl gleichartiger, mit den Kanten ihrer Grundflächen parallel zueinander und nebeneinanderliegender
Pyramiden 27 aufweist (vgl. F i g. 5a). Durch die Normalen der Pyramidenflächen sind in der Ebene
des Gitters zwei Richtungspaare definiert, denen vier
fotoelektrische Empfänger 28 bis 31 zugeordnet sind. Es ist also möglich, mittels dieses Gitters in der Gitterebene nach zwei zueinander nicht parallelen Richtungen
zu messen. Dies ist insbesondere dann von Vorteil, wenn in einer Koordinatenrichtung periodische Bildstrukturen
(Lattenzaun) anfallen. Darüber hinaus läßt sich mit Hilfe dieser Gitteranordnung für jede Koordinatenrichtung
ein Gegentaktsignalpaar gewinnen, die es in bekannter Weise ermöglichen, Gleichlichtanteile
*5 aus den anfallenden Meßsignalen zu eliminieren.
Wie ersichtlich, werden alle Ausführungsbeispiele in Durchlichtdarstellung gezeigt, d. h. bei allen dargestellten
Einrichtungen sind die Gitter transparent ausgeführt und die fotoelektrischen Empfänger befinden sich.
in Lichtrichtung gesehen, hinter den Gittern. Selbstverständlich lassen sich für alle Beispiele entsprechende
Gitterausführungen herstellen, welche die Funktionen eines Reflexionsgitters ausüben, wobei dann die foloelektrischen
Empfänger vor den Gittern angeordnet sind.
Der Vorteil der oben beschriebenen neuen Einrichtungen liegt einmal darin, daß zur Signalbildung ein
schnell bewegtes und daher störanfälliges Bauteil nicht benötigt wird. Zum anderen aber lassen sich diese Einrichtungen
mit geringem Aufwand verwirklichen. Sie lassen sich beispielsweise bei fotografischen Kameras,
bei Kopiergeräten, bei Mikroskopen, bei Vermessungsgeräten usw. mit Vorteil anwenden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Einrichtung zur Bestimmung der relativen Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz,
beispielsweise bei einem Entfernungsmesser. gekennzeichnet durch mindestens ein einem Eintrittsobjektiv (2) nachgeordnetes Gitter
(3; 21; 22; 25; 26, 27) als Korrelator und Ortsfrequenzfilter, welches sich in der Nähe der Abbildungsebene
dieses Objektivs befindet, sowie vorzugsweise zv/ei diesem Gitter nachgeordnete fotoelektrische
Empfänger (6, 7; 28 bis 31), deren Ausgangssignale im Hinblick auf eine Anzeige und/oder
Erzeugung von den Relativabstand zwischen Gitter · und Abbildungsebene verändernden Steuersignalen
ausgewertet werden.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ausgangssignale der fotoelektrischen Empfänger auf Grund angewendeter physikalischer
oder geometrischer Strahlenteilung für die gewählte Ortsfrequenz im Gegentakt sind.
3. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Objektiv
(2) und dem korrelierenden Gitter (3) ein polarisierendes bildaufspaltendes Element (4) als Bildverdoppler
und zwischen dem Gitter und den fotoelektrischen Empfängern ein polarisierender Teiler
(5) angeordnet sind.
4. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Objektiv (2) und
dem korrelierenden Gitter (3) ein Dispersionsprisma als Bildverdoppler und zwischen dem Gitter und
den fotoelektrischen Empfängern ein nach Farben aufspaltender Teiler angeordnet sind.
5. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das korre'ierende Gitter von
Zeile zu Zeile gegenläufige sägezahnförmige Prismenreihen (22) aufweist.
6. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das korrelierende Gitter durch
in bzw. auf einen Träger (24) gebrachte, in ihrem Querschnitt dreieckförmige. mit ihren Längskanten
zueinander parallelliegende Furchen (25) oder Prismen gebildet ist.
7. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das korrelierende Gitter durch
eine Vielzahl mit den Kanten ihrer Grundflächen parallel zueinander und nebeneinanderliegender
gleichartiger Pyramiden (27) gebildet ist und daß vorzugsweise jeder durch die Pyramidenseiten defi- 5«
nierten Gitterrichtung ein fotoelektrischer Empfänger (28 bis 31) zugeordnet ist.
8. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß jedem der dem korrelierenden
Gitter nachgenrdneten fotoelektrischen Empfänger (6, 7) je eine sammelnde Optik (13, 14) sowie eine
Richtungsblende (15, 16) zugeordnet sind und daß die fotoelektrischen Empfänger räumlich derart angeordnet
sind, daß sie nur durch diametrale Partien des Objektivs (2) passiert habende Strahlenteile (11,
12) erregt werden können.
9. Einrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
den fotoelektrischen Empfängern (6,7) Mittel (8,10) nachgeschaltet sind, die eine Variation der Relativlage
zwischen Objektiv (2) und Korrelationsgitter (3) im gewünschten Sinne bewirken.
Die Anmeldung betrifft Einrichtungen zur Bestimmung der relativen Lage der Ebene maximaler Amplitude
einer Ortsfrequenz, beispeilsweise bei einem Entfernungsmesser
oder bei Mikroskopen.
Es ist ein Verfahren zur objektiven Scharfeinstellung von durch optische Systeme entworfenen Bildern bekannt,
bei dem das Bild eines Testobjektes ein lichtelektrisches Organ beeinflußt. Gemäß diesem Verfahren
werden die Hell- und Dunkelfelder des vorzugsweise rasterförmigen Testobjektbildes dem lichtelektrischen
Organ abwechselnd in schneller Aufeinanderfolge durch eine vorzugsweise spaltförmige Blende hindurch
zugänglich gemacht Dieses Verfahren ist insofern nachteilig, als einerseits nur speziell präparierte
Testobjektbilder scharf eingestellt werden können und andererseits zu seiner Durchführung ein erheblicher
Aufwand unter Verwendung eines mechanisch schnell bewegten Bauteiles notwendig ist (DT-PS 9 27 239).
Auch ist ein Verfahren zur objektiven Scharfeinstellung
von durch optische Systeme entworfenen Bildern bekannt, bei dem die Hell- und DunkelfeJder zweier
rasterförmiger Testobjektbilder, von denen das eine dicht vor, das andere dicht hinter der Einstellebene
liegt, durch eine Spaltblende hindurch abwechselnd einem lichtelektrischen Organ in schneiier Aufeinanderfolge
zugänglich gemacht werden. Dabei dient die Steilheit der am Ausgang des lichtelektrischen Organs
auftretenden trapezförmigen Stromimpulse als Maß für die Scharfeinstellung. Die Einstellung des optischen Systems
wird so lange geändert, bis Gleichheit aller Steilheiten erreicht ist. Die Anwendung dieses Verfahrens
bedingt ebenfalls mechanisch schnell bewegte Elemente, die sich darüber hinaus noch am Orte des anzumessenden
Objektes befinden müssen. Solches ist oft nicht durchführbar (DT-PS 9 61 767).
Auch ist ein Verfahren zur Untersuchung der Einstellung von abbildenden optischen Systemen mittels
Autokollimation bekannt, gemäß dem die Einstellung des Objektivs auf den optimalen Wert der Abbildungsschärfe durch eine vor dem Autokollimationsfernrohr
oder an dessen Stelle angeordnete lichtelektrische Zelle erfolgt, auf deren lichtempfindliche Fläche durch das
zu untersuchende Objektiv das von einer Lichtquelle herrührende Licht in solcher Stärke geworfen wird,
daß bei genauer Deckung zweier Testobjektabbildungen ein Maximum oder ein Minimum des Fotozellenstromes
entsteht, das als Kriterium für die Objektiveinstellung dient Auch diese Einrichtung kann nur für vorher
präparierte und installierte Testobjekte verwendet werden, was bei Entfernungsbestimmungen zu beliebigen
fernen Gegenständen nachteilig ist (DT-PS 7 42 220).
Schließlich ist eine Einrichtung zum Scharfeinstellen optischer Systeme bekannt, bei der das ein optisches
System durchsetzende Lichtbündel durch ein Mittel in zwei Teile zerlegt ist derart, daß die Trennebene der
Teile die optische Achse enthält und bei der eine längs der optischen Achse relativ zum System verschiebliche
Foucaultsche Schneide angeordnet ist, mit welcher diejenige Stelle aufgesucht werden kann, in der die
Schneide die Helligkeit der beiden Teile in gleichem Verhältnis beeinflußt, was fotoelektrisch bestimmt
wird. Bei der Bildkorrelation beliebiger Objektstrukturen kann dieses Verfahren wegen inhomogener Helligkeitsverteilung
kaum Verwendung finden (DT-PS 11 03 050).'
Aufgabe vorliegender Erfindung ist es, Einrichtungen zur Bildkorrelation anzugeben, bei denen die Nachteile
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2156617A DE2156617C3 (de) | 1971-11-15 | 1971-11-15 | Einrichtung zur Bestimmung der Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz, beispielsweise bei einem Entfernungsmesser |
CH1537972A CH553421A (de) | 1971-11-15 | 1972-10-20 | Einrichtung zur selbsttaetigen fokussierung. |
AT905972A AT349775B (de) | 1971-11-15 | 1972-10-23 | Mess-einrichtung - insbesondere an ent- fernungsmessern oder an mikroskopen - zur bild-korrelation |
GB4938472A GB1396712A (en) | 1971-11-15 | 1972-10-26 | Image testing device |
JP47109001A JPS6365922B2 (de) | 1971-11-15 | 1972-11-01 | |
FR7239003A FR2160399B1 (de) | 1971-11-15 | 1972-11-03 | |
US00306535A US3781110A (en) | 1971-11-15 | 1972-11-15 | Optical range finding system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2156617A DE2156617C3 (de) | 1971-11-15 | 1971-11-15 | Einrichtung zur Bestimmung der Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz, beispielsweise bei einem Entfernungsmesser |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2156617A1 DE2156617A1 (de) | 1973-05-24 |
DE2156617B2 true DE2156617B2 (de) | 1976-05-06 |
DE2156617C3 DE2156617C3 (de) | 1980-08-21 |
Family
ID=5825149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2156617A Expired DE2156617C3 (de) | 1971-11-15 | 1971-11-15 | Einrichtung zur Bestimmung der Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz, beispielsweise bei einem Entfernungsmesser |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3781110A (de) |
JP (1) | JPS6365922B2 (de) |
DE (1) | DE2156617C3 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2835390A1 (de) * | 1978-08-12 | 1980-02-21 | Leitz Ernst Gmbh | Optischer korrelator |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5340333B2 (de) * | 1972-11-14 | 1978-10-26 | ||
JPS5340334B2 (de) * | 1972-11-30 | 1978-10-26 | ||
JPS5635844B2 (de) * | 1972-12-07 | 1981-08-20 | ||
DE2260474C3 (de) * | 1972-12-11 | 1981-10-08 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines Objektivs |
US4053934A (en) * | 1972-12-29 | 1977-10-11 | Kornreich Philipp G | Measuring the quality of images |
US4040741A (en) * | 1973-02-14 | 1977-08-09 | Perkin-Elmer Limited | Polarized grating optical odometer |
US4071297A (en) * | 1973-06-18 | 1978-01-31 | Ernst Leitz Gmbh | Method and apparatus for photoelectrically determining the position of at least one image focus plane |
DE2356757C2 (de) * | 1973-11-14 | 1982-04-08 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Einrichtung zur Bestimmung der relativen Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz |
US3992099A (en) * | 1973-12-12 | 1976-11-16 | Varo, Inc. | Source discriminator for measuring angle of arrival and wavelength of radiant energy |
US3936632A (en) * | 1974-01-03 | 1976-02-03 | Itek Corporation | Position determining system |
DE2403518C2 (de) * | 1974-01-25 | 1984-02-02 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Verfahren zur Messung der relativen Entfernung eines Objektes zu einem Bezugssystem unter Verwendung eines optischen Bildkorrelators, sowie Einrichtung zu dessen Durchführung |
DE2456922C2 (de) * | 1974-12-02 | 1986-10-09 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Einrichtung zur Messung der relativen Entfernung |
US3888589A (en) * | 1974-02-11 | 1975-06-10 | Pilkington Perkin Elmer Ltd | Reflection grating optical odometer |
JPS5116020A (en) * | 1974-07-30 | 1976-02-09 | Minolta Camera Kk | Jidoshotenkenshutsusochi |
DE2437282C2 (de) * | 1974-08-02 | 1983-05-05 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Einrichtung zur fotoelektrischen Bestimmung der Lage einer Schärfenebene eines Bildes |
DE2460805C2 (de) * | 1974-12-21 | 1983-01-27 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Optischer Entfernungsmesser |
JPS51100755A (ja) * | 1975-03-03 | 1976-09-06 | Suteo Tsutsumi | Kukanfuirutanyorukyorisokuteihoshiki |
US4110042A (en) * | 1975-04-24 | 1978-08-29 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh | Method and apparatus for photoelectrically determining the position of at least one focal plane of an image |
DE2527223C2 (de) * | 1975-06-19 | 1985-06-20 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Abtastgitter für einen Schärfedetektor |
DE2528515C3 (de) * | 1975-06-26 | 1978-06-08 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Fokussierung eines optischen Gerätes mit einem Abtastgitter |
US4117325A (en) * | 1975-08-22 | 1978-09-26 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh | Optical objective focus indicator and display |
US4027970A (en) * | 1975-10-28 | 1977-06-07 | Sanders Associates, Inc. | Method and apparatus for passive optical fusing and distance measurement |
US4047022A (en) * | 1976-01-13 | 1977-09-06 | Ernst Leitz Gmbh | Auto focus with spatial filtering and pairwise interrogation of photoelectric diodes |
US4040739A (en) * | 1976-03-15 | 1977-08-09 | Witte Wolfgang W | Method and device for generating a signal dependent on the distance of an object in an object space |
US4078172A (en) * | 1976-11-19 | 1978-03-07 | Honeywell Inc. | Continuous automatic focus system |
DE2731192C2 (de) * | 1977-07-09 | 1985-05-15 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Spiegelreflexkamera mit Pentaprisma und elektronischem Entfernungsmesser |
DE2821722C2 (de) * | 1978-05-18 | 1981-09-17 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Einrichtung zur automatischen oder halbautomatischen Scharfeinstellung der Abbildung eines Gegenstandes auf eine Bildebene |
US4185191A (en) * | 1978-06-05 | 1980-01-22 | Honeywell Inc. | Range determination system |
JPS55126221A (en) * | 1979-03-22 | 1980-09-29 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Focus detecting optical device |
JPS56159620A (en) * | 1980-05-14 | 1981-12-09 | West Electric Co Ltd | Camera device |
US4397559A (en) * | 1981-02-19 | 1983-08-09 | University Of Pittsburgh | Apparatus for processing electromagnetic radiation and method |
JPS5859418A (ja) * | 1981-10-06 | 1983-04-08 | Olympus Optical Co Ltd | 合焦検出装置 |
JPS58156908A (ja) * | 1982-03-13 | 1983-09-19 | Canon Inc | 合焦状態検出光学系 |
US4567362A (en) * | 1982-06-25 | 1986-01-28 | Gretag Aktiengesellschaft | Process and apparatus for the focusing of a beam of light on an object |
US4689481A (en) * | 1984-06-14 | 1987-08-25 | Nec Corporation | Focus error detector and optical head using the same |
US4935728A (en) * | 1985-01-02 | 1990-06-19 | Altra Corporation | Computer control |
GB2183419B (en) * | 1985-10-22 | 1990-08-29 | Canon Kk | Focusing state detection apparatus for objective lens |
DE3537782A1 (de) * | 1985-10-24 | 1987-04-30 | Leitz Ernst Gmbh | Abtastgitter fuer einen schaerfedetektor |
US4808807A (en) * | 1986-12-04 | 1989-02-28 | General Signal Corp. | Optical focus sensor system |
US4899048A (en) * | 1987-04-27 | 1990-02-06 | Printware, Inc. | Focused optical beam encoder of position |
US5251011A (en) * | 1989-06-28 | 1993-10-05 | Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. | Displacement detection system |
US5079432A (en) * | 1990-06-25 | 1992-01-07 | Ampex Corporation | Method and apparatus for measuring the displacement of an automatic scan tracking head |
DE19549074C2 (de) * | 1995-12-15 | 1998-05-20 | Norbert Dr Lauinger | Verfahren und Vorrichtung zur genauen Bestimmung von objektbezogenen Parametern wie räumliche Abstände und/oder Abstandsänderungen bei Bewegung und/oder Orientierung und/oder Farbe, Form, Textur, insbesondere zum Zweck der genauen und intelligenten Steuerung von Automaten |
KR100704136B1 (ko) | 1998-03-10 | 2007-04-09 | 키네티큐 리미티드 | 3차원 촬상 시스템 |
US20060215268A1 (en) * | 2005-03-28 | 2006-09-28 | Main Source Technology Co., Ltd. | Light diffraction plate |
CN104121990B (zh) * | 2014-07-22 | 2016-05-11 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于随机光栅的压缩感知宽波段高光谱成像系统 |
-
1971
- 1971-11-15 DE DE2156617A patent/DE2156617C3/de not_active Expired
-
1972
- 1972-11-01 JP JP47109001A patent/JPS6365922B2/ja not_active Expired
- 1972-11-15 US US00306535A patent/US3781110A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2835390A1 (de) * | 1978-08-12 | 1980-02-21 | Leitz Ernst Gmbh | Optischer korrelator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS4860645A (de) | 1973-08-25 |
JPS6365922B2 (de) | 1988-12-19 |
US3781110A (en) | 1973-12-25 |
DE2156617C3 (de) | 1980-08-21 |
DE2156617A1 (de) | 1973-05-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2156617C3 (de) | Einrichtung zur Bestimmung der Lage der Ebene maximaler Amplitude einer Ortsfrequenz, beispielsweise bei einem Entfernungsmesser | |
DE2260474C3 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Scharfeinstellung eines Objektivs | |
DE69207176T2 (de) | Optischer Sensor | |
EP1984770B1 (de) | Verfahren und anordnung zur schnellen und robusten, chromatisch-konfokalen 3d-messtechnik | |
DE3204876C2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung des Refraktionszustandes des menschlichen Auges | |
DE1548707B2 (de) | Fotoelektrischer schrittgeber | |
DE2354141C2 (de) | Optisches Meßverfahren zum Untersuchen von Oberflächen und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
EP0449859B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur beobachtung von moiremustern von zu untersuchenden oberflächen unter anwendung des moireverfahrens mit phasenshiften | |
DE3202816C2 (de) | ||
DE2210681C3 (de) | Einrichtung zur berührungslosen Messung | |
DE102009012508B3 (de) | Autokollimationsfernrohr mit Kamera | |
DE69927367T2 (de) | Optoelektronische Formerfassung durch chromatische Kodierung mit Beleuchtungsebenen | |
DE2847718A1 (de) | Vorrichtung zur gleichzeitigen fluchtungs- und richtungsmessung | |
DE4113279C2 (de) | Konfokales optisches Rastermikroskop | |
DE2422866A1 (de) | Photoelektrische detektor-einrichtung | |
DE2059502C3 (de) | Optische Tastvorrichtung zur Bestimmung der Lage einer ebenen oder sphärischen Oberfläche eines strahlenreflektierenden Objekts | |
DE2163200C2 (de) | Einrichtung zur berührungslosen Messung | |
DE2526110B2 (de) | Vorrichtung zum Messen kleiner Auslenkungen eines Lichtbündels | |
DE2454883A1 (de) | Optischer korrelationsentfernungsmesser | |
DE2144487B2 (de) | Einrichtung zur beruhrungslosen Messung | |
DE2160282A1 (de) | Automatische Einstellanordnung | |
DE905672C (de) | Anordnung zur genauen Bestimmung von Laengenabstaenden, insbesondere zur Fokussierung optischer Geraete | |
DE400844C (de) | Entfernungsmesser mit Messlatte am Ziel | |
DE3336579A1 (de) | Einrichtung zur bestimmung der schussdichte eines bewegten gewebes | |
AT220384B (de) | Lichtelektrisches Entfernungsmeßgerät |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: WILD LEITZ GMBH, 6330 WETZLAR, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |