DE2152749B2 - Einrichtung zur messung der neigungsaenderung der kippachse - Google Patents
Einrichtung zur messung der neigungsaenderung der kippachseInfo
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Description
Erfindungsgemäß wird dies erreicht durch Mittel Das Mittel dieser beiden Relativmessungen ergibt
zur Messung der Ablenkung dieses oder mindestens 50 die mittlere Abweichung beider Lagen zum Horizont,
eines zweiten optischen Strahlenganges durch den Durch Einstellen des Instrumentes auf diesen Mittelsich
selbsttätig horizontierenden Kompensator senk- wert kann die Kippachse so eingestellt werden, daß
recht oder annähernd senkrecht zum Zielazimut. Mit beide Lagen um den gleichen Betrag vom Horizont
Hilfe der erfindungsgemäßen Einrichtung kann der abweichen und das Meßergebnis dann nicht korrierwähnte
Korrekturwert durch Koinzidieren einer 55 giert werden muß. Da das Instrument aber in jedem
Strichmarke im Ablesemikroskop und Ablesen einer Azimut neu horizontiert werden müßte, ist es einfabesonderen
Skalenscheibe bestimmt werden. eher, die Differenz der Kippachsneigung beider La-
Die Messung erfolgt mit Hilfe eines in einer Ebene gen zu erfassen und als Korrekturwert in die Rechwirksamen Kompensators, der von einem, einen In- nung einzuführen. Der Wert selbst kann an der Skala
dex abbildenden optischen Strahlengang durchsetzt 60 in "/cc abgelesen werden.
Claims (1)
1 2
wird und eine Neigungsänderung der Alhidade in
Patentansmuch· Richtung der Kippachse anzeigt. Da man annehmen
ratentanspmcn. kann? daß sich während einer Messung in beiden La-
Einrichtung an Vermessunisinstrumenten zur gen die Position der Kippachslager relativ zur Alhi-Messung
des Korrekturwertes ~der Neigungsände- 5 dade nicht verändert, lassen sich die gemessenen
rung der Kippachse für Messungen in zwei Fern- Werte als Neigungsdifferenz der Kippachslager gerohrlagen,
mittels eines in einer Ebene selbsttätig genüber der Alhidade bezeichnen. , „ , . ,
horizontierenden Kompensators, der einen einen Bei dieser Messung setzt man voraus, daß bei der
Index oder eine Teilung des Vertikalkreises ab- heute erreichbaren Rundlaufgenauigkeit der Kippbildenden,
in einer die Richtung des Zielazimutes io achszapfen der Taumelfehler der Kippachse verenthaltenen
Ebene verlaufenden optischen Strah- nachlässigbar klein ist. Die Kippachsenschiefe selbst
lengang beeinflußt, gekennzeichnet wird bekanntlich durch die Messung in beiden Lagen
durch Mittel zur Messung der Ablenkung die- eliminiert.
ses oder mindestens eines zweiten optischen Im folgenden wird an Hand der Zeichnung
Strahlenganges durch den sich selbsttätig hon- 15 ein Ausführungsbeispiel der Erfindung naher bezontierenden
Kompensator senkrecht oder annä- schrieben. Die Abbildung zeigt eine halbschemahernd
senkrecht zum Zielazimut. tische Darstellung der Kippachse, des Vertikal
kreises, des abbildenden Systems für die Vertikalkreisablesung,
die Ablesung der Kippachsenneigurg,
20 einen Flüssigkeitskompensator und eine Meßeinrich-
tung in Form eines Planplattenmikrometers. Die schematische Darstellung der beiden Kippachsenlager
ist mit 1 und 2 bezeichnet, 3 stellt den Vertikal-
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung an Ver- kreis, 4 den Flüssigkeitskompensator und 5 die Planmessungsinstrumenten
zur Messung des Korrektur- 25 plattenmikrometermeßeinrichtun« dar. Die Strichwertes
der Neigungsänderung der Kippachse für marke 6 wird durch das Objektiv 7 über das Prisma 3
Messungen in zwei Fernrohrlagen, mittels eines in auf den Vertikalkreis 3 abgebildet. Diese Zwischeneiner
Ebene selbsttätig horizontierenden Kompensa- abbildung der Strichmarke liegt im Brennpunkt des
tors, der einen einen Index oder eine Teilung des Objektivs 9, welches über die Umlenkprismen 10, 11
Vertikalkreises abbildenden, in einer die Richtung 30 und 12 den parallelen Strahlengang an der Oberdes
Zielazimutes enthaltenen abene verlaufenden op- fläche der Flüssigkeit des Kompensators 4 reflektietischen
Strahlengang beeinflußt. ren läßt und ihn durch das Objektiv 13 in dessen
Dieser Korrekturwert wird Lisher mit Hufe einer Brennebene zum zweitenmal abbildet, wobei er die
auf die Kippachse oder auf die Kippachslager auf- Planplatte des Mikrometers durchsetzt,
setzbaren Reiteiiibelle ermittelt. 35 Über ein weiteres, hier nicht gezeichnetes Abbil-
setzbaren Reiteiiibelle ermittelt. 35 Über ein weiteres, hier nicht gezeichnetes Abbil-
Es sind Kompensatoren bekannt, die die horizon- dungssystem wird die Zwischenabbildung 6" auf die
tale Referenz eines Vermessungsinstrumentes in Gesichtsfeldblende 14 in 6'" abgebildet. Wird das
Richtung des Zielazimutes selbsttätig einstellen. Meßsystem in Richtung der Kippachse geneigt, er-Solche
Kompensatoren werden in der Regel als ein- folgt eine Auslenkung, die in der Abbildung zum
achsige Pendel ausgebildet, so daß sie in einer Pich- 40 Zwischenbild Έ" führt. Durch Drehen des Planplattung,
der des Zielazimutes, arbeiten können. tenmikrometers wird diese Auslenkung so rückgängig
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine gemacht, daß die Strichmarke in der Abb. 6'" im
Einrichtung der eingangs erwähnten Art zu schaffen, Zwischenraum des auf der Gesichtsfeldblende 14 anbei
welcher sich ein in einer Ebene wirkender, also gebrachten Doppelstriches symmetrisch zu liegen
den Horizont in allen Richtungen anzeigender Korn- 45 kommt. Die relative Drehung des Planplattenmikropensator
zur Ermittlung des besonders bei steilen Vi- meters wird sodann mittels der angebrachten Skala
suren wirksamen Fehlers der Kippachsneigung ver- meßb?r erfaßt. Dieser Vorgang wird nach Drehung
wenden läßt. des Instrumentes um etwa 180° wiederholt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH1786070A CH532243A (de) | 1970-12-02 | 1970-12-02 | Einrichtung an Vermessungsinstrumenten zur Messung der Neigungsänderung der Kippachse |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2152749A1 DE2152749A1 (de) | 1972-06-15 |
DE2152749B2 true DE2152749B2 (de) | 1973-08-23 |
DE2152749C3 DE2152749C3 (de) | 1974-05-09 |
Family
ID=4428636
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712152749 Expired DE2152749C3 (de) | 1970-12-02 | 1971-10-22 | Einrichtung zur Messung der Neigungsänderung der Kippachse |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH532243A (de) |
DE (1) | DE2152749C3 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD145957A1 (de) * | 1979-10-01 | 1981-01-14 | Wieland Feist | Verfahren zur bestimmung der steha hsenfehler eines vermessungsgeraetes |
FR2558950B1 (fr) * | 1984-02-01 | 1986-06-27 | Rech Const Electroniqu Et | Codeur angulaire pour le codage d'angle zenithal entre une direction determinee variable et la verticale, en particulier pour theodolite |
-
1970
- 1970-12-02 CH CH1786070A patent/CH532243A/de not_active IP Right Cessation
-
1971
- 1971-10-22 DE DE19712152749 patent/DE2152749C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2152749C3 (de) | 1974-05-09 |
DE2152749A1 (de) | 1972-06-15 |
CH532243A (de) | 1972-12-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
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