DE2152749C3 - Einrichtung zur Messung der Neigungsänderung der Kippachse - Google Patents

Description

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

1. wird und eine Neigungsänderung der Alhidade in Richtung der Kippachse anzeigt. Da man annehmen Patentanspruch: ^ _d J_{ß sich w}^_{hrend einer} Messung in beiden La-

   Einrichtung an Vermessungsinstrument zur gen ** ^Ρ™*™«Ζ£ψ^Ί* d egeme™

   Messung des Korrekturwertes der Neigungsände- 5 dade mcht verändert, JJ*"¹ *^c _KippacLlager ge-

   rung der Kippachse für Messungen in zwei Fern- Werte als NeOTJ**^£ K.ppachslager g

   rohrlagen, mittels eines in einer Ebene selbsttätig ^^^^^SnSivoraus. daß be, der

   horizontierenden Kompensators, der einen einen Bei dieser Messung scm.man

   Index oder eine Teilung des Vertikalkreises ab- heute ^^J^^^^S^

   bildenden, in einer die Richtung des Zielazimutes io achszapfen der Taumelle

   enthaltenen Ebene verlaufenden optischen Strah- nachlässigbar klein ist £'^e ^

   lengang beeinflußt, gekennzeichnet wird bekanntlich durch die Messung

   d u r c h Mittel zur Messung der Ablenkung die- eliminiert.

   ses oder mindestens eines zweiten optischen Im folgenden wird an Hand der

   Strahlenganges durch den sich selbsttätig hori- ,₅ ein Ausführungsbe.spiel de. .Erfindung ^^

   amtierenden Kompensator senkrecht oder annä- schrieben. Die Abbild^un|. "J. "^ne _d ™ Venikat

   hemdsenkrechtzumZielazimut. tische^ D-teUung^ ^pachse, ^ Vertikal

   kreisablesung, die Ablesung der Kippachsenneigung. 20 einen Flüssiekeitskompensator und eine Meßeinnch-

   tung in Form eines Planplattenmikrometers. Die

   schematische Darstellung der beiden Kippachsenl, ger ist mit 1 und 2 bezeichnet, 3 stellt den Vertikal

   Die Erfindung betrifft eine Einrichtung an Ver- kreis, 4 den Hüssigkeitskompensator undS die^PUn-■nessungsinstrumenten zur Messung des Korrektur- 25 Pla«enmikrometermetannch^ wertes der Neigungsänderung der Kippachse für marke 6 wird durch das Objek vTüber ta^Pmnw Messungen in zwei Fernrohrlagen, mittels eines in auf den Vertikales 3 ab gebild et Di-^se ^w.sc He η einer Ebene selbsttätig horizontierenden Kompensa- abbildung der Strichmarke: l.egt^m^"«P™* ^d\, tors, der einen einen Index oder eine Teilung des Objektivs·», welches ober die ^UmlenJP^{nsmen 1}^:,¹ Vertikalkreises abbildenden, in einer die Richtung 30 und 12 den parallelen Strah lengang an der Ob, -des Zielazimutes enthaltenen Ebene verlaufenden op- fläche der Flüssigkeit des ^KomP^.^s*°* ⁴ ·™ tischen Strahlengang beeinflußt. rcn läßt und ihn durch das Objektiv 13 m dess

   Dieser Korrekturwert wird bisher mit Hilfe einer Brennebene zum zweitenmal abbildet, wobei er 0.

   Pll d Mkrometers durchsetzt

   Dieser Korrekturwert wird bisher mit Hilfe einer Brennebene zum zweite

   auf die Kippachsc oder auf die Kippachslager auf- Planplatte des Mikrometers durchsetzt,

   setzbaren Reiterlibelle ermittelt. 25 Über ein weiteres, hier ment gze'chn^s AbIr

   Es sind Kondensatoren bekannt, die die horizon- dungssystem wird die Zwischenabb.ldung 6 aut ui.

   tale Referenz eines Vermessungsinstrumentes in Gesichtsfeldblende 14 m 6 ?^b8^ebJ^¹· *V™ ⁰^

   Richtung des Zielazimutes selbsttätig einstellen. Meßsystem in Richtung der _Kippachse geneigt. c.

   Solche Kompcnsatoren werden in der Regel als ein- folgt eine Auslenkung die in der Abbildung; zu .

   achsige Pendel ausgebildet, so daß sie in einer Rieh- 40 Zwischenbild 5" führt. Durch Drehen des PlanpL.

   tune der des Zielazimutes, arbeiten können. tcnmikrometers wirJ diese Auslenkung so ruckga.it!,.

   Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine gemacht, Jaß die Strichmarke in der^AhM. im Einrichtung ^r eingangs erwähnten Art zu schäften, Zwischenraum des auf der Cesicliisfcldblendc 14 anbei welcher sich ein in einer Ebene wirkender, also gebrachten Doppelstnches symmetrisch zu hege., den Horizont in allen Richtungen anzeigender Korn- 45 kommt. Die relative Drehung des Planplat enmikropensator zur Ermittlung des besonders bei steilen Vi- meters wird sodann mittels der angeoracMen bKaia suren wirksamen Fehlers der Kippachsneigung ver- meßbar erfaßt. Dieser Vorgang wird nach Drehung wenden läßt des Instrumentes um etwa 180° wiederholt.

   Erfindungsgemäß wird dies erreicht durch Mittel Das Mittel dieser beiden Relativmessungen ergibt zur Messung der Ablenkung dieses oder mindestens 50 die mittlere Abweichung beider Lagen zum Horizon, eines zweiten optischen Strahlenganges durch den Durch Einstellen des Instrumentes auf diesen Mittesich selbsttätig horizontierenden Kompensator senk- wert kann die Kippachse so eingestellt werden, daü recht oder annähernd senkrecht zum Zielazimut. Mit beide Lagen um den gleichen Betrag vom Horizont Hilfe der erfindungsgemäßen Einrichtung kann der abweichen und das Meßergebnis dann niclit Kornerwähnte Korrekturwert durch Koinzidieren einer 55 giert werden muß. Da das Instrument aber in jedem Strichmarke im Ablesemikroskop und Ablesen einer Azimut neu horizontiert werden mußte, ist es eintabesonderen Skalenschcibe bestimmt werden. eher, die Differenz der Kippachsneigung beider La-

   Die Messung erfolgt mit Hilfe eines in einer Ebene gen zu erfassen und als Korrekturwert in die Reclv

   wirksamen Kompensators, der von einem, einen In- nung einzuführen. Der Wert selbst kann an der 6kala

   dex abbildenden optischen Strahlengang durchsetzt 60 in "/" abgelesen werden.