DE2147058C3 - Optisches System - Google Patents

Description

Zahlen beispiel:	f =	Dicken und	+ 46.3
Brennweite	Abbildungsmaßstab η =	Abstände	_2
	Radien
	dx = 3
r, = +65,325
	/ = 24	1,5163
r2 = +13,146
	d2 = 15	1,0000
r3 = +175,76
		1,6385
r4 = -34,32

3°

35

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Die Erfindung betrifft ein optisches System für photoelektrische Belichtungsmeßeinrichtungen, das zusammen mit dem photoelektrischen Wandler bzw. Photoelement außerhalb des Kopier- bzw. Reproduktionsstrahlenganges. z. B. in Mikrofilmaufnahmekameras, angeordnet ist.

Bekannt sind photoelektrische Beüehtungsmeßeinrichtungen für Reproduktionszwecke, bei denen die Kopiervorlage auf Grund unterschiedlicher Remission zwecks Einstellung der Belichtung für das Filmaufnahmematerial mittels lichtelektrischen Empfängers abgemessen wird. Dabei kann sowohl integral, teilintegral als auch partiell gemessen werden und die hierzu benutzten optischen Systeme zum Zwecke einer Abbildung der beleuchteten Vorlage auf dem Photoelement sind in der Regel Normalobjektive.

Bekannt ist in diesem Zusammenhang, einen Photoelektrischen Empfänge¹· in der Bildebene eines optischen Sysiems von gleicher Brennv/eite wie das Kameraobjektiv anzuordnen und die Scharfeinstellung beider Objektive miteinander zu kuppeln. Die Objektive sind dabei so angeordnet, daß Messung und damit Regelung zwar auch während der Aufnahme erfolgen können, die Messung erfolgt hier aber mindestens <,₅ teilintegral. Diese bekannten integralen oder teilintegralen Meßmethoden führen jedoch in jedem Falle auf Grund der unterschiedlichen Deckung der Kopiervorlagen zu Belichtungs-Fehlergebnissen, was zu unterschiedlichen Dichten an den informationsfreien Stellen auf dem Filmmaterial führt. Bei partiellen Belichtungsmessungen wird eine kleine Fläche der Kopiervorlage, also partiell auf dem Photoempfänger, abgebildet. Bei bekannten partiellen Belichtungsmeßeinrichtungen für Reproduktionszwecke, wie dies beispielsweise für Mikrofilmaufnahmekameras Anwendung findet, wird vor der Bild-Reproduktionsaufnahme die Stelle mit dem größten Remissionsvermögen der Kopiervorlage individuell gemessen, indem die Belichtungsmeßeinrichtung manuell über die auszumessende Fläche gebracht wird. Der hierbei ermittelte Meßwert ist auf die Einstellung der Belichtungsparameter zu übertragen oder für den automatischen Belichtungsvorgang in geeigneter Weise zu speichern. Nach erfolgter Messung muß die Belichtungsmeßeinrichtung von der Kopiervorlage entfernt werden, um die Aufnahme durchführen zu können.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein optisches Meßsysttm zu schaffen, das derart konstruiert ist, daß es während des Kopiervorganges außerhalb des Beleuchtungsstrahlenganges verbleibt, so daß eine partielle photoelektrische Messung auch während des Kopiervoigaivges erfolgen kann, ohne daß die gemessenen Belichtungswerte gesondert gespeichert werden müssen.

Die Erfindung löst die Aufgabe in der Weise, daß zur partiellen Abbildung des Meßfeldes der Kopiervorlage auf dem Photoempfänger ein aplanatisch korriegiertes, zweigliedriges optisches System vorgesehen ist, dessen Konstruktionsdaten sich wie folgt verhalten:

wobei die Konstruktionsdaten mit den im Zahlenbeispiel aufgeführten Werten übereinstimmen:

Zahlenbeispiel:

Brennweite / = +46,3

Abbildungsmaßstab f. — —2

Radien Dicken und n_d

Abslände

= +65,325
= +13,146

= +175.76

= -34,32

i, = 3 1,5163

' = 24 1.0000

h = 15 1,6385

Die sich aus der Erfindung ergebenden Vorteile sind darin zu sehen, daß eine partielle Messung mit der Belichtungseinrirhtung auf Grund des optischen Systems auch während des BelichtLngsvorganges möglich ist, wobei Fehlergebnisse — beispielsweise durch kurzzeitige Spannungsschwankungen und Fremdlichtbeeinflussung — in der Vorlageebene weitgehendst ausgeschlossen sind. Das optische System zeichnet sich durch einen einfachen Aufbau einer zweigliedrigen aplanatisch korrigierten Anordnung aus, wodurch eine befriedigende Aplanasie, z. B. bei einem Abbildungsmaßstpb β = —2. erreicht wird. Außerdem kann das

optische System, ohne den Kopiersirahlengang zu behindern, näher an die Bildebene herangebracht werden als ein Normalobjektiv gleicher Brennweite. Bedienungshandgiiffe sind bei dieser Belichtungsmeßeinrichtung nicht notwendig.

An Hand eines Ausführungsbeispieles ist die Erfindung dargestellt und beschrieben.

Es zeigt in schematischer Darstellungsweise:

F i g. 1 die photoelektrische Belichtungsmeßeinrichtung mit dem optischen System außerhalb des Beleuchtungsstrahlenganges einer photographischen Kopiereinrichtung.

In einem nicht näher dargestellten Reproduktionsgerät. /. B. einer Mikrofilmaufnahmekamera gemäß Fig. 1. befindet sich eine Vorlagenebene 1 für das zu reproduzierende nicht gezeige Blattmaterial. Parallel 7ur Vorlagenebene 1 befindet sich die Filmaufnahmeebene 2 und ein dazwischen angeordnetes Aufnahmeobjektiv 3. Eine nicht näher dargestellte Beleuchtungseinrichtung sorgt für die Beleuchtung der aufzunehmenden Vorlage. Außerhalb des vom Aufnahmeobjektiv 3 bestimmten Strahlenkegels sind angeordnet ein optisches System 4 und ein Phoioempfänger 5. In Achsrichtung des optischen Systems 4 befindet sich in

ίο der Vorlagenebene 1 das Meßfeld 6 — . Die Hauptebenen H und H' vom optischen System 4 befinden sich vor diesem im Objektraum der Kopereinrichtung. Zwecks Markierung des Meßfeldes 6 in der Vorlagenebene 1 ist in Achsrichtung des optischen Systems 4 ein Beleuchlungseinrichtung 7 vorgesehen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

1. Patentanspruch:

   Optisches System für photoelektrische Belichtungsmeßeinriiehtungen, das zusammen mit d&n photoelektrischen Empfänger außerhalb des Kopier- bzw. Reproduktionsstrahlenganges von Kopier- oder Reproduktionsgeräten, z. B. in Mikrofilmaufnahmekameras angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß zur partiellen Abbildung des Meßfehlers (6) auf dem Photoelement (5) ein aplanatisch korrigiertes, zweigliedriges optisches System (4) vorgesehen ist, dessen Konstruktionsdaten sich wie folgt verhalten:

   — = +5; ^U -5:

   j_
   1

   wobei die Konstruktionsdaten mit den im Zahlenbeispiel aufgeführten Werten übereinstimmen: