DE2146662A1 - Elektrisch leitfaehige schicht auf einer hochohmigen unterlage, verfahren zur herstellung der schicht und verwendung der schicht als elektrischer widerstand - Google Patents
Elektrisch leitfaehige schicht auf einer hochohmigen unterlage, verfahren zur herstellung der schicht und verwendung der schicht als elektrischer widerstandInfo
- Publication number
- DE2146662A1 DE2146662A1 DE2146662A DE2146662A DE2146662A1 DE 2146662 A1 DE2146662 A1 DE 2146662A1 DE 2146662 A DE2146662 A DE 2146662A DE 2146662 A DE2146662 A DE 2146662A DE 2146662 A1 DE2146662 A1 DE 2146662A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- substances
- particles
- substance
- islands
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/006—Thin film resistors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C17/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
- H01C17/22—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming
- H01C17/24—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming by removing or adding resistive material
- H01C17/2404—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming by removing or adding resistive material by charged particle impact, e.g. by electron or ion beam milling, sputtering, plasma etching
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49082—Resistor making
- Y10T29/49099—Coating resistive material on a base
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
Description
München 2, den Witteisbacherplatz 2
VPA'
Elektrisch leitfähige Schicht auf einer hochohmigen Unterlage,
Verfahren zu.r Herstellung der Schicht und Verwendung der
Schicht als elektrischer Widerstand.
Die Erfindung besieht sich auf eine elektrisch leitfähige
Schicht auf einer hochohmigen Unterlage, sowie auf ein Verfahren zur Herstellung und auf die Anwendung einer derartigen
Schicht.
Aus der deutschen Offenlegungsschrift 1 806 821 ist ein Verfahren zur Herstellung chemisch und physikalisch stabiler
Pestkörper-Dberflächenschichten bekannt. Bei diesem Vorfahren wird das Material der Oberflächenschicht durch Aufdampfen unter
gleichzeitigem Ionenbeschuß hergestellt.
Aus der Veröffentlichung in Optik, Band 28 (1968/69), S. 190
und 191, ist es bekannt, hochohmige, feldstärkefeste Metallschichtwiäerstände
nach dem Verfahren der vorangehend genannten Offenlegungsschrift herzustellen. Bei den für diese Metallschicht-Widerstände
verwendeten Schichten handelt es sich um zusammenhängende Schichten, die höchstens Löcher aufweisen.
Bei den bekannten Metallsehichtwiderständen tritt ein Alterungseffekt auf, durch den insbesondere der Wert des elektrischen
Widerstandes sich ändert. Durch die Alterung wird auch die Feldstärkefeutigkeit, die Spannungsunabhängigkeit und der
Temperaturkoeffizient verändert bzw. beeinträchtigt.
Es ist eine Aufgabe der Erfindung, eine Schicht mit sehr
geringer spezifischer Leitfähigkeit auf einer hochohmigen Unterlage anzugeben. Insbesondere soll diese Schicht zur
Herstellung von sehr hochohmigen Mikrowiderständen, vorzugsweise geringer Induktivität und/oder Kapazität, geeignet sein.
Diese Aufgabe wird durch eine wie oben angegebene elektrisch
309812/0615
VPA 9/712/1OS7 Bts/BK -2-
"2" 2U6662
leitfähige Schicht gelöst, die erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet
ist, daß die leitfähige Schicht aus relativ dünnschichtigen Inseln und dazwischenliegenden, angrenzenden,
hochohmigen Bereichen der Oberflächenschicht der Unterlage "besteht, wobei das Material der Unterlage in den Bereichen
mit Teilchen dotiert ist, die durch Beschüß eingebracht worden sind und das Material in der Oberflächenschicht der Unterlage
infolge der hohen Energie der Teilchen während des Beschüsses Strahlenschäden aufweist und wobei die Inseln durch Aufdampfen
oder Aufstäuben niederenergetischer Teilchen und Beschüß mit hochenergetischen Teilchen, Ionen oder neutralen
Teilchen, eines oder mehrerer Stoffe oder Stoffkombinationen
hergestellt sind und wobei der oder die Stoffe und das Material der Unterlage zueinander so ausgewählt sind, daß bei Vorliegen
eines elektrischen Feldes in der Schicht ein Ladungsträgertransport durch die Inseln und die Bereiche erfolgt. Insbesondere
ist die Oberfläche der Bereiche im wesentlichen frei von einzelnen Teilchen des oder der Stoffe bzw. Stoffkombinationen
Eine der Erfindung gemäße Schicht wird vorzugsweise dadurch hergestellt, daß auf die Unterlage Teilchen des Stoffes, der
Stoffkombination oder wenigstens eines der für die Schicht
vorgesehenen Stoffe bzw. Stoffkombinationen durch Aufdampfen bzw. Aufstäuben und hochenergetischen Teilchen des Stoffes,
der Stoffkombination oder wenigstens eines dieser Stoffe bzw.
Stoffkombinationen durch Beschüß in die Oberflächenschicht der
Unterlage in noch so geringer Menge in Bezug auf die Gesaratfläche
der Schicht gebracht werden, daß nur voneinander getrennte Inseln des aufgedampften oder aufgestäubten Stoffes
entstehen. Der Beschüß erfolgt vorzugsweise gleichzeitig mit dem Aufdampfen bzw. Aufstäuben.
Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus, daß sehr hocbohmige
Schichten auf einer entsprechend noch höherohmigen Unterlage dadurch erreicht werden können, daß der für die
VPA 9/712/1087 -3-
309812/0615
2U6662
hochohmige Schicht vorgesehene Stoff "bzw. Stoffkombination
(bzw. die für die Schicht vorgesehenen Stoffe oder Stoffkomhinationen)
derart aufgebracht wird, daß auf der Unterlage nur relativ dünnschichtige Inseln entstehen und die dazwischenliegenden,
angrenzenden, hochohmigen Bereiche der Oberflächenschicht der Unterlage Strahlenschäden aufweisen. Insbesondere
liegt der Erfindung die Erkenntnis zugrunde, daß die Bereiche zwischen den einzelnen Inseln möglichst weitgehend frei von
einzelnen Teilchea des oder der Stoffe bzw. Stoffkombinationen ist. Unter dünnsctichtig im Zusammenhang mit den Inseln ist eine
Dicke zu verstehen, die sehr klein im Verhältnis zum Durchmesser
der jeweiligen Inseln ist. Dies ist so zu verstehen, daß Inseln mit größerer Hache etwas dicker sein können, sich
aber von einer Kugelkappenform noch wesentlich unterscheiden. Im Regelfall besteht eine Insel aus einer einzigen oder aus nur
wenigen Atomlagen. Unter Inseln im Sinne der Erfindung sind bereits Ansammlungen von nur wenigen Atomen zu verstehen. Es
ist der Regelfall» daß die Inseln der erfindungsgemäßen Schicht Durchmesser in der Größenordnung von 1 nm besitzen. Im Regelfall
liegen die Anstände zwischen den einzelnen Inseln in der gleichen Größenordnung. Die Dicke der Inseln ist insbesondere
für die Spannungsunabhängigkeit der spezifischen Leitfähigkeit der Schicht maßgebend.
Unter niederenergetischen Teilchen sind im vorliegenden Falle im wesentlichen Teile thermischer Energie bis höchstens einiger
Elektronenvolt zu verstehen. Bei den hochenergetiscben Teilchen handelt es sich um Ionen oder neutrale Teilchen, die zuvor
als Ionen elektrisch beschleunigt worden sind. Die Energien dieser Teilchen liegen im wesentlichen höher als 5 keV, vorzugsweise
höber als 20 keV. Teilchen dieser Energien dringen in das Material der Unterlage wenigstens einige, im Regelfall
viele Atomlagen tief ein und verbleiben dort. Der Verbleib der Teilchen ist wesentlich für die angestrebten Eigenschaften
der erfindungsgemäßen Schicht. Auf diesen Umstand ist ins-
VPA 9/712/1087 -4-
309812/0615
-**- 2U6662
besondere im Zusammenhang mit der gemäß einer Weiterbildung der Erfindung vorzunehmenden Erwärmung (Temperung) zu achten.
Für den Aufbau der erfindungsgemäßen Schicht auf der hochohmigen
Unterlage ist zu ächten, daß die Rate der adsorbierten Teilchen größer ist als die Zerstäubungsrate, die durch
den Beschüß mit hochenergetischen Teilchen gegeben ist. Andernfalls
würde die Bildung von Inseln unterbleiben. Die Größe des Teilchenstromes der hochenergetischen Teilchen ist auch für die
Dicke der Insel maßgeblich.
ψ Im Falle, daß die hochenergetischen Teilchen Ionen sind, liegen
die Stromdichten des Beschüsses bei Werten in der Größen-Ordnung von 1 m Amp/cm . Bei nicht geladenen hochenergetischen
Teilchen ist die Teilchendichte des Beschüsses entsprechend groß. Für den Beschüß werden Zeitdauern von einigen Sekunden
vorgesehen. Bei einem derartig starken Beschüß liegt die Strahlenschädigung
bereits im Sättigungsbereich.' Dementsprechend sind die erfindungsgemäßen Schichten bzw. die nach der Erfindung hergestellten
Widerstände strahlungsresistent, was insbesondere bei ihrer Verwendung in der Reaktortechnik oder Raumfahrt von
•Vorteil ist.
k Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung wird dafür gesorgt, daß
™ die Oberfläche der Bereich zwischen den Inseln im wesentlichen
frei von einzelnen adsorbierten < Teilchen des Stoffes der
Inseln ist. Durch eine entsprechend hoch gewählte Teilchendichte des Stromes der hochenergetischen Teilchen kann dies
bewirkt werden.
Die Oberfläche der Bereich kann gemäß einer Weiterbildung der
Erfindung auch durch Erwärmung der Schicht (Tempern) von eineeinen adsorbierten Teilchen befreit werden, wobei angenommen
wird, daß diese einzelnen Teilchen den einzelnen Inseln zudiffundieren
und sich dort anlagern.
VPA 9/712/1087 309812/0615
Als Stoffe für die Inseln bzw, für den Beschüß mit hochenergeir-ischen
Teilchen kommen bevorzugt Metalle oder Halbleiter in Betracht. Es kommen elektronen- und löcherleitende Stoffe
in. Frage. Insbesondere eignen sich dafür Gold, Silber, Platin, Nickel, Eisen, Chrom, Aluminium und Legierungen aus diesen
mit anderen Metallen und aus anderen Metallen, sov/ie Kohlenstoff, Silizium, Germanium und Verbindungshalbleiter. Besonders
bev/ährt hat sich Gold, da dieses zu besonders stabilen Schichten
geführt hat.
Als Material für die hochohinige Unterlage können sowohl entsprechend
hochohmige Halbleitermaterialien, wie eigenleitendes Silizium und Oxyde und Nitride, insbesondere Siliziumdio.^xd,
sowie andere Isolatoren, wie Kunstharze, Bernstein oder Glas verwendet werden.
Das Verfahren zur Herstellung einer erfindungsgemäßen Schicht wlT*d vorzugsweise mittels einer in "Zeitschrift für angewandte
Physik", Bd. 31 (1971) S. 51 f, beschriebenen Vorrichtung
dux'chge führt.
Weitere Einzelheiten der Erfindung gehen aus den Figuren und der· Beschreibung eines besonders bevorzugten Ausführungsbei-.
Spieles nach der Erfindung hervor.
Figur 1 zeigt im Schnitt das Prinzip einer erfindungsgemäßen
Schicht.
Figur 2 zeigt in einer Aufsicht einen elektrischen Widerstand mit einer Schicht nach der Erfindung.
Figur 2 zeigt in einer Aufsicht einen elektrischen Widerstand mit einer Schicht nach der Erfindung.
Mit 1 ist ein Teilstück eines vorzugsweise hochohmigen Substrates,
z.B. aus einem Halbleitermaterial wie Silizium, bezeichnet. Mit 3 ist die hochohmige, vorzugsweise isolierende
Unterlage auf dem Substrat 1 bezeichnet. Das Substrat kann av.ch die Unterlage bilden, soweit es den obigen Bedingungen
fur das Material der Unterlage genügt. Die erfindungsgemäße
309812/0615
Vi'ä 0/7 Ki/1007
BAü
2H6662
Schicht besteht aus den mit 5 bezeichneten Inseln und aus
den mit 7 bezeichneten dazwischenliegenden angrenzenden hochohinigen Bereichen der Oberflächenschicht der Unterlage' 3.
Mit 9 und 11 sind Teilstücke zweier Elektroden auf der Unterlage 3 auf dem Substrat 1 bezeichnet. Ein angenommener Stromfluß
zwischen den Elektroden 9 und 11 verläuft mit Rücksicht auf die gegenüber der erfindungsgemäßen Schicht sehr hochohmige
Unterlage im wesentlichen durch die aus 5 und 7 zusammengesetzte
elektrisch leitfähige, jedoch erfindungsgemäß sehr hochohmige Schicht. Unterhalb der Inseln 5 fließt in dem Material
der Unterlage praktisch kein elektrischer Strom, da die Inseln
fc jeweils einen demgegenüber geringeren elektrischen Widerstand
haben. Die Bereiche 7 sind, wie oben angegeben, durch Beschüß mit hochenergetischen Teilchen durch die darin befindlichen
Teilchen und durch die in dem Material der Unterlage entstandenen Strahlenschäden entstanden. Es sei darauf hingewiesen, daß
sich auch unterhalb der Insel 5 eingeschossene,.zuvor hochenergetische
Teilchen befinden und dementsprechend auch dort Strahlenschäden vorhanden sind. Für die Erfindung sind diese Teilchen
und Strahlenschäden bereits insofern von Bedeutung, als · sie zu einem guten Anhaften der Inseln auf der Unterlage beitragen.
Es ist zu beachten, daß die Darstellung der Figur 1 sehr schematisch ist. Sowohl die Größenverhältnisse der Inseln 5
und der Bereiche 7 sind gegenüber der Dicke der Unterlage 3
ψ stark vergrößert dargestellt. Außerdem sind die Inseln nicht
nur in ungleichmäßigen Abständen voneinander angeordnet, sondern sind über die in der Schnittdarstellung der Figur 1 nicht sichtbare
Oberfläche der Unterlage 3 statistisch verteilt.
Die Figur 2 zeigt in einer Aufsicht einen elektrischen Widerstand mit Anschlüssen mit einer erfindungsgemäßen Schicht.
Mit 3 ist die bereits im Zusammenhang mit Figur 1 beschriebene Unterlage auf dem Substrat bezeichnet. 9 und 11 Bind die als
Anschlüsse dienenden Elektroden. Mit 21 ist die auf der Unterlage 3 befindliche V/iderstandsbahn bezeichnet, die mikror-kopisch
aus den im Zusammenhang mit Figur 1 beschriebenen Inseln 5 und
309812/0615
VPA 9/712/1087
-?- 2H6662
den dazwischenliegenden Bereichen 7 zusammengesetzt ist.
Infolge der nach der Erfindung erreichbaren außerordentlich großen Hochohmigkeit der Schicht 21 können selbst sehr hoch
ohmige ΐWiderstände noch als gradlinige Bahn ausgeführt werden.
Diese Form hat den Vorzug, daß sie die geringste Induktivität und Kapazität aufweist.
10 Patentansprüche
2 Figuren
2 Figuren
VPA 9/712/1087
309812/0615
Claims (3)
- 2H6662Patentansprüchef 1. Elektrisch leitfähige Schicht auf einer hochohmigen Unterlage,' dadurch gekennzeichnet , daß die leitfähige Schicht aus relativ dünrischichtigen Inseln (5) und dazwischenliegenden, angrenzenden, hochohraigen Bereichen (7) der Oberflächenschicht der Unterlage (3) besteht, wobei das Material der Unterlage in den Bereichen mit Teilchen dotiert ist, die durch Beschüß eingebracht worden sind und das Material in der Oberflächenschicht der Unterlage infolge der hohen Energie ■ der Teilchen während des Beschüsses Strahlonschäden aufweist, ) und wobei die Inseln durch Aufdampfen oder Aufstäuben nieder-. energetischer Teilchen und Beschüß mit hochenergetischen Teil-r chen eines oder mehrerer Stoffe oder Stoffkombinationen hergestellt sind und wobei der oder die Stoffe oder Stoffkombinationen so ausgewählt sind, daß bei Vorliegen eines elektrischen Feldes in der Sdicht ein Ladungsträgertransport durch die Inseln und durch die Bereiche erfolgt.
- 2. Elektrisch leitfähige Schicht nach Anspruch 1, dadurch ge-, kennzeichnet , daß die Oberfläche der Bereiche im• wesentlichen frei von einzelnen Teiihen des oder der Stoffe• bzw. Stoffkombination ist.'
- 3. Elektrisch le itfähige Schicht nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Schicht an vorgegebenen Stellen ihres Randes mit Elektroden versehen ist.A. Verfahren zur Herstellung einer Schicht nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet , daß auf die Unterlage Teilchen des Stoffes der Stoffkombination oder wenigstens einer der für die Schicht vorgesehenen Stoffe bzw. Stoffkombinationen durch Aufdampfen bzw. Aufstäuben und hochenergetische Teilchen des Stoffes der Stoffkombination oder wenigstens einer dieser Stoffe bzw. Stoffkombinationen durch Beschüß in die Oberflächenschicht der Unterlage in noch so geringer Menge in Bezug auf die Gesamtfläche der Schicht aufgebracht wird» daß VPA 9/712/1087 309812/0615-9- 2H6662nur voneinander getrennte Inseln des aufgedampften bzw. aufgestäubten Stoffes entstehen.5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Aufdampfen bau. das Aufstäuben und der Bep-chuß gleichzeitig vorgenommen werden.6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß mit Ionen als hochcnergetischen Teilchen beschossen wird.7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Ionenstrom so groß gewählt wird, daß die Oberfläche der Bereiche im wesentlichen frei von einzelnen Teilchen des aufgedampften bzv/. aufgestäubten Stoffes wird.8. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet , daß die Beseitigung der einzelnen Teilchen des aufgedampften bzw. aufgestäubten Stoffes von der Oberfläche der Bereiche durch Erwärmen (Tempern) der Schicht erfolgt.9. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 8, dadurch gekennzeichnet , daß die Beseitigung der einzelnen Teilchen des aufgedampften bzv/. aufgestäubten Stoffes von der Oberfläche der Bereiche durch eine Oberflächenzerstäubung der Schicht Erfolgt, deren Intensität so gewühlfcist, daß die Inseln noch nicht wesentlich abgetragen werden.10. Verwendung einer Schicht nach einem der Ansprüche 1 bis 9> für einen hochohmigen, feldstärkefesten elektrischen Widerstand, insbesondere MikroWiderstand.VIA 9/712/10870 12 / 0 ß I »JLe e rs eite
Priority Applications (13)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
BE788894D BE788894A (fr) | 1971-09-17 | Couche electriquement conductrice sur base de forte resistivite, procede de fabrication et application d'une telle couchecomme resistance electrique | |
DE19712146662 DE2146662C3 (de) | 1971-09-17 | Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitfähigen Schicht | |
AT693072A AT321411B (de) | 1971-09-17 | 1972-08-10 | Elektrischer Schichtwiderstand |
CH1181272A CH566063A5 (de) | 1971-09-17 | 1972-08-10 | |
US00285933A US3818413A (en) | 1971-09-17 | 1972-09-01 | Film resistor and method of making |
NL7212362A NL7212362A (de) | 1971-09-17 | 1972-09-12 | |
FR7232531A FR2152942B1 (de) | 1971-09-17 | 1972-09-14 | |
JP47092747A JPS4839180A (de) | 1971-09-17 | 1972-09-14 | |
GB4281072A GB1387166A (en) | 1971-09-17 | 1972-09-15 | Electrically conductive layers upon high-ohmic substrates |
IT29257/72A IT967539B (it) | 1971-09-17 | 1972-09-15 | Strato elettroconduttore su un appoggio ad elevata resistenza chmica procedimento per la fab bricazione dello strato ed uso dello strato come resistore elet trico |
LU66097A LU66097A1 (de) | 1971-09-17 | 1972-09-15 | |
SE7211940A SE381530B (sv) | 1971-09-17 | 1972-09-15 | Skikt av material med elektrisk ledningsformaga pa ett hogohmigt underlag samt forfarande for framstellning av skiktet |
CA151,799A CA968864A (en) | 1971-09-17 | 1972-09-15 | Method and apparatus for producing electric resistors on a high ohmic supporting base |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712146662 DE2146662C3 (de) | 1971-09-17 | Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitfähigen Schicht |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2146662A1 true DE2146662A1 (de) | 1973-03-22 |
DE2146662B2 DE2146662B2 (de) | 1976-04-08 |
DE2146662C3 DE2146662C3 (de) | 1976-12-09 |
Family
ID=
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7212362A (de) | 1973-03-20 |
AT321411B (de) | 1975-03-25 |
BE788894A (fr) | 1973-01-02 |
CH566063A5 (de) | 1975-08-29 |
GB1387166A (en) | 1975-03-12 |
LU66097A1 (de) | 1973-01-17 |
JPS4839180A (de) | 1973-06-08 |
DE2146662B2 (de) | 1976-04-08 |
IT967539B (it) | 1974-03-11 |
SE381530B (sv) | 1975-12-08 |
US3818413A (en) | 1974-06-18 |
CA968864A (en) | 1975-06-03 |
FR2152942B1 (de) | 1976-08-13 |
FR2152942A1 (de) | 1973-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1806643C3 (de) | Verfahren zum Dotieren von Halbleitermaterial durch Ionenimplantation mit anschließender Glühbehandlung | |
DE3135993A1 (de) | "verfahren zur herstellung von kontakten mit geringem widerstand in halbleitervorrichtungen" | |
DE2517939C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer für Infrarotstrahlung empfindlichen Photodiode | |
DE1032404B (de) | Verfahren zur Herstellung von Flaechenhalbleiterelementen mit p-n-Schichten | |
DE1544275C3 (de) | Verfahren zur Ausbildung von Zonen unterschiedlicher Leitfähigkeit in Halbleiterkristallen durch Ionenimplantation | |
DE2631881A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer halbleitervorrichtung | |
DE1614148B2 (de) | Verfahren zum herstellen einer elektrode fuer halbleiter bauelemente | |
DE1544190A1 (de) | Verfahren zum Einfuehren zusaetzlicher erlaubter Energieniveaus in das Kristallgitter einer Substanz,insbesondere von Diamanten | |
DE1032405B (de) | Flaechenhalbleiter mit guter Waermeableitung | |
DE2366049A1 (de) | Schichtwerkstoff hoher permeabilitaet fuer magnetische aufzeichnungs- und wiedergabekoepfe | |
DE2153250A1 (de) | Tunneldiode | |
DE2301384C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Dotierungsbereichs in einer Schicht aus Halbleitermaterial | |
DE2146662A1 (de) | Elektrisch leitfaehige schicht auf einer hochohmigen unterlage, verfahren zur herstellung der schicht und verwendung der schicht als elektrischer widerstand | |
DE2141718A1 (de) | Verfahren zum Herstellen elektri scher Kontakte auf der Oberflache eines Halbleiterbauteils | |
DE2146662C3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitfähigen Schicht | |
DE2003802A1 (de) | Elektrolumineszenzeinrichtung und Verfahren zur Herstellung derselben | |
DE1789039A1 (de) | Leistungsdiode fuer Hochfrequenz | |
DE2002404B2 (de) | Spannungsabhaengiger widerstand aus einer isolierfolie mit darin eingebetteten koernern aus halbleitermaterial | |
DE2253683A1 (de) | Ionengespickter widerstand und verfahren zum herstellen eines derartigen widerstands | |
DE1589453A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE4224686C2 (de) | Verfahren zur Implantation von Ionen in einen Festkörper | |
DE1648614C2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines mechanoelektrischen Wandlers | |
DE971583C (de) | Trockengleichrichter | |
DE1113034B (de) | Diffusionsverfahren zur gleichzeitigen Bildung von PN-UEbergaengen in mehreren Halbleiter-koerpern von Halbleiteranordnungen | |
DE2041448C3 (de) | Eleetrolumineszenzeinrichtung und Verfahren zu deren Herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |