DE2144472A1 - Verfahren und einrichtung zur bestimmung der dicke metallischer erzeugnisse - Google Patents

Verfahren und einrichtung zur bestimmung der dicke metallischer erzeugnisse

Info

Publication number
DE2144472A1
DE2144472A1 DE19712144472 DE2144472A DE2144472A1 DE 2144472 A1 DE2144472 A1 DE 2144472A1 DE 19712144472 DE19712144472 DE 19712144472 DE 2144472 A DE2144472 A DE 2144472A DE 2144472 A1 DE2144472 A1 DE 2144472A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
thickness
product
measured
waves
source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19712144472
Other languages
English (en)
Other versions
DE2144472B2 (de
DE2144472C3 (de
Inventor
Jurij Georgiewitsch Bulgakow
Nikolaj Parfir Ewit Bystrjakow
Wladimir Iwanowitsch Chomenko
Eduard Stepanowitsch Karmas
Fedor Isaakowitsch Kolomojzew
Wladimir Egorowit Ljaptschenko
Wasilij Pawlowitsch Prudkij
Ewgenij Matweewitsch Sneschko
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
G UNI IM 300 LETIJA WOSSOJEDIN
Original Assignee
G UNI IM 300 LETIJA WOSSOJEDIN
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by G UNI IM 300 LETIJA WOSSOJEDIN filed Critical G UNI IM 300 LETIJA WOSSOJEDIN
Priority to DE19712144472 priority Critical patent/DE2144472C3/de
Publication of DE2144472A1 publication Critical patent/DE2144472A1/de
Publication of DE2144472B2 publication Critical patent/DE2144472B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2144472C3 publication Critical patent/DE2144472C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08JWORKING-UP; GENERAL PROCESSES OF COMPOUNDING; AFTER-TREATMENT NOT COVERED BY SUBCLASSES C08B, C08C, C08F, C08G or C08H
    • C08J9/00Working-up of macromolecular substances to porous or cellular articles or materials; After-treatment thereof

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

  • VERFAHREN UND EINRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER DICKE METALLISCHER ERZEUGNISSE Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur Messung der Dicke metallischer Objckte, insbesondere auf ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke metallischer Erzeugnisse, beispiclsweise eines kalt-oder warmgewaazten Metalls, von Platten und anderer Objekte durch Anwendung elektromagnetischer Höchstfrequenzwellen, ohne daß die obengenannten Objekte irgendwie bcrührt werden.
  • Bei der Herstellung oder Bearbeitung von Erzeugnissen, zum Beispiel aus Metall, ist es vom Standpunkt einer Kontrolle des erhaltonen Erzeugnisses und aus ökonomischen Erwägungen meistens sehr wichtig, die Dicke eines Erzougnisses zu bestimmen.
  • Zur derartigen Messung ist es ün einfachsten, ein Kontakt-Meßinstrument einzusetzen; wenn aber das zu messende Erzeugnis eine sehr hohe Gemperatl-!r aufweist oder einen schmalen, sich Illit einer großer Geschwindigkeit bewegenden Streifen darstellt, so wird die Messung schwierig, und eine hohe Genauigkeit ist praktisch ausgeschlossen.
  • Zur Messung der Dicke eines Erzeugnisses wurde eine Reihe indirekter Methoden und Einrichtungen zur kontaktlosen Dickenmessung bei metallischen Erzeugnissen vorgeschlagen. Zu derartigen Meßmethoden zählen diejenigen, die auf Verwendung der Röntgenstrahlung, radioaktiver Isotope und elektromagnetischer Höchstfrequenzwellen aufbauen.
  • Die Meßmethoden zur Bestimmung der Dicke metallischer Erzeugnisse unter Verwendung der Röntgenstrahlung und der Isotope haben eine hohe Meßgenauigkeit, weisen aber eine Reihe von Mängeln in der Art, wie Beeinflussung des Vorganges zur Messung örtlicher Inhomogenitäten des Metalls, Schwierigkeiten der Dickenmessung bei den Metallen größerer Dicke sowie eine Gefährdung der Bedienungskräfte, auf.
  • Es ist ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke des zu messenden Objektes bekannt, darin bestehend, daß man die elektromagnetischen Höchstfrequenzwellen von der Quelle zu über Teile einem Teiler schickt und einen v zu einer die Wellen formenden und sie auf eine Oberfläche des zu messenden Erzeugnisse aussendenden Antenne zuführt. Die reflektierten Wellen werden durch eine andere Antenne empfangen und über einen Wellenleitor zur nächsten Sendeantenne weitergegeben. Die von dr?r zweiten Oberfläche reflektierten Wellen werden durch die zweite Empfangsantenne empfangen und über einen Wellenleiter zu einer Phasenmeßeinrichtung mit einem Phasenmesser weitergeleitet.
  • Zur selben Zeit kommt der andere Teil der elektromagnetischen Höchstfrquenzwelle aus dem Teiler über einen Wellenleitor zur Phasenschiebereinrichtung und von da an über einen' zusätzlichen Wellenleiter zum genannten, für die Größen der zu messenden Dicke geeichten Phasenmesser durch.
  • Bei diesem Verfahren kann sich das zu messende Obden jekt zwischen / zwei Antennen, ohne auf die Meßgenauigkeit Einfluß zu nehmen, lediglich in einem begrenzten Bereich der Verschiebung frei bewegen.
  • Jedoch ist der Phasenmesser nicht in der Lage, zwischen dem Fall zu unterscheiden, wo die Platte dünner als die eine Wellenlänge, und dem, wo sie dünner als zwei (oder mehr) Wellenlängen ist. Der Phasenmesser zeigt also die Dicke höchstens bis zu einer halben Wellenlänge an, und die Bedienung muß offensichtlich die Anzahl von die Dicke der Platte ausmachenden ganzen Wellenlängen ermitteln.
  • E3 ist ebenfalls ein Verfahren zur Messung der Konfiguration oder der Dicke metallener Gegenstände (USA-Patent Nr.
  • 3514703) bekannt. Bei diesen Verfahren wird von Mikrowellen Gebrauch gemacht, die einem Zylind rresonator zugeführt werden, dessen offenes Ende dem zu messenden Gegenstand zugewandt ist.
  • Gemäß diesem Verfahren werden zwei beiderseits des zu messenden Erzeugnisses liegende Zylinderresonatoren verwendet.
  • Den Resonatoren fÜlirt man Mikrowellen zu, und man mißt die Mikrowellenfrequenzen. Die Änderung des Abstandes von jedem Resonator bis zum Gegenstand wird nach der Resonanzfrequenz gemessen.
  • Das Verfahren sieht die Anordnung von einigen Resonatoren in einer Reihe längs der Breite des Erzeugnisses zur Ermittlung der entsprechenden Abstande bin zum Gegenstand vor.
  • Die das Verfahren realisierande Konstruktion schließt r zwei miteinander gekoppelte Resonatoen ein, denen mikrowellen variabler Frequenz zugeführt worden. Beim Auftreten einer Resonanz werden zwei Signale von den Resonatoren verglichen. Der Abstand von den Resonatoren bis zum Erzeugnis wird durch die Verschiebung der miteinander gekoppelten ReSonatoren mittels eines Servomechanismus konstant gehalten. Die Dicke rechnet man nach der Resonanzfrequenz durch Subtrahieren des Abstandes bis zum Gegenstand vom Abstand zwischen den offenen Enden der Rosonatoren aus.
  • Das Verfahren wird ebenfalls durch einc Konstruktion re-llisiert, wo die Rosonatoren miteinander in der Wcise @@koppelt sind, daß der Abstand zwischen deren offenen Enden gleichfalls konstant gehalten wird. Einem der Resonatoren werden Mikrowellen fester Frequenz zugeführt, um festzustellen, ob sich der Resonator i!a betreffenden Augenblick in einer Resonanz mit der gegebenen Mikrowellenfrequenz befindet, und es wird eine automatische Regelung des Abstandes vom Gegenstand bis zu dieserin Resonator mittels Servomechanismus vorgenommen. Dem anderen Resonator werden Mikrowellen variabler Frequenz zugeführt.
  • Man bestimmt den Abstand von diesem Resonator bis zum Gegenstand nach der Frequenz und mißt die Dicke des Gegenstandes durch Subtrahieren des erhaltenen Abstandes bis zum Gegenstand vom Abstand zwischen den offenen Enden der Resonatoren. Es gibt eine Konstruktion, die auf Verwendung von z':)ci durch eine variable, sich in der Zeit linear ändernde Frequenz gespeisten Zylinderresonatoren $aufgebaut ist. Die Dicke bestimmt man durch die Messung eines der im gegebenen Augenblick zugeführton Leistung entsprechenden Zeitabstandes.
  • Das genannte Verfahren weist eine Reihe von in erster linie mit großen Schwier@keiten bei der Messung der Dicke und Konfiguration eines warmen Metalls bei kleinen Abständen zwischen dem Resonator und dem zu messenden Erzeugnis sowie mit der Kompliziertheit und Trägheit des mechanischen Folgesystems zusammenhängenden Nachteilen auf.
  • Dffle Messung der Abstande (dr Dicke) nach einem Frequenz oder Zeitabstand ist dagegen bei diesem Verfahren von praktisciiern Interesse.
  • Zweck der vorliegenden Erfindung ist es, eine erhöhte Meßgonauigkeit der laufenden Dicke eines sich bewegenden Erzougnisses bei größeren Dickenschwankungen, Vorhandensein räumlicher Verschiebungen des Meßobjektes sowie bei längeren Abständen zlslischen Strahlern und einem zu messenden Erzeugnis zu gewährleisten.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein derartiges Verfahren zur Dickenmessung zu schaffen, dessen Anwendungsbereich durch eine neue schaltungstechnische Lösung erweitert werden kann.
  • Dies wird dadurch erreicht, daß man die Dicke der metallisehen Erzeugnisse durch die Messung der Parameter der von deren Oberfläche reflektierten elektromagnetischen Höchstfrequenzwellen bestimmt, wobei gemaß der Erfindung die elektromagnetischen Wellen von der Quelle über eine aus Resonanzbedingungen gewählte optimale Richtverbindung mehrfach mittels Antonnen zuerst auf eine und dann auf die andere Oberflache des zu messenden Erzeugnisses ausgestrahlt werden und gleichzeitig damit die Wellenphase ununterbrochen geändert wird. Dann wird ein Teil der zur Messung erforderlichen Welle gleichgerichtet, und n;ich einem im Augenblick der Resonanz der elektromagnetisehen Welle entstehenden Signal beurteilt man die Dicke des Erzeugnisses.
  • Zur Durchführung des Verfahrens wird zweckmäßigerweise eine Einrichtung zur Dickenmessung metallischer Erzeugnisse ausgeführt, die eine Quelle von Höchstfrequenzwellen, mit ihren offenen Seiten den gegenüterliegenden Fläelien des zu messenden metallischen Erzeugnisses zugewandte Strahler und einen Anzeiger enthalt, in der die Strahler erfindungsgemäß miteinander über einen ferromagnetischen Modulator durch Wellenleiter gekoppelt sind, einer von denen über eine optimale, aus Resonanzbedingungen gewählte Richtverbindung mit Hilfe eines Gloiichrichters an die Quelle der Höchstfrequenzwellen und der andere über eine Richtverbindung mit Ililfe eines Detektors an eine logische Schaltung angeschlossen ist, wobei der Elektromagnet des ferromagnetischen Hodulators an die logische Schaltun;: über eine Speiseeinheit und der Anzeiger unmittelbar angekoppelt ist, Die Erfindung wird ersichtlicher aus der nachstehend angeführten ausführlichen Beschreibung mit Bezugnahme auf beiliegende Zeichnungen, wo zur Eindeutigkeit der Darlegung von bestimmten Elementen die Rede ist, ohne daß die Erfindung sich hierauf beschränkt; vielmehr sollen umfaßt sein alle äq@ivalenten Elemente, die in analoger Weise arbeiten und zur Lösung derselben Autaben, Wie auch im Beispiel, herangezogen werden.
  • Es muß auch beachtet werden, daß die anderen Ziele und Vorteile der vorliegenden Erfindung außer den obengenannten nachfolgend bei der Beschreibung und Betrachtung von Zeichnungen zum Vorschein kommen. Es zeigt: Fig. 1 eine L@ockschaltung zur E@@äuterung des Verfahrens; Fig. 2 eine vorzugsweise, gemäß dem vorgeschlagenen Verfahren ausgeführte Einrichtung; eine Fig. 3 zweite Einrichtung; eine Fig. 4 Y dritte Einrichtung.
  • Gemäß dem Verfahren nach der vorliegenden Erfindung rwerden die elektromagnetischen Höchstfrequenzwellen von der Quelle 1 (Fig. 1) über ein Richtelement 2 mit optimaler Kopplung zu einer Linsenantenne 3 gesendet und auf eine Seitc des zu messenden Erzeugnisses 4 ausgestrahlt.
  • Die von dieser Oberfläche 4 reflektierten Wellen werden durch die Linsenantenne 3 empfanden und gelangen über das Richtelement 2 und den ferromagnetischen Modulator 5 zum Richtelement 6.
  • Vom Richtelement 6 werden die elektromagnetischen Welion zu einer Linsenantenne 7 gesendet und auf die zweite Seite des zu messenden Erzeugnisses 4 ausgestrahlt.
  • Die von dieser Seite des Erzeugnisses reflektierten Wellen werden durch die Ijinsenantenne 7 empfangen und über das Richtelement 6, den ferromagnetischen Modulator 5 und das Richtelement 2 durch die Linsenantenne 3 erneut auf das Erzeugnis ausgestrahlt usw. Auf solche Weise kommt eine mehrfaclle Zusammenwirkung der elektromagnetischen Welle mit dem zu messenden Erzeugnis zustande.
  • hierbei trifft die Energie der elektromagnetischen Wellen mit Hilfe des Riohtelementes 6 zum Teil auf den Anzeiger 8 auf. Der ferromagnetische Modulator gewährleistet eine ununterbrochene Modulation der Wellenlänge in dem zweiseitigen offenen Stehwellenresonator, der sich aus dem zu messenden Erzeugnis 4, zwei Strahlern 3, 7 , zwei Richtelementen 2, 6 und dem ferromagnetischen Modulator 5 selbst zusammensetzt.
  • Bei einer bestimmten Größe der elektrischen Wellenlänge tritt eine Resonanz auf.
  • Im Augenblick der Resonanz, wo das Signal vom Richtelement 6 einen Maximalwert erreicht, mißt man die Dicke des Erzeugnisses mit Ifilfe des Anzeigers 8. Die räumlichen Verschiebungen des zu messenden Erzeugnisses ändern nichts an den Resonanzbedingungen und werden daher durch den Anzeiger 8 nicht wahrgenommen.
  • Gemäß der vorzugsweisen, in Ubereinstimmung mit dem betrachteten Verfahren ausgeführten Einrichtung werden die Höchstfrequenzweilen von einer Quelle 9 (Fig.2) über einen Gleichrichter 10 und einen Richtkoppler 11 mit optimaler Kopplung in dem zweiseitigen offenen Stehwellenresonator angefacht, wobei die Wellen von der Quelle 9 zum Teil durch einen angepaßten Abschluß 12 aufgenommen werden. Der zweiseitige offene Resonabr ist durch eine Seite des metallischen Erzeugnisses 13, eine Linoenantenne 14, einen Wellenleiter 15, den liauptarm eines Richtkopplers 11, einen ferromagnetischen Modulator 16, den tiauptarm von Richtkoppler 17, einen Wellenleiter 18, eine Linsenantenne 1'3 und die andere Seite des Metallerzeugnisses (Blechs) 13 gebildet Im Resonator breiten sicil die elektromagnetischen Wellen vom Hauptarm des Richtkopplers 11 über den Wellenleiter 15 aus und werden durch die @insenantenne 14 ausgestrahlt. Die von dieser Seite des Blechs 1) reflektierten Schwingungen werden über die Linsenantonne 14, den Wellenleiter 15, den Hauptarm des Richtkopplors 11, den ferromagnetischen Nodulator 16, den Hauptarm des Richtkopplers 17, den Wellenleiter 18 durch die @insenantenne 19 auf die andere Seite des Blechs 13 ausgestrahlt.
  • Die elektromagnetischen Wellen gelangen zun Teil aus dem Resonator in den Seitenarm des Richtkopplers 17, werden durch einen Kurzschlußkolben 2(w rückgestra@lt und durch einen angcpaßton Abschluß 21 aufgenommen. Das Signal von einem Detektor 22 trifft an einer logischen Schaltung 23 ein.
  • Von einer ungesteuerten Speiseeinheit 24 wird eine Sinusspannung gleichzeitig der logischen Schaltung 23 und der Vormagnetisierungswicklung des Elektromagneten 25 des ferromagnetischen Modulators 16 zugeführt. Bei ferromagentische Modulator 16 gewährleistet in jeder Sinusspannungsperiode eine automatische Suche der elektrischen Resonanzwellenlänge. Im Augenblick der Resonanz erreicht der über den Detektor 22 fließende Strom einen Marimalwert, und die logische Schaltung 23 läf3t den Anzeiger 26 den Momentanwert der Vormagnetisierungsspannung als Funktion der Dicke des metallischen Erzeugnisses l3 anzeigen.
  • einer Bei v Änderung der Dicke des metallischen Erzeugnisses 13 entspricht dem Moment der Erreichung durch den über den Detektor 22 fließenden Strom eines Maximalwertes ein anderer Momentanwert der Vormagnetisierungsspannung der Speiseeinheit 24, und die logische Schaltung 23 läßt diesen Spannungswert am Anzeiger 26 anzeigen.
  • Die zweite Einrichtung enthält gemäß den dargestellten Verfahren einen Generator 27 (Fig. 3) für veränderliche Höchstfrequenz, einen Richtkoppler 28 mit optimaler Koppluug, einen angepaßten Abschluß 29, einen vierarmigen Zirkulator 30, Linsenantennen 31 und 32, das zu messende Erzeugnis 33, einen Richtkoppler 34, einen angepaßten Abschluß 35 und einen Anzeiger 36.
  • ~ Schwingung Die @ @ vom Generator 27 für veränderliche Höchstfrequenz wird über den Richtkoppler 28 in dejn Wanderwellenresonator -angeregt, der sich aus einem itilfsarm des Richtkopplers 28, dem vierarmigen Zirkulator 30, den Linsenantennen 31 und 32, dem zu messenden Erzeugnis 33 und dem Hauptarm des Richtkopplers 34 zusammensetzt. Hierlei werden die vom Generator 27 kommenden Wcllen zwei Teil durch den angepaßten Abschluß 29 aufgenommen. Die elektromagnetischen Wellen kommen über den vierarmigen Zirkulator 30 von desseii Arm 1 zum Arm II durch und werden durch die Linsenanteinio 31 auf die erste Seite des zu messenden Erzeugnisses 33 ausgestrahlt.
  • Die von dem zu messenden Erzeugnis 33 reflektierten Wellen werden durch die Linsenantenne 31 empfangen und kommen weiter über den vierarmigen Zirkulator 30 aus dessell Arm II in dem Arm III zur Linsenantonne @2 durch, dann werden sie erneut auf die andere Seite des zu messenden Erzeugnisses 33 ausgestrahlt.
  • Die zweifach reflektierten Wellen werden durch die Antenne 32 empfangen, dann kommen sie über den vierarmigen Zirkulator 30 aus dem Arm III in den Arm IV durch und gelangen in den Hilfsarm des Richtkopplers 28.
  • Das beschriebene System bildet also einen Wanderwellenresonator, der über eine Richtverbindung vom Generator 27 gespeist wird. Ein Teil der Energie kommt aus dem Resonator über den Koppler 34 mit dem angepaßten Abschluß 35 zum Anzeiger 36 für die Bestimmung der Resonanzfrequenz.
  • Bei der Speisung des Wanderwellenresonators über die Richtverbindung stellt sich in diesem eine einseitig gerichtete Zirkulation der elektromagnetischen Wanderwelle ein.
  • Zur Entstehung einer Resonanz sind folgende Bedingungen: wo n = 1,2,3...
  • zu erfüllen, wo lw und 10 - die Länge des Wellenleiters bzw. des freien Raumes des Wanderwellenresonators; und - die Wellenlänge im Wellenleiter bzw. im freiem Raum des Wanderwellenresonator bedeuten Bei der Änderung der Frequenz des Generators 27 tritt bei bestimmter Frequenz eine Resonanz ein, wobei die Resonanzfrequenz bei einer Verschiebung des Erzeugnlsses zwischen den Antennen unverändert bleibt, da sich hierbei die elektrische Länge des Wandervellenresonators nicht ändert. Bei der Änderung der Dicke des Erzeugnisses 33 ändert sich die elektrische Gesamtlänge des Wanderwellenresonators, was zur Änderung sein ner Resnanzfrequenz führt.
  • Wenn die Wellenlänge des Generators sich in Grenzen von #w min bis #w max bewegt, so wird der Bereich der zu messenden Dicken durch die Beziehung: bestimmt.
  • Die dritte Einrichtung enthält eine Wanderwellenröhre 37 (Fig. 4), ein Bandfilter 38, dreiarmige Zirkulatoren 39 und 40, Linsenantennen 41 und 42, das zu messende Erzeugnis 43, einen Riahtkoppler 44, einen angepaßten Abschluß 45, einen Anzeiger 46 und eine Speiseeinheit 47.
  • Bei einem stabilen Generatorbetrieb kommt die elektromagnetisclie Welle vom Ausgang der Wanderwellenröhre 37 über das Bandfilter 38, den dreiarmigen Zirkulator 39 aus dem Arm 1 in den Arm II zur Linsenantenne 41 durch und wird auf die erste Seite des zu messenden Erzeugnisses 43 ausgestrahlt.
  • Die reflektierte Welle wird durch die Linsenantenne 41 empfangen, kommt über den dreiarmigen Zirkulator 39 aus dem Arm II in den Arm III durch, gelangt anschlieSend aus dem Arm I' in den Arm II' des dreiarmigen Zirkulators 40, kommt weiter zur Linsenantenne 42 durch und wird erneut auf die andere Oberfläche des zu messenden Erzeugnisses 43 ausgestrahlt.
  • Die zweifach reflektierte Welle wird durch die Antenne 42 e.mpf3ngen, kommt über den dreiarmigen Zirkulator 40 aus dem Arm II' in den Arm III' durch und gelangt über den Hauptarm des Richtkopplers 44 auf den Eingang der Wanderwellenröhre 37.
  • Dank der Breitbandigkeit der Wanderwellenrbhre sowie der Tatsache, daß auf die Röhre selbst und auf den Stromkreis deren positiver Rückkopplung eine Vielzahl von Wellenlängen entfält, erzeugt die Röhre ein ganzes Frequenzspektrum.
  • Der Stromkreis der positiven Rückkopplung wird durch die Wanderwellenrdhre 37, das Bandfilter 38, die dreiarmigen Zirkulatoren 39 und 40, die Linsenantennen 41 und 42, das Meßoh-Jekt 43 und den Hauptarm des Richtkopplers 44 gebildet.
  • Die Erzeugung durch die Röhre einer Welle von nur einer Frequenz wird dadurch ermöglicht, daß in den Rückkopplerkreis das Bandfilter 38 für die gewählte Frequenz @e schaltet ist.
  • Die Wellenerzeugung tritt bei der Frequenz fg , für die die Bedingung eines Phasen- und Amplitudenausgleiches erfüllt wird, ein.
  • wo #w und @r - Phasenverschiebungen in der Wanderwellenröhre bzw. im Rückkoppelkreis, N - eine ganze Zahl sind.
  • Die Wellenlänge der Einrichtung (Fig. 4) erfüllt also die Bedingung.
  • wo 1 die elektrische Länge des Rückkoppelkreises der Wanderwellenröhre ist.
  • Wichtig ist, daß sich bei einer Verschiebung des Objektes 43 zwischen den Antennen 41 und 42 die elektrische Gesamtlänge 1 und folglich auch die Schwingungsfrequenz fg in der Einrichtung nicht ändert.
  • Zur Messung der Schwingungsfrequenz wird ein Teil der Energie über den Richtkoppler 44 mit dem angepaßten Abschluß 45 dem Anzeiger 56 zugeführt.
  • Die vorgeschlagene Einrichtung gewährleistet eine große Meßempfindlichkeit dank einer hohen Gifte des Arbeitskreises und ermöglicht die Frequenzmessung mit einer erhöhten Meßgenauigkeit.

Claims (2)

PATENTANSPRUCHE:
1. Verfahren zur Bestimmung der Dicke metallischer Erzeug nisse durch die @essung der Parameter der von deren @@erfläche reflektierten elektromagnetischen höchstfrequenz@ellen, d a d u r c h g e k e n n z e i c 11 n e t, daß die elekromagnetischen Wellen von einer Quelle (1) über eine aus Resonauzbedingungen gewählte optimale Richtverbindung (2) @@hrfach mittels Antenne (3, 7) zuerst auf eine und dann auf die andere Oberfläche des zu messenden Erzeugnisses (4) a sgestrahlt werden und gleichzeitig damit die Wellenphase @@@nterbrochen geändert wird, darauf ein Teil der zur Messung erforderlichen Welle gleichgerichtet wird, wobei nach dem im Augenblick der Resonanz der elektromagnetischen Welle entstehendem Signal die Dicke des Erzeugnisses bestimmt wird.
2. Einrichtung zur Bestimmung der Dicke metallischer Erzeugnisse, die eine Quelle von Höchstfrequenzwellen, mit ihren offenen Seiten den gegenüberliegenden Oberflächen des zu messenden metallischen Erzeugnisses zugekehrte Strahler und einen Anzeiger enthalt, d a d u r c h g e k e n n z e i chn e t, daß die genannten Strahler (14, 19) miteinander über einen ferromagnetischen Modulator (16) mit Wellenleitern (15, 18) gekoppelt sind, einer (15) von denen über eine optimale, aus Resonanzbedingungen gewählte Richtverbindung (11) mit Hilfe eines Gleichrichters (10) an eine Quelle (9) für Höchstfrequenzwellen und der andere (18) über eine Richtverbindung (17) mit Hilfe eines Detektors (22) an eine logische Schaltung (23) angeschlossen ist, wobei der Elektromag-@et (25) des ferromagnetischen @odulators (16) @n die logische Schaltung (23) über elnen Speisequelle (24) und der An@eiger (26) unmittelbar angekoppelt ist.
DE19712144472 1971-09-06 1971-09-06 Verfahren und Einrichtung zur berührungslosen Messung der Dicke metallischer Objekte Expired DE2144472C3 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712144472 DE2144472C3 (de) 1971-09-06 1971-09-06 Verfahren und Einrichtung zur berührungslosen Messung der Dicke metallischer Objekte

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712144472 DE2144472C3 (de) 1971-09-06 1971-09-06 Verfahren und Einrichtung zur berührungslosen Messung der Dicke metallischer Objekte

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2144472A1 true DE2144472A1 (de) 1973-05-10
DE2144472B2 DE2144472B2 (de) 1974-01-10
DE2144472C3 DE2144472C3 (de) 1974-08-01

Family

ID=5818738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19712144472 Expired DE2144472C3 (de) 1971-09-06 1971-09-06 Verfahren und Einrichtung zur berührungslosen Messung der Dicke metallischer Objekte

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2144472C3 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4492915A (en) * 1981-02-28 1985-01-08 Elektro-Physik & Erich Steingroever Method and apparatus for the electronic measurement of the thickness of very thin electrically conductive films on a nonconductive substrate
US5099691A (en) * 1989-01-16 1992-03-31 Hrdlicka Armin W Method for measuring length, and apparatus for implementing the method

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT393738B (de) * 1989-01-16 1991-12-10 Hrdlicka Armin W Ing Laengenmessverfahren
DE3927394A1 (de) * 1989-08-19 1991-02-28 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zur dickenmessung

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4492915A (en) * 1981-02-28 1985-01-08 Elektro-Physik & Erich Steingroever Method and apparatus for the electronic measurement of the thickness of very thin electrically conductive films on a nonconductive substrate
US5099691A (en) * 1989-01-16 1992-03-31 Hrdlicka Armin W Method for measuring length, and apparatus for implementing the method

Also Published As

Publication number Publication date
DE2144472B2 (de) 1974-01-10
DE2144472C3 (de) 1974-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1573968C3 (de) Vorrichtung zum Messen einer MateriaJeigenschaft
DE69512657T2 (de) Verfahren zum überwachen von turbinenschaufelschwingungen mittels mikrowellen
DE2710958A1 (de) Mikrowellen-abstandsdetektor
DE3743271A1 (de) Aktive spaltsteuerung
DE855418C (de) Vorrichtung zum Modulieren ultrakurzer Wellen in einer UEbertragungsleitung
DE19925468A1 (de) Streufeldsonde
DE2923361C2 (de)
DE1264537B (de) Vorrichtung zum Messen von kleinen Verschiebungen eines nahen Objektes durch Wellenreflexion
DE2144472A1 (de) Verfahren und einrichtung zur bestimmung der dicke metallischer erzeugnisse
DE69419380T2 (de) Kompakte und tragbare Vorrichtung zur Messung des Reflektionskoeffizienten einer mit Mikrowellen bestrahlten Struktur
DE1805993A1 (de) Vorrichtung zur Entfernungsmessung
EP0205406A2 (de) Elektrooptisches Distanzmessgerät
DE1598800A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Feuchtigkeitsgehaltes von viskosen Pasten oder aehnlichen Materialien
DE2904528C2 (de) Doppler-Radarvorrichtung
DE2239848A1 (de) Mikrowellentransmissionsanordnung zur messung des wassergehaltes
DE540833C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Feuchtigkeitsgehalts von bewegten Stoffbahnen
DE2721781A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur ueberwachung der genauigkeit von umschalt-schwenkrichtfunkstrahlen
DE2233045A1 (de) Vorrichtung zum kontinuierlichen messen und/oder ueberwachen einer abmessung eines gegenstandes von grosser laenge
DE3021096A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum beruehrungslosen messen der werkstoffanhaeufung an materialien aus dielektrischen werkstoffen, insbesondere kunststoff
AT129957B (de) Wellenmesser für kurze elektromagnetische Wellen.
DE2312062C2 (de) Wanddicken-Meßgerät, nach dem Ultraschall-Immersions-Resonanzverfahren
DE1623341C (de) Verfahren und Vorrichtung zum fortlau fenden, beruhrungslosen Messen des Abstan des zwischen einer Metalloberflache und einer Bezugsebene mit Hilfe von Mikrowel len
DE2445653A1 (de) Verfahren und einrichtung zur beruehrungslosen messung kleiner abstaende
DE1234284B (de) Verfahren zur Messung des Guetefaktors eines Hohlraumresonators
DE2010893A1 (de) Verfahren und Anordnung zur Messung der Lage bzw Verschiebung oder Dicke eines Prüfstücks mittels eines Hochstfrequenzresona tors

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)