DE2133876A1 - Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen - Google Patents

Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen

Info

Publication number
DE2133876A1
DE2133876A1 DE2133876A DE2133876A DE2133876A1 DE 2133876 A1 DE2133876 A1 DE 2133876A1 DE 2133876 A DE2133876 A DE 2133876A DE 2133876 A DE2133876 A DE 2133876A DE 2133876 A1 DE2133876 A1 DE 2133876A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor wafers
shuttle
arrangement according
base plate
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE2133876A
Other languages
English (en)
Inventor
Gerhard Bachmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE2133876A priority Critical patent/DE2133876A1/de
Priority to NL7206014A priority patent/NL7206014A/xx
Priority to GB2730172A priority patent/GB1385730A/en
Priority to US00262353A priority patent/US3826377A/en
Priority to FR7222370A priority patent/FR2144678B1/fr
Priority to IT2661572A priority patent/IT962430B/it
Publication of DE2133876A1 publication Critical patent/DE2133876A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67115Apparatus for thermal treatment mainly by radiation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S206/00Special receptacle or package
    • Y10S206/832Semiconductor wafer boat

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT München 2, -7.·JUL1971
Berlin und München Witteisbacherplatz
>A 71/1110
Anordnung zum Eindiffundieren von Dotierstoffen
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zum Eindiffundieren von Dotierstoffen in Halbleiterscheiben, mit einem Rohr und einer im Rohr angeordneten, aus. Halbleitermaterial bestehenden Bodenplatte, die an der Oberseite mit Führungsnut en versehen ist, in ärenen die Halbleiterscheiben stehen.
Eine solche Anordnung ist bereits beschrieben worden. Die Bodenplatte weist eine Vielzahl von parallelen Führung3nuten auf, in die die zu diffundierenden Halbleiterscheiben hineingesteckt werden. Die Führungsnuten umfassen die Halbleiterscheiben nur- in einem Randbereich, so daß der Dotierstoff in die Halbleiterscheiben eindiffundieren kann.
Die Diffusion von Halbleiterscheiben wird bekanntlich bei hohen Temperaturen durchgeführt. Bei Halbleiterscheiben aus Silbium liegen die Temperaturen etwa zwischen 1050 und 125O0C. In diesem Temperaturbereich sind die Halbleiterscheiben relativ leicht plastisch verformbar. Solche plastischen Verformungen führen zu Störungen im Kristallgitter, die sich auf die elektrischen Eigenschaften eines Halbleiterbauelementes nachteilig auswirken. Sitzen die Halbleiterscheiben wie bei der bekannten Anordnung lediglich in den Rand umfassenden Führungsnuten der Bodenplatte, so kippen sie leicht aus der Vertikalen. Dann kann bereits das Gewicht der Scheiben ein Biegemoment auf diese ausüben, so daß Versetzungen und Störungen im Kristallgitter auftreten.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht da-VTA 9/110/1067 Hab/Hob 209883/0951 "2"
-·■■_■■■." - 2 -
rinfeine Anordnung der eingangs erwähnten Gattung so. weiterzubilden, daß insbesondere durch ein Biegemoment ausgeübte mechanische Einflüsse während der Diffusion von den Scheiben ferngehalten werden.
Die Erfindung ist -dadurch gekennzeichnet, daß die Bodenplatte in einem einen Boden und Seitenwände aufweisenden Schiffchen liegt, daß plattenförmige Halter aus dem gleichen Halbleitermaterial wie die Halbleiterseheiben vorgesehen sind, daß die Halter mit zu den Führungsnut en parallelen, senkrecht über diesen liegenden Schlitzen versehen sind, in die die Halbleiterscheiben hineinpassen, daß die Schlitze etwa auf der Höhe oder über der Höhe des Schwer- W punktes der Halbleiterscheiben liegen und daß die Seitenwände des Schiffchens Sitzstellen aufweisen, auf denen die Enden der Halter sitzen.
Vorzugsweise ist jeweils einer in den parallelen Führungsnuten nebeneinander stehenden Gruppe von Halbleiterscheiben eine eigene Bodenplatte zugeordnet; dabei können mehrere Bodenplatten hintereinander angeordnet sein. Zweckmäßigerweise weist das Schiffchen am Boden Erhebungen auf,- durch die die Bodenplatten in ihrer Läge gesichert sind. Besonders günstige Ergebnisse werden erzielt, wenn die Halbleiterscheiben nur am Rand von den Schlitzen umfaßt werden. Das Schiffchen kann aus dem gleichen Halbleitermaterial wie die Seheiben, z.B. aus Silicium oder auch aus Quarz bestehen. Die Bodenplatten und.die Halter bestehen zweckmäßigerweise ebenfalls aus dem gleichen Halbleitermaterial.
Die Erfindung wird anhand einiger Ausführungsbeispiele in Verbindung mit den Figuren 1 bis 3 näher erläutert. Es zeigen: :
Figur 1 eine perspektivische Ansicht eines ersten Aus-
führungsbeipiels
Figur 2 einen Iiängaschnitt durch ein zweites Ausführungs-
VPA 9/110/1067 - 3 -
209883/0951
beispiel und
Figur 3 den seheoatischen Querschnitt durch -einen Diffusionsofen, in dem die Anordnung untergebracht ist.
In Figur 1 ist das Schiffchen mit 1 bezeichnet. Auf dem Boden des Schiffchens 1 sitzt eine Bodenplatte 21 die an ihrer Oberfläche mit einer Anzahl von parallelen Führungsnuten 3 versehen ist. Die Wände des Schiffchens 1 weisen Unförmige Sitzstellen 4 auf, in denen die Enden plattenförmiger Halter 5 ruhen. Die plattenförmigen Halter 5 sind mit Schlitzen. 6 versehen, die parallel zu den Führungsnut en 3 in der Bodenplatte 2 verlaufen. Jeder der Schlitze 6 liegt dabei senkrecht Über einer Führungsnut 3· Die Halbleiterscheiben, die hier der Übersichtlichkeit halber nicht gezeichnet sind, werden in zwei gegenüberliegende Schlitze 6 zweier benachbarter Halter und die senkrecht darunterliegende Führungsnut 3 eingesteckt. Die Halter 5 liegen so hoch über der Bodenplatte 2, daß die Schlitze 6 die Halbleiterscheiben etwa auf der Höhe ihres Schwerpunktes oder auch darüber umfassen. Damit wird gewährleistet, daß die Halbleiterscheiben bei der Diffusion mechanisch nicht so stark beansprucht werden können, daß es zu Versetzungen im Kristallgefüge der Halbleiterscheiben kommt. Damit wird erreicht, daß Halbleiterscheiben, die vor der Diffuäon versetzungsfrei gewesen sind, auch versetzungsfrei aus dem Diffusionsprozeß hervorgehen.
.Die Bodenplatte 2 und die Halter 3 bestehen aus dem gleichen Halbleitermaterial wie die zu diffundierenden Halbleiterscheiben. Bestehen diese aus Silicium, so sind Bodenplatte 2 und Halter 5 ebenfalls aus Silicium. Die Halter 5 können z.B. aus von einem Stab abgeschnittenen Siliciumscheiben ausgesägt werden« Das Schiffchen 1 kann ebenfalls aus
Silicium bestehen. Dabei geht man zweckmäßigerweise von einem Siliciumrohr mit z.B. fast rechteckigem Querschnitt aus, das der Länge nach durchgesägt wird. Die Sitzstellen
VPA 9/110/1067 209883/Π951· -♦"
lassen sich ebenfalls durch Sägen herstellen. Das. erwähnte Rohr aus Halbleitermaterial kann durch pyrοIytische Zersetzung einer gasförmigen Verbindung eines Halbleitermaterials auf einem aufgeheizten Graphitstab hergestellt werden. Soll ein Schiffchen aus Silicium hergestellt werden, so leitet man beispielsweise Silicochloroform SiHCl5 und Wasserstoff H2 über den auf eine Temperatur von etwa 1450° aufgeheizten Graphitkörper. Das Silicochloroform reagiert mit dem Wasserstoff, so daß sich am Graphitkörper kristallines Silicium abscheidet. Ist eine genügende Schichtdicke, z.B. 1 bie 5 mm erreicht f so wird der Trägerkörper abgekühlt. Wegen des höheren thermischen Ausdehnungskoeffizienten schrumpft dieser stärker als die Siliciumschicht und kann daher mähelos aus dem Siliciumroht herausgezogen werden.
Es genügt jedoch auch, wenn das Schiffchen 1 aus Quarz besteht. Da die Halbleiterscheiben nur mit dem aus Halbleitermaterial bestehenden Teilen in Berührung kommen? ist die Gefahr von Beeinflussungen durch das Quarz 'weitgehend ausgeschlossen.
Beim Ausführungsbeispiel nach Figur 2 sind gleiche Teile wie in Figur 1 mit gleichen Bezügszeichen versehen. In diesem Ausführungsbeispiel ist jeder aus nebeneinanderstehenden Halbleiterscheiben bestehenden Gruppe eine Bodenplatte 7 zugeordnet;die Schlitze 16 aufweist .. Die ,Bodenplatten 7 werden durch Erhebungen 8, die am Boden des Schiffchens 1 vorgesehen sind, in ihrer Lage gehalten. Die Halbleiterscheiben von denen jeweils nur die erste einer Gruppe sichtbar ist, sind hier mit 9 bezeichnet. Die Halter 5 und- die Bodenplatte 7 bestehen aus dem gleichen Material wie die Halbleiterscheiben 9. Das Schiffchen 1 kann auch hier entweder aus Quarz oder aus dem gleichen
. Halbleitermaterial 'wie--öle Scheiben 9 bestäfeen. Besteht das ScniffehtgB T .&ηέ: QumrsffWimen die Erhebungen 8
YPA 9/t10/1067 . -5
' ' - 20 9 88 3/fiSSI
durch Aufschmelzen von Quarzstäbehen hergestellt werden. Besteht das Schiffchen 1 aus Halbleitermaterial, so werden die Erhebungen 8 zweckaäßigerweise gleich bei der Herstellung des Rohres durch entsprechende Formgebung des Trägerkörpers mit hergestellt. In diesem Fall muß das Halbleiterrohr vor dem Entfernen des Trägerkörpers zertrennt werden» da ein einfaches Herausziehen wegen, der Erhebungen 8 nicht möglich ist.
Der Vorteil des zuletzt beschriebenen Ausführungsbeispiels besteht gegenüber dem nach Figur 1 darin, daß die Bodenplatten 7 gegenüber der Bodenplatte 2 relativ klein sind. Sie können daher auf einfacher Weise durch Aussägen aus einer Halbleitersche, be hergestellt werden.
In Figur 3 ist schematisch gezeigt, wie die Anordnung nach der Erfindung in einem Diffusionsofen Untergebracht ist. Auch hier sind gleiche Teile wie in den vorhergehenden Figuren mit gleichen Bezugzeichen versehen. Der Diffusionsofen' besteht im wesentlichen aus einem Rohr 10, das mit zwei Stopfen 11 und 12 versehlosseen ist. Das Rohr 10 und die Stopfen 11 und 12 können aus Quarz oder auch aus Halbleitermaterial, z.B. Silicium bestehen. Der Stopfen 11 weist einen Einlaß 13 und der Stopfen 12 einen Auslaß auf» durch die der Dotierstoff in Gasform zweckmäßiger·*· · weise mit einem Schutzgas, z.B. Stickstoff hindurchtritt. Das Rohr 10 ist von einer Wicklung 15 umgeben, die das Bohr 10 und die Halbleiterscheiben 9 durch Strahlungswärme auf die Diffusionstemperatur erhitzen. Besteht das Rohr aus Halbleitermaterial, so kann die Wicklung 15 auch mit Hochfrequenz gespeist werden. Das Rohr 10. wird dann induktiv erhizt und heizt seinerseits die Halbleiterscheiben 9 durch Strahlungswärme auf. ,
Der Vorteil des Anmeldungsgegenstandes besteht außer den bereits genannten Vorteilen darin, daß die Einzelteile
VPA 9/110/1067 - 6 -
209883/0951
2133878
leicht austauschbar sind. Dies spielt inabesondere bei Beschädigungen eine Rolle, da reines Halbleitermaterial relativ teuer ist.
Die Erfindung ist nicht nur für Halbleiterscheiben aus Silicium sondern auch für Halbleiterscheiben aus Germanium, AjT-rBy'- oder Aj^By,.-Verbindungen anwendbar.
7 Patentansprüche
3 'Figuren .
VPA 9/110/1067 . - 7 -
831/0951

Claims (7)

  1. · Anordnung zum Eindiffundieren von Dotierstoffen in Halbleiterscheiben! mit einem Rohr und einer im Rohr angeordneten, aus Halbleitermaterial be- I
    stehenden Bodenplatte, die an der Oberseite mit Führungsnuten versehen ist, in denen die Halbleiterscheiben stehen, dadurch g e k e η η ζ e. i c h η e t , daß die Bodenplatte (2') in einem einen Boden und Seitenwände aufweisenden Schiffchen (1) liegt, daß plattenförmige Halter (5) aus dem gleichen Halbleitermaterial wie die Halbleiterscheiben (9) vorgesehen sind, daß die '
    Haller (5) mit zu den Führungsnuten (3) parallelen, senkrecht über diesen liegenden Schlitzen (6) versehen aind, in die die Halbleiterscheiben (9) hineinpassen, daß die Schlitze (6) etwa auf der Höhe oder über der Höhe des Schwerpunktes der Halbleiterscheiben liegen und daß die Seitenwände des Schiffchens (1) Sitz3tellen (4·) aufweisen, auf denen die Enden der Halter sitzen.
  2. 2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jeweils einer in
    den parallelen Führungsnuten (3) nebeneinander ·ί
    stehenden Gruppe von Halbleiterscheiben (9) eine eigene Bodenplatte (7) zugeordnet ist und daß in dem Schiffchen (1) mehrere Bodenplatten (7) hintereinander angeordnet sind. . '
  3. 3. Anordnung nach Anspruch 2, d a d u r c h gekennzeichnet, daß das Schiffchen am Boden Erhebungen (8) aufweist, durch die die Bodenplatten (7) in ihrer Lage gesichert sind.
    TPA 9/110/1067 - 8 -
    209 8 83/0951
  4. 4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, d adurch gekennzeichnet, daß die
    ' Halbleiterscheiben (9) nur am Rand von den Schlitzen (6) umfaßt werden.
  5. 5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, d a durch gekennzeichnet, daß die Bodenplatten (7) und die Halter (5) aus Silicium
    bestehen.
  6. 6. Anbrdnung nach e'inem der Ansjcüche 1 bis 4» d a durch gekennzeichnet, daß das
    ψ ' Schiffchen (1) aus Quarz besteht*
  7. 7. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4» dadurch gekennzeichnet, daß das Schiffchen -(T.) aus Silicium besteht.
    VPA 9/110/1067
    209883/Π951
DE2133876A 1971-07-07 1971-07-07 Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen Pending DE2133876A1 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2133876A DE2133876A1 (de) 1971-07-07 1971-07-07 Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen
NL7206014A NL7206014A (de) 1971-07-07 1972-05-04
GB2730172A GB1385730A (en) 1971-07-07 1972-06-12 Apparatus for diffusing dopants into semiconductor wafers
US00262353A US3826377A (en) 1971-07-07 1972-06-13 Fixture for holding semiconductor discs during diffusion of doping material
FR7222370A FR2144678B1 (de) 1971-07-07 1972-06-21
IT2661572A IT962430B (it) 1971-07-07 1972-07-05 Disposizione per diffondere sostan ze di drogaggio in dischi di mate riale semiconduttore

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2133876A DE2133876A1 (de) 1971-07-07 1971-07-07 Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2133876A1 true DE2133876A1 (de) 1973-01-18

Family

ID=5812976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2133876A Pending DE2133876A1 (de) 1971-07-07 1971-07-07 Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen

Country Status (2)

Country Link
US (1) US3826377A (de)
DE (1) DE2133876A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4179326A (en) * 1976-04-22 1979-12-18 Fujitsu Limited Process for the vapor growth of a thin film

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4129090A (en) * 1973-02-28 1978-12-12 Hitachi, Ltd. Apparatus for diffusion into semiconductor wafers
US4256229A (en) * 1979-09-17 1981-03-17 Rockwell International Corporation Boat for wafer processing
US4318749A (en) * 1980-06-23 1982-03-09 Rca Corporation Wettable carrier in gas drying system for wafers
US4355974A (en) * 1980-11-24 1982-10-26 Asq Boats, Inc. Wafer boat
US4740249A (en) * 1984-05-21 1988-04-26 Christopher F. McConnell Method of treating wafers with fluid
US4738272A (en) * 1984-05-21 1988-04-19 Mcconnell Christopher F Vessel and system for treating wafers with fluids
US4577650A (en) * 1984-05-21 1986-03-25 Mcconnell Christopher F Vessel and system for treating wafers with fluids
US4856544A (en) * 1984-05-21 1989-08-15 Cfm Technologies, Inc. Vessel and system for treating wafers with fluids
US4633893A (en) * 1984-05-21 1987-01-06 Cfm Technologies Limited Partnership Apparatus for treating semiconductor wafers
US4556145A (en) * 1985-03-28 1985-12-03 Control Data Corporation One piece flatpack chip carrier
ATE74294T1 (de) * 1985-06-24 1992-04-15 Cfm Technologies Inc Behandlung von halbleiterscheiben mit einer fluessigkeitsstroemung.
US4755906A (en) * 1987-04-01 1988-07-05 Gte Communication Systems Corporation Substrate connector guide
US4797786A (en) * 1987-04-01 1989-01-10 Gte Communication Systems Corporation Substrate mounting device
US4755907A (en) * 1987-04-01 1988-07-05 Gte Communication Systems Corporation Substrate connector guide
US5042671A (en) * 1989-09-20 1991-08-27 International Business Machines Corporation Versatile product carrier
US5114018A (en) * 1989-09-20 1992-05-19 International Business Machines Corporation Versatile product carrier
US5090432A (en) * 1990-10-16 1992-02-25 Verteq, Inc. Single wafer megasonic semiconductor wafer processing system
DE69233293T2 (de) * 1991-10-04 2004-11-18 CFMT, Inc., Wilmington Superreinigung von komplizierten Mikroteilchen
FR2702088B1 (fr) * 1993-02-24 1995-05-24 Sgs Thomson Microelectronics Nacelle pour plaquettes de silicium.
US5370225A (en) * 1993-08-30 1994-12-06 Fancourt Industries, Inc. Tray arrangement for multiple lead integrated circuit components and the like
US5350069A (en) * 1993-08-31 1994-09-27 Agwu David E Cleaning and storage device
US5429251A (en) * 1993-09-22 1995-07-04 Legacy Systems, Inc. Semiconductor wafer end effector
US6039059A (en) 1996-09-30 2000-03-21 Verteq, Inc. Wafer cleaning system
US5921397A (en) * 1996-12-10 1999-07-13 Empak, Inc. Disk cassette
US6176377B1 (en) * 1999-08-18 2001-01-23 Ali Industries, Inc. Rack for supporting abrasive discs or the like
US7252199B2 (en) * 2004-03-26 2007-08-07 Entegris, Inc. Disk cassette system
CN1978074B (zh) * 2005-12-02 2010-11-10 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 镜片清洗治具
US20180119278A1 (en) * 2015-04-13 2018-05-03 Kornmeyer Carbon-Group Gmbh Pecvd boat
CN108257899B (zh) * 2018-01-31 2022-10-14 上海祖强能源有限公司 样品架

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1480939A (en) * 1921-11-29 1924-01-15 Erle H Hand Record container and ejector
US1755074A (en) * 1927-05-11 1930-04-15 B F Avery & Sons Filing cabinet for phonograph records
DE691450C (de) * 1937-12-19 1940-05-27 Anton Schindler Geldzaehlkassette mit Muenzenrinnen, die in zueinander versetzte kuerzere Muenzenaufnahmeraeume unterteilt sind
US2354872A (en) * 1942-08-26 1944-08-01 Mitnick Meyer Record rack
US2572355A (en) * 1947-01-02 1951-10-23 Earl E Kintz Rack
US2593927A (en) * 1947-10-14 1952-04-22 Edward J Slattery Cabinet for sound record disks
US3484662A (en) * 1965-01-15 1969-12-16 North American Rockwell Thin film transistor on an insulating substrate
US3480151A (en) * 1967-04-05 1969-11-25 Heraeus Schott Quarzschmelze Supporting rack of quartz
FR1532497A (fr) * 1967-05-29 1968-07-12 Quartz & Silice Support pour objets en forme de disques, tels que notamment pastilles semi-conductrices et son procédé de fabrication
US3644154A (en) * 1969-06-09 1972-02-22 Ibm Method of fabricating semiconductor structures with reduced crystallographic defects
US3665790A (en) * 1970-07-20 1972-05-30 Swiss American Precision Impor Tweezers

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4179326A (en) * 1976-04-22 1979-12-18 Fujitsu Limited Process for the vapor growth of a thin film

Also Published As

Publication number Publication date
US3826377A (en) 1974-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2133876A1 (de) Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen
DE2133843A1 (de) Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen in halbleiterscheiben
DE1289191B (de)
DE2654063A1 (de) Verfahren zum herstellen eines bandes aus polykristallinem halbleitermaterial
DE112013006661B4 (de) Verfahren zum Herstellen eines SIC-Epitaxialwafers
DE2752439A1 (de) Verfahren zur herstellung von silicium-halbleiteranordnungen unter einsatz einer ionenimplantation und zugehoerige halbleiteranordnung
DE2917455A1 (de) Verfahren zur vollstaendigen ausheilung von gitterdefekten in durch ionenimplantation von phosphor erzeugten n-leitenden zonen einer siliciumhalbleitervorrichtung und zugehoerige siliciumhalbleitervorrichtung
DE112016003796T5 (de) Vorrichtung zum Ziehen eines Einkristalls und Verfahren zum Ziehen eines Einkristalls
DE1298189B (de) Verfahren zum Herstellen von isolierten Bereichen in einer integrierten Halbleiter-Schaltung
DE1087704B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen mit wenigstens einem p-n-UEbergang
EP1019953A1 (de) Verfahren zum thermischen ausheilen von durch implantation dotierten siliziumcarbid-halbleitern
DE2322952A1 (de) Verfahren zum herstellen von horden aus silizium oder siliziumcarbid fuer diffusionsprozesse
DE2025611A1 (de)
DE1544245A1 (de) Diffusionsverfahren zum Erzeugen eines Gebietes veraenderter elektrischer Eigenschaften in einem Halbleiterkoerper
DE2931432A1 (de) Eindiffundieren von aluminium in einem offenen rohr
DE3620223C2 (de)
DE1521481B1 (de) Anordnung zur Waermebehandlung von scheibenfoermigen Halbleiterkoerpern
DE955624C (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleitereinrichtungen
DE2359004B2 (de) Vorrichtung zur Erwärmung von aus einkristallinem Material bestehenden Substraten
DE1237696B (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiter-Bauelementen mit einem einkristallinen Halbleiterkoerper
DE2732582C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung
DE2529484C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum epitaktischen Abscheiden von Silicium auf einem Substrat
DE2111946C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum epitaktischen Aufwachsenlassen eines Kristalls auf einer Unterlage
DE2201084A1 (de) Anordnung zum eindiffundieren von dotierstoffen in halbleiterscheiben
DE3807710C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
OHJ Non-payment of the annual fee