DE2126389C3 - Meß-, Prüf- und Sortiervorrichtung für elektrische Bauelemente - Google Patents
Meß-, Prüf- und Sortiervorrichtung für elektrische BauelementeInfo
- Publication number
- DE2126389C3 DE2126389C3 DE19712126389 DE2126389A DE2126389C3 DE 2126389 C3 DE2126389 C3 DE 2126389C3 DE 19712126389 DE19712126389 DE 19712126389 DE 2126389 A DE2126389 A DE 2126389A DE 2126389 C3 DE2126389 C3 DE 2126389C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- disc
- transistors
- components
- connecting wires
- channel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 210000004072 Lung Anatomy 0.000 description 2
- 210000001331 Nose Anatomy 0.000 description 2
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 description 2
- 230000002349 favourable Effects 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 210000003746 Feathers Anatomy 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000036633 rest Effects 0.000 description 1
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Messung der Parameter elektrischer Bauelemente und
zur Klassifizierung der Bauelemente in Übereinstimmung mit festgelegten Bereichen der Parameter, wobei
die Bauelemente längs eines Kreisbogens bewegt und in Bezug auf Anpreßkontakte ausgerichtet werden, die an
Anschlußleitungen der Bauelemente anpreßbar und mit einem Meßgerät verbunden sind, nach dessen Meßwert
Leitelemente zur Lenkung der Bauelemente in auswählbare Behälter einstellbar sind.
Eine derartige Vorrichtung ist bekannt (DT-OS 15 41 885). Bei dieser Vorrichtung werden Widerstände,
Kondensatoren oder Dioden mit ihren Anschlußdrähten in Kerben von zwei parallelen, drehbaren Scheiben
gehalten. Während der Drehung der Scheiben schleifen die Anschlußdrähte mit den aus den Kerben ragenden
Seiten längs Federkontakten, die zur Zufuhr von Prüfspannungen oder -strömen dienen. Mit der bekannten
Anordnung lassen sich nur Bauelemente mit zwei sich beiderseits des Bauelementekörpers längs einer
gemeinsamen Achse erstreckenden Anschlußdrähten prüfen.
Vorrichtung der eingangs erwähnten Gattung in der Richtung weiterzuentwickeln, daß Transistoren mit
zylindrischen Gehäusen, von denen auf einer Seite Anschlußdrähte nach außen ragen, selbsttätig und
schnell geprüft und anschließend sortiert werden können.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß als Bauelemente Transistoren, die zylindrische
Gehäuse mit auf einer Gehäuseseite nach außen ragenden Anschlußdrähten aufweisen, mittels eines
Vibrationsförderers in einer Rinne mit nach oben ragenden Anschlußdrähten einer sich drehenden Scheibe
zuführbar sind, die Einschnitte aufweist, in die die Transistoren mit ihren zylindrischen Gehäusen einfüg-
bar sind, während die Anschlußdrähte Ober die Scheibe
hinausragen, und daß nach Aufnahme der Transistoren in die Einschnitte durch Abrollen der Gehäuse der
Transistoren an einer feststehenden Piatte die Anschlußdrähte gegenüber von in radialer Richtung der S
Scheibe fiber Blöcke verschiebbare Kontaktfedern ausrichtbar sind, die für die Dauer der Messung an die
AnschluBdrähte der Transistoren anpreßbar sind.
Nachdem die Transistoren in den Vibrationsförderer eingefüllt sind, werden sie kontinuierlich der Scheibe
zugeführt Während der Drehung der Scheibe legen sich die Kontaktfedern an die Anschlüsse der Transistoren
an, so daß die Messung der Parameter ohne Veränderung des Obergangswiderstandes zwischen den
Kontakten und den Transistoranschlüssen durchgeführt werden kann. Deshalb ist eine genauere Messung
möglich. Die Vorrichtung arbeitet kontinuierlich und
kann für großen Durchsatz pro Zeiteinheit ausgelegt werden.
In einer bevorzugten Ausführungsform ist vorgesehen,
daß in der Transportbahn des Vibrationsförderers eine öffnung angeordnet ist und daß unterhalb der
öffnung eine Gleitbahn mit der Rinne verbunden ist Mit dieser Anordnung werden die Transistoren in eine
bestimmte Lage gebracht. Handelt es sich um Transistoren mit beispielsweise TO18-Gehäusen, dann
fallen die Transistoren immer mit nach oben gerichteten Anschlüssen durch die öffnung auf die Gleitbahn. In der
Rinne gelangen die Transistoren zur Scheibe. Durch die vom Vibrationsförderer auf die Bauelemente ausgeübte
Kraft werden diese in die Einschnitte der Scheibe beim Vorbeilaufen an der Rinne geschoben.
Eine zweckmäßige Ausführungsform besteht darin,
daß neben der zylindrischen Wand der Scheibe, in Drehrichtung der Scheibe gesehen, hinter der Rinne die
feststehende Platte angeordnet ist, in deren der Scheibe
zugekehrter Wand ein elastischer Streifen eingesetzt und eine Führungsnut enthalten sind.
Im Anschluß an die Aufnahme eines Transistors in einen Einschnitt wird der Transistor durch die
Drehbewegung der Scheibe an den feststehenden elastischen Streifen gepreßt Der Transistor rollt dabei
auf dem Streifen ab. Während der Transistor sich dreht gelangt die Nase des Transistorgehäuses in die
feststehende Nut und legt sich am Nutgrund an. Dadurch endet die Drehbewegung des Transistors, der
eine definierte Lage eingenommen hat Die Nut kann so ausgebildet sein, daß in der definierten Lage der
Bauelemente die Kontaktfedern leicht in die Zwischenräume der Anschlußdrähte passen, so
Eine günstige Ausführungsform ist derart ausgebildet daß die Blöcke verschiebbar und durch eine Führungsschiene
an der Scheibe befestigt sind und daß Rollen der Blöcke in eine exzentrische ausgebildete Führungsnut
eingreifen, die in einer fest mit einem Ständer verbundenen Scheibe angeordnet ist
Während der Drehung der Scheibe verschieben sich die Kontaktblöcke aufgrund der exzentrischen Führungsnut
in Richtung der Transistoranschlüsse. Die Exzentrizität der Nut beginnt in einem Bereich am
Umfang, in dem die Ausrichtung der Bauelemente weitgehend abgeschlossen ist Die Kontaktfedern
schieben sich zwischen die Anschlußdrähte der Bauelemente.
Bei einer anderen günstigen Ausführungsform ist vorgesehen, daß die Kontaktsätze je Block aus parallel
zueinander angeordneten, durch Abstände voneinander getrennten, auf jeweils einer Seite elektrisch isolierten
Die Anzahl der Kontaktfedern je Block richtet sich nach der Zahl der Bauelementanschlüsse. Bei Transistoren
mit drei Anschlußdrähten werden vier Kontaktfedem benötigt Da jeweils eine Seite der Kontaktfedern
gegen die Anschlußdrähte elektrisch isoliert ist steht jeder Anschlußdraht mit jeweils nur einer Kontaktfeder
elektrisch leitend in Verbindung.
In einer weiteren zweckmäßigen Ausführungsform
sind eine der Anzahl der Federn pro Block entsprechende Zahl Schleifringe auf einer mit der drehbaren Scheibe
formschlüssig verbundenen Platte angeordnet wobei die Schleifringe mit Kontaktfedern verbunden sind und
in Segmente in Übereinstimmung miit der Zahl der
Blöcke aufgeteilt sind. Während die Kontaktfedern eine leitende Verbindung mit einem Bauelement herstellen,
wird über die Schleifringe und diesen zugeordnete Bürsten ein Meßinstrument angeschlossen, das die
Parameter des Bauelementes ermittelt Als Meßinstrument kann z. B. ein Kurvenschreiber dienen, der die
Kennlinien der verschiedenen Parameter anzeigt Falls die Kennlinien visuell überwacht werden, legt das
Drücken einer bestimmten Taste aufgrund der Kennlinienanzeige fest >n welchen Bereich die Parameter
einzuordnen sind. Durch Tastendruck ksinn ein Magnet
eingeschaltet werden, der einen bestimmten Stift
einstellt der zur Auswahl eines Behalten; dient
Eine weitere bevorzugte Ausführun,(jsform besteht
darin, daß neben der drehbaren Scheibe ein ringförmiger Rand mit Bohrungen, die zu Behätltem führen,
angeordnet ist und daß an jeder Bohrung ein schwenkbares oder feststehendes Leitelement angeordnet
ist Nach Abschluß der Messung werden die Kontaktfedern über die exzentrische: Führungsnut
wieder in ihre innere Lage verschoben. Diie Einschnitte schieben die Bauelemente weiter, bis die durch das
Tastendrücken eingestellten Stifte die ;nigeordneten
Schwenkarme so verstellen, daß die Bauelemente von den Schwenkarmen erfaßt und zu öffnungen geleitet
werden, die zu Behältern führen. In Drehrichtung der
Scheibe gesehen, vor der vom Vibrationsförderer ausgehenden Rinne kann ein Abstreifajrm angebracht
sein, der alle nicht durch das Drücken einer Taste
klassifizierten Bauelemente in einen gemeinsamen Behälter leitet Die eingestellten Stifte lassen sich durch
einen gemeinsamen Anschlag wieder in ihre Ruhelage zurückstellen.
Die gemessenen Werte eines Bauelementes können im Meßgerät auch durch Komparatoren überwacht
werden, wobei die Komparatoren zur Einstellung der Stifte dienen. In diesem Fall arbeitet die Anlage bis auf
das Füllen des Vibrationsbehälters und das Entleeren der Auffangbehälter automatisch.
Weitere Merkmale der Erfindung sind aus den Unteransprüchen in Verbindung mit einem nachfolgend
anhand von Zeichnungen erläuterten Ausführungsbeispiel ersichtlich. Es zeigt
F i g. 2 einen Schnitt der Vorrichtung lilngs den Linien I-IvonFig. 1,
F i g. 3 einen Schnitt der Vorrichtung lungs den Linien
H-H von F ig. 1,
F i g. 4 einen Schnitt der Vorrichtung lungs der Linien
IH-III von Fig. 1.
Mit der in den F i g. 1 bis 4 gezeigten Anordnung werden Transistoren 1 geprüft die in einen Vibrationsförderer
2 eingefüllt werden. Die Tranaportbahn des Vibrationsförderers 2 enthält einen Einschnitt 3. der sie
auf etwa die Breite der Transistoren 1 beschränkt Im Anschluß an den Einschnitt 3, in Transportrichtung des
Vibrationsförderers 2 gesehen, befindet sich eine öffnung 4, neben der ein weiterer Einschnitt 5 in der
Transportbahn vorgesehen ist Hinter der öffnung 4 ist eine schräge Auflauffläche 6 angebracht Die öffnung 4
mündet in eine Gleitbahn 7, die in einer Rinne 8 endet
Da am Einschnitt 3 jeweils nur ein Transistor zur gleichen Zeit vorbeiläuft sind die Transistoren hinter
dem Einschnitt 3 in einer Reihe hintereinander geordnet Falls die Transistoren 1 mit dem Gehäuse
voran an der öffnung ankommen, fallen sie auf die Gleitbahn 7 und rutschen von dort in die Rinne 8. Dabei
werden die Transistoren mit dem Gehäuse nach unten in der Rinne 8 ausgerichtet Werden die Transistoren 1 mit
den Änsch'iußdrähten voran entlang der Transportbahn
des Vlbrationsförderers 2 bewegt dann schieben sich die Anschlußdrähte gegen die Fläche 6, bis das Gehäuse
der Transistoren 1 an der öffnung 4 angekommen ist Der Transistor 1 fällt dann wieder mit dem Gehäuse
nach unten auf die Gleitbahn 7. Durch die Verbindung der öffnung 4 mit der Auflauffläche 6 wird sichergestellt
daß in der Rinne 8 alle Transistoren 1 mit dem Gehäuse nach unten und den Anschlußdrähten nach
oben ausgerichtet sind. Falls die Rinne 8 und die 2s
Gleitbahn 7 mit Transistoren 1 gefüllt sind, fallen alle weiteren an der öffnung 4 ankommenden Transistoren
durch den Einschnitt 5 in das Innere des Vibrationsförderers 2 zurück.
Die Rinne 8 endet an einer Scheibe 9. Die Scheibe 9 ist mit einer Welle 10 verbunden, die in einer Platte 11
drehbar gelagert ist Die Platte 11 ist an einem Ständer
12 befestigt Die Welle 10 wird über eine Rutschkupplung 13 von einem Motor 14 angetrieben.
Die Scheibe 9 enthält am Rand Einschnitte IS. Sobald
einer der Einschnitte 15 während der Drehung der Scheibe 9 am Ende der Rinne 8 vorbeiläuft, wird der
erste der am Ende der Rinne 8 anstehenden Transistoren 1 in den Einschnitt 15 geschoben. Durch
das Weiterdrehen der Scheibe 9 wird der im Einschnitt 15 festgehaltene Transistor 1 gegen einen elastischen
Streifen 16 gepreßt der mit einer Platte 17 verbunden ist Die Platte 17 enthält ferner eine Nut 18. An der
Platte 17 sind Federn 19 befestigt, die zur elastischen Lagerung eines Wandabschnittes 20 der Rinne 8 dienen.
Durch die federnde Lagerung des Wandabschnittes 20 am Ende der Rinne 8 wird der Obergang der
Transistoren 1 zur Scheibe 9 erleichtert
Wenn ein Transistor 1 den Streifen 16 berührt hat rollt er beim Weiterdrehen der Scheibe auf diesem
Streifen. Dabei gelangt die seitlich am Transistor 1 vorstehende Nase 21 an die Nut 18. Die Nut 18 ist
gerade so tief ausgebildet daß die Nase am Nutgrund anschlägt und die Drehung des Transistors 1 um seine
Achse aufhört Damit nimmt der Transistor 1 eine festgelegte Stellung ein, die für die Durchführung der
Messung von Bedeutung ist
Die Scheibe 9 tragt längliche Öffnungen 22, in deren
Mitten Schienen 23 angeordnet sind. Die Schienen 23 dienen zur Führung von Blöcken 24 und greifen in nicht
dargestellte Aussparungen der Blöcke 24 ein. Am unteren Ende tragen die Blöcke 24 Stifte 25 mit Rollen
26. An Stelle der Rollen 26 können auch Wälzlager verwendet werden. Die Rollen 26 greifen in eine
Führungsnut 27 ein, die in einer Platte 28 angeordnet ist,
die mit dem Ständer 12 starr verbunden ist
Die Führungsnut 27 ist exzentrisch ausgebildet Der in der rechten Hälfte der Fig.2 im Schnitt dargestellte
Teil der Führungsnut 27 entspricht dem Bereich mit der größten Exzentrizität Dieser Bereich erstreckt sich
etwa über den vierten Teil der Scheibe 9. Die Exzentrizität erreicht ihr Maximum erst hinter der
Platte 17.
Die Blöcke 24 weisen nicht näher bezeichnete parallele Einschnitte auf, in die Kontaktfedern 29
eingesetzt sind. Eine der breitflächigen Seiten der Kontaktfedern 29 ist in nicht näher dargestellter Weise
mit einer elektrisch isolierenden Schicht oder Platte
versehen. Da die Transistoren 1 drei Anschlußdrähte 30, 31, 32 besitzen, sind vier, durch Abstände von
mindestens dem Durchmesser der Anschlußdrähte 30, 31,32 voneinander getrennte Kontaktfedern 29 an den
Blöcken 24 befestigt
Die Kontsktfedern 29 sind durch nicht dargestellte Leitungen mit Schleifringen 33, 34, 35 verbunden. Die
Schleifringe 33,34,35 befinden sich auf einer Scheibe 36,
die mit der Welle 10 formschlüssig verbunden ist Die Schleifringe 33, 34, 35 sind mittels nicht dargestellter
Aussparungen in Segmente unterteilt, wobei die Anzahl der Segmente mit der Anzahl der Blöcke 24
übereinstimmt Von den vier Kontaktfedern 29 je Block 24 genügt es drei auszuwählen, wobei jede Kontaktfeder
nur mit einem der Anschlußdrähte 30, 31, 32 elektrisch leitend verbunden werden kann, und diese
drei Kontaktfedern an die Schleifringe 33, 34, 35 anzuschließen.
Bürsten 37,38,39 berühren die Schleifringe 33,34,35.
Die Bürsten 37,38,39 stehen über Leitungen mit einem
Stecker 40 in Verbindung. Vom Stecker 40 führt ein Kabel 41 zu einem Meßgerät 42. Das Meßgerät 42 kann
z. B. ein Kurvenschreiber sein. Weiterhin ist mit der
Welle 10 eine zylindrische Scheibe 43 formschlüssig verbunden. Im Rand der Scheibe 43 sind Bohrungen 44
angebracht In den Bohrungen 44 sind Stifte 45 verschiebbar gelagert Auf der Innenseite des Ständers
12 befindet sich ein Elektromagnet 46 mit einer Nut 47, in die im radial nach außen verschobenen Zustand die
Stifte 45 hineinragen. Der Elektromagnet 46 ist an einen Stecker 38 angeschlossen, der über ein Kabel 49 mit
einem Schalter 50 verbunden ist Die Bohrungen 44 und Stifte 45 sind an der Scheibe 43 unterhalb jedes Blocks
24 angebracht dem jeweils ein Einschnitt 15 auf der Scheibe 9 zugeordnet ist
Die Scheibe 9 ist von einem feststehenden Ring 51 umgeben, der an der Platte 28 befestigt ist Der Ring 51
enthält einen Absatz 52, in den das äußere Ende der Scheibe 9 hineinragt Die Breite des Absatzes 52
entspricht in etwa der Tiefe der Einschnitte 15.
In einer nicht dargestellten Bohrung des Ringes 51, der Platte 28 und des Ständers 12 ist eine WeDe 53
drehbar gelagert, mit der ein Leitelement 54 stan verbunden ist Die Welle 53 ist über einen nicht
dargestellten Umlenkmechanismus an einem Stift SS befestigt der in die Bahn der nach außen geschobener
Stifte 45 hineinragt Vor dem Leitelement 54 befinde!
sich eine Bohrung 56. Die Bohrung 56 setzt sich in einei
Rinne 57 fort, die in einem Behälter 58 endet Hintei
dem Leitelement 54, in Drehrichtung der Scheibe ί
gesehen, ist ein mit dem Ring fest verbundene Leitelement 59 vorgesehen, vor dem dnc Bohrung 61
angeordnet ist An die Bohrung 59 schfieflt sich ein«
Rinne 61 an, die in einen Behälter 62 mündet.
Nachdem die Transistoren 1 durch den elastisch« Streifen 16 und die Nut U in eine Lage gescbobei
worden sind, in der die Zwischenräume der dre AnschmBdrihte den Kontaktfedern 29 zugewandt sind
schieben sich die Kontaktfedern 29, bedingt durch die Exzentrizität der Nut 27, zwischen die Anschlußdrähte
30, 31, 32 und stellen eine elektrisch leitende Verbindung mit diesen her. Während der Drehung der
Scheibe 9 gleiten die Transistoren, durch die Einschnitte 15 festgehalten, auf den Boden des Einschnittes 52.
Die Messung der Parameter eines gerade von den Federn 29 erfaßten Transistors 1 geschieht ohne
Unterbrechung der Drehbewegung der Scheibe 9, indem die erforderlichen Spannungen über die Schleifringe
33,34,35 zugeführt und die Meßwerte an diesen abgegriffen werden. Die Parameter werden durch das
Meßinstrument angezeigt Liegen die Meßwerte innerhalb eines gewünschten Toleranzbereiches, dann wird
nach der Anzeige der Schalter 50 betätigt. Dieser schaltet den Magneten 46 ein, der einen Stift 45 radial
nach außen verschiebt Durch die Drehung der Scheibe 9 wird der gemessene Transistor 1 entlang des Ringes 52
verschoben, bis der Stift 45 den Stift 55 berührt. In dieser Stellung hat die exzentrische Führungsnut die Blöcke 24
nebst Kontaktfedern 29 wieder gegen die Mitte der Scheibe 9 verschoben, so daß die Transistoren nicht
mehr von den Federn 29 berührt werden. Durch die Berührung führt das Leitelement 54 eine Drehbewegung
gegen die Mitte der Scheibe 9 hin aus. Ein von einem Einschnitt 15 fortbewegter Transistor 1 wird
gegen das Leitelement 54 geschoben, das ihn der Öffnung 56 zuführt Der Transistor 1 fällt dadurch in die
Rinne 57 und von dort in den Behälter 5%. In dem Behälter 58 sammeln sich alle Transistoren an, deren
Parameter innerhalb einer vorgegebenen Grenze liegen.
Falls das Meßinstrument 42 anzeigt, daß die Meßwerte eines Transistors 1 außerhalb einer vorgegebenen
Grenze liegen, wird der Schalter 50 nicht betätigt.
Dadurch bleiben die Stifte 45 in den Bohrungen 44. Das Leitelement 54 wird somit nicht betätigt. Da das
Leitelement 54 außerhalb der Bewegungsbahn der Einschnitte 15 nebst Transistoren 1 liegt, laufen die
Transistoren auf das feststehende Leitelement 59 zu, das sie der öffnung 60 zuführt. Dadurch gelangen die
Transistoren in den Behälter 62, in dem sich alle Transistoren ansammeln, deren Parameter außerhalb
der vorgegebenen Toleranzgrenze liegen.
to Die Zurückstellung der nach außen verschobenen
erfolgen, der z. B. unterhalb des Leitelementes 59 angeordnet ist.
so vornehmen, das im Behälter 58 die Transistoren mit
außerhalb einer vorgegebenen Toleranzgrenze liegenden Parametern aufgefangen werden. Es ist auch
möglich, die Meßwerte der Transistoren selbsttätig z. B. mittels Komparatoren zu überwachen, die das Einschalten
des Magneten 46 steuern. Dann erfolgt die
und 62 automatisch.
1 nach mehr als zwei Gruppen mit entsprechenden
oder 62 erforderlich.
einem Durchlauf der Transistoren 1 erfolgen, dann läßt sich die erfindungsgemäße Vorrichtung durch entsprechende
Ausgestaltung der Scheibe 43 mit übereinanderliegenden Stiften sowie gegeneinander in der Hohe
versetzten Magneten und Betätigungsstiften für Leitelemente anpassen.
Claims (12)
1. Vorrichtung zur Messung der Parameter
elektrischer Bauelemente und zur Klassifizierung der Bauelemente in Obereinstimmung mit festgelegten
Bereichen der Parameter, wobei die Bauelemente längs eines Kreisbogens bewegt und in bezug auf
Anpreßkontakte ausgerichtet werden, die an Anschlußleitungen der Bauelemente anpreßbar und mit
einem Meßgerät verbunden sind, nach dessen Meßwert Leitelemente zur Lenkung der Bauelemente
in auswählbare Behälter einstellbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß als Bauelemente
Transistoren (1), die zylindrische Gehäuse mit auf einer Gehäuseseite nach außen ragenden Anschlußdrähten
aufweisen, mittels eines Vibrationsförderers (2} in einer Rinne (8) mit nach oben ragenden
Anschlußdrähten einer sich drehenden Scheibe (9) zuführbar sind, die Einschnitte (15) aufweist, in die
die Transistoren (1) mit ihren zylindrischen Gehäusen einfügbar sind, während die Anschlußdrähte
über die Scheibe (9) hinausragen, und daß nach Aufnahme der Transistoren (1) in die Einschnitte (15)
durch Abrollen der Gehäuse der Transistoren (1) an einer feststehenden Platte (17) die Anschlußdrähte
gegenüber von in radialer Richtung der Scheibe (9) über Blöcke (24) verschiebbaren Kontaktfedern (29)
ausrichtbar sind, die für die Dauer der Messung an die Anschlußdrähte der Transistoren (1) anpreßbar
sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Transportbahn des Vibrationsförderers
(2) durch einen Einschnitt (3) auf etwa die Breite der Transistoren (1) beschränkt ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß in der Transportbahn des
Vibrationsförderers (2) eine Öffnung (4) mit schräger Auflauffläche (6) an einer Seite der öffnung (4)
angeordnet ist und daß unterhalb der öffnung (4) eine Gleitbahn (7) mit der Rinne (8) verbunden ist
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß an dem der Scheibe (9) zugewandten
Ende der Rinne (8) die, in Drehrichtung der Scheibe (9) gesehen, zweite Seitenwand (20) federnd gelagert
ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß neben der
zylindrischen Wand der Scheibe (9), in Drehrichtung der Scheibe (9) gesehen, hinter der Rinne (8) die
feststehende Platte (17) angeordnet ist, in deren der Scheibe (9) zugekehrter Wand ein elastischer
Streifen (16) eingesetzt und eine Führungsnut (18) enthalten sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Blöcke
(24) verschiebbar und durch eine Führungsschiene (23) an der Scheibe (9) befestigt sind und daß Rollen
(26) der Blöcke (24) in eine exzentrisch ausgebildete Führungsnut (27) eingreifen, die in einer fest mit
einem Ständer (12) verbundenen Scheibe (28) angeordnet ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktsätze
je Block (24) aus parallel zueinander angeordneten, durch Abstände voneinander getrennten,
auf jeweils einer Seite elektrisch isolierten Federn (291 bestehen.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß eine Anzahl
Schleifringe (33,34,35) auf einer mit der drehbaren
Scheibe (9) formschlüssig verbundenen Platte (36) angeordnet sind und daß die Schleifringe (33,34,35)
mit Kontaktfedern (29) verbunden sind und in Segmente in Obereinstimmung mit der Zahl der
Blöcke (24) aufgeteilt sind
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß längs der Schleifringe (33, 34, 35)
Bürsten (37, 38, 39) angeordnet sind, die mit dem Meßgerät (42) verbunden sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der
folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß neben der drehbaren Scheibe (9) ein ringförmiger Rand (51) mit
Bohrungen (56,60), die zu Behältern (58,62) führen,
angeordnet ist und daß an jeder Bohrung ein schwenkbares oder feststehendes Leitelement (54,
59) angeordnet ist
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch
gekennzeichnet, daß das schwenkbare Leitelement (54) über eine Umlenkanordnung an einem Stift (55)
befestigt ist, der von über Schalter (50) einstellbare und selbsttätig rückstellbare Stifte (45) betätigbar ist
12. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder einem der
folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die drehbare Scheibe (9) über eine Rutschkupplung (13) mit
einem Antriebsmotor (14) verbunden ist
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712126389 DE2126389C3 (de) | 1971-05-27 | Meß-, Prüf- und Sortiervorrichtung für elektrische Bauelemente |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712126389 DE2126389C3 (de) | 1971-05-27 | Meß-, Prüf- und Sortiervorrichtung für elektrische Bauelemente |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2126389A1 DE2126389A1 (de) | 1972-12-07 |
DE2126389B2 DE2126389B2 (de) | 1977-06-16 |
DE2126389C3 true DE2126389C3 (de) | 1978-02-02 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102018120576B3 (de) | Eingabevorrichtung mit beweglicher Handhabe auf kapazitiver Detektionsfläche und redundanter kapazitiver Potenzialeinkopplung | |
DE10045260C1 (de) | Potentiometer zur Wegerfassung | |
EP2161643A2 (de) | Bedieneinrichtung | |
DE2001534B2 (de) | Reinigungseinrichtung fuer die kontaktflaechen von messkontakten in einem elektrischen pruefgeraet | |
DE2359157C3 (de) | Schalter mit Einknopfbedienung, insbesondere für die Einstellung der Betriebsarten eines Diktiergerätes | |
DE2126389C3 (de) | Meß-, Prüf- und Sortiervorrichtung für elektrische Bauelemente | |
EP0269889A1 (de) | Einrichtung zum Testen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere von dual-in-line-IC's | |
DE3401247C2 (de) | ||
DE19542880C1 (de) | Fester Polungskontakt für Stufenschalter | |
DE2126389B2 (de) | Mess-, pruef- und sortiervorrichtung fuer elektrische bauelemente | |
DE3636808C2 (de) | ||
DE1006930B (de) | Elektrischer Drehschalter mit Schleifkontaktknoepfen, insbesondere fuer wissenschaftliche Geraete | |
DE102015103386A1 (de) | Touch-Control-Regelwiderstand | |
DE8504297U1 (de) | Drehschaltereinheit für ein elektrisches Handgerät | |
DE3136471C2 (de) | Drehschalter | |
DE3432405A1 (de) | Mikrometer | |
DE1741696U (de) | Drehschalter mit mehreren kontaktsaetzen. | |
DE856022C (de) | Einrichtung zur Einstellung eines Groessenbereiches eines elektrischen Wertes | |
DE1135957B (de) | Impuls-Speichervorrichtung | |
DE1953039B2 (de) | Durch einen schleifer einstellbarer niederohmiger duennschichtwiderstand | |
DE533222C (de) | Vorrichtung zum gleichzeitigen Aufzeichnen der mittleren Windrichtung und Wind-geschwindigkeit unter Verwendung eines festen und zweier beweglicher Kontakte | |
DE1490196C (de) | Einstellbarer Widerstand | |
DE881817C (de) | Stufenschalter mit grosser Kontaktzahl, insbesondere fuer Geraete der Fernmeldetechnik | |
DE3417905A1 (de) | Impulsgeber mit einer elektromechanischen kontaktvorrichtung | |
DE1590253A1 (de) | Einstellbares Widerstandsglied |