DE2001534B2 - Reinigungseinrichtung fuer die kontaktflaechen von messkontakten in einem elektrischen pruefgeraet - Google Patents

Description

Diese Erfindung betrifft eine Reinigungseinrichtung für die Kontaktflächen von Meßkontakten in einem elektrischen Prüfgerät, das gemäß dem Oberbegriff des ersten Patentanspruches zum Test von taktweise nacheinander zugeführten elektrischen Prüflingen, insbesondere kleinen Schaltungsplättchen, Moduls und dergleichen dient und dementsprechend ausgelegt ist.

Der Zweck dieser Erfindung besteht darin, bekannte Testeinrichtungen oder Prüfgeräte für elektrische Bauteile, beispielsweise Schaltungsplättchen, Moduls und dergleichen, so zu verbessern, daß sich die Zuverlässigkeit und die Qualität der Test- bzw. Meßergebnisse der getesteten Prüflinge erhöht, indem wenigstens die Meßkontakte im Prüfgerät vor dem Anlegen an die Anschlußstellen der Prüflinge zwangsläufig gereinigt werden. Dadurch wird beim Testvorgang jedes Prüflings an den einzelnen Kontaktstellen jeweils ein definierter Übergangswiderstand und eine solide Ausgangsbasis geschaffen, und es werden somit die die bisherigen Testergebnisse verfälschenden Einflüsse infolge Kontaktverschmutzung, die undefinierbare Kontaktübergangswiderstände verursachen, weitestgehend vermieden. Durch die Einbeziehung der zwangsläufigen Kontaktreinigung in den Testablauf, werden auch Unsicherheiten eliminiert, die sich bei einer manuellen Kontaktreinigung ergeben, und außerdem wird eine Leistungssteigerung erreicht.

Bei empfindlichen Stromkreisen, welche mit geringen Spannungen und relativ schwachen Strömen betrieben werden ist bekannt, daß die elektromechanischen Kontaktstellen, welche zum Anschluß oder zur Verbindung mit anderen Stromkreisen dienen, Schwachstellen sind, die häufig Betriebsstörungen verursachen. Auf den Kontaktflächen dieser Kontaktstellen bilden sich durch die Ablagerung und stetige Ansammlung von Staubpar-

tikeln dünne Schmutzschichten und/oder durch die Einwirkung von atmosphärischen Einflüssen bilden sich auf diesen Kontaktflächen auch chemische Fremdschichten. Diese Schmutz- und Fremdschichten stellen Undefinierte schwankende Übergangswiderstände dar, welche zu Betriebsstörungen führen können und die die Meß- bzw. Testergebnisse verfälschen. Zur Verhinderung dieser Kontaktunsicherheiten, welche sich durch die nachteiligen Einflüsse der Kontaktverschmutzung _Und durch die Fremdschichten ergeben, sind dem iu Fachmann verschiedene Mittel bekannt, die einzeln oder kombiniert angewendet werden. So werden beispielsweise, falls dies konstruktiv möglich ist, auf jede Kontaktstelle hohe spezifische Konlaktdrücke ausgeübt, um die störende Schmutz- oder Fremdschicht zu !5 durchdringen. Bei einer anderen Kontaktart, bei der sich die Kontaktflächen in einer relativen Verschiebebewegung zur Bildung der Kontaktstelle einander nähern, wird durch eine Schabe- oder Reibungseinwirkung die störende Schmutz- oder Fremdschicht von den Kontaktflächen entfernt. Eine andere Einrichtung zur Säuberung der empfindlichen Kontaktstellen in einem zylindrischen mehrpoligen Drehschalter, der beispielsweise in einem Funk- oder Fernsehgerät als Kanalwähler verwendbar ist, wurde durch die US-PS 27 41 683 bekannt. Dieser Drehschalter, der mehrere Raststellen und diesen zugeordnet über den Umfang verteilt im Drehteil und im Stator in axialer Richtung angeordnet einige Reihen von Kontakten aufweist, enthäh eine Kontaktreinigungseinrichtung, die bei einer Bewegung des Drehteils von einer Raststellung in eine andere, die zwischen dieser Bewegungsstrecke liegenden Kontaktflächen der Kontaktreihen im Statorteil reinigt. Diese Kontaktreinigungseinrichtung ist anstelle einer axialen Kontaktreihe in das Drehteil eingesetzt, und sie besteht « aus einem streirenförmigen Wischerteil, dessen Oberfläche bei einer Schalterdrehung über die Kontaktflächen der Statorkontakte wischt und diese dabei säubert. Das Wischerteil kann beispielweise aus einer Bürste, aus Filz oder einem anderen Material bestehen. Nachteilig ist bei dieser bekannten Reinigungseinrichtung, daß der eventuell von den Kontaktflächen entfernte Schmutz auf der Oberfläche des Wischers haften bleibt, daß keine Nachstellvorrichtung vorhanden ist und daß, wenn nur ein Wischerteil vorhanden ist, der Schalter wenigstens eine ganze Drehung ausführen muß, damit sichergestellt ist, daß die Statorkontakte der neuen Schalterstellung gesäubert sind.

Bei der Fabrikation von elektronischen Bauelementen bzw. Baugruppen, insbesondere von selchen, die in Schaltungsplättchen oder Moduls integrierte Halbleiter-Anordnungen enthalten, z. B. Transistoren und/oder Dioden, ist es zweckmäßig, daß diese Schaltungsplättchen, Moduls und dergleichen, welche folgend als Prüflinge bezeichnet werden, während der Fertigung zwischen zwei Fertigungsstufen oder am Ende des Herstellungsprozesses auf ihre Eigenschaften geprüft werden. Dabei können die Prüflinge nacheinander taktweise eine oder mehrere aufeinanderfolgende Teststationen im Prüfgerät durchlaufen, in denen jeweils eine andere Messung oder ein anderer Test durchgeführt wird, um die Charakteristik der Prüflinge zu ermitteln.

In den Prüfgeräten werden die mit elektrischen Anschlußstellen versehenen Prüflinge mit den der jeweiligen Teststation zugeordneten federnden Meßkontakten verbunden, über die dann die meistens sehr niedrigen Eingangsspannungen bzw. Ströme den Prüflingen zugeführt bzw. deren Ausg;ings:>pannungen- oder Ausgangsströme abgenommen werden. Obwohl die Anschlußsteilen der Prüflinge im allgemeinen sauber sind, befinden sich darauf noch kleine Schmutzpanikeln, die bei einer Einzelmessung nicht von Bedeutung sind, die jedoch in der Testvorrichtung auf die Oberflächen der Meßkontakte übertragen werden und an diesen haftenbleiben. Diese kleinen Schmutzpartikeln von den Anschlußstellen der einzelnen Prüflinge sammeln sich auf den Meßkontakten an und bilden einen unerwünschten Belag auf der Kontaktoberfläche. Dadurch erhöht sich der Kontaktübergangswiderstand zwischen den Meßkontakten und dem Prüfling. Ein weiterer Nachteil ist der, daß der Kontaktübergangswiderstand auch in ',einer Größe stark schwankt. Diese Ansammlung der Schmutzpanikeln verursacht somit eine Beeinträchtigung oder Verfälschung der Testergebnisse für die Prüflinge.

Zur Vermeidung dieses unerwünschten Einflusses wurden bisher in der Testvorrichtung die Meßkontakte von Hand, entweder mechanisch oder chemisch gereinigt. Diese manuelle Reinigung der Meßkontakte hat jedoch den Nachteil, daß der gesamte Testablauf zeitlich langer dauert, da der Testvorgang zur Reinigung der Meßkoniakte unterbrochen wird. Durch die manuelle Kontaktreinigung erhöhen sich somit die Herstellungskosten für die Prüflinge. Es ist ein weiterer Nachteil, daß die Sauberkeit der Meßkontakte von der Sorgfalt der Bedienungsperson und deren Erfahrung abhängt, z. B., wann eine Reinigung der Meßkontakte zu erfolgen hat. Aufgrund dieser Nachteile ist die manuelle Reinigung der Meßkontakte — insbesondere bei Massenfertigung — nicht zufriedenstellend, weil außer den Zeitverlusten noch eine gewisse Unsicherheit über die Zuverlässigkeit der Prüfergebnisse besteht.

Es ist deshalb die Aufgabe der Erfindung, gemäß dem Oberbegriff des ersten Patentanspruches eine Reinigungsvorrichtung für die Kontaktflächen von Meßkontakten in einem elektrischen Prüfgerät zum Test vor taktweise nacheinander zugeführten Prüflingen zi schaffen. Dieses verbesserte Prüfgerät soll die bei dei Zweckangabe der Beschreibungseinleitung genannter Forderungen erfüllen und sicherstellen, daß die Prüfergebnisse zuverlässiger sind, daß die Prüfeinrich tung rationeller arbeitet, indem zur Reinigung dei Meßkontakte keine geschulte Bedienungsperson mehl erforderlich ist, und daß die Reinigung der Meßkontakt« in den Teststationen zwangsläufig automatisch unc ohne Unterbrechung des Betriebsablaufs erfolgt.

Diese Aufgabe wird gemäß dem Kennzeichnungstei des ersten Patentanspruches gelöst.

Bei der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtunj für das Prüfgerät zum Test von Prüflingen, das eine ode mehrere Teststationen mit zugeordneten Meßkontak ten aufweisen kann, werden die Oberflächen de Meßkontakte durch ein Reinigungselement gereinigl das z. B. ein Abziehstein, eine Filzscheibe, eim Preßluftdüse oder ähnliches sein kann. In eine Relativbewegung zwischen den Meßkontakten de Teststation und dem Reinigungselement bewegt siel das Reinigungselement zwangsläufig an den Meßkon takten vorbei und reinigt diese, bevor der Prüfling ii seine Teststellung gelangt und die Meßkontakte mi dessen Anschlußstellen verbunden werden. Den Erfor dernissen oder Verhältnissen entsprechend kann di Testvorrichtung in Form eines Karussells ausgeführ sein oder auch so, daß die Prüflinge sich auf eine geradlinigen Bahn bewegen. In dem Prüfgerät könne

die Meßkontakte der einzelnen Teststationen stationär angeordnet sein (was meistens der Fall sein wird, um Schleifkontakte zu vermeiden). In diesem Fall werden die Prüflinge, getragen durch eine Halterung, in die Teststation bewegt, und auch erfindungsgemäß vorab das Reinigungselement, so daß eine zwangsläufige Reinigung der Meßkontakte ohne eine Betriebsunterbrechung erfolgt.

Das Reinigungselement kann auch stationär in der Teststatiön zusammen mit den stationären Meßkontakten angeordnet sein, jedoch muß dann durch eine zusätzliche und auf das Reinigungselement einwirkende Steuereinrichtung bewirkt werden, daß die Meßkontakte vor der Ankuft des Prüflings durch das Reinigungselement gesäubert werden. Das Prüfgerät kann auch so ausgeführt sein, daß in der Teststation das Reinigungselement stationär angeordnet ist und sich der jeweilige Prüfling vor dem Test schon in einer stationären Lage befindet und daß sich die Kontaktfedern zuerst am Reinigungselement vorbei zum Prüfling bewegen.

Die zweckmäßigste Ausführung der Reinigungseinrichtung im Prüfgerät ist jedoch die, wie bereits erwähnt wurde, bei der die Meßkontakte stationär in jeder Teststation angeordnet sind und bei der das Reinigungselement vor dem Prüfling in die Teststation gelangt.

Ein vorteilhaftes Merkmal der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung des Prüfgerätes ist, daß zur Entfernung des von den Meßkontakten abgetragenen Schmutzes aus der Teststation, die Reinigungseinrichtung noch eine zusätzliche Säuberungs-Einrichtung enthält. Diese Säuberungs-Einrichtung, die z. B. aus einer Düse besteht, die zwischen dem Reinigungselement und der Halterung für den Prüfling auf dem Drehgestell der Testvorrichtung angeordnet sein kann, gibt bei der Vorbeibewegung an den Meßkontakten auf diese und ihre Träger einen kurzen gesteuerten Luftstrom ab.

Zweckmäßige Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung in einem Prüfgerät sind durch die Unteransprüche gekennzeichnet.

Durch die erfindungsgemäße Reinigungseinrichtung im Prüfgerät werden die Nachteile, die sich bei einer manuellen Kontaktreinigung ergaben, beseitigt, weil alle Meßkontakte der Testslationen zwangsläufig und automatisch von den am Drehgestell befestigten Reinigungselementen, das auch die Prüflinge trägt und transportiert, gereinigt werden, ohne daß eine Unterbrechung des Betriebsablaufes erfolgt. Die Reinigung der Meßkontakte erfolgt zwangsläufig in dem Zeitabschnitt, in dem die Prüflinge von einer Teststation zu einer anderen 'ransportiert werden. Da somit eine Reinigung der Meßkontakte bei jedem Testzyklus erfolgt, kann sich auf den Kontaktoberflächen keine die Messung beeinträchtigende Schmutz- oder Fremdschicht bilden. Durch die erfindungsgemäße Reinigungseinrichtung im Prüfgerät verkürzt sich die Testzeit und der Durchlauf der Prüflinge durch das Prüfgerät, weil der zur manuellen Reinigung der Kontakte erforderliche Stillstand der Testvorrichtung nicht mehr erforderlich ist. Außerdem wird die zur manuellen Reinigung der Meßkontakte erforderliche Bedienungsperson nicht mehr benötigt. F.s erhöht sich somit auch die Zuverlässigkeit der Tcstcrgebnissc, weil die durch menschliche Einflüsse verursachten Unsicherheiten entfallen, außerdem verringern sich die Betriebskosten.

Es ist ein weiterer Vorzug der erfindungsgcmnßen Reinigungseinrichtung, daß sie sich selbst steuert, wodurch die Meßkontnkle in den Teststationen geschont werden. Die Reinigungseinrichtung enthält vorzugsweise Reinigungselemente, die nur eine geringe Abriebwirkung auf die Meßkontakte haben und die mit nur geringem Druck über deren Oberflächen schleifen.

Damit die Meßkontakte und speziell ihre Kanten nicht beschädigt werden, sind die Reinigungselemente mit einer leicht konvex gekrümmten Schleiffläche versehen, so daß, wenn sich das Reinigungselement über die Kontaktflächen bewegt, die Meßkontakte nur allmählieh einem Druck ausgesetzt werden und daß mit fortschreitender Bewegung jeweils eine andere Stelle des Reinigungselementes wirksam wird.

Weitere Einzelheiten und Merkmale der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung im Prüfgerät sind folgend in einem Ausführungsbeispiel anhand von Zeichnungen ausführlicher beschrieben.
Von den Zeichnungen stellen dar:
F i g. 1 eine Draufsicht auf ein schematisch dargestelltes Prüfgerät in Form eines Karussells mit einem Drehgestell zum Transport der Prüflinge zu den verschiedenen Test- und Arbeitsstationen;

F i g. 2 eine Ansicht einer Teststation im Prüfgerät mit der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung, bei der sich ein am Drehgesteil befestigtes Reinigungselement über die Oberfläche der Meßkontakte bewegt;

Fig.3 in einer stark vergrößerten Abbildung ein Reinigungselement, das sich in Richtung zu einem in der Seitenansicht abgebildeten Meßkontakt bewegt;

F i g. 4 in einer stark vergrößerten perspektivischen Darstellung eine Teststation mit einem Prüfling, dessen Anschlußstellen mit den Meßkontakten verbunden sind.

Das in der F i g. 1 dargestellte Drehgestell tO des

karussellförmigen Prüfgerätes wird durch gesteuerte Antriebsmittel bewegt, wie sie z. B. in der amerikanisehen Patentschrift 33 67 467, Titel: »Orienting and Contacting Device« beschrieben sind. Das Drehgestell 10 ist an seinem Umfang mit einer Anzahl die Prüflinge 12 tragenden ersten Halterungen 11 versehen (Fig.2 und 4), welche als Hohlnadeln gestaltet und am Drehgestell 10 befestigt sind. Diese Hohlnadeln stehen mit einem Vakuum in Verbindung, durch das die Prüflinge t2 am Ende der ersten Halterungen 11 angesaugt, festgehalten und getragen werden.

Jede Vakuum-Hohlnadel einer ersten Halterung 11 ist so ausgelegt, daß sie einen Prüfling 12, z. B. einen Halbleiterbaustein, von einer Test- bzw. Arbeitsstation zu den anderen Stationen transportieren kann. Die Vakuum-Hohlnadeln sind rechtwinklig an der Peripherie des Drehgestells 10 so montiert, daß sie relativ in vertikaler Richtung zur horizontal liegenden Fläche des Drehgestells 10 bewegbar sind, d. h. angehoben oder gesenkt werden können.

Die Fig. 1 zeigt, daß das Prüfgerät eine Arbeitsstation 14 enthält, in der durch einen vibrierender Vakuum-Rüttler die Prüflinge 12 zugeführt und durcl die als Vakuum-Hohlnadel gestalteten ersten Halterun gen 11 erfaßt werden. In einer anschließender Ausrichtestation 15 wird jeder von einer erster Halterung 11 getragene Prüfling 12 genau auf si.im

fco Lage ausgerichtet, damit in den Teststationen 17 dii Anschlußstellen der Prüflinge 12 mit den Mcßkontaktci 18 richtig Übereinstimmen. Das Prüfgerat enthält al letzte Arbcitsstntinn eine Sortierstation 16, in der di Prüflinge 12 nach dem Durchlauf durch die verschied

b^r> ncn Teststationen 17 entsprechend den ermittelte Testergebnissen sortiert werden.

jede der Teststationen 17 enthält einen oder mchrer Meßkontakte 18, deren Kontaktflächen 19 eine lösbar

Kontaktverbindung mit den Anschlußstellen der Prüflinge 12 herstellen, wenn diese von der ersten Halterung 11 getragen durch das Drehgestell 10 in die Teststation

17 bewegt werden. Wie die Fig.4 zeigt, haftet der Prüfling 12 mit seiner Oberseite am unteren Ende der als erste Halterung 11 dienenden Hohlnadel, dabei wird er durch ein Vakuum angesaugt. In der Teststation 17 liegen an der Unterseite des Prüflings 12 die Kontaktflächen 19 der Kontaktfedern 18 an. Jede der Kontaktfedern 18 ist an der Spitze nach oben gekröpft, so daß diese abgewinkelten Spitzen der Kontaktfedern

18 in einer Ebene liegen. Jede Oberseite dieser abgewinkelten Kontaktfederspitzen kann als Meßkontaktfläche 19 dienen, welche eine lösbare Verbindung zwischen einer oder mehreren Anschlußstellen des Prüflings 12 und der elektrischen Testeinrichtung bildet (F ig. 3).

Das Drehgestell 10 trägt an einer zweiten Halterung wenigstens ein über die Meßkontaktflächen 19 schleifendes Reinigungselement 20, das z. B. ein Abziehstein sein kann. Das Reinigungselement 20 ist auf dem Drehgestell 10 in einem Abstand zum Prüfling 12 so angeordnet, daß es bei einer Bewegung des Drehgestells 10 in Richtung Teststation 17 vor dem Prüfling 12 die Meßkontaktflächen 19 überstreicht und bei einer geringen Druckeinwirkung eine Schleifbewegung auf dessen in einer Ebene liegenden Kontaktflächen 19 ausübt.

Das Reinigungselement 20 ist am Ende eines Armes eines drehbaren Winkelhebels 21 einstellbar befestigt. Dieser Winkelhebel 21 ist in einem zwei Schenkel 22 und 23 aufweisenden Gabelstück und einem das Gabelstück und den Winkelhebel 21 durchdringenden Lagerstift 24 drehbar gelagert. Das Gabelstück ist fest mit dem Drehgestell 10 verbunden. Das Reinigungselement 20 ist mit einem U-förmigen ein Langloch aufweisendes Anschlußstück 25 versehen, das in eine U-förmige Aussparung 26 am Arm des Winkelhebels 21 eingesetzt ist; dadurch ist das Reinigungselement 20 in seiner Höhe einstellbar und gegen Verkantung und Verdrehung fest gesichert. Eine Einstellvorrichtung 27, die gleichzeitig auch als Sicherung gegen ein Verkanten bzw. ein Verdrehen des Rcinigungselemcntes 20 dient, enthält weiter einen in die Aussparung 26 am Arm des Winkelhebels 21 eingesetzten Gewindebolzen, der durch das Langloch im Anschlußstück 25 ragt. Mittels eines auf den Gewindebolzen aufgeschobenen Sicherungsringes und einer Mutter wird die eingestellte Lage des Reinigungselemcntes 20 fixiert. Durch diese Einstellvorrichtung 27 wird es ermöglicht, daß das Rcinigungselcmcnt 20 relativ zum Winkelhcbel 21 so eingestellt werden kann, daß die Schleiffläche des Reinigungsclementes 20 den gewünschten Bcrührungskontakt mit den Kontaktflächen 19 der Kontaktfedern 18 während der relativen Vorbeibewegung herstellt. Weil das Rcinigungselcmcnt 20 über die Einstellvorrichtung 27 und den Winkelhcbel 21 am Drehgestell 10 angeordnet ist und dessen Drehbewegung mitmacht, sind deshalb die Meßkontaktflächen 19 der Kontaktfedern 18, die auf einem einstellbaren Träger in der Teststation 17 befestigt sind, stationär angeordnet.

Die untere Hache des Rcinigungsclcmcntcs 20, welche über die Kontaktflächen 19 schleift, weist in der Bewegungsrichtung eine schwache konvexe Krümmung auf. Diese schwach gekrümmte Unterseite ist ein Teil eines Zylinders mil einem relativ großen Radius, so daß diese Flüche beinahe gerade ist. Durch diese Gestaltung der Schleiffläche des Rcinigungselemcntes 20 wird erreicht, daß beim Beginn der Schleifbewegung, wenn das Reinigungselement 20 die Meßkontaktflächen 19 berührt, sich nur ein kleiner Druckwinkel bildet, wodurch die Meßkontakte geschont werden. Die Meßkontakte bleiben somit scharfkantig und die Kontaktflächen 19 bleiben eben, so daß sich eine gute Kontaktverbindung mit den Anschlußstellen der Prüflinge 12 ergibt.

Da in dem Prüfgerät bzw. der Testvorrichtung

ίο mehrere Arbeitsstationen vorhanden sind (z. B. die Zufuhrstation 14, die Ausrichtestation 15 und die Sortierstation 16), in denen keine Messungen vorgenommen werden und der Durchlauf des Reinigungselementes 20 in der üblichen Schleifstellung nur die sichere Funktion dieser Arbeitsstationen behindern würde, ist es zweckmäßig, daß das Reinigungselement 20 in den Arbeitsstationen 14, 15, 16 aus seiner Arbeitsstellung angehoben wird. Hierzu sind an dem Sockel des Prüfgerätes, an dem auch die Träger für die stationären Kontaktfedern 18 befestigt sind, auf dessen Oberseite eine Nockenschiene 28 bzw. ein Kurvenring angeordnet (F i g. 2). Diese Nockenschiene 28 hat eine unterschiedliche Höhe. In den Teststationen 17 ist die Höhe niedrig und in den Arbeitsstationen 14,15,16 höher. Eine Rolle 29, die als Nockenrad dient und die auf der Nockenschiene 28 läuft, ist am längeren Arm des Winkelhebels 21 drehbar befestigt, gegenüber der Einstellvorrichtung 27 für das Reinigungselement 20.

Eine Zugfeder 30, die am kürzeren Arm des Winkelhebels 21 und an einem Hebel 31 des Drehgestells 10 befestigt ist, bewirkt, daß die Rolle 29 immer auf die Nockenschiene 28 gedrückt wird. Dadurch wird erreicht, daß wenn immer die Nockenschiene 28 eine Erhöhung aufweist (wie es z. B. in den Arbeitsstationen 14, 15, 16 der Fall ist), daß das Reinigungselement 20 aus seiner normalen Arbeitsstellung angehoben wird.

Nachdem in einer Teststation 17 ein Reinigungselement 20 in einer Schleifbewegung die Kontaktflächen 19 überstrichen und diese dabei gereinigt hat, ist es zweckmäßig, die von der Kontaktoberfläche 19 der Meßkontakte gelösten Schmutzpartikeln, die auf die Kontaktfedern 18 und den Träger gefallen sind, ebenfalls aus der Teststation zu entfernen. Diese Schmutzpartikeln können durch eine Säuberungs-Einrichtung 32 entfernt werden, die entweder stationär in der Teststation 17 angeordnet ist und die durch eine Steuerung betätigt wird, oder die Säuberungs-Einrichtting ist wie in diesem Ausführungsbeispiel auf dem Drehgestell 10 zwischen dem Reinigungselcment 20 und dcrcrstcn Halterung 11 für einen Prüfling 12 angeordnet und macht demzufolge die Drehbewegung des Drehgestells 10 mit. In diesem Ausführungsbeispicl besteht die Säuberungs-Einrichtung 32 aus einer von einem gesteuerten Luftstrom durchströmten Düse 32, die in bezug auf die Bewegungsrichtung des Drehgestells 10 hinter dem Reinigungsclcmcnl 20 so angeordnet ist, daß der Luftstrom auf die Kontaktledcrn 18 gerichtet ist (Fig. 2). Der Luftstrom für die Säuberung der

w) Kontaktfedern 18 wird von einer bekannten in der amerikanischen Patentschrift 33 67 476 beschriebenen Vcrleilcrmiordnung geliefert. Diese Vcrteileranordnung ist fähig, Druck- oder Preßluft an die Düse 32 der Süubcrungs-Kinrichtung zu liefern und außerdem einen

('5 Sog auf die Hohlnadeln der ersten Halterungen 11 für die Prüflinge 12 auszuüben. Diese Vcrteileranordnung isl auch so ausgelegt, daß sie nur einen Luftstrom zu der Düse 32 gibt, wenn sich diese in einer Stellung befindet,

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die den Kontaktfedern 18 unmittelbar benachbart ist.

Die erfindungsgemäße Reinigungseinrichtung im Prüfgerät wirkt im wesentlichen nach dem folgend beschriebenen Betriebsablauf: Die Prüflinge 12 verbleiben eine vorbestimmte Zeit in einer Test- oder Arbeitsstation, während der die Test- oder Arbeitsvorgänge abgewickelt werden. Nach Ablauf dieses Zeitintervalls werden die Prüflinge 12 durch das Drehgestell 10 von der einen Arbeits- bzw. Teststation zur nächsten befördert. Bei jedem Weitertransport von einer Station zur nächsten, werden durch das Reinigungselement 20 die Meßkontaktflächen 19 der nächsten Teststation 17 gereinigt, bevor der Prüfling 12 mit ihnen eine Kontaktverbindung eingeht. Dadurch ist gewährleistet, daß vor jedem Test saubere Meßkontakte zur Verfugung stehen und die Basis für eine zuverlässige Prüfung geschaffen wurde. Nachdem das Reinigungselement 20 sich über die Meßkontaktflächen

19 bewegt hat und dessen Reibungsfläche und die Kontaktoberflächen 19 außer Eingriff kommen, befindet sich die Düse 32 den Meßkontaktflächen 19 gegenüber. Der in dieser Stellung von der Düse 32 ausgestoßene Luftstrom säubert die Kontaktfedern 18 mit den dazugehörigen Trägern in der Teststation 17. Durch diese zusätzliche Säuberung der Teststation 17 wird vermieden, daß sich Kurzschlußbrücken zwischen den Kontaktfedern 18 und den Trägern bilden bzw. daß der Isolationswiderstand der Teststation 17 sich durch angesammelten Schmutz verringert.

In den drei Arbeitsstationen 14, 15, 16 wird das Reinigungselement 20 angehoben, weil in diesen Arbeitsstationen 14, 15, 16 die Nockenschiene 28 eine größere Höhe aufweist als in einer Teststation 17, bei der eine Kontaktreinigung erfolgt Nachdem das Reinigungselement 20 in angehobener Stellung die Arbeitsstationen 14, 15, 16 passiert hat, senkt es sich allmählich auf seine normale Arbeitsstellung ab. Der Übergang von einer Arbeitsstellung in die andere findet nur allmählich statt, da die Nockenschiene 28 an den Übergangsstellen eine Neigung oder Steigung in der Höhe aufweist und weil die Rolle 29 des Winkelhebels 21 durch die Feder 30 auf die Nockenschiene 28 gedrückt wird. Durch die Gestaltung der Höhe der Nockenschiene 28 ist es somit möglich, die Höhenlage des Reinigungselementes 20 zu steuern. Es wäre auch möglich, die Stellung des Reinigungselements 20 durch einen Elektromagneten zu verändern, der z. B. in der Arbeitsstation eine Anhebung des Reinigungselementes

20 in eine andere Höhenebene bewirkt.

Nachdem in der ersten Arbeitsstation 14 durch den Rüttler jeweils ein Prüfling 12 einer ersten Halterung Il zugeführt wurde und der Prüfling in einem folgenden Arbeitstakt in der Ausrichtestation 15 sorgfältig ausgerichtet wurde, wird jeder Prüfling 12 nacheinander mittels des Drehgestells 10 in die aufeinanderfolgenden Teststationen 17 transportiert, in denen jeweils verschiedene Tests an den Prüflingen 12 durchgeführt werden. Anschließend werden die getesteten Prüflinge 12 in die Sortierstation 16 befördert, wo die Prüflinge 12 je nach den erhaltenen Testergebnissen der einzelnen Teststationcn 17 sortiert werden.

Die als erste Halterung U für die Prüflinge 12 dienenden Hohlnadeln sind jeweils in ihrer unteren normalen Arbeitsstellung, wenn sie durch das Drehgestell 10 in eine Test- oder Arbcitsstniion bewegt werden. Während der Bewegung von einer Station zur nächsten, können die Halterungen il senkrecht nach oben bewegt werden, falls dies erforderlich ist, um eventuellen Behinderungen auszuweichen.

In der bisherigen Beschreibung wurde erwähnt, daß das zur Reinigung der Meßkontaktflächen 19 dienende Reinigungselement 20 ein Abziehstein ist, der mit schwachem Druck über die Oberflächen der Meßkontakte schleift. Anstelle des Abziehsteins ist jedoch auch eine andere Ausführung eines Reinigungselementes 20 zur Entfernung der Schmutzpartikeln von den Meßkontaktflächen 19 verwendbar. Das Reinigungselement 20

ίο kann z. B. als feine Bürste ausgeführt sein, oder es kann einen getränkten Belag aus Stoff, Filz, Watte oder dergleichen aufweisen, der beim Überstreichen der Meßkontaktflächen 19 diese chemisch oder mechanisch reinigt.

Außerdem können die von den Meßkontaktflächen 19 gelösten Schmutzpartikeln von den Kontaktfedern 18 und dem Träger auch durch andere Mittel außer dem durch die Düse 32 austretenden Luftstrom entfernt werden. Eine derartige Säuberungs-Einrichtung könnte beispielsweise aus einer stationären- oder rotierenden Bürste bestehen, die den auf die Kontaktfedern 18 und den Träger gefallenen Schmutz abstreift.

Während in der bisherigen Beschreibung der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung im Prüfgerät erwähnt wurde, daß die Säuberung der Kontaktfedern 18 und die Reinigung der Meßkontaktflächen 19 bei jedem Bewegungszykius des Drehgestells 10 erfolgt, ist es in manchen Betriebsfällen nicht erforderlich, diese Reinigung in jedem Betriebszyklus auszuführen. Um

dies zu verhindern, daß das Reinigungselement 20 in solch einem Betriebsfall über die Meßkontaktflächen 19 schleift, wird der Winkelhebel 21 in einer solchen Drehstellung blockiert, in der das Reinigungselement 20 sich im Abstand über den Meßkontaktflächen 19 befindet. Auch bei einem derart abgehobenen Reinigungselement 20 erfolgt noch eine gewisse Reinigung der Meßkontaktflächen 19 durch den von der Düse 32 ausgestoßenen Luftstrom, da auch dieser auf die Meßkontaktflächen 19 trifft und die nicht festhaftenden Schmutzpartikeln wegbläst.

Während in der Teststation 17 nach Fig.4 drei Kontaktfedern 18 auf einem hohlzylindrischen Träger befestigt sind, der in seiner Höhe und Seitenstellung einstellbar ist, können den jeweiligen Testerfordernis-

sen entsprechend eine oder mehrere Kontaktfedern 18 auf dem Träger angeordnet sein, je nachdem, wie viele Meßkontakte in den einzelnen Teststationen 17 gebraucht werden.

Es ist ein Vorzug dieser erfindungsgemäßen Reiniso gungseinrichtung im Prüfgerät, daß durch sie mit Sicherheit verhindert wird, daß die Meßkontaklflächen 19 von den an den Prüflingen 12 haftenden Schmutzpartikeln verunreinigt werden und daß durch andere nachteilige Einwirkungen auf die Kontaktflächen 19 der

Meßkontaktc, z. B. Ablagerungen von Schmutzpartikcln aus der Umgebungsluft oder die Bildung von Frcmdschichtcn sich nicht auf das Testergebnis auswirken können, da auch sie durch das Rcinigungsclemcnt 20 vor jedem Test automatisch von den Meßkontaktflachcn 19

beseitigt werden. Ein anderer Vorzug ist, daß die Tests besser und zuverlässiger sind, weil die wesentlichen Störcinflüssc, /„ B. variable Übcrgangswidcrstllndc an den Anschlußstellen der Prüflinge 12, beseitigt sind und demzufolge die Tests auf einer eindeutigen Basis

beruhen. Weitere Vorzüge der verbesserten Testvorrichtung sind außerdem, daß die eingebaute automutisehe Reinigungseinrichtung eine einfache, übersichtliche und kaum störungsanfülligc Konstruktion ist, daß durch

die automatische Reinigung der Meßkontaktflächen 19 die Kosten für den Test der Prüflinge 12 sich verringern, daß sich die Gesamtzeit zur Durchführung der Tests beachtlich vermindert, weil die Testvorrichtung zum Reinigen der Meßkontaktflächen 19 nicht mehr in ihrem Betriebsablauf angehalten werden muß, daß eine gleichmäßige Güte der Kontaktreinigung erreicht wird, daß die Meßkontaktflächen 19 weitestgehend geschont werden und daß die Kanten der Meßkontakte scharf und ihre Kontaktflächen 19 eben bleiben.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (8)

Patentansprüche:

1. Reinigungseinrichtung für die Kontaktflächen von Meßkontakten in einem elektrischen Prüfgerät zum Test von taktweise nacheinandc geführten elektrischen Prüflingen, insbesondere k.cinen Sclialtungsplättchen, Moduls und dg!., wobei das Prüfgerät wenigstens eine die Meßkontakte der elektrischen Prüfeinrichtung enthaltende Teststation aufweist und außerdem ein im Arbeitstakt bewegbares Gestell enthält, das wenigstens mit einer steuerbaren, einen Prüfling aufnehmenden ersten Halterung versehen ist, die den Prüfling über eine bestimmte Strecke trägt und diesen in einem Arbeitstakt so in die Teststation befördert, daß sich e\nc. elektrische Verbindung zwischen dessen Anschlußkontakten und den entsprechend angeordneten Meßkontakten ergibt und die in einem folgenden Arbeitskontakt den Prüfling aus der Teststation entfernt, dadurch gekennzeichnet, daß in Bewegungsrichtung des Gestells (10) in einem bestimmten Abstand vor der ersten Halterung (11) ein Kontaktreinigungselement (20) mittels einer zweiten Halteeinrichtung (22 bis 31) federnd am Gestell (10) befestigt und so angeordnet ist, daß während des Arbeitstaktes, bei dem die erste Halterung (11) den Prüfling (12) in die Teststation (17) führt, die Reinigungsfläche vom Kontaktreinigungselement (20) dem Prüfling (12) zwangsweise voreilend über die Kontaktflächen (19) der Meßkontakte (18) streicht und diese reinigt, bevor der Prüfling (12) an den Meßkontakten (18,19) angelangt ist, daß eine steuerbare Säuberungseinrichtung (32) für die Teststation (17) vorgesehen ist, deren kurzzeitige Aktivierung spätestens am Ende der durch das Kontaktreinigungselement (20) bewirkten Meßkontaktreinigung erfolgt und daß diese Säuberungseinrichtung (32) so angeordnet und ausgelegt ist, daß sie die Bildung von schädlichen Kontaktbrücken in der Teststation (17) verhindert und die darin angeordneten Kontaktfedern (18) und Verbindungsleiter säubert.

2. Reinigungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der Teststation (17) die zu reinigenden Kontaktflächen (19) der federnden Meßkontakte (18) in geringem Abstand nebeneinander in einer Ebene liegen, daß das Kontaktreinigungselement (20) aus einem länglichen Abziehstein besteht und daß dessen die Meßkontaktflächen (19) mit geringem Druck berührende Reinigungsfläche in der Bewegungsrichtung eine schwache, konvexe Krümmung aufweist (F i g. 3).

3. Reinigungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Kontaktreinigungselement (20) eine Drahtbürste, eine Filzscheibe oder ein auf die Kontaktflächen (19) gerichteter steuerbarer Luftstrahl vorgesehen ist.

4. Reinigungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßkontakte (18) und das Kontaktreinigungselement (20) zueinander einstellbar sind und daß im Prüfgerät eine automatisch gesteuerte Vorrichtung zum Anheben und Absenken des Kontaktreinigungselementes (20) vorgesehen ist.

5. Reinigungseinrichtung nach Anspruch ! oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Halteeinrichtung ein Bestandteil der steuerbaren Vorrichtung zum Anheben und Absenken des Kontaktreinigungselementes (20) ist, und daß diese Vorrichtung

durch eine mechanische Nocken enthaltende Einrichtung oder eine wenigstens einen Elektromagnet enthaltende Einrichtung betätigbar ist.

6. Reinigungseinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Kontakireinigungselenient (20) über eine Justiervorrichtung (25, 27) an einem am beweglichen Gestell (10) schwenkbeweglich angeordneten Hebel (21) befestigt ist, daß dieser Hebel (21) in seinem Endbereich eine Laufrolle (29) aufweist, die auf einer stationären nockenförmig gestalteten Kurvenschiene (28) aufliegt, und daß eine Feder (30) vorgesehen ist, die die Laufrolle (29) auf die Kurvenschiene (28) drückt.

7. Reinigungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Säuberungseinrichtung (32) auf dem bewegbaren Gestell (10) zwischen dem Kontaktreinigungselement (20) und der ersten Halterung (11) für den Prüfling (12) angeordnet ist, und daß sie bei der Vorbeibewegung an den Meßkontakten (18, 19) auf diese und die Teststation (17) einwirkt.

8. Reinigungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Säuberungseinrichtung (32) eine Düse enthält, die einen steuerbaren Luftstrahl liefert, daß dieser Luftstrahl, nachdem das Kontaktreinigungselement '20) die Meßkontakte (18,19) passiert hat, kurzzeitig auf die Meßkontakte (18,19) und deren Träger in der Teststation (17) gerichtet ist.