DE2001534C3 - Reinigungseinrichtung für die Kontaktflächen von Meßkontakten in einem elektrischen Prüfgerät - Google Patents

Description

Diese Erfindung betrifft eine Reinigungseinrichtung für die Kontaktflächen von Meßkontakten in einem elektrischen Prüfgerät, das gemäß dem Oberbegriff des ersten Patentanspruches zum Test von taktweise nacheinander zugeführten elektrischen Prüflingen, insbesondere kleinen Schaltungsplättchen, Moduls und dergleichen dient und dementsprechend ausgelegt ist.

Der Zweck dieser Erfindung besteht darin, bekannte Testeinrichtungen oder Prüfgeräte für elektrische Bauteile, beispielsweise Schaltungsplättchen, Moduls und dergleichen, so zu verbessern, daß sich die Zuverlässigkeit und die Qualität der Test- bzw. Meßergebnisse der getesteten Prüflinge erhöht indem wenigstens die Meßkontakte im Prüfgerät vor dem Anlegen an die Anschlußstellen der Prüflinge zwangsläufig gereinigt werden. Dadurch wird beim Testvorgang jedes Prüflings an den einzelnen Kontaktstellen jeweils ein definierter Übergangswiderstand und eine solide Ausgangsbasis geschaffen, und es werden somit die die bisherigen Testergebnisse verfälschenden Einflüsse infolge Kontaktverschmutzung, die undefinierbare Kontaktübergangswiderstände verursachen, weitestgehend vermieden. Durch die Einbeziehung der zwangsläufigen Kontaktreinigung in den Testablauf, werden auch Unsicherheiten eliminiert die sich bei einer manuellen Kontaktreinigung ergeben, und außer-

«) dem wird eine Leistungssteigerung erreicht.

Bei empfindlichen Stromkreisen, welche mit geringen Spannungen und relativ schwachen Strömen betrieben werden ist bekannt, daß die elektromechanischen Kontaktstellen, welche zum Anschluß oder zur Verbindung mit anderen Stromkreisen dienen, Schwachstellen sind, die häufig Betriebsstörungen verursachen. Auf den Kontaktflächen dieser Kontaktstellen bilden sich durch die Ablagerung und stetige Ansammlung von Staubpar-

tikeln dünne Schmutzschichten und/oder durch die Einwirkung von atmosphärischen Einflüssen bilden sich auf diesen Kontaktflächen auch chemische Fremd-■■.chichten. Diese Schmutz- und Fremdschichten stellen Undefinierte schwankende Übergangswiderstände dar, welche zu Betriebsstörungen führen können und die die Meß- bzw. Testergebnisse verfälschen. Zur Verhinderung dieser Kontaktunsicherheiten, welche sich durch die nachteiligen Einflüsse der Kontaktverschmutzung und durch die Fremdschichten ergeben, sind dem Fachmann verschiedene Mittel bekannt, die einzeln oder kombiniert angewendet werden. So werden beispielsweise, falls dies konstruktiv möglich ist, auf jede Kontaktstelle hohe spezifische Kontaktdrücke ausgeübt, um die störende Schmutz- oder Fremdschicht zu durchdringen. Bei einer anderen Kontaktart, bei der sich die Kontaktflächen in einer relativen Verschiebebewegung zur Bildung der Kontaktstelle einander nähern, wird durch eine Schabe- oder Reibungseinwirkung die störende Schmutz- oder Fremdschicht von den Kontaktflächen entfernt. Eine andere Einrichtung zur Säuberung der empfindlichen Kontaktstellen in einem zylindrischen mehrpoligen Drehschalter, der beispielsweise in einem Funk- oder Fernsehgerät als Kanalwähler verwendbar ist, wurde durch die US-PS 27 41 683 bekannt. Dieser Drehschalter, der mehrere Raststellen und diesen zugeordnet über den Umfang verteilt im Drehteil und im Stator in axialer Richtung angeordnet einige Reihen von Kontakten aufweist, enthält eine Kontaktreinigungseinrichtung, die bei einer Bewegung des Drehteils von einer Raststellung in eine andere, die zwischen dieser Bewegungsstrecke liegenden Kontakt flächen der Kontaktreihen im Statorteil reinigt. Diese Kontaktreinigungseinrichtung ist anstelle einer axialen Kontaktreihe in das Drehteil eingesetzt, und sie besteht aus einem streifenförmigen Wischerteil, dessen Oberfläche bei einer Schalterdrehung über die Kontaktflächen der Statorkontakte wischt und diese dabei säubert. Das Wischerteil kann beispielweise aus einer Bürste, aus Filz oder einem anderen Material bestehen. Nachteilig ist bei dieser bekannten Reinigungseinrichtung, daß der eventuell von den Kontaktflächen entfernte Schmutz auf der Oberfläche des Wischers haften bleibt, daß keine Nachstellvorrichtung vorhanden ist und daß, wenn nur ein Wischerteil vorhanden ist, der Schalter wenigstens eine ganze Drehung ausführen muß, damit sichergestellt ist, daß die Statorkontakte der neuen Schalterstellung gesäubert sind.

Bei der Fabrikation von elektronischen Bauelementen bzw. Baugruppen, insbesondere von solchen, die in Schaltungsplättchen oder Moduls integrierte Halbleiter-Anordnungen enthalten, z. B. Transistoren und/oder Dioden, ist es zweckmäßig, daß diese Schaltungsplättchen, Moduls und dergleichen, welche folgend als Prüflinge bezeichnet werden, während der Fertigung zwischen zwei Fertigungsstufen oder am Ende des Herstellungsprozesses auf ihre Eigenschaften geprüft werden. Dabei können die Prüflinge nacheinander taktweise eine oder mehrere aufeinanderfolgende Teststationen im Prüfgerät durchlaufen, in denen jeweils eine andere Messung oder ein anderer Test durchgeführt wird, um die Charakteristik der Prüflinge zu ermitteln.

In den Prüfgeräten werden die mit elektrischen Anschlußstellen versehenen Prüflinge mit den der jeweiligen Teslstation zugeordneten federnden Meßkontakten verbunden, über die dann die meistens sehr niedrigen Eingangsspannungen bzw. Ströme den Prüflingen zugeführt bzw. deren Ausgangsspannungen- oder Ausgangsströme abgenommen werden. Obwohl die Anschlußstellen der Prüflinge im allgemeinen sauber sind, befinden sich darauf noch klein; Schmutzpartikeln, die bei einer Einzelmessung nicht von Bedeutung sind, die jedoch in der Testvorrichtung auf die Oberflächen der Meßkontakte übertragen werden und an diesen haftenbleiben. Diese kleinen Schmutzpartikeln von den Anschlußstellen der einzelnen Prüflinge sammeln sich auf den Meßkontakten an und b'lden einen unerwünschten Belag auf der Kontaktoberfläche. Dadurch erhöht sich der Kontaktübergangswiderstand zwischen den Meßkontakten und dem Prüfling. Ein weiterer Nachteil ist der, daß der Kontaktübergangswiderstand auch in seiner Größe stark schwankt Diese Ansammlung der Schmutzpartikeln verursacht somit eine Beeinträchtigung oder Verfälschung der Testergebnisse für die Prüflinge.
Zur Vermeidung dieses unerwünschten Einflusses wurden bisher in der Testvorrichtung die Meßkontakte von Hand, entweder mechanisch oder chemisch gereinigt. Diese manuelle Reinigung der Meßkontakte hat jedoch den Nachteil, daß der gesamte Testablauf zeitlich länger dauert, da der Testvorgang zur Reinigung der Meßkontakte unterbrochen wird. Durch die manuelle Kontaktreinigung erhöhen sich somit die Herstellungskosten für die Prüflinge. Es ist ein weiterer Nachteil, daß die Sauberkeit der Meßkontakte von der Sorgfalt der Bedienungsperson und deren Erfahrung abhängt, z. B., wann eine Reinigung der Meßkontakte zu erfolgen hat. Aufgrund dieser Nachteile ist die manuelle Reinigung der Meßkontakte — insbesondere bei Massenfertigung — nicht zufriedenstellend, weil außer den Zeitverlusten noch eine gewisse Unsicherheit über die Zuverlässigkeit der Prüfergebnisse besteht.

Es ist deshalb die Aufgabe der Erfindung, gemäß dem Oberbegriff des ersten Patentanspruches eine Reinigungsvorrichtung für die Kontaktflächen von Meßkontakten in einem elektrischen Prüfgerät zum Test von taktweise nacheinander zugeführten Prüflingen zu schaffen. Dieses verbesserte Prüfgerät soll die bei der Zweckangabe der Beschreibungseinleitung genannten Forderungen erfüllen und sicherstellen, daß die Prüfergebnisse zuverlässiger sind, daß die Prüfeinrichtung rationeller arbeitet, indem zur Reinigung der Meßkontakte keine geschulte Bedienungsperson mehr erforderlich ist, und daß die Reinigung der Meßkontakte in den Teststationen zwangsläufig automatisch und ohne Unterbrechung des Betriebsablaufs erfolgt.

so Diese Aufgabe wird gemäß dem Kennzeichnungsteil des ersten Patentanspruches gelöst.

Bei der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung für das Prüfgerät zum Test von Prüflingen, das eine oder mehrere Teststationen mit zugeordneten Meßkontakten aufweisen kann, werden die Oberflächen der Meßkontakte durch ein Reinigungselement gereinigt, das z. B. ein Abziehstein, eine Filzscheibe, eine Preßluftdüse oder ähnliches sein kann. In einer Relativbewegung zwischen den Meßkontakten der Teststation und dem Reinigungselement bewegt sich das Reinigungselement zwangsläufig an den Meßkontakten vorbei und reinigt diese, bevor der Prüfling in seine Teststellung gelangt und die Meßkontakte mit dessen Anschlußstellen verbunden werden. Den Erfordernis^n oder Verhältnissen entsprechend kann die Testvorrichtung in Form eines Karussells ausgeführt sein oder auch so, chß die Prüflinge sich auf einer geradlinigen Bahn bewegen. In dem Prüfgerät können

die Meßkontakte der einzelnen Teststationen stationär angeordnet sein (was meistens der Fall sein wird, um Schleifkontakte zu vermeiden). In diesem Fall werden die Prüflinge, getragen durch eine Halterung, in die Teststation bewegt, und auch erfindungsgemäß vorab das Reinigungselement, so daß eine zwangsläufige Reinigung der Meßkontakte ohne eine Betriebsunterbrechungerfolgt.

Das Reinigungselement kann auch stationär in der Teststation zusammen mit den stationären Meßkontakten angeordnet sein, jedoch muß dann durch eine zusätzliche und auf das Reinigungselement einwirkende Steuereinrichtung bewirkt werden, daß die Meßkontakte vor der Ankuft des Prüflings durch das Reinigungselement gesäubert werden. Das Prüfgerät kann auch so ausgeführt sein, daß in der Teststation das Reinigungselement stationär angeordnet ist und sich der jeweilige Prüfling vor dem Test schon in einer stationären Lage befindet und daß sich die Kontaktfedern zuerst am Reinigungselement vorbei zum Prüfling bewegen.

Die zweckmäßigste Ausführung der Reinigungseinrichtung im Prüfgerät ist jedoch die, wie bereits erwähnt wurde, bei der die Meßkontakte stationär in jeder Teststation angeordnet sind und bei der das Reinigungselement vor dem Prüfling in die Teststation gelangt.

Ein vorteilhaftes Merkmal der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung des Prüfgerätes ist, daß zur Entfernung des von den Meßkontakten abgetragenen Schmutzes aus der Teststation, die Reinigungseinrichtung noch eine zusätzliche Säuberungs-Einrichtung enthält. Diese Säuberungs-Einrichtung, die z. B. aus einer Düse besteht, die zwischen dem Reinigungselement und der Halterung für den Prüfling auf dem Drehgestell der Testvorrichtung angeordnet sein kann, gibt bei der Vorbeibewegung an den Meßkontakten auf diese und ihre Träger einen kurzen gesteuerten Luftstrom ab.

Zweckmäßige Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung in einem Prüfgerät sind durch die Unteransprüche gekennzeichnet.

Durch die erfindungsgemäße Reinigungseinrichtung im Prüfgerät werden die Nachteile, die sich bei einer manuellen Kontaktreinigung ergaben, beseitigt, weil alle Meßkontakte der Teststationen zwangsläufig und automatisch von den am Drehgestell befestigten Reinigungselementen, das auch die Prüflinge trägt und transportiert, gereinigt werden, ohne daß eine Unterbrechung des Betriebsablaufes erfolgt Die Reinigung der Meßkontakte erfolgt zwangsläufig in dem Zeitabschnitt, in dem die Prüflinge von einer Teststation zu einer anderen transportiert werden. Da somit eine Reinigung der Meßkontakte bei jedem Testzyklus erfolgt, kann sich auf den Kontaktoberflächen keine die Messung beeinträchtigende Schmutz- oder Fremdschicht bilden. Durch die erfindungsgemäße Reinigungseinrichtung im Prüfgerät verkürzt sich die Testzeit und der Durchlauf der Prüflinge durch das Prüfgerät, weil der zur manuellen Reinigung der Kontakte erforderliche Stillstand der Testvorrichtung nicht mehr erforderlich ist Außerdem wird die zur manuellen Reinigung der Meßkontakte erforderliche Bedienungsperson nicht mehr benötigt Es erhöht sich somit auch die Zuverlässigkeit der Testergebnisse, weil die durch menschliche Einflüsse verursachten Unsicherheiten entfallen, außerdem verringern sich die Betriebskosten.

Es ist ein weiterer Vorzug der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung, daß sie sich selbst steuert, wodurch die Meßkontakte in den Teststationen geschont werden. Die Reinigungseinrichtung enthält vorzugsweise Reinigungselemente, die nur eine geringe Abriebwirkung auf die Meßkontakte haben und die mit nur geringem Druck über deren Oberflächen schleifen.

Damit die Meßkontakte und speziell ihre Kanten nicht beschädigt werden, sind die Reinigungselemente mit einer leicht konvex gekrümmten Schleiffläche versehen, so daß, wenn sich das Reinigungselement über die Kontaktflächen bewegt, die Meßkontakte nur allmählieh einem Druck ausgesetzt werden und daß mit fortschreitender Bewegung jeweils eine andere Stelle des Reinigungselementes wirksam wird.

Weitere Einzelheiten und Merkmale der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung im Prüfgerät sind folgend in einem Ausführungsbeispiel anhand von Zeichnungen ausführlicher beschrieben.
Von den Zeichnungen stellen dar:
F i g. 1 eine Draufsicht auf ein schematisch dargestelltes Prüfgerät in Form eines Karussells mit einem Drehgestell zum Transport der Prüflinge zu den verschiedenen Test- und Arbeitsstationen;

F i g. 2 eine Ansicht einer Teststation im Prüfgerät mit der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung, bei der sich ein am Drehgestell befestigtes Reinigungselement über die Oberfläche der Meßkontakte bewegt;

F i g. 3 in einer stark vergrößerten Abbildung ein Reinigungselement, das sich in Richtung zu einem in der Seitenansicht abgebildeten Meßkontakt bewegt;

F i g. 4 in einer stark vergrößerten perspektivischen Darstellung eine Teststation mit einem Prüfling, dessen Anschlußstellen mit den Meßkontakten verbunden sind.

Das in der F i g. 1 dargestellte Drehgestell 10 des

karussellförmigen Prüfgerätes wird durch gesteuerte Antriebsmittel bewegt, wie sie z. B. in der amerikanisehen Patentschrift 33 67 467, Titel: »Orienting and Contacting Device« beschrieben sind. Das Drehgestell 10 ist an seinem Umfang mit einer Anzahl die Prüflinge 12 tragenden ersten Halterungen 11 versehen (Fig. 2 und 4), welche als Hohlnadeln gestaltet und am Drehgestell 10 befestigt sind. Diese Hohlnadeln stehen mit einem Vakuum in Verbindung, durch das die Prüflinge 12 am Ende der ersten Halterungen 11 angesaugt, festgehalten und getragen werden.

Jede Vakuum-Hohlnadel einer ersten Halterung 11 ist so ausgelegt, daß sie einen Prüfling 12, z. B. einen Halbleiterbaustein, von einer Test- bzw. Arbeitsstation zu den anderen Stationen transportieren kana Die Vakuum-Hohlnadeln sind rechtwinklig an der Peripherie des Drehgestells 10 so montiert, daß sie relativ in vertikaler Richtung zur horizontal liegenden Fläche des Drehgestells 10 bewegbar sind, d. h. angehoben oder gesenkt werden können.

Die F i g. 1 zeigt, daß das Prüfgerät eine Arbeitsstation 14 enthält, in der durch einen vibrierenden Vakuum-Rüttler die Prüflinge 12 zugeführt und durch die als Vakuum-Hohlnadel gestalteten ersten Halterungen 11 erfaßt werden. In einer anschließenden Ausrichtestation 15 wird jeder von einer ersten Halterung 11 getragene Prüfling 12 genau auf seine Lage ausgerichtet, damit in den Teststationen 17 die Anschlußstellen der Prüflinge 12 mit den Meßkontakten 18 richtig übereinstimmen. Das Prüfgerät enthält als letzte Arbeitsstation eine Sortierstation 16, in der die Prüflinge 12 nach dem Durchlauf durch die verschiednen Teststationen 17 entsprechend den ermittelten Testergebnissen sortiert werden.

Jede der Teststationen 17 enthält einen oder mehrere Meßkontakte 18. deren Kontaktflächen 19 eine lösbare

Kontaktverbindung mit den Anschlußstellen der Prüflinge 12 herstellen, wenn diese von der ersten Halterung 11 getragen durch das Drehgestell 10 in die Teststation

17 bewegt werden. Wie die F i g. 4 zeigt, haftet der Prüfling 12 mit seiner Oberseite am unteren Ende der als erste Halterung Il dienenden Hohlnadel, dabei wird er durch ein Vakuum angesaugt. In der Teststation 17 liegen an der Unterseite des Prüflings 12 die Kontaktflächen 19 der Kontaktfedern 18 an. Jede der Kontaktfedern 18 ist an der Spitze nach oben gekröpft, so daß diese abgewinkelten Spitzen der Kontaktfedern

18 in einer Ebene liegen. Jede Oberseite dieser abgewinkelten Kontaktfederspitzen kann als Meßkontaktfläche 19 dienen, welche eine lösbare Verbindung zwischen einer oder mehreren Anschlußstellen des Prüflings 12 und der elektrischen Testeinrichtung bildet (Fig. 3).

Das Drehgestell 10 trägt an einer zweiten Halterung wenigstens ein über die Meßkontaktflächen 19 schleifendes Reinigungselement 20, das z. B. ein Abziehstein sein kann. Das Reinigungselement 20 ist auf dem Drehgestell 10 in einem Abstand zum Prüfling 12 so angeordnet, daß es bei einer Bewegung des Drehgestells 10 in Richtung Teststation 17 vor dem Prüfling 12 die Meßkontaktflächen 19 überstreicht und bei einer geringen Druckeinwirkung eine Schleifbewegung auf dessen in einer Ebene liegenden Kontaktflächen 19 ausübt.

Das Reinigungselement 20 ist am Ende eines Armes eines drehbaren Winkelhebels 21 einstellbar befestigt. Dieser Winkelhebel 21 ist in einem zwei Schenkel 22 und 23 aufweisenden Gabelstück und einem das Gabelstück und den Winkelhebel 21 durchdringenden Lagerstift 24 drehbar gelagert. Das Gabelstück ist fest mit dem Drehgestell 10 verbunden. Das Reinigungselement 20 ist mit einem U-förmigen ein Langloch aufweisendes Anschlußstück 25 versehen, das in eine U-förmige Aussparung 26 am Arm des Winkelhebels 21 eingesetzt ist; dadurch ist das Reinigungselement 20 in seiner Höhe einstellbar und gegen Verkantung und Verdrehung fest gesichert. Eine Einstellvorrichtung 27, die gleichzeitig auch als Sicherung gegen ein Verkanten bzw. ein Verdrehen des Reinigungselementes 20 dient, enthält weiter einen in die Aussparung 26 am Arm des Winkelhebels 21 eingesetzten Gewindebolzen, der durch das Langloch im Anschlußstück 25 ragt. Mittels eines auf den Gewindebolzen aufgeschobenen Sicherungsringes und einer Mutter wird die eingestellte Lage des Reinigupgselementes 20 fixiert. Durch diese Einstellvorrichtung 27 wird es ermöglicht, daß das Reinigungselement 20 relativ zum Winkelhebel 21 so eingestellt werden kann, daß die Schleiffläche des Reinigungselementes 20 den gewünschten Berührungskontakt mit den Kontaktflächen 19 der Kontaktfedern 18 während der relativen Vorbeibewegung herstellt. Weil das Reinigungselement 20 über die Einstellvorrichtung 27 und den Winkelhebel 21 am Drehgestell 10 angeordnet ist und dessen Drehbewegung mitmacht, sind deshalb die Meßkontaktflächen 19 der Kontaktfedern 18, die auf einem einstellbaren Träger in der Teststation 17 befestigt sind, stationär angeordnet

Die untere Fläche des Reinigungselementes 20, welche über die Kontaktflächen 19 schleift, weist in der Bewegungsrichtung eine schwache konvexe Krümmung auf. Diese schwach gekrümmte Unterseite ist ein Teil eines Zylinders mit einem relativ großen Radius, so daß diese Fläche beinahe gerade ist Durch diese Gestaltung der Schleiffläche des Reinigungselementes 20 wird erreicht, daß beim Beginn der Schleifbewegung, wenr das Reinigungselement 20 die Meßkontaktflächen Ii berührt, sich nur ein kleiner Druckwinkel bildet wodurch die Meßkontakte geschont werden. Die MelJkontakte bleiben somit scharfkantig und die Kontaktflächen 19 bleiben eben, so daß sich eine gute Kontaktverbindung mit den Anschlußstellen der Prüflinge 12 ergibt.
Da in dem Prüfgerät bzw. der Testvorrichtung

lü mehrere Arbeitsstationen vorhanden sind (z. B. die Zufuhrstation 14, die Ausrichtestation 15 und die Sortierstation 16), in denen keine Messungen vorgenommen werden und der Durchlauf des Reinigungselementes 20 in der üblichen Schleifstellung nur die sichere Funktion dieser Arbeitsstationen behindern würde, isi es zweckmäßig, daß das Reinigungselement 20 in der Arbeitsstationen 14, 15, 16 aus seiner Arbeitsstellung angehoben wird. Hierzu sind an dem Sockel de; Prüfgerätes, an dem auch die Träger für die stationärer Kontaktfedern 18 befestigt sind, auf dessen Oberseite eine Nockenschiene 28 bzw. ein Kurvenring angeordnei (F i g. 2). Diese Nockenschiene 28 hat eine unterschiedliche Höhe. In den Teststationen 17 ist die Höhe niedrig und in den Arbeitsstationen 14,15,16 höher. Eine Rolle 29, die als Nockenrad dient und die auf dei Nockenschiene 28 läuft, ist am längeren Arm des Winkelhebels 21 drehbar befestigt, gegenüber dei Einstellvorrichtung 27 für das Reinigungselement 20.

Eine Zugfeder 30, die am kürzeren Arm des Winkelhebels 21 und an einem Hebel 31 des Drehgestells 10 befestigt isj, bewirkt, daß die Rolle 2i immer auf die Nockenschiene 28 gedrückt wird Dadurch wird erreicht, daß wenn immer die Nocken schiene 28 eine Erhöhung aufweist (wie es z. B. in der Arbeitsstationen 14, 15, 16 der Fall ist), daß da: Reinigungselement 20 aus seiner normalen Arbeitsstel lung angehoben wird.

Nachdem in einer Teststation 17 ein Reinigungsele ment 20 in einer Schleifbewegung die Kontaktflächen Ii überstrichen und diese dabei gereinigt hat, ist es zweckmäßig, die von der Kontaktoberfläche 19 dei Meßkontakte gelösten Schmutzpartikeln, die auf die Kontaktfedern 18 und den Träger gefallen sind ebenfalls aus der Teststation zu entfernen. Diese Schmutzpartikeln können durch eine Säuberungs-Ein richtung 32 entfernt weiden, die entweder stationär ir der Teststation 17 angeordnet ist und die durch eine Steuerung betätigt wird, oder die Säuberungs-Einrich tung ist wie in diesem Ausführungsbeispiel auf derr Drehgestell 10 zwischen dem Reinigungselement 20 unc derersten Halterung 11 für einen Prüfling 12angeordne und macht demzufolge die Drehbewegung des Drehge stells 10 mit. In diesem Ausführungsbeispiel besteht die Säuberungs-Einrichtung 32 aus einer von einen gesteuerten Luftstrom durchströmten Düse 32, die ir bezug auf die Bewegungsrichtung des Drehgestells K hinter dem Reinigungselement 20 so angeordnet ist, dai der Luftstrom auf die Kontaktfedern 18 gerichtet is (F i g. 2). Der Luftstrom für die Säuberung dei Kontaktfedern 18 wird von einer bekannten in dei amerikanischen Patentschrift 33 67 476 beschriebener Verteileranordnung geliefert. Diese Verteileranordnunj ist fähig. Druck- oder Preßluft an die Düse 32 dei Säuberungs-Einrichtung zu liefern und außerdem einer Sog auf die Hohlnadeln der ersten Halterungen 11 füi die Prüflinge 12 auszuüben. Diese Verteileranordnunf ist auch so ausgelegt daß sie nur einen Luftstrom zu dei Düse 32 gibt wenn sich diese in einer Stellung befindet

die den Kontaktfedern 18 unmittelbar benachbart ist.

Die erfindungsgemäße Reinigungseinrichtung im Prüfgerät wirkt im wesentlichen nach dem folgend beschriebenen Betriebsablauf: Die Prüflinge 12 verbleiben eine vorbestimmte Zeit in einer Test- oder Arbeitsstation, während der die Test- oder Arbeitsvorgänge abgewickelt werden. Nach Ablauf dieses Zeitintervalls werden die Prüflinge 12 durch das Drehgestell 10 von der einen Arbeits- bzw. Teststation zur nächsten befördert. Bei jedem Weitertransport von einer Station zur nächsten, werden durch das Reinigungselement 20 die Meßkontaktflächen 19 der nächsten Teststation 17 gereinigt, bevor der Prüfling 12 mit ihnen eine Kontaktverbindung eingeht. Dadurch ist gewährleistet, daß vor jedem Test saubere Meßkontakte zur Verfügung stehen und die Basis für eine zuverlässige Prüfung geschaffen wurde. Nachdem das Reinigungselement 20 sich über die Meßkontaktflächen

19 bewegt hat und dessen Reibungsfläche und die Kontaktoberflächen 19 außer Eingriff kommen, befindet sich die Düse 32 den Meßkontaktflächen 19 gegenüber. Der in dieser Stellung von der Düse 32 ausgestoßene Luftstrom säubert die Kontaktfedern 18 mit den dazugehörigen Trägern in der Teststation 17. Durch diese zusätzliche Säuberung der Teststation 17 wird vermieden, daß sich Kurzschlußbrücken zwischen den Kontaktfedern 18 und den Trägern bilden bzw. daß der Isolationswiderstand der Teststation 17 sich durch angesammelten Schmutz verringert.

In den drei Arbeitsstationen 14, 15, 16 wird das Reinigungselement 20 angehoben, weil in diesen Arbeitsstationen 14, 15, 16 die Nockenschiene 28 eine größere Höhe aufweist als in einer Teststation 17, bei der eine Kontaktreinigung erfolgt. Nachdem das Reinigungselement 20 in angehobener Stellung die Arbeitsstationen 14, 15, 16 passiert hat, senkt es sich allmählich auf seine normale Arbeitsstellung ab. Der Übergang von einer Arbeitsstellung in die andere findet nur allmählich statt, da die Nockenschiene 28 an den Übergangsstellen eine Neigung oder Steigung in der Höhe aufweist und weil die Rolle 29 des Winkelhebels 21 durch die Feder 30 auf die Nockenschiene 28 gedrückt wird. Durch die Gestaltung der Höhe der Nockenschiene 28 ist es somit möglich, die Höhenlage des Reinigungselementes 20 zu steuern. Es wäre auch möglich, die Stellung des Reinigungselements 20 durch einen Elektromagneten zu verändern, der z. B. in der Arbeitsstation eine Anhebung des Reinigungselementes

20 in eine andere Höhenebene bewirkt.

Nachdem in der ersten Arbeitsstation 14 durch den Rüttler jeweils ein Prüfling 12 einer ersten Halterung 11 zugeführt wurde und der Prüfling in einem folgenden Arbeitstakt in der Ausrichtestation 15 sorgfältig ausgerichtet wurde, wird jeder Prüfling 12 nacheinander mittels des Drehgestells 10 in die aufeinanderfolgenden Teststationen 17 transportiert, in denen jeweils verschiedene Tests an den Prüflingen 12 durchgeführt werden. Anschließend werden die getesteten Prüflinge 12 in die Sortierstation 16 befördert, wo die Prüflinge 12 je nach den erhaltenen Testergebnissen der einzelnen Teststationen 17 sortiert werden.

Die als erste Halterung U für die Prüflinge 12 dienenden Hohlnadeln sind jeweils in ihrer unteren normalen Arbeitsstellung, wenn sie durch das Drehgestell 10 in eine Test- oder Arbeitsstation bewegt werden. Während der Bewegung von einer Station zur nächsten, können die Halterungen 11 senkrecht nach oben bewegt werden, falls dies erforderlich ist, um eventuellen Behinderungen auszuweichen.

In der bisherigen Beschreibung wurde erwähnt, daß das zur Reinigung der Meßkontaktflächen 19 dienende Reinigungselement 20 ein Abziehstein ist, der mit schwachem Druck über die Oberflächen der Meßkontakte schleift. Anstelle des Abziehsteins ist jedoch auch eine andere Ausführung eines Reinigungselementes 20 zur Entfernung der Schmutzpartikeln von den Meßkontaktflächen 19 verwendbar. Das Reinigungselement 20 kann z. B. als feine Bürste ausgeführt sein, oder es kann einen getränkten Belag aus Stoff, Filz, Watte oder dergleichen aufweisen, der beim Überstreichen der Meßkontaktflächen 19 diese chemisch oder mechanisch reinigt.

Außerdem können die von den Meßkontaktflächen 19 gelösten Schmutzpartikeln von den Kontaktfedern 18 und dem Träger auch durch andere Mittel außer dem durch die Düse 32 austretenden Luftstrom entfernt werden. Eine derartige Säuberungs-Einrichtung könnte beispielsweise aus einer stationären- oder rotierenden Bürste bestehen, die den auf die Kontaktfedern 18 und den Träger gefallenen Schmutz abstreift.

Während in der bisherigen Beschreibung der erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung im Prüfgerät erwähnt wurde, daß die Säuberung der Kontaktfedern 18 und die Reinigung der Meßkontaktflächen 19 bei jedem Bewegungszyklus des Drehgestells 10 erfolgt, ist es in manchen Betriebsfällen nicht erforderlich, diese Reinigung in jedem Betriebszyklus auszuführen. Um dies zu verhindern, daß das Reinigungselement 20 in solch einem Betriebsfall über die Meßkontaktflächen 19 schleift, wird der Winkelhebel 21 in einer solchen Drehstellung blockiert, in der das Reinigungselement 20 sich im Abstand über den Meßkontaktflächen 19 befindet. Auch bei einem derart abgehobenen Reinigungselement 20 erfolgt noch eine gewisse Reinigung der Meßkontaktflächen 19 durch den von der Düse 32 ausgestoßenen Luftstrom, da auch dieser auf die Meßkontaktflächen 19 trifft und die nicht festhaftenden Sthmutzpartikeln wegbläst.

Während in der Teststation 17 nach Fig.4 drei Kontaktfedern 18 auf einem hohlzylindrischen Träger befestigt sind, der in seiner Höhe und Seitenstellung einstellbar ist, können den jeweiligen Testerfordernissen entsprechend eine oder mehrere Kontaktfedern 18 auf dem Träger angeordnet sein, je nachdem, wie viele Meßkontakte in den einzelnen Teststationen 17 gebraucht werden.

Es ist ein Vorzug dieser erfindungsgemäßen Reinigungseinrichtung im Prüfgerät, daß durch sie mit Sicherheit verhindert wird, daß die Meßkontaktflächen 19 von den an den Prüflingen 12 haftenden Schmutzpartikeln verunreinigt werden und daß durch andere nachteilige Einwirkungen auf die Kontaktflächen 19 der Meßkontakte, z. B. Ablagerungen von Schmuizpartikeln aus der Umgebungsluft oder die Bildung von Fremdschichten sich nicht auf das Testergebnis auswirken können, da auch sie durch das Reinigungselement 20 vor jedem Test automatisch von den Meßkontaktflächen 19 beseitigt werden. Ein anderer Vorzug ist, daß die Tests besser und zuverlässiger sind, weil die wesentlichen Störeinflüsse, z. B. variable Übergangswiderstände an den Anschlußstellen der Prüflinge 12, beseitigt sind und demzufolge die Tests auf einer eindeutigen Basis beruhen. Weitere Vorzüge der verbesserten Testvorrichtung sind außerdem, daß die eingebaute automatische Reinigungseinrichtung eine einfache, übersichtliche und kaum störungsanfällige Konstruktion ist, daß durch

die automatische Reinigung der Meßkontaktflächen 19 die Kosten für den Test der Prüflinge 12 sich verringern, daß sich die Gesamtzeit zur Durchführung der Tests beachtlich vermindert, weil die Testvorrichtung zum Reinigen der Meßkontaktflächen 19 nicht mehr in ihrem

Betriebsablauf angehalten werden muß, daß eine gleichmäßige Güte der Kontaktreinigung erreicht wird, daß die Meßkontaktflächen 19 weitestgehend geschont werden und daß die Kanten der Meßkontakte scharf und ihre Kontaktflächen 19 eben bleiben.

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (8)

Patentansprüche:

1. Reinigungseinrichtung für die Kontaktflächen von Meßkontakten in einem elektrischen Prüfgerät zum Test von taktweise nacheinander zugeführten elektrischen Prüflingen, insbesondere kleinen Schaltungsplättchen, Moduls und dgU wobei das Prüfgerät wenigstens eine die Meßkontakte der elektrischen Prüfeinrichtung enthaltende Teststation aufweist und außerdem ein im Arbeitstakt bewegbares Gestell enthält, das wenigstens mit einer steuerbaren, einen Prüfling aufnehmenden ersten Halterung versehen ist, die den Prüfling über eine bestimmte Strecke trägt und diesen in einem Arbeitstakt so in die Testststion befördert daß sich eine elektrische Verbindung zwischen dessen Anschlußkontakten und den entsprechend angeordneten Meßkontakten ergibt und die in einem folgenden Arbeitskoptakt den Prüfling aus der Teststation entfernt, dadurch gekennzeichnet, daß in Bewegungsrichtung des Gestells (10) in einem bestimmten Abstand vor der ersten Halterung (11) ein Kontaktreinigungselement (20) mittels einer zweiten Halteeinrichtung (22 bis 31) federnd am Gestell (10) befestigt und so angeordnet ist, daß während des Arbeitstaktes, bei dem die erste Halterung (11) den Prüfling (12) in die Teststation (17) führt, die Reinigungsfläche vom Kontaktreinigungselement (20) dem Prüfling (12) zwangsweise voreilend über die Kontaktflächen (19) der Meßkontakte (18) streicht und diese reinigt, bevor der Prüfling (12) an den Meßkontakten (18,19) angelangt ist, daß eine steuerbare Säuberungseinrichtung (32) für die Teststation (17) vorgesehen ist, deren kurzzeitige Aktivierung spätestens am Ende der durch das Kontaktreinigungselement (20) bewirkten Meßkontaktreinigung erfolgt und daß diese Säuberungseinrichtiing (32) so angeordnet und ausgelegt ist, daß sie die Bildung von schädlichen Kontaktbrücken in der Teststation (17) verhindert und die darin angeordneten Kontaktfedern (18) und Verbindungsleiter säubert.

2. Reinigungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der Teststation (17) die zu reinigenden Kontaktflächen (19) der federnden Meßkontakte (18) in geringem Abstand nebeneinander in einer Ebene liegen, daß das Kontaktreinigungselement (20) aus einem länglichen Abziehstein besteht und daß dessen die Meßkontaktflächen (19) mit geringem Druck berührende Reinigungsfläche in der Bewegungsrichtung eine schwache, konvexe Krümmung aufweist (F i g. 3).

3. Reinigungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Kontaktreinigungselement (20) eine Drahtbürste, eine Filzscheibe oder ein auf die Kontaktflächen (19) gerichteter steuerbarer Luftstrahl vorgesehen ist.

4. Reinigungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßkontakte (18) und das Kontaktreinigungselement (20) zueinander ei;.stellbar sind und daß im Prüfgerät eine automatisch gesteuerte Vorrichtung zum Anheben und Absenken des Kontaktreinigungselementes (20) vorgesehen ist.

5. Reinigungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daU die zweite Halteeinrichtung ein Bestandteil der steuerbaren Vorrichtung zum Anheben und Absenken des Kontaktreinigungselementes (20) ist, und daß diese Vorrichtung

durch eine mechanische Nocken enthaltende Einrichtung oder eine wenigstens einen Elektromagnet enthaltende Einrichtung betätigbar ist

6. Reinigungseinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet daß das Kontaktreinigungselement (20) über eine Justiervorrichtung (25,27) an einem am beweglichen Gestell (10) schwenkbeweglich angeordneten Hebel (21) befestigt ist daß dieser Hebel (21) in seinem Endbereich eine Laufrolle (29) aufweist die auf einer stationären nockenförmig gestalteten Kurvenschiene (28) aufliegt und daß eine Feder (30) vorgesehen ist die die Laufrolle (29) auf die Kurvenschiene (28) drückt

7. Reinigungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 6, dadurch gekennzeichnet daß die Säuberungseinrichtung (32) auf dem bewegbaren Gestell (10) zwischen dem Kontaktreinigungselement (20) und der ersten Halterung (11) für den Prüfling (12) angeordnet ist und daß sie bei der Vorbeibewegung an den Meßkontakten (18, 19) auf diese und die Teststation (17) einwirkt

8. Reinigungseinrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 7, dadurch gekennzeichnet daß die Säuberungseinrichtung (32) eine Düse enthält, die einen steuerbaren Luftstrahl liefert daß dieser Luftstrahl, nachdem das Kontaktreinigungselement (20) die Meßkontakte (18,19) passiert hat kurzzeitig auf die Meßkontakte (18,19) und deren Trager in der Teststatio:i (17) gerichtet ist.