DE19860560B4 - Verwendung einer gebrauchten Wolfram-Prüfmesssonde - Google Patents

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Abstract

Verwendung einer gebrauchten Wolfram-Prüfmesssonde, die so umgearbeitet wurde, dass sie einen zylindrischen Unterabschnitt (12), einen dreieckigen Zwischenabschnitt (14) und einen flach abgeschliffenen, rechteckigen Spitzenabschnitt (16) aufweist, als Justierwerkzeug zur Justierung von deformierten oder schlecht ausgerichteten Wolfram-Prüfmesssonden in einer Prüfeinrichtung für Halbleiterscheiben, in der Wolfram-Prüfmesssonden in Kontakt mit den Anschlussflächen von Halbleiterchips auf der Halbleiterscheibe gebracht werden.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf Justierwerkzeuge zur Justierung der Position von Prüfmesssonden in einer Prüfeinrichtung für Halbleiterscheiben, bei der die Prüfmesssonden in Kontakt mit den Anschlussflächen von Halbleiterchips auf der Halbleiterscheibe gebracht werden.
  • Halbleiterchips werden in einem Schachbrettmuster auf einer Halbleiterscheibe hergestellt. Im Verlauf des Herstellungsprozesses für Halbleiterchips wird zur Erhöhung der Leistungsfähigkeit der Herstellung jeder einzelne Halbleiterchip, der auf der Halbleiterscheibe gebildet wird, dadurch geprüft, dass Prüfmesssonden mit nadelförmigen Spitzen in Kontakt mit den Anschlussflächen des Chips gebracht sowie Prüfsignale durch die Prüfmesssonden abgegeben und nachgewiesen werden. Nach Beendigung der Prüfung werden die einzelnen Chips vor ihrer Weiterleitung zum Montageprozess getrennt. Die Chips, die sich bei der Prüfung als fehlerhaft erwiesen haben, werden nicht zum Montageprozess weitergeleitet.
  • Genauer gesagt wird ein elektrischer Kontakt zwischen der Prüfausrüstung für Halbleiterchips und jedem Chip auf einer Scheibe unter Verwendung einer als „Messsondenplatte" bezeichneten Leiterplatte hergestellt. Die Messsondenplatte hat eine Öffnung, um den Zugang zur Halbleiterscheibe zu ermöglichen. Die Öffnung ist von leitfähigen Anschlussflächen umgeben, die durch die Messsondenplatte mit Plattenanschlüssen verbunden sind, um so mit einer geeigneten Prüfeinrichtung verbunden zu werden. Die aus Wolfram bestehenden Prüfmesssonden mit nadelförmigen Spitzen werden an ausgewählten leitfähigen Anschlussflächen befestigt. Die Prüfmesssonden erstrecken sich über die Öffnung.
  • Während der Anwendung wird eine Scheibe unter der Messsondenplatte platziert. Die Länge und die Ausrichtung jeder Prüfmesssonde sind so gestaltet, dass ihre Spitze eine entsprechende Anschlussfläche auf einem Halbleiterchip auf einer Scheibe abgreift. Um einen wirksamen Kontakt herzustellen, muss die Spitze der Prüfmesssonde mit ausreichender Kraft auf die Anschlussflächen drücken, um eine feste Verbindung mit ihnen zu gewährleisten.
  • Mit zunehmender Verwendungsdauer werden die Prüfmesssonden deformiert bzw. in ihrer Ausrichtung beeinträchtigt. Daraus ergibt sich die Notwendigkeit, deformierte bzw. schlecht ausgerichtete Prüfmesssonden mittels Werkzeugen wieder in die richtige Lage bringen. Solche Werkzeuge sind z. B. aus dem Produktkatalog „Farnell", Bauelemente für die Elektronik v. 8.9.94, S. 862 bekannt.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, derartige Werkzeuge anzugeben, die insbesondere in Anbetracht der schrumpfenden Größen der Halbleiterchips und der äußerst geringen Abstände zwischen den Prüfmesssonden genau und deren Herstellungskosten trotzdem gering sind.
  • Erfindungsgemäß wird die Aufgabe gelöst durch die Merkmale des Anspruchs 1. Zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
  • Danach werden die Justierwerkzeuge aus gebrauchten Prüfmesssonden hergestellt, die aus Wolfram bestehen.
  • Das Werkzeug ist zweckmäßig mit einer Titannitridschicht überzogen, um die Lebensdauer des Werkzeugs zu verlängern.
  • Die Werkzeuge werden in eine für die Justierung zweckmäßige Form gebracht, was durch mechanisches Verformen, ggf. unter Hitzeeinwirkung, erfolgt und werden ggf. angeschliffen.
  • Die oben erwähnten Aspekte und sich aus der Erfindung ergebende Vorteile werden durch die folgenden Ausführungsbeispiele noch verständlicher. In den zugehörigen Zeichnungen zeigen
  • 1A eine Querschnittsseitenansicht eines Werkzeugs gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
  • 1B eine Querschnittsvorderansicht des in 1A gezeigten Werkzeugs,
  • 2A eine Querschnittsseitenansicht eines Werkzeugs gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
  • 2B eine Querschnittsvorderansicht des in 2A gezeigten Werkzeugs,
  • 3 eine Querschnittsseitenansicht eines Werkzeugs gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung und
  • 4 eine perspektivische Ansicht des in 3 gezeigten Werkzeugs, wobei das Werkzeug von einer Handhabungsvorrichtung erfasst ist.
  • 1A bis 3 zeigen drei Ausführungsformen eines Werkzeugs zur Justierung von deformierten bzw. schlecht ausgerichteten Prüfmesssonden, die bei der Prüfung von Halbleiterchips verwendet werden. Die Werkzeuge gemäß allen drei Ausführungsformen der Erfindung werden aus ausrangierten Prüfmesssonden hergestellt. Die ausrangierten Prüfmesssonden werden mit einem Schleifgerät mit. einer Sandpapierspitze oder nach einem anderen geeigneten Verfahren zur Herstellung der Werkzeuge angeschliffen. Da die ausrangierten Prüfmesssonden sonst nicht anderweitig verwendbar sind und verworfen würden, sind die Materialkosten bei der Herstellung der Werkzeuge gering.
  • Die Prüfmesssonden bestehen im allgemeinen aus Wolfram. Wolfram eignet sich besonders gut für die Herstellung der Werkzeuge, da sie so aus dem gleichen Material wie die zu justierenden Prüf messsonden. bestehen, wodurch eine Beschädigung der Spitzen der Prüfmesssonden weniger wahrscheinlich wird.
  • In den 1A und 1B wird ein Werkzeug zur Positionierung von Prüfmesssonden gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung gezeigt. Das Werkzeug wird im folgenden mit Justierwerkzeug 10 bezeichnet. 1A zeigt eine Querschnittsseitenansicht des Justierwerkzeugs 10, und 1B zeigt eine Querschnittsvorderansicht des Justierwerkzeugs 10.
  • Das Justierwerkzeug 10 hat drei Abschnitte, die ein einheitliches Ganzes bilden: den Unterabschnitt 12, den Zwischenabschnitt 14 und den Spitzenabschnitt 16. Der Unterabschnitt 12 ist von zylindrischer Form und hat vorzugsweise einen Durchmesser von ca. 500 μm und eine Länge von ca. 5 mm. Der Zwischenabschnitt 14 beginnt an einem Ende 18 des Unterabschnitts 12 und läuft zu einer länglichen Spitze 20 zu. Der Zwischenabschnitt 14 ist vorzugsweise ca. 1,5 mm hoch. Der Spitzenabschnitt 16 erstreckt sich von der länglichen Spitze 20 des Zwischenabschnitts 14 und bildet eine rechteckige Oberfläche 22 an seinem freien Ende, die vorzugsweise ca. 100 μm mal 500 μm umfasst. Der Spitzenabschnitt 16 ist vorzugsweise ca. 3,5 mm lang.
  • In einer alternativen Ausführungsform ist es auch möglich, den Unterabschnitt 12 und den Zwischenabschnitt 14 wegzulassen.
  • 2A und 2B zeigen eine zweite Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Werkzeugs. Das Werkzeug wird hier als Drückerwerkzeug 30 bezeichnet. 2A ist eine Querschnittsseitenansicht des Drückerwerkzeugs 30, und 2B ist eine Querschnittsvorderansicht des Drückerwerkzeugs 30. Das Drückerwerkzeug hat einen Unterabschnitt 32 und einen Spitzenabschnitt 34. Der Unterabschnitt 32 ist von zylindrischer Form und hat vorzugsweise einen Durchmesser von ca. 500 μm und eine Länge von ca. 9,7 mm. Wie in 2A dargestellt, hat der Spitzenabschnitt 34 ein dreieckiges Seitenprofil. Wie in 2B dargestellt, bildet der Spitzenabschnitt 34 zwei runde Oberflächen 36 an seinem freien Ende. Die runden Oberflächen 36 haben vorzugsweise einen Durchmesser von ca. 50 μm und sind mit einem Zwischenraum von ca. 200 μm zueinander angeordnet. Der Spitzenabschnitt 34 hat einen konkaven Bereich 38 zwischen den beiden runden Oberflächen 36. Der konkave Bereich 38 ist dazu einsetzbar, eine Prüfmesssonde der Länge nach zu drücken.
  • 3 zeigt eine Querschnittsseitenansicht eines Werkzeugs gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung. Das Werkzeug wird hier als Hakenwerkzeug 40 bezeichnet. Das Hakenwerkzeug 40 hat einen Unterabschnitt 42 und einen Hakenabschnitt 44. Der Unterabschnitt 42 ist von zylindrischer Form und hat vorzugsweise einen Durchmesser von ca. 200 μm und eine Länge von ca. 920 mm. Der Hakenabschnitt 44 ist im wesentlichen U-förmig und hat eine Durchmesserstärke von ca. 200 μm. Das durch den Hakenabschnitt 44 gebildete „U" hat vorzugsweise eine Höhe von ca. 800 μm und eine Breite von ca. 1 mm. Das Hakenwerkzeug 40 wird hergestellt, indem die ausrangierte Prüfmesssonde auf ca. 100 °C erhitzt und die Spitze der Prüfmesssonde so gebogen wird, dass eine Hakenform entsteht. Dann wird das Hakenwerkzeug 40 abgekühlt.
  • Zur Verlängerung der Lebensdauer des Werkzeugs gemäß allen drei Ausführungsformen wird eine Schicht aus Titannitrid (TiN) auf die Werkzeugoberfläche aufgetragen. Das Titannitrid ist im PVD-Verfahren oder nach anderen bekannten geeigneten Verfahren auftragbar. Vorzugsweise ist die TiN-Schicht ca. 3 bis 5 μm stark. Eine 3 bis 5 μm starke TiN-Schicht verlängert die Lebensdauer des Werkzeugs ca. 5 bis 7 mal.
  • Die Werkzeuge werden von einer in 4 gezeigten Handhabungsvorrichtung 46 erfasst. 4 zeigt ein von der Handhabungsvorrichtung 46 erfasstes Hakenwerkzeug 40. Jedoch ist die Handhabungsvorrichtung 46 auch zur Handhabung des Justierwerkzeugs 10 und des Drückerwerkzeugs 30 verwendbar. Die Handhabungsvorrichtung 46 klemmt das Hakenwerkzeug 40 ein. Die Handhabungsvorrich tung 46 schließt einen Griff 48 ein, mit dem ein Benutzer die Handhabungsvorrichtung 46 halten und dirigieren kann. Ein drehbarer Abschnitt 50 wird in eine Richtung gedreht, um eine Mehr- zahl von Klemmen 52 zentral nach innen zu bewegen, damit das Hakenwerkzeug 40 in Position gehalten wird. Der drehbare Abschnitt 50 wird in eine entgegengesetzte Richtung gedreht, um die Klemmen 52 nach außen zu bewegen, damit das Hakenwerkzeug 40 gelöst wird. Es sind mindestens zwei Klemmen 52 und vorzugsweise mindestens drei Klemmen 52 vorhanden. Der Griff 48 und der drehbare Abschnitt 50 können aus einem beliebigen geeigneten Material, zum Beispiel Metall oder Plastik, bestehen. Die Klemmen 52 können aus Metall oder einem beliebigen anderen geeigneten Material bestehen.
  • In einer alternativen Ausführungsform ist das Werkzeug an einem länglichen Stab, der aus einem unelastischen Material besteht, anbringbar.

Claims (5)

  1. Verwendung einer gebrauchten Wolfram-Prüfmesssonde, die so umgearbeitet wurde, dass sie einen zylindrischen Unterabschnitt (12), einen dreieckigen Zwischenabschnitt (14) und einen flach abgeschliffenen, rechteckigen Spitzenabschnitt (16) aufweist, als Justierwerkzeug zur Justierung von deformierten oder schlecht ausgerichteten Wolfram-Prüfmesssonden in einer Prüfeinrichtung für Halbleiterscheiben, in der Wolfram-Prüfmesssonden in Kontakt mit den Anschlussflächen von Halbleiterchips auf der Halbleiterscheibe gebracht werden.
  2. Verwendung einer gebrauchten Wolfram-Prüfmesssonde nach Anspruch 1, wobei der Spitzenabschnitt (16) zu einem U-förmigen Endabschnitt (44) umgearbeitet wurde.
  3. Verwendung einer gebrauchten Wolfram-Prüfmesssonde nach Anspruch 1, wobei der Spitzenabschnitt zu einem konkaven Bereich (38) umgearbeitet wurde.
  4. Verwendung einer gebrauchten Wolfram-Prüfmesssonde nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei auf sie eine Außenschicht aus Titannitrid aufgebracht wurde.
  5. Verwendung einer gebrauchten Wolfram-Prüfmesssonde nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei diese in eine Handhabungsvorrichtung (46) mit einem Griff (48), einem drehbaren, am Griff (48) befestigten Abschnitt (50) und einer Mehrzahl von Klemmen (52) zum Halten eines Gegenstandes, wenn der drehbare Abschnitt (50 in eine erste Richtung gedreht wird, und zum Lösen des Gegenstandes, wenn der drehbare Abschnitt (50) in eine zweite Richtung gedreht wird, eingebracht wurde.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US4001685A (en) * 1974-03-04 1977-01-04 Electroglas, Inc. Micro-circuit test probe
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DE19617488A1 (de) * 1996-05-02 1997-11-13 Gustav Dr Krueger Kontaktelement für lösbare elektrische Verbindungen

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Produktkatalog "Farnell", Bauelemente für die Elektronik, 8. Sept. 1994, S. 862 *

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