WO2001057541A1

WO2001057541A1 - Adapter zum prüfen von leiterplatten und prüfnadel für einen solchen adapter

Info

Publication number: WO2001057541A1
Application number: PCT/EP2001/001123
Authority: WO
Inventors: Manfred Prokopp
Original assignee: Atg Test Systems Gmbh & Co Kg
Priority date: 2000-02-04
Filing date: 2001-02-02
Publication date: 2001-08-09
Also published as: KR20030009350A; DE10004974A1; CN1244815C; CN1398351A; KR100663270B1

Abstract

Die Erfindung betrifft einen Adapter zum Prüfen von Leiterplatten und eine Prüfnadel für einen solchen Adapter. Der erfindungsgemäße Adapter zeichnet sich durch zwei gegeneinander verschiebliche Einheiten aus, wobei jede Einheit eine oder mehrere Führungsplatten aufweist. Die Führungsplatten sind mit Führungsbohrungen versehen. Die Führungsbohrungen der Führungsplatte einer Einheit sind jeweils im gleichen Muster angeordnet. Diese Muster entsprechen entweder dem Muster der Leiterplattentestpunkte einer zu prüfenden Leiterplatte oder dem Muster von Prüfkontakten eines Grundrasters der Prüfvorrichtung. Beim Bestücken des Adapters werden die beiden Einheiten derart verschoben, daß die zu einer Prüfnadel korrespondierenden Führungslöcher in Flucht angeordnet sind, so daß die Prüfnadeln senkrecht zu den Führungsplatten in den Adapter eingeführt werden können. Dieser Bestückungsvorgang aus Verschieben der Adaptereinheiten und Zuführen der Prüfnadeln wird so oft wiederholt, bis der gesamte Adapter bestückt ist. Es ist eine Fixiereinrichtung zum Fixieren der beiden Einheiten in einer Null-Stellung, in der alle Führungslöcher einer der beiden Einheiten einen Mindest-Versatz zu den korrespondierenden Führungslöchern der anderen Einheit aufweisen, vorgesehen, so daß alle Prüfnadeln durch Reibschluß im Adapter gehalten werden.

Description

Adapter zum Prüfen von Leiterplatten und Prüfnadel für einen solchen Adapter

Die Erfindung betrifft einen Adapter zum Prüfen von Leiterplatten und eine Prüfnadel für einen solchen Adapter.

Aus der EP 149 767 B2 geht ein Adapter für ein Leiterplattenprüfgerät hervor, mittels welchem im Raster befindliche Prüfkontakte einer Prüfvorrichtung mit außer oder in und außer Raster befindlichen Leiterplatten'-estpunkten einer zu prüfenden Leiterplatte durch Adapterstifte verbindbar sind. Dieser Adapter weist drei Führungsplatten auf, die parallel zueinander in einem festen Abstand voneinander angeordnet sind. Die Führungsplatten sind mit Führungslöcher versehen, in die die Adapterstifte einsteckbar sind. Die Führungslöcher sind derart in die Führungsplatten eingebracht, daß die Adapterstifte sich geradlinig von den Prüfkontakten zu den Leiterplattentest- punkten erstrecken. Die einzelnen Adapterstifte können sowohl vertikal zu den Führungsplatten als auch schräg dazu angeordnet sein, so daß die unterschiedlichen Anordnungen der Prüfkontakte und der Leiterplattentestpunkte elektrisch miteinander verbunden sind. Durch die schräge Anordnung der Adapterstifte wird die Anpassung an außer Raster angeordnete Leiterplattentestpunkte ermöglicht. In der EP 0 215 146 B1 (entspricht der US 4,721 ,908) wird ein Adapter zum Prüfen von Leiterplatten beschrieben, der wiederum Führungsplatten aufweist, die parallel zueinander mit vorbestimmten Abstand angeordnet sind und in Führungslöcher eingebracht sind. Zum Kontaktieren der Prüfkontakte einer Prüfvorrichtung mit den Leiterplattentestpunkten einer zu testenden Leiterplatte werden sogenannte Starrnadeln verwendet. Starrnadeln sind Prüfnadeln mit einer über ihrer gesamten Länge konstanten Querschnittsfläche. Diese Prüfnadeln können kostengünstig hergestellt werden. Bei dem Adapter nach der EP 0 215 146 B1 werden die Starrnadeln mittels einer elastischen Platte im Adapter durch Reibschluß gehalten.

In der EP 0 315 707 B1 ist ein weiterer Adapter zum Prüfen von Leiterplatten beschrieben, der wiederum drei Führungsplatten besitzt, in welche Führungsbohrungen eingebracht sind. Bei diesem Adapter ist eine erste Führungsplatte mit Führungslöchern im Raster des Grundrasters der Prüfvorrichtung ausgebildet und bei der zwei- ten Führungsplatte sind die Löcher entsprechend den Leiterplattentestpunkten der zu prüfenden Leiterplatte angeordnet. Eine dritte Führungsplatte ist im Bereich zwischen der ersten und zweiten Führungsplatte mit geringem Abstand zur zweiten Führungsplatte angeordnet. Als Prüfnadeln werden Starrnadeln verwendet, die an einer bestimmten Stelle verquetscht sind, wodurch deren Querschnitt lokal verbreitert ist. Die- se Querschnittsverbreiterung wird im Bereich zwischen der zweiten und der dritten Führungsplatte angeordnet, so daß diese Prüfnadeln nicht aus dem Adapter fallen können. Ein Teil der Prüfnadeln ist in dem Bereich zwischen der ersten und dritten Führungsplatte biegsam ausgelenkt, um evtl. Fluchtungsfehler zwischen den Führungslöchern der Führungsplatten auszugleichen oder um eine Anpassung an lokale Erhöhung der Kontaktpunktdichte auf der zu prüfenden Leiterplatte zu schaffen. Dieser Adapter wird manuell bestückt, wobei die flexibel ausgelenkten Prüfnadeln von Hand ausgelenkt und in die entsprechenden Führungslöcher eingeführt werden.

In der Praxis haben sich die Adapter mit geradlinig verlaufenden Prüfnadeln durch- gesetzt, da diese maschinell bestückt werden können. Mit einer Bestückungsvorrichtung werden die Prüfnadeln an der Führungsbohrung der obersten Führungsplatte eingeführt. Durch das Vorsehen weiterer Führungsplatten mit entsprechenden Führungsbohrungen werden die Führungsnadeln geradlinig bis zur untersten Führungs- platte geführt, wobei die Führungsbohrungen so angeordnet sind, daß möglichst keine Fehlbestückungen durch Einführen einer Prüfnadeln in eine falsche Kombination von Führungslöchern der unterschiedlichen Führungsplatten möglich ist. Um eine automatische Bestückung zu ermöglichen, ist es in der Regel notwendig mindestens fünf Führungsplatten vorzusehen. Üblicherweise weisen derartige Adapter fünf bis zwölf Führungsplatten auf. Aufgrund der zum Teil schrägen Anordnung der Prüfnadeln müssen die Bohrungen der einzelnen Führungsplatten in unterschiedlichen Mustern angeordnet sein. Deshalb muß für jede Führungsplatte ein spezielles Bohrmuster berechnet werden. Da die Prüfnadeln schräg durch die einzelnen Führungs- platten verlaufen, werden die Bohrungen abgestuft gebohrt, das heißt, daß zunächst eine schmale Bohrung durch die Führungsplatte hindurch gebohrt wird und dann im Bereich der Oberflächen der Führungsplatte eine Bohrung mit größerem Durchmesser gebohrt wird. Hierdurch ist es möglich, daß die Prüfnadeln schräg gegenüber einer auf den Führungsplatten senkrechten Linie angeordnet sein können. Das Bohren dieser abgestuften Bohrungen erfordert für jede Führungsplatte zumindest zwei Bohrlöcher. Das Bohren der Führungsplatten stellt einen erheblichen Kostenfaktor bei der Herstellung der Adapter dar.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Adapter zum Prüfen von Leiterplat- ten zu schaffen, der einfach und kostengünstig herstellbar ist und maschinell bestückt werden kann.

Die Aufgabe wird durch einen Adapter mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.

Der erfindungsgemäße Adapter zum Prüfen von Leiterplatten weist Prüfnadeln, die zum elektrischen Verbinden eines Prüfkontaktes eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten und eines Leiterplattentestpunktes der zu prüfenden Leiterplatte vorgesehen sind, und Führungsplatten auf, die mit Führungslöchern versehen sind, durch die sich die Prüfnadeln erstrecken, wobei die Führungslöcher der zu prüfenden Leiterplatte weisenden Führungsplatte im gleichen Muster wie die Leiterplattentestpunkte einer zu prüfenden Leiterplatte und die Führungslöcher der zum Grundraster weisenden Füh- rungsplatte im gleichen Muster wie die Prüfkontakte des Grundrasters angeordnet sind.

Der erfindungsgemäße Adapter zeichnet sich dadurch aus, daß die Führungsplatten zwei Einheiten bilden, die jeweils eine der mehrere Führungsplatten umfassen, daß die Führungslöcher aller Führungsplatten der jeweiligen Einheit im gleichen Muster angeordnet sind, und daß zumindest eine der beiden Einheiten derart quer zu den Prüfnadeln verschieblich angeordnet ist, daß die einander zugeordneten Führungslöcher der beiden Einheiten durch die sich die gleiche Prüfnadel erstreckt, paarweise in Flucht gebracht werden können.

Da die Führungslöcher aller Führungsplatten der jeweiligen Einheit im gleichen Muster angeordnet sind, können alle Führungsplatten einer Einheit mit dem gleichen „Bohrprogramm" gebohrt werden. Grundsätzlich ist es auch möglich, daß mehrere Führungsplatten auf einmal übereinanderliegend mit einer Bohrspindel gebohrt werden, die in einem einzigen Bohrvorgang durch mehrere Führungsplatten getrieben wird. Zum Bohren identischer Bohrmuster sind Bohrmaschinen mit vier oder fünf Bohrspindeln bekannt, die an einer gemeinsamen Halterung befestigt sind und ge- meinsam bewegt werden, so daß in den entsprechenden Leiterplatten identische Bohrmuster eingebracht werden.

Die Führungslöcher können somit sehr kostengünstig eingebracht werden, ohne daß hierbei unterschiedliche Bohrprogramme, die mit unterschiedlichen Bohrmustern boh- ren, angewendet werden müssen oder Stufenbohrungen eingebracht werden müssen, die zumindest zwei Bohrvorgänge erfordern.

Da eine der beiden Einheiten quer zu den Prüfnadeln verschieblich angeordnet ist, können beim Bestücken des Adapters die einer Prüfnadel zugeordneten Führungslö- eher der beiden Einheiten in Flucht gebracht werden, so daß die Prüfnadeln einfach, auch von einer automatisch arbeitenden Bestückungsvorrichtung, in die Führungslöcher eingebracht werden können. Durch das weitere Verschieben der Einheiten werden die Prüfnadeln im Bereich zwischen den beiden Einheiten des Adapters etwas gebogen, so daß durch die in den Prüfnadeln bestehende Spannung sich in den Führungslöchern ein Reibschluß ausbildet, der es erlaubt, selbst glatte Nadeln ohne Vorsprünge oder dergleichen sicher im Adapter zu halten.

Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Adapters ist, daß bei gleicher Größe weniger Führungsplatten als bei bekannten Adaptern mit schräg gestellten Nadeln benötigt werden, da aufgrund des geradlinigen Verlaufes der Führungsnadeln innerhalb der Einheiten der Abstand zwischen den Führungsplatten größer gewählt werden kann.

Nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind die Prüfnadeln zumindest in den sich durch die Führungslöcher erstreckenden Bereichen mit einer rei- bungsvermindernden Schicht versehen, so daß die Prüfnadeln bei Benutzung durch die Führungslöcher geschoben werden können, ohne daß sie im Bereich zwischen den beiden Einheiten ausbiegen.

Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Bestücken des erfindungsgemäßen Adapters wird in einem ersten Schritt die verschiebliche Einheit derart bewegt, daß die Führungslöcher der beiden Einheiten, die einer Prüfnadel zugeordnet sind, in Flucht gebracht werden, und in einem zweiten Schritt eine oder mehrere Prüfnadeln in die fluchtenden Führungslöcher eingebracht. Diese beiden Schritte werden so oft wiederholt, bis der Adapter bestückt ist.

Zum Bestücken des erfindungsgemäßen Adapters ist eine Vorrichtung vorgesehen, die einen Verschiebemechanismus aufweist, der die verschiebliche Einheit des A- dapters automatisch derart verschieben kann, daß die entsprechenden Führungslöcher in Flucht gebracht werden.

Nachfolgend wird die Erfindung näher anhand in der Zeichnung dargestellten Ausfüh- rungsbeispielen erläutert. In der Zeichnung zeigen schematisch:

Fig. 1 einen Bereich eines erfindungsgemäßen Adapters in einer Schnittdarstellung, Fig. 2 eine Bestückungsvorrichtung in perspektivischer Ansicht,

Fig. 3 eine Prüfnadel mit zwei Gelenkbereichen,

Fig. 4 eine Prüfnadel mit einem Gelenkbereich,

Fig. 5 schematisch vereinfacht ein erfindungsgemäßer Adapter in der Draufsicht, und

Fig. 6a bis 6c jeweils eine Lochmatrix des in Fig 5 gezeigten Adpaters.

In Fig. 1 ist ein Ausschnitt eines erfindungsgemäßen Adapters schematisch dargestellt. Der erfindungsgemäße Adapter 1 weist vier Führungsplatten 2 bis 5 auf, die im wesentlichen parallel zueinander angeordnet sind. In den Führungsplatten 2 bis 5 sind Führungslöcher 6 eingebracht. In den Führungslöchern 6 lagern Prüfnadeln 7, die sich von Prüfstiften 8 einer Vollrasterkassette 9 bis zu Leiterplattentestpunkten 10 einer zu prüfenden Leiterplatte 11 erstrecken.

Die Prüfstifte 8 sind zueinander parallel angeordnet und stehen mit Prüfkontakten eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten in Kontakt. Die Prüfstifte sind somit im Raster der Prüfkontakte des Grundrasters angeordnet. Die Prüfstifte 8 sind federnd ausgebildet.

Die benachbart zum Grundraster 9 angeordnete Führungsplatte 2 wird nachfolgend als Basisplatte 2 bezeichnet. Die angrenzend an der zu prüfenden Leiterplatte 11 angeordnete Führungsplatte 5 wird nachfolgend als Kontaktplatte 5 bezeichnet.

Die Führungslöcher 6 sind in die Basisplatte 2 mit dem gleichen Muster eingebracht wie die Prüfkontakte 8 im Grundraster 9 bzw. wie die Prüfstifte 8 der Vollrasterkas- sette 9 angeordnet sind. In der Kontaktplatte 3 sind die Führungslöcher 6 mit dem gleichen Muster wie die Leiterplattentestpunkte 10 der zu prüfenden Leiterplatte 11 angeordnet. Somit ist jedem Prüfkontakt 8 ein Führungsloch 6 der Basisplatte 2 und jedem Leiterplattentestpunkt 10 ein Führungsloch 6 der Kontaktplatte 5 zugeordnet. Die Basisplatte 2 bildet zusammen mit den Führungsplatten 3 und 4 eine Einheit 12. Die Führungslöcher 6 der Führungsplatten 2 bis 4 der Einheit 12 sind mit dem identischem Muster auf den jeweiligen Führungsplatten 2 bis 4 angeordnet, das heißt, daß die Führungslöcher 6 dieser drei Führungsplatten 2 bis 4 alle im Muster der Prüfkontakte des Grundrasters angeordnet sind. Die Führungslöcher 6 sind durch vertikal zur Ebene der einzelnen Führungsplatten 2 bis 4 verlaufende Bohrungen eingebracht. Die Führungsplatte 3 ist starr mit der Basisplatte 2 mittels säulenartiger Abstandshalter 13 verbunden. Die Abstandshalter 13 sind mit den Führungsplatten 2, 3 ver- schraubt. Die Führungsplatte 4 ist mit der Führungsplatte 3 über ein Federelement 14 verbunden, so daß die Führungsplatte 4 quer zu ihrer Ebene bzw. parallel zu den Führungsnadeln 7 beweglich auf der Führungsplatte 3 angeordnet ist (in Richtung des Doppelpfeils 15). Das Federelement ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel aus zwei teleskopartig ineinander gesteckten Buchsen 14a, 14b ausgebildet, in welchen eine Schraubenfeder (nicht dargestellt) angeordnet ist. Die Führungsplatten 2 bis 4 der Einheit 12 erlauben somit eine gewisse Bewegung in Längsrichtung der Prüf nadeln 7, jedoch sind diese Führungsplatten 2 bis 4 innerhalb der Einheit 12 nicht in eine Richtung quer zu den Führungsplatten 7 beweglich ausgebildet. Die Führungslöcher 6 dieser Führungsplatten 2 bis 4 sind in vertikaler Flucht übereinander ange- ordnet, so daß die Führungsnadeln 7 im Bereich der Einheit 12 senkrecht zu den Führungsplatten 2 bis 4 verlaufen. Die Führungslöcher 6 sind dementsprechend als vertikale Bohrungen eingebracht.

Die Kontaktplatte 5 bildet eine weitere Einheit 16, die im vorliegenden Beispiel ledig- lieh aus einer einzigen Führungsplatte 5 besteht. Die Kontaktplatte 5 ist mittels eines säulenartigen Abstandhalters 17 mit der Einheit 12 verbunden. Der Abstandshalter 17 weist an seinem an der Kontaktplatte 5 angrenzenden Ende einen Auflageabschnitt 17a auf, der gegenüber dem übrigen Bereich des Abstandhalters 17 verbreitert ist. Der Auflagerabschnitt 17a weist eine in der Draufsicht kreisförmige Auflage- fläche 18 auf. An der Auflagefläche 18 ist mittig ein Halteelement 19 befestigt, das aus einem Schafft 20 und einer kreisförmigen Halteplatte 21 ausgebildet ist. Der Schafft 20 steht senkrecht auf der Auflagefläche 18 und die Halteplatte 21 ist einstückig am Schafft 20 ausgebildet und parallel zur Auflagefläche 18 mit Abstand zu die- ser angeordnet. Der Schafft 20 erstreckt sich durch eine Öffnung 22 in der Kontaktplatte 5. Die Öffnung 22 ist als kreisförmige Bohrung ausgebildet mit einem deutlich größeren Durchmesser als der des Schaftes 20. Der Auflageabschnitt 17a und die Halteplatte 21 übergreifen mit ihren Randbereichen den Rand der Öffnung 22. Die Kontaktplatte 5 ist im Bereich der Halteplatte 21 mit einer Senke 23 ausgebildet, die in der Draufsicht kreisförmig ausgebildet ist und einen deutlich größeren Durchmesser als die Halteplatte 21 besitzt.

Diese Verbindung zwischen dem Abstandhalter 17 und der Kontaktplatte 5 besitzt ein Bewegungsspiel derart, daß die Kontaktplatte 5 in ihrer Ebene bewegt werden kann, wie es durch den 4-fach-Pfeil 24 in Fig. 1 angedeutet ist. Die Kontaktplatte 5 kann sich soweit bewegen, bis der Schafft 20 am Rand der Öffnung 22 anstößt. Dieser Kontakt begrenzt das Bewegungsspiel. Der maximale Bewegungsweg S beträgt somit sowohl in X- als auch in Y-Richtung gegenüber einer um den Schafft 20 zentrier- ten Position der Öffnung 22 die halbe Differenz zwischen dem Durchmesser D der Öffnung 22 und dem Durchmesser d des Schaftes 20:

S=¹/₂(D - d)

Die Kontaktplatte 5 weist eine Dicke von 1 cm auf. Wenn eine Einheit lediglich aus einer Führungsplatte ausgebildet ist, ist es zweckmäßig ein Platte mit einer Dicke von 0,5 cm bis 1 ,5 cm vorzusehen.

Beim Bestücken des Adapters wird die Kontaktplatte 5 derart bewegt, daß die Füh- rungslöcher 6 der Kontaktplatte 5 mit den korrespondierenden Führungslöchern 6 der weiteren Führungsplatten 2 bis 4 fluchten, so daß eine Nadel vertikal in alle Führungsplatten 2 bis 5 eingeführt werden kann. In einer solchen Stellung, bei der die Führungslöcher 6 miteinander fluchten, kann es sein, daß Führungslöcher 6 mehrerer Nadeln zueinander in Flucht angeordnet sind. Es werden dann die Nadeln all die- ser fluchtenden Führungslöcher in den Adapter eingeführt. Danach wird die Kontaktplatte 5 derart verschoben, daß andere Führungslöcher 6 der Kontaktplatte 5 zu den Führungslöchern 6 der Einheit 12 fluchten. Durch diese Verschiebung werden die vor dem Verschieben eingeführten Prüfnadeln im Bereich zwischen der Einheit 12 und der Einheit 16 gebogen, um den Versatz der Führungslöcher 6 der beiden Einheiten auszugleichen. In die durch die Verschiebung in Flucht gebrachten Führungslöcher 6 wird eine oder werden mehrere Prüfnadeln eingeführt, danach wird der Verschiebevorgang wiederholt. Das Verschieben und das Einführen der Nadeln wird solange wiederholt, bis der Adapter vollständig mit Prüfnadeln bestückt ist.

Durch das Biegen der Prüfnadeln 7 im Bereich zwischen den beiden Einheiten 12 und 16 wird eine Spannung in den Prüfnadeln 7 aufgebaut, die zu einem Reibschluß an den Führungslöchern 6 führt. Durch diesen Reibschluß können Starr- bzw. Glatt- nadeln verwendet werden, die eine durchgehend glatte Oberfläche besitzen, ohne daß sie aus dem Adapter 1 fallen. Glattnadeln sind z.B. Nadeln, die über ihre gesamte Länge einen konstanten Querschnitt -aufweisen oder lediglich an einem Ende konisch verjüngt sind. Kostengünstige Glattnadeln besitzen im unbelasteten Zustand einen geradlinigen Verlauf. Der Adapter nach Fig. 1 weist zwei Glattnadeln 7 auf. Die Längenänderungen aufgrund des Biegens der Prüfnadeln 7 sind so gering, daß sie von den federnden Prüfstiften 8 der Vollrasterkassette 9 vollständig ausgeglichen werden.

Während des Testens einer zu prüfenden Leiterplatte 1 1 wird der Adapter 1 gegen die Leiterplatte 11 gedrückt, so daß das Federelement 14 etwas zusammengedrückt wird und die Prüfnadeln 7 sowohl an der Basisplatte 2 als auch an der Kontaktplatte 5 ein Stück vorstehen, um die Prüfstifte 8 der Voll raste rkassette 9 bzw. die Leiterplattentestpunkte 10 der zu prüfenden Leiterplatte 11 sicher zu kontaktieren. Die Prüfnadeln müssen deshalb beim Beaufschlagen mit einer Kraft in Axialrichtung an einer Seite des Adapters zumindest einen erheblichen Teil dieser Kraft auf die andere Seite des Adapters übertragen. Sie dürfen deshalb nicht die beaufschlagte Kraft durch seitliches Ausbiegen im Bereich zwischen den beiden Einheiten absorbieren.

Es hat sich gezeigt, daß der Reibschluß zwischen den Führungslöchern 6 und den Prüfnadeln 7 so gering ist, daß bei einer solchen Beaufschlagung die Prüfnadeln 7 durch die entsprechenden Führungslöcher 6 zum Kontaktieren der Leiterplattentestpunkte 10 bzw. der Prüfstifte 8 gleiten können, ohne daß die Prüfnadeln 7 im Bereich zwischen den beiden Einheiten 12 und 16 seitlich ausbiegen. Es sind Versuche mit einem Adapter mit Glattnadeln durchgeführt worden, deren Durchmesser 0,2 mm, 0,25 mm und 0,3 mm betragen hat. Der Abstand A zwischen den Einheiten 12 und 16, der der Länge des Abstandhalters 17 entspricht betrug hierbei 20 mm bis 30 mm. Mit diesem Adapter sind maximale Versätze im Bereich von 5 bis 8 mm zwischen den Führungslöchern 6 der beiden Einheiten 12, 16 realisiert worden, ohne daß die Prüfnadeln zu stark ausgebogen sind. Überraschenderweise hat sich bei diesen Versuchen gezeigt, daß sogar ein Versatz von 10 mm möglich ist.

Falls stärkere Reibschlüsse auftreten sollten, beispielsweise aufgrund von größeren Versätzen, stärkeren Nadeln oder dergleichen, kann es zweckmäßig sein, die Prüfnadeln 7 mit einer reibungsmindernden Beschichtung zu versehen. Eine derartige geeignete Beschichtung ist z.B. Teflon. Mit einer solchen Beschichtung wird der Reibschluß begrenzt und ein seitliches Ausbiegen der Prüfnadeln im Bereich zwischen der beiden Einheiten 12, 16 verhindert, wenn die Prüfnadeln 7 im Betrieb an einem Ende mit einer Schiebekraft beaufschlagt werden.

Eine weitere Möglichkeit, den Reibschluß der Prüfnadeln 7 gering zu halten, ist das Vorsehen von Gelenkabschnitten 25 an den Prüfnadeln 7 (Fig. 3, 4). Die Gelenkabschnitte 25 sind durch verjüngte Bereiche an den Prüfnadeln 7 ausgebildet. An die- sen Gelenkabschnitten 25 können die Prüfnadeln 7 mit geringem Kraftaufwand abgebogen werden. Hierdurch werden die durch die Verspannung erzeugten Reibungskräfte gering gehalten und ein Gleiten der Prüfnadeln 7 durch die Führungslöcher 6 ist bei einer entsprechenden Beaufschlagung mit einer Kraft in Axialrichtung möglich, ohne daß die Prüf nadeln 7 im Bereich zwischen den beiden Einheiten 12, 16 seitlich ausbiegen.

Fig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Prüfnadeln mit zwei Gelenkabschnitten 25. In Fig. 4 ist ein Ausführungsbeispiel einer Prüfnadel mit einem einzigen Gelenkabschnitt 25 dargestellt. Die Kontaktspitze 26 dieser Prüfnadel 7 ist über einen längeren Bereich verjüngt ausgebildet. Diese Prüfnadel 7 ist für einen Adapter 1 geeignet, wie er in Fig. 1 gezeigt ist, dessen zur prüfenden Leiterplatte 11 benachbarte Einheit 16 aus lediglich einer einzigen Führungsplatte, der Kontaktplatte 5 besteht. Die verjüngte Kontaktspitze 26 erstreckt sich über die gesamte Länge des jeweiligen Füh- rungsloches 6 der Kontaktplatte 5, so daß bei einer Abbiegung der Prüfnadel 7 im Adapter 1 diese an der Kontaktspitze 26 und am Gelenkabschnitt 25 gebogen wird. Die restlichen Bereiche der Prüfnadel 7 verlaufen hingegen geradlinig.

In Fig. 2 ist grob schematisch vereinfacht eine Vorrichtung zum automatischen Bestücken eines erfindungsgemäßen Adapters 1 dargestellt. Die Bestückungsvorrichtung 28 weist eine Auflageplatte 29 mit einem Aufnahmebereich 30 für einen zu bestückenden Adapter 1 auf, der durch Halterungen 31 zum Fixieren des Adapters 1 auf der Auflageplatte 29 begrenzt ist. Mit den Halterungen 31 wird die untere Einheit 12 des Adapters 1 auf der Auflageplatte 29 fixiert. Auf der Auflageplatte 29 sind Ver- stelleinrichtungen 32 vorgesehen, die an der oberen Einheit 16 des Adapters 1 mit jeweils einem Stellzylinder angreifen und die obere Einheit 16 auf der unteren Einheit 12 verschieben können. Die Stellzylinder 33 werden beispielsweise elektrisch von einem Spindelantrieb derart betätigt, daß eine Positionierung der oberen Einheit 16 mit einer Genauigkeit von 0,1 mm möglich ist.

Die Bestückungsvorrichtung weist ferner einen Sammelbehälter 34 für die zu bestückenden Prüfnadeln auf, in dem eine Vereinzelungseinrichtung integriert ist, die die Prüfnadeln vereinzelt und über ein Rohrsystem 35 den Führungslöchern 6 des A- dapters 1 zuführen. Das Rohrsystem 35 wird beispielsweise von einem Roboterarm (nicht dargestellt) über den jeweiligen Führungslöchern 6 positioniert. Die Prüfnadeln werden vom Sammelbehälter 34 durch das Rohrsystem 35 und in die Führungslöcher 6 beispielsweise mittels Druckluft befördert. Es sind jedoch auch Rohrsysteme bekannt, bei welchen die Prüfnadeln durch Schwerkraft und mit mechanischen Mit- teln befördert werden. Das Rohrsystem 35 weist an seinem freien Ende einen trichterförmigen Ausgang 36 auf, mit dem die Prüfnadeln sehr präzise in die Führungslöcher 6 eingeführt werden können.

Das Bestücken des Adapters 1 erfolgt in der oben beschriebenen Art und Weise, bei der jeweils korrespondierende Führungslöcher 6 des Adapters 1 durch Verschieben mittels der Stelleinrichtung 32 in Flucht angeordnet werden und dann das Rohrsystem 35 über die fluchtenden Führungslöcher 6 positioniert wird, so daß die Prüfnadeln in den Adapter 1 eingeführt werden. Diese Vorgänge mit den Schritten des Ver- Schiebens bzw. Einführen der Prüfnadeln werden so oft wiederholt, bis der Adapter 1 vollständig bestückt ist.

Die Bestückungsvorrichtung kann auch halbautomatisch ausgebildet sein, indem ein Trichter vorgesehen ist, der automatisch über den entsprechenden Führungslöchern positioniert wird. In diesen Trichter werden die Prüfnadeln von Hand eingegeben.

Für den erfindungsgemäßen Adapter ist es zweckmäßig, daß die Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten, die oftmals Verschiebemechanismen zum Justieren des Adapters bezüglich der Leiterplatte bzw. der Leiterplatte bezüglich des Adapters besitzen, diese derart weiterzubilden, daß mit diesen Verschiebemechanismen auch die Einheiten 12, 16 des Adapters 1 gegeneinander verschoben werden können. Mit einer solchen Verschiebeeinrichtung wäre es dann z.B. möglich, eine defekte Prüfnadel 7 an der Prüfvorrichtung auszutauschen, wobei mit Hilfe der Verschiebeein- richtung die entsprechenden Führungslöcher 6 in Flucht gebracht werden. Hierdurch können einfache Wartungsarbeiten unmittelbar an der Prüfvorrichtung vorgenommen werden, ohne daß der gesamte Aufbau auf dem Grundraster der Prüfvorrichtung zerlegt werden muß.

Eine solche Verschiebeeinrichtung kann auch in den Adapter integriert sein. Es kann eine mit einem elektrisch betätigbaren Element (z.B. Piezoelement) ausgebildete Verschiebeeinrichtung vorgesehen sein. Es ist jedoch auch möglich eine manuell betätigbare Verschiebeeinrichtung vorzusehen.

Eine sehr einfache Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Stelleinrichtung ist in den Fig. 5 bis 6c dargestellt. Hierbei sind in den Führungsplatten 2 bis 5 der beiden Einheiten 12, 16 in einem übereinander angeordneten Bereich jeweils eine Lochmatrix 37 ausgebildet. Im dargestellten Ausführungsbeispiel weist jede Lochmatrix 7x7 Löcher 38a, 38b auf, die in einem Quadrat mit jeweils konstantem Lochabstand a bzw. b zwi- sehen den benachbarten Löchern 38a, 38b angeordnet sind. Die Löcher 38a, 38b sind in jeweils sieben Spalten 39 und sieben Reihen 40 angeordnet, wobei sich die Spalten in Y-Richtung und die Reihen in X-Richtung erstrecken. Die Löcher 38a, 38b der beiden Matrizen sind jeweils mit unterschiedlichem Rastermaß angeordnet. Der Lochabstand a der Löcher 38a (weiß in Fig. 6a bis 6c) der der Führungsplatte 5 der oberen Einheit 16 ist z.B. um Δs größer oder kleiner als der Lochabstand b der Löcher 38b (schwarz in Fig. 6a bis 6c) der Führungsplatten 2 bis 4 der unteren Einheit 12. In den beiden Matrizen 37 sind jeweils die Löcher 38a, 38b gleicher Reihe 40 und gleicher Spalte 39 einander paarweise zugeordnet. Durch Einstecken eines Stiftes (nicht dargestellt) in ein solches Lochpaar werden die beiden Löcher 38a, 38b des Lochpaares zueinander fluchtend ausgerichtet, wodurch die beiden Einheiten 12, 16 entsprechend relativ zueinander verschoben werden.

In einer Ausgangs-Stellung (Fig. 6a) wird das zentrale Lochpaar mit den Löchern 37a, 37b der vierten Reihe und der vierten Spalte zueinander fluchtend ausgerichtet, so daß die beiden Matrizen zueinander zentrisch ausgerichtet sind. Die Löcher 37a, 37b eines Lochpaares, das von dem zentralen Lochpaar um n Spalten und k Reihen entfernt ist, weisen einen Versatz von n-Δs in X-Richtung und k-Δs in Y-Richtung auf. Das bedeutet, daß der Versatz umso größer ist, je weiter die Lochpaare vom zentralen Lochpaar beabstandet sind. Wird somit ein anderes Lochpaar als das zentrale Lochpaar durch Einstecken eines Stiftes in Flucht gebracht, so werden die Einheiten 12, 16 um diesen Versatz verschoben. Werden z.B. die Löcher des Lochpaares der siebten Reihe und der siebten Spalte (Fig. 6b) zueinander ausgerichtet, so wird die obere Einheit 16 gegenüber der unteren Einheit 12 um 3-Δs in X-Richtung nach rechts und um 3-Δs in Y- Richtung nach unten verschoben, wie es an den seitlich dargestellten Testmarkierungen 41 für die obere Einheit 16 bzw. den Testmarkierungen 42 für die untere Einheit 12 erkennbar ist.

In Fig. 6c sind die Löcher 38a, 38b des Lochpaares der ersten Spalte und der dritten Reihe in Flucht gebracht, so daß die obere Einheit 16 gegenüber der unteren Einheit 12 um 3-Δs in X-Richtung nach links und um 1-Δs in Y-Richtung nach oben verschoben ist.

Mit den Lochmatrizen 37 können die Einheiten 12, 16 sehr präzise zueinander positioniert werden. Vorzugsweise weist ein Adapter zwei Versteileinrichtungen mit derartigen Lochmatrizen 37 auf, so daß die relative Position der beiden Einheiten 12, 16 eindeutig festgelegt ist.

Diese mit Lochmatrizen ausgebildete Stelleinrichtung des Adapters kann mit einer Prüfvorrichtung dahingehend kombiniert werden, daß die Prüfvorrichtung mit einer Funktion zur Berechnung der Verschiebeposition ausgerüstet ist, damit die einer Prüfnadel zugeordneten Führungslöcher in Flucht gebracht werden können. Denn in jeder Prüfvorrichtung sind die Koordinaten aller Leiterplattentestpunkte und damit die Koordinaten der Führungsbohrungen der oberen Einheit 16 und die Koordinaten aller Prüf- kontakte des Grundrasters gespeichert.

Wenn eine bestimmte Nadel defekt ist, kann die Verschiebeposition für diese Nadel anhand der gespeicherten Koordinaten berechnet werden. Diese Verschiebeposition wird an einer Anzeige der Prüfvorrichtung ausgegeben, so daß ein Benutzer der Prüf- Vorrichtung den Stift in die Lochmatrix zum Ausrichten der entsprechenden Führungslöcher stecken kann.

Mit dieser Verschiebeeinrichtung kann die Anordnung der beiden Einheiten 12, 16 zueinander fixiert werden. Diese Verschiebeeinrichtung kann auch zum Justieren der Kontaktplatte 5 bzgl. der zu prüfenden Leiterplatte 11 verwendet werden.

Das oben beschriebene Ausführungsbeispiel eines Adapters 1 besitzt zwei Einheiten 12, 16, wobei die untere Einheit drei Führungsplatten aufweist und die obere Einheit lediglich eine einzige Führungsplatte aufweist. Im Rahmen der Erfindung ist es grundsätzlich möglich, beide Einheiten lediglich mit einer einzigen Führungsplatte auszubilden oder in beiden Einheiten mehrere Führungsplatten vorzusehen. Ein wesentlicher Vorteil der Erfindung gegenüber dem Stand der Technik ist, daß aufgrund der geradlinigen Führung der Prüfnadel innerhalb einer Einheit 12, 16 weniger Führungsplatten notwendig sind, wodurch sich der gesamte Aufbau des Adapters ver- einfacht. Der wesentliche Vorteil des erfindungsgemäßen Adapters ist, daß er deutlich günstiger herstellbar ist, als bekannte Adapter mit schräg gestellten Nadeln, bei welchen die Bohrungen sehr aufwendig eingebracht werden müssen. Alle Führungsplatten einer Einheit des erfindungsgemäßen Adapters sind mit dem gleichen Bohr- muster gebohrt, entweder dem Muster der Leiterplattentestpunkte auf der zu prüfenden Leiterplatte oder dem Muster des Grundrasters der Prüfvorrichtung. Beide Muster sind in der Regel bekannt und als CAD-Daten in den entsprechenden Produktionssystemen gespeichert, so daß ein entsprechendes Bohrprogramm ohne große Berechnungen lediglich durch übertragen dieser Daten auf eine Vorrichtung zum Bohren von Leiterplatten erzeugt werden kann.

Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Adapters ist, daß durch die Verspannung der Prüfnadeln 7 Glattnadeln ohne zusätzliche Einrichtungen zum Fixieren der Nadeln im Adapter verwendet werden können. Es muß lediglich sichergestellt sein, daß bei der Handhabung des Adapters außerhalb der Bestückungsvorrichtung 28 und außerhalb der Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten jede Nadel eine vorbestimmte Verspannung aufweist. Hierzu kann es zweckmäßig sein, Eine Null- Stellung zu berechnen, in der alle Führungslöcher 6 einer der beiden Einheiten 12, 16 einen Mindest- Versatz zu den korrespondierenden Führungslöchern 6 der anderen Einheiten aufweisen. Dieser Mindest-Versatz ist derart bemessen, daß die Führungsnadeln 7 durch den Reibschluß bei normaler Handhabung des Adapters nicht aus diesem fallen können. Die Berechnung der Null-Stellung wird vorab beim Entwurf des Adapters ausgeführt. Ein solcher Adapter ist mit Elementen zum Fixieren der Position der beiden Einheiten 12, 16 versehen. Ein solches Element ist z.B. ein Paßstift, der in entsprechende Paßlöcher innerhalb der Halteplatte 21 und der Kontaktplatte 5 eingesteckt wird. Ein solches Element ist z.B. auch die Stelleinrichtung nach den Fig. 5 bis 6c, die z.B. in der Ausgangsstellung als Null-Stellung fixierbar ist.

Anhand von Computerprogrammen kann eine Stellung der beiden Einheiten ermittelt werden, bei der alle Führungslöcher innerhalb eines gewissen Versatzbereichs versetzt angeordnet sind. Mit dem Paßstift werden die beiden Einheiten in dieser Stellung fixiert.

Anstelle einer Fixierung des Versatzes der Führungslöcher der beiden Einheiten zum Halten von Glattnadeln im Adapter ist es auch möglich, lediglich eine einzige Führungsplatte einer Einheit gegenüber den anderen Führungsplatten quer zur Längsrichtung der Prüfnadeln verschieblich auszubilden und zum Fixieren der Führungsna- dein ein Stück versetzt (z.B, um 0,1 bis 0,2 mm versetzt) gegenüber den anderen Führungsplatten anzuordnen. Bei einer solchen Ausführungsform sind keinerlei Berechnungen notwendig.

Weiterhin ist beim erfindungsgemäßen Adapter vorteilhaft, daß die Führungslöcher durch zur Oberfläche der Führungsplatten senkrechte Bohrungen mit einem konstanten Durchmesser eingebracht werden können. Durch diese senkrecht in den Führungsplatten verlaufenden Führungslöchern wird auch eine genauere Positionierung der Prüfnadeln als bei schräg verlaufenden Nadeln erzielt, da bei der Erfindung die Prüf nadeln 7 senkrecht zur Oberfläche der Kontaktplatte 5 bzw. der Basisplatte 2 aus dem Adapter 1 hervorstehen. Dies ist insbesondere bei den zunehmend engeren Anordnungen der Leiterplattentestpunkte der zu prüfenden Leiterplatten von Vorteil.

Die Muster, mit welchen die Führungslöcher der Leiterplatten einer Einheit einge- bracht sind, sind vorzugsweise identisch. Die Führungslöcher können jedoch auch innerhalb eines Toleranzbereiches etwas versetzt sein, wenn hierdurch nicht die automatische Bestückung des Adapters beeinträchtigt wird. Der Toleranzbereich entspricht zumindest der Hälfte des Prüfnadeldurchmessers. Bei angefasten oder abgeschrägten Führungslöchern kann er auch größer sein.

Bezugszeichenliste

1 Adapter 29 Auflageplatte

2 Führungsplatte (Basisplatte) 30 Aufnahmebereich

3 Führungsplatte 31 Halterung

4 Führungsplatte 32 Stelleinrichtung

5 Führungsplatte (Kontaktplatte) 33 Stellzylinder

6 Führungsloch 34 Sammelbehälter

7 Prüfnadel 35 Rohrsystem

8 Prüfstift 36 Ausgang

9 Vollrasterkassette 37 Lochmatrix

10 Leiterplattentestpunkt 38a Loch

11 zu prüfende Leiterplatte 38b Loch

12 Einheit 39 Spalte

13 Abstandshalter 40 Reihe

14 Federelement 41 Testmarkierung

14a Buchse 42 Testmarkierung

14b Buchse

15 Doppelpfeil

16 Einheit

17 Abstandshalter

17a Auflageabschnitt

18 Auflagefläche

19 Halteelement 0 Schafft 1 Halteplatte 2 Öffnung 3 Senke 4 4-fach-Pfeil 5 Gelenkabschnitt 6 Kontaktspitze 7 8 Bestückungsvorrichtunq

Claims

Patentansprüche

1. Adapter zum Prüfen von Leiterplatten mit

- Prüfnadeln (7), die zum Verbinden eines Prüfkontaktes eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten und eines Leiterplattentestpunktes der zu prüfenden Leiterplatte (11) vorgesehen sind,

- Führungsplatten (2, 3, 4, 5), die mit Führungslöcher (6) versehen sind, durch die sich die Prüfnadeln (7) erstrecken, wobei die Führungslöcher (6) der zur prüfenden Leiterplatte (11) weisenden Führungsplatte (5) im gleichen Muster wie die Leiterplat- tentestpunkte (10) einer zu prüfenden Leiterplatte (11) und die Führungslöcher (6) der zum Grundraster weisenden Führungsplatte (2) im gleichen Muster wie die Prüfkontakte des Grundrasters angeordnet sind, wobei die Führungsplatten (2, 3, 4, 5) zwei Einheiten (12, 16) bilden, die jeweils eine oder mehrere Führungsplatten (2, 3, 4, 5) umfassen, und die Führungslöcher (6) aller Führungsplatten (2, 3, 4, 5) der jeweiligen Einheit (12, 16) im gleichen Muster angeordnet sind, und zumindest eine der beiden Einheiten (12, 16) derart quer zu den Prüfnadeln (7) verschieblich angeordnet ist, daß die einander zugeordneten Führungslöcher (6) der beiden Einheiten (12, 16), durch die sich die gleiche Prüfnadel (7) erstreckt, paarwei- se in Flucht gebracht werden können, und eine Fixiereinrichtung zum Fixieren der beiden Einheiten (12, 16) in einer Null- Stellung, in der alle Führungslöcher (6) einer der beiden Einheiten (12, 16) einen Mindest-Versatz zu den korrespondierenden Führungslöchern der anderen Einheit (12, 16) aufweisen, so daß alle Prüf nadeln (7) durch Reibschluß im Adapter gehalten werden.

2. Adapter nach Anspruch 1 , wobei die Führungslöcher (6) senkrecht zur Ebene der Führungsplatten (2, 3, 4, 5)) verlaufen.

3. Adapter nach Anspruch 1 oder 2, wobei zwischen die beiden Einheiten (12, 16) ein Abstand von ca. 2 cm bis ca. 5 cm ausgebildet ist.

4. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei zumindest ein Teil der Prüfnadeln (7) zum Ausgleich eines Versatzes von einander zugeordneten Führungslöcher (6) der beiden Einheiten (12, 16) im Bereich zwischen den beiden Einheiten (12, 16) gebogen bzw. abgewinkelt sind.

5. Adapter nach Anspruch 4, wobei die Versätze zwischen den einander zugeordneten Führungslöchern (6) maximal 5 bis 8 mm betragen.

6. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei die Prüfnadeln (7) zumindest in den sich durch die Führungslöcher (6) erstre- ckenden Bereichen mit einer reibungsvermindernden Schicht, wie z.B. Teflon, beschichtet sind.

7. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei eine der beiden Einheiten (12, 16) lediglich eine einzige Führungsplatte (5) mit einer Dicke von zumindest 0,5 mm aufweist.

8. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei alle Führungsplatten (2, 3, 4) einer Einheit (12, 16) in der Ebene quer zu den Prüfnadeln (7) nicht verschieblich miteinander verbunden sind.

9. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei zwischen den beiden Einheiten (12, 16) Federelemente derart angeordnet sind, daß die beiden Einheiten (12, 16) in Längsrichtung der Prüfnadeln zueinander elastisch beweglich angeordnet sind.

10. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei die Prüfnadeln (7) jeweils mit einem federnden Abschnitt ausgebildet sind, der ein Federwirkung in Längsrichtung der Prüfnadeln bewirkt.

11. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei die Prüf nadeln (7) eine Dicke von 0,15 mm bis 0,4 mm und vorzugsweise von 0,2 mm bis 0,3 mm besitzen.

12. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 11 , wobei die Prüfnadeln (7) über ihre gesamte Länge eine glatte Oberfläche aufweisen.

13. Prüfnadel zum Prüfen von Leiterplatten, insbesondere für einen Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 12, wobei die Prüfnadel (7) zumindest einen Gelenkabschnitt (25) aufweist, der durch eine Querschnittsverjüngung ausgebildet ist.

14. Prüfnadel nach Anspruch 13, wobei die Prüfnadel (7) zwei Gelenkabschnitte (25) aufweist.

15. Verfahren zum Bestücken eines aus mehreren Führungsplatten ausgebildeten Adapters, wobei in den Führungsplatten (2, 3, 4, 5) Führungslöcher (6) zum Aufnehmen von Prüfnadeln (7) eingebracht sind, und die Führungsplatten (2, 3, 4, 5) zwei Einheiten (12, 16) bilden, die jeweils eine oder mehrere Führungsplatten (2, 3, 4, 5) umfassen, die Führungslöcher (6) aller Führungsplatten (2, 3, 4, 5) der jeweiligen Einheit (12, 16) im gleichen Muster angeordnet sind, und zumindest eine der beiden Einheiten (12, 16) derart quer zu den Prüfnadeln (7) verschieblich angeordnet ist, daß die einander zugeordneten Führungslöcher (6) der beiden Einheiten (12, 16), durch die sich die gleiche Prüfnadel (7) erstreckt, paarwei- se in Flucht gebracht werden können, wobei die folgenden Schritte zum Einbringen einer oder mehrerer Prüfnadeln (7) wiederholt ausgeführt werden:

a) Verschieben der verschieblichen Einheit (16) derart, daß die Führungslöcher (6) der beiden Einheiten (12, 16), die einer Prüfnadel (7) zugeordnet sind, in

Flucht gebracht werden, b) Einführen einer oder mehrerer Prüfnadel (7) in fluchtende Führungslöcher.

16. Verfahren nach Anspruch 15, wobei ein Adapter (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 12 verwendet wird.

17. Vorrichtung zum Ausführen des Verfahrens nach Anspruch 15 oder 16, wobei die Vorrichtung einen Aufnahmebereich (30) zum Aufnehmen eines Adapters (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 12 aufweist, und mit einem Verschiebemecha- nismus (32) versehen ist, der eine verschiebliche Einheit (16) des Adapters (1 ) automatisch derart verschieben kann, daß einander zugeordneten Führungslöcher (6) von zwei Einheiten (12, 16) des Adapters (1), durch die sich die gleiche Prüfnadel (7) erstreckt, paarweise in Flucht gebracht werden.

18. Vorrichtung nach Anspruch 17, mit einer Einrichtung zum Vereinzeln der Prüfnadeln (7), eine über den Führungslöcher positionierbare Zuführeinrichtung (35) zum Zuführen der einzelnen Nadeln, und einer Einrichtung zum Beaufschlagen der Prüfnadeln mit einer Kraft, die die Prüfna- dein (7) in die Führungslöcher (6) drückt.

19. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 18, mit einer Stelleinrichtung zum Einstellen der relativen Position der beiden Einheiten

(12, 16).

20. Adapter nach Anspruch 19, wobei die Stelleinrichtung durch eine Anzahl von Löchern (38a, 38b) ausgebildet ist, wobei die Löcher (38a, 38b) in einem sich überlappenden Bereich der beiden Ein- heiten (12, 16) angeordnet sind und die Löcher (38a) in einem sich etwas unterscheidenden Muster in die beiden Einheiten (12, 16) eingebracht sind, wobei jeweils ein Loch (38a) einer der beiden Einheiten (16) einem Loch (38b) der anderen Einheit (17) zugeordnet ist und die Löcher dieser einander zugeordneten Lochpaare bezüglich einer Nullstellung, die einer idealen Justierung der Leiterplatte entspricht, jeweils in unterschiedliche Richtung und/oder mit unterschiedlichem Abstand voneinander beabstandet sind, so daß durch Einstecken eines Stiftes die zwei Löcher (38a, 38b) eines Lochpaares zueinander fluchtend ausgerichtet und die beiden Einheiten (12, 16) entsprechend relativ zueinander verschoben sind.

21. Adapter nach Anspruch 20, wobei die Löcher (38a, 38b) jeweils in einer quadratischen Lochmatrix (37) angeordnet sind, wobei die Löcher (38a, 38b) jeweils einen konstanten Lochabstand (a, b) aufweisen, wobei sich der Lochabstand (a) der Löcher der einen Einheit (16) von dem Loch- abstand (b) der anderen Einheit (12) um Δs unterscheidet.

22. Adapter zum Prüfen von Leiterplatten, insbesondere nach einem der Ansprüche 1 bis 21 , mit

- Prüfnadeln (7), die zum Verbinden eines Prüfkontaktes eines Grundrasters einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten und eines Leiterplattentestpunktes der zu prüfenden Leiterplatte (11 ) vorgesehen sind, wobei die Prüfnadeln geradlinig und mit glatter Oberfläche ausgebildet sind,

- Führungsplatten (2, 3, 4, 5), die mit Führungslöcher (6) versehen sind, durch die sich die Prüfnadeln (7) erstrecken, wobei die Führungslöcher (6) der zur prüfenden Leiterplatte (11) weisenden Führungsplatte (5) im gleichen Muster wie die Leiterplattentestpunkte (10) einer zu prüfenden Leiterplatte (11) und die Führungslöcher (6) der zum Grundraster weisenden Führungsplatte (2) im gleichen Muster wie die Prüfkontakte des Grundrasters angeordnet sind, und

- zumindest eine weitere Führungsplatte (3, 4) zwischen den beiden äußeren Füh- rungsplatten (2, 5) angeordnet ist, wobei eine der weiteren Führungsplatten (3, 4) derart quer zu den Prüfnadeln (7) verschieblich angeordnet und fixierbar ist, daß die Führungslöcher (6) dieser verschieblich angeordneten Führungsplatte einen geringen Versatz zu den Führungslö- ehern der benachbart angeordneten Führungsplatten aufweist, so daß die Prüfnadeln (7) verspannt und gegen ein Herausfallen gesichert sind.