DE2063474C3 - Schaltungsanordnung zur Ermittlung vorgewählter Charakteristika des Amplitudenverlaufs eines elektrischen Analogsignals - Google Patents
Schaltungsanordnung zur Ermittlung vorgewählter Charakteristika des Amplitudenverlaufs eines elektrischen AnalogsignalsInfo
- Publication number
- DE2063474C3 DE2063474C3 DE19702063474 DE2063474A DE2063474C3 DE 2063474 C3 DE2063474 C3 DE 2063474C3 DE 19702063474 DE19702063474 DE 19702063474 DE 2063474 A DE2063474 A DE 2063474A DE 2063474 C3 DE2063474 C3 DE 2063474C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- analog signal
- output
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003111 delayed Effects 0.000 claims description 16
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 2
- 238000009114 investigational therapy Methods 0.000 claims 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 230000001808 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004301 light adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Description
n, daß nut mogJrakleristische
Ss Analogsignals erhalten
30
35 GemäßderErfindung wird diese Aufgabe dadurch
Kt daß an die Zeitverzögerungsvornchtungen
g u snannungsvergleichseinrichtungen derart anmehrere
SPannun|S ß V^de der Spannungsvergleichsein-
gef η de zu et n?Zeitpunkt vorhandene Amplinchtungen
d. ζ.einem ρ ^ einem späteren
hseWbntLn die vorgewählten Char.k.ens,,-AmplUudenverlauh
des An.lOgs.gnals rep,asen-
der
^S.ung zur Ve—
Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung
zur Ermittlung vorgewählter Charakteristika des Amplitudenverlaufs eines an Zeitverzögerungsvort ichtung;en
angelegten elektrischen Analogsignals mit elektrischen Spannungsvergleichseinrichtungen.
Es ist bereits eine Schaltungsanordnung bekannt (US-PS 31 89 820), bei der in Spannungsvergleichseinrichtungen
in vorgegebenen zeitlichen Abständen auftretende Amplituden eines Signals miteinander
''"pVIS Hn Blockschaltbild der erfindungsgemäße
Sh.uanordnung
wTi'a"3A bis 3D den Verlauf von Signalen zi
65 Erläüferung der Wirkungsweise der erf.ndungsgemaße
;sanordnung,
F i g. 4 ein Schaltbild einer weiteren Ausführungsfor
der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung,
Fig.5 eine graphische Darstellung verschiedener
verzögerter Signale, wie sie von der Schaltungsanordnung nach F i g. 4 erhalten werden,
Fig.6a bis 6h den Verlauf von Signalen an verschiedenen Stellen der Schaltungsanordnung nach
F i g. 4 und
Fig.7 ein teilweise als Blockschaltbild ausgeführtes
Schaltbild einer weiteren Ausführungsform der erfindungsgeniäßen
Schaltungsanordnung.
In Fig. 1 ist der Verlauf eines Signals 10 gezeigt,
welcher typisch für das Lesesignal eir.es mit hoher Schreibdichte arbeitenden magnetischen Aufzeichnungssystems
ist. Dieses Signal ist infolge des Phänomens der Impulsüberschneidung in gewisser
Weise verzerrt, und ein solches Signal bietet bei Verwendung der bisher bekannten Spitxendedek'.oren
ernsthafte Schwierigkeiten bei seiner Auswertung. Bei Verwendung eines Spitzendedektors mit Gleichspannungs-Bezugspegel
besteht die Gefahr, daß die negative Spitze 12 und die positive Spitze 14 nicht entdeckt
werden, weil sie so dicht an der Null-Linie liegen. Demgegenüber können solche Spitzen mittels der zu
beschreibenden Schaltungsanordnung festgestellt werden.
Fine wichtige Eigenschaft der zu beschreibenden Schaltung besteht darin, daß ein größerer Teil eines
auszuwertenden Eingangssignals gleichzeitig betrachtet wird. Die Schaltung arbeitet daher in einer mit dem
menschlichen Auge vergleichbaren Weise, bei dem infolge der Tatsache, daß es einen Signalverlauf als
Ganzes betrachtet, eine Beeinträchtigung bei der Auswertung durch eine Impulsüberschneidung und
einen gewissen Geräuschpegel nicht so stark auftritt.
In der zu beschreibenden Schaltung werden die Eingangssignale um mehrere kumulative Zeitverzögerungen
verzögert, und sie werden vor und nach jeder Verzögerung verglichen. Die dabei entstehenden
impulsförmigen Ausgangssignale können dann entsprechend einem vorgegebenen logischen Code ausgewertet
werden, um positive und negative Amplitudenspitzen des Signalverlaufs und auch die Steigerung
bestimmter Signalabschnitte zu ermitteln.
Bei der Schaltungsanordnung von F i g. 2 wird ein analoges elektrisches Eingangssignal einem Eingangsverstärker
20 zugeführt, von dessen Ausgang es zu drei hintereinanderliegenden Verzögerungsgliedern 22, 24
und 26 gelangt. Jedes der Verzögerungsglieder besitzt einen Eingang und einen Ausgang, der mit einem
Spannungsvergleicher verbunden ist. Die von den Verzögerungsgliedern 22, 24 und 26 bewirkten Verzögerungszeiten
A t\, Ah und A Γ3 müssen für eine
gegebene Ärtderungsgeschwindigkeit des Eingangssignals speziell ausgewähltwerden.
Die Ausgänge X, X, Y, Y, Z1 Z der Spannungsvergleicher
28,30 und 32 sind in der dargestellten Weise an die Eingänge der N AN D-Schaltungen 34 und 36 angeschlossen.
Der Ausgang der den N AN D-Schaltungen nachgeschalteten NOR-Schaltung 38 liefert ein vorgegebenes
Ausgangssignal, das dem Auftreten einer Amplitudenspitze in dem analogen Eingangssignal
entspricht.
Die Fig.3a bis 3d tragen zum Verständnis der Arbeitsweise der in F i g. 2 gezeigten Schaltung bei. In
Fi g. 3a ist eine positive Spitze gezeigt, bei welcher vier Punkte A bis D eingezeichnet sind. Wenn der in F i g. 3a
gezeigte Impuls der Schaltung in F i g. 2 als Eingangssignal zugeführt wird, dann wird der Punkt A des
imDulses analog um die Zeit Δ t\+A h + Δ t3 verzögert.
Der Punkt B wäre zu diesem Zeitpunkt um die Zeit A i\ +Λ t2 verzögert, während der Punkt Cum die Zeit
Δ U verzögert wäre. Punkt D wird zu diesem Zeitpunkt noch nicht verzögert sein.
Infolge der Tatsache, daß das in Fig.3a gezeigte
Signal eine positive Spitze besitzt, ist die Amplitude am Punkt B größer als am Punkt A, und es tritt folglich ein
Signal am Ausgang X des Spannungsvergleichers 32 auf. Weiterhin ist Punkt B im Moment des Vergleiches
gleich dem Punkt C und wird größer werden als dieser, und folglich wird ein Signal am Ausgang Y des
Spannungsvergleichers 30 auftreten. Schließlich hat der Punkt C einen größeren Wert als der_Punkt D, und es
wird folglich ein Signal am Ausgang Z des Spannungsvergleichers 28 erzeugt. Man sieht also, daß die logische
Bedingung für eine positive Spitze X FZ ist. Wenn das Vorliegen dieser Bedingung durch die NAND-Schaltung
36 festgestellt wird, liefert diese einen Impuls an die NOR-Schaltung 38, um das Auftreten einer Amplitudenspitze anzuzeigen. Das Ausgangssignal kann auch direkt
vom Ausgang der NAND-Schaitung 36 abgegriffen werden, um anzuzeigen, daß eine positive Spitze
aufgetreten ist.
Beim Auftreten einer negativen Spitze, gemäß F i g. 3b werden die Werte an den Punkten A, B und C,
von den Verzögerungsgliedern verzögert, an die Spannungsvergleicher 28, 30 und 32 angelegt und
verglichen. Bei Betrachtung der F i g. 3b erkennt man, daß die logische Bedingung für das Auftreten einer
negativen Spitze X YZ ist. Wenn diese Bedingung durch die NAN D-Schaltung 34 festgestellt wird, liefert
diese einen Impuls an die NOR-Schaitung 38, um das Auftreten einer negativen Spannungsspitze anzuzeigen.
F i g. 3c zeigt eine Signalflanke mit positiver Steigung. Man erkennt, daß die logische Bedingung für eine solche
positive Flanke X YZ ist. In gleicher Weise zeigt F i g. 3d ein Signal mit negativ abfallender Flanke, für
die die logische Bedingung X YZ lautet. Durch Hinzufügen zusätzlicher logischer Schaltelemente zu
der Schaltung in F i g. 2 können Ausgangssignale erzeugt werden, die das Vorliegen solcher Flanken
anzeigen. Wie später noch in den Einzelheiten beschrieben werden soll, ist diese Flankeninformation
nützlich bei der Ermittlung der Art des Eingangssignals, und die Information kann in einer komplizierteren
Schaltung beispielsweise dazu benutzt werden, das Eingangssignal zu demodulieren.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die einfache Prüfung von elektrischen Signalen anhand von vier
Punkten beschränkt, wie sie in F i g. 2 und 3 erläutert wurde. Es können vielmehr komplizierte Mehrpunktprüfsysteme
verwendet werden, um eine zusätzliche Genauigkeit und Auflösung zu gewinnen. Durch
Optimierung der zeitlichen Verzögerung für einzelne Signalformen kann auch eine Signalauswertung bei
Anwesenheit von hochfrequentem Rauschen erreich! werden. Bei der hier beschriebenen Schaltung hängt die
Signalauswertung nicht vom Mittelwert oder vorr absoluten Gleichspannungswert des Eingangssignals ab
Die Spannungsvergleicher bestimmen nämlich, welch« der Eingangsspannungen größer ist, und zwar unabhän
gig von ihrem Gleichspannungspegel.
Eine weitere Ausführungsform der Schaltungsanord nung ist in Fig.4 gezeigt. Die analogen elektrische
Eingangssignale werden dieser Schaltung an eine Eingangsklemme 50 zugeführt und von dort über eine
einstellbaren Spannungsteiler 52 dem Eingang eine Verstärkers 54. Das Ausgangssignal des Verstärkers S
Transistors 58 gelegt. Der Kollektor des Transistors 58 ist über einen Widerstand 60 mit einer negativen
Spannungsquelle verbunden, während der Emitter des Transistors 58 über eine Diode 62 und einen Widerstand
64 an einer positiven Spannungsquelle liegt. Die Anode der Diode 62 ist mit der Basis eines Transistors 66
verbunden. Die Transistoren 58 und 66 arbeiten als Pufferstufe.
Das Ausgangssignal des als Emitterfolger geschalteten Transistors 66 wird über Widerstände 68 und 70 an
die Basis eines als Emitterfolger geschalteten Transistors 72 gelegt. Ein Kondensator 74 liegt zwischen den
Widerständen 78 sowie dem Emitter des Transistors 72. Ein Kondensator 76 liegt zwischen der Basis des
Transistors 72 und Masse. Der Emitter des Transistors 72 ist mit der Basis eines Transistors 78 verbunden. Der
Kollektor des Transistors 78 ist über einen Kondensator 80 mit Masse verbunden. Die Transistoren 72 und 78 und
die zugehörigen Bauelemente bilden ein Tiefpaßfilter und bewirken eine Abtrennung des hochfrequenten
Rauschens im Frequenzbereich von 20 MHz.
Das gefilterte Signal wird der Basis eines Transistors
82 zugeführt, dessen Emitter mit dem Kollektor eines Transistors 84 verbunden ist. Der Transistor 84 und die
ihm zugeordneten Bauelemente 86, 88, 90 bilden eine Konstantstromquelle für den Transistor 82. Der
Transistor 82 bildet eine Treiberstufe für die von ihm angesteuerten Schaltungseinheiten; er besitzt zur
Anpassung an die ihm folgende Verzögerungsleitung eine niedrige Ausgangsimpedanz.
Der Emitter des Transistors 82 ist über eine Leitung 92 mit dem Eingang einer Verzögerungsleitung 94
verbunden. Die Verzögerungsleitung 94 besteht aus einer Anzahl von diskreten Verzögerungselementen, die
Verzögerungen Δ t\, Δ h, Δ h und Δ U durchführen. Die
Verzögerungsleitung 94 ist mit einem kleinen Widerstand % abgeschlossen, der an Masse liegt. Diese
Verzögerungsleitung ist bei einer typischen praktischen Anwendung so geschaltet, daß sie eine Verzögerungszeit Δ t\ von HONanosekunden eine Verzögerungszeit
Δ /2 von 40 Nanosekunden, eine Veniögerungszeit Δ h
von 40 Nanosekunden und eine Verzögerungszeit Δ u von 110 Nanosekunden ergibt. Diese Verzögerungszeiten
können natürlich für unterschiedliche Anwendungszwecke verändert werden.
Der Ausgang des Transistors 82 ist ferner über die Leitung 92 und über einen Widerstand 100 mit der Basis
eines Transistors 102 verbunden. Zusätzlich ist der Ausgang des Transistors 82 über die Leitung 92 und
über einen Widerstand 104 mit der Basis eines Transistors 106 verbunden. Die Transistoren 102 und
106 sind als Emitterfolger geschaltet. Der Emitter des Transistors 106 ist mit dem Eingang eines Spannungsverglcichers
108 verbunden, und der Emitter des Transistors 102 ist mit dem Eingang eines Spannungsvergleichers
110 verbunden. Der Zweck des Transistors 106 besteht darin, den Gleichspannungspegel eines
elektrischen Eingangssignals um den Spannungswert Vat: anzuheben, während der Transistor 102 den
Gleichspannungspegel eines Eingangssignals um den gleichen Spannungswert Vm.absenkt. Diese Spannungsabsenkung wird als ε bezeichnet; sie beträgt bei einer
praktischen Ausführung etwa 0,6 Volt. Eine Gleichspannungsverschiebung anderer Größe als 0,6 Volt kann mit
einem Summierverstärker erreicht werden.
Die Verschiebung des Glcichspannungspcgcls des
Signals für den Zeitbezugspunkt A gestattet dem wird über einen Widerstand 56 an die Basis eines
Spitzendetektor in Abhängigkeit von der Größe der Verschiebung Signale zu vernachlässigen, die unterhalb
einer gewissen Amplitude bleiben. Die Signale können unterhalb der Amplitude liegen, wenn ein schlechter
Aufzeichnungskopf verwendet wurde, od. dgl. In diesem Fall wird von dem Detektor statt einer unkorrekten
Spitze keine Spitze angezeigt. Das Eingangssignal wird von der Verzögerungsleitung 94 um das Zeitintervall
Δ f, verzögert und über die Leitung 112 an den Eingang ro eines Spannungsvergleichers 114 und ferner an die
zweiten Eingänge der Spannungsvergleicher 108 und 110 gelegt. Das Signal wird dann zusätzlich um das
Zeitintervall Δ t2 verzögert und über die Leitung 116
Spannungsvergleich^™ 114 und 118 zugeführt. Das
Signal wird weiter um ein Zeitintervall Δ tj verzögert
und über die Leitung 120 an den zweiten Eingang des Spannungsvergleichers 118 und an den Eingang eines
Spannungsvergleichers 122 gelegt. Schließlich wird das Eingangssignal um ein Zeitintervall Δ U verzögert, und
das verzögerte Signal wird über die Leitung 124 an den zweiten Eingang des Spannungsverstärkers 122 gelegt.
Die Wirkungsweise der in Fig.4 läßt sich am besten anhand der in F i g. 5 und 6 gezeigten Signale verstehen.
Fig. 5 zeigt die verschiedenen Signale, die in der 2j Schaltung gemäß Fig.4 sowohl mit verschobenem
Gleichspannungspegel als auch in zeitlich verzögerter Form vorliegen. Das unverzögerte Signal ist als Α+ε
bezeichnet und liegt in dieser Form am Emitter des Transistors 106 vor. Das unverzögerte Signal, dessen
Gleichspannungspegel durch den Transistor 102 nach unten verschoben ist, ist als Α + ε bezeichnet. Die
Signale B, C, D und E werden durch aufeinanderfolgende Verzögerungen um die Zeitintervalle Δ U, Δ h. Δ ti
und Δ U aus dem Eingangssignal abgeleitet; sie treten an
den Leitungen 112,116,120 bzw. 124 auf.
Das Ausgangssignal des Spannungsvergleichers 108 wird den beiden Eingängen einer NAND-Schaltung 140
zugeführt, während die Ausgänge der Spannungsvergleicher 110 und 114 mit den beiden Eingängen der
NAND-Schaltungen 142 bzw. 144 verbunden sind. In
ähnlicher Weise sind die Ausgänge der Spannungsvergleicher 118 und 122 mit den Eingängen der
NAND-Schaltungen 146 bzw. 148 verbunden. Ein Signal am Ausgang der NAND-Schaltung 140 zeigt an, daß im
Zeitpunkt des Vergleiches Α+ε kleiner ist als B,
während ein Ausgangssignal der NAND-Schaltung 142 anzeigt, daß zum Zeitpunkt des Vergleiches Α-ε
größer als ß ist. Ein Ausgangssignal der NAND-Schaltung 144 zeigt an, daß B größer als C ist, während ein
Ausgangssignal der NAND-Schaltung 146 anzeigt, daß C größer als D ist. Die Ausgangssignale der
NAND-Schaltung 148 zeigen an, daß für den Vergleichszeitpunkt Dgrößer als Eist.
Das Ausgangssignal der NAND-Schaliung 144 wird
beiden Eingängen einer NAND-Schaltung 150 zugeführt, deren Ausgangssignal anzeigt, daß im Vergleichszeitpunkt das Signal B kleiner ist als das Signal C. Da;
Ausgangssignal der NAND-Schaltung 146 wird beider Eingängen einer NAND-Schaltung 152 zugeführt, derer
Ausgangssignal anzeigt, daß das Signal D größer als da: Signal Cist. Das Ausgangssignal der NAND-Schaltunf
148 wird beiden Eingängen einer NAND-Schaltung 15' zugeführt, deren Ausgangssignal anzeigt, daß das Signa
Dkleiner als das Signal Eist.
Die Ausgänge der NAND-Schaltungcn 140, 150, 1*
und !'33 sind mit den vier Eingängen einer NAND Schaltung 156 verbunden. Die Ausgänge der NAND
Schaltungen 142, H44, 152 und 154 sind mit den vic
Eingängen einer NAND-Schaltung 158 verbunden. Ein
Ausgangssignal der NAND-Schaltung 156 zeigt das Auftreten einer positiven Amplitudenspitze in dem
analogen elektrischen Eingangssignal an. Ein Ausgangssignal der NAND-Schaltung 158 zeigt das Auftreten
einer negativen Amplitudenspitze des Eingangssignals an.
Die Ausgänge der NAND-Schaltungen 156 und 158
sind mit jeweils zwei der vier Eingänge einer NOR-Schaltung 160 verbunden. Die Ausgangssignale
der NOR-Schaltung 160 zeigen das Auftreten einer positiven oder negativen Amplitudenspitze des Eingangssignals
an. Die Ausgangssignale der NOR-Schaltung 160 sind gegenüber dem Auftreten der Spitzen des
Eingangssignals verzögert; die Verzögerungszeit bcträgt beispielsweise etwa 200 Nanosekunden.
F i g. 6 dient zusammen mit F i g. 5 der Erläuterung
der Schaltung von F i g. 4. F i g. 6a bis 6e zeigen den Verlauf der impulsförmigen Ausgangssignale an den
Ausgängen der Spannungsvergleicher 108 bis 122. Die
impulsförmigen Ausgangssignale haben die gleiche zeitliche Lage wie die verschiedenen Signale, die in
Fig. 5 dargestellt sind. Das Signal, das in Fig.6a dargestellt ist, wird also am Punkt 170 negativ, wenn das
Signal Λ+ ε kleiner als das Signal ßwird. In der gleichen Weise beginnt der positive Teil 172 des Signals von
Fig.6a, wenn das Signal A + ε größer als das Signal B
wird. Die Ausgangssignale, die in Fig.6b bis 6e dargestellt sind, stehen in der gleichen Weise zeitlich mit
den Signalen von F i g. 5 in Beziehung.
Die F i g. 6f und 6g zeigen die Ausgangssignale der NAND-Schaltungen 158 und 156. Das Signal 174 mit
dem Wert »0« tritt am Ausgang der NAND-Schaltung 158 auf, wenn eine negative Spitze im Eingangssignal
auftritt, wobei die Anzeige zeitlich gegenüber dem tatsächlichen Auftreten der Spitze in dem Eingangssignal
verzögert ist. In gleicher Weise liefert der Ausgang der NAND-Schaltung 156 ein Signal 176 mit dem Wert
»0«, wenn eine positive Spitze in dem Eingangssignal auftritt. Das Ausgangssignal 178 der NOR-Schaltung
160 hat, wie Fig.6h zeigt, den Signalwert »1«, wenn
entweder positive oder negative Spitzen im Eingangssignal auftreten.
Fig. 7 zeigt eine Schaltung, die sowohl die Anzeige
des Auftretens von Amplitudenspitzen als auch die Anzeige der Flanken in dem analogen elektrischen
Eingangssignal ermöglicht. Die elektrischen Signale, die beispielsweise Wicdcrgabesignale von einer Magnetplatte
sein können, werden wie in der Schaltung gemäß F i g. 4, zunächst einem Verstärker 200 zugeführt. Das
verstärkte Signal wird dann durch ein Filter 202 geleitet, welches gleichfalls dem zuvor beschriebenen ähnlich ist
und dazu dient, hochfrequentes Rauschen auszufiltcrn.
Das gefilterte Signal wird dann über eine Treiberstufe 204 einer Verzögerungsleitung zugeführt, die in einer ss
Anzahl einzelner Verzögerungsabschnitte 206-220 geteilt ist. Die Verzögerungsleitung ist mit einem
kleinen Widerstand 222 abgeschlossen. Während für verschiedene Anwendungszwecke unterschiedliche
zeitliche Verzögerungen gewählt werden können, (,o wurden in dem dargestellten Ausführungsbeispiel für
die Intervalle 206 und 216 jeweils Verzögerungen von
100 Nanosekunden vorgesehen, während für die Intervalle 208 und 210 Ver/.öRcrungszciten von 40 Nanosekunden
vorgesehen wurden. Für das Vcr/.ögeiung^- ;.=;
iniervall 212 wurde eine Verzögerung von 200 Nanosekunden
gewählt.
Das Aiisuangssignal der TreiberMiife 204 wird an die
Transistoren 224 und 226 angelegt, damit der Gleichspannungspegel nach oben bzw. nach unten verschoben
wird, wie dies zuvor bereits beschrieben wurde. Die Emitter der Transistoren 224 und 226 sind mit den
Eingängen von Spannungsvergleichern 228 und 230 verbunden. Die verschiedenen verzögerten Signale,
welche die Verzögerungsleitung durchlaufen, werden jeweils den Eingängen von Spannungsvergleichern
228 — 240 zugeführt, wie in Fig. 7 angegeben ist. Die
Ausgänge der Spannungsvergleicher 228-240 sind mit jeweils einer der NAND-Schaltungen 242-254 verbunden.
Die Ausgangssignale der Spannungsvergleicher 228-240 werden über NAND-Schaltungen 242-254
und 260 -- 268 geleitel, die gemäß F i g. 7 Ausgangssignale
A, B, C._D, £und Fsowie die negierten Signale A, B, C,
D,£und Ferzeugcn.
Weitere NAND-Schaltungen 256-280 empfangen in der dargestellten Weise die Signale A - Fund A-F; sie
geben ihre Ausgangssignale an NOR-Schaltungen 282 — 288 ab, die schließlich Signale abgeben, die eine
eindeutige Aussage über den Verlauf des der Schaltung zugeführten Eingangssignals gestatten.
Genauer gesagt zeigt ein Ausgangssignal der NAND-Schaltung 256 eine positive Amplitudenspitze
des Eingangssignals an, während ein Ausgangssignal der NAND-Schaltung 258 eine negative Amplitudenspitze
des Eingangssignals anzeigt. Das Ausgangssignal der NAND-Schaltung 290 zeigt das Auftreten einer
Amplitudenspitze in dem Eingangssignal an. Die weiteren Baueinheiten zeigen das Auftreten positiver
oder negativer Steigungen im Verlauf des Eingangssignals an.
Bei Magnetaufzeichnungsverfahren kann es vorkommen, daß die bei der späteren Wiedergabe der
magnetischen Aufzeichnung auftretenden Impulse durch Zeitverzögerungsschwankungen voneinander getrennt
sind. Beim hier erläuterten Beispiel enthält das Eingangssignal Amplitudenspitzen, die voneinander
etwa 200 Nanosekunden, 300 Nanosekunden, 400 Nanosekunden entfernt sind. Zur Unterstützung bei einer
späteren Demodulation und Auswertung des Eingangssignals liefert die beschriebene Schaltung Informationen
bezüglich der relativen Steigung zwischen den ermittelten Amplitudenspitzen. Dies erleichtert die Wcchselstromkopplung
von Verstärkern, und eine schmale Bandbreite wird möglich.
Die Ausgänge der NAND-Schaluingen 270 und 272
dienen der Anzeige von positiven und negativen Flanken des Eingangssignals zwischen den auftretenden
Amplitudenspitzen, die etwa 200 Nanosekunden voneinander entfernt sind. Der Ausgang der NOR-Schaltung
284 ist mit dem am Eingang der NAND-Schallung
292 verbunden, die ein Ausgangssignal liefert, das anzeigt, daß der Abstand zwischen benachbarten
Amplitudenspitz.cn etwa 200 Nanosekunden beträgt. In
ähnlicher Weise zeigen die Ausgangssignalc der NAND-Schaltungen 274 und 276 positive, bzw. negative
Flanken zwischen Amplitudcnspitzcn an, die einen Abstand von etwa 300 Nanosckundcn voneinander
haben, wobei der Ausgang der NOR-Schaltung 286 mit einer NAND-Sehallung 294 verbunden ist, um eine
Anzeige zu liefern, wenn benachbarte Amplitudenspit-/en
ungefähr 300 Nanosekundcii auseinander liegen. In
gleicher Weise /eigen die Ausgangssignulc der NAND-Sehaltungen
278 und 280 repräsentativ für positive, bzw. negative Flunken /wischen Amplitudenspitzen an, die
elwii 400 Nanosekunden auseiiuindcrlicgcn. Der Aus
/(1'.I Μ,',Ί TI
gang der NOR-Schaltung 288 ist mit der NAND-Schaltung
2516 verbunden, damit eine Anzeige geliefert wird, wenn benachbarte Amplitudenspitzen in einem zeitlichen
Abstand von etwa 400 Nanosekunden aufeinanderfolgen.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Schaltungsanordnung zur Ermittlung vorgewählter Charakteristika des Amplitudenverlaufs
eines an Zeitverzögerungsvorrichtungen angelegten elektrischen Analogsignals mit elektrischen Spannungsvergleichseinrichtungen,
dadurch gekennzeichnet, daß an die Zeitverzögerungsvorrichtungen
(22,24,26; 206,208,210,212,214,216,
218, 220) mehrere Spannungsvergleichseinrichtungen (28, 30, 32; 228, 230, 232, 234, 236, 238, 240)
derart angeschlossen sind, daß jede der Spannungsverglleichseinrichtungen
die zu einem Zeitpunkt vorhandene Amplitude des Analogsignals mit der zu einem späteren Zeitpunkt vorhandenen Amplitude
des Analogsignals vergleicht, und daß mit allen Sparinungsvergleichseinrichtungen logische Verknüpfungsglieder
(34,36; 256,258,270,272,274,276,
278, 280) derart verbunden sind, daß sie in Abhängigkeit von den Vergleichsergebnissen die
vorgewählten Charakteristika des Amplitudenverlaufü
des Analogsignals repräsentierende Ausgangssignale erzeugen.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitverzögerungsvorrichtungen
(22, 24, 26; 206, 208, 210, 212, 214, 216, 218, 220) in auszu; Kaskade hintereinandergeschaltet sind, so daß das
sie durchlaufende Analogsignal fortlaufend weiter verzögert wird, und daß die Spannungsvergleichseinrichtungen
(28,30,32; 228,2J0,232,234,236,238,
24(1) jeweils am Eingang und am Ausgang einer der Zeitverzögerungsvorrichtungen angeschlossen sind,
so daß der Vergleich zwischen dem Eingangssignal und dem Ausgangssignal der jeweiligen Zeitverzögerungsvorrichtung
erfolgt.
1 Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die logischen Verknüpfungsglieder
(34, 36; 256,258,270,272,274, 276,278,280)
eine Decodierschaltung (38) enthalten, die die logische Codierung zur Anzeige einer Spitze im
Arnplitudenverlauf des Analogsignals decodiert. ka
4. Anordnung nach einem der vorhergehenden A nsprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das elektrische
Analogsignal ein durch Abspielen einer magnetischen Aufzeichnung erzeugtes Signal ist,
daß Verstärker (20, 200) zum Verstärken dieses Signals vorgesehen sind, daß an die Verstärker (20,
2I]O) eine Filtervorrichtung (202) zum Abtrennen von
hochfrequentem Rauschen von dem verstärkten Signal angeschlossen ist und daß an die Filtervorrichtung
(202) eine Treiberschaltung (204) zum Übertragen des gefilterten Signals durch die
Zeitverzögerungsvorrichtungen angeschlossen ist.
55
>· K.n werden Diese Schaltungsanordnung dient
verglichen weraen uenzspektrum kontinuier-
dazu, ein breitbandigeshreq η ^^ ^^
,ich daraufhin ^"^^ Spektrums ein Eingangs-Frequenzband
innerhalb J- Frequenzspek.
signal vorhanden st. u ^ ^^ ^^
trum wird u jes Vorhandensein des
aufgeteilt, die dan a ^^ Die ejnzelnen
Eingangssignals unters ^ ^^ ^^.^ ^
Kanäle sind dann jewens uenzbereiche immer
daß die zu "ntersuch w e e nie e r n die Aufteilung der Kanäle
schmaler werden Je J«Jr jst die Genauigkeit
vorgenommen wildes g m ^
beL der, η ScS lungsanordnung kann also festgestellt
bekannten Schaltung^ Frequenzspektrum eine
Γ« F£»S£ vorhanden ist. Eine Untersuchung
überTn spezieSen Verlauf des Eingangssignals findet
dabei nicht statt Schaltungsanordnung
„ f nnf befder log Se Verknüpfungsglieder bei der
bekannt, be. 0^J Eingangssignals angewendet weri
dieser Schaltungsanordnung soll die ■ nicht aber der Verlauf eines Eingangssignal
SU: nich
festgestellt werden _^ de>
dne
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12670A | 1970-01-02 | 1970-01-02 | |
US12670 | 1970-01-02 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2063474A1 DE2063474A1 (de) | 1971-07-22 |
DE2063474B2 DE2063474B2 (de) | 1977-03-10 |
DE2063474C3 true DE2063474C3 (de) | 1977-10-20 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2460841A1 (de) | Positioniersystem fuer einen schreib/ lesekopf | |
DE2003040B2 (de) | Verstärkeranordnung für Elektrokardiographen | |
DE2756740A1 (de) | Signaldetektorschaltung mit zwei kanaelen | |
DE3619430A1 (de) | Zusammengesetzter steuerimpulsgenerator | |
DE2323372A1 (de) | Verfahren und schaltung zur festlegung einer impulsfolge auf ein bestimmtes potential | |
DE4205352A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum gewinnen von impulssignalen | |
DE2733350A1 (de) | Wiedergabegeraet | |
DE2317739C3 (de) | ||
DE3623136A1 (de) | Vorrichtung zur messung des verhaeltnisses zwischen zwei kleinen kapazitaeten | |
DE2355517B2 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Feststellen des Auftretens einer erwarteten digitalen Signalfolgeart | |
DE69118124T2 (de) | Schaltung für die Unterdrückung des durch das Schalten von zwei Spannungsquellen, hervorgerufen Geräusches, insbesondere für Audio-Vorverstärkerstufen | |
DE2063474C3 (de) | Schaltungsanordnung zur Ermittlung vorgewählter Charakteristika des Amplitudenverlaufs eines elektrischen Analogsignals | |
CH644952A5 (de) | Geraet zur zerstoerungsfreien materialpruefung. | |
EP0171639B1 (de) | Vorrichtung zur Auswertung von Klopfsignalen | |
DE2507986A1 (de) | Tonfrequenz-unterdrueckungssystem | |
DE3530299C2 (de) | ||
DE2839383C2 (de) | ||
DE1259126B (de) | Schaltungsanordnung in Zeichenerkennungs-vorrichtungen zur Erzeugung von verzoegerten Bezugsimpulsen mit steiler Vorderflanke aus den Abtastimpulsen | |
DE2934956A1 (de) | Rauschunterdrueckungssystem | |
DE2063474B2 (de) | Schaltungsanordnung zur ermittlung vorgewaehlter charakteristika des amplitudenverlaufs eines elektrischen analogsignals | |
EP0735679B1 (de) | Flankendetektor | |
DE2853617A1 (de) | Einrichtung zum abtasten einer signalfolge | |
EP0471406B1 (de) | Wiedergabe-Schaltungsanordnung | |
DE3043921C2 (de) | Schaltung zur breitbandigen Detektion der Amplitudenmaxima von Signalen | |
DE2020187C3 (de) | Schaltungsanordnung zur störsicheren Erkennung der Nulldurchgänge von sinusähnlichen Signalen |