DE2061674A1 - Prufschaitung zum Überprüfen von elektronischen Speichern - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Prüfschaltung zum Überprüfen von elektrenisohen Speichern, bei denen an die Enden einer Anordnung ven Speicherzeilen auf einer ersten und einer zweiten Seite je ein Satz ven die Verbindung zu einer Treiberstroequelle herstellenden Quellenschaltern und von die Verbindung zu einer Hauptrüokleitung herstellenden Senkensohaltem angeschlossen sind, Mit eine· Taktgeber zum Erzeugen ven TaktiMpulsen zum Steuern des Schilessens der Quellen- und Senke»·ehalter über eine Kehrzahl ven Taktleitungen und einer Auswähleinriehtung zum Auswählen eimer b#«tiMMten Mit eineM (BtreMiMpuls zu besohiokenden Sfpieher«·

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zeile mittels Schliessens eines Quellensohalters und eines Senkenschalters an gegenüberliegenden Seiten der Speicherze i lenano rdnung.

Die erfindungsgemässe Prüfschaltung ist zum Erkennen und Lokalisieren bestimmter Arten von Fehlern in den Treiberstufen für elektronische Speicher gedacht, wie sie bei den heute üblichen Datenverarbeitungsanlagen verwendet werden.

Das Problem einer Erkennung von Fehlern in elektronischen Rechnern zeigt hinsichtlich deren elektronischer Speicher besondere Aspekte, was einerseits an deren erheblicher Bedeutung für den Betrieb des Rechners und andererseits an deren konstruktiven und betriebsmassigen Eigenschaften liegt.

In der Praxis lassen sich nämlich für die Erkennung von Fehlern in den meisten in einem elektronischen Rechner vorhandenen Sohaltstufen logische Metheden verwenden, die auf dem Einsatz von Diagnostizierprogrammen beruhen· In Anwendung auf elektronische Speicher erweisen sich jedoch derartige Prüfmethoden im allgemeinen als unbefriedigend.

Die Sohaltstufen für die Steuerung der Eingabe, der Ausgabe und der Adressierung eines Speiohers weisen nämlich besondere Eigenschaften auf, die sich von den eigentlichen logischen Schaltungen in den übrigen Teilen eines elektronischen Rechners unterscheiden. Daher können die üblichen mit logischen Methoden arbeitenden Prüfverfahren zwar Fehler eder Betriebsstörungen an der Grenze zwischen den Speioherstufen und den logischen Schaltungen erkennen lassen, Jedoch ist es im allgemeinen mit diesen Methoden nioht »oglieh, die tatsäohliehe Lage der Fehlerstelle zu bestimme».

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Insbesondere bei magnetischen Speichereinrichtungen, wie beispielsweise Magnetkernspeichern, erfolgt das Einschreiben und Auslesen von Daten in die Speicherelemente bzw· aus den Speicherelementen mit Hilfe von Strömen erheblicher Stärke, die eine vorgegebene Richtung haben und durch Leitungen fliessen, die aus einem ganzen Satz von solchen Leitungen auszuwählen sind·

Die Auswahl einer bestimmten Speicherleitung wird durch das Schliessen zweier Schalter bewirkt, die einen Stromkreis schliessen, der eine Spannung»quelle, eine Treiberstromstufe, einen ersten Schalter, die ausgewählte Speicherleitung, einen zweiten Schalter und eine Hauptrückleitung umfasst· Dabei sollen im folgenden der Kürze der Auedrucksweise halber di· zweisoh«n die Treiberstromstufe und die Enden der Speicherleitungen eingefügten Schalter kurz als Quellenschalter bezeichnet werden, während die Schalter zwischen den entgegengesetzten Enden der Speicherleitungen und der Hauptrückleitung Senkenschalter genannt werden sollen· Die Auswahl einer bestimmten Speicherleitung findet dann durch gleichzeitiges Schliessen eines Quellen- und eines Senkenschalters statt.

Bei den meisten heute üblichen elektronischen Speichern müssen die zu deren Betrieb erforderlichen Stromimpulse jede Speicherleitung in unterschiedlicher Richtung durchfliessen, je nachdem, ob ein Schreib- oder ein Lesevorgang erfolgen soll. Um dabei ein RückfHessen der Ströme entlang ungewollter Wege zu verhindern, sind die Speicherleitungen entweder an einem «der an beiden Enden durch Paare von entgegengesetzt gepolten Dioden mit der übrigen Schaltung gekoppelt.

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Als Folge der Auslesevorgänge erhält man eine Heihe von Ausgangseignalen auf Ausgangsleitungon, wobei diese Ausgangssignale von dem jeweiligen Zustand der von den Leseimpulsen betroffenen Speicherelemente abhängen.

Die bisher für die Erkennung und nach Möglichkeit Lokalisierung von Fehlern in den Speichern benutzten Methoden beruhen auf logischen Vorgängen, wobei der Speicher zunächst mit einem geeigneten Informationsmust er beschickt, sodann der Speicherinhalt ausgelesen und sohliesslich geprüft wird, ob die ausgangssei tig erhaltenen Signale so sind, #ie dies bei einer korrekten Betriebsweise des Speichers zu erwarten wäre, Ist dies nicht der Fall, so wird eine weitere Untersuchung angestellt, um festzustellen, welche fehlerhaften Bauelemente zu dem erhaltenen fehlerhaften Ergebnis geführt haben können. Diese Näherungsmothode lässt sich in verschiedenen¹ Weise verfeinern und vorbessern, indem beispielsweise unmittelbar auf einige Schalter im Sinne von deren Betätigung oder Sperrung eingewirkt wird, um eine entsprechende Aufteilung des SpeicherfeluoK zu erhalten und Information darüber zu bekommen, welcher Bereich des Speichers die Fehlerquelle enthält.

Sowohl die Quollen- als auch die Senkenschalter werden üblicherweise mit Hilfe von Transistoren aufgebaut, und diese unterliegen «ehr halten Betriebsbedingungen, da sie Gleichströmen und Sperrspannungen widerstehen müssen, die erheblich höher sind als sie in logischen Schaltungen auftreten, und ausaerdem mit hoher Geschwindigkeit arbeiten müssen. Experimentelle Untersuchungen haben gezeigt, das· der grösete Teil von Betriebefehlern in elektronischen Speichern mif Fehler an den ale Schalter verwendeten Transietoren zurückgeht, indem dicr« Schal tor bei-

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spielsweise geschlossen bleiben, obwohl sie nach dem geforderten Betriebszustand geöffnet sein sollten·

Solche Fehler an den Transistoren führen dann au einer fehlerhaften Stromverteilung in den Speicherleitungen, so dass beispielsweise die Betriebeströme auf eine Mehrzahl von parallelen Wegen verteilt werden, wobei das Ausmass dieser Stromverteilung gänzlich unvorhersehbar ist, da es in Abhängigkeit von der Zeit, der Temperatur und anderen zufälligen Faktoren variieren kann. Entsprechend wird auch das Muster für die Ausgangssignale des Speichers variabel und willkürlich, und eine Lokalisierung des Fehlers mit Hilfe logischer Prüfmethoden ist ausgeschlossen.

Die gleichen Verhältnisse können auftreten, wenn eine oder mehrere der mit den Speicherleitungen verbundenen Dioden einen Kurzschluss zeigen, da auch in diesem Falle zu den gewünschten Stromwegen parallel verlaufende Nebenstromwege entstehen können. Umgekehrt hat dagegen ein Fehler, der auf einen s tänd igt? «ff enen Schalter oder eine Isolation einer Diode zurückgeht, zur Folge, dass ein Stromfluss in den betroffenen Speicherleitungen überhaupt verhindert wird, und lässt sich daher leicht mit den üblichen logischen Prüfmethoden erkennen«

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Prüfschaltung zum Überprüfen der korrekten Arbeitsweise und der Fehlerfreiheit der Bauelemente eines elektronischen Speichers anzugeben, die insbesondere ein· Überprüfung von Schaltern und Dioden in der Weise ermöglicht, dass ein ständig geschlossener Schalter oder ein· kurzgeschlossen· Diode oder zumindest «ine Gruppe von Schaltern oder Dioden mit einem fehlerhaften Schalter bzw.

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einer fehlerhaften Diode lokalisiert werden,kann.

Die gestellt· Aufgabe wird ausgehend von einer Prüfschaltung der eingangs erwähnten Art erfindungsgemäss gelöst durch die Kombination einer Schalteinrichtung zum selektiven Schllessen eines einzelnen Schalters mit einer Schwellwertstufe zum Erzeugen eines Fehlersignals in R_eaktion auf das Auftreten eines Stromimpulses in Entsprechung zum Schliessen des einzelnen Schalters,

In weiterer Ausgestaltung der Erfindung kann dabei zum Überprüfen von Speichern, bei denen mindestens an ein Ende jeder Speicherzeile mindestens ein Bauelement mit unipolarer Stromdurchlässigkeit angeschlossen ist, eine zusätzliche Schalteinrichtung zum selektiven Schliessen eines Senken- und eines Quellenschalters auf derselben Seite der Speicherzeilenanordnung vorgesehen und die Schwellwertstufe auf die Erzeugung eines Fehlersignals in Reaktion auf das Auftreten eines Stromimpulses in Entsprechung zum Schliessen dieser beiden Schalter eingerichtet sein.

P Eine bevorzugte Weiterbildung der Erfindung besteht auch darin, dass ein Fehlerregister zum Registrieren der von der Schwellwertstufe abgegebenen Fehlersignale vorgesehen ist, und die Schalteinrichtung kann auf die Weiterleitung der Taktimpulse an eine vorgebbare einzeln· Taktleitung und/oder an ein vorgegebenes Paar von Taktleitungen eingerichtet sein.

Soll mit Hilf· der erfindungsgem&ssen Prüfschaltung «in defekter Schalter ermittelt werden, so werden zunächst all· Quellenschalter bzw« all· Senkenschalter gegen

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Scliliessen gesperrt, ans chi less end werden nach einem bestimmten Prüfprogramm der Reihe nach jeweils ein Senkenschalter bzw· ein Quellenschalter für eine bestimmte Zeit geschlossen und mit Hilfe der Schwellwertstufe ein Stromdurchgang durch den jeweils geschlossenen Senkenbzw«, Quellenschalter festgestellt und das entsprechende Ausgangssignal der Schwellwertstufe gegebenenfalls im Fehlerregister festgehalten. Ein Stromfluss infolge des Schilessens eines Senkenschalters bzw. eines Quellenschalters bei Sperrung aller Quellenschalter bzw. aller Senkenschalter gegen Schliessen zeigt nämlich, dass zumindest einer der gegen Schliessen gesperrten Schalter unzulässigerweise doch geschlossen ist und den beobachteten Stromfluss zulässt.

Mit Hilfe eines anderen Prüfprogramms, bei dem ein vorgegebener Quellenschalter bzw. ein vorgegebener Senkensclialter ständig geschlossen gehalten wird und gleichzeitig der Reihe nach alle Senkenschalter bzw. alle Quellenschalter nacheinander eine bestimmte Zeit geschlossen werden, die auf der gleichen Seite der Speicherzeilenanordnung liegen wie der ständig geschlossen gehaltene Quellenschalter bzw. Senkenschalter, lässt sich ein Kurzschluss in einer oder mehreren der an die Speicherleitungen angeschlossenen Dioden erkennen.

Nach vollständiger Durchführung eines Prüfprogramms kann man anhand des in dem Fehlerregister festgehaltenen Musters von Fehlersignalen den oder die defekten Schalter bzw. die defekten Dioden identifizieren, oder es ist zumindest eine Untergruppe von Dioden oder Schaltern identifizierbar, der die defekten Dioden bzw. der defekte Schalter gehören.

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In der Zeichnung ist die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen veranschaulicht; dabei zeigen in der Zeichnung:

Fig. 1 ein Schaltbild für die Auswahlleitungen für eine Dimension einer Speichermatrix mit zwei Dioden pro Auswahlleitung und die zugehörige erfindungsgetnäss ausgebildete Prüfschaltung,

Fig. 2a und 2b im Fehlerregister der Prüfschaltung von

Fig. 1 bei einem Fehler in einem Transistor bzw. in einer Diode auftretende Muster von Fehlerei gnal en,

Fig. 3 ein Schaltbild für die Auswahlleitungen für eine Dimension einer Speichermatrix mit vier Dioden je Auswahlleitung und die zugehörige erfindungsgemäse ausgebildete Prüfschaltung,

Fig. k ein Muster für im Fehlerregister der Prüfschaltung von Fig. 3 bei einem Fehler in einem Transistor auftretende Fehlereignale und

Fig. 5 ein Schaltbild für den erfindungageraässen Aufbau der Auswahl- und Prüf schaltungen für die Speicherleitungen aus logischen Baustufen.

In Fig. 1 sind 16 Auswahlleitungen für eine Dimension einer Speichermatrix schematisch und teilweise dargestellt. Diese 16 Auswahlleitungen sind in vier Gruppen zu je vier Auswahlleitungen unterteilt. Dabei tragen die vier Auewahlleitungen der ersten Gruppe die Bezugs -zahlen 11 bis 14, die vier Auswahlleitungen der zweiten Gruppe die Bezugszahlen 21 bis 2k, die vier Auewahlleitungen der dritten Gruppe die Bezugsszahlen 31

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34 und die vier Auswahlleitungen der vierten Gruppe die Bezugszahlen 41 bis 44. Jede Auswahlleitung ist an einem ihrer Enden mit zwei entgegengesetzt gepolten Dioden versehen. In der Zeichnung sind nur die Dioden für die erste und vierte Gruppe von Auswahlleitungen dargestellt und mit den Bezugszahlen 111 bis 118 bzw. 141 bis 148 bezeichnet.

Jede der Speicherleitungen ist daher auf der Seite der zugehörigen Dioden mit zwei Ausgangsleitungen verbunden, in denen jeweils ein Strom nur in einer vorgegebenen Richtung fliessen kann.

Die Dioden für die dritte und vierte Gruppe von Auswahllei tungen sind in der Zeichnung nicht dargestellt und an ihrer Stelle veranschaulichen Pfeile die Richtung, in der ein Strorafluss durch die jeweiligen Dioden möglich ist.

Auf der anderen Seite sind die Speicherleitungen jeweils gruppenweise an eine von vier Hauptrückleitungen angeschlossen, die für die erste, zweite, dritte und vierte Gruppe von Bezugszahlen 1, 2, 3 bzw« 4 tragen.

Ausserdetn sind in der Zeichnung die linke Seite mit dem Buchstaben X und die rechte Seite mit dem Buchstaben Y bezeichnet und sollen im folgenden der Kürze halber als X-Seit· bzw· als Y-Seite bezeichnet werden·

Auf der Y-Seit· sind dl· Hauptruckleitungen 1, 2, 3 und 4 jeweils alt einem Paar von npn-Transistoren 61 und 62, 63 und 64, 65 und 66 bzw· 67 und 68 verbunden. Von diesen Transistoren arbeiten di· Transistoren 62, 64, 66 und 68 al· Quellenschalter und sind daher Mit ihren

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Kollektoren über einen gemeinsamen Kollektorwiderstand R an eine positive Spannungsquelle +V angeschlossen, während ihre Emitter jeweils mit der zugehörigen Hauptrückleitung 1, 2, 3 bzw. k verbunden sind.

Die Transistoren 61, 63, 65 und. 67 arbeiten als Senkenschalter und sind daher mit ihren Emittern an eine gemeinsame Erdungsleitung angeschlossen, während ihre Kollektoren jeweils mit der zugehörigen Hauptrückleitung 1» 2, 3 bzw. k verbunden sind. Bei allen vier ™ Quellenschaltern und allen vier Senkenschaltern auf der Y-Seite ist jeweils die Basis der entsprechenden Transistoren an eine von entsprechend vielen Anschlussklemmen T angeschaltet, über die Steuersignale für das Öffnen bzw« Schliessen der jeweiligen Schalter zugeführt werden können. Ausserdem kann für jeden der Transistorschalter zwischen die jeweilige Anschlussklemme T und die Basis des entsprechenden Transistors eine Verstärkerstufe eingefügt sein, die in der Zeichnung nicht dargestellt ist.

Auf der X-Seite sind alle ersten Dioden, wie 111 und fc IkI, der ersten Auswahlleitungen 11, 21, 31 bzw. k~\ in jeder Gruppe von Auswahlleitungen über eine Leitung 101 mit dem Kollektor eines Transistors 51 verbunden, der als Senkensehalter arbeitet und einen geerdeten Emitter aufweist.

Alle zweiten Dioden, wie 112 und ^k2, der gleichen ersten Auswahlleitungen sind über ein· Leitung 102 «it dem Emitter «ines Transistors 52 verbunden, der al· Quellensehalter arbeitet und dessen Kollektor über den Kollektorwiderstand R von der Spannungsquelle +V hör gespeist wird.

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In gleicher Weise sind Dioden, wie II3 und 143, der zweiten Auewahlleitungen 12, 22, 32 bzw. 42 für jede Gruppe von Auswahlleitungen über eine Leitung IO3 mit dem Kollektor eines Transistors 53 verbunden, dessen Emitter geerdet ist, während Dioden, wie 11 Jf und 144, der zweiten Auswahlleitungen 12, 22, 32 bzw. 42 über eine Leitung 104 an den Emitter eines Transistors 54 angeschlossen sind, dessen Kollektor über den Kollektorwiderstand R von der Spannungsquelle +V her gespeist wird. Die Dioden, wie 115 und 145, der dritten Auswahlleitungen 13, 23, 33 bzw. 43 jeder Gruppe sind über eine Leitung IO5 mit dem Kollektor eines Transistors 55 verbunden, dessen Emitter geerdet ist, während Dioden, wie II6 und 146, über eine Leitung IO6 mit dem Emitter eines Transistors 56 in Verbindung stehen, dessen Kollektor über den strombegrenzenden Kollektorwiderstand R von der Spannungsquelle +V her gespeist wird.

Die Dioden, wie 117 und 1471 der vierten Auswahlleitungen 14, 24, 34 bzw. 44 jeder Gruppe sind über eine Leitung 107 mit dem Kollektor eines Transistors 57 verbunden, dessen Emitter geerdet ist, während Dioden, wie 118 und 148, dieser vierten Leitungen jeder Gruppe über eine Leitung 108 mit dem Emitter eines Transistors 58 in Verbindung stehen, dessen Kollektor über den Kollektorwiderstand R von der Spannungsquelle +V her gespeist wird. Auf der X-Seite sind die vier Quellenschalter und vier Senkenschalter jeweils mit ihrer Basis an entsprechend viele Anschlussklemmen T angeschlossen, über die Steuersignale für das Öffnen bzw. Schliessen der jeweiligen Schalter gegebenenfalls unter Zwischenschaltung von Verstärkerstufen zugeführt werden können.

Der Kollektorwiderstand R, der an die Spannungsquelle +V angeschlossen ist, arbeitet als Konstantstromquelle und nähert sich einer idealen Konstantstromquelle umso mehr,

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je mehr sein Wert gross ist im Vergleich zur angeschlossenen Last. Gegebenenfalls kann dieser Widerstand durch eine andere Schaltung ersetzt werden, die in befriedigenderer Weise als Konstantstromquelle arbeitet.

An das mit den Kollektoren aller als Quellenschalter arbeitenden Transistoren verbundene Ende P des Kollektorwiderstands R ist der Eingang einer Schwellwertstufe SG angeschlossen. Jedesmal, wenn eine Auswahlleitung angesteuert wird, d.h. jedesmal, wenn ein Stromimpuls durch den durch das Schliessen eines Quellenschalters und eines Senkenschalters vervollständigten Stromkreis fliesst, tritt an dem Ende P des Kollektorwiderstandes R ein Spannungsabfall gegenüber dem Spannungswert +V der Spannungsquelle auf. Dieser Spannungsabfall wird durch die Schwellwertstufe SG festgestellt, die in Reaktion darauf ein'einer logischen 1 entsprechendes Signal an ihrem Ausgang abgibt. Die Schwellwextstufe SG ist dabei so eingestellt, dass sie das einer logischen 1 entsprechende Ausgangssignal nur dann abgibt, wenn der Stromkreis durch die betreffende Auswahlleitung tatsächlich zustande kommt, nicht aber auch für den Fall eines einmaligen oder vorübergehenden Impulses infolge des Schliessens eines einzelnen Schalters. Der Auegang der Schwellwertstufe SG ist mit dem Eingang IR eines Fehlerregisters RE verbunden. Der Übersichtlichkeit der Darstellung halber sei eingenommen, dass das Fehlerregister RE so aufgebaut ist, dass der Eingang IR unter Steuerung durch ein einem Steuereingang IT zugeführtes Taktsignal schrittweise weitergeschaltet wird, so dass die ihm zugeführten EingangesignaIe nacheinander in Speicherzellen RE₁ bis RE.., festgehalten werden. Anstelle einer solchen Anordnung kann mit dem gleichen Endergebnis auch ein Schieberegister verwendet werden.

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Der Arbeitszyklus für die Feststellung, ob ein Schalter ständig geschlossen ist, umfasst dann folgende Einzelschritte, die nach eine» eigenen Prüfprogramm ablaufent

1. Die Senkenschalter werden nacheinander und einzeln geschlossen, wahrend alle Quellenschalter gegen Schliessen gesperrt sind. In Koinzidenz mit dem Schliessen jeweils eines Senkensehaltertf wird der Ausgang der Schwellwertstufe SG nacheinander mit einer der Speicherzellen RE₁ bis RE_g im Fehlerregister RE verbunden. Wenn alle Quellenschalter in korrekter Weise offen sind, kommt es zu keinerlei Stromimpuls und die Schwellwertstufe SG gibt keinerlei Ausgangesignale ab, so dass alle Speicherzellen RE₁ bis RE₀ den Wert O enthalten« Unter der Annahme jedoch, dass einer der Quellenschalter aufder X-Seite, z.B. der durch den Transistor 52 verkörperte Schalter, ständig geschlossen sei, werden alle ersten Auswahlleitungen 11, 21, 31 bzw· 41 in allen Gruppen über die Leitung 102 und Dioden, wie 112 und 142, ständig mit Spannung gespeist« Das aufeinanderfolgende Sohliessen der Senkenschalter 51 bis 57 und 61 und 67 macht dann jeweils den Stromkreis zwischen der Spannungsquelle +V und der Erdleitung vollständig und gestattet den Durchgang von Strömt Daher gibt die Sohwellwertstufe SG jedesmal ein einer logischen 1 entsprechendes Signal ab, und in allen Speicherzellen RE. bis REg wird der Wert 1 festgehalten. Das gleiche geschieht auch dann, wenn irgendein anderer der Quelleneohalter, wie etwa die Quellenschalter 5k, 56 bzw« 58, auf der X-Seite ständig geschlossen sind«

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Liegt dagegen der ständig geschlossene Quellenschalter auf der Y-Seite, beispielsweise bei dem Transistor 62, so wird Spannung lediglich den Auswahlleitungen 11, 12, 13 und "\k der ersten Gruppe zugeführt.

Daher kommt es zu einem Stromdurchgang in Entsprechung zum Schliessen der Senkenschalter 51, 53, 55 und 57 auf der X-Seite und des einzelnen Senkenschalters 61 auf der Y-Seite. Daher wird eine logische 1 in den vier Speicherzellen RB₁ bis REk und in der Speicherzelle RE- festgehalten.

1st einer der Schalter 6k, 65 oder 66 ständig geschlossen, so wird entsprechend eine logische 1 in den ersten vier Speicherzellen RE₁ bis RE. und

ausserdem in einer der Speicherzellen REg, RE_ bzw. festgehalten.

Ein solches Prüfprogramm erlaubt es offensichtlich, zu prüfen, ob es einen ständig geschlossen Quellensehalter gibt, und diesen zu lokalisieren, wenn er auf der Y-Seite liegt, oder einfach festzustellen, dass er zur Gruppe der Quellenschalter auf der X-Seite gehört.

2. Alle Senkenschalter werden gegen Schliessen gesperrt, und alle Quellenschalter werden einzeln und nacheinander geschlossen. Wenn alle Senkenschalter offen sind, gibt es keinerlei Stromimpuls·, und in dem Speicherzellen RS₉ bis RE₁ £ des Fehlerregieters RE wird nur der Vert O gespeichert. Ist jedoch ein Senkensohalter, wie beispielsweise der Schalter 51

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auf der X-Seite ständig geschlossen, so besteht für alle ersten Auswahlleitungen 11, 21, 31 und 41 in allen Gruppen über die Leitung 101 und Dioden, wie 111 und 141, eine Verbindung zu Erde, und es kommt daher in Entsprechung zu dem Schliessen jedes der Quellenschalter 52 bis 58 und 62 bis 68 zu Stromfluss. Dementsprechend wird in allen Speicherzellen

HE- bis RE₁^ der Wert 1 festgehalten.

Ist dagegen der ständig geschlossene Schalter ein Senkenschalter auf der Y-Seite, z.B. der Schalter 61, so sind nur die Auswahlleitungen 11, 12, 13 und lh der ersten Gruppe ständig geerdet.

Dementsprechend gibt es einen Stromfluss bei Koinzidenz im Schliessen jedes der Quellenschalter 52 bis 58 auf der X-Seite und nur des Quellensohalters 62 auf der Y-Seite.

Eine logische 1 wird daher in den vier Speicherzellen RE_n bis RE₁₀ und in der Speicherzelle RE₄₀ festgehalten. Ist der ständig geschlossene Schalter dagegen einer der Schalter 63, 65 oder 67, dann wird eine logische 1 statt in der Speicherzelle RE₁- in einer der Speicherzellen RE₁Ki ^₁C bzw. RE.. g festgehalten.

Diese Prüfung erlaubt zu entscheiden, ob es einen ständig geschlossenen Senkenschalter gibt,und diesen zu lokalisieren, wenn er auf der Y-Seite liegt, oder einfach festzustellen, dass er auf der X-Seite liegt, ohne ihn lokalisieren zu können.

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Wenn keiner der Sohalter fehlerhaft ist und daher keine logische 1 in einer der Speichrzellen RE bis RE £ festgehalten ist, kann die Fehlerfreiheit der Dioden dadurch geprüft werden, dass die Senkenschalter und Quellenschalter auf der X-Seite gegen Sohliessen gesperrt und die beiden Schalter aller möglichen Paare aus jeweils einem Senkenschalter und eine· Quellenschalter auf der T-Seite geschlossen werden. So kann beispieleweise der Quellenschalter 62 geschlossen gehalten werden, und anschliessend werden dann die Senkenschalter 61, 63» 65 und 67 der Reihe nach und einzeln geschlossen. Dabei etwa entstehende Ausgangssignale der Schwellwertstufe SG ait dem Wert einer logischen 1 werden in den Speicherzellen RE₁ bis RE. festgehalten. Anschiieββend wird der Quellenschalter 62 geöffnet und dafür der Quellenschalter 6k geschlossen gehalten, während die Senkenschalter 61 bis 67 erneut der Reihe nach und einzeln geschlossen werden, wobei das Ergebnis in den Speicherzellen RE- bis REo registriert wird. Der gleiche Vorgang wird sodann noch zweimal wiederholt, wobei zuerst nur der Quellenechalter 66 und danach nur der Quellenschalter 68 geschlossen gehalten wird und die jeweils erhaltenen Ergebnisse in den Speicherzellen RE₀ bis RE bzw. RS- bis RE-.5 festgehalten werden. Wenn alle Dioden einwandfrei sind, tritt ein Stramfluss nur dann auf, wenn der Senkenschalter geschlossen wird, der mit dem jeweils geschlossen gehaltenen Quellenschalter unmittelbar verbunden ist. Das heisat, dass bei geschlossen gehaltenem Quellenschalter 62 ein Stromdurohgang nur während des Schliessens des Senkensohaltera 61 auftritt und bei geschlossen gehaltenen

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Quellenschaltern 64, 66 bzw. 68 nur das Sohllessen der Senkenschalter 63, 65 bzw· 67 zu Stroafluss führt. Eine logische 1 wird daher nur in den Speicherzellen RS₁, RS^, ^RI11 ^{und RS}'\6 ^f>#etC*^nA;Lt·¹¹· Ist dagegen beispielsweise eine der Dioden 112, 114, 116 oder 118 kurzgeschlossen, so werden bei Sehliessen des Quellenschalters 62 alle ersten, zweiten, dritten bzw. vierten Auswahlleitungen der übrigen Gruppen ebenfalls «it Spannung versorgt, und es kommt zu eine« Stromfluss auch bei« Schliessen der Senkenschalter 64, 65 und 67. Daher wird auch in den Speicherzellen RS₂ f RS~ und RS^ der Wert 1 gespeichert.

Ist eine der Dioden 111, 113, 115 oder 117 kurzgeschlossen, so wird durch Schliessen eines der Quellenachalter 64, 66 oder 68 eine Spannung allen Auswahlleitungen der ersten Gruppe zugeführt und es flieset ismer dann Stroe, wenn der Senkenschalter 61 geschlossen wird. Sntsprechend kommt es zur Registrierung einer logischen 1 in den Speieherzellen , RS« und RE₁₀. Das gleiche tritt auch für die

Dioden in. den anderen Auswahlleitungsgruppem auf. } Ba tat daher auf dl··· Weise mfgllea, die ftrmppe ve» • Amavablleitvmge» «u feeatiaaea, welche dl· fehler-

hafte Died· enthält, und auss«rdea> festzustellem, e» «1· fehlerhafte Dl·«· eine im X-Y-Riehtung eder in emtgegengesetzter Richtung gepelte Died· ist.

Pig. 2« seigt 41· Muster für die rehlersigmale, «ie am Snde der Prüfsrklen Im Fehlerregister SS bei d*r Überprüfung 4mr Sehalter auf rehlerfveilMit geapei«m«rt • Ind.

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Dabei sind die jeweils nacheinander geschlossenen Schalter aa Kopf der Spalten angegeben, Jedea Kreuz in einer der Speicherzellen bedeutet eine darin gespeicherte logische Der Schalter bzw· der Satz von Schaltern, der fehlerhaft sein kann, wenn das entsprechende Registersmster auftritt, ist jeweils rechts neben der entsprechenden Zeile angegeben·

Fig· 2b veranschaulicht das Muster für die Fehlersignale, das während jedes Prüfzyklus für die Fehlerfreiheit der Dioden ±m Fehlerregister RE erscheint.

Dabei sind in Fig· 2b nur die der Überprüfung der Dioden der ersten und vierten Gruppe von Auswahlleitungen entsprechenden Ergebnisse veranschaulicht.

In Fig. 2b sind jeweils *u Kopf der Spalten Mit nicht eingeklammerten Zahlen die Paare von jeweils geschlossenen Schaltern angegeben, und in den horizontalen Zeilen sind dann die Muster für die Fehlersignale veranschaulicht, die erhalten werden, wenn die defekte Diode jeweils ein· der rechts neben der jeweiligen Zeile durch die sieht eingeÜMMerten Zahlen angedeuteten Dioden ist.

Dl· e«araffiertea ZeIlern slat diejenige», in d«aea auch dann ei»e legisoae 1 registriert wird, wenn keine Diode fehlerhaft 1st, uad dl· Speieaeraellea, ia denen die Speicherung einer logischen 1 auf ein· defekte Diode ■urUokgeht, «lad duroh «in Kreuz Markiert.

SelbetverstäaeU ich lässt eich für dea angestrebte» Zweok aueh jede Beliebige andere Auf«iaaaderfolge vea Vorgänge a bei« avfelaaaderfolgenden Sohliessen aller Beglichen Paare von jeweils eine« Quelleasehalter und eine« Senkenachalter auf der X-Seite auswählen«

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¥ie die Darstellung zeigt, ist eine Identifizierung eines fehlerhaften Schalters bei der dargestellten Anordnung nur für die Schalter möglich, die auf der Y-Seite, also auf der den Dioden gegenüberliegenden Seite liegen, nicht aber auch für die Sohalter auf der X-Seite.

Eine bessere Festlegung beim Lokalisieren eines fehlerhaften Schalters lässt sich mit Hilfe der in Fig. 3 veranschaulichten Prüfschaltung gewinnen, in der jede Speicherleitung an beiden Enden mit einen Paar entgegengesetzt gepolter Dioden verbunden ist.

In der Darstellung in Fig. J sind alle auch in Fig. 1 erscheinenden Bauelemente mit den gleichen Bezugszahlen versehen. Die acht Dioden, die mit den vier Auswahlleitungen 11, 12, 13 und lh der ersten Gruppe auf der Y-Seite verbunden sind, tragen die Bezugszahlen 161 bis 168. Die auf der Y-Seite mit den vier Auswahlleitungen kl bis kk der vierten Gruppe verbundenen acht Dioden sind mit den Bezugszahlen 191 bis 198 bezeichnet. Wie in Fig. sind die mit den Auswahlleitungen der zweiten und der dritten Gruppe verbundenen Dioden auch in Fig, 3 nicht eigens dargestellt. Ein Prüfzyklus umfasst wieder die gleichen Schritte, wie sie oben in Verbindung mit Fig, 1 beschrieben worden sind. Zuerst werden also alle Quellenschalter gegen ein Schliessen gesperrt und alle Senkenschalter werden der Reihe nach einzeln geschlossen. Anschliessend werden alle Senkeneohalter gegen ein Schliessen gesperrt, und alle Quellenschalter der Reihe nach und einzeln geschlossen. Bleibt ein defekter Schalter auf der X-Seite, wie beispielsweise der Quellenschalter 52, ständig geschlossen, so werden alle ersten Auswahlleitungen 11, 21, 31 und kl der vier Gruppen ständig von der Span-

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nungsquelle her mit Spannung versorgt, für die anderen Auswahlleitungen dieser Gruppen 1st dies jedoch nicht der Fall. Bei aufeinanderfolgendem Schliessen der Senkenschalter 51 bis 57 fllesst dann ein Strom nur beim Schliessen des Senkenschalters 51, während ein , Schliessen der Senkenschalter 61 bis 67 für jeden davon einen Stromfluss zur Folge hat. Entsprechend wird eine logische 1 zunächst in der Speicherzelle RE₁ und dann in den vier Speicherzellen RE₁, bis REg gespeichert.

W Ist dagegen einer der anderen drei Quellenschalter 5^·» 56 oder 58 ständig geschlossen, so liegen jeweils die zweiten, dritten bzw. vierten Auewahlleitungen jeder Gruppe an Spannung und ein aufeinanderfolgendes Schliessen der Senkenschalter 51 bis 57 und 61 bis 67 lässt ein einer logisohen 1 entsprechendes Signal für das Fehlerregister RE entstehen, wenn die Senkenschalter 53» 55 bzw. 57 einerseits und jeder Senkenschalter 61, 63, 65 und 67 andererseits geschlossen werden. Als Folge davon wird eine logische 1 in den Speicherzellen RE₂, REo bzw· RE, und ausserdem in jeder der Speicherzellen RE- bis REg registriert.

Bleibt dagegen auf der X-Seite ein Senkenschalter, wie beispielsweise der Senkenschalter 51, ständig geschlossen, so sind nur die ersten Auswahlleitungen 11, 21, 31 und U1 aller vier Gruppen geerdet. Daher kommt es zu einem Stromfluss in Entsprechung auf das Schliessen des Quellenschalters 52 und ausserdem auf das Schliessen der vier Quellenschalter 62 bis 68. Eine logische 1 wird daher In die Speicherzelle RE_q und ausaerdem in alle vier Speicherzellen RE·,« ti· K^g eingespeichert. Bleibt

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einer der Senken·ehalter 53» 55 bzw. 57 ständig geschlossen, so werden, jeweils die zweiten, dritten bzw. vierten Auswahlleitungen aller vier Gruppen geerdet. Sin Stroefluss tritt entsprechend jeweils bei« Sohliessen der Quellensohalter 5k oder 55 oder 58 und ausserdea bei« Sohliessen jedes der vier Quellensehalter 6$ bis 68 auf, und eine logische 1 wird in den Speicherzellen Mf₁₀ oder ₁ oder IUC₁₂ und ausserden in allen vier'Speieherzellen

O bis RS₁^ registriert.

Für den Fall, dass der fehlerhafte Sehalter auf der X-Seite liegt, sind die Ergebnisse der Überprüfung die gleichen, wie sie oben in Verbindung «it Fig. 1 beschrieben worden sind.

In Fig. k sind die Muster für die ±m Fehlerregieter KS auftretenden Fehlersignale wiedergegeben, wobei die eine logische 1 speichernden Registerzellen wie in Fig, 2a durch ein Kreuz siarkiert sind und die jeweils zugehörigen fehlerhaften Schalter rechts neben der betreffenden Zeile angegeben sind»

Venn alle Sehalter kerrekt arbeiten, kann la gleicher Veise und alt den gleichen Ergebnissen wie für de» in Verbindung «it Fig· 1 abgehandelten Fall das suverlassige Arbeiten der Dieden auf der X-Seite überprüft werden«

Für die Überprüfung der Dieden auf der Y-Seite wird die gleiche Felge νen Vergangen durchgeführt, iarfea die Schalter auf der Γ-Seite gesperrt und gleichseitig jeweils beide Schalter aller attgliehea Paare aus eines Quellensohalter umd eine· Senkensehalter auf der X-Seite gesohlessen werden.

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Da der Schaltunc>aufbau symmetrisch ist, werden dl· gleichen Ergebnisse erhalten, wi· ai· in Fig. 2 veran-•ohaulioht sind, wobei allerdings di· in Klammern gesetzten Zahlen für die Dioden und Transistoren zu betraehten sind.

In Fig* 5 sind die erfindung·gemä·· vorzunehmenden legisohen Verknüpfungen veranschaulicht, webei wiederum eine Beschränkung auf die für alle Zeilen nur einer Dimension einer Speiehermatrix erforderlichen Verknüpfungen getroffen ist. Dabei ist weiter angenommen, dass der zu überprüfende Speicher ein solcher ist, bei dem der Auelesevorgang das im den einzelnen Speicherelementen enthaltene Ergebnis vernichtet und daher ein Speicherzyklus notwendigerweise eine Lesephase und eine Sehreibphase umfasst, Ausserdem ist angenommen, dass der schaltung*- massige Aufbau der Darstellung in Fig, 1 entspricht, also nur zwei Dioden pro Speicherzelle vorgesehen sind.

In Fig. 5 seil das mit MS bezeichnete Rechteck alle Speicherleitungen und die Anschlüsse für die Dioden der betrachteten Dimension enthalten. Der von dem Rechteek NB 1» FIg, 5 imsehlesseme Bereleh entspricht also im wesentliche» dem aueh im Fig. 1 «»re» das mit NB beeeichnete «ad im geetrieaeltem Linien ve rams ehau 11 eh te Reehteek umsehlessenen Sehaltungsten. Allerdings kann die Anzahl eier Leitumgsgruppen und der Leitungen je Gruppe eine ander· sein und wird im allgemeinen bei grOsseren Werten als vier liegen, wie dies in Fig. 1 angenommen ist. Auf der X- um« der Y-Seite «es als Reehteek in Flg. 5 wiedergegebenen Speichers NB sind nur das erste «ma aas letate Paar ve» tjaallem- «ad Senkensehaltem dargestellt, also nur die Sehalter mit dem Bezugssahlen 51, 52Ϊ 57, 58; 61, 62 uad *7, 68. Zwlsehen diesen allein

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dargestellten Schaltern sind selbstverständlich eine für die Auswahl einer von insgesamt N Zeilen der betrachteten Dimension erforderliche Anzahl von Paaren von jeweils zwei Schaltern eingefügt zu denken.

Üblicherweise sind N solcher Leitungen in η Gruppen zu jeweils m Leitungen unterteilt, wobei die Beziehung m · η « N gilt. Daher gibt es m Schalterpaare auf der X-Seite und η Schalterpaare auf der Y-Seite. Der Einfachheit

2 halber sei angenommen, dass man, so dass η = N ist. Dann gibt es insgesamt kn Schalter. Alle im folgenden angestellten Überlegungen lassen sich ohne weiteres auf den Fall erweitern, dass m nicht gleich η ist.

Mit den gleichen Bezugszahlen wie in Fig. 1 und Fig. 2 sind in Fig. 5 die Spannungsquelle +V, der strombegrenzende Widerstand R, die Schwellwertstufe SG, das Fehlerregister RE mit kn Speicherzellen, sein Signaleingang IR und sein Takteingang IT bezeichnet.

Im unteren Teil von Fig. 5 *■·* ein Speicheradressenregister RA dargestellt, das die Adresse der in jedem Speicherzyklus auszuwählenden Speicherzeile enthält. Unter der oben gemachten Annahaie umfasst das Speicheradressenregister RA 2k « 21og₂ η Bits, Die erste Hälfte seines Inhalts, d.h. die ersten k Bits, lassen aich unter Steuerung durch einen Taktimpuls T_Q über einen Kanal CX in einen Dekodierer DX übertragen, und die zweite Hälfte des Inhalts, d.h. die zweiten k Bits, über einen Kanal CY zu einem Dekodierer DY. Die Dekodierer DX und DY haben jeweils η Ausgänge, von denen jeweils nur der erate 201 und der letzte 202 für den Dekodierer DX und 211 und 212 für den Dekodierer DY in Fig. 5 veranachaulioht aind.

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Für jede im Speicheradressenregister RA enthaltene Adresse führt nur ein Ausgang des Dekodierers DX den Wert 1, während alle übrigen Ausgänge den Vert 0 zeigen, und das gleiche gilt für die Auegänge des Dekodierers DY.

Ausserden sind in Fig. 5 durch das entsprechende Symbol eine Reihe von Baustufen, wie die Baustufe 203» dargestellt, die als UND-Schaltungen ausgeführt sind, zwei Eingänge aufweisen und an ihrem Ausgang nur dann ein einer logischen 1 entsprechendes Ausgangesignal abgeben, wenn die ihren beiden Eingängen zugeführten EingamgssignaIe ebenfalls den Wert einer logischen 1 besitzen. Der Kürze halber sollen diese UND-Schaltungen im folgenden einfach als Tore bezeichnet werden, wobei ein solches Tor als offen gelten soll, wenn einer seiner Eingänge, der als Steuereingang ausgewählt ist, ein Signal entsprechend einer logischen 1 führt, so dass das am zweiten Eingang anliegende Signal unverändert am Ausgang des Tores erscheint. Umgekehrt gilt das Tor als geschlossen, wenn der Steuereingang den Vert 0 führt, da in diesem Falle am Ausgang immer der Vert 0 erscheint.

Veiterhin sind in Fig. 5 ODER-Schaltungen oder ODER-Tore enthalten, die zwei oder mehr Eingänge aufweisen und durch entsprechende Symbole, wie beispielsweise die Symbole mit den Bezugszahlen 246 oder 2J5O bezeichnet sind. Bei diesen ODER-Toren erscheint am Ausgang eine logische 1, wenn wenigstens einer der Eingänge den Wert 1 führt. Die ODER-Tore können daher als ständig offene Tore angesehen werden, da jeder Vert 1 an irgendeinem ihrer Eingänge unverändert an den Ausgang weitergegeben wird. Dabei sei angenommen, dass der Wert 1 einer positiven Spannung von beispielsweise 5 V entspricht, während dem logischen Vert 0 die Spannung 0 V zugeordnet ist.

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Der Ausgang 201 d·· Dekodierers DX ist mit dem Steuereingang der Tore 203 und 204 verbunden, deren Ausgangssignale die Transistoren 5² bzw« 51 *n deren Basis ansteuern, die den Quellenschalter bzw. den Senkensohalter für die erste Auswahlleitung in der ersten Gruppe von Auβwahlleitungen bilden«

Die Schalter sind geschlossen, die Transistoren also leitend, wenn eine positive Spannung, also eine einer logischen 1 entsprechende Spannung, an der Basis der t

Transistoren anliegt. Alle übrigen Ausgänge des Dekodierers DX, wie der Ausgang 202, sind mit den Steuereingängen der restlichen Tore, wie der Tore 205 und 206, verbunden, über-deren Ausgänge weitere Transistoren, wie die Transistoren 58 und 57, jeweils an ihrer Basis angesteuert werden, welche die Quellen- bzw. Senkenschalter für die weiteren Auswahlleitungen jeder Gruppe bilden. Da alle Ausgänge des Dekodierers DX mit einer Ausnahme den Wert 0 führen, sind alle Tore auf der X-Seite geschlossen mit der einzigen Ausnahme eines Paares ▼on Toren, das dem Satz von in allen Gruppen an der

gleichen Stelle liegenden Auswahlleitungen entspricht, λ

der die auszuwählende Auswahlleitung enthält.

Im Gegensatz dazu ist der Ausgang 212 des Dekodierers DY unmittelbar nur mit dem Steuereingang des Tores 213 verbunden, über dessen Ausgang der Transistor 62 an seiner Basis angesteuert wird, der den Quellensehalter für die erste Gruppe von Auswahlleitungen bildet. Ό·τ Steuereingang 217 des Tores 214, über dessen Ausgang der Transistor #1, d.h. der Senkensohalter für die erste Gruppe von Auewahlleitungen, an seiner Basis angesteuert wird, ist mit dem Ausgang der ODER-Schaltung 247 verbunden, die einen Teil einer weiter unten im einzelnen zu beschreibenden logischen Schaltung CLC bildet.

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Xn gleicher Weise sind alle übrigen Ausgänge des Dekodierers DY, wie der Ausgang 211, mit den Steuereingängen entsprechender Tore, wie des Tores 215» verbunden, deren AusgangssignaIe der Ansteuerung der Quellenschalter für die verbleibenden Gruppen von Auswahlleitungen, wie z.B. des (^wellenschalter* 67, dienen.

Für die Steuerung der zugehörigen Senkenschalter, wie beispielsweise des Senkenschalters 67, sind die Steuereingänge von Toren, wie des Tores 216, mit den entsprechenden Ausgängen von ODER-Schaltungen, wie des Tores 246, verbunden, die zu der logischen Schaltung CLC gehören.

Wie weiter unten im einzelnen erläutert wird, sind auch auf dieser Seite alle Tore mit Ausnahme des Paares von Toren geschlossen, die der Steuerung des Quellenschalters und des Senkenschalters dienen, die der die jeweils auszuwählende Leitung enthaltenden Gruppe entsprechen.

Die für den Betrieb des Speichers erforderlichen Taktimpulse liefert ein Taktgeber CT, der unter anderem drei Taktimpulse passender Dauer und Zeitfolge abgibt, die an Ausgängen 219, 220 und 221 erscheinen und mit T , T. und T₂ bezeichnet sind. Dabei veranlasst der Taktimpuls T am Ausgang 219 des Taktgebers CT das Einschreiben der Adresse der auszuwählenden Leitungen in das Speicheradressenregister RA, während die Taktimpulse T₁ bzw. T₂ an den Ausgängen 220 bzw. 221 des Taktgebers CT den Auslesevorgang bzw. den Einschreibvorgang für den Speicher steuern. Der Ausgang 220 des Taktgebers CT ist mit dem zweiten Eingang der Tore 222 und 223 verbunden, und an den Ausgang 221 des Taktgebers CT sind die zweiten Eingänge von Toren 224 und 225 angeschlossen. Die Ausgänge

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der Tore 222 bzw. 224 bilden Taktleitungen 226 bzw. auf der X-Seite, die ihrerseits mit den zweiten Eingängen von Toren, wie 203, 205 bzw, 204, 206, verbunden sind.

Den Ausgang des Tores 223 bildet die Taktleitung 228, die ihrerseits mit den zweiten Eingängen von Toren, wie 214 und 216, verbunden ist, die der Steuerung der Senkenschalter 61 und 67 auf der Y-Seite dienen·

Der Ausgang des Tores 225 ist mit dem zweiten Eingang des Tores 245 verbunden, dessen Ausgang einen Eingang für eine ODER-Schaltung 246 darstellt, deren Ausgang durch die Taktleitung 229 gebildet wird, die mit den zweiten Eingängen von Toren, wie 213 und 215, verbunden ist, die der Steuerung der Quellenschalter auf der Y-Seite dienen.

Der verbleibende Eingang des ODER-Tores 246 ist der Ausgang des Tores 244, dessen zweiter Eingang mit dem Ausgang 220 des Taktgebers CT verbunden ist, und die Tore 244 und 245 und das ODER-Tor 246 bilden gemeinsam einen Taktsehalter CLT.

In einer Steuerstufe CR kann ein Steuercode für die Steuerung des Betriebsmodus gespeichert werden, der entweder der Normalmodus für den Normalbetrieb des Speichers oder ein Testmodus für die Überprüfung der Schalter und Dioden ist.

Die Steuerstufe CR verfügt über sieben Ausgänge, die vier ersten davon 230 bis 233 «ind jeweils mit einem zweiten Eingang eines der Tore 222 bis 225 verbunden und führen vier binäre Variable a, b, c bzw. d.

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Zwei weitere Ausgänge 2Jk und 235 der Steuerstufe CR führen eine binäre Variable e bzw. deren Komplement e, und an dem siebten Ausgang 236 der Steuerstufe CR liegt die binäre Variable f an.

Die logische Schaltung CLC enthält eine Anzahl von Schaltstufen, von denen jede zwei UND-Schaltungen enthält, deren Ausgänge die Eingänge für eine ODER-Schaltung bilden.

In Fig. 5 sind nur die ersten und letzten dieser Schaltstufen dargestellt, die jeweils den ersten bzw. den letzten Ausgängen der Dekodierer DX und DY zugeordnet sind.

Die erste Schaltstufe besteht beispielsweise aus den Toren 242 und 243, deren zweite Eingänge mit den Ausgängen bzw. 212 verbunden sind, während ihre Ausgänge die Eingänge für die ODER-Schaltung 247 bilden, deren Ausgang wiederum den Steuereingang für das Tor 21k bildet. In ähnlicher Weise sind in der in Fig. 5 ausser-demdargestellten letzten Schaltstufe die zweiten Eingänge der Tore 240 und 24i mit den Ausgängen 202 bzw. 211 der Dekodierer DX bzw. DY verbunden, und der Ausgang des an die Ausgänge der Tore 240 und 241 angeschlossenen ODER-Toe·« 246 bildet den Steuereingang 218 für das Tor 216.

Die Steuereingänge ds* Tore, wie 241 und 243 in der logischen Schaltung CLC sind ebenso wie der Steuereingang des Tores 245 des Taktsohalters CLT mit dem Ausgang der Steuerstufe CR verbunden und führen die binäre Variable e. Die Steuereingänge der Tore, wie 240 und 242 in der logischen Schaltung CLC und der Steuereingang des Tores 244 im Taktschalter CLT sind dagegen mit

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dem Ausgang 235 der Steuerstufe CR verbunden und führen daher die komplementäre Variable e.

Der Ausgang 236 der Steuerstufe CR, der die Variable f führt, bildet den Steuereingang für das Tor 251, dessen Ausgang mit dem Takteingang IT des Fehlerregisters RB verbunden ist. Den zweitenElngang des Tores 251 bildet der Ausgang eines ODER-Tores 25O, dessen vier Eingänge mit den vier Taktleitungen 226, 227, 228 und 229 verbunden sind.

Der Betriebsmodus der Speicherschaltung hängt von dem Muster für den Satz von Variablen a, b, c, d, e und f ab. Die möglichen Modi sindι Der normale Betriebsmodus und die verschiedenen Prüfmodi zum Überprüfen der Quellenschalter, der Senkensehalter und der Dioden.

Für den normalen Betriebsmodus zeigen die verschiedenen Variablen das folgende Mustert

abcd e e f 1111 10 0.

>-' _v Die Tor· 222, 223, 224, 225 und 2k$ sind offen. Der Takt- \ impuls T₁ wird auf die beiden Taktleitungen 226 und 228

gegeben und der Taktimpuls Tg gelangt über das Tor 225 \ zur Taktleitung 227 und wird ausserdem über die offenen ■ Tere 225 umd 2*5 und das ODER-Tor 246 der Taktleitung zugeführt. Das Ter 2kk ist gesohlessen.

Unter der freispielsweisem Amnahme, 4a·* die a*esttvählemde L«it«Bf die «rat· AwsweJilleltvKg der erstem Leitus^sgrmpp· 1st, fttkrt der Deked lerer DX aa β eimern Ausgams;

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ein· logische 1 und öffnet damit das Tor 203. Der Dekodierer DY führt an seinen Ausgang 212 eine logische 1. Wegen der Beziehung für die Variablen e = 1 und θ = 0 ist das Tor 243 in der logischen Schaltung CLC offen, das Tor 242 dagegen geschlossen. Daher gelangt die logische 1 vom Ausgang 212 des Dekodierers DY über das Tor 243 und das ODER-Tor 247 zum Steuereingang 217 des Tores 214 und öffnet dieses. Auf diese Weise wird der Taktimpuls T₁ über die offenen Tore 222 und 203 an die Basis des Transistors 52 und über die offenen Tore 223 und an die Basis des Transistors 61 weitergegeben. Beide Transistoren 52 und 61 werden damit leitend. Damit fliesst ein Lesestromimpuls auf dem Wege von der Spannungequelle +V über den Widerstand R, den Transistor 52, die erste Auewahlleitung der ersten Gruppe und den Transistor 61 zu Erde. Unmittelbar danach wird der Taktimpuls T₂ über die offenen Tore 224 und 204 an die Basis des Transistors 51 und über die offenen Tore 225, 245, 246 und 213 an die Basis des Transistors 62 angelegt. Beide Transistoren werden leitend, und ein Schreibstromimpuls fliesst durch die ausgewählte Leitung in umgekehrter Richtung. In beiden Fällen veranlassen diese Lese- und Schreibstremimpulse die Schwellwertstufe SO zur Abgabe von Fehlersignalen an den Signaleingang XR de· Fehlerregisters RI, Da jedoch die Variable f den Wert Ö hat und damit da· Tor 251 wegen des Signals 0 an seinem Steuereingang geschlossen ist, erreichen die Taktimpulse den Takteingang IT de· Fehlerregister· RB nieht, und die··· wird daher nieht weitergeschaltet, und das ven der Sohwellwertstufe SO angelieferte einer legi·ehern 1 entsprechende Signal wird nieht aufgeseieh- »et.

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Nachfolgende in nachfolgenden Speicherzyklen im Speicheradressenregister RA gespeicherte Adressen gestatten es, Schreib- und Lesestromimpulse durch nachfolgend ausgewählte Leitungen zu schicken.

Zur Überprüfung der Senkenschalter ist es erforderlich, der Reihe nach und einzeln alle Quellenschalter zunächst auf der X-Seite und dann auf der Y-Seite zu schliessen, während alle übrigen Schalter offen gehalten werden. Für die Ausführung dieses Vorganges auf der X-Seite hat das Muster für die Steuervariablen folgendes Aussehen:

a	b	C	d	e	e	f
1	O	O	O	1	O	1

Damit ist das Tor 222 offen und die Taktimpulse T₁ gelangen auf die Taktleitung 226, während die Tore 223 225 geschlossen sind, und daher keine Taktimpulse auf die übrigen Taktleitungen 227, 228 und 229 gelangen. Ein geeignetes Prüfprogramm sorgt für die aufeinanderfolgende Einschreibung einer Adressenfolge in das Speicheradressenregister RA in der Weise, dass jeweils an einem der Ausgänge des Dekodierers DX ein einer logischen 1 entsprechen« des Signal auftritt und damit nacheinander alle Tore, wie 203 und 205 einzeln und nacheinander geöffnet werden, die der Steuerung der Quellenschalter auf der X-Seite dienen. Die Werte an den Ausgängen des Dekodierers DY sind dabei bedeutungslos, da die Taktleitungen auf der Y-Seite keine Impulse führen. Da ausserdem auch die Taktleitung 227, die mit den Senkenschaltern auf der X-Seite verbunden ist, keinen Taktimpuls führt, bleiben alle Senkenschalter und alle Quellensohalter auf der Y-Seite und alle Senkenschalter auf der X-Seite offen.

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Da die Variable f den Wert 1 hat, ist das Tor 251 offen , und die auf die Taktleitung 226 gegebenen Taktimpulse T gelangen über das ODER-Tor 2^0 zum Takteingang IT des Fehlerregisters RE und lassen dieses fortschalten, so dass di· von der Schwellwertstufβ SG angelieferten Signale in die Speicherzellen RE.. bis RE eingeschrieben werden.

Zum darauffolgenden Schliessen aller Quellenschalter auf der Y-Seite werden die Steuervariablen von der Steuerstufe CR in folgendem Muster abgegeben:

a	b	C	d	e	e	f
O	O	O	1	1	O	1

Das Tor 222 ist geschlossen, das Tor 225 dagegen offen. Die Taktimpulse T„ gelangen über die Tore 225, 2^5 und 2k6 zur Taktleitung 229« Dann wird das Speicheradressenregister RA mit aufeinanderfolgenden Adressen in der Weise beladen, dass in jedem Zeitpunkt an einem der Ausgänge des Dekodierers DY eine logische 1 auftritt, die Werte an den Ausgängen des Dekodierers DX sind bedeutungslos. Wie oben erläutert, werden alle Quellenschalter auf der Y-Seite einzeln und nacheinander geschlossen, während alle übrigen Schalter offen bleiben.

Die Taktimpulse T„ gelangen zum Takteingang IT des Fehlerregisters RE und schalten dieses fort, so dass die von der Schwellwertstufe SG angelieferten Signale in die Speicherzellen RE , bis RE_n eingeschrieben werden, η + 1 2n

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Unter Wiederholung der gleichen Adressiervorgänge mit Hilfe der beiden unten angegebenen Muster Tür die Steuervariablen

a	b	O	d	e	e	f
O	O	1	O	1	O	1
O	1	O	1	1	O	1

werden die Senkenschalter der Reihe nach und einzeln zunächst auf der X-Seite durch die über das Tor 224 über- λ tragenen Taktimpulse T.. und dann auf der Y-Seite durch die über das offene Tor 223 weitergegebenen Taktimpulse T₁ geschlossen.

Da die Variable e den Wert 1 hat, gelangen die Ausgangssignale des Dekodierers DY über die offenen Tore 243 bzw. 241 und die ODER-Tore 247 und 246 zu den Steuereingängen der Tore, wie 214 und 216. Die von der Schwellwertstufe SG erzeugten Fehlersignale werden in den Speicherzellen RE«, ₁ bis RE, gespeichert.

Für die Überprüfung der Dioden auf der X-Seite ist es erforderlich, gleichzeitig einen Quellensohalter und einen I Senken«ehalter auf der Y-Seite für alle möglichen Paare von Quellenschaltern und Senkenschaltern zu sohliessen. Das dafür erforderliche Muster für die Steuervariablen ist das folgendet

a b c d e e f 0 10 0 0 11.

Die Tore 222, 224 und 225 sind geschlossen, das Tor 223 dagegen offen. Der Taktimpuls T. gelangt zur Taktleitung 228. Da die Variable e den Wert 0, die Variable e dagegen

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den Wert 1 hat, ist auaserdem das Tor 244 offen, das Tor 245 dagegen geschlossen, und der Taktimpuls T₁ gelangt über das Tor 244 und das ODER-Tor 246 auch zur Taktleitung 229.

Anschliessend wird in das Speicheradressenregister RA eine solche Adressenfolge eingegeben, dass in jedem Speicherzyklus an einem einzigen Ausgang des Dekodierers DX und an einem einzigen Ausgang des Dekodierers DY für alle möglichen Paare aus einem Ausgang des Dekodierers DX und einem Ausgang des Dekodierers DY der Wert 1 auftritt.

Dies ist einem Prüfprogramm für die aufeinanderfolgende Auswahl aller Speicherleitungen äquivalent. Da die Variable e den Wert O und die Variable β den Wert 1 aufweist, sind in der logischen Schaltung CLC Tore, wie 240 und 242, offen, Tore, wie 241 und 243, dagegen geschlossen. Die der Reihe nach an den Ausgängen des Dekodierers DY auftretenden Werte entsprechend einer logischen 1 öffnen der Reihe nach Tore, wie 213 und 215, über deren Ausgänge die Quellenschalter auf der Y-Seite gesteuert werden. Die an den Ausgängen des Dekodierers DX auftretenden einer logischen 1 entsprechenden Werte öffnen über Tore, wie 240 und 246, 242 und 247 Tore, wie 214 und 218, für die Steuerung der Senkenschalter auf der gleichen Y-Seite. Für jeden Speioherzyklus öffnet der Taktimpuls T. ein Sehalterpaar au· einem Senkeneohalter und einem Quellenachalter» Durch Schliessen aller möglichen Paare aus einem Senken- und einem Quellenachalter auf einer Seite wird eine vollständige Überprüfung der Dioden auf der entgegengesetzten Seit· durchgeführt.

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Über die Tore 250 und 25-1 steuern die Taktimpulse T₁ das Fortschalten des Fehlerregisters RE und führen damit zur Einschreibung der Fehlersignale der Schwellwertstufβ SG in die entsprechenden Speicherzellen des Fehlerregisters RE.

Für eine Anordnung nach Fig. 3t iⁿ der alle Auswahlleitungen an jedem Ende mit einem Paar von Dioden verbunden sind, muss mit der logischen Schaltung CLC eine zweite in Fig, nicht dargestellte und zur logischen Schaltung CLC symmetrische logische Schaltung symmetrisch verbunden werden» " Ausserdem muss für die Durchführung der Überprüfung der Dioden auf der Y-Seite eine geeignete Steuerstufe vorgesehen werden, die entweder die eine oder die andere der logischen Schaltungen aktiviert.

Erforderlich sind weiter ein zum Taktschalter CLT symmetrischer und symmetrisch daait verbundener zweiter Taktschalter sowie eine Einrichtung zum Aktivleren entweder des einen oderdes anderen dieser beiden Taktschalter. Dann wird es möglich, alle Schalter auf der Y-Seite gegen ein Schliessen zu sperren und gleichzeitig die Schliessung der beiden Schalter aller Paare aus Jeweils einen Senken- g

schalter und einem Quellenschalter auf der X-Seite durchzuführen.

Das Fehlerregister RE kann durch einen einzelnen Flip-Flop zum Registrieren eines von der Schwellwertstufe in jedem Speicherzyklus abgegebenen Fehlersignals ersetzt werden. In diesem Falle wird der Inhalt des Flip-Flops nach jedem Speicherzyklus ausgelesen und gemeinsam mit der in das Speicheradressenregister eingegebenen Adresse in einem äueseren Speioher hinreichender Kapazität festgehalten* Als solcher äusserer Speioher kommen eine

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Magnetplatte oder ein Magnetband in Betracht.

Da in den meisten Fällen die Zahl η grosser ist als 4, reicht ein Fehlerregister RE mit hn Speicherzellen zwar für die Überprüfung der Schalter aus, nicht aber für die Überprüfung der Dioden, da dafür entsprechend der Anzahl aller Haare aus jeweils einem Senkenschalter und

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einem Quellenschalter η Speicherzellen erforderlich sind. Es erweist sich daher als notwendig, die Überprüfung der Dioden in aufeinanderfolgenden Stufen vorzunehmen, wobei das Fehlerregister RE am Ende jeder Stufe geleert und sein Inhalt unter Angabe der zu jedem Fehlersignal gehörigen Adresse in einen angeschlossenen Speicher übertragen werden muss.

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Claims (1)

1. Patentansprüche

   _r Prüfschaltung zum Überprüfen von elektronischen Speichern, bei denen an die Enden einer Anordnung von Speicherzeilen auf einer ersten und einer zweiten Seite je ein Satz von die Verbindung zu ei«¹ Treiberstromquelle herstellenden Quellenschaltern und von die Verbindung zu einer Hauptruckleitung herstellenden Senkenschaltern angeschlossen sind, mit einem Taktgeber zum Erzeugen von Taktimpulsen zum Steuern des Schliessens der Quellen- und Senkenschalter über eine Mehrzahl von Taktleitungen, und einer Auswahleinrichtung zum Auswählen einer bestimmten mit einem Stromimpuls zu beschickenden Speicherzeile mittels Schliessens eines Quellenschalters und eines Senkenschalters an gegenüberliegenden Seiten der Speicher-Zeilenanordnung, gekennzeichnet durch die Kombination einer Schalteinrichtung zum selektiven Schliessen eines einzelnen Schalters mit einer Schwellwertstufe zum Erzeugen eines Fehlersignals in Reaktion auf das Auftreten eines Stromimpulses in Bntsprechung zu« Schliessen des einzelnen Sohalters.

   Prüfschaltung nach Anspruch 1 zum Überprüfen von Speichern, bei denen mindestens an ein End· jeder Speicherzelle mindestens ein Bauelement mit unipolarer Stromdurchlässigkeit angeschlossen ist, dadurch gekennzeichnet, dass eine zusätzlich· Schalteinrichtung zum selektiven Schliessen eines Senken— und •ines Quellenschalters auf derselben Seit· der Speicherzeilenanordnung vorgesehen und die Schwellwerte tuf· auf di· Erzeugung ein·· Fehlersignals in

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   Reaktion auf* das Auftreten eines Stromimpulses in Entsprechung zum Schliessen dieser beiden Schalter eingerichtet ist,

   3· Prüfschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass ein Fehlerregister zum Registrieren der von der Schwellwertstufe abgegebenen Fehlersignale vorgesehen ist.

   k. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3f dadurch gekennzeichnet, dass die Schalteinrichtung auf die Weiterleitung der Taktimpulse an eine vorgebbare einzelne Taktleitung und/oder an ein vorgegebenes Paar von Taktleitungen eingerichtet ist.

   Dr.Fr./^Ro - ²²

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