DE204365T1 - Messverfahren und -vorrichtung unter verwendung harter roentgenstrahlen. - Google Patents

Messverfahren und -vorrichtung unter verwendung harter roentgenstrahlen.

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DE204365T1
DE204365T1 DE198686200879T DE86200879T DE204365T1 DE 204365 T1 DE204365 T1 DE 204365T1 DE 198686200879 T DE198686200879 T DE 198686200879T DE 86200879 T DE86200879 T DE 86200879T DE 204365 T1 DE204365 T1 DE 204365T1
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    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
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    • H01H51/28Relays having both armature and contacts within a sealed casing outside which the operating coil is located, e.g. contact carried by a magnetic leaf spring or reed
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
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Claims (14)

020 A 36 5 * Patentansprüche :
1. Vorrichtung zum quantitativen Messen eines Gegenstands unter Verwendung harter Röntgenstrahlen, mit einem Paar erster und zweiter Sensoreinrichtungen zum Empfang harter, von einer identischen Röntgenstrah IenqueI Ie ausgesandter Röntgenstrahlen, wobei die erste Sensoreinrichtung die harten Röntgenstrahlen von der Quelle direkt empfängt, während die zweite Sensorei&eegr;richtung die harten Röntgenstrahlen empfängt, die durch den Gegenstand, der auf einem unterhalb der RöntgenstrahlenqueI Ie angeordneten Tisch abgestützt ist, hindurchgedrungen sind, und wobei die Intensität der von der ersten Sensorei&eegr;richtung erfaßten, harten Röntgenstrahlen als ein Bezugswert zur Ausführung der quantitativen Messung mit den harten Röntgenstrahlen verwendet wird, dadurch g e k e &eegr; &eegr; zeichnet, daß der Tisch zum Abstützen des Meßgegenstands beweglich ist und daß die zweite Sensoreinrichtung eine RöntgenbiId-Aufnahmekamera und einen Röntgenstrahlen- Bildpunktsensor aufweist, die alternativ zu einer Empfangsstelle der von der Röntgenstrahlenquelle stammenden, harten Röntgenstrahlen relativ verschiebbar angeordnet sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, die ferner eine Filtereinrichtung aufweist, die an einer Stelle zwischen der Röntgenstrahlenquelle und der ersten und zweiten Sensoreinrichtung angeordnet ist, wobei die Filtereinrichtung einen ersten Filterabschnitt für die erste Sensoreinrichtung und einen zweiten Filterabschnitt für die zweite Sensoreinrichtung aufweist und der erste und zweite Filterabschnitt so festgelegt sind, daß die Relation zwischen der Dicke des Gegenstands und dem Absor&rgr;tionskoeffi&zgr;ient en der harten Röntgenstrahlen in x, y-Ko-ordinaten durch eine gerade Linie graphisch beschrieben ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, wobei die FiLtereinrichtung eine Drehfilterscheibe ist und der erste und zweite Filterabschnitt jeweils eine Vielzahl von Filterelementen aufweist, die in der Scheibe gegenseitig und längs des Um fangs mit Zwischenräumen angeordnet sind und jeweils einer von verschiedenen Spannungen entsprechen, die wahlweise an die Röntgenstrahlenquelle angelegt wird, und wobei die Drehfilterscheibe gedreht wird, um auf eines der Filterelemente umzuschalten, das der ausgewählten, der Quelle angelegten Spannung entspricht, so daß es sich an der Stelle zwischen der Quelle und der ersten und zweiten Sensoreinrichtung befindet.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, wobei der Tisch in drei Richtungen x, y und &zgr; dreidimensional beweglich ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4 , wobei der Röntgenstrahlen-Bi Idpunktsensor mit einem Gehäuse ausgestattet ist, das eine BiIdpunktöffnung aufweist, durch die die harten Röntgenstrahlen hindurchgehen, und wobei das Gehäuse be züglich der Empfangsstelle der durch den Gegenstand hin durchgegangenen, harten Röntgenstrahlen hin- und herbeweglich ausgestaltet ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4, die ferner eine Steuer-/Verarbeitungsstation umfaßt, die wenigstens eine erste und eine zweite Steuereinrichtung und einen Rechner aufweist, der mit der' ers te &eegr; und zweiten Steuereinrichtung zur Be tätigung der Drehfi 11erscheibe durch die erste Steuerein richtung und des Tisches durch die zweite Steuereinrichtung zusammenarbeitet.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, die ferner eine Steuer-/Verärbeitungsstation umfaßt, die eine Funktionseinrichtung, die ein erstes von der ersten Sensoreinrichtung erfaßtes
Signal und ein zweites von dem in der zweiten Sensoreinrichtung vorgesehenen Röntgenstrahlen-BiLdpunktsensor erfaßtes Signal, empfängt, und einen der Funktionseinrichtung betrieblich zugeordneten Rechner aufweist, wobei die Funktionseinrichtung den logarithmischen Wert des Verhältnisses zwischen dem ersten und dem zweiten erfaßten Signal bi Idet .
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, die ferner eine Anzeigestation zur Anzeige des zweiten, von der zweiten Sensoreinrichtung erfaßten Signals aufweist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, wobei die Anzeigestation ein Oszilloskop aufweist, auf dem ein Röntgenbild des Gegenstands von der RöntgenbiId-Aufnahmekamera angezeigt wird.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, wobei die Anzeigestation der Steuer-/Verarbeitungsstation betrieblich zugeordnet ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, wobei die Anzeigestation ferner einen Drucker aufweist.
12. Verfahren zum quantitativen Messen eines Gegenstands unter Verwendung harter Röntgenstrahlen, bei dem man an einer ersten Sensoreinrichtung die harten Röntgenstrahlen empfängt, die von einer Röntgenstrahlenque11e ausgesandt werden, ohne dabei den zu messenden Gegenstand zu durchdringen, bei dem man an einer zweiten Sensoreinrichtung die harten Röntgenstrahlen, die von der gleichen Röntgenst rah L enque I I e stammen und den Gegenstand durchdrungen haben, empfängt und bei dem man das Verhältnis zwischen einer Bezugsint ensität der mit Hilfe der ersten Sensoreinrichtung erfaßten, harten Röntgenstrahlen und der Intensität der mit Hilfe der zweiten Sensoreinrichtung erfaßten, harten Röntgenstrahlen gewinnt, dadurch . g e -
ke &eegr; &eegr; &zgr; e i c h &eegr; e t ,daß man den Empfang der.harten RöntgenstrahLen an der zweiten Sensoreinrichtung durchführt, während der Gegenstand bewegt wird, und daß die zweite Sensoreinrichtung abwechselnd eine Erfassung eines RöntgenbiIdes des Gegenstands und eine hochpräzise Erfassung bezüglich eines begrenzten Teils des Gegenstandes ausführt.
13. Verfahren nach Anspruch 12, wobei der Schritt der Gewinnung des Intensitätsverhältnisses den Schritt der Erstellung der Relation zwischen der Dicke des Gegenstands und dem Absorptionskoeffizienten der harten Röntgenstrahlen umfaßt, die in x, y-Koordinaten graphisch als gerade Linie dargestellt wird.
14. Verfahren nach Anspruch 13, wobei der Schritt der Gewinnung des Intensitätsverhältnisses den Schritt der Ermittlung des logarithmischen Werts der Relation umfaßt.
DE198686200879T 1985-05-24 1986-05-21 Messverfahren und -vorrichtung unter verwendung harter roentgenstrahlen. Pending DE204365T1 (de)

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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0715442B2 (ja) * 1988-01-28 1995-02-22 エックスライド株式会社 X線検査方法及び装置
US5081660A (en) * 1990-06-06 1992-01-14 Yokio Fujisaki High resolution x-ray imaging system with energy fluctuation restricting filters
US5107529A (en) * 1990-10-03 1992-04-21 Thomas Jefferson University Radiographic equalization apparatus and method
DE19729414A1 (de) * 1997-07-09 1999-02-11 Siemens Ag Strahlenblende eines medizinischen Gerätes
GB2409272B (en) * 2000-08-03 2005-09-21 Cambridge Imaging Ltd Improvements in and relating to material identification using X-rays
EP2538205B1 (de) 2002-01-28 2020-08-19 Smiths Heimann GmbH Röntgenbildprüfsystem und Verfahren
EP2427756A1 (de) * 2009-05-07 2012-03-14 L-3 Communications Security and Detection Systems, Inc. Filterung einer quelle für gepulste strahlung
JP4868034B2 (ja) * 2009-07-16 2012-02-01 横河電機株式会社 放射線検査装置
JP4883378B2 (ja) * 2009-12-22 2012-02-22 横河電機株式会社 放射線検出装置
IT201600093579A1 (it) 2016-09-16 2018-03-16 Sacmi Metodo e apparato per la formatura di manufatti di polveri compattate

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2469206A (en) * 1946-11-14 1949-05-03 Gen Electric X-ray absorption photometer
US2467812A (en) * 1947-04-01 1949-04-19 Gen Electric Noncontacting thickness gauge
DE2347178B2 (de) * 1973-09-19 1975-09-18 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Röntgendiag nostikapparat
GB1475493A (en) * 1974-05-20 1977-06-01 Emi Ltd Apparatus for examining objects by means of penetrating radiation
JPS6042951B2 (ja) * 1976-06-30 1985-09-25 ヤマハ株式会社 電子楽器の音源装置
US4448200A (en) * 1978-03-27 1984-05-15 University Of Southern California System and method for dynamic background subtraction
US4204225A (en) * 1978-05-16 1980-05-20 Wisconsin Alumni Research Foundation Real-time digital X-ray subtraction imaging
DE2831038C2 (de) * 1978-07-14 1982-07-01 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Strahlendiagnostikgerät für die Erzeugung von Schichtbildern
US4375068A (en) * 1980-04-21 1983-02-22 Technicare Corporation Radiographic apparatus and method with logarithmic video compression
US4399550A (en) * 1981-02-27 1983-08-16 General Electric Company Spinning filter for X-ray apparatus
DE3207816A1 (de) * 1982-03-04 1983-09-15 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Roentgendiagnostikeinrichtung fuer roentgenschichtbilder
JPS58191959A (ja) * 1982-05-06 1983-11-09 Houseki Rigaku Kenkyusho:Kk 物体組成判別法
US4528685A (en) * 1983-05-16 1985-07-09 General Electric Company X-ray beam filter device
DE3402888A1 (de) * 1984-01-27 1985-08-01 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Roentgendiagnostikanlage

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Publication number Publication date
EP0204365B1 (de) 1991-03-06
US4727561A (en) 1988-02-23
EP0204365A3 (en) 1988-12-07
JPS61193364U (de) 1986-12-02
DE3677819D1 (de) 1991-04-11
EP0204365A2 (de) 1986-12-10

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