JPS58191959A - 物体組成判別法 - Google Patents
物体組成判別法Info
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- JPS58191959A JPS58191959A JP57075860A JP7586082A JPS58191959A JP S58191959 A JPS58191959 A JP S58191959A JP 57075860 A JP57075860 A JP 57075860A JP 7586082 A JP7586082 A JP 7586082A JP S58191959 A JPS58191959 A JP S58191959A
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- ray beams
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
人工宝石類，ガラス，セラｉ７り，ｉ石，岩６。
貴金属，考古物等の個体物．繍々の液体，粉体。
有機物．人体，動物等の広範囲の物体の組成を非破壊で
半定普的且つ計数的に判別する，仁めのｈｔｈに関する
。
半定普的且つ計数的に判別する，仁めのｈｔｈに関する
。
従来、連続ｘｉｌＩを物体に投射して、そのＸＭ嵐の透
過率又はＸ線フィルムより物体をおおさっばに半１別す
ることは既に知らｔｌでいるが、ｗ！Ａ９＋の組成とＸ
′ａ量の絶対値．厚みと使用波長とが１１雑な相ｌｌａ
関係にあり、加えてＸ線管の電諒電圧の反動。
過率又はＸ線フィルムより物体をおおさっばに半１別す
ることは既に知らｔｌでいるが、ｗ！Ａ９＋の組成とＸ
′ａ量の絶対値．厚みと使用波長とが１１雑な相ｌｌａ
関係にあり、加えてＸ線管の電諒電圧の反動。
Ｘ線管の使用時間，自然界のＸ！＃の経時的＆勘１こよ
って影響されて計数的に判８Ｉｌすることは勿論ＩＦ確
且つ迅速に判別下ることは出来ず実用（ヒよでに至って
いない。
って影響されて計数的に判８Ｉｌすることは勿論ＩＦ確
且つ迅速に判別下ることは出来ず実用（ヒよでに至って
いない。
本発明は、かかる問題点を解消して極めて精度が高く且
つ非破壊で判別でき要用的価値のーい憬れた物体組成判
別法を提供せんとするものである。
つ非破壊で判別でき要用的価値のーい憬れた物体組成判
別法を提供せんとするものである。
本発明の要旨は同一の連続Ｘ線発士嬢から二つの同量Ｘ
＠ビームを取り出すとともに、それらのＸ線ビームをフ
ィルターに通過させ、連続Ｘ！Ｉ（Ｊ）Ｑ、８Ａ波長以
下における最強度波長λ店の（１＋Ｑ−４）１票以上の
長い波長及び（１−０，４）２周以下の短かい波長を遮
断し、そしてそのフィルターを通過 ６した一方のＸｌ
ｌビームに組成を判別しようとする鉱物、セラミンク等
、固体あるいは液体、有機物。
＠ビームを取り出すとともに、それらのＸ線ビームをフ
ィルターに通過させ、連続Ｘ！Ｉ（Ｊ）Ｑ、８Ａ波長以
下における最強度波長λ店の（１＋Ｑ−４）１票以上の
長い波長及び（１−０，４）２周以下の短かい波長を遮
断し、そしてそのフィルターを通過 ６した一方のＸｌ
ｌビームに組成を判別しようとする鉱物、セラミンク等
、固体あるいは液体、有機物。
生物体の物体を通過させ、物体をＡＭさせたＸ線ビーム
と物体を通過させないＸ線ビームのＸＭＮｔの比の対数
値と物体の厚みとを計測してその対数 ０嬉、厚みとか
ら物体の組成を非破壊で判別する物体組ｒｆｃ判別法に
ある− ここで、フィルターとしては銅、アルミ等金属板が使用
されその材質と厚みはＸ線管は、ＸｉＩ管ターゲットに
よって適宜選択される。Ｘ＆ｌ管のターゲットとしては
タノグステノＷ、クロムＣｒ等がある。又、フィルター
で遮断されたＸ線波長は１４２ｍ・λ）０６λｍのすべ
ての波長を使用してもよいた波長域の波長を使用しても
よＬｌ、、そして、Ｘ線ビームの波長は狭く絞ら２する
程その分解能、判別精度は高まる。同一の連続Ｘ線発生
源からの二つの同量Ｘ線ビームを取り出す方法はＸ線シ
ールド板に同径の細孔を近接して設け、同馴孔をもつＸ
線シールド板に投射することにょっ”〔一般１〔二つの
Ｘ線ビームを取り出すことができるものであるがこの方
法に限定するものではｒ（い。
と物体を通過させないＸ線ビームのＸＭＮｔの比の対数
値と物体の厚みとを計測してその対数 ０嬉、厚みとか
ら物体の組成を非破壊で判別する物体組ｒｆｃ判別法に
ある− ここで、フィルターとしては銅、アルミ等金属板が使用
されその材質と厚みはＸ線管は、ＸｉＩ管ターゲットに
よって適宜選択される。Ｘ＆ｌ管のターゲットとしては
タノグステノＷ、クロムＣｒ等がある。又、フィルター
で遮断されたＸ線波長は１４２ｍ・λ）０６λｍのすべ
ての波長を使用してもよいた波長域の波長を使用しても
よＬｌ、、そして、Ｘ線ビームの波長は狭く絞ら２する
程その分解能、判別精度は高まる。同一の連続Ｘ線発生
源からの二つの同量Ｘ線ビームを取り出す方法はＸ線シ
ールド板に同径の細孔を近接して設け、同馴孔をもつＸ
線シールド板に投射することにょっ”〔一般１〔二つの
Ｘ線ビームを取り出すことができるものであるがこの方
法に限定するものではｒ（い。
更に、厚さと二つのＸ線ビームのＸ線量の比の対数値と
の比（ｆｌｌき）は後述する様にＸ線管の種類、Ｘ＊Ｗ
の電圧、フィルターを同一３こするならば物体の厚み、
Ｘ線管の使用時の経時的変動、自然界Ｘ線に影響さｒｌ
ろことなく、高い精度で物体の組成によって定まるもの
であり、予め多数の物体組成の傾き（比例係数）を本発
明方法によって求めてデータとしてストックさせておき
、４０停を判別する時にデータをとった同一条件（Ｘ線
管のｍ類、Ｘ！！の電圧、フィルター）によって再現し
テＸ ｉｉ ヒ−ＡのＸ＊ｔの比の対数値と厚みとを計
測してその傾き（比）を求め、データと照合させろもの
である。
の比（ｆｌｌき）は後述する様にＸ線管の種類、Ｘ＊Ｗ
の電圧、フィルターを同一３こするならば物体の厚み、
Ｘ線管の使用時の経時的変動、自然界Ｘ線に影響さｒｌ
ろことなく、高い精度で物体の組成によって定まるもの
であり、予め多数の物体組成の傾き（比例係数）を本発
明方法によって求めてデータとしてストックさせておき
、４０停を判別する時にデータをとった同一条件（Ｘ線
管のｍ類、Ｘ！！の電圧、フィルター）によって再現し
テＸ ｉｉ ヒ−ＡのＸ＊ｔの比の対数値と厚みとを計
測してその傾き（比）を求め、データと照合させろもの
である。
品質管理等において、物体が同一組成か否かの ５横！
ｔあるいは品質のバラツキ、組成の変動のみを求める場
合は予めのデータのストンク作業は不要となる。。
ｔあるいは品質のバラツキ、組成の変動のみを求める場
合は予めのデータのストンク作業は不要となる。。
り下、本発明の実施例を詳細に説明−４−る。この実施
例ではＸ＆！管としてタッグステツターケソ）１゜のＸ
４１？管（１）を使用、Ｘ＆！！管（１１１こ所定電圧
を印加しＣメ、線ｊｔ発生させ、これを透孔（３）・（
３）′を所定ｖ１隔鰐して穿孔し７たＸ締完全砿断材か
らｑるシールド板０◆に向ＩＪて投射せしめる。シール
ド板ａ↓の透孔（ｊｌ （３１↓ｔこ１Ｊ嗣、父はア
ルミの金−板のフィルタ１５（２）がｌｌＡ１１ｌされ
ている５、タノグステノタ−ゲノ１−Ｘ縁管（１）から
発生したＸｉは第２図に示す実線の波長強度のスペクト
ルの特性をもち、０８に以下の１Ｉｋｉｉ！１度波長λ
肩は第２図中（イ）の曲線に小さイする４、第２図中（
ロ）・（ロ）′の曲線・＠緑は本発明の通断波長領域（
２２１，４２ｍ及びλ−０６λ屑）をホし、ビＳ □
Ｈ’の二点Ｍ１１曲線は本実！ｌ［１ｌｌｉ１１のフィ
ルター（２）ｉこよって遮断される臨界波長（λ−１２
λｍ、λ−０，８λｍとなる２）を示し２てし）る。従
って、このフィルター（２）を通過するＸ線ビームのｔ
Ｉｌ長λは１．２λｍ−二・λ−０，８λｍ とｆ（り
でいる。
例ではＸ＆！管としてタッグステツターケソ）１゜のＸ
４１？管（１）を使用、Ｘ＆！！管（１１１こ所定電圧
を印加しＣメ、線ｊｔ発生させ、これを透孔（３）・（
３）′を所定ｖ１隔鰐して穿孔し７たＸ締完全砿断材か
らｑるシールド板０◆に向ＩＪて投射せしめる。シール
ド板ａ↓の透孔（ｊｌ （３１↓ｔこ１Ｊ嗣、父はア
ルミの金−板のフィルタ１５（２）がｌｌＡ１１ｌされ
ている５、タノグステノタ−ゲノ１−Ｘ縁管（１）から
発生したＸｉは第２図に示す実線の波長強度のスペクト
ルの特性をもち、０８に以下の１Ｉｋｉｉ！１度波長λ
肩は第２図中（イ）の曲線に小さイする４、第２図中（
ロ）・（ロ）′の曲線・＠緑は本発明の通断波長領域（
２２１，４２ｍ及びλ−０６λ屑）をホし、ビＳ □
Ｈ’の二点Ｍ１１曲線は本実！ｌ［１ｌｌｉ１１のフィ
ルター（２）ｉこよって遮断される臨界波長（λ−１２
λｍ、λ−０，８λｍとなる２）を示し２てし）る。従
って、このフィルター（２）を通過するＸ線ビームのｔ
Ｉｌ長λは１．２λｍ−二・λ−０，８λｍ とｆ（り
でいる。
判別する準備としてシールド板（４）の孔１．ｂｌ
（Ｅｅｌヒに何も物体を置かず、二つのＸｌｌビームを
そのままシールド板（４）の孔Ｘ５１・（５）′を素通
りさせ、Ｘ−センサー（１１）・（６）によって副足し
、同Ｘ線センサー（６）（６）で測定されるＸ線１が同
一出力値をとる１！Ｉ Ｒ１：予めＸ線センサーの測定
回路において調ＩＩするか、シールド板０凌をイ門か移
動すること等１こよって峠正しておく。これによって試
験毎のセノづ−Ｌｆｉ）・（６＋の感度変化、Ｘ線管の
做妙な変化等の影響をＭりで再現性’ｔ Ａｉめる４、 その後、宝石、セラミック等固体又は液体、生物体等の
被判別物輔をシールド板α４の一方の孔（５）上装置き
、Ｘ線ビームを投射する。フィルター（２）ニヨって長
い波長及び短かい波長を遮断された二つのＸ線ビームは
シールド板（ロ）の透孔（３）・（３）′を、１５過し
て一方のＸ線ビームは下位のシールド板（４）上の被判
別物体■、孔（５）を透過してその下方のＸ線セッサー
（６）によってＸ線量人が測定される。又他方のＸ線ビ
ームはシールド板（４）の孔（５）を障′！！Ｉ物なく
通過してＸ線セッサー（６）によってＸ１ｌｉｌｊ１ｉ
Ｂが測Ｏ定され、計算回路（７）によってそのＸＨ量の
比の対数値ｊｉｎｘを計算−（る。又被判別物体（ロ）
の厚み（物体のＸ１ｌｌｉｌ透過距Ｉ１ｍりをマイクロ
メータ等の手段１こよって一１定し、その厚みを厚み測
定値インプット回路（８）を介して傾き計算回路（９）
に入力して厚みｔ ｌ＆ハλの値父はその逆数値を計
算し、これを照合回路０２に入力し、一方便用しｊこＸ
＠ Ｗ （１）の′印加電圧の値をＸ線管電圧イノプ
ツト回路ＱＬ）を介して照合回路＠に入力し、照合回Ｉ
Ｎ！ＱＪにＪ〕いてそのＸ−管電圧に応じた傾き値（厚
みＬ 、、／（ｌｐＩｘの噛）又はぞＩＪ、＞逆数値の
データ記憶をデータ記憶回路σＤから引出し、その傾き
値に対応する物体組成を横木して判別結果・その基−デ
ータを表示器（至）１こ物体名・識別記号・数字でもっ
て表示するものである。この嫌に同−Ｘ線発生源からの
目皿のＸ線ビームを使用し、しかもこの連続Ｘ線の特定
領域の波長を使用することによってＸ線管電圧が一定で
あれば第３図ＪＣ示ｔ ９に被判別物の厚みと二つのＸ
線ビームの透過ＸＬＩ量の比の対数値は厚みにかかわら
ず原点（厚み−Ｏ，ハｚ＝０）を通る正確な比例関係と
することができる。しかもその傾き（厚み【′ｅバＡ）
はその物体組成Ｉこよって一意的に定まるものである。
（Ｅｅｌヒに何も物体を置かず、二つのＸｌｌビームを
そのままシールド板（４）の孔Ｘ５１・（５）′を素通
りさせ、Ｘ−センサー（１１）・（６）によって副足し
、同Ｘ線センサー（６）（６）で測定されるＸ線１が同
一出力値をとる１！Ｉ Ｒ１：予めＸ線センサーの測定
回路において調ＩＩするか、シールド板０凌をイ門か移
動すること等１こよって峠正しておく。これによって試
験毎のセノづ−Ｌｆｉ）・（６＋の感度変化、Ｘ線管の
做妙な変化等の影響をＭりで再現性’ｔ Ａｉめる４、 その後、宝石、セラミック等固体又は液体、生物体等の
被判別物輔をシールド板α４の一方の孔（５）上装置き
、Ｘ線ビームを投射する。フィルター（２）ニヨって長
い波長及び短かい波長を遮断された二つのＸ線ビームは
シールド板（ロ）の透孔（３）・（３）′を、１５過し
て一方のＸ線ビームは下位のシールド板（４）上の被判
別物体■、孔（５）を透過してその下方のＸ線セッサー
（６）によってＸ線量人が測定される。又他方のＸ線ビ
ームはシールド板（４）の孔（５）を障′！！Ｉ物なく
通過してＸ線セッサー（６）によってＸ１ｌｉｌｊ１ｉ
Ｂが測Ｏ定され、計算回路（７）によってそのＸＨ量の
比の対数値ｊｉｎｘを計算−（る。又被判別物体（ロ）
の厚み（物体のＸ１ｌｌｉｌ透過距Ｉ１ｍりをマイクロ
メータ等の手段１こよって一１定し、その厚みを厚み測
定値インプット回路（８）を介して傾き計算回路（９）
に入力して厚みｔ ｌ＆ハλの値父はその逆数値を計
算し、これを照合回路０２に入力し、一方便用しｊこＸ
＠ Ｗ （１）の′印加電圧の値をＸ線管電圧イノプ
ツト回路ＱＬ）を介して照合回路＠に入力し、照合回Ｉ
Ｎ！ＱＪにＪ〕いてそのＸ−管電圧に応じた傾き値（厚
みＬ 、、／（ｌｐＩｘの噛）又はぞＩＪ、＞逆数値の
データ記憶をデータ記憶回路σＤから引出し、その傾き
値に対応する物体組成を横木して判別結果・その基−デ
ータを表示器（至）１こ物体名・識別記号・数字でもっ
て表示するものである。この嫌に同−Ｘ線発生源からの
目皿のＸ線ビームを使用し、しかもこの連続Ｘ線の特定
領域の波長を使用することによってＸ線管電圧が一定で
あれば第３図ＪＣ示ｔ ９に被判別物の厚みと二つのＸ
線ビームの透過ＸＬＩ量の比の対数値は厚みにかかわら
ず原点（厚み−Ｏ，ハｚ＝０）を通る正確な比例関係と
することができる。しかもその傾き（厚み【′ｅバＡ）
はその物体組成Ｉこよって一意的に定まるものである。
例えばｉｌＩ線１はガラス、直線すはダイヤモンド、
直線Ｃは水晶、直線ｄはヒスイ、ｍ！６は方解石、直線
「はホタル石の特性を示すものである。同様奢こ他の考
古物、貴金属、セラミック等の固体、アルコール等の液
体、有機物でも同様な結果となるものであり、従って所
定のＸ線管電圧番ζ対するこれら［１のａＩき又は逆数
値をデータ記憶回路（ロ）に予め測定して記憶させてお
けはＸ＆ｌ’ｌｔｆ電圧と被判別物の厚みｔとＸ線量あ
′比の対数ｍｌｌハ５λとから、その物体の組成が半定
麓的１ζ且っ計数的に判別でき、その物体が何であるか
簡単に判別できるものである。しかも被判別物体に）の
厚みにかかわらず、比例関係、傾きは不変であり、しが
も原点を通るものであるから正確に、且つ迅速に判別で
きるものとなっている。又、Ｘ！ｉ！ＪＩＡ −Ｂは同
−Ｘ＊諒からのものを使用して同時計測するものである
ため、Ｘｌｌ管の加熱状態、電圧変動。
直線Ｃは水晶、直線ｄはヒスイ、ｍ！６は方解石、直線
「はホタル石の特性を示すものである。同様奢こ他の考
古物、貴金属、セラミック等の固体、アルコール等の液
体、有機物でも同様な結果となるものであり、従って所
定のＸ線管電圧番ζ対するこれら［１のａＩき又は逆数
値をデータ記憶回路（ロ）に予め測定して記憶させてお
けはＸ＆ｌ’ｌｔｆ電圧と被判別物の厚みｔとＸ線量あ
′比の対数ｍｌｌハ５λとから、その物体の組成が半定
麓的１ζ且っ計数的に判別でき、その物体が何であるか
簡単に判別できるものである。しかも被判別物体に）の
厚みにかかわらず、比例関係、傾きは不変であり、しが
も原点を通るものであるから正確に、且つ迅速に判別で
きるものとなっている。又、Ｘ！ｉ！ＪＩＡ −Ｂは同
−Ｘ＊諒からのものを使用して同時計測するものである
ため、Ｘｌｌ管の加熱状態、電圧変動。
自然界のＸ線量の変動番こほとんど影響されることかな
い。尚Ｘ線管電圧は、その被判別物体間が金属か、鉱物
、セラミック等の固体、液体、有機物。
い。尚Ｘ線管電圧は、その被判別物体間が金属か、鉱物
、セラミック等の固体、液体、有機物。
生物体かＩζよって、及びその厚み多ζよって適切な電
圧のものに選択されるものである。
圧のものに選択されるものである。
尚の不発明は物体の組成の１別を目的とするが、同一組
成と明らかに分っている場合又は同一組成と改定できる
場合は本発明の方法「こよって逆に物体の厚みを計測す
ることができる。
成と明らかに分っている場合又は同一組成と改定できる
場合は本発明の方法「こよって逆に物体の厚みを計測す
ることができる。
■同一の連続Ｘ線発生源からの二・）のＸ線ビームう；
同量でなく相当違う場合でもＸ１ｓビームのＸ！！瀘が
同よとｈ ｊｒ セルａｌ ｌ（、ｘｍｔ測定ＩＡｔ
Ｘ！ｊｌｉｉｌｌｊｌＢｍ。
同量でなく相当違う場合でもＸ１ｓビームのＸ！！瀘が
同よとｈ ｊｒ セルａｌ ｌ（、ｘｍｔ測定ＩＡｔ
Ｘ！ｊｌｉｉｌｌｊｌＢｍ。
又はｉｎ−の値あるいはその逆数値の式に電気的又はコ
ノピユータプログラムをもりて補正を施すことによって
非同量の場合でも、同量の場合同磯の結果を漫ろことか
できる。飼えば物体を透過させない状態におｌ）る二つ
のＸ縁ビームυ〕セッサー＼６ノ・（罰のＸ＠＠Ａ 、
Ｈの出力値Ａ（櫨。
ノピユータプログラムをもりて補正を施すことによって
非同量の場合でも、同量の場合同磯の結果を漫ろことか
できる。飼えば物体を透過させない状態におｌ）る二つ
のＸ縁ビームυ〕セッサー＼６ノ・（罰のＸ＠＠Ａ 、
Ｈの出力値Ａ（櫨。
３０値が同−鐘と・シる掃Ｓζセッサーの出力値Ｂｔこ
修王係数智を乗じてこの修正係数を乗じた値をｘａｔ１
３とみなす面 ことｌこ、よって・ｉ成できる。あるいはＸ＃夙測定煉
Ａ−Ｂ用することｆこよって！１達成できる。
修王係数智を乗じてこの修正係数を乗じた値をｘａｔ１
３とみなす面 ことｌこ、よって・ｉ成できる。あるいはＸ＃夙測定煉
Ａ−Ｂ用することｆこよって！１達成できる。
次に本実施例による合成ルビーの測定例を述す。
フィルター（２）としては銅フィルターで（１＋ ０．
２）λ制置上の長波長及び（１−Ｏ−２）λ腐以下の短
波長を逸断し、Ｘ線管電圧としてＴＯＷを印加した。表
１１１は間−組成の合成ルビーを厚みを変λＣ行った測
定結果例であり、表ｔＵ）は同じ厚みの合成ルビーを測
定時間を異にする８回の測定結果の表である。
２）λ制置上の長波長及び（１−Ｏ−２）λ腐以下の短
波長を逸断し、Ｘ線管電圧としてＴＯＷを印加した。表
１１１は間−組成の合成ルビーを厚みを変λＣ行った測
定結果例であり、表ｔＵ）は同じ厚みの合成ルビーを測
定時間を異にする８回の測定結果の表である。
表巾の結果から分る様に、合成ルビーの厚みか２０１〜
１４．０５−の７倍変化し、しかもＢＸ＠ｊｉが３変化
しないという極めて高い精度の比例関係を得ることがで
きることがわかる。更に、表ｔｕｌに同一厚みの合成ル
ビーの測定の場合でも測定時を異には０４％以下の変動
に抑えられている。更に測定回数を増やし、データの統
計処理を行えばこの一０５％の精度が更に小さな値とな
って高精度に出来るものである。
１４．０５−の７倍変化し、しかもＢＸ＠ｊｉが３変化
しないという極めて高い精度の比例関係を得ることがで
きることがわかる。更に、表ｔｕｌに同一厚みの合成ル
ビーの測定の場合でも測定時を異には０４％以下の変動
に抑えられている。更に測定回数を増やし、データの統
計処理を行えばこの一０５％の精度が更に小さな値とな
って高精度に出来るものである。
以上の様に本発明によれば、厚さと二つのＸ線ビームの
Ｘ線凰の比の対数値とから被判別物の厚みにかかわらず
正確、且つ迅速にその物体の組成を半定鳳的に且つ計数
値的ＩＣ判別することが出愁従米判別困鋤となされてき
た人工宝石、４ｔラミクク、８古物等ばかりでなく、液
体、有機物の判別が可能となるばかりか、非破壊で且つ
正確・迅速の急止防止と病気発見、製品の品質＠査、晶
Ｗｉセ理上寄与するところが大であるという優れた効果
を得ることが出来る。
Ｘ線凰の比の対数値とから被判別物の厚みにかかわらず
正確、且つ迅速にその物体の組成を半定鳳的に且つ計数
値的ＩＣ判別することが出愁従米判別困鋤となされてき
た人工宝石、４ｔラミクク、８古物等ばかりでなく、液
体、有機物の判別が可能となるばかりか、非破壊で且つ
正確・迅速の急止防止と病気発見、製品の品質＠査、晶
Ｗｉセ理上寄与するところが大であるという優れた効果
を得ることが出来る。
第１図は本発明物体組成判別法を示す説明図。
＠２図は本発明で使用す６Ｘ縁波長顕城を示ずＸ線波長
と強度特性図、ｆＨ８図は被判別物の厚さとＸ練皿の比
の対数値との関係を示すグラフである−（１）二Ｘミー
１管 （２）：フィルター （３）・（３）：透孔 （４）：シールド板 （５）・（５）：孔 （６）・（６）：Ｘ＠セッサー α４：シールド板 ｍ：被判別物体 第１図 ■司２ 一３０５＝ 第２図 波長［４）
と強度特性図、ｆＨ８図は被判別物の厚さとＸ練皿の比
の対数値との関係を示すグラフである−（１）二Ｘミー
１管 （２）：フィルター （３）・（３）：透孔 （４）：シールド板 （５）・（５）：孔 （６）・（６）：Ｘ＠セッサー α４：シールド板 ｍ：被判別物体 第１図 ■司２ 一３０５＝ 第２図 波長［４）
Claims (1)
- １）同一の連続ｘ！１発生源から二つの同量Ｘ線ビーＡ
を取り出すとともに、それらのＸ線ビームをフィルター
に通過させ、連続Ｘ線の０８大波長以下における最強度
波長λ講の（１＋ ０．４ ）λｍ以上の長い波長及び
（１−０，４）λｍ以上の短かい波長を逼断し、そして
そのフィルターを通過した一方のｘｌ！ビームに組成を
判別しようとする鉱物、セラミック等、固体あるいは成
体、有ａｍ＃ｅＡ、生物体の物体を通過させ、物体を通
過させｆ： Ｘ ＆！ビームと物体を通過させないＸ線
ビームのＸ線量の比の対数値と物体の厚みとを計測１７
てその対数値、厚みとから物体の組成を非破壊で判別す
る物体組成判別法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57075860A JPS58191959A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 物体組成判別法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57075860A JPS58191959A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 物体組成判別法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58191959A true JPS58191959A (ja) | 1983-11-09 |
| JPH0229983B2 JPH0229983B2 (ja) | 1990-07-03 |
Family
ID=13588411
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57075860A Granted JPS58191959A (ja) | 1982-05-06 | 1982-05-06 | 物体組成判別法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58191959A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61155758U (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-27 | ||
| JPS61193364U (ja) * | 1985-05-24 | 1986-12-02 | ||
| JP2009255049A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | 選別装置、選別方法およびリサイクル樹脂材料の製造方法 |
| JP2009279541A (ja) * | 2008-05-23 | 2009-12-03 | Mitsubishi Electric Corp | 臭素系難燃剤含有樹脂の選別装置および選別方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55112248U (ja) * | 1979-01-31 | 1980-08-07 |
-
1982
- 1982-05-06 JP JP57075860A patent/JPS58191959A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55112248U (ja) * | 1979-01-31 | 1980-08-07 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61155758U (ja) * | 1985-03-19 | 1986-09-27 | ||
| JPS61193364U (ja) * | 1985-05-24 | 1986-12-02 | ||
| JP2009255049A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | 選別装置、選別方法およびリサイクル樹脂材料の製造方法 |
| JP2009279541A (ja) * | 2008-05-23 | 2009-12-03 | Mitsubishi Electric Corp | 臭素系難燃剤含有樹脂の選別装置および選別方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0229983B2 (ja) | 1990-07-03 |
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