DE2042086B2 - Kapazitiver speicher - Google Patents
Kapazitiver speicherInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen kapazitiven Speicher mit einer Reihe von Speicherkondensatoren
und Transistoren, wobei jeder der Speicherkondensatoren zu der Kollektor-Basisstrecke eines Transistors
parallel geschaltet ist, und wobei zu mindestens einem der Speicherkondensatoren ein Ladungsverstärker
parallel geschaltet ist, der einen ersten und einen zweiten Hilfstransistor und einen ersten und einen
zweiten Hilfskondensator enthält, wobei die Reihenschaltung der Basis-Emitter-Strecke des ersten Hilfstransistors
und des ersten Hilfskondensators zu dem Speicherkondensator parallel geschaltet ist und wobei
der Kollektor des zweiten Hilfstransistors mit dem Emitter des ersten Hilfstransistors verbunden ist.
Kapazitive Speicher werden oft zur Verzögerung von
z. B. Video- oder Audiofrequenzsignalen verwendet. Dabei ist es erforderlich, daß die Ladung, die in einem
der Kondensatoren aus der Reihe vorhanden ist, möglichst verlustfrei auf einen folgenden Kondensator
aus der Reihe übertragen wird.
Bei einem bekannten kapazitiven Speicher dieser Art (siehe die niederländische Patentanmeldung 67 11 463)
sind aufeinanderfolgende Kondensatoren aus der Reihe von Kondensatoren über je die Emitter-Kollektor-Strecke
eines Transistors miteinander verbunden. Die vom Kollektorkreis abgekehrten Anschlußenden der
Kondensatoren sind mit den Basis-Elektroden der entsprechenden Transistoren verbunden. Die Basis-Elektroden
der Transistoren sind gruppenweise miteinander verbunden, wobei sie Basisverbindungspunkte
bilden, denen Steuersignale zugeführt werden, wobei die Steuersignale entsprechend den Rangnummern der
Basisverbindungspunkte mit ansteigender Phase gegeneinander versetzt sind. Wie in der betreffenden
Patentanmeldung erwähnt wurde, wird nun für Eingangssignale, die im Intervall
-E<Vi<+E
liegen, wobei E die Amplitude des Steuersignals darstellt, eine lineare Beziehung zwischen dem Spannungsabfall
Δ V über dem Speicherkondensator aus der ersten Stufe des Speichers und dem dieser ersten Stufe
zugeführten Eingangssignal bestehen. Im erwähnten Intervall wird Δ Küber den erwähnten Kondensator das
Intervall
0<Δν<+Ε
durchlaufen. Wenn das Eingangssignal V; gleich 0 V ist,
wird der Spannungsabfall Δ V= '/2 E Volt über dem
Kondensator der ersten Stufe sein, welche Spannung nachstehend als Nullpegel bezeichnet wird. Wenn das
Eingangssignal V, gleich — E Volt ist, wird der
Spannungsabfall Δ V über dem Kondensator der ersten Stufe gleich 0 Volt sein, welche Spannung nachstehend
als Spitzenpegel bezeichnet wird.
Wenn die Reihe von Kondensatoren in diesem bekannten kapazitiven Speicher groß ist, wird die
befriedigende Wirkung des Speichers dadurch gestört, daß während der Übertragung von Ladung zwischen
zwei aufeinanderfolgenden Kondensatoren aus der Reihe von Kondensatoren Ladung verloren geht, indem
der Kollektor-Emitterstromverstärkungsfaktor « der verwendeten Transistoren etwas unter 1 liegt. Dies hat
zur Folge, daß der Nullpegel sich langsam aufwärts zu dem Spitzenpegel verschiebt, je weiter die Ladung
geschoben wird. Dieser Effekt wird noch dadurch beschleunigt, daß auch die Transistorladeströme nach
jeder Stufe im Speicher kleiner werden und zugleich bei den meisten Transistoren auch der Kollektor-Emitter-Stromverstärkungsfaktor
α der Transistoren kleiner wird. Nach einer gewissen Anzahl von Stufen, meistens
einigen zehn, hat sich der erwähnte Nullpegel über einen derartigen Abstand aufwärts verschoben, daß in
den oberen Spitzen des Signals der Transistor außerhalb seines linearen Wirkungsbereiches gelangt, so daß das
Signal abgeplattet und somit verzerrt wird. Dies hat zur Folge, daß die zulässige Amplitude des Eingangssignals
im Zusammenhang mit der zulässigen Verzerrung des elektrischen Ausgangssignals des Speichers kleiner sein
wird, je nach dem die Anzahl Speicherstufen größer wird. Messungen haben ergeben, daß die zulässige
Amplitude des Eingangssignals bei Verwendung von 50 Speicherstufen etwa gleich der Hälfte des erzielbaren
Aussteuerbereiches
-e<v,<+e
der ersten Speicherstufe des kapazitiven Speichers ist.
Ferner zeigen Messungen an, daß die zulässige Amplitude des Eingangssignals bei Verwendung von
200 Speicherstufen gleich 0 ^geworden ist.
In der erwähnten niederländischen Patentanmeldung werden die genannten Ladungsverluste teilweise dadurch
ausgeglichen, daß einer oder mehrere der Kondensatoren aus der Reihe von der Reihenschaltung
eines ersten Hilfskondensators und einer während der Übertragung von einem Kondensator auf den anderen
Kondensator leitenden Diode überbrückt werden, welche Diode zu der Basis-Emitter-Strecke eines als
Emitterfolger geschalteten ersten Hilfstransistors gegensinnig parallel angeordnet ist, während der erste
Hilfskondensator von der Basis-Kollektor-Strecke eines zweiten Hilfstransistors überbrückt ist, dessen Kollektor
mit dem Verbindungspunkt der Diode und des ersten Hilfskondensators verbunden ist, wobei eine Diode zu
der Basis-Emitter-Strecke des zweiten Hilfstransistors gegensinnig parallel geschaltet ist, während der Emitter
des letzteren Transistors über einen zweiten Hilfskondensator an einen Punkt konstanten Potentials angeschlossen
ist.
Die obenerwähnte Lösung, durch die die genannten Ladungsverluste teilweise mittels eines Ladungsverstärkers
ausgeglichen werden, eignet sich zur Anwendung in kapazitiven Speichern, die mit Schaltsignalen betrieben
werden, die eine große Amplitude aufweisen. Die obenerwähnte Lösung eignet sich aber weniger gut zur
Anwendung in kapazitiven Speichern, die mit kleinen Schaltsignalen von z. B. 3 V betrieben werden, wie dies
oft bei integrierten kapazitiven Speichern üblich ist. Dies ist der Tatsache zuzuschreiben, daß die zulässige
Amplitude des Eingangssignals von dem erwähnten Ladungsverstärker herabgesetzt wird, was nachstehend
noch näher beschrieben wird.
Die Erfindung bezweckt, einen Ladungsverstärker zu schaffen, der den obenerwähnten Nachteil nicht
aufweist, und ist dadurch gekennzeichnet, daß der Emitter des ersten Hilfstransistors über eine Diode mit
dem ersten Hilfskondensator verbunden ist, wobei der Verbindungspunkt des ersten Hilfskondensators und
der Diode mit einer Emitter-Elektrode des dem Speicherkondensator folgenden Transistors verbunden
ist.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 den bekannten kapazitiven Speicher,
Fig.2 den Spannungsverlauf der Schaltspannungsquelle
5, .
F i g. 3 eine Spannungstabelle der Kondensatoren C2,
F i g. 4 den kapazitiven Speicher nach der Erfindung,
F i g. 5 eine Spannungstabelle der Kondensatoren C2,
C3, C33 und Ct des Speichers nach F i g. 3,
Fig.6 einen Teil einer Draufsicht auf einem integrierten Speicher nach der Erfindung,
F i g. 7 einen Durchschnitt gemäß der Linie VII in dem Speicher nach F i g. 6,
Fig.8 einen Durchschnitt gemäß der Linie VIII in dem Speicher nach F i g. 6.
In F i g. 1 wird die Reihe von Speicherkondensatoren durch die Kondensatoren G, C2, C3 und C4 gebildet.
Diese Kondensatoren sind über die Emitter-Kollektor-Strecken der Transistoren 71, T2, T3 bzw. T4 miteinander
verbunden. Die Basis-Elektroden der Transistoren 71, T3
und T5 sind mit dem Ausgang t der Schaltspannungsquelle
S verbunden, während die Basis-Elektroden der Transistoren T2 und 7} mit dem Ausgang 2 der
Schaltspannungsquelle S verbunden sind. Die Emitter-Elektrode des Transistors 71 ist über die Reihenschaltung
eines Widerstandes R0 und einer Signalquelle V1
mit einem Punkt konstanten Potentials verbunden. Die Kollektor-Elektrode und die Basis-Elektrode des
Transistors Ts sind miteinander verbunden. Der
Speicherkondensator C3 ist von der Reihenschaltung des ersten Hilfskondensators C33 und der Diode D\
überbrückt. Die Basis-Emitter-Strecke des als Emitterfolger geschalteten ersten Hilfstransistors Te ist zu der
Diode D\ gegensinnig parallel angeordnet. Der Verbindungspunkt der Diode D\ und des ersten Hilfskondensators
C33 ist einerseits mit dem Emitter des Transistors T4
und andererseits mit dem Kollektor des zweiten Hilfstransistors T1 verbunden. Die Basis-Elektrode des
zweiten Hilfstransistors ist mit dem Ausgang 1 der Schaltspannungsquelle S verbunden. Eine Diode Lh ist
zu der Basis-Emitter-Strecke des zweiten Hilfstransistors T7 gegensinnig parallel angeordnet. Die Emitter-Elektrode
des zweiten Hilfstransistors T7 ist über den zweiten Hilfskondensator C34 mit Erde verbunden. Die
Wirkungsweise der Schaltungsanordnung wird an Hand der F i g. 2 näher beschrieben.
Die an den Ausgängen 1 und 2 der Schaltspannungsquelle 5 auftretenden Spannungen sind in den F i g. 2b
bzw. 2a dargestellt.
In den Fig.2a und 2b sind ideale Blockspannungen
dargestellt. In der Praxis wird die Flankensteilheit der Blöcke jedoch zur Vermeidung von Sättigungserscheinungen
der Transistoren des kapazitiven Speichers kleiner gemacht, wodurch Verzerrung des zu verzögernden
Signals auftreten könnte. Es wird angenommen, daß im Zeitintervall τι der Spannungsabfall über
dem Speicherkondensator C2 gleich Δ V Volt ist. Im
Zeitintervall Ti ist der Transistor T4 leitend. Der
Kondensator C3 wird aufgeladen, bis die Spannung über diesem Kondensator gleich (E- 2 VJ) Volt geworden ist,
wobei V/gleich der Basis-Emitter-Schwellwertspannung des Transistors T\ und außerdem gleich der Spannung
45. am Übergang zwischen den Dioden D\ und Eh ist. Der
erste Hilfskondensator C33 wird im Zeitintervall v\
aufgeladen, bis die Spannung über diesem Kondensator gleich (E- V1) Volt geworden ist (siehe F i g. 3). In
demselben Zeitintervall wird der zweite Hilfskondensator C34 über die Diode D2 entladen, bis die Spannung
über diesem Kondensator gleich Vj Volt geworden ist.
Im Zeitintervall T2 ist der Transistor T3 leitend. Der
Kondensator C3 wird entladen, bis die Spannung über diesem Kondensator gleich (E-2Vj)-AVVcAt geworden
ist (siehe Fig.3). Im Zeitintervall T2 ist der
Transistor T% gleichfalls leitend. Der erste Hilfskondensator
C33 wird entladen, bis die Spannung über diesem
Kondensator gleich (E- 3 V,)—Δ V geworden ist (siehe
Fig.3). Im Zeitintervall T2 ist der Transistor T7
gleichfalls leitend, wodurch die Spannung über dem zweiten Hilfskondensator auf (E- V]) Volt gebracht
wird. Im Zeitintervall T2 wird die Spannung über dem Kondensator C4 auf (E- VJ) Volt gebracht.
Im Zeitintervall T3 ist der Transistor T4 leitend.
Dadurch wird der Kondensator C3 aufgeladen, bis die
Spannung über diesem Kondensator auf (E-2VJ) Volt angestiegen ist, wodurch eine Ladung gleich C3-AV
Coulombs erforderlich ist, welche Ladung dem Konden-
sator C4 entzogen wird. Außerdem wird der erste
Hilfskondensator C33 aufgeladen, bis die Spannung über
diesem Kondensator auf (E- V]) Volt angestiegen ist. Dadurch ist eine Ladung gleich C33 · Δ V+2 V1 Coulombs
erforderlich, welche Ladung gleichfalls dem Kondensator C4 entzogen wird. Im Zeitintervall τ3 wird
somit insgesamt dem Kondensator C4 eine Ladung gleich
2Vj+AV-(C3 + C33) Coulombs
entzogen. Dadurch fällt die Spannung über dem Kondensatopr Ct auf einen Betrag gleich
(E- Vj)-(I + CnIC)AV-IVj
Volt ab (siehe Fig.3). Dies bedeutet, daß die Information Δ V, die im Kondensator C3 vorhanden war,
nach Verstärkung um einen Faktor
auf den Kondensator Cs, übertragen ist. Der Aussteuerungsbereich
des Kondensators C4 ist gleich
(E-V1)-
Volt. Dies bedeutet, daß der angebrachte Ladungsverstärker diesen Bereich um
2V1
-33
Volt herabsetzt. Wenn angenommen wird, daß i?=3 V, Vj= 0,5 V und — =2 ist, bedeutet dies, daß der
erzielbare Aussteuerungsbereich von 2,5 V auf 0,5 V herabgesetzt wird.
In Fig.4 ist eine Lösung für dieses Problem
veranschaulicht. Der Ladungsverstärker wird durch die Transistoren T6 und T7, die Dioden D\ und Lh und die
Kondensatoren C33 und C34 gebildet. Der Transistor T6
ist der erste Hilfstransistor und Tj ist der zweite Hilfstransistor. Der Kondensator C33 ist der erste
Hilfskondensator und C34 ist der zweite Hilfskondensator.
Zu dem Speicherkondensator ist die Reihenschaltung der Basis-Emitter-Strecke des als Emitterfolger
geschalteten ersten Hilfstransistors T6, der Diode D\
und des ersten Hilfskondensators C33 parallel angeordnet.
Der Verbindungspunkt der Diode D\ und des ersten Hilfskondensators C33 ist mit einer Emitter-Elektrode
des Mehremittertransistors T4 verbunden. Der Emitter
des ersten Hilfstransistors T6 ist mit dem Kollektor des
zweiten Hilfstransistors T7 verbunden. Die Diode D2 ist
zu der Basis-Emitter-Strecke des zweiten Hilfstransistors gegensinnig parallel geschaltet. Der zweite
Hilfskondensator C34 ist mit dem Emitter des Transistors
T7 verbunden. Üblicherweise wird der Anschlußpunkt
A mit einem Punkt konstanten Potentials, z. B. dem Substrat des Halbleiterkörpers verbunden, in dem
der Kondensator C34 integriert ist.
In den F i g. 6 und 7 ist gezeichnet, wie der Anschlußpunkt mit dem Substrat des Halbleiterkörpers
verbunden ist. Unter Umständen kann aber auch an den Punkt A des Kondensators C34 eine Spannung angelegt
werden, die gleich der Summe einer negativen Vorspannung und der am Ausgang 2 der Schaltspannungsquelle
S auftretenden Schaltspannung ist. Dies ist mit einer gestrichelten Linie und einer Spannungsquelle
E angegeben. Wenn der Kondensator C34 in einem
Halbleiterkörper integriert wird, soll üblicherweise dieser Kondensator mit Hilfe einer Diode, welche im
gesperrten Zustand gehalten wird, realisiert werden. Dafür ist in diesem Fall die Spannungsquelle E
erforderlich.
Der Punkt B des Ladungsverstärkers wird meistens mit dem Ausgang 1 der Schaltspannungsquelle S
verbunden; wenn aber große Schaltgeschwindigkeiten und ein Mindestmaß an Verzerrung verlangt werden, ist
es erwünscht, daß an den Punkt Beine andere Spannung
angelegt wird, die gleich der Summe der negativen Vorspannung und der am Ausgang 1 der Schaltspannungsquelle
auftretenden Spannung ist. Die an den Ausgängen 1 und 2 der Schaltspannungsquelle 5
auftretenden Spannungen sind in den F i g. 2a bzw, 2b dargestellt. Es wird angenommen, daß im Zeitintervall
Ti der Spannungsabfall über dem Kondensator C2, der
die Information enthält, gleich Δ VVoIt ist. In demselben
Zeitintervall ist der Transistor T4 leitend. Der Kondensator
C3 wird dann aufgeladen, bis die Spannung über diesem Kondensator gleich (E- Vj) Volt geworden ist
(siehe F i g. 5). Der erste Hilfskondensator C33 wird im
Zeitintervall τι aufgeladen, bis die Spannung über
diesem Kondensator gleich (E- V]) Volt geworden ist
(siehe Fig.5). In demselben Zeitintervall wird der zweite Hilfskondensator C34 über die Diode D2 entladen.
Im Zeitintervall V2 ist der Transistor T3 leitend. Der
Kondensator C3 wird entladen, bis die Spannung über diesem Kondensator gleich (E- V])—Δ V Volt geworden
ist (siehe Fig.5). Im Zeitintervall τ2 ist der
Transistor T6 gleichfalls leitend. Der erste Hilfskondensator
C33 wird entladen, bis die Spannung über diesem
Kondensator gleich (E-N])-AV Volt geworden ist
(siehe F i g. 5). Im Zeitintervall X2 ist der Transistor T7
gleichfalls leitend, wodurch die Spannung über dem zweiten Hilfskondensator auf (E- V]) Volt gebracht
wird (siehe F i g. 5). Im Zeitintervall τ2 wird die
Spannung über dem Kondensator C4 auf (E- V]) Volt
gebracht (siehe F i g. 5).
Im Zeitintervall τ3 ist der Transistor T4 leitend.
Dadurch wird der Kondensator C3 aufgeladen, bis die Spannung über diesem Kondensator auf (E- V]) Volt
angestiegen ist, was eine Ladung gleich C3 · Δ V
Coulombs erfordert, welche Ladung dem Kondensator C4 entzogen wird. Außerdem wird der erste Hilfskondensator
C33 aufgeladen, bis die Spannung über diesem Kondensator auf (E- V]) Volt angestiegen ist. Dies
erfordert eine Ladung gleich C33 · A V Coulombs,
welche Ladung gleichfalls dem Kondensator C4 entzogen wird. Im Zeitintervall T3 wird dem Kondensator
C4 eine Ladung gleich (C+ C33) · A V Coulombs
entzogen. Dadurch fällt die Spannung über dem betreffenden Kondensator auf einen Betrag von
C33N
c )
6ο Volt ab (siehe F i g. 5). Dies bedeutet, daß die Information A V, die im Kondensator C3 vorhanden war,
nach Verstärkung um einen Faktor
1 +
auf den Kondensator C4 übertragen worden ist. Der
Aussteuerungsbereich des Kondensators C4 ist nun
gleich (E- VJ) Volt. Der Aussteuerungsbereich des
Kondensators C^ ist durch das Vorhandensein des
Ladungsverstärkers um
2 Vj
-33
Volt vergrößert.
Nun wird an Hand der F i g. 6,7 und 8 eine integrierte
Ausführung eines kapazitiven Speichers nach der Erfindung beschrieben.
Fig.6 zeigt einen Teil einer Draufsicht auf einen integrierten Speicher nach der Erfindung, insbesondere
auf den den Ladungsverstärker enthaltenden Teil. Der Halbleiterkörper 50 enthält eine Anzahl gegeneinander
isolierter Inseln 51, in denen Transistoren zum Weiterschieben von Ladung untergebracht sind. Dabei
sind als Speicherkapazitäten die Basis-Kollektor-Kapazitäten dieser Transistoren verwendet. Die erwähnten
Transistoren haben je eine Basiszone 52 und eine Emitterzone 53. Diese Transistoren bilden eine Reihe,
wobei der Kollektor 51 eines Transistors der Reihe über eine Leiterbahn 54 mit dem Emitter 53 des auffolgenden
Transistors der Reihe verbunden ist. Ferner sind die Basis-Elektroden 52 aufeinanderfolgender Transistoren
der Reihe abwechselnd mit einer der Leiterbahnen 55 und 56 verbunden, über welche Bahnen das Weiterschieben
der Ladung gesteuert werden kann. Die Leiterbahnen 54, 55 und 56, die sich auf einer auf der
Halbleiteroberfläche vorhandenen Isolierschicht 57 erstrecken, sind über in F i g. 6 mit gestrichelten Linien
angedeutete Fenster in der Schicht 57 mit den unterschiedlichen Halbleiterzonen verbunden.
Da sie als Speicherkapazität verwendet wird, soll die Basis-Kollektor-Kapazität der Transistoren verhältnismäßig
groß sein. Dies wird im vorliegenden Ausführungsbeispiel dadurch erreicht, daß die Oberfläche der
Basiszonen 52 verhältnismäßig groß gewählt wird und diese Zonen 52 ferner teilweise mit einer gleichzeitig
mit den Emitterzonen 53 erhaltenen Zone 58 überzogen werden (siehe auch F i g. 7). Dabei überlappen die Zonen
58 einen Teil des Randes der Basiszonen 52, so daß die Zonen 58 unmittelbar mit den Kollektorzonen 57, die
den gleichen Leitfähigkeitstyp aufweisen, verbunden sind. Weiter weisen die Basiszonen 52 einen dickeren
Teil 59 auf, der außerhalb des wirksamen Teiles der Transistoren liegt und der bis zu einem niederohmigen
Teil 60 der Kollektorzonen 51 reicht. Der niederohmige teil 60 ist als eine sogenannte vergrabene Schicht
ausgebildet, während der dicke Teil 59 der Basiszone 52 zugleich mit den Isolierzonen 61 erhalten werden kann.
Zur Herabsetzung der Kapazität zwischen dem Emitter und dem Kollektor desselben Transistors,
welche Kapazität mit Rücksicht auf das elektrische Übersprechen zwischen den aufeinanderfolgenden
Speicherkondensatoren störend sein kann, sind unterhalb der Leiterbahnen 54 diffundierte Zonen 62
angebracht, die zugleich mit den Basiszonen 52 erhalten sind. Die Zonen 62 weisen also den gleichen
Leitfähigkeitstyp wie die Isolierzonen 61 auf und stehen mit diesen Zonen durch Überlappung unmittelbar in
Verbindung.
Es sei bemerkt, daß ein derartiger integrierter kapazitiver Speicher der oben beschriebenen Art auch
in der älteren niederländischen Patentanmeldung Nr. 68 05 704 (PHN. 3 145) beschrieben worden ist.
Nach dem Schaltbild der Fig.4 ist zwischen zwei Transistoren der Reihe, und zwar den Transistoren Γ3
und !4, ein Ladungsverstärker angebracht, zu welchem
Zweck der letztere Transistor Tt, mit einem zusätzlichen
Emitter versehen ist. Dieser zusätzliche Emitter ist in den F i g. 6 und 7 mit 63 bezeichnet. Der zusätzliche
Emitter 63 ist über eine Leiterbahn 70 mit einer zugleich mit den Emitterzonen der Transistoren erhaltenen Zone
71 verbunden, die einen Teil eines Hilfskondensators bildet, der in der Halbleiterinsel 64 untergebracht ist.
Die übrigen Schaltungselemente des Ladungsverstärkers sind in den isolierten Halbleiterinseln 65 bis 69
untergebracht. Der erwähnte Hilfskondensator weist neben der Zone 71 eine Zone auf, die zu einem Teil 72
zugleich mit den Basiszonen der Transistoren und zu einem Teil 73 zugleich mit den Isolierzonen 61 erhalten
ist, wobei diese Zone von der Zone 71 überlappt wird.
Der Teil 73 grenzt weiter an eine vergrabene Schicht 60.
Der Teil 72 ist über eine Leiterbahn 74 mit einer auf der Isolierschicht 57 liegenden Anschlußfläche 75 verbunden,
die außerdem mit der Basiszone 76 eines in der Insel 67 liegenden Transistors und mit einer zugleich mit
den Emitterzonen erhaltenen Zone 77 einer in der Insel 68 liegenden Diode verbunden ist. Die Emitterzone 78
des letzteren Transistors (siehe auch Fig.8) ist über
eine Leiterbahn 79 mit der zugleich mit den Basiszonen der Transistoren erhaltenen Zone 80 der erwähnten
Diode und mit der Zone 91 eines weiteren in der Insel 69 liegenden Hilfskondensators verbunden. Die Zone 80
der Diode ist auf übliche Weise über eine zugleich mit den Emitterzonen erhaltene Zone 82 und die Leiterbahn
79 mit der Insel 68 kurzgeschlossen. Der erwähnte weitere Hilfskondensator enthält ferner eine Zone, die
zu einem Teil 83 zugleich mit den Basiszonen und zu einem Teil 84 zugleich mit den Isolierzonen erhalten ist
und die den Rand der Insel 69 teilweise überlappt, wodurch diese Zone mit dem Substratteil des HaIbleiterkörpers
50 verbunden ist. Dabei reicht der Teil 84 der Diode wieder bis zu einer vergrabenen Schicht 60.
Der Substratteil des Halbleiterkörpers 50 kann über eine Leiterbahn 85 an ein geeignetes Potential gelegt
werden.
Die Kollektorzone des in der Insel 67 liegenden Transistors ist auf übliche Weise mit Hilfe einer zugleich
mit den Emitterzonen erhaltenen Kontaktzone 86 kontaktiert und über die Leiterbahn 87 mit der Zone 88
einer in der Insel 66 liegenden Diode und mit der Emitterzone 91 eines in der Insel 65 liegenden
Transistors verbunden. Die letztere Diode ist auf völlig gleiche Weise wie die in der Insel 68 liegende Diode
ausgebildet, wobei die Zonen 88, 89 und 90 den Zonen 77, 80 bzw. 82 entsprechen. Ferner entsprechen die
Zonen 91, 92 und 93 des in der Insel 65 liegenden Transistors den Zonen 78,76 bzw. 86 des in der Insel 67
untergebrachten Transistors.
Die Zone 89 der Diode ist über die Leiterbahn 70 mit dem zusätzlichen Emitter 63 und mit der Zone 71 des in
der Insel 64 liegenden Hilfskondensators verbunden. Die Basiszone 92 ist über eine Leiterbahn 94 mit der
Kollektorzone 51 des dem Mehremittertransistor vorangehenden Transistors der Transistorenreihe verbunden.
Die Kollektorzone 65, 93 kann über die Leiterbahn 95 und die Anschlußfläche 96 an eine
geeignete Speisespannung gelegt werden.
An die vorerwähnte Anschlußfläche 75 kann eine Spannung gelegt werden/die von der zur Steuerung der
Ladungsübertragung an die Leiterbahn 55 angelegten Spannung durch Zusatz einer Gleichstromkomponente
abgeleitet ist. Durch Zusatz dieser Gleichstromkomponente kann gesichert werden, daß der als Kapazität
verwendete pn-übergang zwischen den Zonen 71 und
709 525/356
72 stets in der Sperrichtung vorgespannt ist, während dadurch auch die Größe dieser Kapazität etwas
geregelt werden kann, wodurch die Größe der Ladungsverstärkung eingestellt werden kann. Im
Zusammenhang mit dieser Einstellung kann es übrigens erwünscht sein, diese Kapazität statt in integrierter
Form auf der Außenseite anzubringen, wodurch die Größe der Ladungsverstärkung innerhalb eines größeren
Intervalls gewählt werden kann.
Der beschriebene integrierte Speicher kann völlig auf die in der Halbleitertechnik übliche Weise unter
Verwendung üblicher Materialien hergestellt werden; es wird z. B. von einem p-leitenden Siliciumkörper
ausgegangen, auf dem eine η-leitende epitaktische Schicht angebracht ist. Durch die üblichen Photoätz-
und Maskierungstechniken können dann durch Diffusion üblicher Verunreinigungen, wie Bor und Phosphor,
die verschiedenen benötigten Zonen mit üblichen Dotierungskonzentrationen erhalten werden. Die Isolierschicht
57 kann z. B. aus Siliciumdioxyd und/oder Siliciumnitrid bestehen, während die Leiterbahnen aus
Aluminium oder einem anderen geeigneten leitenden Material bestehen können.
Der integrierte Speicher kann dann auf übliche Weise in einem üblichen Gehäuse montiert werden.
Es ist einleuchtend, daß sich die Erfindung nicht auf das beschriebene Ausführungsbeispiel beschränkt und
daß für den Fachmann im Rahmen der Erfindung viele Abwandlungen möglich sind. So können sowohl
bipolare Transistoren als auch Feldeffekttransistoren Anwendung finden. Ferner kann die in Fig.4
beschriebene Schaltungsanordnung ζ. Β. vorteilhaft dazu verwendet werden, auf übliche Weise ein Filter für
elektrische analoge Signale herzustellen. Auch können in Vereinigung mit der beschriebenen Schaltungsanordnung
übliche Ein- und Ausgangskreise verwendet werden. Ferner können bei Integrierung des Speichers
z. B. andere Isolierungstechniken angewandt werden. Zum Beispiel kann der Halbleiterkörper aus einem
Substrat aus Isoliermaterial bestehen, auf oder in dem eine Anzahl voneinander getrennter Halbleitergebiete
angebracht sind.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (5)
1. Kapazitiver Speicher mit einer Reihe von Speicherkondensatoren und Transistoren, wobei
jeder der Speicherkondensatoren zu der Kollektor-Basisstrecke eines Transistors parallel geschaltet ist,
und wobei zu mindestens einem der Speicherkondensatoren ein Ladungsverstärker parallel geschaltet
ist, der einen ersten und einen zweiten Hilfstransistor und einen ersten und einen zweiten
Hilfskondensator enthält, wobei die Reihenschaltung der Basis-Emitter-Strecke des ersten Hilfstransistors
und des ersten Hilfskondensators zu dem Speicherkondensator parallel geschaltet ist und,
wobei der Kollektor des zweiten Hilfstransistors mit dem Emitter des ersten Hilfstransistors verbunden
ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Emitter des ersten Hilfstransistors (T6) über eine
Diode (D 1) mit dem ersten Hilfskondensator (C33) verbunden ist, wobei der Verbindungspunkt des
ersten Hilfskondensators (C33) und der Diode (D 1) mit einer Emitter-Elektrode des dem Speicherkondensator
folgenden Transistors (TA) verbunden ist.
2. Kapazitiver Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Hilfskondensator
(C34) einerseits mit dem Emitter des zweiten Hilfstransistors (T7) und andererseits mit einem
Punkt konstanten Potentials verbunden ist.
3. Kapazitiver Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Hilfskondensator
(C34) einerseits mit dem Emitter des zweiten Hilfstransistors (T7) und andererseits mit der
Schaltspannungsquelle (S? verbunden ist.
4. Kapazitiver Speicher nach Anspruch 1,2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Basis-Elektrode
des zweiten Hilfstransistors (T7) mit dem von der Emitter-Elektrode abgekehrten Anschlußende des
ersten Hilfskondensators (C33) verbunden ist.
5. Kapazitiver Speicher nach Anspruch 1,2,3 oder
4, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein Teil der Speicherkondensatoren und Transistoren, der
erste und der zweite Hilfstransistor und die Diode völlig oder teilweise in einem Halbleiterkörper
integriert sind.
Applications Claiming Priority (2)
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