DE2037375A1 - Verfahren zur Herstellung eines Halb leiterknstalles durch tiegelfreies Zone schmelzen und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines Halb leiterknstalles durch tiegelfreies Zone schmelzen und Vorrichtung zur Durchführung dieses VerfahrensInfo
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Description
PHN kk62 d J o/R J
Ing. (grad.) GONTHER M. DAVID
AnmeldBr: H.V. PWJ £ GLOZiLAMPENFABRiEKEH
Akte: PHN- 4462
Akte: PHN- 4462
vom. 20. Juli 1970
"Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterkristalles
durch tiegelfreies Zoneschmelzen und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens".
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung
eines Halbleitereinkristalles durch tiegelfreies Zoneschmelzen eines vertikal angeordneten Stabs
aus Halbleitermaterial in einer regelbaren Atmosphäre in einer rohrförmigen, luftdicht verschlossenen Kammer,
welcher Stab mindestens eine Translationsbewegung in bezug auf eine den Stab umgebende Spule vollführen kann,
die von einem Hochfrequenzstrom durchflossen wird} und
weiterhin einen durch dieses Verfahren hergestellten
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Halbleitereinkristall und eine Vorrichtung zur Durchführung
dieses Verfahrens.
Das Verfahren zur Herstellung von Einkristallen durch tiegelfreies Zoneschmelzen wird allgemein zur
Herstellung von Halbleiteranordnungen verwendet. Ein gewöhnlich polykristallinischer Halbleiterstab wird in
einer vertikalen Lage gehalten, örtlich geschmolzen und mit einem Keimkristall in Berührung gebracht, worauf die
geschmolzene Zone sich durch den Stab verschiebt und das Material allmählich in einen Einkristall umkristallisiert
wird. Die Schmelze wird meistens durch Induktionsströme mittels einer Spule erzeugt, die nahezu
koaxial zum Stab liegt und von einem Hochfrequenzstrom durchflossen wird. Die Schmelzzone wird zwischen dem
ursprünglichen Stab und dem Keimkristall durch die Wirkung ihres eignen Gewichtes und durch die Oberflächenspannung
des Flüssigkeit im Gleichgewicht gehalten; eine solche schwebende Schmelzzone nimmt dadurch eine
Form an, die durch eine leichte Baus ellung im unteren
Teil und eine halsartige Einschnürung im oberen Teil gekennzeichnet wird.
Während dieses Vorgangs muss die Schmelzzone vor Luft und etwaigen Verunreinigungen geschützt werden.
Das Schmelzen erfolgt daher iii einer luftdicht
geschlossenen Kammer mit einer regelbaren Atmosphäre
od»r im Vakuum.
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Die Induktionsspule kann unmittelbar rings um die Schtnelzzone innerhalb der luftdichten Kammer angeordnet
sein; dabei kann jedoch der Einkristall durch Entgasung der Spule verunreinigt werden. Wenn ausserdem
der Einkristall in der Dampfphase dotiert werden soll, wobei eine Verunreinigung in Form eines in einem
Trägergas ζ,B. Argon zugeführten Dampfes als Dotierungsmittel in die Kammer eingeführt wird, können in der Nähe
der Spule lonisierungserscheinungen auftreten," welche
die Dotierung beeinträchtigen. Ausserdem muss das Volumen
der Metallkammer gross sein, um Kupplung mit der Erhitzungsspule zu vermeiden.
Zum Beheben der vorerwähnten Nachteile, zur Verbesserung der Beobachtung und zum Vereinfachen der
erforderlichen, hermetisch geschlossenen Kammer wird vorzugsweise eine durchsichtige, hermetisch geschlossene
Kammer um den Stab und den Keimkristall angeordnet, während die Induktionsspule dieser Kammer umgibt. Ein
solches Verfahren und eine solche Vorrichtung sind in
der französischen Patentschrift Nr. 1,415.880 beschrieben.
Zum Beibehalten einer hinreichenden Kopplung zwischen Spule und Stab, was umsomehr notwendig ist je
grosser die Durchmesser des Stabs und des sich bildenden Einkristalles sind, müssen die Windungen der Spule
einen minimalen Durchmesser aufweisen. In der in vor-
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erwähnter Patentschrift genannten Vorrichtung können
diese Windungen nicht sehr nahe an dem Rohr liegen, da während der Verschiebung der Spule in bezug auf das
Rohr Reibung und etwaige Erschütterungen Beschädigungen
hervorrufen können. Es ist daher notwendig, einen hinreichenden Raum zwischen der Spule und dem Rohr frei zu
lassen.
Um andererseits zu vermeiden, dass die flüs-»
sige Zone an der Innenwand des Rohrs festklebt, muss das Rohr einen verhältnismässig grossen Durchmesser aufweisen,
der umso grosser sein muss, da es oft notwendig ist, den Stab und/oder den Einkristall im Innern des
Rohres zu drehen.
Infolge der vorerwähnten Anforderungen können
bei grossen Durchmessern der Stäbe der Unterschied zwischen den Durchmessern der schwebenden Schmelzzone
und der vom Hochfrequenzstrom durchflossenen Windungen
gross, die induktive Kopplung gering, der innere Teil nicht ausreichend erhitzt und die Erhitzung unregelmässig
sein, während gerade in radialer Richtung scharfe Temperaturgradienten auftreten können, wodurch die Fest-,
stoff-Flüssigkeitsübergangsflächen stark aufbauschen
und Kristallfehler auftreten. Bei sehr grossen Durchmessern
kann der axial Teil des Stabs ungeschmolzen
bleiben.
Die Erfindung bezweckt, die Nachteile vorer-
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wähnter Verfahren zu verringern. Weiterhin bezweckt die Erfindung die Herstellung von Halbleiter-Einkristallen
grossen Durchmessers mit guter Kristallgüte zu ermög- .
liehen, die gewünschtenfalls aus der Dampfphase dotiert
werden können.
Nach der Erfindung wird das Verfahren zur
Herstellung eines Halbleiter-Einkristalles durch tiegelfreies Zoneschmelzen eines vertikal angeordneten Stabs
aus Halbleitermaterial in einer regelbaren Atmosphäre in einem rohrförmigen, luftdicht verschlossenen Raum,
welcher Stab mindestens eine Translationsbewegung in bezug auf eine den Stab umgebende Spule vollführen kann,
die von einem Hochfrequenzstrom durchflossen wird, dadurch
gekennzeichnet, dass die Spule die Kammer in der Höhe eines verjüngten Teiles derselben umgibt, dessen
Innendurchmesser kleiner ist als der Durchmesser der festen Teile des Stab«! und/oder des sich bildenden Einkristalles.
Die Verjüngung der rohrförmigen Kammer in der Höhe der Spule ermöglicht, einen minimalen Durchmesser
der Spule zu verwenden, wodurch die Hochfrequenzkopplung
zwischen der Spule und der Schmelzzone verbessert wird. Diese Verbesserung ermöglicht, Einkristallstäbe
grösseren Durchmessers herzustellen, während eine geeignete
Kristallgüte beibehalten wird.
Die Verjüngung der Kammer bedingt eine ent-
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sprechende Verjüngung der Schmelzzone in der gleichen Höhe. .
Diese flüssige Zone nimmt die beschriebene Form an infolge der optimalen Kopplung zwischen der
Spule mit dem erfindungsgemäss zulässigen, kleinen Durchmesser der Windungen und infolge des schmalen
Halses der flüssigen Zone, welche schmale Halsform durch Abstosskräfte zwischen dem Strom durch die Spule
und den Foucalt-Strömen in der geschmolzenen Zone erhalten wird. Die Erhitzung ist gleichmässiger infolge
dieses geringen Halsdurchmessers, da die normalerweise nur an der Oberfläche der Schmelze entwickelte Wärme
infolge der "Hautwirkung" nicht auf grosse Durchmesser beschränkt ist.
Die Geschwindigkeiten der Translationsbewegungen
des St&bs und des Keims des zu bildenden Einkristalles lassen sich derart regeln, dass die erwünschten
Abmessungen des Einkristalles erhalten werden, wobei die Erhitzung in an sich bekannter Weise regelbar ist.
Die Hochfrequenzspule kleineren Durchmessers
ermöglicht, den Vorgang mit einem Keim kleineren Durchmessers durchzuführen, während eine ausreichende, induktive
Kopplung beibehalten wird. Bekanntlich ist eine Verringerung des Durchmessers des Keimkristalles günstig
zum Erzielen eines Einksci»tailss höherer Güte.
Der Durchmesser d©a nicht verjüngten Teils
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der rohrförmigen Kammer, der dann nicht mehr von dem
Innendurchmesser der Windungen der Erhitzungsspule bestimmt wird, braucht nicht mehr auf ein Mindestmass
herabgesetzt zu werden; es ist dann möglich, nicht geeichte Rohre zu verwenden und den Stab und den Einkristall
drehen zu lassen ohne die Gefahr einer Reibung an der Innenwand des Rohres.
Da die Erhitzungsspule in bezug auf die Kammer
fest angeordnet ist, wird die Gefahr von Erschütterungen und Beschädigung infolge Reibung einer Windung
der Spule an der Rohrwand vermieden. Die Spulen lassen sich sogar gegen die Aussenwand des Rohres festdrücken.
Bei Verwendung einer einzigen Spulenwindung kann die so
gebildete Schleife enger geschlossen werden, wodurch
die Homogenität der Erhitzung verbessert wird, da die Anschlüsse an eine einzige Windung elnigerraassen eine
Ungleichmässigkeit des Hochfrequenzinduktionsfeldes
hervorrufen. Diese Verbesserung trägt auch dazu bei, grössere Durchmesser der Einkristalle guter Kristallqüalität
erzielbar zu machen.
Da die Erhitzungsspulen ausserhalb der rohrförmigen
Kammer liegen, Gefahr einer Ionisation der Atmosphäre innerhalb der Kammer ähnlich wie die Gefahr
einer 'Verunreinigung des Einkristalles durch das Spulenmaterial
vermieden.
In e'iner bevorzugten Form des Verfahrens nach
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der Erfindung wird der Stab von dem unteren Ende her
geschmolzen, während dem Einkristall der Durchmesser des Stabs und dem Hals der Schmelzzone ein Durchmesser
maximal gleich der Hälfte des Stabdurchmessers erteilt
wird. Der mit dem Keim verbundene Einkristall kann eine Translations— und eine Rotationsbewegung und der
Stab kann mindestens eine Translationsbewegung vollführen
.
Der Einkristall entsteht gewöhnlich aus einem Polykristallstab. In diesem FaIl wird ein Keimkristall
am unteren Ende der Vorrichtung angebracht und zunächst mit dem unteren Ende des Polykristallstabs
in Berührung gebracht, der geschmolzen wird, worauf die Schmelzzone durch die Translationsbewegung des
Keimkristalles und des Polykristallstabs verschoben wird. Die Translationsbewegungen des Keims und des
Stabs sind vorzugsweise unabhängig voneinander.
Der Keimkristall hat einen Durchmesser, der kleiner ist als der des Halses der rohrförmigen Kammer
in der Höhe der Verjüngung. Der Keim und der Polykristall werden gedreht, vorzugsweise in entgegengesetzten Richtungen,
wodurch die Schmelzzone gleichsam gerührt wird.
Die Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens nach dir Erfindung ein Quarzrohr, das in der Höhe
einer Verjüngung von einer Induktionsspule umgeben wird, die durch eine einzige Windung gebildet wird, die durch
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umlaufendes Wasser gekühlt wird und z.B. aus Kupfer besteht, welche Windung um die Verjüngung des Rohres geformt
ist, so dass die Schleife möglichst eng anliegt. Das Quarzrohr weist Gaseinlass- und Gasauslassrfihrchfln
auf. Das Rohr wird durch Abdichtungsorgane verschlossen, die je eine abgedichtete Durchführung für die Achsen
aufweisen, an denen die Hälter für den Keim und den Stab befestigt sind. Die Vorrichtung nach der Erfindung
enthält Mittel zur Durchführung der Translations- und Rotationsbewegungen des Keims und des Stabs des Ausgangsmaterials,
die unabhängig voneinander*sein können. Vorzugsweise werden zwei Rotations- und Translationsköpfe einander gegenüber auf einer gemeinsamen Stütze
angebracht, an der das Rohr und die Erhitzungsspule befestigt sind.
Selbstverständlich können bekannte Verfeinerungen wie eine zusätzliche Erhitzung, Durchmesserregelvorrichtungen,
Erhitzungskorrekturmittel, Regelmittel für das Volumen der Schmelzzone bei der Vorrichtung
nach der Erfindung verwendet werden. Die Erfindung eignet sich insbesondere zur Herstellung eines
Einkristalles mit einem Durchmesser, der von dem des
Polykristallstabs verschieden ist. Die Erfindung ermöglicht, die Erhitzungsspule exzentrisch in bezug
auf den Stab oder den Keimkristall exzentrisch in bezug
auf den Polykristallatab anzuordnen, während die
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richtigen induktiven Kopplungen aufrechterhalten werden.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand beiliegender Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen schematischen Schnitt durch eine
Vorrichtung nach der Erfindung,
Fig. 2 eine vereinzelte Ansicht des Teiles der Vorrichtung nach Fig. 1f der in der Höhe der
Schmelzzone liegt.
Im Innern eines durchsichtigen Siliciumoxydrtohres
1, das durch zwei Stöpsel 2 und 3 verschlossen ist, wird ein Keimkristall 4 in einem Halter 5 am Ende
einer Achse 6 gehaltert5 welche Achse luftdicht durch
den Stöpsel 2 durchgeführt ist, während ein Polykris—
tallstab 7 i*i einem Halter 8 am Ende einer Achse 9
festgehalten wirds welche Achse durch den Stöpsel 3 luftdicht geführt iat.
Das Rohr 1 ist nä.t einem Gaszufuhrrobrehen
10 und einem Gasabfuhrröhrchen 11 versehenf das Rohr
weist eine Terjilngraxg 12 auf» Darin wird eine Windung
13 eines EupferroJires angebracht,, das von einem Hocixfrequenzstront
durchflössen und gleichzeitig durcii strömendes
Wasser gekühlt wird»
Zum Zoneschmeißen ©ines States 7 wit einem
Durchmesser von mindestens 3® sie hat das. Rohr f z.B.
einen Innendurchmesser von kB κι, der in der Köiis der
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Verjüngung 12 auf 3O mm herabgesetzt ist.
Die Vorrichtung ist im Betrieb in einer Stufe dargestellt, in der ein Teil des Stabs 7 geschmolzen
und ein Einkristallstab lh teilweise gebildet ist. Eine
Schjselzzone 15 ist im Gleichgewicht zwischen dem Stab
und dem Stab 14; das Profil dieser Zone wird durch die
Oberflächenspannung der Flüssigkeit, durch ihr Gewicht und durch Kräfte bestimmt, die durch die Wechselwirkung
des Stromes durch die Windung 13 und der" Foucalt-Strorae
in der Zone hervorgerufen werden. Die Zone 15
hat infolgedessen einen aufgebauschten Teil 16 und einen verjüngten Teil 17· Auf der Seite des Ausgangs—
stabs 7 ist die Zone durch die Schmelzfront 18 und auf der Seite des Keimkristalles 14 durch die Erstarrungsfront 19 begrenzt. Die Zone 15 hat z.B. einen Durchmesser
von 18 bis 20 mm in dem verjüngten Teil und einen Durchmesser von mindestens 38 mm an dem Stab
Das Volumen und die Form der Schmelzzone 15 warden durch Regelung der Frequenz und der Intensität
des Stroms durch die Windung 13 erhalten.
Der Keim 14 und der Stab 7 werden je für
sich in Drehung versetzt (siehe die Pfeile 20 bzw. 21) und in eine Translationsbewegung in Richtung der Pfeile
22 bzw. 23.
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Die Translations- und Rotationsgeschwindigkeiten werden nach den üblichen Kriterien bestimmt;
die Rotationen müssen die Homogenität der Schmelzphase und die Regelmässigkeit der Kristallisierungsfront
und die Translationen den Fortschritt der Schmelzzone längs des Stabs 7 und den Durchmesser des Einkristalles
in bezug auf den des Stabs bestimmen.
Aus den Fig. 1 und 2 zeigt sich, dass der Durchmesser der Erhitzungsspule 13 erheblich kleiner
ist als der einer Spule, die in bekannter Weise um ein Rohr 1 angebracht ist, das keine Verjüngung aufweist
und dass d^e induktive Kopplung zwischen der Windung
13 und der Zone 15 optimal ist«,
Am Anfang ist auch die induktive Kopplung zwischen der Windung 13 und dem Keim 14 kleinen Durchmessers
besser als bei einer Spule verhältnismässig grossen Durchmessers, die ein Rohr 1 ohne verjüngten
Teil umgibt.
Das Rohr 1 ist durchsichtig, so dass der ganze Vorgang gut beobachtet werden kann. Der Einkristall
kann aus der Dampfphase dotiert werden, ohne die Gefahr von Ionisationserscheinungen. Der Einkristall
wird vor Verunreinigung durch die Erhitzungsspule geschützt .
Selbstverständlich können die Teile der rohrförmigen Kammer auf beiden Seiten der Verjüngung andere
Formen aufweisen als in Fig. 1.
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Claims (1)
- PHNPatentansprüche:1. Verfahren zur Herstellung eines Halbleiter-Einkristalles durch tiegelfreies Zoneschmelzen eines vertikal angeordneten Stabs aus Halbleitermaterial in einer regelbaren Atmosphäre im Innern einer rohrförmigen, luftdicht verschlossenen Kammer, welcher Stab mindestens eine Translationsbewegung in bezug auf eine den Stab umgebeade Spule vollführen kann, die von einem Hochfrequenzstrom durchflossen wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Spule die Kammer in der Höhe eines verjüngten Teiles derselben umgibt, ddssen Innendurchmesser kleiner ist als der Durchmesser d*er festen Teile des Stabs und/oder des sich bildenden Einkristalles."2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Stab von dem unteren Ende ab geschmolzen und mit einem Keimkristall in Berührung gebracht wird, und der gebildete Einkristall den gleichen Durchmesser wie der Stab aufweist, während die geschmolzene Zone einen verjüngten Teil aufweist, dessen Durchmesser maximal gleich der Hälfte des Stabdurchmessers ist.3· Verfahren nach Anspruch 1 oder 2 dadurch gekennzeichnet, dass der Stab und der Einkristall Translationsbewegungen vollführen können, die voneinander unabhängig sind.
h. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3108815/2006ί>ΗΝ kh6zdadurch gekennzeichnet, dass der Stab und der Einkristall in Drehung versetzt werden, welche Drehungen voneinander unabhängig sind.5· Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche, welche Vorrichtung eine Kammer mit einer durchsichtigen, luftdicht verschlossenen, rohrförmigen Wand und Gaseinfuhr- und Gasabfuhrröhrchen und eine Induktionsspule mit einer Windung enthält, die durch strömendes Wasser abgekühlt wird, dadurch gekennzeichnet, dass diese Windung die rohrfÖrmige Wand in der Höhe des verjüngten Teiles umgibt.6. Vorrichtung nach Anspruch 5 dadurch gekennzeichnet, dass sie Rotations- und Translationsbewegungsorgane für den Stab und den Einkristall aufweist, die voneinander unabhängig wirksam sein können. 7· Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6 dadurch gekennzeichnet, dass der Innendurchmesser der Spule kleiner ist als der Aussendurchmesser der rohrförmigen Wand auf beiden Seiten der Verjüngung. 8. Halbleiter-Einkristall, der durch ein Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis h hergestellt ist.109815/2006
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR6924719A FR2052131A5 (de) | 1969-07-21 | 1969-07-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2037375A1 true DE2037375A1 (de) | 1971-04-08 |
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ID=9037740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702037375 Pending DE2037375A1 (de) | 1969-07-21 | 1970-07-21 | Verfahren zur Herstellung eines Halb leiterknstalles durch tiegelfreies Zone schmelzen und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens |
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---|---|
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FR (1) | FR2052131A5 (de) |
GB (1) | GB1322975A (de) |
NL (1) | NL7010584A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3007394A1 (de) * | 1980-02-27 | 1981-09-03 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und vorrichtung zum tiegelfreien zonenschmelzen eines siliciumstabes |
-
1969
- 1969-07-21 FR FR6924719A patent/FR2052131A5/fr not_active Expired
-
1970
- 1970-07-17 NL NL7010584A patent/NL7010584A/xx unknown
- 1970-07-20 BE BE753718D patent/BE753718A/nl unknown
- 1970-07-20 GB GB3497870A patent/GB1322975A/en not_active Expired
- 1970-07-21 US US56774A patent/US3690848A/en not_active Expired - Lifetime
- 1970-07-21 DE DE19702037375 patent/DE2037375A1/de active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3007394A1 (de) * | 1980-02-27 | 1981-09-03 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und vorrichtung zum tiegelfreien zonenschmelzen eines siliciumstabes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2052131A5 (de) | 1971-04-09 |
US3690848A (en) | 1972-09-12 |
NL7010584A (de) | 1971-01-25 |
GB1322975A (en) | 1973-07-11 |
BE753718A (nl) | 1971-01-20 |
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