DE2030707B2 - Kontaktierungseinrichtung fuer die loesbare elektrische kontaktierung mit den kontaktstellen einer schaltungsanordnung - Google Patents

Kontaktierungseinrichtung fuer die loesbare elektrische kontaktierung mit den kontaktstellen einer schaltungsanordnung

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DE2030707B2 DE19702030707 DE2030707A DE2030707B2 DE 2030707 B2 DE2030707 B2 DE 2030707B2 DE 19702030707 DE19702030707 DE 19702030707 DE 2030707 A DE2030707 A DE 2030707A DE 2030707 B2 DE2030707 B2 DE 2030707B2
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Siemens AG
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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