DE19962169A1 - Vorrichtung zum Behandeln von Substraten - Google Patents
Vorrichtung zum Behandeln von SubstratenInfo
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Abstract
Um eine einfache und kostengünstige Vorrichtung zum Öffnen und Schließen von getrennten Absaugöffnungen 13, 14, 15 bei einer Vorrichtung 1 zum Behandeln von Substraten, insbesondere Halbleiterwafern, mit einem mit Behandlungsfluid gefüllten Behandlungsbecken 3, das in einem im wesentlichen geschlossenen Raum angeordnet ist, der wenigstens zwei getrennte Absaugöffnungen 13, 14, 15 aufweist, vorzusehen, ist eine die Absaugöffnung gegenüber dem Raum abdeckende, drehbare Scheibe 17 mit einer Durchgangsöffnung 18, mit der eine der Absaugöffnungen 13, 14, 15 wenigstens teilweise überdeckbar ist, vorgesehen.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Behandeln
von Substraten, insbesondere Halbleiterwafern, mit einem mit Behandlungs
fluid gefüllten Behandlungsbecken, daß in einem im wesentlichen geschlos
senen Raum angeordnet ist, der wenigstens zwei voneinander getrennte Ab
saugöffnungen aufweist.
Bei Fertigungsprozessen, insbesondere in der Halbleiterindustrie, ist es not
wendig, Substrate mit unterschiedlichen Behandlungsfluiden zu behandeln.
Für eine derartige Behandlung wurden sogenannte Einzelbehandlungsbecken
bzw. Single Tank Tools (STT) entwickelt, in denen Halbleiterwafer innerhalb
des selben Behandlungsbeckens aufeinanderfolgend unterschiedlichen Be
handlungsfluiden ausgesetzt werden. Die aufeinanderfolgende Behandlung
von Substraten in einem einzelnen Behandlungsbecken besitzt den Vorteil,
daß die Substrate zwischen den Behandlungsschritten nicht bewegt werden
müssen.
Ein Beispiel hierfür ist eine Behandlung eines Halbleiterwafers mit einer Mi
schung aus Ammoniak, Wasserstoffperoxid und Wasser (SC1), gefolgt von
einem Behandlungsschritt in verdünnter Flußsäure (DHF) und einem ab
schließenden Spülschritt in deionisiertem Wasser (DIW). Während der jeweili
gen Behandlungsschritte entstehen zumindest bei dem SC1-Schritt und dem
DHF-Schritt Gase, die umweltschädlich sind und getrennt entsorgt werden
müssen. Aus diesem Grund sind in derartigen Vorrichtungen wenigstens zwei
voneinander getrennte Absaugöffnungen vorgesehen, die jeweils mit einer
ihnen zugeordneten Klappe geöffnet und geschlossen werden, um eine unter
schiedliche Absaugung von Gasen aus einem Gehäuse des STT zu ermögli
chen. Neben den oben genannten Klappen zum Öffnen und Schließen der Ab
saugöffnungen sind ferner einzelne Trimmklappen vorgesehen, um die über
die Öffnungen abzusaugende Gasmenge zu steuern.
Das Vorsehen der einzelnen Klappen, sowie deren Ansteuerung ist sehr auf
wendig und daher mit hohen Kosten verbunden. Die Antriebe für die jeweili
gen Klappen liegen in dem Gehäuse des STT und sind somit den zum Teil
aggressiven Gasen ausgesetzt und neigen zu einem vorzeitigen Ausfall. Fer
ner ist ein Zugriff auf die Klappen und deren Antrieb schwierig, da sie in dem
Gehäuse angeordnet sind, das einerseits gegenüber jeglichen Verunreinigun
gen rein zu halten ist und andererseits sehr enge Räume vorsieht, um Platz
zu sparen.
Ausgehend von der oben genannten Vorrichtung zum Behandeln von Sub
straten, liegt der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine verein
fachte und kostengünstige Vorrichtung zum Öffnen und Schließen von ge
trennten Absaugöffnungen vorzusehen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einer Vorrichtung der eingangs ge
nannten Art durch eine die Absaugöffnungen abdeckende, drehbare Scheibe
mit einer Durchgangsöffnung gelöst, mit der eine der Absaugöffnungen we
nigstens teilweise überdeckbar. Hierdurch wird eine einfache Umschaltung
zwischen den Absaugöffnungen mit nur einer Scheibe und einem Antrieb er
möglicht. Die Scheibe kann sehr platzsparend innerhalb des Raums ange
bracht werden und reduziert somit den benötigten Raum.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist wenigstens ein
Dichtelement zwischen der Scheibe und einem Wandteil des Raums vorgese
hen, das wenigstens eine Absaugöffnung umgibt, um eine gute Abdichtung
der Raumatmosphäre gegenüber den Absaugöffnungen vorzusehen. Dabei ist
das Dichtelement vorzugsweise ein PTFE-Ring, der neben der Abdichtung
eine gute Gleitbewegung der Scheibe bezüglich des Rings während einer
Drehbewegung der Scheibe gewährleistet.
Um den Antrieb zum Drehen der Scheibe gegenüber der zum Teil aggressiven
Atmosphäre in dem Raum abzuschirmen, ist er vorzugsweise auf einer der
vom Raum abgewandten Seite der Scheibe angeordnet. Darüber hinaus wird
hierdurch der Zugriff auf den Antrieb erleichtert, da er von außen zugänglich
ist. Dabei weist die Antriebsvorrichtung vorzugsweise wenigstens einen Sen
sor zum Erfassen der Drehposition der Scheibe auf, um eine genaue Einstel
lung der Drehposition zu ermöglichen. Der Sensor befindet sich ebenso wie
die Antriebsvorrichtung außerhalb der chemisch aggressiven Atmosphäre und
ist ebenfalls leicht von außen zugänglich.
Um eine Trimmung durch Verändern des Überdeckungsgrades zwischen
Durchgangs- und Absaugöffnung zu ermöglichen, ist vorzugsweise eine Steu
ervorrichtung zum Steuern der Drehposition der Scheibe vorgesehen. Dabei
ist der Überdeckungsgrad für eine genaue Trimmung vorzugsweise in Abhän
gigkeit vom Absaugdruck steuerbar.
Vorzugsweise legt die Durchgangsöffnung in Abhängigkeit vom verwendeten
Behandlungsfluid eine der Absaugöffnungen frei, so daß durch das verwen
dete Behandlungsfluid freigesetzte Gase getrennt von anderen, durch andere
Behandlungsfluide freigesetzte Gase entsorgt werden können.
Für eine gute Einstellung des Überdeckungsgrades zwischen Durchgangs-
und Absaugöffnung weist die Durchgangsöffnung vorzugsweise eine sich in
Drehrichtung verjüngende Form auf. Hierdurch kann der Grad der Überdeckung
insbesondere zu Beginn der Überdeckung sehr genau eingestellt wer
den.
Vorzugsweise weist die Vorrichtung drei ringförmig angeordnete Absaugöff
nungen auf. Gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform der Erfin
dung sind die Absaugöffnungen unterhalb des Behandlungsbeckens angeord
net.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines bevorzugten Ausführungsbei
spiels unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert; in der Zeichnung
zeigt:
Fig. 1 eine schematische Schnittansicht durch eine erfindungsgemäße Vor
richtung zum Behandeln von Substraten;
Fig. 2 eine schematische Draufsicht auf eine drehbare Scheibe zum Verbin
den eines Raums der Behandlungsvorrichtung mit unterschiedlichen
Absaugöffnungen; und
Fig. 3 eine perspektivische Ansicht der Scheibe und der Absaugöffnungen
gemäß einer alternativen Ausführungsform der Erfindung.
In den Fig. 1 bis 3 werden dieselben Bezugszeichen für dieselben bzw.
äquivalente Elemente verwendet.
Fig. 1 zeigt eine Vorrichtung 1 zur Naßbehandlung von Halbleiterwafern mit
einem geschlossenen Gehäuse 2 sowie einem darin angeordneten Behand
lungsbecken 3. Das Gehäuse 2 weist geeignete, nicht dargestellte Eingabe-/Aus
gabeschleusen für die Halbleiterwafer auf.
An einer oberen Wand des Gehäuses 2 ist ein Gasdiffusor 5 mit einer Vielzahl
von nach unten gerichteten Düsen vorgesehen, um eine nach unten gerichtete
Gasströmung in dem Gehäuse 2 zu erzeugen. Dabei ist die von dem Diffusor
5 ausgehende Strömung laminar. Am Boden des Gehäuses 2 ist eine Absaug
einrichtung 7 vorgesehen. Die Absaugeinrichtung 7 weist drei separate, mit
dem Gehäuse 2 verbundene Absaugleitungen 9, 10, 11 auf, die über jeweilige
Öffnungen 13, 14, 15 mit dem Innenraum des Gehäuses 2 in Verbindung ste
hen. Die Leitungen 9, 10, 11 sind jeweils mit einer Unterdruckquelle wie bei
spielsweise einer Unterdruckpumpe verbunden, um ein Absaugen der in dem
Gehäuse 2 befindlichen Gasatmosphäre zu ermöglichen. Jede der Leitungen
9, 10 und 11 ist mit einer unterschiedlichen Entsorgungseinheit für das abge
saugte Gas verbunden, wie nachfolgend noch näher erläutert wird.
Innerhalb des Gehäuses 2 ist eine die Öffnungen 13, 14, 15 abdeckende,
drehbare Scheibe 17 mit einer Durchgangsöffnung 18, die am besten in Fig. 2
zu erkennen ist, angeordnet. Die Öffnung 18 besitzt eine im wesentlichen run
de Hauptform, die sich in eine Drehrichtung der Scheibe 17 verjüngt. Bei dem
Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 3 weist die Öffnung 18 eine runde Form
ohne Verjüngung auf. Die drehbare Scheibe 17 ist über eine biegsame An
triebswelle 20, die am besten in Fig. 3 zu erkennen ist, mit einer nicht näher
dargestellten Antriebseinheit, wie z. B. einem Servomotor verbunden. Die
drehbare Antriebswelle 20 erstreckt sich durch den Boden des Gehäuses 2
und ist mittig mit einer nach unten weisenden Seite der Scheibe 17 verbun
den.
Zwischen der drehbaren Scheibe 17 und dem Boden des Gehäuses 2 sind die
Öffnungen 13, 14, 15 umgebende Dichtelemente wie z. B. PTFE-Ringe 23,
24, 25 vorgesehen, auf denen die Scheibe 17 aufliegt. Die PTFE-Ringe dich
ten die jeweiligen Leitungen 9, 10, 11 gegeneinander sowie gegenüber der
Gasatmosphäre in dem Gehäuse 2 ab. Ferner sehen sie eine Gleitoberfläche
für die drehbare Scheibe 17 vor. In gleicher Weise umgibt ein Dichtelement
wie z. B. ein PTFE-Ring die biegsame Welle 20 in dem Bereich zwischen dem
Boden des Gehäuses 2 und der drehbaren Scheibe 17, um sie gegenüber der
Gasatmosphäre in dem Gehäuse 2 zu schützen. Die Vorrichtung 1 weist eine
nicht näher dargestellte Reinigungsvorrichtung für die drehbare Scheibe, so
wie die damit in Verbindung stehenden Elemente, wie z. B. die Dichtelemente
auf.
Der Behandlungsbehälter 3 ist über einen Diffusor 27, der mit einer entspre
chenden Leitung 28 verbunden ist, mit unterschiedlichen Behandlungsfluiden
wie beispielsweise SC1, Flußsäure DHF und deionisiertem Wasser befüllbar.
Das Behandlungsbecken 3 weist ferner eine Ablaßleitung 29 zum Ablassen
des Behandlungsfluids auf.
Das Behandlungsbecken 3 ist von einem Überlauf 30 umgeben, der eine Ab
laßleitung 32 aufweist.
Zur Behandlung der Halbleiterwafer werden sie zunächst über die nicht dar
gestellte Eingabe-/Ausgabeschleuse in das Gehäuse 2 eingebracht. Anschlie
ßend werden sie über eine nicht dargestellte Handhabungsvorrichtung in dem
Behandlungsbehälter 3 eingesetzt und in ihm durch eine nicht dargestellte
Haltevorrichtung gehalten.
Anschließend wird über den Diffusor 27 Behandlungsfluid wie beispielsweise
SC1 in das Behandlungsbecken 3 eingeleitet und zum Überlaufen aus dem
Behandlungsbehälter 3 gebracht, so daß es in den Überlauf 30 strömt. Nach
einer bestimmten Prozeßzeit wird die SC1-Chemikalie über die Leitung 29
rasch aus dem Behandlungsbecken 3 abgelassen und anschließend Flußsäu
re (DHF) in das Behandlungsbecken 3 eingeleitet bis es aus dem Behand
lungsbecken 3 in den Überlauf 30 strömt. Diese Strömung wird für eine be
stimmte Prozeßzeit beibehalten und anschließend wird die Flußsäure eben
falls über die Leitung 29 abgelassen.
Abschließend wird das Behandlungsbecken 3 mit deionisiertem Wasser be
füllt, das ebenfalls in den Überlauf 30 strömt, um die in dem Becken 3 befind
lichen Wafer zu spülen. Die so gespülten Wafer werden dann über die nicht
dargestellte Handhabungsvorrichtung aus dem Becken 3 entnommen, in ge
eigneter Weise getrocknet und aus dem Gehäuse 2 heraustransportiert.
Während des ganzen, oben beschriebenen Vorgangs wird über den Diffusor 5
eine nach unten gerichtete Gasströmung, beispielsweise eine Luftströmung
erzeugt, wobei die Luft durch die Absaugvorrichtung 7 am Boden des Gehäu
ses 2 wieder abgesaugt wird. Dabei wird in Abhängigkeit von dem jeweils in
Behandlungsbecken 3 stattfindenden Behandlungsprozeß jeweils eine der
Leitungen 9, 10, 11 mit dem Innenraum des Gehäuses 2 verbunden.
Während des Einsetzens der Wafer sowie während des Spülschritts der Wafer
mit deionisiertem Wasser befindet sich die Öffnung 18 in der Drehscheibe 17
über der Öffnung 14 im Boden des Gehäuses 2. Somit erfolgt eine Absaugung
der im Gehäuse 2 befindlichen Luft über die Leitung 10. Da während des Ein
setzens und des Spülschritts keine gefährlichen Gase erzeugt werden, kann
die abgesaugte Luft im wesentlichen unbehandelt in die Umgebung ausgesto
ßen werden.
Für die SC1-Behandlung wird die Öffnung 18 in der Scheibe 17 über die Öff
nung 13 bewegt, um in dem Gehäuse 2 befindliche Luft über die Leitung 9
abzusaugen. Während der SC1-Behandlung werden säurehaltige Gase er
zeugt, die umweltschädlich sind, und nicht einfach in die Umwelt ausgestoßen
werden können. Diese Gase werden mit der Luftströmung über die Leitung 9
abgesaugt und in geeigneter Weise behandelt.
Während der Flußsäurebehandlung befindet sich die Öffnung 18 in der Schei
be 17 über der Öffnung 15 im Boden des Gehäuses 2, so daß eine Ab
saugung über die Leitung 11 erfolgt. Bei der Flußsäurebehandlung entstehen
wiederum umweltschädliche Gase, die sich jedoch von den bei der SC1-
Behandlung erzeugten Gasen unterscheiden und in unterschiedlicher Art und
Weise entsorgt werden müssen.
Der Überdeckungsgrad der Öffnung 18 mit den jeweiligen Öffnungen 13, 14,
15 im Boden des Gehäuses 2 wird in Abhängigkeit von dem in den jeweiligen
Leitungen 9, 10, 11 herrschenden Unterdruck sowie der gewünschten Ab
saugmenge gesteuert. Durch die sich in Drehrichtung verjüngende Form der
Öffnung 18 ist eine feine Steuerung der Überdeckungsgröße möglich. Für ei
ne gute Positionssteuerung ist im Bereich der biegsamen Welle 20 ein Positions
erfassungssensor vorgesehen, der die Position an eine Steuereinheit
weitergibt, die dementsprechend den Antriebsmotor steuert.
Obwohl die vorliegende Erfindung anhand eines bevorzugten Ausführungs
beispiels beschrieben wurde, ist sie nicht auf das spezielle Ausführungsbei
spiel beschränkt. Insbesondere ist es möglich, unterschiedliche Behandlungs
chemikalien sowie eine unterschiedliche Anzahl von Behandlungsschritten
vorzusehen. In diesem Zusammenhang ist es natürlich auch möglich, eine
unterschiedliche Anzahl von Absaugöffnungen und Absaugleitungen vorzuse
hen. Die Absaugvorrichtung muß auch nicht am Boden des Gehäuses 2 vor
gesehen sein, vielmehr ist es auch möglich, sie an den Seitenwänden oder
der oberen Wand des Gehäuses 2 vorzusehen. Die Formen der im wesentli
chen runden Absaugöffnungen können sich von den dargestellten unterschei
den. Beispielsweise könnten auch eckige Formen vorgesehen sein. Bei der
Verwendung eines Absolutwertgebers am Motor würde die Notwendigkeit für
einen Sensor zum Ermitteln der Drehposition des Motors bzw. der drehbaren
Scheibe entfallen.
Claims (11)
1. Vorrichtung (1) zum Behandeln von Substraten, insbesondere Halbleiter
wafern, mit einem mit Behandlungsfluid gefüllten Behandlungsbecken
(3), das in einem im wesentlichen geschlossenen Raum angeordnet ist,
der wenigstens zwei voneinander getrennte Absaugöffnungen (13, 14,
15) aufweist, gekennzeichnet durch eine die Absaugöffnungen (13, 14,
15) abdeckende, drehbare Scheibe (17) mit einer Durchgangsöffnung
(18), mit der eine der Absaugöffnungen wenigstens teilweise überdeck
bar ist.
2. Vorrichtung (1) nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch wenigstens ein
Dichtelement (23, 24, 25) zwischen der Scheibe (17) und einem Wandteil
des Raums, das wenigstens eine Absaugöffnung (13, 14, 15) umgibt.
3. Vorrichtung (1) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
das Dichtelement (23, 24, 25) ein PTFE-Ring ist.
4. Vorrichtung (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekenn
zeichnet durch eine auf der vom Raum abgewandten Seite der Scheibe
(17) angeordnete Antriebsvorrichtung.
5. Vorrichtung (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Antriebsvorrichtung wenigstens einen Sensor zum
Erfassen der Drehposition der Scheibe (17) aufweist.
6. Vorrichtung (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekenn
zeichnet durch eine Steuervorrichtung zum Steuern der Drehposition der
Scheibe (17) und/oder des Überdeckungsgrades zwischen Durchgangs-
und Absaugöffnung.
7. Vorrichtung (1) nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der
Überdeckungsgrad in Abhängigkeit vom Absaugdruck steuerbar ist.
8. Vorrichtung (1) nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß
die Durchgangsöffnung (18) in Abhängigkeit vom verwendeten Behand
lungsfluid eine der Absaugöffnungen (13, 14, 15) wenigstens teilweise
freilegt.
9. Vorrichtung (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Durchgangsöffnung (18) eine sich in Drehrichtung
verjüngende Form aufweist.
10. Vorrichtung (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekenn
zeichnet durch drei ringförmig angeordnete Absaugöffnungen (13, 14,
15).
11. Vorrichtung (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Absaugöffnungen unterhalb des Behandlungsbeckens
angeordnet ist.
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