DE19953602C2 - Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Baugruppen - Google Patents
Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen BaugruppenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Prüfen
von elektrischen Baugruppen gemäß dem Oberbegriff des Patent
anspruches 1.
Derartige Vorrichtungen sind aus der DE 34 05 567 A1
und der US 4 593 804 bekannt.
In einer Vielzahl von Anwendungsfällen werden bekanntlich
Prüfeinrichtungen eingesetzt, um die ordnungsgemäße Funktion
von elektrischen Baugruppen, gegebenenfalls auch unbestückten
Leiterplatten vor ihrer weiteren Verwendung zu prüfen. Je
nach dem Anwendungsfall kann es sich dabei um unterschiedlich
ausgestattete Prüfeinrichtungen handeln. Ist der Prüfling ein
Großserienprodukt, so werden in der Fertigung möglichst voll
automatische Prüfeinrichtungen eingesetzt, bei Kleinserien
sind die entsprechenden Prüfeinrichtungen aus Kostengründen
oft Halbautomaten. In Einzelfällen können die Prüfeinrichtun
gen jedoch auch lediglich als Hilfswerkzeuge für manuell
durchzuführende Prüfvorgänge ausgebildet sein. Auf die spezi
elle Ausgestaltung einer Prüfeinrichtung im Hinblick auf ein
durchzuführendes Prüfprogramm kommt es im vorliegenden Fall
jedoch nicht an, weshalb auf eine detaillierte Darlegung der
artiger Prüfeinrichtungen hier verzichtet werden kann.
Den unterschiedlichen Prüfeinrichtungen ist aber eines ge
meinsam, zur Durchführung der Prüfung muß ein sicherer elek
trischer Kontakt mit definierten Meßpunkten des Prüflings
hergestellt werden. Ausgenutzt wird dabei der Umstand, daß
alle Anschlußpunkte auf einer den Baugruppenträger bildenden
Leiterplatte in einem definierten Raster angeordnet sind, wo
bei sich allerdings bei unterschiedlichen Typen von Baugrup
pen die Rasterweite unterscheidet. Beim einzelnen Prüfling
liegt damit jeder Meßpunkt, abgesehen von noch als zulässig
erachteten Toleranzen, auf einem definierten Koordinatenpunkt
eines solchen Rasters. Dies ist die Voraussetzung für ein automatisches
Ankontaktieren eines Prüfelementes, beispielswei
se einer Prüfnadel, an den jeweiligen Meßpunkt. Die Schnitt
stelle zur eigentlichen Prüfeinrichtung bildet üblicherweise
ein Prüfadapter, der auf das Rastermaß des Prüflings abge
stimmt ist und in diesem Raster ausgerichtete Prüfelemente
aufweist, mit denen ein elektrischer Kontakt mit den Meßpunk
ten des jeweiligen Prüflings hergestellt wird, der auf diesen
Prüfadapter aufgesetzt ist.
Dazu ist es erforderlich, die zu prüfende Baugrup
pe möglichst exakt auf dem Prüfadapter so zu positionieren,
daß die beiden Raster des Prüfadapters bzw. des Prüflings -
innerhalb zulässiger Toleranzen - zueinander fluchtend ausge
richtet sind. Um diese gegenseitige Ausrichtung zu erreichen,
sind auf dem Prüfadapter, auf dessen Raster bezogen, Zen
trierstifte vorgesehen, denen Paßbohrungen im Baugruppenträ
ger, also der Leiterplatte entsprechen, die ihrerseits im Ra
ster der Baugruppe liegen. Mit dem Aufsetzen des Prüflings
auf die Zentrierstifte des Prüfadapters sind damit die zu
prüfende Baugruppe und der Prüfadapter zueinander rasterge
treu orientiert. In der Praxis zeigt sich aber, daß dieses
Ziel nur unvollkommen erreicht wird. Die Erfahrung lehrt, daß
die Paßbohrungen bei einzelnen Serien von Baugruppen außer
halb des zulässigen Toleranzbereiches liegen und diese Bau
gruppen damit nicht exakt auf das Raster des Prüfadapters
auszurichten sind. Eine dennoch durchgeführte Prüfung würde
zu fehlerhaften Prüfergebnissen auch dann führen, wenn der
entsprechende Prüfling als solcher funktional in Ordnung ist.
Da im Zuge der Miniaturisierung elektrischer und insbesondere
elektronischer Baugruppen die Rasterweiten immer stärker re
duziert wurden, wird dieses Problem von außerhalb des zuläs
sigen Toleranzbereiches liegenden Paßbohrungen immer kriti
scher.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, mit einer Vor
richtung der eingangs genannten Art
ermöglichen, auch solche elektrischen
Baugruppen sicher und zuverlässig zu prüfen, deren Paßbohrun
gen außerhalb eines vorgegebenen Toleranzbereiches liegen,
wobei dies aus Kostengründen mit möglichst einfachen Mitteln
erreicht werden soll.
Bei einer Vorrichtung der eingangs genannten Art wird diese
Aufgabe erfindungsgemäß durch die im Kennzeichen des Patent
anspruches 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Weitere Ausführungsformen der Erfindung sind
in den Unteransprüchen wiedergegeben.
Damit ist die Istposition des Mittelpunktes jedes Zentrier
stiftes des Prüfadapters in beiden Koordinatenrichtungen in
nerhalb eines gegebenen Grenzbereiches so weit variierbar,
daß die Abweichung der Istposition der Mittelpunkte der Paß
bohrungen von ihrer Sollposition eliminierbar ist.
Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung weisen
die als Träger für jeweils einen Zentrierstift vorgesehenen
Korrekturmodule jeweils ein Gehäuseelement mit einem bezüg
lich einer ersten Achse konzentrisch ausgerichteten zylindri
schen Außenmantel sowie ein Sackloch auf, dessen Querschnitt
als ein regelmäßiges Vieleck ausgebildet ist, wobei dessen
Mittelachse der ersten Achse in einem vorgegebenen Abstand
parallel liegt. Bei dieser Ausführungsform bestehen die Zen
trierstifte aus einem im Querschnitt diesem Sackloch entspre
chend ausgebildeten Steckansatz sowie aus einem an diesen
achsenparallel mit demselben vorgegebenen Abstand angesetzten
Zentrieransatz. Diese Lösung ist in der Handhabung besonders
einfach und dabei zuverlässig. Um unterschiedliche Relativpo
sitionen der zu prüfenden Baugruppe bezüglich des Prüfadap
ters in beiden Koordinatenrichtungen festzulegen, ist ledig
lich der Zentrierstift im Gehäuse des Korrekturmoduls tun un
terschiedliche Winkel gedreht anzuordnen.
In einer bevorzugten weiteren Ausführungsform der Erfindung
besitzen die Korrekturmodule ferner ein Zwischenstück, das
bei entsprechend geformtem Außenquerschnitt in das Sackloch
des Gehäuseelementes einsteckbar ausgebildet ist und das sei
nerseits ein zur Mittelachse seines Außenquerschnittes exzen
trisch versetzt angeordnetes Sackloch mit einem Querschnitt
aufweist, der dem Querschnitt des Steckansatzes der Zentrier
stifte entspricht. Bei dieser Ausführungsform sind somit so
wohl das Zwischenstück in bezug auf das Gehäuseelement als
auch der Zentrierstift in bezug auf dieses Zwischenstück je
weils um bestimmte Winkel zueinander verstellbar. Auf einfa
che Weise läßt sich damit eine Feinjustierung der Zentrier
stifte erreichen, die allen Anforderungen der Praxis genügt.
Von besonderem Vorteil ist in diesem Zusammenhang, daß mit
der Erfindung eine konstruktiv einfache Lösung für die ge
nannte Aufgabe geschaffen wird, die insbesondere auch bei be
reits vorhandenen Prüfeinrichtungen durch einfaches Umrüsten
der jeweiligen Prüfadapter kostengünstig einzusetzen ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden an
hand der Zeichnungen näher beschrieben. Dabei zeigt:
Fig. 1 und Fig. 2 in einer Aufsicht bzw. einer Seitenan
sicht schematisch den Aufbau einer Vorrichtung zum Prüfen von
elektrischen Baugruppen, die mittels einer Zentriereinrich
tung relativ zu dieser Vorrichtung zum Zweck der Prüfung po
sitioniert werden,
Fig. 3 in einer Querschnittsdarstellung einen als Zen
triereinrichtung verwendeten Korrekturmodul und
Fig. 4 in einer Explosionsdarstellung die einzelnen Elemente
des Korrekturmoduls gemäß Fig. 3.
In Fig. 1 und Fig. 2 ist in einer Aufsicht bzw. einer Sei
tenansicht der Aufbau einer Vorrichtung zum Prüfen von elek
trischen Baugruppen 1 lediglich schematisch dargestellt.
Einer Positionierung, bei der die zu prü
fende Baugruppe 1 bezüglich der Prüfvorrichtung so zu posi
tionieren ist, daß die Prüfung ordnungsgemäß durchgeführt
werden kann, liegt zugrunde, daß der
Träger der Baugruppe 1, eine Leiterplatte 2, in seiner Fläche
nach einem vorgegebenen Raster 3 unterteilt ist, das in Fig.
1 schematisch angedeutet ist. Dabei hängt die Rasterweite vom
jeweiligen Baugruppentyp sowie der bei der Herstellung ver
wendeten Technologie ab. In jedem Falle sind Lötanschlüsse
von schematisch dargestellten Bauelementen 4, sowie auch in
der Zeichnung nicht dargestellten Leiterbahnen der Leiter
platte 2 nach diesem Raster ausgerichtet. Damit liegen auch
Meßpunkte, in Fig. 1 schematisch angedeutet und mit 5 be
zeichnet, in definierten Koordinatenpunkten dieses Rasters 3.
Das Raster 3 der Baugruppe 1 bildet somit die Bezugsgröße für
das Positionieren der zu prüfenden Baugruppe 1 auf der in den
Fig. 1 und 2 schematisch dargestellten Prüfvorrichtung 6.
Diese besitzt als Schnittstelle zu dem Prüfling einen
Prüfadapter 7, der folgerichtig nach dem gleichen Rastermaß
in seiner Fläche unterteilt ist. Das Raster des Prüfadapters
7 ist in Fig. 1 schematisch angegeben und mit 3' bezeichnet.
Abhängig von der Ausgestaltung der zu prüfenden Baugruppe 1
sind Messungen an unterschiedlichen Rasterpunkten vorzuneh
men, in Fig. 1 sind solche Meßstellen 5' beispielhaft ange
geben, die mit den Meßpunkten 5 der Baugruppe 1 in ihrer Lage
übereinstimmen. In Fig. 2 sind schematisch Prüfnadeln 8 gezeigt,
die elektrische Kontaktelemente darstellen, die von
der Unterseite her an die zu prüfende Baugruppe 1 in den vor
gegebenen Meßpunkten 5 ankontaktieren.
Eine der Grundvoraussetzungen für einen ordnungsge
mäß durchzuführenden Prüfvorgang ist die möglichst exakte relati
ve Ausrichtung der zu prüfenden Baugruppe 1 zum Prüfadapter 7.
Um die Baugruppe 1 auf dem Prüfadapter 7 möglichst
einfach und dabei genau zu positionieren, sind in den
Prüfadapter 7 Zentriereinrichtungen eingelassen, denen auf
der Baugruppe 1 entsprechende Aufnahmen korrespondieren. Ent
sprechende, in den Prüfadapter 7 eingelassene Zentriervor
richtungen, die hinfort als Korrekturmodule 9 bezeichnet wer
den, sind in den Fig. 1 und 2 vereinfacht dargestellt. Als
Gegenstück zu diesen, den jeweiligen Prüfling auf dem
Prüfadapter 7 zentrierenden Korrekturmodulen 9 besitzt die
Baugruppe 1 Paßbohrungen 10. Wie insbesondere Fig. 1 zeigt,
sind die Korrekturmodule 9 und die Paßbohrungen 10 in einan
der diametral gegenüberstehenden Außenecken des Prüfadapters
7 bzw. der Baugruppe 1 angeordnet und zumindestens in ihrer
Sollposition auf die jeweiligen Raster 3' bzw. 3 ausgerich
tet. Da bei dem als Werkzeug zu betrachtenden Prüfadapter 7
im Hinblick auf seine Toleranzgenauigkeit ein wesentlich grö
ßerer Aufwand betrieben wird, ist hier vorauszusetzen, daß in
der Praxis auch der in den Prüfadapter 7 eingelassene Teil
der Zentriereinrichtung, d. h. hier also die Korrekturmodule 9
rastergetreu angeordnet sind. Aber bei in Serie gefertigten
Baugruppen 1 bzw. deren Leiterplatten 2 ist dies hinsichtlich
der Toleranzgenauigkeit der Paßbohrungen 10 durchaus nicht
immer der Fall. Mit Paßbohrungen 10, die außerhalb eines noch
zulässigen Toleranzbereiches in die Leiterplatte 2 eingelas
sen sind, ist aber eine noch ausreichend exakte Positionie
rung der Baugruppe 1 auf dem Prüfadapter 7 nicht ohne weite
res möglich. Allein wegen dieses Bohrfehlers sind aber sonst
an sich einwandfreie Baugruppen 1 bzw. Leiterplatten 2 nicht
von vornherein als Ausschuß einzustufen. Um auch solche an
sichnicht rastergetreu positionierbaren Baugruppen 1 bzw.
Leiterplatten 2 ordnungsgemäß prüfen zu können, bieten die
als Zentriereinrichtungen auf dem Prüfadapter 7 vorgesehenen
Korrekturmodule 9 eine Lösung.
Wie Fig. 3 in einem Querschnitt und Fig. 4 in einer Explo
sionszeichnung zeigen, sind die in den Prüfadapter 7 einge
lassenen Korrekturmodule 9 aus mehreren, ineinandergesetzten
Elementen aufgebaut. Ein Gehäuseelement 11 bildet das tragen
de Element jedes Korrekturmoduls 9. Dieses besitzt einen in
bezug auf eine Mittelachse 14 konzentrisch ausgebildeten zy
lindrischen Außenmantel 12. Dieser ist im montierten Zustand
in den Prüfadapter 7 punktgenau in bezug auf das Raster 3'
des Prüfadapters eingelassen. In Fig. 3 von oben her gese
hen, weist das Gehäuseelement 11 ein Sackloch 13 auf. Gegen
über der auf den Außenmantel 12 des Gehäuseelementes 11 bezo
genen Mittelachse 14 des Gehäuseelementes ist die Achse die
ses Sackloches 13 um einen vorgegebenen Abstand d parallel
versetzt; mit anderen Worten, das Sackloch 13 liegt um diesen
Abstand d exzentrisch zur Mittelachse 14 des Gehäuseelementes
11. In der dargestellten Ausführungsform ist dieses Sackloch
zudem im Querschnitt als ein Innensechskant-Loch ausgebildet,
im allgemeinen Fall könnte neben einer Kreisform auch eine
andere Vieleckform gewählt werden.
Ein Zwischenstück 15, dessen Umfang der Sechskant-Form des
Sackloches 13 des Gehäuseelementes 11 entsprechend gewählt
ist, ist in dieses Gehäuseelement eingesetzt. Auch dieses
Sackloch besitzt wiederum eine im Querschnitt ebenfalls als
Sechskant ausgebildete Ausnehmung, deren Mittelachse, vergli
chen mit der Mittelachse seines Außensechskants, ebenfalls
parallel versetzt ist. Als ein weiteres Element weist jeder
Korrekturmodul 9 einen Zentrierstift 16 auf. Dieser besitzt
einen in das Zwischenstück 15 einsteckbaren Steckansatz 17,
der folglich im Querschnitt wiederum sechskantförmig ist.
Ebenfalls exzentrisch zur Achse dieses Steckansatzes 17 ver
setzt, sitzt auf dem Steckansatz 17 ein zylindrisch ausgebil
deter Zentrieransatz 18. Um diese ineinandersteckbaren Ele
mente 11, 15, 16 des Korrekturmoduls 9 in einer definierten
Position zueinander zu sichern, ist ferner eine Feststell
schraube 19 vorgesehen, die in den Ansichten von Fig. 3 bzw.
4 von unten durch das Gehäuseelement 11 und das Zwischenstück
15 in eine Gewindebohrung des Zentrierstiftes 16 einge
schraubt ist.
Die aufgrund der Exzentri
zität der einzelnen Elemente des Korrekturmoduls 9 vorgegebe
nen Steckvarianten im beschriebenen Ausführungsbeispiel führen dazu,
daß der Mittelpunkt des Zentrieransatzes 18 in
Schritten von 10° um die Mittelachse 14 des Korrekturmoduls 9
mit unterschiedlichem Abstand zu dieser Mittelachse umläuft.
Würde man auf das Zwischenstück 15 verzichten, bliebe der so
konstruktiv vereinfachte Korrekturmodul grundsätzlich zwar
funktionsfähig, dies aber zu Lasten der Möglichkeiten für eine
Feinjustierung. Wenn nun bei einer bestimmten Charge von zu
prüfenden Baugruppen 1 eine über den vorgegebenen Toleranzbe
reich hinausgehende Ablage der Paßbohrungen 10 von ihrer vor
gegebenen Solllage festgestellt wird, so können dann die in
den Prüfadapter 7 eingelassenen Korrekturmodule 9 derart ein
gestellt werden, daß dieser Bohrungsfehler ausgeglichen wird
und für den Prüfvorgang beide Raster 3 und 3' der Baugruppe 1
bzw. des Prüfadapters 7 lagegetreu zueinander fluchtend aus
gerichtet sind.
Claims (6)
1. Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Baugruppen (1)
mit einem Prüfadapter (7), auf die die zu prüfende Baugruppe
aufgesetzt wird und auf dem Zentrierelemente zum
rastergenauen Aufsetzen der Baugruppe angeordnet sind, die
dazu mit diesen Zentrierelementen entsprechenden Paßbohrungen
(10) ausgestattet ist, gekennzeichnet durch Korrek
turmodule (9), die jeweils als Träger für ein als Zentrier
stift (16)ausgebildetes Zentrierelement in den Prüfadapter
eingelassen sind und in denen der jeweilige Zentrierstift ex
zentrisch verstellbar gelagert ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Korrekturmodule (9) jeweils ein Gehäu
seelement (11) mit einem bezüglich einer ersten Achse (14)
konzentrisch ausgerichteten zylindrischen Aussenmantel (12)
sowie ein Sackloch (13) aufweisen, dessen Querschnitt als re
gelmäßiges Vieleck ausgebildet ist und das eine Mittelachse
aufweist, die der ersten Achse in einem vorgegebenen Abstand
(d) parallel liegt und daß die Zentrierstifte(16) aus einem
im Querschnitt diesem Sackloch entsprechend ausgebildeten
Steckansatz (17) sowie einem daran achsenparallel mit dem
selben vorgegebenen Abstand (d) angesetzten Zentrieransatz
(18) bestehen.
3. Vorichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Korrekturmodule (9) ferner ein Zwischenstück
(15) besitzen, das bei entsprechend geformtem Aussenquer
schnitt in das Sacklock (13) des Gehäuseelementes (11) ein
steckbar ausgebildet ist und das seinerseits ein zur Mitte
lachse seines Aussenquerschnittes exzentrisch versetzt ange
ordnetes Sackloch mit einem Querschnitt aufweist, der dem
Querschnitt des Steckansatzes (17) der Zentrierstifte (16)
entspricht.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die regelmäßige Vielecke bildenden
Querschnitte der Elemente (11, 15, 16) der Korrekturmodule
(9) als Sechskant - Querschnitte ausgebildet sind.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Korrekturmodule (9)
ferner eine Verbindungsschraube (19) aufweisen, die von außen
durch das Gehäuseelement (11) hindurchgesteckt in einem Ge
windesackloch des zugeordneten Zentrierstiftes (16) aufgenom
men ist, wobei die Achse des Gewindesackloches mit der des
Zentrieransatzes (18) übereinstimmt.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß in den Prüfadapter (7)
ein Paar von Korrekturmodulen (9) einander diametral gegen
überliegend im Bereich seiner Aussenecken eingelassen ist,
wobei in den zu prüfenden elektrischen Baugruppen (1), der
Sollposition der Zentrierstifte (16) zugeordnet, in entspre
chenden einander gegenüberliegenden Aussenecken die zugeord
neten Passbohrungen (10) zum Aufsetzen auf den Prüfadapter
vorgesehen sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999153602 DE19953602C2 (de) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Baugruppen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999153602 DE19953602C2 (de) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Baugruppen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19953602A1 DE19953602A1 (de) | 2001-06-21 |
DE19953602C2 true DE19953602C2 (de) | 2002-10-31 |
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ID=7928241
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1999153602 Expired - Fee Related DE19953602C2 (de) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Baugruppen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19953602C2 (de) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3405567A1 (de) * | 1984-02-14 | 1985-08-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Einrichtung zur lagegenauen positionierung von flachbaugruppen auf pruefadaptern (pendelnde fuehrungsnadeln) |
US4593804A (en) * | 1984-01-24 | 1986-06-10 | Zehntel, Inc. | Apparatus for guiding a circuit board onto a testing location on a test fixture |
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-
1999
- 1999-11-08 DE DE1999153602 patent/DE19953602C2/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19953602A1 (de) | 2001-06-21 |
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