DE19946664A1 - Elektrooptische Sonde - Google Patents
Elektrooptische SondeInfo
- Publication number
- DE19946664A1 DE19946664A1 DE19946664A DE19946664A DE19946664A1 DE 19946664 A1 DE19946664 A1 DE 19946664A1 DE 19946664 A DE19946664 A DE 19946664A DE 19946664 A DE19946664 A DE 19946664A DE 19946664 A1 DE19946664 A1 DE 19946664A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electro
- optical
- metal pin
- optical probe
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/241—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/347—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies using electro-optic elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/07—Non contact-making probes
- G01R1/071—Non contact-making probes containing electro-optic elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft eine Sonde für ein elektrooptisches Abtastoszilloskop, in der ein durch ein gemessenes Feld erzeugtes elektrisches Feld mit einem elektrooptischen Kristall gekoppelt wird, ein Strahl auf diesen elektrooptischen Kristall einfällt und durch den Polarisationszustand des einfallenden Strahls die Form des gemessenen Signals gemessen wird. Hier wird das elektrooptische Element (26) von der Endanschlußseite des Sondenkörpers durch ein Sondenkopfelement (24), das als Endanschluß des Sondenkörpers dient, gehalten, ein Einsatzloch (30) ist von außen bis zur Reflexionsschicht (28) in dem Sondenkopfelement (24) ausgebildet, ein Ende (31a) des Metallstifts (31) steht mit einer Reflexionsschicht (28) in Kontakt, das andere Ende (31c) desselben ist so eingesetzt, daß es aus dem Sondenkopfelement (24) herausragt, und gleichzeitig ist der äußere radiale Durchmesser des Einsatzlochs (30) so ausgebildet, daß er im Vergleich zur radialen Abmessung der Reflexionsschicht (28) groß ist.
Description
Die Erfindung betrifft eine Sonde für ein elektrooptisches
Abtastoszilloskop, die ein durch ein gemessenes Signal
erzeugtes elektrisches Feld und einen elektrooptischen
Kristall koppelt, einen Strahl in diesen elektrooptischen
Kristall einleitet und die Wellenform des gemessenen
Lichtsignals durch den Zustand der Polarisation des
eingehenden Lichts mißt.
Diese Anmeldung beruht auf der in Japan eingereichten
Japanischen Patentanmeldung Nr. Hei 10-294567, deren Inhalt
hierin durch Bezugnahme aufgenommen wird.
Es ist möglich, ein durch ein gemessenes Signal erzeugtes
elektrisches Feld mit einem elektrooptischen Kristall zu
koppeln, einen Laserstrahl in diesen elektrooptischen
Kristall einzuleiten und die Wellenform des gemessenen
Signals durch den Zustand der Polarisation des Laserstrahls
zu beobachten. Es ist möglich, den Laserstrahl pulsieren zu
lassen und mit einer extrem hohen Zeitauflösung zu
beobachten, wenn das gemessene Signal abgetastet wird. Das
elektrooptische Abtastoszilloskop verwendet eine
elektrooptische Sonde, die dieses Phänomen ausnutzt.
Wenn dieses elektrooptische Abtastoszilloskop (nachstehend
als "EOS"-Oszilloskop" bezeichnet) mit einem herkömmlichen
Abtastoszilloskop, das eine elektrische Sonde verwendet,
verglichen wird, haben die folgenden Eigenschaften viel
Aufmerksamkeit erlangt:
- 1. Es ist leicht, das Signal zu beobachten, da ein Masseleiter nicht erforderlich ist.
- 2. Da der Metallstift am ende der elektrooptischen Sonde nicht mit dem Schaltungssystem verbunden ist, ist es möglich, eine hohe Eingangsimpedanz zu realisieren, und infolgedessen gibt es fast keine Verschlechterung des Zustands des gemessenen Punkts.
- 3. Durch Verwendung eines optischen Impulses ist eine Breitbandmessung bis zur GHz-Größenordnung möglich.
Die Struktur einer Sonde für ein EOS-Oszilloskop bei der
herkömmlichen Technologie wird unter Verwendung von Fig. 7
erläutert. In der in Fig. 7 dargestellten elektrooptischen
Sonde 1 ist ein Sondenkopf 3, der einen Isolator umfaßt, am
Endanschluß des metallischen Sondenkörpers 2 montiert und
ein Metallstift 3a ist in das Zentrum eingesetzt. Die
Bezugsziffer 4 verweist auf ein elektrooptisches Element,
eine Reflexionsschicht 4a ist an der Stirnfläche auf der
Seite des Metallstifts 3a vorgesehen und steht mit dem
Metallstift 3a in Kontakt. Die Bezugsziffer 5 verweist auf
ein Halbwellenlängenplättchen und die Bezugsziffer 6 auf
ein Viertelwellenlängenplättchen. Die Bezugsziffern 7 und 8
kennzeichnen Polarisationsstrahlenteiler. Die Bezugsziffer
9 verweist auf ein Halbwellenlängenplättchen und die
Bezugsziffer 10 auf ein Faraday-Element. Die Bezugsziffer
12 verweist auf eine Kollimatorlinse und die Bezugsziffer
13 auf eine Laserdiode. Die Bezugsziffern 14 und 15
kennzeichnen Kondensorlinsen und die Bezugsziffern 16 und
17 Photodioden.
Außerdem umfassen die zwei Polarisationsstrahlenteiler 7
und 8, das Halbwellenlängenplättchen 9 und das Faraday-
Element 10 einen Isolator 19, der das von der Laserdiode 13
emittierte Licht durchläßt, um das von der
Reflexionsschicht 4a reflektierte Licht aufzuspalten.
Als nächstes wird mit Bezug auf Fig. 7 der Strahlengang des
von der Laserdiode 13 emittierten Laserstrahls erläutert.
In Fig. 7 bezeichnet der Bezugsbuchstabe "A" den
Strahlengang des Laserstrahls.
Zuerst wird der von der Laserdiode 13 emittierte
Laserstrahl durch die Kollimatorlinse 12 in einen
parallelen Strahl umgewandelt, der gerade durch den
Polarisationsstrahlenteiler 8, das Faraday-Element 10, das
Halbwellenlängenplättchen 9 und den Polarisationslicht-
Strahlenteiler 7 läuft und dann durch das
Viertelwellenlängenplättchen 6 und das
Halbwellenlängenplättchen 5 geht und auf das
elektrooptische Element 4 einfällt. Das einfallende Licht
wird durch die Reflexionsschicht 4a reflektiert, die auf
der Stirnfläche des elektrooptischen Elements 4 auf der
Seite, die dem Metallstift 3a zugewandt ist, ausgebildet
ist.
Der reflektierte Laserstrahl geht durch das
Halbwellenlängenplättchen 5 und das
Viertelwellenlängenplättchen 6, ein Teil des Laserstrahls
wird durch den Polarisationslicht-Strahlenteiler 7
reflektiert, durch die Kondensorlinse 14 konzentriert, und
fällt auf die Photodiode 16 ein. Der Laserstrahl, der durch
den Polarisationslicht-Strahlenteiler 7 gegangen ist, wird
durch den Polarisationsstrahlenteiler 8 reflektiert, durch
die Kondensorlinse 15 konzentriert und fällt auf die
Photodiode 17 ein.
Darüber hinaus wird der Drehwinkel des
Halbwellenlängenplättchens 5 und des
Viertelwellenlängenplättchens 6 so eingestellt, daß die
Stärke des auf die Photodiode 16 und die Photodiode 17
einfallenden Laserstrahls gleichmäßig ist.
Als nächstes wird unter Verwendung der in Fig. 7
dargestellten elektrooptischen Sonde 1 das Verfahren zum
Messen des gemessenen Signals erläutert. Wenn der
Metallstift 3a in Kontakt mit dem Meßpunkt gebracht wird,
breitet sich aufgrund der an den Metallstift 3a angelegten
Spannung am elektrooptischen Element 4 dieses elektrische
Feld zum elektrooptischen Element 4 aus und es tritt das
Phänomen der Änderung des Brechungsindex aufgrund des
Pockels-Effekts auf. Dadurch fällt der von der Laserdiode
13 emittierte Laserstrahl auf das elektrooptische Element 4
ein, und wenn sich der Laserstrahl entlang des
elektrooptischen Elements 4 ausbreitet, ändert sich der
Polarisationszustand des Strahls. Außerdem wird der
Laserstrahl mit diesem geänderten Polarisationszustand
durch die Reflexionsschicht 4a reflektiert, konzentriert
und fällt auf die Photodiode 16 und die Photodiode 17 ein
und wird in ein elektrisches Signal umgewandelt.
Zusammen mit der Änderung der Spannung am Meßpunkt wird die
Änderung des Polarisationszustandes durch das
elektrooptische Element 4 zur Ausgangsdifferenz zwischen
der Photodiode 16 und der Photodiode 17, und durch Erfassen
dieser Ausgangsdifferenz ist es möglich, das an den
Metallstift 3a angelegte elektrische Signal zu beobachten.
Überdies werden bei der vorstehend beschriebenen
elektrooptischen Sonde 1 die von den Photodioden 16 und 17
erhaltenen elektrischen Signale in ein elektrooptisches
Abtastoszilloskop eingegeben und verarbeitet, aber statt
dessen ist es möglich, eine herkömmliche Meßvorrichtung,
wie z. B. ein Echtzeit-Oszilloskop, über eine zweckgebundene
Steuereinheit an die Photodioden 16 und 17 anzuschließen.
Dadurch ist es möglich, unter Verwendung der
elektrooptischen Sonde 1 eine Dreitbandmessung einfach
durchzuführen.
Da in der vorstehend beschriebenen Art und Weise bei der
Signalmessung unter Verwendung der elektrooptischen Sonde 1
ein Metallstift 3a den Meßpunkt berühren muß, wird in
diesem Fall ein Stoß auf den Metallstift 3a aufgebracht und
folglich besteht die Sorge, daß am elektrooptischen Element
4 ein Schaden auftreten kann.
Außerdem weist die vorstehend beschriebene elektrooptische
Sonde 1 eine Struktur auf, bei der ein Laserstrahl auf die
Reflexionsschicht 4a einfällt, mit der der Metallstift 3a
in Kontakt steht, und dann reflektiert wird, und sich
somit, wenn die Position des Metallstifts 3a bewegt wird,
die Position der Reflexionsschicht 4a usw. verschiebt, und
es besteht das Problem, daß ihre Funktion als optisches
System verlorengeht.
In Anbetracht der vorstehend beschriebenen Probleme ist es
Aufgabe der Erfindung, dieses Problem durch Verbessern der
Stoßfestigkeit der elektrooptischen Sonde durch Verankern
der Position des Metallstifts bezüglich des Sondenkopfs zu
lösen.
Um das obige Problem zu lösen, werden die folgenden Mittel
verwendet.
Ein erster Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde, wobei:
ein Strahlengang zwischen einem Basisanschluß und einem Endanschluß des Sondenkörpers innerhalb des Sondenkörpers ausgebildet ist;
am Ende des Strahlengangs auf der Basisanschlußseite des Sondenkörpers eine Laserdiode angeordnet ist;
am anderen Ende des Strahlengangs auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers ein elektrooptisches Element angeordnet ist;
auf der Stirnfläche des elektrooptischen Elements auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers eine Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der von der Laserdiode emittierte Laserstrahl über den Strahlengang auf das elektrooptische Element einfällt, dieser einfallende Strahl durch die Reflexionsschicht reflektiert wird und ferner dieses reflektierte Licht zerlegt und in ein elektrisches Signal umgewandelt wird; und wobei
das elektrooptische Element zumindest von der Endanschlußseite des Sondenkörpers durch ein Sondenkopfelement, das als Endanschluß des Sondenkörpers dient, gehalten wird;
auf dem Sondenkopfelement ein Einsatzloch von außen zur Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der Metallstift in das Einsatzloch so eingesetzt ist, daß ein Ende die Reflexionsschicht berührt und das andere Ende aus dem Sondenkopf herausragt; und
das Einsatzloch so ausgebildet ist, daß die radiale Abmessung seiner Außenseite im Vergleich zur radialen Abmessung seiner Reflexionsschichtseite groß ist.
ein Strahlengang zwischen einem Basisanschluß und einem Endanschluß des Sondenkörpers innerhalb des Sondenkörpers ausgebildet ist;
am Ende des Strahlengangs auf der Basisanschlußseite des Sondenkörpers eine Laserdiode angeordnet ist;
am anderen Ende des Strahlengangs auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers ein elektrooptisches Element angeordnet ist;
auf der Stirnfläche des elektrooptischen Elements auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers eine Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der von der Laserdiode emittierte Laserstrahl über den Strahlengang auf das elektrooptische Element einfällt, dieser einfallende Strahl durch die Reflexionsschicht reflektiert wird und ferner dieses reflektierte Licht zerlegt und in ein elektrisches Signal umgewandelt wird; und wobei
das elektrooptische Element zumindest von der Endanschlußseite des Sondenkörpers durch ein Sondenkopfelement, das als Endanschluß des Sondenkörpers dient, gehalten wird;
auf dem Sondenkopfelement ein Einsatzloch von außen zur Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der Metallstift in das Einsatzloch so eingesetzt ist, daß ein Ende die Reflexionsschicht berührt und das andere Ende aus dem Sondenkopf herausragt; und
das Einsatzloch so ausgebildet ist, daß die radiale Abmessung seiner Außenseite im Vergleich zur radialen Abmessung seiner Reflexionsschichtseite groß ist.
Aufgrund dieser Art Konstruktion ist bei dieser
elektrooptischen Sonde das eine Ende des Metallstifts so
ausgebildet, daß es der Form des Einsatzlochs entspricht,
und dadurch ist es möglich zu verhindern, daß am
elektrooptischen Element ein Schaden auftritt, wenn der
Metallstift in das Sondenkopfelement weiter als
erforderlich eingesetzt wird.
Ein zweiter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem ersten Aspekt, wobei die Photodiode und die
Laserdiode mit einem elektrooptischen Abtastoszilloskop
verbunden sind; und
die Laserdiode einen Laserstrahl als Impulsstrahl auf der Basis des Steuersignals von dem elektrooptischen Oszilloskop erzeugt.
die Laserdiode einen Laserstrahl als Impulsstrahl auf der Basis des Steuersignals von dem elektrooptischen Oszilloskop erzeugt.
Ein dritter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem zweiten Aspekt, wobei das Einsatzloch mit
einer konischen Form ausgebildet ist, die sich von außen in
Richtung der Reflexionsschichtseite allmählich
verschmälert.
Ein vierter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem dritten Aspekt, wobei das eine Ende des
Metallstifts als radial veränderlicher Teil ausgebildet
ist, so daß die radiale Abmessung von der Seite des anderen
Endes zur Seite des einen Endes kleiner wird.
Ein fünfter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem dritten Aspekt, dadurch gekennzeichnet, daß
sie einen Spalt aufweist, der durch den Metallstift in
Richtung des Durchmessers verläuft und am einen Ende des
Metallstifts vorgesehen ist.
Aufgrund der Strukturierung in dieser Art und Weise kann
das eine Ende des Metallstifts so verformt werden, daß es
der Form des im Sondenkopf vorgesehenen Einsatzlochs
entspricht.
Ein sechster Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem zweiten Aspekt, dadurch gekennzeichnet, daß
das Einsatzloch mit Stufen auf der Innenfläche versehen
ausgebildet ist, deren radiale Abmessung von der Außenseite
in Richtung der Reflexionsschichtseite kleiner wird.
Ein siebter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem sechsten Aspekt, wobei das Ende des
Metallstifts als radial veränderlicher Teil ausgebildet
ist, so daß die radiale Abmessung von dem einen Ende in
Richtung des anderen Endes kleiner wird.
Ein achter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem sechsten Aspekt, dadurch gekennzeichnet, daß
sie einen Spalt aufweist, der durch den Metallstift in
Richtung des Durchmessers verläuft und am einen Ende des
Metallstifts vorgesehen ist.
Aufgrund der Strukturierung in dieser Art und Weise kann
bei der elektrooptischen Sonde nach dem achten Aspekt das
eine Ende des Metallstifts so verformt werden, daß es der
Form des im Sondenkopf vorgesehenen Einsatzlochs
entspricht.
Ein neunter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem ersten Aspekt, gekennzeichnet durch eine
Laserdiode, die einen kontinuierlichen Laserstrahl erzeugt.
Auf diese Weise wird von der Laserdiode ein
kontinuierlicher Strahl erzeugt und dadurch ist es möglich,
ein kontinuierliches Ausgangssignal aus der Photodiode zu
erhalten, und folglich ist es möglich durch Verbinden
einer Photodiode mit einer herkömmlichen Allzweck-
Meßvorrichtung, wie z. B. einem Echtzeit-Oszilloskop,
Messungen durchzuführen.
Ein zehnter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem neunten Aspekt, wobei das Einsatzloch mit
einer konischen Form ausgebildet ist, die sich von außen in
Richtung der Reflexionsschichtseite allmählich
verschmälert.
Ein elfter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem zehnten Aspekt, wobei das eine Ende des
Metallstifts als radial veränderlicher Teil ausgebildet
ist, so daß die radiale Abmessung von dem einen Ende in
Richtung des anderen Endes kleiner wird.
Ein zwölfter Aspekt der Erfindung ist eine elektrooptische
Sonde nach dem zehnten Aspekt, dadurch gekennzeichnet, daß
sie einen Spalt aufweist, der durch den Metallstift in
Richtung des Durchmessers verläuft und am einen Ende des
Metallstifts vorgesehen ist.
Aufgrund der Strukturierung in dieser Art und Weise kann
bei der elektrooptischen Sonde nach dem zwölften Aspekt das
eine Ende des Metallstifts so verformt werden, daß es der
Form des im Sondenkopf vorgesehenen Einsatzlochs
entspricht.
Ein dreizehnter Aspekt der Erfindung ist eine
elektrooptische Sonde nach dem neunten Aspekt, dadurch
gekennzeichnet, daß das Einsatzloch mit Stufen auf der
Innenfläche versehen ausgebildet ist, deren radiale
Abmessung von der Außenseite in Richtung der
Reflexionsschichtseite kleiner wird.
Ein vierzehnter Aspekt der Erfindung ist eine
elektrooptische Sonde nach dem dreizehnten Aspekt, wobei
das Ende des Metallstifts als radial veränderlicher Teil
ausgebildet ist, so daß die radiale Abmessung von dem einen
Ende in Richtung des anderen Endes kleiner wird.
Ein fünfzehnter Aspekt der Erfindung ist eine
elektrooptische Sonde nach dem dreizehnten Aspekt, dadurch
gekennzeichnet, daß sie einen Spalt aufweist, der durch den
Metallstift in Richtung des Durchmessers verläuft und am
einen Ende des Metallstifts vorgesehen ist.
Aufgrund der Strukturierung in dieser Art und Weise kann
bei der elektrooptischen Sonde nach dem fünfzehnten Aspekt
das eine Ende des Metallstifts so verformt werden, daß es
der Form des im Sondenkopf vorgesehenen Einsatzlochs
entspricht.
Ein sechzehnter Aspekt der Erfindung ist eine
elektrooptische Sonde nach dem ersten Aspekt, dadurch
gekennzeichnet, daß die Abmessung des einen Endes des
Einsatzlochs größer ist als die Lichtfleckgröße des auf das
elektrooptische Element einfallenden Strahls.
Aufgrund der Strukturierung in dieser Art und Weise wird in
der elektrooptischen Sonde nach dem sechzehnten Aspekt die
Kontaktfläche zwischen dem Metallstift und der
Reflexionsschicht gewährleistet, und in dem
elektrooptischen Element kann die Schwankung des
elektrischen Feldes, die als Schwankung des
Polarisationszustandes erscheint, vorteilhaft erfaßt
werden.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnung näher
erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine vergrößerte Querschnittsansicht der
wesentlichen Komponenten der elektrooptischen Sonde, welche
die Ausführungsform der Erfindung schematisch darstellt.
Fig. 2 eine Querschnittsansicht der in Fig. 1 gezeigten
elektrooptischen Sonde.
Fig. 3 eine Draufsicht auf dieselbe.
Fig. 4A eine Seitenansicht, die ein weiteres Beispiel des
Metallstifts zeigt, der in der in Fig. 1 bis Fig. 3
gezeigten elektrooptischen Sonde verwendet wird, und Fig. 4B
eine perspektivische Ansicht entlang des Pfeils I-I.
Fig. 5 eine Seitenansicht, die ein weiteres Beispiel des
Metallstifts zeigt.
Fig. 6 eine Querschnittsansicht, die ein weiteres Beispiel
des Sondenkopfs zeigt.
Fig. 7 ein vereinfachtes Diagramm der elektrooptischen
Sonde, das die herkömmliche Technologie der Erfindung
schematisch darstellt.
Fig. 2 und Fig. 3 sind jeweils eine Querschnittsansicht und
eine Draufsicht der elektrooptischen Sonde 21, die eine
Ausführungsform der Erfindung darstellen. Diese
elektrooptische Sonde 21 zeigt die schematische Struktur
eines Strahlengangs 23, der innerhalb des Sondenkörpers
gebildet ist.
Der Endanschluß 22a des Sondenkörpers 22 ist durch das
Sondenkopfelement 24 strukturiert und im Basisanschluß 22b
des Sondenkörpers 22 ist eine Laserdiode 25 untergebracht.
Die Laserdiode 25 ist am einen Ende 23a der Seite des
Basisanschlusses 22b des Sondenkörpers 22 im Strahlengang
23 angeordnet und mit einem EOS-Oszilloskop verbunden, das
in den Zeichnungen weggelassen wurde.
Im Gegensatz dazu ist am anderen Ende 23b auf der Seite des
Endanschlusses 22a des Sondenkörpers 22 im Strahlengang 23
ein elektrooptisches Element 26 angeordnet. Das
elektrooptische Element 26 wird von dem Sondenkopfelement
24 gehalten, und auf der Stirnfläche 26a des
elektrooptischen Elements 26 auf der Seite des
Endanschlusses 22a des Sondenkörpers 22 ist eine
Reflexionsschicht 28 ausgebildet.
Fig. 1 zeigt eine Vergrößerung des Sondenkopfelements 24
und seine Umgebung. Wie in der Figur gezeigt, ist in dem
Sondenkopfelement 24 ein Einsatzloch 30 ausgebildet, und
das eine Ende 31a des Metallstifts 31 ist in dieses
eingesetzt. Der Metallstift 31 ist so strukturiert, daß die
Stirnfläche 31b des einen Endes 31a die Reflexionsschicht
28 von der Endanschlußseite des Sondenkörpers 22 berührt
und das andere Ende 31c aus dem Sondenkopf 24 herausragt.
Überdies kann als Metallstift 31 mit Phosphorbronze
plattiertes Nickelrhodium verwendet werden.
Die Form des Einsatzlochs 30 verjüngt sich so, daß seine
radiale Abmessung vom äußeren Ende 30a zum Ende 30b auf der
Seite der Reflexionsschicht 28 allmählich abnimmt. Ferner
ist an einem Ende 31a des Metallstifts 31 ein konischer
Teil (radial veränderlicher Teil) ausgebildet, so daß seine
radiale Abmessung von der Seite des anderen Endes 31c zur
Stirnfläche 31b hin allmählich abnimmt. Die radialen
Abmessungen des konischen Teils 31d sind so ausgebildet,
daß sie geringfügig größer sind als die radiale Abmessung
des Einsatzlochs 30, und dadurch wird es möglich, das eine
Ende 31a des Metallstifts 31 in das Einsatzloch 30
einzusetzen und dort zu verankern. Außerdem ist die radiale
Abmessung der Anschlußfläche 31b des Metallstifts 31 so
ausgebildet, daß sie größer ist als der Strahlradius (die
Lichtfleckgröße des einfallenden Strahls) des Laserstrahls,
der von der Laserdiode 25 (siehe Fig. 2) emittiert wird und
an der Reflexionsfläche 28 (siehe Fig. 2) eintrifft.
Wie in Fig. 2 gezeigt, sind im Gegensatz dazu auf dem
Strahlengang 23 von rechts in der Figur eine
Kollimatorlinse 33, ein Polarisationsstrahlenteiler 34, ein
Faraday-Element 35, ein Polarisationsstrahlenteiler 37 und
ein Viertelwellenlängenplättchen 38 angeordnet. Außerdem
sind an den Positionen, die den
Polarisationsstrahlenteilern 34 und 37 entsprechen, auf der
Seite des Strahlengangs 23 Photodioden 41 und 42
installiert. Diese Photodioden 41 und 42 sind mit einem
EOS-Oszilloskop verbunden, wandeln den einfallenden Strahl
in ein elektrisches Signal um und können es zum EOS-
Oszilloskop senden.
Außerdem können die Polarisationsstrahlenteiler 34 und 37
als Isolator wirken, der einen Teil des Lichts, das durch
den Strahlengang 23 läuft, zerlegt und es auf die
Photodioden 41 und 42 einfallen läßt.
Wenn die elektrooptische Sonde 21 bei der Signalmessung
verwendet wird, wird das andere Ende 31c des Metallstifts
31 mit dem Meßpunkt in Kontakt gebracht und das EOS-
Oszilloskop wird aktiviert. Dadurch wird auf der Basis des
vom EOS-Oszilloskop erzeugten Steuersignals ein Laserstrahl
von der Laserdiode 25 emittiert und dieser Laserstrahl wird
durch die Kollimatorlinse 33 in einen parallelen Strahl
umgewandelt, geht durch den Strahlengang 23 und trifft am
elektrooptischen Element 26 ein.
Der Laserstrahl, der am elektrooptischen Element 26
eingetroffen ist, fällt auf die Reflexionsschicht 28 ein,
wird reflektiert und schreitet entlang des Strahlengangs 23
zur Laserdiode 25 fort. Da der Brechungsindex des
elektrooptischen Elements 26 aufgrund der Schwankung des
elektrischen Feldes des Meßpunkts, das sich über den
Metallstift 31 ausbreitet, schwankt, schwankt zu diesem
Zeitpunkt der Polarisationszustand des Lichts, wenn es sich
durch das elektrooptische Element 26 ausbreitet, und das
reflektierte Licht mit dem schwankenden
Polarisationszustand wird durch die
Polarisationsstrahlenteiler 34 und 37 aufgespalten, wird
fokussiert und fällt auf die Photodioden 41 und 42 ein und
wird in ein elektrisches Signal umgewandelt. Dadurch wird
die Schwankung des Polarisationszustandes des Laserstrahls
als Ausgangsdifferenz der Photodioden 41 und 42 erfaßt, und
es ist möglich, das elektrische Signal des Meßpunkts zu
messen.
Wenn bei Ausführung der Signalmessung auf diese Weise das
andere Ende des Metallstifts 31 mit dem Meßpunkt in Kontakt
steht und selbst wenn es irrtümlich durch den Metallstift
31 getroffen wird, ist bei dieser elektrooptischen Sonde
21, da das Einsatzloch 30 eine konische Form aufweist und
ferner der Metallstift 31 ebenso einen konischen Teil 31d
aufweist, der dieser Form entspricht, der Metallstift 31 in
das Sondenkopfelement 24 nur so weit wie notwendig
eingesetzt und es besteht keine Sorge, daß das
elektrooptische Element 26 beschädigt wird oder daß sich
die Position der elektrooptischen Sonde 26 verschiebt und
daß dadurch der im Sondenkörper 22 gebildete Strahlengang
seine Funktion einstellt. Daher ist es bei dieser
elektrooptischen Sonde 21 möglich, eine Stoßfestigkeit
während der Signalmessung zu gewährleisten.
Da bei dieser elektrooptischen Sonde 21 ferner die radiale
Abmessung des Endes 30b auf der Seite der Reflexionsschicht
28 des Einsatzlochs 30 größer ist als der Strahlradius des
Laserstrahls, der von der Laserdiode 25 erzeugt wird und an
der Reflexionsschicht 28 eintrifft, ist es möglich, das
Ausmaß der Kontaktfläche zwischen dem elektrooptischen
Element 26 und dem Metallstift 31 zum Erfassen der
Schwankung des Polarisationszustandes des elektrooptischen
Elements 26 ausreichend zu gewährleisten. Selbst wenn das
Einsatzloch 30 mit einer Verjüngung ausgebildet ist, wie
vorstehend beschrieben, besteht folglich keine Verminderung
der Erfassungsleistung während der Signalmessung.
Ein Beispiel der Ausführungsform der Erfindung wurde
vorstehend erläutert, aber die Erfindung wird dadurch nicht
beschränkt, und es ist möglich, die Formen und Materialien
zu verändern, ohne vom Kern der Erfindung abzuweichen.
Beispielsweise ist es möglich, anstelle des in der obigen
Ausführungsform gezeigten Metallstifts 31 den Metallstift
43, wie in Fig. 4A und Fig. 4B gezeigt, zu verwenden. Der
in Fig. 4A und Fig. 4B gezeigte Metallstift 43 ist so
strukturiert, daß er einen Spalt 44 vorsieht, der durch ein
Ende 43a des Metallstifts 43 über den Durchmesser verläuft.
Durch Strukturierung in dieser Weise wird das eine Ende 43a
des Metallstifts 43 zusammendrückbar, und es ist möglich,
daß es leicht in das konische Einsatzloch 30, das in der
vorstehend beschriebenen Ausführungsform gezeigt ist,
eingesetzt wird. In diesem Fall kann aufgrund der
Abstoßkraft der hervorstehenden Teile 43a und 43b (siehe
Fig. 4A), die auf beiden Seiten des Spaltes 44 angeordnet
sind, das eine Ende 43a des Metallstifts 43
zufriedenstellend im Einsatzloch 30 verankert werden, und
ferner wird in diesem Fall, selbst wenn ein Stoß vom
anderen Ende 43c (siehe Fig. 4A) des Metallstifts 43
aufgebracht wird, der Metallstift 43 nicht weiter als
erforderlich in das Sondenkopfelement 24 eingesetzt. Wie in
der vorstehend beschriebenen Ausführungsform gezeigt, ist
es folglich möglich, eine Stoßfestigkeit zu gewährleisten.
Wenn der auf diese Weise ausgebildete Metallstift 43 im
Einsatzloch 30 verankert wird, ist es überdies bevorzugt,
daß in den Spalt 44 leitfähiges Material, wie z. B. eine
Silberpaste, eingebettet wird, um irgendwelche Hohlräume zu
beseitigen.
Außerdem ist es auch möglich, dieselbe Wirkung unter
Verwendung eines Metallstifts 45 zu erhalten, der in Fig. 5
dargestellt ist, welcher mit Stufen (Teil mit
veränderlichem Radius) 45c an dem einen Ende 45a versehen
ist, deren radiale Abmessung von der Seite des anderen
Endes 45b zur Seite des einen Endes 45a hin abnimmt. In
diesem Fall kann die Form des Einsatzlochs 30, in das der
Metallstift 45 eingesetzt wird, überdies eine konische Form
aufweisen, wie z. B. jene der vorstehend beschriebenen
Ausführungsform. Oder, wie in Fig. 6 gezeigt, kann es auch
Stufen 30c aufweisen, deren äußere radiale Abmessung im
Vergleich zur radialen Abmessung der Reflexionsschichtseite
groß ist.
Wenn bei der vorstehend beschriebenen Ausführungsform ein
kontinuierlicher Strahl von der Laserdiode 25 emittiert
wird, ist überdies eine Signalmessung durch eine
herkömmliche allgemeine Meßvorrichtung, wie z. B. ein
Echtzeit-Oszilloskop, ein Abtastoszilloskop oder einen
spektrographischen Analysator, möglich. In diesem Fall ist
es möglich, an die Photodioden 41 und 42 anstelle des EOS-
Oszilloskops über eine zweckgebundene Steuereinheit das
Echtzeit-Oszilloskop, das Abtastoszilloskop oder den
spektrographischen Analysator anzuschließen.
Claims (16)
1. Elektrooptische Sonde, wobei:
ein Strahlengang zwischen einem Basisanschluß und einem Endanschluß des Sondenkörpers innerhalb des Sondenkörpers ausgebildet ist;
am Ende des Strahlengangs auf der Basisanschlußseite des Sondenkörpers eine Laserdiode angeordnet ist;
am anderen Ende des Strahlengangs auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers ein elektrooptisches Element angeordnet ist;
auf der Stirnfläche des elektrooptischen Elements auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers eine Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der von der Laserdiode emittierte Laserstrahl über den Strahlengang auf das elektrooptische Element einfällt, dieser einfallende Strahl durch die Reflexionsschicht reflektiert wird und ferner dieses reflektierte Licht zerlegt und in ein elektrisches Signal umgewandelt wird, und wobei
das elektrooptische Element zumindest von der Endanschlußseite des Sondenkörpers durch ein Sondenkopfelement, das als Endanschluß des Sondenkörpers dient, gehalten wird,
auf dem Sondenkopfelement ein Einsatzloch von außen zur Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der Metallstift in das Einsatzloch so eingesetzt ist,
daß ein Ende die Reflexionsschicht berührt und das andere Ende aus dem Sondenkopf herausragt; und
das Einsatzloch so ausgebildet ist, daß die radiale Abmessung seiner Außenseite im Vergleich zur radialen Abmessung seiner Reflexionsschichtseite groß ist.
ein Strahlengang zwischen einem Basisanschluß und einem Endanschluß des Sondenkörpers innerhalb des Sondenkörpers ausgebildet ist;
am Ende des Strahlengangs auf der Basisanschlußseite des Sondenkörpers eine Laserdiode angeordnet ist;
am anderen Ende des Strahlengangs auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers ein elektrooptisches Element angeordnet ist;
auf der Stirnfläche des elektrooptischen Elements auf der Endanschlußseite des Sondenkörpers eine Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der von der Laserdiode emittierte Laserstrahl über den Strahlengang auf das elektrooptische Element einfällt, dieser einfallende Strahl durch die Reflexionsschicht reflektiert wird und ferner dieses reflektierte Licht zerlegt und in ein elektrisches Signal umgewandelt wird, und wobei
das elektrooptische Element zumindest von der Endanschlußseite des Sondenkörpers durch ein Sondenkopfelement, das als Endanschluß des Sondenkörpers dient, gehalten wird,
auf dem Sondenkopfelement ein Einsatzloch von außen zur Reflexionsschicht ausgebildet ist;
der Metallstift in das Einsatzloch so eingesetzt ist,
daß ein Ende die Reflexionsschicht berührt und das andere Ende aus dem Sondenkopf herausragt; und
das Einsatzloch so ausgebildet ist, daß die radiale Abmessung seiner Außenseite im Vergleich zur radialen Abmessung seiner Reflexionsschichtseite groß ist.
2. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 1, wobei die
Photodiode und die Laserdiode mit einem elektrooptischen
Abtastoszilloskop verbunden sind; und
die Laserdiode einen Laserstrahl als Impulsstrahl auf der Basis des Steuersignals von dem elektrooptischen Oszilloskop erzeugt.
die Laserdiode einen Laserstrahl als Impulsstrahl auf der Basis des Steuersignals von dem elektrooptischen Oszilloskop erzeugt.
3. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 2, wobei das
Einsatzloch mit einer konischen Form ausgebildet ist, die
sich von außen in Richtung der Reflexionsschichtseite
allmählich verschmälert.
4. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 3, wobei das eine
Ende des Metallstifts als radial veränderlicher Teil
ausgebildet ist, so daß die radiale Abmessung von der Seite
des anderen Endes zur Seite des einen Endes kleiner wird.
5. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß sie einen Spalt aufweist, der durch den
Metallstift in Richtung des Durchmessers verläuft und am
einen Ende des Metallstifts vorgesehen ist.
6. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß das Einsatzloch mit Stufen auf der
Innenfläche versehen ausgebildet ist, deren radiale
Abmessung von der Außenseite in Richtung, der
Reflexionsschichtseite kleiner wird.
7. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 6, wobei das Ende
des Metallstifts als radial veränderlicher Teil ausgebildet
ist, so daß die radiale Abmessung von dem einen Ende in
Richtung des anderen Endes kleiner wird.
8. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß sie einen Spalt aufweist, der durch den
Metallstift in Richtung des Durchmessers verläuft und am
einen Ende des Metallstifts vorgesehen ist.
9. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 1, gekennzeichnet
durch eine Laserdiode, die einen kontinuierlichen
Laserstrahl erzeugt.
10. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 9, wobei das
Einsatzloch mit einer konischen Form ausgebildet ist, die
sich von außen in Richtung der Reflexionsschichtseite
allmählich verschmälert.
11. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 10, wobei das eine
Ende des Metallstifts als radial veränderlicher Teil
ausgebildet ist, so daß die radiale Abmessung von dem einen
Ende in Richtung des anderen Endes kleiner wird.
12. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 10, dadurch
gekennzeichnet, daß sie einen Spalt aufweist, der durch den
Metallstift in Richtung des Durchmessers verläuft und am
einen Ende des Metallstifts vorgesehen ist.
13. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß das Einsatzloch mit Stufen auf der
Innenfläche versehen ausgebildet ist, deren radiale
Abmessung von der Außenseite in Richtung der
Reflexionsschichtseite kleiner wird.
14. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 13, wobei das Ende
des Metallstifts als radial veränderlicher Teil ausgebildet
ist, so daß die radiale Abmessung von dem einen Ende in
Richtung des anderen Endes kleiner wird.
15. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 13, dadurch
gekennzeichnet, daß sie einen Spalt aufweist, der durch den
Metallstift in Richtung des Durchmessers verläuft und am
einen Ende des Metallstifts vorgesehen ist.
16. Elektrooptische Sonde nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Abmessung des einen Endes des
Einsatzlochs größer ist als die Lichtfleckgröße des auf das
elektrooptische Element einfallenden Strahls.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29456798 | 1998-09-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19946664A1 true DE19946664A1 (de) | 2000-05-04 |
DE19946664C2 DE19946664C2 (de) | 2003-01-30 |
Family
ID=17809464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19946664A Expired - Fee Related DE19946664C2 (de) | 1998-09-30 | 1999-09-29 | Elektrooptische Sonde |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6348787B1 (de) |
DE (1) | DE19946664C2 (de) |
GB (1) | GB2342159B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE20110939U1 (de) * | 2001-07-02 | 2002-08-08 | Siemens AG, 80333 München | Elektrischer und elektrooptischer Messwandler und Tastköpfe für ein Messauswertegerät, insbesondere zur potentialfreien EMV-Messung |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6337565B1 (en) | 1999-03-25 | 2002-01-08 | Ando Electric Co., Ltd. | Electro-optic probe |
JP2001050985A (ja) * | 1999-05-31 | 2001-02-23 | Ando Electric Co Ltd | 電気光学プローブ |
CN109521232B (zh) * | 2018-11-20 | 2023-09-19 | 闻泰通讯股份有限公司 | 示波器探头辅助测试装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0695109B2 (ja) * | 1987-05-30 | 1994-11-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 電圧検出装置 |
WO1989009413A1 (en) * | 1988-03-25 | 1989-10-05 | Princeton Applied Research Corporation | Electro-optic probe |
JP2631138B2 (ja) * | 1988-10-05 | 1997-07-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 電圧測定装置 |
US5105148A (en) * | 1991-01-24 | 1992-04-14 | Itt Corporation | Replaceable tip test probe |
DE4216261A1 (de) * | 1992-05-16 | 1993-11-18 | Pmk Mess Und Kommunikationstec | Tastkopf zur Überprüfung elektrischer Schaltungen |
JPH0798329A (ja) * | 1993-09-28 | 1995-04-11 | Hamamatsu Photonics Kk | E−oプローブ |
GB9413179D0 (en) * | 1994-06-30 | 1994-09-28 | Univ Surrey | Optical sensors |
-
1999
- 1999-09-24 GB GB9922502A patent/GB2342159B/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-09-29 DE DE19946664A patent/DE19946664C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1999-09-30 US US09/408,753 patent/US6348787B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE20110939U1 (de) * | 2001-07-02 | 2002-08-08 | Siemens AG, 80333 München | Elektrischer und elektrooptischer Messwandler und Tastköpfe für ein Messauswertegerät, insbesondere zur potentialfreien EMV-Messung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2342159A (en) | 2000-04-05 |
DE19946664C2 (de) | 2003-01-30 |
GB9922502D0 (en) | 1999-11-24 |
US6348787B1 (en) | 2002-02-19 |
GB2342159B (en) | 2003-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69418241T2 (de) | Spannungsdetektionsapparat | |
DE3809977A1 (de) | Elektrooptischer abtaster mit pockels-effekt | |
DE1939676A1 (de) | Kontaktsonde mit Selbstausrichtung | |
DE3877628T2 (de) | Spannungsdetektor. | |
DE3837605A1 (de) | Vorrichtung zur ueberwachung des trennverhaltens eines vakuumschalters | |
DE69111626T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung der Spannungsfestigkeit. | |
EP0295413A1 (de) | Mechanische Sonde zur optischen Messung elektrischer Potentiale | |
DE3877827T2 (de) | Spannungsdetektor. | |
DE4324692A1 (de) | Piezoelektrischer Kraftsensor | |
DE69836322T2 (de) | Integrierte schaltungsanordung für photoelektrische umwandlung | |
DE3740468C2 (de) | ||
EP0836097B1 (de) | Messspitzeneinheit | |
DE69010053T2 (de) | Methode und Vorrichtung zum Nachweis einer Spannung. | |
DE19946664C2 (de) | Elektrooptische Sonde | |
DE69213778T2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines opto-elektronischen Bauteils | |
DE2500161C2 (de) | ||
DE3750968T2 (de) | Elektro-optischer Abtaster. | |
EP0628169A1 (de) | Verfahren und sensor zum messen von elektrischen spannungen und/oder elektrischen feldstärken. | |
DE10034706A1 (de) | Elektrooptik-Meßfühler | |
DE19947996C2 (de) | Elektrooptische Sonde | |
DE19938660A1 (de) | Elektrooptische Sonde | |
DE10004367A1 (de) | Elektrooptische Sonde | |
WO2020074625A1 (de) | Batteriesensor | |
DE19946665A1 (de) | Elektrooptische Sonde | |
DE10013986A1 (de) | Elektrooptische Sonde |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8181 | Inventor (new situation) |
Free format text: ITO, AKISHIGE, TOKIO/TOKYO, JP OHTA, KATSUSHI, TOKIO/TOKYO, JP YAGI, TOSHIYUKI, TOKIO/TOKYO, JP SHINAGAWA, MITSURU, TOKIO/TOKYO, JP NAGATSUMA, TADAO, TOKIO/TOKYO, JP YAMADA, JUNZO, TOKIO/TOKYO, JP |
|
8304 | Grant after examination procedure | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |