DE19934114A1 - Substrat und Werkstückträger zur Aufnahme des Substrates - Google Patents
Substrat und Werkstückträger zur Aufnahme des SubstratesInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Substrat und einen Werkstückträger zur Aufnahme des Substrates, insbesondere eines Dünnschichtsubstrates, während der Prozessierung des Substrates, mit einer das Substrat positionierend aufnehmenden Aufnahme. DOLLAR A Es ist vorgesehen, daß der Werkstückträger ein Grundelement (28) zur Aufnahme des Substrates (12) umfaßt, das Grundelement (28) auf einem Handhabungselement (30) angeordnet ist und dem Grundelement (28) einer dem Handhabungselement (30) gegenüberliegenden Seite prozeßabhängige Abdeckelemente (50) zuweisbar sind. Ferner weisen das Substrat (12) und der Werkstückträger jeweils wenigstens ein komplementäres Positionierelement (29, 31) auf, die zur Fixierung einer relativen räumlichen Lage des Substrates (12) dienen (Positioniereinheit).
Description
Die Erfindung betrifft einen Werkstückträger zur
Aufnahme des Substrates, insbesondere eines Dünn
schichtsubstrates, mit den im Oberbegriff des An-
Spruchs 1 genannten Merkmalen und ein Substrat mit
den im Oberbegriff des Anspruchs 20 genannten Merk
malen.
Zur Herstellung von Sensorelementen, insbesondere
Hochdrucksensorelementen, werden üblicherweise Edel
stahlsubstrate mit eingeformten Membranen verwendet,
auf die mit Dünnschichttechnologie verschiedene Funk
tionsschichten aufgebracht werden. Diese Funktions
schichten umfassen beispielsweise isolierende Schich
ten, sensitive Widerstandsschichten, elektrisch lei
tende Schichten, aus denen Leiterbahnen oder Kontakte
strukturiert werden können, oder auch eine Passi
vierung.
Zur großserientauglichen Fertigung eines als Einzel
substrat vorliegenden Sensorelementes ist es kosten
günstig, diese in Gruppen zu prozessieren. Zu diesem
Zweck wurden bereits Konzepte erarbeitet, die den un
terschiedlichen Anforderungen der spezifischen Ein
zelprozesse in der Dünnschichtfertigung genügen sol
len. Dabei findet das Substrat üblicherweise Aufnahme
auf einem Werkstückträger, der unter anderem zur
Positionierung des Substrates während der einzelnen
Prozeßschritte dient.
Bekannt ist zum einen, die Substrate zu Beginn der
Dünnschichtfertigung hierzu in einen sehr massiven
Werkstückträger einzubringen und während der gesamten
Dünnschichtfertigung in diesem massiven Werkstück
träger zu belassen. Nachteilig hierbei ist, daß der
Werkstückträger ein erhebliches Gewicht und eine
große Bauhöhe aufweist und damit einzelne Prozeß
schritte erschwert sind. Außerdem muß ein solcher
Aufbau aufwendig verschraubt werden. Zudem kann es zu
einer Medienverschleppung kommen, insbesondere bei
einer Behandlung mit flüssigen Medien, so daß eine
großserientaugliche Fertigung erschwert ist.
Zum anderen ist es bekannt, für jeden einzelnen
Prozeßschritt der Dünnschichtfertigung einen einzel
nen, der jeweiligen Bearbeitungsart angepaßten Werk
stückträger zu verwenden. Zwischen den einzelnen
Prozeßschritten müssen die Substrate dann jeweils in
den speziellen Werkstückträger aufgenommen und nach
Ende des Prozeßschrittes wieder entnommen werden.
Nachteilig hierbei ist ein erheblicher Montage- und
Handlingsaufwand, und weiterhin kann es aufgrund der
hohen Anzahl der möglichen Prozeßschritte zu Fehlern
in der Positionierung des Substrates kommen, so daß
ein erheblicher Ausschuß auch hier die großserien
taugliche Fertigung verhindert.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch ein Substrat
und einen Werkstückträger zur Aufnahme des Substra
tes, insbesondere eines Dünnschichtsubstrates, mit
den in den Ansprüchen 1 und 10 genannten Merkmalen
gelöst. Dadurch, daß der Werkstückträger ein Grund
element zur Aufnahme des Substrates umfaßt, das
Grundelement auf einem Handhabungselement angeordnet
ist und dem Grundelement einer dem Handhabungselement
gegenüberliegenden Seite prozeßabhängige Abdeckele
mente zuweisbar sind, ist eine kostengünstige groß
serientaugliche Fertigung der Sensorelemente möglich.
Das Substrat zeichnet sich dadurch aus, daß das Sub
strat und der Werkstückträger jeweils wenigstens ein
komplementäres Positionierelement aufweisen, die zur
Fixierung eine relativen räumlichen Lage des Sub
strates dienen (Positioniereinheit). Die Positionier
einheit erlaubt es, eine axiale Verschiebung oder ra
diale Verdrehung des Substrates während der Dünn
schichtfertigung in dem Grundelement auszuschließen
und mindert damit herstellungsbedingten Ausschuß,
insbesondere bei einer Automatisierung der Dünn
schichtfertigung. Dazu weist das Substrat beispiels
weise eine Nut oder eine Einkerbung auf, die an der
seitlichen Wandung des Substrates angeordnet ist, und
das Grundelement besitzt eine komplementäre Nase, die
beim Einsetzen des Substrates in das Grundelement in
diese Nut greift.
In bevorzugter Ausgestaltung der Erfindung ist vorge
sehen, daß das Grundelement einzelne Trägerelemente
aufweist, an denen sich das Substrat mit einer Anla
gefläche abstützt. Beispielsweise kann diese Anlage
fläche durch eine Unterkante eines, das Substrat um
laufenden Bundes gebildet werden. Die Trägerelemente
können dabei in eine Aufnahmeöffnung des Grund
elementes ragen. Damit kann das Substrat derart auf
den Trägerelementen des Grundelementes positioniert
werden, daß sich wenigstens eine Öffnung zwischen
einem Rand der Aufnahmeöffnung des Grundelementes und
einer seitlichen Wandung des Substrates erstreckt.
Auf diese Weise besteht eine ausreichende Transparenz
für flüssige Medien, die in bestimmten Prozeßschrit
ten Anwendung finden, und die Medienverschleppung
kann wirkungsvoll verhindert werden.
Ferner hat es sich als vorteilhaft erwiesen, dem
Handhabungselement und den Abdeckelementen Mittel zur
relativen Positionierung zueinander zuzuordnen. Bei
spielsweise können diese Mittel Führungsstifte, Dreh
verschlüsse, Spreizstifte oder mechanische Anschläge
umfassen. Auf diese Weise kann eine sehr exakte Posi
tionierung des Abdeckelementes auf dem Handhabungs
element gewährleistet werden.
Des weiteren können dem Handhabungselement und/oder
den Abdeckelementen auch Mittel zur Codierung zuge
ordnet werden, indem beispielsweise Einkerbungen,
Barcodes oder Bohrungen auf den Oberflächen der Hand
habungselemente aufgebracht werden. Insgesamt läßt
sich damit die Dünnschichtfertigung wesentlich pro
zeßsicherer automatisieren und ist damit großserien
tauglich.
Die Abdeckelemente liegen in einer bevorzugten Aus
gestaltung der Erfindung mit einzelnen Auflageelemen
ten an einer Auflagefläche des Substrates, beispiels
weise einer Oberkante des das Substrat umlaufenden
Bundes, an. Dabei weist das Abdeckelement Prozeßbe
reiche auf, die eine selektive Behandlung einer Ober
fläche des Substrates erlauben (Maske). Insbesondere
bei der Behandlung mit flüssigen Medien wird dazu das
Abdeckelement derart auf dem Substrat positioniert,
daß die Prozeßbereiche oberhalb der Öffnungen zwi
schen den Grundelementen und den Substraten liegen
und damit eine hohe Transparenz für das flüssige
Medium gegeben ist.
Während einer Behandlung der Substratoberfläche des
Substrates durch Abscheidungen, Plasmaätzen, Photo
lithographie, Passivierung oder dergleichen, ist es
vorteilhaft, wenn das Abdeckelement dichtend an einer
Umlaufkante der Substratoberfläche anliegt. Dadurch
kann einerseits eine noch genauere Positionierung er
möglicht werden und andererseits wird die Medien
verschleppung weiter zurückgedrängt.
Weitere bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung er
geben sich aus den übrigen, in den Unteransprüchen
genannten Merkmalen.
Die Erfindung wird nachfolgend in Ausführungsbeispie
len anhand der zugehörigen Zeichnungen näher erläu
tert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Schnittansicht durch ein Sensorelement
mit verschiedenen Funktionsschichten auf
einem Substrat;
Fig. 2 verschiedene Ansichten auf ein Substrat für
eine Dünnschichtfertigung;
Fig. 3 eine Draufsicht auf ein Grundelement zur
Aufnahme des Substrates;
Fig. 4 eine Draufsicht auf ein Handhabungselement
mit einer Anordnung einer Anzahl von Grund
elementen;
Fig. 5 eine Schnittansicht und eine Draufsicht auf
einen Werkstückträger und das Substrat im
Bereich eines Grundelementes während einer
Behandlung einer Substratoberfläche mit
einem flüssigen Medium;
Fig. 6 eine Schnittansicht und eine Draufsicht auf
einen Werkstückträger und das Substrat im
Bereich eines Grundelementes während einer
Behandlung der Substratoberfläche durch Ab
scheidung, Plasmaätzen oder dergleichen;
Fig. 7 eine Schnittansicht durch einen Werkstück
träger und das Substrat während einer
Passivierung der Substratoberfläche und
einem Abscheiden einer Kontaktierung mit
tels Schattenmaskentechnologie;
Fig. 8 eine perspektivische Seitenansicht einer
Werkbank zur Aufnahme des Werkstückträgers
und
Fig. 9 eine perspektivische Seitenansicht einer
Anordnung der Werkbank zur Aufnahme des
Werkstückträgers während einer automati
sierten Dünnschichtfertigung.
Die Fig. 1 zeigt eine Schnittansicht eines Sensor
elementes 10, auf dem - basierend auf der bekannten
Dünnschichttechnologie - verschiedene Funktions
schichten auf einem Substrat 12 aufgebracht sind.
Derartige Funktionsschichten umfassen sensitive
Schichten 14, eine Kontaktierung 16, eine Passi
vierung 18 und eine Isolationsschicht 20, die auf
einer Substratoberfläche 22 angeordnet sind. Es ist
dabei möglich, ohne eine Funktionalität des Sensor
elementes 10 zu beschränken, zusätzliche Formmerkmale
in das Substrat 12 mit einzubringen. So kann bei
spielsweise ein das Substrat 12 umlaufender Bund 24,
der eine Dünnschichtfertigung unterstützt, vorhanden
sein.
Die Fig. 2 zeigt in verschiedenen detaillierten
Ansichten noch einmal das Substrat 12. Der radiale
Aufbau des Substrates 12 ist im Bereich einer Nut 26,
die in eine seitliche Wandung 27 eingefräst ist,
unterbrochen. Die Nut 26 dient in noch näher er
läuterter Weise als ein Positionierelement 29.
Die einzelnen Substrate 12 befinden sich während des
gesamten Fertigungsprozesses des Sensorelementes 10
jeweils in einem Grundelement 28, das wiederum Be
standteil eines Handhabungselementes 30 ist. Die
Fig. 4 zeigt eine Draufsicht auf ein solches Hand
habungselement 30 und die Fig. 3 eine Draufsicht auf
ein einzelnes Grundelement 28 des Handhabungs
elementes 30.
Gemäß der Fig. 3 wird das Substrat 12 mit einer
Anlagefläche 32 auf einzelnen Trägerelementen 34 des
Grundelementes 28 positioniert. Dabei bildet das
Grundelement 28 eine Aufnahmeöffnung 36 aus, in die
die Trägerelemente 34 ragen. Die Anlagefläche 32 wird
gemäß dem Ausführungsbeispiel durch eine Unterkante
38 des Bundes 24 ausgebildet. Wie aus der Draufsicht
der Fig. 3 ersichtlich, erstrecken sich mehrere
Öffnungen 40 zwischen einem Rand 42 des Grund
elementes 28 und dem Substrat 12. Durch die Öffnungen
40 können gegebenenfalls flüssige Medien, die in
einem Prozeßschritt während der Dünnschichtfertigung
zur Behandlung oder Reinigung der Sensoroberfläche 22
eingesetzt werden, abfließen.
Ferner weist das Grundelement 28 eine rechteckige
Nase 44 als ein komplementäres Positionierelement 31
auf, das ebenfalls in die Aufnahmeöffnung 36 ragt.
Das Substrat 12 wird während der Dünnschichtfertigung
derart in die Aufnahmeöffnung 36 des Grundelementes
28 eingebracht, daß die Nase 44 in die Nut 26 greift.
Auf diese Weise wird eine relative Lage des Sub
strates 12 fixiert und beide Positionierelemente 29,
31 dienen damit als eine Positioniereinheit. Selbst
verständlich kann die Positioniereinheit den gegebe
nen Geometrieanforderungen an das Substrat 12 in
mannigfaltiger Weise angepaßt werden.
Auf der Handhabe 30 kann eine den gegebenen Ab
messungen entsprechende Anzahl von Grundelementen 28
angeordnet werden. Die gemäß dem Ausführungsbeispiel
hexagonale Grundstruktur der Grundelemente 28 erlaubt
dabei eine besonders dichte Anordnung. Weiterhin be
sitzt das Handhabungselement 30 Öffnungen 46, 48, die
zur Positionierung der Handhabe 30 und eines noch
näher zu erläuternden Abdeckelementes 50 während der
einzelnen Prozeßschritte dienen und/oder die Positio
nierung eines Werkstückträgers (Handhabungselement 30
und Abdeckelement 50) auf einer Werkbank 80 in noch
näher erläuterter Weise erlauben. So kann die Öffnung
46 beispielsweise einen Drehverschluß aufnehmen, wäh
rend die Öffnung 48 zur Aufnahme von Führungsstiften,
Spreizstiften oder dergleichen dienen kann.
Weiterhin können dem Handhabungselement 30 und/oder
den Abdeckelementen 50 Mittel zur Codierung zugeord
net werden, um eine Automatisierung der Dünnschicht
fertigung zu ermöglichen. So können beispielsweise
Bohrungen 52 auf eine Oberfläche 54 des Handhabungs
elementes 30 Aufschluß über einen Prozeßfortschritt
oder dergleichen enthalten. Über Einkerbungen 56 kann
eine relative Lage des Handhabungselementes 30 mit
tels geeigneter Sensoren erfaßt werden.
Während der gesamten Dünnschichtfertigung ist das
Substrat 12 - wie bereits erläutert - an dem Grund
element 28 fixiert. Anschließend wird in jedem
Prozeßschritt ein prozeßabhängiges Abdeckelement 50
auf das Substrat 12 gelegt. Dazu weist das Substrat
12 eine Auflagefläche 58, beispielsweise auf einer
Oberkante 60 des Bundes 24 auf und das Abdeckelement
50 besitzt entsprechende Auflageelemente 62 (Fig.
2 und 5).
Die Fig. 5 zeigt ein Abdeckelement 50, wie es üb
licherweise bei einer Behandlung der Substratober
fläche 22 mit einem flüssigen Medium Anwendung fin
det. Eine Benetzung des Substrates 12 mit dem fluiden
Medium findet in einem Prozeßbereich 64 statt, der
durch eine Aussparung im Bereich des Abdeckelementes
50 gegeben ist. Auf diese Weise kann eine selektive
Behandlung der Substratoberfläche 22 durch geeignete
Gestaltung des Prozeßbereiches 64 ermöglicht werden,
beispielsweise indem Teilbereiche der Substratober
fläche 22 von dem Abdeckelement 50 bedeckt werden.
Gemäß dem Ausführungsbeispiel wird der Prozeßbereich
64 derart gewählt, daß er sich auch noch über die
Öffnungen 40 zwischen dem Grundelement 28 und dem
Substrat 12 erstreckt. Das flüssige Medium kann
demnach während oder nach Beendigung des Prozeß
schrittes durch die Öffnungen 40 abfließen bezie
hungsweise ausgespült werden und eine Mediumver
schleppung wesentlich verringert werden.
Umfassen die Prozeßschritte eine Behandlung der
Substratoberfläche 22 durch Abscheidung, Plasmaätzen,
Photolithographie oder dergleichen, so kann das Ab
deckelement 50 entsprechend angepaßt werden (Fig.
6). Dazu liegt das Abdeckelement 50 bündig mit einer
Dichtkante 68 an einer Umlaufkante 66 des Substrates
12, so daß lediglich die Substratoberfläche 22
während des Prozeßschrittes bearbeitet wird. Eine
sehr genaue Positionierung des Substrates 12 erfolgt
mit Hilfe der Einführschrägen 69, an denen das
Substrat 12 während der Auflage des Abdeckelementes
50 entlang gleitet.
In der Fig. 7 ist in einer Schnittansicht eine
Anordnung der einzelnen Elemente des Werkstückträgers
während einer Aufbringung von Leiterbahnen oder einer
Passivierung der Substratoberfläche 22 dargestellt.
Das Abdeckelement 50 besteht dabei aus einem Positio
nierblech 70, einem Anpreßblech 72 und einer zwischen
diesen beiden Blechen 70, 72 angeordneten Schatten
maske 74. An einer Unterseite des Grundelementes 28
wird über ein weiteres Anpreßblech 76 und ein
Federblech 78 das Substrat 12 mit einer Kraft be
aufschlagt, so daß die Substratoberfläche 22 während
des Prozeßschrittes plan an der Schattenmaske 74 an
liegt.
Wie in den beispielhaft in den Fig. 5 bis 7 darge
stellten Prozeßschritten während der Dünnschicht
fertigung eines Sensorelementes 10, befindet sich das
Substrat 12 immer in dem Grundelement 28 und le
diglich die Abdeckelemente 50 werden ausgetauscht.
Gegebenenfalls (Fig. 7) können dem Grundelement 28
auch noch zusätzliche, den Prozeßschritt unter
stützende Elemente, wie beispielsweise ein Anpreß-
und Federblech 76, 78, zugeordnet werden.
Während des gesamten Fertigungsprozesses kann der
Werkstückträger in seiner Lage fixiert werden. Wie
bereits erläutert, eignen sich dazu Mittel wie
Führungsstifte, Drehverschlüsse, Spreizstifte oder
auch mechanische Anschläge. Der Werkstückträger kann
dazu während der Dünnschichtfertigung auf der Werk
bank 80 fixiert werden, wie sie perspektivisch in
einer Seitenansicht der Fig. 8 dargestellt ist. Dazu
weis t die Werkbank 80 Führungsstifte 82, Aufnahme
öffnungen 84 für Positionierelemente oder auch Ab
standshalter 86 an seiner Oberfläche 88 auf. Weiter
hin ist es sinnvoll, Abflußöffnungen 90 für fluide
Medien in der Werkbank 80 zu integrieren.
Die Fig. 9 zeigt in schematischer Weise, wie eine
derartige Dünnschichtfertigung mittels eines Roboters
92 automatisiert werden kann. Ein Roboterarm 94
entnimmt entsprechend einem anstehenden Prozeßschritt
ein Abdeckelement 50 einem der Magazine 96 und
plaziert dieses auf dem Handhabungselement 30, das
auf der Werkbank 30 angeordnet ist. Über geeignete
Sensoren kann beispielsweise anhand der Bohrungen 52
und der Einkerbungen 56 des Handhabungselementes 30
eine relative Lage und ein anstehender Prozeßschritt
festgelegt werden. Nach Beendigung des Prozeß
schrittes wird das Abdeckelement 50 wieder in dem
Magazin 96 abgelegt und der nächste Prozeßschritt
schließt sich an.
Claims (21)
1. Werkstückträger zur Aufnahme eines Substrates,
insbesondere eines Dünnschichtsubstrates, während der
Prozessierung des Substrates, mit einer das Substrat
positionierend aufnehmenden Aufnahme, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Werkstückträger ein Grundelement
(28) zur Aufnahme des Substrates (12) umfaßt, das
Grundelement (28) auf einem Handhabungselement (30)
angeordnet ist und dem Grundelement (28) einer dem
Handhabungselement (30) gegenüberliegenden Seite pro
zeßabhängige Abdeckelemente (50) zuweisbar sind.
2. Werkstückträger nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Grundelement (28) einzelne Träger
elemente (34) umfaßt und das Substrat (12) eine An
lagefläche (32) aufweist, an denen die Trägetelemente
(34) anliegen.
3. Werkstückträger nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Anlagefläche (32) durch eine Unter
kante (38) eines das Substrat (12) umlaufenden Bundes
(24) gebildet wird.
4. Werkstückträger nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Trägerelemente (34) in eine Auf
nahmeöffnung (36) des Grundelementes (28) ragen.
5. Werkstückträger nach Anspruch 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Substrat (12) derart auf den
Trägerelementen (34) des Grundelementes (28) posi
tioniert ist, daß sich wenigstens eine Öffnung (40)
zwischen einem Rand (42) der Aufnahmeöffnung (36) des
Grundelementes (28) und einer seitlichen Wandung (27)
des Substrates (12) erstreckt.
6. Werkstückträger nach Anspruch 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Aufnahmeöffnung (36) des Grund
elementes (28) eine hexagonale Struktur aufweist.
7. Werkstückträger nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Grundelement
(28) und das Substrat (12) jeweils wenigstens ein
komplementäres Positionierelement (29, 31) aufweisen,
das zur Fixierung der relativen räumlichen Lage des
Substrätes (12) dient (Positioniereinheit).
8. Werkstückträger nach Anspruch 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Substrat (12) eine Nut (26) auf
weist, die an der seitlichen Wandung (27) des Sub
strates (12) angeordnet ist und das Grundelement (28)
eine komplementäre Nase (44) besitzt.
9. Werkstückträger nach Anspruch 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Nut (26) an der Unterkante (38) des
das Substrat (12) umlaufenden Bundes (24) anliegt und
die komplementäre Nase (44) in die Aufnahmeöffnung
(36) des Grundelementes (28) ragt.
10. Werkstückträger nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß dem Handhabungs
element (30) und den Abdeckelementen (50) Mittel zur
relativen Positionierung zueinander zugeordnet sind.
11. Werkstückträger nach Anspruch 10, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Mittel zur Positionierung Führungs
stifte, Drehverschlüsse, Spreizstifte oder mecha
nische Anschläge umfassen.
12. Werkstückträger nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß dem Handhabungs
element (30) und/oder den Abdeckelementen (50) Mittel
zur Codierung zugeordnet sind.
13. Werkstückträger nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Mittel zur Codierung Einkerbungen,
Barcodes (56) oder Bohrungen (52) auf einer Ober
fläche (54) des Handhabungselementes (30) umfassen.
14. Werkstückträger nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Abdeck
element (50) einzelne Auflageelemente (62) umfaßt und
das Substrat (12) eine Auflagefläche (58) aufweist,
an denen die Auflageelemente (62) anliegen.
15. Werkstückträger nach Anspruch 14, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Auflagefläche (58) durch eine
Oberkante (60) des das Substrat (12) umlaufenden Bun
des (24) gebildet wird.
16. Werkstückträger nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Abdeck
element (50) Prozeßbereiche (64) umfaßt, die eine
selektive Behandlung einer Substratoberfläche (22)
erlauben (Maske).
17. Werkstückträger nach den Ansprüchen 5 und 16, da
durch gekennzeichnet, daß die Prozeßbereiche (64) des
Abdeckelementes (50) bei einer Behandlung mit flüs
sigen Medien derart auf dem Substrat (12) positio
niert sind, daß sie oberhalb der Öffnungen (40)
zwischen den Grundelementen (28) und den Substraten
(12) liegen.
18. Werkstückträger nach Anspruch 17, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Prozeßbereiche (64) des Abdeck
elementes (50) eine hexagonale Struktur aufweisen.
19. Werkstückträger nach Anspruch 16, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Prozeßbereiche (64) des Abdeck
elementes (50) bei einer Behandlung der Substratober
fläche (22) des Substrates (12) durch Abscheidung,
Plasmaätzen, Photolithographie, Passivierung oder
dergleichen derart auf dem Substrat (12) positioniert
sind, daß das Abdeckelement (50) dichtend an einer
Umlaufkante (66) der Substratoberfläche (54) anliegt.
20. Substrat, insbesondere Dünnschichtsubstrat, das
während einer Prozessierung des Substrates in einer
Aufnahme eines Werkstückträgers angeordnet ist, da
durch gekennzeichnet, daß das Substrat (12) und der
Werkstückträger jeweils wenigstens ein komplementäres
Positionierelement (29, 31) aufweisen, die zur Fixie
rung einer relativen räumlichen Lage des Substrates
(12) dienen (Positioniereinheit)
21. Substrat nach Anspruch 20, dadurch gekennzeich
net, daß das Substrat (12) eine Nut (26) oder eine
Einkerbung besitzt.
Priority Applications (4)
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---|---|---|---|
DE1999134114 DE19934114A1 (de) | 1999-07-21 | 1999-07-21 | Substrat und Werkstückträger zur Aufnahme des Substrates |
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